JP4902106B2 - 固体撮像素子及びデジタルカメラ - Google Patents

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本発明は、固体撮像素子に関する。
従来、単板式カラーイメージセンサ(固体撮像素子)では、可視光(カラー画像)を検出するために、異なる分光感度を有する複数のカラーフィルタをモザイク状あるいはストライプ状に配列することにより、入射光の複数の色成分を分離検出している。多くの場合、原色系カラーフィルタでは、赤(R)、緑(G)、青(B)の3種類のカラーフィルタを二次元平面上に規則的に配列している。なお、カラーフィルタの配列方法により、解像度(MTF)と色再現性が異なることが知られている(例えば、特許文献1参照)。
図15は、一般的なカラーフィルタの分光特性、IR(赤外)カットフィルタの特性及び固体撮像素子自体が有する分光感度を表すグラフである。なお、図中斜線部分は、IRカットフィルタによりカットされる光波長域を表す。
図15(A)に示すように、緑のカラーフィルタ(Gフィルタ)の分光スペクトルは本来の緑(G)の波長域(500〜630nm)以外に、650nm以上の長波長域においても分光感度を有する。従って、650nm以上の長波長の光が入射した場合にも、Gフィルタを積層した受光部において光電変換が起こり、G信号として出力されてしまうため、正確にG信号を検出することができなくなり、混色を生じさせる。その結果忠実な色再現ができなくなる。
以上のようなことから、通常、単板カラー固体撮像素子をカメラ等に使用する場合は、IRカットフィルタをカメラレンズと単板カラー固体撮像素子の間に挿入する。この場合、図15(B)に示すように、IRカットフィルタの長波長側のカットオフ波長は、650nm程度に設定される。従って、650nm以上の波長の光に対しては、IRカットフィルタによって遮断される。
カラーフィルタ層の下部にある受光部(光電変換素子)はシリコン基板上に形成されるが、受光部を形成する部分はいわゆるPNフォトダイオードであることが一般的である。PNフォトダイオードは、図15(C)に示すように、短波長(400nm)から700nm以上の長波長域まで光感度を有している(例えば、非特許文献1参照)。
米国特許第3971065号明細書 特開平10−13639号公報 中井他、「低雑音撮像素子用Si基板の検討」、テレビジョン学会1982年全国大会予稿集2−1、p.21
従来の固体撮像素子においては、650nm以上の波長の光に対しては、IRカットフィルタによって遮断されるため、固体撮像素子受光部には650nm以上の波長の光が到達せず、650nm以上の波長の光は、有効に光電変換されず、感度に寄与していなかった。
また、PNフォトダイオードにおいては、長波長域の光(例えば、赤色)がシリコン基板縦方向の深い領域まで到達し、図15(C)に一点鎖線で示すような分光感度スペクトルを有する。しかし、短波長(B)、中間波長(G)、長波長(R)のホワイトバランスをとる場合には、600nm以上の長波長側の感度は逆に抑制することが望ましい。そこで、上述の非特許文献1に示されているように、シリコン基板縦方向にNPN構造(いわゆる縦型オーバーフロードレイン)をとることが有効である(図15(C)実線)。これは、深部で発生した光電荷をn型基板に排出できるからである。
本発明の目的は、高感度且つ忠実な色再現が可能な固体撮像素子を提供することである。
本発明の一観点によれば、長波長側のカットオフ波長が670nm〜700nmの範囲内の赤外カットフィルタの後段に配置され、該赤外カットフィルタを透過した光が入射する固体撮像素子は、緑色の波長域と650nm以上の波長域とに分光感度を有する第1のカラーフィルタと、青色の波長域に分光感度を有する第2のカラーフィルタと、赤色の波長域に分光感度を有する第3のカラーフィルタと、650nm〜700nmの波長域に分光特性のピークを有する第4のカラーフィルタと、行方向及び列方向に配列され、前記第1〜第4のカラーフィルタのいずれかを透過して入射する入射光を受光して、入射光量に応じた信号量を検出する複数の光電変換素子と、前記第4のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量に所定値の係数を乗じたものを、前記第1のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量から減算することにより緑色信号を補正する緑色信号補正手段とを有する。
また、本発明の他の観点によれば、長波長側のカットオフ波長が670nm〜700nmの範囲内の赤外カットフィルタの後段に配置され、該赤外カットフィルタを透過した光が入射する固体撮像素子は、緑色の波長域と650nm以上の波長域とに分光感度を有する第1のカラーフィルタと、青色の波長域に分光感度を有する第2のカラーフィルタと、600nm〜650nmの波長域に分光特性のピークを有する第3のカラーフィルタと、650nm以上の波長域に分光感度を有する第4のカラーフィルタと、行方向及び列方向に配列され、前記第1〜第4のカラーフィルタのいずれかを透過して入射する入射光を受光して、入射光量に応じた信号量を検出する複数の光電変換素子と、前記第4のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量に所定値の係数を乗じたものを、前記第1のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量から減算することにより緑色信号を補正する緑色信号補正手段とを有する。
本発明によれば、高感度且つ忠実な色再現が可能な固体撮像素子を提供することができる。
図1は、本発明の第1の実施例によるデジタルカメラ100の構成を表すブロック図である。
デジタルカメラ100は、例えば、固体撮像素子101に入射光を結像する集光レンズ115、赤外(IR)カットフィルタ102等を含む光学系104、固体撮像素子101、システム制御回路106、同期信号回路107、CCD駆動回路108、CDS回路109、プリプロセス回路110、A/D変換回路111、信号処理(信号圧縮・伸張)回路112、メモリ113、記録/表示回路114を含んで構成される。
システム制御回路106は、デジタルカメラ100全体を統括制御し、同期信号回路107に対して指示信号を出力する。同期信号回路107は、システム制御回路106からの指示信号に基づき、同期信号を出力する。CCD駆動回路108は、同期信号回路107からの同期信号に基づき固体撮像素子101に駆動信号(駆動電圧φV)を供給する。
固体撮像素子101から出力される各色信号は、CDS回路109に送られる。CDS回路109は、各色信号に対して相関二重サンプリング処理等を行い、プリプロセス回路110に出力する。プリプロセス回路110は、同期信号回路107からの同期信号に基づき、各色信号に対して利得調整を施し、各色信号をアナログ信号からデジタル信号に変換するA/D変換回路111を介して、信号処理(信号圧縮・伸張)回路112に出力する。
信号処理(信号圧縮・伸張)回路112は、メモリ113を用いて、各色のデジタル信号に対して、ホワイトバランス補正、ガンマ補正、色感度補正処理等を行うとともに、信号圧縮・伸張処理を行い、画像データとして出力する。
信号処理(信号圧縮・伸張)回路112によって処理された画像データは、記録/表示回路114に接続又は含まれる外部メモリに記録される。または、記録/表示回路114に接続又は含まれるディスプレイに表示される。
なお、図1に示すデジタルカメラ100の構成は、第1の実施例に限らず第2の実施例、第3の実施例及びそれらの変形例においても適用することができる。ただし、固体撮像素子をCMOS型とするときは、CCD駆動回路やA/D変換回路等を適宜省略したり、変更したりすることが必要である。CMOS型の固体撮像素子を使用する場合のデジタルカメラ100の構成は周知の例による。
図2は、本発明の第1の実施例によるCCD型固体撮像素子101の構成を表すブロック図である。
固体撮像素子101は、多数の光電変換素子(画素)12が配置された受光領域2を含む。受光領域2は、多数の光電変換素子12をいわゆる画素ずらし配置(ハニカム配列)に配置して構成されている。
ここで、本明細書でいう「画素ずらし配置」又は「ハニカム配列」とは、2次元テトラゴナル行列の第1格子と、その格子間位置に格子点を有する2次元テトラゴナル行列の第2格子とを合わせた配置を指す。例えば、奇数列(行)中の各光電変換素子12に対し、偶数列(行)中の光電変換素子12の各々が、光電変換素子12の列(行)方向ピッチの約1/2、列(行)方向にずれ、光電変換素子列(行)の各々が奇数行(列)または偶数行(列)の光電変換素子2のみを含む。「画素ずらし配置」又は「ハニカム配列」は、多数個の光電変換素子12を複数行、複数列に亘って行列状に配置する際の一形態である。
なお、ピッチの「約1/2」とは、1/2を含む他に、製造誤差、設計上もしくはマスク製作上起こる画素位置の丸め誤差等の要因によって1/2から外れてはいるものの、得られる固体撮像素子12の性能およびその画像の画質からみて実質的に1/2と同等とみなすことができる値をも含むものとする。上記の「光電変換素子行内での光電変換素子12のピッチの約1/2」についても同様である。
それぞれの光電変換素子12の列間には、光電変換素子12で発生した信号電荷を読み出して垂直方向に転送する垂直電荷転送路(VCCD)24が、図5の転送電極16a、16b及び垂直転送チャネル14を含んで形成され、光電変換素子12で生じた信号電荷を4相駆動パルス(Φ1〜Φ4)で垂直方向に転送する。
図中、受光領域2の下側にはVCCDにより転送される電荷を1行ごとに周辺回路4に転送する水平電荷転送路(HCCD)3が形成される。
さらに、受光領域2の外側には、例えば、MOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタ回路等で構成される周辺回路4が形成される。周辺回路4としては、例えば、フローティングディフュージョンアンプ(FDA)等が含まれる。
光電変換素子12(に対応する図5の遮光膜18の開口部18OP)上方には、赤(R又はRc)、緑(G)及び青(B)のいずれか1色のカラーフィルタ層が形成されている。図中、上方に赤(R又はRc)のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(R画素又はRc画素)12R又は12Rcには「R」又は「Rc」の文字を付し、緑のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(G画素)12Gには「G」の文字を付し、青(B)のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(B画素)12Bには、それぞれ「B」の文字を付した。受光部に入射する光は、いずれか1色のカラーフィルタ層を透過した後、図4の開口部18OPを通って光電変換素子12に入射する。
図3は、第1の実施例によるカラーフィルタ20の分光特性及びIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。
図3(A)は、第1の実施例におけるカラーフィルタの分光特性を表すグラフである。図中、点線は青(B)、一点鎖線は緑(G)、二点鎖線は赤(R)、実線は赤(Rc)のカラーフィルタの分光特性を表す。図3(B)は、本実施例によるIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。図3(A)及び図3(B)ともに図中斜線部分は、IRカットフィルタ102によりカットされる光波長域を表す。なお、図に示したのは、長波長域のカットオフ波長を700nm付近に設定した例である。
第1の実施例では、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を従来の650nm付近から20nm〜50nm程度長波長域側に拡大し、図に示すように、670nm〜700nm付近に設定する。これに伴い、カラーフィルタ20Gが上部に積層された光電変換素子(G画素)12Gでは、650nm以上に感度を有することになる。
そこで、従来の3色(R、G、B)のカラーフィルタ20R、20G、20Rに加えて第4の色(Rc)のカラーフィルタ20Rcを設ける。カラーフィルタRcは、図3(A)中の実線で示すように、650nm以上の長波長域に分光感度を有するカラーフィルタである。第4のカラーフィルタ20Rcは、少なくとも650nm以上の波長域からIRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長(670nm〜700nm)までの間の波長域に分光感度のピークを有する。
この第4のカラーフィルタ20Rcが上部に積層された光電変換素子(Rc画素)12Rcから得られる信号S(Rc)に基づき、G画素12Gから得られる信号S(G)を補正することにより、正確な(被写体の緑色をほぼ忠実に再現することのできる)G出力信号を得ることができる。この補正は、例えば、以下の式(1)にしたがって行うことができる。
S’(G)=S(G)−αS(Rc) …(1)
ただし、S’(G)は補正後のG出力信号、S(G)はG画素から得られる信号、S(Rc)はRc画素から得られる信号、αは信号S(Rc)から650nm以上の波長域の入射光に対応するG画素の信号出力を算出するための係数である。
以上のように、本発明の第1の実施例では、従来の3色(R、G、B)のカラーフィルタ20R、20G、20Rに加えて第4の色(Rc)のカラーフィルタ20Rcを設けることで、G画素から得られる信号を補正することができるので、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することができる。
また、上述したように赤色(長波長光)の出力信号は、PNフォトダイオードの構造上減衰するが、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することにより、650nm以上の波長光を検出することができるので、赤色(長波長光)の出力信号を増やすことができる。
従って、従来よりもさらに長波長側の入射光を有効に利用することができ、感度を向上させることができる。また、カラーフィルタ20Gの分光感度に起因する色再現性の低下も防止することができる。
図4は、固体撮像素子101の受光領域2の一部の拡大平面図である。半導体基板上の絶縁膜を剥がし、光電変換素子12、転送電極16を露出した状態を示す。
図5は、固体撮像素子101の拡大断面図である。なお、この断面図は、図4に示す一点鎖線x−yで固体撮像素子101を切断したものである。
以下の説明においては、同じ導電型を有する不純物添加領域間での不純物濃度の大小を区別するために、不純物濃度が相対的に低いものから順番に、p−型不純物添加領域、p型不純物添加領域、p+ 型不純物添加領域、あるいはn− 型不純物添加領域、n型不純物添加領域、n+ 型不純物添加領域と表記する。p− 型不純物添加領域11bをエピタキシャル成長法によって形成する場合以外、全ての不純物添加領域は、イオン注入とその後の熱処理とによって形成することが好ましい。
半導体基板11は、例えばn−型シリコン基板11aと、その一表面に形成されたp−型不純物添加領域11bとを有する。p− 型不純物添加領域11bは、n−型シリコン基板11aの一表面にp型不純物をイオン注入した後に熱処理を施すことによって、あるいは、p型不純物を含有したシリコンをn型シリコン基板11aの一表面上にエピタキシャル成長させることによって形成される。
次いで、後に形成される1列の光電変換素子列に1本ずつ対応して、p−型不純物添加領域11bにn型不純物添加領域(垂直転送チャネル)14が例えば、0.5μmの幅で形成される。個々の垂直転送チャネル14は、その全長に亘ってほぼ均一な不純物濃度を有し、対応する光電変換素子列に沿って延在する。
次に、チャネルストップ領域13が、垂直転送チャネル14の隣(読出しゲート用チャネル領域11cとなる箇所の反対側)に形成される。チャネルストップ領域13は、例えばp+型不純物添加領域、或いは、トレンチアイソレーション又は局所酸化(LOCOS)によって構成される。
後に形成される各光電変換素子12(n型不純物添加領域12a)の右側縁部に沿って、p型不純物添加領域11cが一部残される。各p型不純物添加領域11cは、読出しゲート用チャネル領域11cとして利用される。
次に、酸化膜15を、半導体基板11の表面に形成する。転送電極16下部分には、例えば、膜厚が20〜70nm程度のシリコン酸化膜(熱酸化膜)と、膜厚が30〜80nm程度のシリコン窒化膜と、膜厚が10〜50nm程度のシリコン酸化膜とを、半導体基板11上にこの順番で形成した積層膜によって構成されるONO膜を形成する。その他の部分には、例えば、酸化膜(SiO)等を形成する。なお、PSG、BPSG等も酸化膜と呼ぶ。
次に、電極形成工程を行う。この工程では、酸化膜15上に、転送電極(多層ポリシリコン電極)16を形成する。半導体基板1の表面上に形成された酸化膜15の上に第1の多結晶Si層16aを0.2μm〜3μm(例えば、1μm)の厚さで堆積し、第1の多結晶Si層16a表面に、フォトレジスト膜を塗布し、フォトリソグラフィ(露光、現像)によって所定のパターンにフォトレジスト膜をパターニング後、これをマスクとして異方性の強い(マスク面に垂直方向のエッチング速度の大きな)ドライエッチング(塩素系ガス等使用)によりレジストが除去された領域の第1の多結晶層16aをエッチオフし、フォトレジスト膜を除去する。これにより、第1層ポリシリコン電極16aが形成される。
次に、Si表面を酸化しSiO2 膜(第2の酸化膜)を第1層ポリシリコン電極16aの上に300Å〜1000Åの膜厚で形成する。さらに、第2の酸化膜上に減圧CVD法等を用いて第2の多結晶Si層16bを0.2μm〜3μm(例えば、1μm)の厚さで堆積する。引続き、フォトリソグラフィを用いて第2の多結晶Si層16bのパターニングを行い、第2層ポリシリコン電極16bが形成される。
次に、p− 型不純物添加領域11bの所定箇所を、イオン注入によりn型不純物添加領域12aに転換する。なお、n型不純物添加領域12aは、電荷蓄積領域として機能する。転換したn型不純物添加領域12aの表層部をイオン注入によりp+型不純物添加領域12bに転換することによって、埋込み型のフォトダイオードである光電変換素子12を形成する。
次に、多層ポリシリコン電極16及びシリコン基板11前面を覆うように絶縁膜15を形成し、タングステン、アルミニウム、クロム、チタン、モリブデン等の金属や、これらの金属の2種以上からなる合金等をPVDまたはCVDによって絶縁膜15上に堆積させることで遮光膜18を形成する。この遮光膜18は、各転送電極16等を平面視上覆って、光電変換素子12以外の領域で無用の光電変換が行われるのを防止する。
各光電変換素子12へ光が入射することができるように、遮光膜18は、個々の光電変換素子12の上方に開口部18opを1つずつ有する。光電変換素子12表面において上記の開口部18op内に平面視上位置する領域が、この光電変換素子12における光入射面となる。なお、遮光膜の開口形状は図に示すような正方形に限らず、円形や正多角形等のその他の等方性形状でも良い。
その後、遮光膜18の上に、パッシベーション層、平坦化絶縁層を含む第1の平坦化層19を形成する。次ぎに、カラーフィルタ層20を、例えば、互いに異なる色に着色された2種類の樹脂(カラーレジン)の層を、フォトリソグラフィ法等の方法によって所定箇所に順次形成することによって作製する。
この第1の実施例による固体撮像素子101では、赤(R)、赤(Rc)、緑(G)及び青(B)のカラーフィルタ層20R、20Rc、20G及び20Bが形成される。なお、緑(G)のカラーフィルタ層20Gを第1のカラーフィルタ、青(B)のカラーフィルタ層20Bを第2のカラーフィルタ、赤(R)のカラーフィルタ層20Rを第3のカラーフィルタ、赤(Rc)のカラーフィルタ層20Rcを第4のカラーフィルタとする。
次ぎに、第2の平坦化膜21が、第1の平坦化膜19と同様に、例えばフォトレジスト等の有機材料によって形成される。第2の平坦化膜21上面に、それぞれの光電変換素子12に対応してマイクロレンズ22が形成される。マイクロレンズ22は、例えば、透明樹脂層を第2の平坦化膜21上に形成した後、この透明樹脂層をフォトリソグラフィ法等によって所定形状にパターニングした後に、リフローさせることによって形成される。第2の平坦化膜21は、カラーフィルタ層20上に形成されて、マイクロレンズ22を形成するための平坦面を提供する。
図6は、本発明の第2の実施例によるCCD型固体撮像素子201の構成を表すブロック図である。
この第2の実施例では、固体撮像素子102の光電変換素子12上部に形成されるカラーフィルタ層20(20R1及び20R2)の分光特性及びそれらの光電変換素子から得られる信号に基づくG出力信号の補正方法のみが異なる。その他の構成については、第1の実施例による固体撮像素子101と同様であるので、同じ参照番号を付し説明を省略する。
光電変換素子12(に対応する図5の遮光膜18の開口部18OP)上方には、赤(R1又はR2)、緑(G)及び青(B)のいずれか1色のカラーフィルタ層が形成されている。図中、上方に赤(R1又はR2)のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(R1画素又はR2画素)12R1又は12R2には「R1」又は「R2」の文字を付し、緑のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(G画素)12Gには「G」の文字を付し、青(B)のカラーフィルタ層が形成されている光電変換素子(B画素)12Bには、それぞれ「B」の文字を付した。受光部に入射する光は、いずれか1色のカラーフィルタ層を透過した後、図4の開口部18OPを通って光電変換素子12に入射する。
図7は、第2の実施例によるカラーフィルタ20の分光特性及びIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。
図7(A)は、第2の実施例におけるカラーフィルタの分光特性を表すグラフである。図中、点線は青(B)、一点鎖線は緑(G)、二点鎖線は赤(R1)、実線は赤(R2)のカラーフィルタの分光特性を表す。図7(B)は、本実施例によるIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。図7(A)及び図7(B)ともに図中斜線部分は、IRカットフィルタ102によりカットされる光波長域を表す。
第2の実施例でも、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を従来の650nm付近から20nm〜50nm程度長波長域側に拡大し、図に示すように、670nm〜700nm付近に設定する。これに伴い、カラーフィルタ20Gが上部に積層された光電変換素子(G画素)12Gでは、650nm以上に感度を有することになる。なお、図に示したのは、長波長域のカットオフ波長を700nm付近に設定した例である。
そこで、2種類の赤色(R1)及び(R2)のカラーフィルタ20R1及び20R2を設ける。カラーフィルタR1は、図に示すように、600〜650nmの間の波長域に分光感度のピークを有し、赤色(R)の色信号を出力するための光電変換素子12の上部に積層される。カラーフィルタR2は、図に示すように、650nm以上の長波長域の入射光を透過する分光感度を有するカラーフィルタである。
このカラーフィルタ20R2が上部に積層された光電変換素子(R2画素)12R2から得られる信号S(R2)に基づき、G画素12Gから得られる信号S(G)を補正することにより、正確な(被写体の緑色をほぼ忠実に再現することのできる)G出力信号を得ることができる。この補正は、例えば、以下の式(2)にしたがって行うことができる。
S’(G)=S(G)−βS(R2) …(2)
ただし、S’(G)は補正後のG出力信号、S(G)はG画素から得られる信号、S(R2)はR2画素から得られる信号、βは信号S(R2)から650nm以上の波長域の入射光に対応するG画素の信号出力を算出するための係数である。
以上のように、本発明の第2の実施例では、4色(R1、R2、G、B)のカラーフィルタ20R1、20R2、20G、20Rを設けることで、G画素から得られる信号を補正することができるので、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することができる。なお、緑(G)のカラーフィルタ層20Gを第1のカラーフィルタ、青(B)のカラーフィルタ層20Bを第2のカラーフィルタ、赤(R1)のカラーフィルタ層20R1を第3のカラーフィルタ、赤(R2)のカラーフィルタ層20R2を第4のカラーフィルタとする。
また、上述したように赤色(長波長光)の出力信号は、PNフォトダイオードの構造上減衰するが、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することにより、650nm以上の波長光を検出することができるので、赤色(長波長光)の出力信号を増やすことができる。
従って、従来よりもさらに長波長側の入射光を有効に利用することができ、感度を向上させることができる。また、カラーフィルタ20Gの分光感度に起因する色再現性の低下も防止することができる。
なお、第2の実施例におけるカラーフィルタR2の代わりに第1の実施例によるカラーフィルタRcを用いることもできる。また、第2の実施例におけるカラーフィルタR1の代わりに第1の実施例によるカラーフィルタRを用いることもできる。
なお、上述の第1及び第2の実施例では、光電変換素子12を画素ずらし配置した固体撮像素子101又は201を使用したが、図8(A)及び図8(B)に示すような、光電変換素子12を正方行列状に配置した固体撮像素子301又は401を用いることもできる。この場合にも、図3又は図7を用いて説明したように、色信号(G)の補正を上述の画素ずらし配置の場合と同様に行うことができる。
次ぎに、本発明の第3の実施例について説明する。
本出願の発明者らが、固体撮像素子周辺部における感度低下及び色シェーディングのメカニズムを、従来の幾何光学に基づく光線追跡シミュレーションに換えて、波動光学効果を考慮した三次元波動光学シミュレーション(FDTD法:Finite Differential Time Domain Method)を実行して詳細に解析した結果、微細画素及び素子周辺部における各画素の集光効率が入射光の波長に依存し、特に、長波長光(例えば、赤色光(R))であるほど感度が低下する現象が解明された。
図9は、入射光角度を一定とした場合における画素(セル)寸法と入射光がマイクロレンズ、カラーフィルタ、遮光膜の開口部を通って光電変換素子に到達する時の集光効率との関係を表すグラフである。
図9(A)は、遮光膜の開口部の形状が正方形である場合の上記関係を表すグラフである。図から明らかなように、長波長光であるR(赤色光)は、画素寸法が2.5μm以下の領域において集光効率が減衰しており、同様に、G(緑色光)は2μm、B(青色光)は1.4μm付近から集光効率が減衰している。なお、図9(B)に示すように、開口部108は光電変換素子の一辺の長さをSとした場合に、垂直方向の長さがS/2で、水平方向の長さがS/2である。
すなわち、図9(A)は、入射光波長が青(B)より緑(G)、緑(G)より赤(R)というように、長波長であるほど遮光膜開口寸法が十分大きくないと入射光が遮光膜開口を通過できないことを示している。つまり、遮光膜開口寸法の異なる2種類の遮光膜開口について波長選択性を持たせることができることを見出した。
そこで、本発明の第3の実施例では、長波長受光部(長波長光を透過するカラーフィルタ20R下方に位置する光電変換素子12R)に対応する遮光膜の開口部18op2の開口面積をそれ以下の波長の受光部(カラーフィルタ20B及び20G下方に位置する光電変換素子12B、12G)に対応する遮光膜の開口部18op1の開口面積よりも大きく設定することとした。
なお、遮光膜開口部18opとカラーフィルタ20の分光特性以外のハードウェア構成は、第1及び第2の実施例と同様であるので、その説明を省略する。また、IRカットフィルタ102の特性も同様である。
図10は、本発明の第3の実施例による遮光膜開口部18op1及び18op2の入射光の実行透過率を表すグラフである。
遮光膜開口部18op1は、例えば、1辺(図11のSop1)が0.6〜0.9μmの正方形となるように遮光膜開口寸法が設定されており、遮光膜開口部18op2は、例えば、1辺(図11のSop2)が1.0〜1.5μmの正方形となるように遮光膜開口寸法が設定されている。
図10に示すように、遮光膜開口部18op1は、600nm付近から長波長側において、入射光の実効透過率が急激に減衰する特性を有し、遮光膜開口部18op2は、700nm付近から長波長側において、入射光の実効透過率が急激に減衰する特性を有する。
そこで、カラーフィルタ20Gが上部に積層された光電変換素子(G画素)12Gやカラーフィルタ20Bが上部に積層された光電変換素子(B画素)12Bでは、600nm以上の波長を有する入射光が急速に減衰しても特性にはほとんど影響を与えないため、G画素及びB画素には、遮光膜開口部18op1を適用する。これにより、G画素に悪影響を及ぼす上述の650nm以上の波長域の入射光成分を減ずることができる。なお、カラーフィルタ20Rが上部に積層された光電変換素子(R画素)12Rには、遮光膜開口部18op2を適用する。
図11は、第3の実施例による遮光膜開口部18op1及び遮光膜開口部18op2の遮光膜開口寸法及びカラーフィルタ配列を示す概略平面図である。図11(A)に開口形状を正方形にした例を示し、図11(B)に開口形状を円形にした例を示す。
この第3の実施例では、カラーフィルタ20として、従来の3色のカラーフィルタ、すなわち第1の実施例におけるカラーフィルタ20R、20G、20Bを使用する。また、上述したように、G画素12G及びB画素12Bには、遮光膜開口部18op1を適用し、R画素12Rには、遮光膜開口部18op2を適用する。
3色のカラーフィルタ20R、20G、20Bの配列は、公知の例によるが、緑のカラーフィルタ20Gの列と赤と青のカラーフィルタ20R、20Bを交互に配列した列とを交互に配列するとともに、緑のカラーフィルタ20Gの列を介して隣り合う2つの赤と青のカラーフィルタ20R、20Bを交互に配列した列それぞれでの赤と青のカラーフィルタの配置を互いに逆にしたものが好ましい。
このようにすることにより、G画素12Gでは不要な長波長光成分を除去しつつ、R画素ではIRカットフィルタ102のカットオフ波長の長波長化により入射光を有効に利用することができる。よって、感度を向上させることができる。
図12は、第3の実施例における遮光膜開口寸法と入射光波長の関係を説明するための固体撮像素子501の断面図である。なお、第1及び第2の実施例と同様の部材には同じ参照番号を付し、その説明を省略する。図中点線の矢印で650nm以上の波長域の入射光を示す。
図12(A)に示すように、遮光膜開口部18op1を適用したG画素では600nm以上、特に650nm以上の入射光を有効に減衰させることができるので、忠実な緑(G)の色再現が可能になる。また、長波長光がシリコン基板11深部に到達しにくいので、深部で発生する光電荷が隣接する他の受光部や電荷転送装置(VCCD)14に到達することに起因するスミアや偽信号の発生を抑えることができる。
これに対して、図12(B)に示すように、遮光膜開口部18op2を適用したR画素では600nm以上、特に650nm以上の入射光も有効に利用することができるため、従来に比べて感度を向上させることができる。
以上のように、本発明の第3の実施例では、従来の3色(R、G、B)のカラーフィルタ20R、20G、20Bを使用しつつ、遮光膜開口部の開口寸法を制御することにより、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することができる。
また、上述したように赤色(長波長光)の出力信号は、PNフォトダイオードの構造上減衰するが、IRカットフィルタ102の長波長域のカットオフ波長を670nm〜700nm付近に設定することにより、650nm以上の波長光を検出することができるので、赤色(長波長光)の出力信号を増やすことができる。
従って、従来よりもさらに長波長側の入射光を有効に利用することができ、感度を向上させることができる。また、カラーフィルタ20Gの分光感度に起因する色再現性の低下も防止することができる。
なお、この第3の実施例では、光電変換素子12をいわゆるハニカム配列にすることで、遮光膜開口形状を等方的形状とすることが容易になり、遮光膜開口寸法による遮光膜を透過する光の波長の選択性を制御しやすくなり、特に、遮光膜開口寸法を小型化した場合に、固体撮像素子の中心部と周辺部における感度差を軽減することができるので、ハニカム配列を採用することが好ましいが、図13に示すように光電変換素子12を正方行列状に配置することもできる。
また、本発明の実施例は、CCD型固体撮像素子以外の固体撮像素子に適用することも可能である。図14に示すように、光電変換素子12にMOSトランジスタを接続し、各光電変換素子の蓄積電荷を選択的に読み出すことができる構成の固体撮像素子に適用して、いわゆるCMOS型固体撮像素子としてもよい。
また、入射光波長の検出限界が650nm以上に拡大したことにより、特殊な或いは専用の赤外線用センサを使用することなく、いわゆる暗視カメラとしても本発明の実施例によるデジタルカメラを使用することができる。
以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。
本発明の第1の実施例によるデジタルカメラ100の構成を表すブロック図である。 本発明の第1の実施例によるCCD型固体撮像素子101の構成を表すブロック図である。 第1の実施例によるカラーフィルタ20の分光特性及びIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。 固体撮像素子101の受光領域2の一部の拡大平面図である。 固体撮像素子101の拡大断面図である。 本発明の第2の実施例によるCCD型固体撮像素子201の構成を表すブロック図である。 第2の実施例によるカラーフィルタ20の分光特性及びIRカットフィルタ102の入射光透過率の波長依存性を表すグラフである。 固体撮像素子301、401の構成を表すブロック図である。 入射光角度を一定とした場合における画素(セル)寸法と入射光がマイクロレンズ、カラーフィルタ、遮光膜の開口部を通って光電変換素子に到達する時の集光効率との関係を表すグラフである。 本発明の第3の実施例による遮光膜開口部18op1及び18op2の入射光の実行透過率を表すグラフである。 第3の実施例による遮光膜開口部18op1及び遮光膜開口部18op2の遮光膜開口寸法及びカラーフィルタ配列を示す概略平面図である。 第3の実施例における遮光膜開口寸法と入射光波長の関係を説明するための固体撮像素子501の断面図である。 第3の実施例の変形例による遮光膜開口部18op1及び遮光膜開口部18op2の遮光膜開口寸法及びカラーフィルタ配列を示す概略平面図である。 MOS型固体撮像素子の一例を表す概略図である。 一般的なカラーフィルタの分光特性、IR(赤外)カットフィルタの特性及び固体撮像素子自体が有する分光感度を表すグラフである。
符号の説明
2…受光領域、3…HCCD、4…周辺回路、11…半導体基板、12…光電変換素子、13…チャネルストップ領域、14…転送チャンネル、15…絶縁膜、16a…第1層転送電極、16b…第2層転送電極、18…遮光膜、19、21…平坦化層、20…カラーフィルタ、22…マイクロレンズ、24…垂直電荷転送装置、100…デジタルカメラ、101、201、301、401、501…固体撮像素子、102…IRカットフィルタ、104…光学系、105…挿入(先端)部、106…システム制御回路、107…同期信号回路、108…CCD駆動回路、109…CDS回路、110…プリプロセス回路、111…A/D変換回路、112…信号処理(信号圧縮・伸張)回路、113…メモリ、114…記録/表示回路、115…集光レンズ

Claims (7)

  1. 長波長側のカットオフ波長が670nm〜700nmの範囲内の赤外カットフィルタの後段に配置され、該赤外カットフィルタを透過した光が入射する固体撮像素子であって、
    緑色の波長域と650nm以上の波長域とに分光感度を有する第1のカラーフィルタと、
    青色の波長域に分光感度を有する第2のカラーフィルタと、
    赤色の波長域に分光感度を有する第3のカラーフィルタと、
    650nm〜700nmの波長域に分光特性のピークを有する第4のカラーフィルタと、
    行方向及び列方向に配列され、前記第1〜第4のカラーフィルタのいずれかを透過して入射する入射光を受光して、入射光量に応じた信号量を検出する複数の光電変換素子と
    前記第4のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量に所定値の係数を乗じたものを、前記第1のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量から減算することにより緑色信号を補正する緑色信号補正手段と
    を有する固体撮像素子。
  2. 長波長側のカットオフ波長が670nm〜700nmの範囲内の赤外カットフィルタの後段に配置され、該赤外カットフィルタを透過した光が入射する固体撮像素子であって、
    緑色の波長域と650nm以上の波長域とに分光感度を有する第1のカラーフィルタと、
    青色の波長域に分光感度を有する第2のカラーフィルタと、
    600nm〜650nmの波長域に分光特性のピークを有する第3のカラーフィルタと、
    650nm以上の波長域に分光感度を有する第4のカラーフィルタと、
    行方向及び列方向に配列され、前記第1〜第4のカラーフィルタのいずれかを透過して入射する入射光を受光して、入射光量に応じた信号量を検出する複数の光電変換素子と
    前記第4のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量に所定値の係数を乗じたものを、前記第1のカラーフィルタを透過した入射光の入射光量に応じた信号量から減算することにより緑色信号を補正する緑色信号補正手段と
    を有する固体撮像素子。
  3. 前記複数の光電変換素子は、行方向及び列方向に1/2ピッチずつずらして配置される請求項1又は2記載の固体撮像素子。
  4. 前記複数の光電変換素子は、正方格子配列で配置される請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  5. さらに、前記複数の光電変換素子の列ごとに垂直電荷転送路を有する請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  6. さらに、前記複数の光電変換素子ごとにMOS型電荷検出回路を有する請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  7. 長波長側のカットオフ波長が670nm〜700nmの範囲内の赤外カットフィルタと、
    請求項1〜のいずれか1項に記載の固体撮像素子と
    を有するデジタルカメラ。
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