JP4882713B2 - 電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - Google Patents
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そのため、電子線ホログラムH10と透過電子顕微鏡像T10とを比較する場合には、いずれかの位置補正が必要になり、撮像に時間がかかるので、電子線ダメージの大きい試料は観察が困難になるという問題があった。また、透過電子顕微鏡像T10と電子線ホログラムH10を逐次切り替えて材料の構造及び電子状態変化をその場観察する場合にも、切り替えに時間がかかり、時間分解能が低下するため、材料の構造、電子状態変化を見逃してしまうおそれがあるという問題があった。
また、電子線バイプリズム制御手段により、電子線バイプリズムを、第1の電極を接地し、フィラメントに第1の電位を印加するとともに、第2の電極にフィラメントに印加した電位よりも高い正の第2の電位を印加し、参照波が物体波と重ならないようにする状態に切り替えることにより、干渉縞が形成されないようにすることができる。ここで、物体波は、電子線ホログラムを形成する場合と同様に曲折するため、電子線ホログラムから位置ずれすることなく、透過電子顕微鏡像を形成することができ、形成された透過電子顕微鏡像を画像記録装置により記録することができる。
これにより、電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる。また、位置ずれを補正する必要がないため、観察時間を短縮することができるとともに、時間分解能を向上することができる。
また、電子線バイプリズム制御手段により、電子線バイプリズムを、第1の電極を接地し、フィラメントに第1の電位を印加するとともに、第2の電極にフィラメントに印加した電位よりも高い正の第2の電位を印加し、参照波が物体波と重ならないようにする状態に切り替えることにより、干渉縞が形成されないようにすることができる。ここで、物体波は、電子線ホログラムを形成する場合と同様に曲折するため、電子線ホログラムから位置ずれすることなく、透過電子顕微鏡像を作製及び記録することができる。
これにより、電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との位置ずれを防止することができる。また、位置ずれを補正する必要がないため、観察時間を短縮することができるとともに、時間分解能を向上することができる。
請求項10に記載の発明では、請求項6ないし請求項9のいずれか1つに記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法において、前記透過電子顕微鏡は、前記電子線ホログラム及び前記透過電子顕微鏡像を記録する画像記録手段を備えており、前記画像記録手段のフレームレートに等しい時間間隔で前記電子線ホログラムと前記透過電子顕微鏡像とを交互に記録する、という技術的手段を用いる。
請求項10に記載の発明によれば、透過電子顕微鏡は、電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像を記録する画像記録手段を備えており、画像記録手段のフレームレートに等しい時間間隔で電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像とを交互に記録するため、電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との記録を画像記録手段のフレームレートに対応した時間間隔で切り替えることができるので、時間分解能が高い状態で材料の構造及び電子状態変化をその場観察することができる。
また、電子線ホログラムの作製及び記録を行うときには、試料に照射する電子線を拡げることにより、干渉性を良くすることができるので、干渉縞がより鮮明に表れた電子線ホログラムを得ることができる。
第1実施形態に係る透過電子顕微鏡と、電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法とについて、図を参照して説明する。図1は、第1実施形態における透過電子顕微鏡の構成を示す説明図である。図2は、電子線バイプリズムの回路図である。図2(A)は、電子線ホログラムを作製する場合の電子線バイプリズムの回路図であり、図2(B)は、透過電子顕微鏡像を作製する場合の電子線バイプリズムの回路図である。図3は、電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法を示す説明図である。図3(A)は、電子線ホログラムの作製方法を示す説明図であり、図3(B)は、透過電子顕微鏡像の作製方法を示す説明図である。
試料ホルダ13は、試料を回動させる回動装置13aを備えており、電子線の照射方向に対して垂直な軸を中心に試料Mを傾斜もしくは回転させることができる。
ここで、試料Mは、電子銃11とフィラメント15cとを結ぶ線を境界として、参照波側電極15b側に配置されている。
スイッチS1、S2の切り替え及び電圧V1、V2の制御は制御装置17により行われる。ここで、電圧V1は例えば0〜100Vで可変であり、電圧V2は電圧V1より大きい値に設定されている。
このとき、フィラメント15cと物体波側電極15aとの電位差はV1であり、電子線ホログラムを作製する場合と同じ状態であるため、図3(B)に示すように、物体波E1は、電子線ホログラムHを作製する場合と同様に曲折し、電子線ホログラムHから位置ずれすることなく、同じ位置に透過電子顕微鏡像Tとして結像される。
これにより、フィラメント15cに電圧V1を印加したままの状態で、参照波E2のみ外方に曲げられることで透過電子顕微鏡像Tを得ることができるので、電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとの位置ずれを防止することができる。また、位置ずれを補正する必要がないため、観察時間を短縮することができるとともに、時間分解能を向上することができる。
ここで、電子線バイプリズム15の切替間隔は、画像記録装置16が画像を記録するために必要な時間とすればよく、例えば、0.1〜10秒間隔にすることができる。
これらと透過電子顕微鏡像とを比較することにより、材料の内部構造と磁場、電場、内部ポテンシャル等の電子状態とを関連づけて可視化して観察することができる。これにより、例えば、半導体内部のp−n接合電位分布の解析などを行うことができる。
回動装置13aは、試料Mの回転軸が電子線Eの照射方向に対して垂直方向になるように構成されており、制御装置17の制御信号により回動装置13aが試料Mを回転させることにより、試料Mと電子線Eとのなす角度を自由に設定することができる。
この構成によれば、試料Mを電子線Eに対して傾斜させたときの各角度における電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tを、切替時の位置補正なく、短時間で記録することができる。これにより、各傾斜角ごとに記録した複数の電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとを基に3次元再構成処理を行うことにより、材料の内部構造及び磁場、電場、内部ポテンシャル等の電子状態の3次元情報を関連づけて可視化して観察することができる。
柱状の試料では、電子線照射方向の断面のアスペクト比が、板状試料に比べて小さいため、電子線ホログラムH及び透過電子顕微鏡像Tの視野の大きさが安定しているとともに、電子線の透過能に大きな変化がないため、電子線の照射条件を変動させることなく、観察を行うことができる。
また、柱状試料を用いて電子線ホログラムHを作製する場合、干渉縞が試料の軸と平行になるように試料Mを配置すると、干渉縞の中に物体の像を収めることが容易となる。
(1)本実施形態の透過電子顕微鏡は上述の構成を備えているため、制御装置17により、電子線バイプリズム15を、物体波側電極15aと参照波側電極15bとを接地し、フィラメント15cに正の電位V1を印加し、物体波E1と参照波E2とを干渉させる状態にすることにより、電子状態に対応した干渉縞が生じた電子線ホログラムHを形成し、形成された電子線ホログラムHを画像記録装置16により記録することができる。
また、制御装置17により、電子線バイプリズム15を、物体波側電極15aを接地し、フィラメント15cに正の電位V1を印加するとともに、参照波側電極15bにフィラメント15cに印加した電位V1よりも高い正の電位V2を印加し、参照波E2が物体波E1と重ならないようにする状態に切り替えることにより、干渉縞が形成されないようにすることができる。ここで、物体波E1は、電子線ホログラムを形成する場合と同様に曲折するため、電子線ホログラムHから位置ずれすることなく、透過電子顕微鏡像Tを形成することができ、形成された透過電子顕微鏡像Tを画像記録装置16により記録することができる。
これにより、電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとの位置ずれを防止することができる。また、位置ずれを補正する必要がないため、観察時間を短縮することができるとともに、時間分解能を向上することができる。
柱状の試料では、電子線照射方向の断面のアスペクト比が、板状試料に比べて小さいため、電子線ホログラムH及び透過電子顕微鏡像Tの視野の大きさが安定しているとともに、電子線の透過能に大きな変化がないため、電子線の照射条件を変動させることなく、観察を行うことができる。
第2実施形態に係る透過電子顕微鏡と、電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法とについて、図を参照して説明する。図4は、電子線バイプリズムによる電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の切替タイミングを示す説明図である。
なお、第1実施形態と共通する構成については、説明を省略する。
TVカメラはフレームレートが早いので、電子線バイプリズム15の電位の切替とTVカメラによる記録を連動させて、電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとの記録をTVカメラのフレームレートに対応した時間間隔で切り替えることにより、時間分解能が高い状態で材料の構造及び電子状態変化をその場観察することができる。
例えば、図4に示すように、電子線バイプリズムにより電子線ホログラムと透過電子顕微鏡像との記録の切替を、本実施形態のTVカメラのフレームレートである1/30秒間隔(30fps)で行うことにより、電子線ホログラムH及び透過電子顕微鏡像Tをそれぞれ1/15秒の時間分解能で観察することができる。
電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとは、上述した電子線バイプリズム15の切替に連動して、交互に画像記録装置16により記録される。
なお、電子線バイプリズム15による電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとの切替の間隔は、使用する画像記録装置16のフレームレートと同期させればよい。
本実施形態の透過電子顕微鏡10によれば、電子線バイプリズム15の電位の切替とTVカメラによる記録を連動させて、電子線ホログラムHと透過電子顕微鏡像Tとの記録をTVカメラのフレームレートに対応した時間間隔で切り替えることにより、時間分解能が高い状態で材料の構造及び電子状態変化をその場観察することができる。
特に、TVカメラはフレームレートが早いので、その場観察に好適に用いることができる。
(1)透過電子顕微鏡像Tの作製及び記録を行うときと、電子線ホログラムHの作製及び記録を行うときとで、試料Mに照射する電子線の照射条件、例えば、電子線Eの絞りをコンデンサレンズ12により切り替える構成を用いることもできる。これによれば、透過電子顕微鏡像Tの作製及び記録を行うときには、試料Mに照射する電子線Eを絞ることにより、電子線Eを明るくすることができるので、内部構造を観察しやすくすることができる。
また、電子線ホログラムHの作製及び記録を行うときには、試料Mに照射する電子線Eを拡げることにより、干渉性を良くすることができるので、干渉縞がより鮮明に表れた電子線ホログラムHを得ることができる。
また、透過電子顕微鏡の試料室の雰囲気を変化させる雰囲気制御装置を設けることにより、雰囲気制御下における材料の構造及び電子状態の3次元情報の取得やその場観察を行うことができる。
11 電子銃(電子線照射手段)
12 コンデンサレンズ(電子線照射手段)
13 試料ホルダ
13a 回動装置(傾斜手段)
15 電子線バイプリズム
15a 物体波側電極(第1の電極)
15b 参照波側電極(第2の電極)
15c フィラメント
15d 物体波側電源
15e 参照波側電源
16 画像記録装置(画像記録手段)
17 制御装置(電子線バイプリズム制御手段)
E 電子線
E1 物体波
E2 参照波
H 電子線ホログラム
S1,S2 スイッチ
T 透過電子顕微鏡像
V1 第1の電圧
V2 第2の電圧
Claims (12)
- 試料に電子線を照射する電子線照射手段と、
電子線の通過領域を挟んで対向して設けられた第1の電極及び第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に配置され、電圧を印加可能なフィラメントとを有し、電子線を曲折することができる電子線バイプリズムとを備え、
前記第1の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過した電子線である物体波を曲折するとともに、前記第2の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過していない電子線である参照波を曲折し、前記物体波と前記参照波とを重ね合わせることにより干渉させて電子線ホログラムを作製することが可能な透過電子顕微鏡であって、
前記物体波が前記第1の電極と前記フィラメントとの間を通過するように前記試料を配置する試料ホルダと、
前記電子線バイプリズムを、前記第1の電極と前記第2の電極とを接地し、前記フィラメントに正の第1の電位を印加し、前記物体波と前記参照波とを干渉させる状態と、前記第1の電極を接地し、前記フィラメントに前記第1の電位を印加するとともに、前記第2の電極に前記フィラメントに印加した電位よりも高い正の第2の電位を印加し、前記参照波が前記物体波と重ならないようにする状態とに切り替える電子線バイプリズム制御手段と、
前記電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像を記録する画像記録手段と、
を備えたことを特徴とする透過電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダは、前記試料を電子線の照射方向に対して傾斜または回転させる回動手段を備えていることを特徴とする請求項1に記載の透過電子顕微鏡。
- 前記画像記録手段は、前記電子線バイプリズム制御手段による前記電子線バイプリズムの状態の切替に連動して、前記電子線ホログラムと前記透過電子顕微鏡像とを交互に記録することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の透過電子顕微鏡。
- 前記電子線バイプリズム制御手段により前記電子線バイプリズムの状態を切り替える間隔は、前記画像記録手段のフレームレートに等しいことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1つに記載の透過電子顕微鏡。
- 前記画像記録手段は、TVカメラであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1つに記載の透過電子顕微鏡。
- 試料に電子線を照射する電子線照射手段と、
電子線の通過領域を挟んで対向して設けられた第1の電極及び第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に配置され、電圧を印加可能なフィラメントとを有し、電子線を曲折することができる電子線バイプリズムとを備え、
前記第1の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過した電子線である物体波を曲折するとともに、前記第2の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過していない電子線である参照波を曲折し、前記物体波と前記参照波とを重ね合わせることにより干渉させて電子線ホログラムを作製することが可能な透過電子顕微鏡を用い、
前記物体波が前記第1の電極と前記フィラメントとの間を通過するように前記試料を配置し、
前記電子線バイプリズムを、前記第1の電極と前記第2の電極とを接地し、前記フィラメントに正の第1の電位を印加することにより、前記物体波と前記参照波とを干渉させて電子線ホログラムを作製及び記録し、
前記第1の電極を接地し、前記フィラメントに前記第1の電位を印加するとともに、前記第2の電極に前記フィラメントに印加した電位よりも高い正の第2の電位を印加し、前記参照波が前記物体波と重ならないようにして、透過電子顕微鏡像を作製及び記録することを特徴とする電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。 - 前記試料を電子線の照射方向に対して所望の角度だけ傾斜させ、各角度に応じた前記電子線ホログラム及び前記透過電子顕微鏡像を作製及び記録することを特徴とする請求項6に記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。
- 前記試料として柱状に形成された柱状試料を用い、前記柱状試料の軸が電子線の照射方向に対して略垂直になるように配置することを特徴とする請求項7に記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。
- 試料に電子線を照射する電子線照射手段と、
電子線の通過領域を挟んで対向して設けられた第1の電極及び第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に配置され、電圧を印加可能なフィラメントとを有し、電子線を曲折することができる電子線バイプリズムとを備え、
前記第1の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過した電子線である物体波を曲折するとともに、前記第2の電極と前記フィラメントとの間に電圧を印加して試料を透過していない電子線である参照波を曲折し、前記物体波と前記参照波とを重ね合わせることにより干渉させて電子線ホログラムを作製することが可能な透過電子顕微鏡を用い、
前記物体波が前記第1の電極と前記フィラメントとの間を通過するように前記試料を配置し、
前記電子線バイプリズムを、前記第1の電極と前記第2の電極とを接地し、前記フィラメントに正の第1の電位を印加することにより、前記物体波と前記参照波とを干渉させて電子線ホログラムを作製及び記録し、
前記第1の電極を接地し、前記フィラメントに前記第1の電位を印加するとともに、前記第2の電極に前記フィラメントに印加した電位よりも高い正の第2の電位を印加し、前記参照波が前記物体波と重ならないようにして、透過電子顕微鏡像を作製及び記録し、
前記試料として柱状に形成された柱状試料を用い、前記柱状試料の軸が電子線の照射方向に対して略垂直になるように配置し、
前記試料を電子線の照射方向に対して所望の角度だけ傾斜させ、各角度に応じた前記電子線ホログラム及び前記透過電子顕微鏡像を作製及び記録することを特徴とする電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。 - 前記透過電子顕微鏡は、前記電子線ホログラム及び前記透過電子顕微鏡像を記録する画像記録手段を備えており、前記画像記録手段のフレームレートに等しい時間間隔で前記電子線ホログラムと前記透過電子顕微鏡像とを交互に記録することを特徴とする請求項6ないし請求項9のいずれか1つに記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。
- 前記透過電子顕微鏡像の作製及び記録を行うときと、前記電子線ホログラムの作製及び記録を行うときとで、前記試料に照射する電子線の照射条件を切り替えることを特徴とする請求項6ないし請求項10のいずれか1つに記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。
- 前記透過電子顕微鏡像の作製及び記録を行うときには、前記試料に照射する電子線を絞り、前記電子線ホログラムの作製及び記録を行うときには、前記試料に照射する電子線を拡げることを特徴とする請求項11に記載の電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法。
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