JP4887640B2 - アナログ差動回路試験装置 - Google Patents
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Description
アナログ差動回路を有するLSIの内部に配設される試験装置であって、
アナログ差動回路の入力対を通常作動モードとテストモードとの間で切り換える切換回路と、
前記テストモードのときに、外部から調整可能な電圧を生成し前記入力対に印加する電圧調整回路と、
前記アナログ差動回路の出力をラッチするラッチ回路と、を備え、
前記電圧調整回路は、外部から入力される電圧制御信号の変化に従って前記入力対の一方の入力の電位と前記入力対の他方の入力の電位を調整し、前記電圧制御信号の値の上昇または下降に伴い前記一方の入力の電位と前記他方の入力の電位の大小関係が逆転する、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するために、本発明の第2の観点に係るアナログ差動回路試験装置は、
アナログ差動回路を有するLSIの内部に配設される試験装置であって、
アナログ差動回路の入力対を通常作動モードとテストモードとの間で切り換える切換回路と、
前記テストモードのときに、外部から調整可能な電圧を生成し前記入力対に印加する電圧調整回路と、
前記アナログ差動回路の出力をラッチするラッチ回路と、を備え、
前記電圧調整回路は、外部から入力される電圧制御信号の変化によって、前記入力対の一方の入力の電位が最小値から最大値まで上昇するときに他方の入力の電位が最大値から最小値まで下降し、前記上昇及び下降の際に前記一方及び他方の入力の電位がクロスする、
ことを特徴とする。
11、12、18、19、23:インバータ
13、14:トランスファゲート
15:電圧調整部
16:FF回路
17:被試験回路(アナログ差動回路)
18、19:インバータ
20:電圧調整回路
21:第1の調整部
22:第2の調整部
31〜34:NORゲート
35:VDD/2電源回路
36:比較回路
Claims (7)
- アナログ差動回路を有するLSIの内部に配設される試験装置であって、
アナログ差動回路の入力対を通常作動モードとテストモードとの間で切り換える切換回路と、
前記テストモードのときに、外部から調整可能な電圧を生成し前記入力対に印加する電圧調整回路と、
前記アナログ差動回路の出力をラッチするラッチ回路と、を備え、
前記電圧調整回路は、外部から入力される電圧制御信号の変化に従って前記入力対の一方の入力の電位と前記入力対の他方の入力の電位を調整し、前記電圧制御信号の値の上昇または下降に伴い前記一方の入力の電位と前記他方の入力の電位の大小関係が逆転する、
ことを特徴とするアナログ差動回路試験装置。 - アナログ差動回路を有するLSIの内部に配設される試験装置であって、
アナログ差動回路の入力対を通常作動モードとテストモードとの間で切り換える切換回路と、
前記テストモードのときに、外部から調整可能な電圧を生成し前記入力対に印加する電圧調整回路と、
前記アナログ差動回路の出力をラッチするラッチ回路と、を備え、
前記電圧調整回路は、外部から入力される電圧制御信号の変化によって、前記入力対の一方の入力の電位が最小値から最大値まで上昇するときに他方の入力の電位が最大値から最小値まで下降し、前記上昇及び下降の際に前記一方及び他方の入力の電位がクロスする、
ことを特徴とするアナログ差動回路試験装置。 - 前記電圧調整回路は、前記一方の入力と高電位電源との間にそれぞれ接続される、プルアップ抵抗及びトランジスタを有する複数の第1の電流路と、前記一方の入力と低電位電源との間にそれぞれ接続される、プルダウン抵抗及びトランジスタを有する複数の第2の電流路と、前記他方の入力と高電位電源との間にそれぞれ接続される、プルアップ抵抗及びトランジスタを有する複数の第3の電流路と、前記他方の入力と低電位電源との間にそれぞれ接続される、プルダウン抵抗及びトランジスタを有する第4の電流路とを備える、請求項1に記載のアナログ差動回路試験装置。
- 前記電圧制御信号が、同数の複数ビットをそれぞれ有する第1の制御信号及び第2の制御信号を含み、前記第1及び第4の電流路のトランジスタが前記第1の制御信号によって制御され、前記第2及び第3の電流路のトランジスタが前記第2の制御信号によって制御される、請求項3に記載のアナログ差動回路試験装置。
- 前記第1及び第2の制御信号が、互いに独立に制御される、請求項4に記載のアナログ差動回路試験装置。
- 前記第1及び第2の制御信号が互いに相補である、請求項4に記載のアナログ差動回路試験装置。
- 前記一方の入力又は他方の入力と、所定の基準電圧とを比較するコンパレータを更に備える、請求項1〜6の何れか一に記載のアナログ差動回路試験装置。
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