JP4890760B2 - 発熱体状態モニタ - Google Patents
発熱体状態モニタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP4890760B2 JP4890760B2 JP2004521905A JP2004521905A JP4890760B2 JP 4890760 B2 JP4890760 B2 JP 4890760B2 JP 2004521905 A JP2004521905 A JP 2004521905A JP 2004521905 A JP2004521905 A JP 2004521905A JP 4890760 B2 JP4890760 B2 JP 4890760B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating element
- resistance
- change
- alloy
- baseline
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B1/00—Details of electric heating devices
- H05B1/02—Automatic switching arrangements specially adapted to apparatus ; Control of heating devices
- H05B1/0227—Applications
- H05B1/023—Industrial applications
- H05B1/0233—Industrial applications for semiconductors manufacturing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B1/00—Details of electric heating devices
- H05B1/02—Automatic switching arrangements specially adapted to apparatus ; Control of heating devices
- H05B1/0227—Applications
- H05B1/0288—Applications for non specified applications
- H05B1/0291—Tubular elements
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ecology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Description
この問題に対処する1つの方法は、そのような破損をこうむる部材(item)(例えば発熱体)が使用されていた時間の量を監視することによって予防的保守プログラム(preventative maintenance program)を実行することである。所定の時間期間が経過した後、予期した発生の可能性のある破損の前にその部材を取り替えることができる。しかしながら、発熱体の所期の寿命または信頼度を予測することが難しいことが往々にしてある。その上、このような発熱体の使用の数量と質には大きなばらつき(variability)がある可能性があり、また、そのような部材の品質の差も多様である。加えて、材料の本来的または本質的な汚染のような他の要因がそのようなデバイスの有効寿命に悪影響を及ぼすこともあり得る。
Claims (37)
- 発熱体に成形される材料の状態監視方法であって、
材料の少なくとも2つの特性について基準ベースラインを決定することと、
前記材料の少なくとも2つの特性を時間および/または温度にわたって監視することと、
前記の監視した少なくとも2つの特性を前記基準ベースラインと比較することと、
前記の監視した少なくとも2つの特性と基準ベースラインとの間の差が所定の値に達するか該所定の値を超える時に信号を開始することと、
を包含し、ここで、前記の監視した少なくとも2つの特性と基準ベースラインとの間の差は、前記材料の伸び、材料の組成の冶金的変化および材料の横断面積の減少のうちの1つ以上に起因する差である、状態監視方法。 - 前記基準ベースラインは前記材料の状態の幾何学的モデルである請求項1に記載の方法。
- 前記監視した特性は前記材料の状態を表すものである請求項1に記載の方法。
- 前記特性の1つは前記材料の電気抵抗である請求項1に記載の方法。
- 前記特性の1つは電圧値である請求項1に記載の方法。
- 前記特性の1つは電流値である請求項1に記載の方法。
- 前記特性の1つは温度値である請求項1に記載の方法。
- 前記監視を所定の温度範囲にわたって実行する請求項1に記載の方法。
- 前記監視を20℃から1400℃の温度範囲にわたって実行する請求項8に記載の方法。
- 前記監視を前記材料が置かれた室を閉鎖することなしに実行する請求項1に記載の方法。
- 前記材料の特性の監視を前記材料の電気抵抗の測定によって実行する請求項1に記載の方法。
- 前記の監視した特性と基準ベースラインとの間の差は前記材料の伸びによって生じる請求項1に記載の方法。
- 前記の監視した特性と基準ベースラインとの間の差は前記材料の組成の冶金的変化によって生じる請求項1に記載の方法。
- 前記の監視した特性と基準ベースラインとの間の差は前記材料の横断面積の減少によって生じる請求項1に記載の方法。
- 前記差が2つ以上の特性の変化によって生じ、ここで、どの特性の変化の度合いも、前記の監視したその他の特性の1つ以上の変化の度合いに等しくない請求項1に記載の方法。
- 前記材料は、鉄72.2%、クロミウム22.0%およびアルミニウム5.8%の合金からなるワイヤ発熱体である請求項1に記載の方法。
- 前記所定の値は、前記材料の冶金的変化を示し、アルミニウム含有量が前記合金の3.0%より少なくなる変化を含む請求項16に記載の方法。
- 前記基準ベースラインと監視した特性とはグラフ表示に変換され、前記監視した特性と基準ベースラインとの間の比較は幾何学的比較である請求項1に記載の方法。
- 前記差が所定値に達する時に前記信号が開始される請求項1に記載の方法。
- 前記の開始された信号は決定部に送られる請求項1に記載の方法。
- 前記の監視された特性の急激な変化に基づいて前記材料の劣化または破損を検出することを含む請求項1に記載の方法。
- 発熱体の状態監視方法であって、
発熱体の材料の測定された特性を基準ベースラインとして表す第1のグラフ表示を決定することと、
前記測定された特性のグラフ変化の閾値レベルを設定することと、
間隔をおいた後の前記発熱体の材料の特性の状態を反映するデータを収集することと、
前記の収集したデータを第2のグラフ表示に変換することと、
前記第1のグラフ表示と第2のグラフ表示との間の差を前記グラフ変化の閾値レベルと比較することと、
前記差が前記閾値レベルに達するか該閾値レベルを超える時に決定部に信号を送ることと、
を包含し、前記測定された特性は、前記発熱体の抵抗測定値、前記発熱体の温度測定値、前記発熱体の電流測定値、又は前記発熱体の電圧測定値の少なくとも1つである、発熱体の状態監視方法。 - 前記発熱体は、鉄72.2%、クロミウム22.0%およびアルミニウム5.8
%の初期合金組成を有する請求項22に記載の方法。 - 前記の収集したデータは前記発熱体の材料の抵抗測定値を包含する請求項22に記載の方法。
- 前記の比較を幾何学的比較として行う請求項22に記載の方法。
- 発熱体に成形される材料の状態監視装置であって、
材料の初期組成を初期時点における基準ベースラインとして決定する手段と、
指定された時間間隔をおいた後の前記材料の後続組成を反映するデータを収集する手段と、
前記初期組成から前記後続組成までの間の変化の閾値レベルを設定する手段と、
前記時間間隔が過ぎた後の前記材料の組成変化を監視する手段と、
前記の監視した変化が前記閾値レベルに達したか該閾値レベルを超えた時に決定部に信号を送る手段と、
を包含する材料の状態監視装置。 - 前記初期組成を設定する手段が、鉄72.2%、クロミウム22.0%およびアルミニウム5.8%を含有する材料に対する抵抗ベースラインを設定する請求項26に記載の装置。
- 前記閾値レベルは、アルミニウム2.5%を含有する前記材料の組成に対応するレベルを含有し、前記材料の組成は、5.8%のアルミニウムを初期に包含する前記請求項26に記載の装置。
- 前記データを収集する手段はマイクロコントローラを包含する請求項26に記載の装置。
- 前記データを収集する手段は発熱体の状態を感知する感知メカニズムを包含する請求項26に記載の装置。
- 前記感知メカニズムは発熱体の電気的特性を感知する請求項30に記載の装置。
- 前記設定する手段は、20℃から1400℃までの温度範囲にわたって1.0から1.27までの正規化された抵抗曲線に相当する閾値レベルを設定する請求項26に記載の装置。
- 前記監視する手段はマイクロコントローラを包含する請求項26に記載の装置。
- 更に、ひとたび、前記閾値レベルに達したかそれを超えた場合に前記信号を送る手段に応答する決定部を包含する請求項26に記載の装置。
- 前記決定部はマイクロコントローラを包含する請求項34に記載の装置。
- 発熱体の特性の監視方法であって、
材料の少なくとも2つの測定特性について基準ベースラインを決定することと、
前記材料の前記少なくとも2つの測定特性を時間および/または温度にわたって監視することと、
前記の監視した測定特性を前記基準ベースラインと比較することと、
前記の比較が、発熱体特性の変化が前記基準ベースラインから所定の値に達したか、又は該所定の値を超えたことを示す時に信号を開始することと、
を包含し、前記発熱体特性は、前記材料の伸び、材料の組成の冶金的変化および材料の横断面積の減少のうちの少なくとも1つである、特性の監視方法。 - 前記の比較は、前記基準ベースラインと、前記材料の前記の監視される少なくとも2つの測定特性との間の幾何学的相違を決定する請求項36に記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/196,160 US6956489B2 (en) | 2002-07-17 | 2002-07-17 | Heating element condition monitor |
US10/196,160 | 2002-07-17 | ||
US10/619,561 US7012538B2 (en) | 2002-07-17 | 2003-07-16 | Heating element condition monitor |
US10/619,561 | 2003-07-16 | ||
PCT/US2003/022224 WO2004008043A2 (en) | 2002-07-17 | 2003-07-17 | Heating element condition monitor |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006508526A JP2006508526A (ja) | 2006-03-09 |
JP2006508526A5 JP2006508526A5 (ja) | 2006-09-07 |
JP4890760B2 true JP4890760B2 (ja) | 2012-03-07 |
Family
ID=30115047
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004521905A Expired - Fee Related JP4890760B2 (ja) | 2002-07-17 | 2003-07-17 | 発熱体状態モニタ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6956489B2 (ja) |
JP (1) | JP4890760B2 (ja) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004165034A (ja) * | 2002-11-14 | 2004-06-10 | Nissin Electric Co Ltd | イオン源のフィラメント寿命予測方法およびイオン源装置 |
US20050071289A1 (en) * | 2003-09-29 | 2005-03-31 | Pitney Bowes Incorporated | Method for postage evidencing for the payment of terminal dues |
JP2006253950A (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-21 | Fujitsu Ltd | デバイスの特性劣化判定方法及び装置 |
US20070039938A1 (en) * | 2005-08-19 | 2007-02-22 | Peck Kevin B | Fault tolerant element and combination with fault tolerant circuit |
US7825672B2 (en) * | 2006-06-19 | 2010-11-02 | Mrl Industries, Inc. | High accuracy in-situ resistance measurements methods |
US20080183404A1 (en) * | 2007-01-13 | 2008-07-31 | Arsalan Alan Emami | Monitoring heater condition to predict or detect failure of a heating element |
US8279072B2 (en) * | 2008-03-17 | 2012-10-02 | Mrl Industries Inc. | System to monitor a consumable part and method to monitor performance life and predict maintenance thereof |
JP2010009791A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 放電灯点灯装置および照明器具 |
JP2011192676A (ja) * | 2010-03-11 | 2011-09-29 | Nikon Corp | 基板処理装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置 |
CN102052971B (zh) * | 2010-11-02 | 2012-07-04 | 深圳市海一电器有限公司 | 电加热的热源测温装置及方法 |
TWI644112B (zh) * | 2016-12-14 | 2018-12-11 | 旺玖科技股份有限公司 | 用以感測電氣設備使用狀態之感測器及其感測方法 |
US9582754B1 (en) * | 2016-05-17 | 2017-02-28 | Roger Collins | Adaptive feed forward method for temperature control |
US10197517B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-02-05 | Rosemount Aerospace, Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US10180449B2 (en) | 2017-03-24 | 2019-01-15 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US10151785B2 (en) * | 2017-03-24 | 2018-12-11 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US10914777B2 (en) * | 2017-03-24 | 2021-02-09 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US10895592B2 (en) * | 2017-03-24 | 2021-01-19 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US10564203B2 (en) | 2017-03-24 | 2020-02-18 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US11060992B2 (en) | 2017-03-24 | 2021-07-13 | Rosemount Aerospace Inc. | Probe heater remaining useful life determination |
US11092101B2 (en) | 2018-08-22 | 2021-08-17 | Rosemount Aerospace Inc. | Heater in-circuit capacitive measurement |
US10962580B2 (en) | 2018-12-14 | 2021-03-30 | Rosemount Aerospace Inc. | Electric arc detection for probe heater PHM and prediction of remaining useful life |
US11061080B2 (en) | 2018-12-14 | 2021-07-13 | Rosemount Aerospace Inc. | Real time operational leakage current measurement for probe heater PHM and prediction of remaining useful life |
US11639954B2 (en) | 2019-05-29 | 2023-05-02 | Rosemount Aerospace Inc. | Differential leakage current measurement for heater health monitoring |
US11472562B2 (en) | 2019-06-14 | 2022-10-18 | Rosemount Aerospace Inc. | Health monitoring of an electrical heater of an air data probe |
US11459112B2 (en) * | 2019-07-19 | 2022-10-04 | Rosemount Aerospace Inc. | Active aircraft probe heat monitor and method of use |
US11930563B2 (en) | 2019-09-16 | 2024-03-12 | Rosemount Aerospace Inc. | Monitoring and extending heater life through power supply polarity switching |
US11293995B2 (en) | 2020-03-23 | 2022-04-05 | Rosemount Aerospace Inc. | Differential leakage current measurement for heater health monitoring |
US11630140B2 (en) | 2020-04-22 | 2023-04-18 | Rosemount Aerospace Inc. | Prognostic health monitoring for heater |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4518850A (en) * | 1981-02-18 | 1985-05-21 | Micropore International Limited | Electric cooker having temperature warning means |
US4549073A (en) * | 1981-11-06 | 1985-10-22 | Oximetrix, Inc. | Current controller for resistive heating element |
JPH01254381A (ja) * | 1988-04-02 | 1989-10-11 | Hakko Kinzoku Kogyo Kk | 半田こての温度調整装置 |
KR960013995B1 (ko) * | 1988-07-15 | 1996-10-11 | 도오교오 에레구토론 가부시끼가이샤 | 반도체 웨이퍼 기판의 표면온도 측정 방법 및 열처리 장치 |
JP2738732B2 (ja) * | 1988-09-16 | 1998-04-08 | 株式会社日立製作所 | 劣化度予測装置および方法 |
JPH0447258A (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 抵抗体の寿命予測装置 |
US5280422A (en) * | 1990-11-05 | 1994-01-18 | Watlow/Winona, Inc. | Method and apparatus for calibrating and controlling multiple heaters |
US5552998A (en) * | 1990-11-05 | 1996-09-03 | Watlow/Winona, Inc. | Method and apparatus for calibration and controlling multiple heaters |
US5270520A (en) * | 1991-09-23 | 1993-12-14 | Helen Of Troy Corporation | Hair styling appliances and heater control circuits therefor |
JP2669277B2 (ja) * | 1992-09-18 | 1997-10-27 | 株式会社日立製作所 | セラミックス焼結体の寿命予測法及び装置 |
US5629869A (en) * | 1994-04-11 | 1997-05-13 | Abb Power T&D Company | Intelligent circuit breaker providing synchronous switching and condition monitoring |
US5864773A (en) * | 1995-11-03 | 1999-01-26 | Texas Instruments Incorporated | Virtual sensor based monitoring and fault detection/classification system and method for semiconductor processing equipment |
US5754451A (en) * | 1996-02-29 | 1998-05-19 | Raytheon Company | Preventative maintenance and diagonstic system |
US5702624A (en) * | 1996-10-09 | 1997-12-30 | Taiwan Semiconductors Manfuacturing Company, Ltd | Compete hot plate temperature control system for hot treatment |
US5831249A (en) * | 1997-01-29 | 1998-11-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Secondary measurement of rapid thermal annealer temperature |
-
2002
- 2002-07-17 US US10/196,160 patent/US6956489B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-07-16 US US10/619,561 patent/US7012538B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-07-17 JP JP2004521905A patent/JP4890760B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6956489B2 (en) | 2005-10-18 |
JP2006508526A (ja) | 2006-03-09 |
US7012538B2 (en) | 2006-03-14 |
US20040075567A1 (en) | 2004-04-22 |
US20040012498A1 (en) | 2004-01-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4890760B2 (ja) | 発熱体状態モニタ | |
JP4326570B2 (ja) | ヒータ素線の寿命予測方法,熱処理装置,記録媒体,ヒータ素線の寿命予測処理システム | |
US11917730B2 (en) | Integrated device and method for enhancing heater life and performance | |
JP2012253222A (ja) | 抵抗加熱式ヒータの寿命予測方法及び熱処理装置 | |
KR101777931B1 (ko) | 보호관 열화 검지 장치 및 그 방법 | |
JP4420356B2 (ja) | ヒータ素線の寿命予測方法,熱処理装置,記録媒体,ヒータ素線の寿命予測処理システム | |
US20040220775A1 (en) | Detecting thermocouple failure using loop resistance | |
JP2017034159A (ja) | 半導体製造装置のヒータ交換判定方法およびヒータ交換判定機能を有する半導体製造装置 | |
US20200194652A1 (en) | Techniques for making high-temperature thermocouples and related thermocouples and methods | |
WO2004008043A2 (en) | Heating element condition monitor | |
JPS5892952A (ja) | 高温部材の寿命予測法 | |
JP7572616B2 (ja) | コークス炉クロスタイロッドの監視方法及び監視装置 | |
Chandradhas et al. | Coupled Electro-Thermo-Mechanical Analysis to Understand Fuse Element Ageing by Finite Element Method | |
RU2563337C2 (ru) | Способ и устройство для контроля работы нагревателя электропечи | |
JP3533517B2 (ja) | 高温部材の寿命予測方法 | |
CN218973660U (zh) | 柔性测量端的贵金属热电偶 | |
JPH0831653A (ja) | 油入電気機器及びその寿命推定方法 | |
KR100743879B1 (ko) | 변압기 터보 운전 장치 및 그 방법 | |
Widiatmo et al. | Evaluation of High-Temperature Platinum Resistance Thermometers Based on ITS-90 | |
JPH0778667A (ja) | 発熱体の寿命予測装置を具備した電気炉 | |
RU140215U1 (ru) | Устройство для контроля работы нагревателя электропечи | |
Caughey et al. | Effects of cyclic overloads on the creep rates and rupture life of Inconel at 1700 and 1800 F | |
Bernhard | In-situ calibration of inhomogeneous thermocouples by integrated miniature fixed-point cells. | |
Manca et al. | Electrical characterization and reliability evaluation of capacitors by means of in situ leakage current measurements | |
Spiropoulou et al. | Investigation of power failure of a heating device operated in a differential scanning calorimeter (DSC) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060718 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060718 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100824 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101122 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101130 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110726 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111021 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111115 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111215 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4890760 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |