JP4881931B2 - 座標検出装置、座標検出方法及び座標検出処理プログラム - Google Patents

Description

本発明は座標検出装置、座標検出方法及び座標検出処理プログラムに関し、特に座標入力面上に形成される光路の遮断状況に基づいて座標入力面に接触した遮光物の位置の座標を検出する座標検出装置、座標検出方法及び座標検出処理プログラムに関する。

従来から、銀行の自動預け払い機（Automated Teller Machine；以下、ＡＴＭとする）や駅の券売機など、さまざまな装置のユーザ操作部として、表示画面の上に座標入力面を設けたタッチパネル構成が広く採用されている。特に、不特定多数の人が使うＡＴＭなどでは、入力容易性、表示の見やすさ、強度面などから光学式タッチパネルを使用しているところが多い。

光学式タッチパネルは、仮想的な操作キーなどが表示される表示装置の表示画面上に外枠を設置し、外枠から照射される光（赤外線や超音波も含む）を反対側で受光し、受光状態を検出する。指などによって途中で光が遮断されると、光を受光する受光部で光が検出できない。このような受光部を表示画面の周囲の縦方向及び横方向に配列し、光が遮断された位置を検出する。この位置を遮断座標とする。縦方向と横方向の遮断座標が重なった領域をタッチ点の座標として求めることができる。

しかし、画面上で２点以上に同時に触れてしまうと、検出されるのは遮断座標の組み合わせ座標となってしまい、タッチ点の座標を検出することができなかった。このため、複数個所が同時にタッチされたことが検出されたときはエラーとして処理を中断し、音声または表示画面で利用者に注意を促していた。

そこで、タッチパネル上のタッチエリアが複数検出されたときに、検出された複数のタッチされたエリアの面積の小さい方、または位置的に最上方に位置するエリアに対応したタッチ位置情報を選択するタッチパネル入力装置がある（例えば、特許文献１参照）。

また、タッチパネル面に二重押しエリアを設け、エリア内に指示入力された座標を検出しておき、続いて入力されたエリア外の指示入力位置をエリア内の走査光路を無効にすることによって検出するタッチパネル入力装置もある（例えば、特許文献２参照）。
特開平７−３０６７５２号公報 特開２００４−３１８２５７号公報

しかし、従来の光学式タッチパネルでは、袖などの遮光物によってもエラーが発生するため、利用者にとって使いにくいという問題点があった。
ＡＴＭなど不特定多数の利用者を対象とする装置では、誰に対しても使いやすいように配慮されていることが重要である。上述のように、光学式タッチパネルには入力容易性などの長所があるが、複数個所が同時にタッチされたことが検出されたときはエラーとして処理が中断されてしまうという問題がある。ところが、利用者がタッチパネルを操作する際、２点以上が同時に触れてしまう事象が発生することはめずらしいことではない。例えば、利用者の指先以外の手部や袖等によって光が遮断されてしまうような場合にも複数点の入力状態となってしまう。このように、利用者としては通常の操作を行っているつもりでもエラーとなってしまうという問題がある。また、同じような動作を行えば、何度も同じエラーを引き起こしてしまうという場合も想定される。指以外の体の一部、例えば、手首等がタッチパネルに触れた場合にも同様である。

このような状況から、特に、袖などの通常想定されうる遮光物によって複数点の入力エラーとなってしまうケースを減らすことが求められている。
なお、上記のように検出されたエリアの面積の小さい方をタッチ点とする判別方法は、タッチ点を正しく判別できないケースも多く、問題が残る。また、予め二重押しエリアを設けておくことは、エリア外では判別できないため、一般的な光学式タッチパネルの利便性の改善には適さない。

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、エラーの発生頻度を低減し、利用者の利便性を高めることが可能な座標検出装置、座標検出方法及び座標検出処理プログラムを提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、遮断軸情報記憶手段、遮断軸検出手段、判別遮断軸特定手段及び有効座標特定手段を有し、座標入力面上に形成される光路の遮断状況に基づいて、座標入力面に接触した遮光物の位置の座標を検出する座標検出装置、が提供される。

遮断軸情報記憶手段には、座標入力面の辺の縦方向及び横方向に対向して配列される投光部と受光部との間に形成される光路を遮断する遮光物の座標入力面上の位置を表す縦方向及び横方向の遮断軸の情報と、遮断軸のうち有効と判定された有効軸の情報と、を含む所定の周期ごとの遮断軸情報が記憶される。遮断軸検出手段は、周期ごとに、受光部の受光状態を遮断情報として取得する。そして、遮断情報から光路が遮断された受光部の座標入力面に対する位置に基づいて縦方向の遮断軸及び横方向の遮断軸を検出する。判別遮断軸特定手段は、遮断軸情報記憶手段から前回周期で登録された前回遮断軸情報を抽出する。そして、前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、遮断軸検出手段が検出した今回周期の遮断軸とを比較して、同じ遮断軸かを特定するとともに、前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期で特定された遮断軸を比較して、変化のあった遮断軸を特定し、判別遮断軸とする。有効座標特定手段は、判別遮断軸の個数と、前回遮断軸情報に登録される前回有効軸と、に基づいて有効軸を決定するとともに、有効軸の領域内の有効座標を算出する。そして、有効軸の情報と有効座標の情報及び今回周期の遮断軸の情報を周期に応じた時間情報に関連付けて遮断軸情報を生成し、遮断軸情報記憶手段に格納する。

このような座標検出装置によれば、遮断軸情報記憶手段には、縦方向及び横方向の遮断軸の情報と、有効軸の情報とを含む遮断軸に関する情報が、算出された周期に応じた時間情報に関連付けられた遮断軸情報として記憶されている。遮断軸検出手段は、所定の周期で遮断情報を取得し、取得した遮断情報に基づいて縦方向及び横方向の遮断軸を特定する。これを今回周期の遮断軸とする。判別遮断軸特定手段は、遮断軸情報記憶手段から前回周期の前回遮断軸情報を抽出し、前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期の遮断軸を比較して、同じ遮断軸かを特定する。例えば、遮断軸の幅を比較する。さらに、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期の特定された遮断軸を比較して、変化のあった判別遮断軸を特定する。そして、有効座標特定手段は、判別遮断軸の個数と、前回有効軸と、に基づいて有効軸を特定し、有効座標を算出する。有効軸の情報と有効座標の情報及び今回周期の遮断軸の情報は、今回の遮断軸情報として周期に応じた時間情報に関連付けて生成され、遮断軸情報記憶手段に格納される。

また、上記課題を解決するために、コンピュータを上記座標検出装置と同様に機能させる座標検出方法及び座標検出処理プログラムが提供される。

開示の座標検出装置、座標検出方法及び座標検出処理プログラムによれば、遮断軸情報を時系列に記憶しておき、新たに検出された判別遮断軸を特定する。そして、前回の有効軸と判別遮断軸とに基づいて、有効軸とその有効座標を決定する。これにより、現在の遮断情報ばかりでなく、過去に特定された有効座標、もしくは無効座標に追従性を持たせ、有効座標を検出することができるようになる。この結果、エラーの発生頻度を低減し、利用者の利便性を向上させることができる。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。まず、発明の概要について説明し、その後、具体的な内容を説明する。
図１は、発明の概要を示す図である。

座標検出装置１０は、座標入力面２０に検出装置２１を介して接続する。
座標入力面２０の外枠には、座標入力面２０の上面（利用者が操作を行う面）に光を投光する投光部とその光を受光する受光部の対が、縦方向及び横方向に等間隔で配列されている。一対の投光部と受光部は、座標入力面２０を挟んで対向して配置される。一対の投光部と受光部とを結ぶ光路上に遮光物が何もないときは、投光部が投光した光を受光部で検出することができる。ところが、光路上に人の指などを含む遮光物があるときは、投光部が投光した光は遮断され、受光部で検出することができない。検出装置２１は、所定の周期で受光部の受光状態をスキャンし、受光状態を表した遮断情報を生成する。投光部と受光部の対は等間隔で縦方向及び横方向に配列されているので、遮断情報に基づいて座標入力面２０上の遮光物の位置を特定することができる。すなわち、座標入力面２０の辺に配列される何番目の受光部で遮断が検出されたかに基づいて、遮光物の位置を座標として表すことができる。

座標検出装置１０は、遮断軸情報が格納される遮断軸情報記憶手段１１、遮断情報を取得して遮断軸を検出する遮断軸検出手段１２、判別遮断軸を特定する判別遮断軸特定手段１３及び有効座標を特定する有効座標特定手段１４を有する。なお、各処理手段は、コンピュータが、座標検出処理プログラムを実行することにより、その処理機能を実現する。

遮断軸情報記憶手段１１には、検出された縦方向及び横方向の遮断軸と、特定された有効軸及びその有効座標と、を含む遮断軸に関する情報が、これらの情報が算出された周期に応じた時間情報に関連付けられ、遮断軸情報として格納されている。ここで、遮断軸は、光路の遮断を検出した受光部の位置に対応する座標入力面２０の座標領域を指し、遮断軸検出手段１２によって特定される。詳細は後述するが、遮断軸は、縦方向と、横方向それぞれに特定される。有効軸は、遮断軸のうち、指示が入力されたタッチ点の座標が含まれると可能性が最も高いとして有効と判定された遮断軸である。有効座標は、その有効軸の領域内の所定の有効地点の位置を示す座標であり、例えば、有効軸の中心座標である。有効軸及び有効座標は、有効座標特定手段１４によって特定される。

遮断軸検出手段１２は、所定の周期で、検出装置２１から座標入力面２０について検出された受光部の受光状態を表した遮断情報を取得する。そして、取得した遮断情報を解析し、遮断軸を特定する。取得した遮断情報に基づいて、光が遮断されたことを検出した受光部に対応する遮断軸を、縦方向及び横方向について検出する。

判別遮断軸特定手段１３は、遮断軸情報記憶手段１１から前回の周期に対応する遮断軸情報（以下、前回遮断軸情報とする）を抽出する。そして、前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸の幅と、遮断軸検出手段１２が検出した今回周期の遮断軸の幅とを比較して、同じ遮断軸かを特定するとともに、前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と（以下、前回遮断軸とする）、今回周期で特定された遮断軸（以下、今回遮断軸とする）と、を比較し、前回から今回までに変化のあった遮断軸を判別遮断軸として特定する。このとき、新たに増えた遮断軸のみを判別遮断軸として抽出するようにしてもよい。

有効座標特定手段１４は、判別遮断軸の個数と、前回遮断軸情報に登録される前回有効軸とに基づいて、有効軸を特定する。なお、有効軸の特定には、有効軸が検出されない場合も含まれる。まず、判別遮断軸が検出されないときは、座標入力面２０に新たに遮光物が接触していないという状態である。そこで、前回有効軸の座標が今回の遮断軸の座標の一部に含まれていれば、前回有効軸及び有効座標が継続されていると見なし、この遮断軸を有効軸とする。有効軸は、縦方向及び横方向にそれぞれ１つずつ設定される。そして、有効軸の領域の任意の点、例えば、縦方向及び横方向の遮断軸が重なる中心座標を算出し、有効座標とする。判別遮断軸が縦方向及び横方向にそれぞれ１つずつ検出されたときは、新たに、遮光物が接触されたという状態である。そこで、前回有効軸を無効にし、判別遮断軸を有効軸にする。有効座標は、新たに設定される有効軸の座標になる。判別遮断軸が縦方向または横方向のいずれか一方のみに検出されたときは、スキャンのタイミングで一方の方向でのみ遮断が検出された、あるいは、検出されない他方の遮断軸が前回の遮断軸と同じという状態である。そこで、前回設定された有効軸が今回の遮断軸にあれば、この有効軸及び有効座標を継続させる。判別遮断軸が縦方向または横方向のいずれかに複数検出されたときは、多点に同時に遮光物が接触されたという状態である。そこで、有効軸無とし、多点エラーを発生させる。特定された有効軸及び有効座標と、遮断軸検出手段１２によって検出された今回遮断軸と、を周期に応じた時間情報に関連付けた今回の遮断軸情報を生成し、遮断軸情報記憶手段１１に格納する。

このような構成の座標検出装置１０の動作及び座標検出方法について説明する。
遮断軸検出手段１２は、所定の周期で検出装置２１から遮断情報を取得する。そして、遮断情報に基づき、縦方向及び横方向の遮断軸を検出する。なお、同一方向に複数の遮断軸が検出される場合は、すべての遮断軸を検出する。続いて、判別遮断軸特定手段１３は、遮断軸情報記憶手段１１から、前回遮断軸情報を抽出する。そして、前回遮断軸情報に登録される前回遮断軸と、遮断軸検出手段１２が検出した遮断軸を基に判別遮断軸特定手段１３より特定された今回遮断軸とを比較し、変化のあった遮断軸を判別遮断軸として特定する。なお、検出するのは、今回新たに検出された遮断軸のみとしてもよい。有効座標特定手段１４は、こうして特定された判別遮断軸として特定された数と、前回遮断軸情報に登録される前回有効軸とに基づいて、有効軸があるかどうか、及び有効軸がある場合にはどれが有効軸になるのかを決定する。判別遮断軸が検出されないときは、状態変化無と判定し、前回設定された有効軸及び有効座標を継続させる。前回の有効軸及び有効座標がないときは、「有効座標無」を継続する。判別遮断軸が縦方向及び横方向にそれぞれ１つずつ検出されたときは、前回有効軸を無効にし、この判別遮断軸を有効軸にする。有効座標は、新たに設定される有効軸の領域に含まれる座標になる。判別遮断軸が縦方向または横方向のいずれか一方のみに検出されたときは、前回設定された有効軸が今回の遮断軸にあれば、この有効軸及び有効座標を継続させる。判別遮断軸が縦方向または横方向のいずれかに複数検出されたときは、多点に同時に遮光物が接触されたという状態である。そこで、有効軸無とし、多点エラーを発生させる。そして、有効軸、有効座標及び今回遮断軸を周期に応じた時間情報に関連付け、遮断軸情報を生成し、遮断軸情報記憶手段１１に格納する。

このように、単に検出された遮断軸に基づいて有効座標を決めるのではなく、過去の有効座標も参照し、利用者が行う一連の操作に応じて変化が検出された判別遮断軸を特定し、現時の有効座標を決定することができる。これにより、過去に特定された有効座標、もしくは無効座標に追従性を持たせ、有効座標を検出することができるようになる。この結果、従来判別できなかった有効座標も検出できるようになり、エラーの発生頻度を下げ、利用者の利便性を向上させることができる。

以下、実施の形態を、光学式タッチパネルを搭載したタッチパネル搭載情報装置に適用した場合を例に図面を参照して詳細に説明する。
図２は、タッチパネルシステムを構成する座標検出装置の構成を示した図である。

座標検出装置１００は、タッチパネル２００とタッチパネルコントローラ２０１を介して接続するとともに、液晶ディスプレイ（Liquid Crystal Display；以下、ＬＣＤとする）３００と図示しないＬＣＤコントローラを介して接続する。ＬＣＤ３００は、操作キーや、案内などが表示される表示画面である。タッチパネル２００は、ＬＣＤ３００に対応する座標入力面を形成する。タッチパネルコントローラ２０１は、タッチパネル２００の上面に利用者が触れた位置を検出するため、タッチパネル周辺に配列される受光部の受光状態をスキャンし、遮断情報を生成する。

座標検出装置１００内部は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１０１によって全体が制御されている。ＣＰＵ１０１には、内部バス１０６を介してＲＡＭ（Random Access Memory）１０２、ＲＯＭ（Read Only Memory）１０３、通信インタフェース１０４及びグラフィック処理部１０５が接続されている。

ＲＡＭ１０２には、ＣＰＵ１０１による処理に必要な各種データが格納される。ＲＯＭ１０３には、座標検出装置１００の処理機能を実行するためのプログラムが格納される。通信インタフェース１０４は、Ｉ／Ｏ基板１０７を介して接続するタッチパネルコントローラ２０１との間で遮断情報などのデータの送受信を行う。グラフィック処理部１０５には、Ｉ／Ｏ基板１０８を介してＬＣＤ３００が接続されており、ＣＰＵ１０１からの命令に従って画面データをＬＣＤ３００の表示処理を行うＬＣＤコントローラに送る。

このようなハードウェア構成によって、座標検出装置１００の処理機能を実現することができる。
タッチパネル２００の上面に触れた遮光物の位置検出方法について説明する。

図３は、タッチパネルの概略構成を示した図である。
タッチパネル２００は、表示画面に対応する座標入力面（以下、タッチパネル面とする）２１０の辺に沿って、タッチパネル面２１０に光を投光する投光部２２１０，２２２０と、投光された光を検出する受光部２３１０，２３２０と、が等間隔に配列されている。ここで、タッチパネル面２１０の水平方向をＸ軸方向、垂直方向をＹ軸方向とすると、Ｘ軸方向の上辺には投光部２２１０、Ｙ軸方向の左辺には投光部２２２０が等間隔で複数配置されている。これに対向するＸ軸方向の下辺には受光部２３１０、Ｙ軸方向の右辺には受光部２３２０が等間隔で複数配置されている。投光部２２１０，２２２０から投光された光は、対辺に対向して配列されている受光部２３１０，２３２０で受光される。例えば、Ｘ軸方向の左端の投光部２２１１によって投光された光Ｂ２２１０は、対辺の左端の受光部２３１１により受光される。同様に、Ｙ軸方向の最上部の投光部２２２１によって投光された光Ｂ２２２０は、対辺の最上部の受光部２３２１によって受光される。

ここで、Ｘ軸方向に並ぶ受光部２３１０の位置を左端から順にＸ０，Ｘ１，Ｘ２，・・・，Ｘｎとする。同様に、Ｙ軸方向に並ぶ受光部２３２０の位置を最上部から順にＹ０，Ｙ１，Ｙ２，・・・，Ｙｍとする。

タッチパネルコントローラ２０１からは、Ｘ軸方向の受光状態と、Ｙ軸方向の受光状態が遮断情報として生成される。例えば、Ｔ１に遮光物があると、Ｘ２に位置する受光部と、Ｙ１に位置する受光部とで光が検出されなくなる。Ｘ軸方向に関し「Ｘ０−Ｘ１が受光、Ｘ２が未受光（遮断）、Ｘ３−Ｘｎが受光」、Ｙ軸方向に関し「Ｙ０が受光、Ｙ１が未受光、Ｙ２−Ｙｍが受光」という遮断情報が生成される。なお、実際には、受光部２３１０，２３２０が一斉にスキャンされることはない。例えば、Ｘ軸方向の受光部２３１０を順次スキャンし、終了後にＹ軸方向の受光部２３２０を順次スキャンするという処理が行われる。このため、スキャン途中で操作が行われたときは、Ｘ軸側では検出されていないがＹ軸側では検出されるというケースが発生する。逆のケースもある。このように、一方向のみでスキャンされた状態を片側タッチと呼ぶ。

次に、座標検出装置１００の座標検出機能について説明する。図４は、座標検出装置の処理機能を示したブロック図である。図２と同じものには同じ番号を付す。
座標検出装置１００は、遮断軸情報データベース（以下、ＤＢとする）１１０、遮断軸検出部１２０、判別遮断軸特定部１３０及び有効座標特定部１４０を有する。なお、座標検出装置１００の各処理部は、コンピュータが座標検出処理プログラムを実行することにより、その処理機能が実現する。

遮断軸情報ＤＢ１１０には、遮断情報を取得し座標を検出する処理を行う周期ごとに生成される遮断軸情報が、周期に応じた時間情報に関連付けて格納される。遮断軸情報には、その周期の処理において遮断情報より検出されたＸ軸方向及びＹ軸方向の遮断軸、決定された有効軸及び有効座標などが登録される。詳細は後述する。

遮断軸検出部１２０は、所定の周期で、タッチパネルコントローラ２０１が管理する遮断情報を取得する。そして、取得した遮断情報に基づいてＸ軸方向及びＹ軸方向の遮断軸を検出する。遮断軸は、遮断を検出した受光部の位置に応じた座標で表される。なお、所定の周期は、タッチパネルコントローラ２０１が受光部のスキャンを行う周期と同様の周期であり、スキャン終了とほぼ同時に座標検出処理が行われるとする。そこで、以下の説明では、座標検出処理の開始時をスキャン時とする。

判別遮断軸特定部１３０は、遮断軸属性特定部１３１と、判別遮断軸検出部１３２とを有する。遮断軸属性特定部１３１は、前回スキャン時に検出された遮断軸と、今回スキャン時に検出された遮断軸とが同じ遮光物のものであるかどうかを特定する。これを同属性と呼び、今回スキャン時の遮断軸の座標範囲（以下、遮断軸幅とする）が、前回スキャン時の遮断軸幅と重なる部分があれば、同属性の遮断軸と判断し、同じ遮断軸名を設定する。なお、予めマージンを設定しておき、今回スキャン時の遮断軸幅と、前回スキャン時の遮断軸幅との距離が所定のマージン内であれば、同属性としてもよい。判別遮断軸検出部１３２は、遮断軸検出部１２０が検出した遮断軸を基に遮断軸属性特定部１３１より特定された今回遮断軸と、遮断軸情報ＤＢ１１０から読み出した前回遮断軸とを比較し、変化のあった遮断軸を判別遮断軸とする。ここでは、今回新たに検出された遮断軸のみを検出し、判別遮断軸とする。

有効座標特定部１４０は、同時押し処理部１４１、片側タッチ処理部１４２、順押し処理部１４３及び状態継続処理部１４４を有し、利用者が指示入力のため、タッチしたタッチ点と見なすことができる有効座標を特定する。ここでは、判別遮断軸の個数に応じて、同時押し処理部１４１、片側タッチ処理部１４２、順押し処理部１４３、または状態継続処理部１４４のいずれかが有効座標を決定する処理を行う。同時押し処理部１４１は、判別遮断軸が複数検出されたとき、すなわち、スキャン時に複数点の入力が確認された同時押しの場合の有効座標決定処理を行う。片側タッチ処理部１４２は、判別遮断軸がＸ軸方向またはＹ軸方向のいずれか一方に１のみ検出されたとき、片側座標でのみタッチが検出された場合の有効座標決定処理を行う。順押し処理部１４３は、判別遮断軸がＸ軸方向及びＹ軸方向にそれぞれ１ずつ検出されたとき、すなわち、順に正しく操作されており今回のタッチ点が検出できる場合の有効座標決定処理を行う。状態継続処理部１４４は、判別遮断軸が検出されないとき、すなわち、入力状態に変化のない場合の有効座標検定処理を行う。なお、ここでは、判別遮断軸は新たに検出された遮断軸としているので、前回検出されたタッチ点から指などが離れたときも、「判別遮断軸無」になる。そこで、状態継続処理部１４４では、タッチ点がなくなったときの処理も行う。それぞれの処理の詳細は後述する。

以上のような構成の座標検出装置１００により、タッチパネル面２１０に遮光物がタッチされたとき、そのタッチ点の座標を検出する処理が行われる。
次に、遮断軸情報ＤＢ１１０に格納される遮断軸情報について説明する。図５は、遮断軸情報テーブルの一例を示した図である。

遮断軸情報テーブル１１００は、各スキャン周期の遮断軸情報を有するテーブルであり、時系列１１０１、検出遮断軸１１０２、有効軸１１０３及び有効座標１１０４の各項目が設定される。

時系列１１０１には、スキャン周期に応じた時間情報であり、スキャン順に割り振られた番号が登録される。ｎを最新のスキャン時とすると、前回スキャン時はｎ−１、その前はｎ−２と表すことができる。

検出遮断軸１１０２には、時系列１１０１によって表されるスキャン時に遮断軸検出部１２０によって検出された遮断軸幅と、遮断軸幅に基づいて遮断軸属性特定部１３１によって特定された遮断軸には、ＸはＸ軸方向の遮断軸の属性が付与される。なおＸの遮断軸の属性には、遮断軸の幅を示すＸ軸方向の遮断軸幅における最小の座標値、（Ｘ）ｍｉｎ、Ｘ軸方向の遮断軸幅における最大の座標値、（Ｘ）ｍａｘが含まれている。Ｙ軸方向も同様に、Ｙの遮断軸の属性が付与される。なおＹの遮断軸の属性には、Ｙ軸方向の遮断軸幅における最小の座標値（Ｙ）ｍｉｎ、Ｙ軸方向の遮断軸幅における最大の座標値（Ｙ）ｍａｘが含まれる。例えば、図５の例においてスキャン（ｎ−２）では、Ｘ軸方向のＸａ遮断軸とＹ軸方向のＹａ遮断軸という遮断軸がある。

この場合Ｘａには、［（Ｘａ）ｍｉｎ，（Ｘａ）ｍａｘ］と、Ｙａには［（Ｙａ）ｍｉｎ，（Ｙａ）ｍａｘ］が含まれているものとする（以下、検出遮断軸については、遮断軸幅の最小値および最大値が含まれているものとする）。

有効軸１１０３には、時系列１１０１によって表されるスキャン時に有効座標特定部１４０が決定した有効軸が登録される。なお、ｎｕｌｌは、有効軸が存在しないことを示し、前回の有効座標がタッチアップする。

有効座標１１０４には、タッチ点を表す有効座標として、有効軸１１０３の中心の座標が登録される。例えば、Ｘａの遮断軸幅が最小の座標値（Ｘａ）ｍｉｎと、最大の座標値（Ｘａ）ｍａｘとし、Ｙａの遮断軸幅が最小の座標値（Ｙａ）ｍｉｎと、最大の座標値（Ｙａ）ｍａｘとすると、有効座標（ｘ，ｙ）は、
ｘ＝ ｛（Ｘａ）ｍｉｎ＋（Ｘａ）ｍａｘ｝／２
ｙ＝ ｛（Ｙａ）ｍｉｎ＋（Ｙａ）ｍａｘ｝／２ ・・・（１）
によって算出することができる。なお、ｎｕｌｌは、有効座標が存在しないことを表す。

さらに、必要に応じて、タッチ点の状態を遮断軸情報テーブル１１００に保存しておくとしてもよい。
以下、座標検出装置１００の動作及び座標検出方法について、詳細に説明する。

遮断軸検出部１２０は、スキャン周期で遮断情報を取得し、遮断軸幅を検出する。遮断軸の遮断軸幅は、連続して遮断を検出した受光部の個数に応じ、Ｘ軸方向は、最小座標（遮断部分で最も左側に近い受光部）と、最大座標（遮断部分で最も右側に近い受光部）によって決まる。また、Ｙ軸方向は、最小座標（遮断部分で最上位の受光部）と、最大座標（遮断部分で最下位の受光部）と、によって決まる。検出された遮断軸幅は、判別遮断軸特定部１３０に送られる。

判別遮断軸特定部１３０では、遮断軸属性特定部１３１が、今回スキャン周期のスキャン（ｎ）の遮断軸が、前回スキャン周期のスキャン（ｎ−１）における遮断軸と同属性であるかどうかを判定する。スキャン（ｎ）の遮断軸幅＋マージンαと、スキャン（ｎ−１）の遮断軸幅＋マージンαとを比較し、一致する座標が含まれているかどうかを判定する。

例えば、マージンαを０とし、スキャン（ｎ−１）の遮断軸が｛Ｘａ（３−８），Ｙａ（２−４）｝であり、スキャン（ｎ）の遮断軸が｛Ｘ（４−９），Ｘ（１１−２２），Ｙ（１−２），Ｙ（７−１０）｝であるとする。この場合、Ｘ（４−９）は、スキャン（ｎ−１）のＸａ（３−８）と重なるので、この遮断軸は同属、すなわちＸａであると判定する。同様に、Ｙ（１−２）は、Ｙａと判定される。結果、新たに検出された遮断軸をＸｂ，Ｙｂとし、スキャン（ｎ）での遮断軸は、｛Ｘａ（４−９），Ｘｂ（１１−２２），Ｙａ（１−２），Ｙｂ（７−１０）｝となる。

また、マージンαを１とし、スキャン（ｎ−１）の遮断軸が｛Ｘａ（３−８），Ｙａ（２−４）｝、スキャン（ｎ）の遮断軸が｛Ｘ（１０−１１），Ｙ（１−２）｝であるとする。この場合、Ｘ軸方向について、スキャン（ｎ−１）の遮断軸Ｘａは、最小座標Ｘ３（−１）、最大座標Ｘ８（＋１）とし、Ｘａ（２−９）と見なすことができる。同様に、スキャン（ｎ）のＸ軸方向は、Ｘ（９−１２）と見なすことができる。したがって、遮断軸幅が重なるため、Ｘ（１０−１１）は、Ｘａであると判定される。Ｙ軸方向の処理は省略する。結果、スキャン（ｎ）の遮断軸は、｛Ｘａ（１０−１１），Ｙａ（２−４）｝となる。

こうして遮断軸の属性が特定された後、判別遮断軸検出部１３２が、判別遮断軸を検出する。判別遮断軸は、スキャン（ｎ）の遮断軸−スキャン（ｎ−１）の遮断軸で算出する。ただし、計算結果にスキャン（ｎ−１）の座標が含まれている場合、これを除く。この結果、新たに検出された遮断軸が判別遮断軸として検出される。

例えば、スキャン（ｎ−１）の遮断軸が｛Ｘａ，Ｙａ｝、スキャン（ｎ）の遮断軸が｛Ｘａ，Ｘｂ，Ｙａ，Ｙｂ｝であれば、判別遮断軸は、｛Ｘｂ，Ｙｂ｝になる。また、スキャン（ｎ−１）の遮断軸が｛Ｘａ，Ｙａ｝、スキャン（ｎ）の遮断軸が｛Ｘｂ，Ｙｂ｝であれば、判別遮断軸は、｛Ｘｂ，Ｙｂ｝になる。検出されなくなった｛Ｘａ，Ｙａ｝は、判別遮断軸には含めない。こうして検出された判別遮断軸は、有効座標特定部１４０に送られる。

有効座標特定部１４０は、判別遮断軸を解析し、有効座標を特定する。スキャン（ｎ−１）からスキャン（ｎ）の間で変化する遮断軸のパターンには、同時押し、順押し、片側タッチ、離れたとき、状態継続の５パターンがある。それぞれのパターン、遮断軸の変化及び処理の概略について説明する。

図６は、同時押し、順押し及び片側タッチの例を示した図である。（１）は、同時押しの例、（２）は順押しの例、（３）は片側タッチの例を示している。図では、スキャン（ｎ−１）のときのタッチパネル面をタッチパネル面（ｎ−１）、スキャン（ｎ）のときのタッチパネル面をタッチパネル面（ｎ）とし、遮光物に順にａ，ｂ，ｃ，・・・を割り当てる。

（１）同時押しの例を説明する。まず、スキャン（ｎ−１）では、タッチパネル面（ｎ−１）２１１に遮光物２１０ａがタッチされ、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）が検出される。その後、スキャン（ｎ）の時点では、タッチパネル面（ｎ）２１２のように、遮光物２１０ｂ，２１０ｃによって２点が同時に押されたため、遮断軸（Ｘｂ，Ｘｃ，Ｙｂ，Ｙｃ）が新たに検出されている。このように同時押しとは、スキャン時に複数点が新たにタッチされることが検出されたことをいう。同時押しが発生したときは、Ｘ軸方向またはＹ軸方向のいずれか一方、もしくは双方に判別遮断軸が複数検出される。同時押しが検出されたときは、有効軸の特定が困難であるので、有効軸無とし、多点エラーを発生させる。

（２）順押しの例を説明する。まず、スキャン（ｎ−１）では、タッチパネル面（ｎ−１）２２１に、遮光物２２０ａ，２２０ｂによって遮断軸（Ｘａ，Ｘｂ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出される。次のスキャン周期のタッチパネル面（ｎ）２２２では、さらに、遮光物２３０ｃによって１点が押され、遮断軸（Ｘｃ，Ｙｃ）が新たに検出されている。このように、順押しとは、スキャン時に１点が新たにタッチされることをいう。順押しが発生したときは、判別遮断軸がＸ軸方向と、Ｙ軸方向に１ずつ検出される。こうして検出された判別遮断軸を有効軸として、有効座標を検出することができる。なお、図の例は、スキャン時の遮断座標のみによって有効座標を検出する従来の方法では、同時押しと処理されていた。

（３）片側タッチの例を説明する。まず、スキャン（ｎ−１）では、タッチパネル面（ｎ−１）２３１に、遮光物２３０ａ，２３０ｂによって遮断軸（Ｘａ，Ｘｂ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出される。タッチパネルコントローラ２０１のスキャン処理の途中、例えば、Ｘ軸方向のスキャンが終了し、Ｙ軸方向のスキャンが開始された後、遮光物２３０ｃによって一点が押されたとする。次のスキャン周期のタッチパネル面（ｎ）２３２では、遮光物２３０ｃによる遮断軸（Ｙｃ）が新たに検出されている。タッチパネルコントローラ２０１の処理上、Ｘ軸方向のスキャンが終了してからＹ軸方向のスキャンを行うため、このようなケースが生じる。このように、片側タッチとは、Ｘ軸またはＹ軸のいずれか一方で遮断軸が検出された場合をいう。このように片側タッチが発生した場合は、スキャン（ｎ）の有効軸は、スキャン（ｎ−１）の有効軸で処理される。また、片側タッチであれば、次のスキャンタイミングでもう一方の座標も検出できるため、片側タッチが発生したことを記憶しておき、次のスキャンを待つ。次のスキャンタイミングでは、もう片側の遮断軸が検出されるので、スキャン（ｎ−１）で検出された遮断軸と組み合わせ、有効軸を特定する。しかし、スキャン（ｎ−１）で検出された遮断軸と同一方向の遮断軸上にタッチされたときに、片側タッチと同じ状態になる。スキャンタイミングによる片側タッチと異なり、次以降のスキャンにおいても片側タッチが解消されないことになる。そこで、片側タッチの状態が解消されないときは、同軸上にタッチされたと判定する。同軸上のタッチについては、後述する。

図７は、離れたとき及び状態継続の例を示した図である。（４）は離れたときの例、（５）は状態継続の例を示している。
(４)離れたときの例を説明する。スキャン（ｎ−１）のタッチパネル面（ｎ−１）２４１では、遮光物２４０ａ，２４０ｂによって遮断軸（Ｘａ，Ｘｂ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出された。その後、スキャン（ｎ）の時点では、遮光物２４０ｂが離れ、タッチパネル面（ｎ）２４２では、遮断軸は（Ｘａ，Ｙａ）となっている。このように、離れたときとは、スキャン（ｎ−１）で検出された遮断軸が検出されなかったことをいう。消えた遮断軸については、判別遮断軸とされないため、判別遮断軸無となる。

この時スキャン（ｎ−１）の有効軸が（Ｘａ，Ｙａ）である場合は、タッチパネル面（ｎ）２４２で残っている遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）を有効遮断軸とする。
スキャン（ｎ−１）の有効軸が（Ｘｂ，Ｙｂ）である場合は、タッチパネル面（ｎ）２４２で残っている遮断軸が（Ｘａ，Ｙａ）であるため、スキャン（ｎ−１）の有効軸（Ｘｂ，Ｙｂ）は消失しているため、有効軸がｎｕｌｌとなる。

なお、２つ以上の遮断軸が残っていた場合は、タッチパネル面（ｎ−１）２４１で有効軸とされた遮断軸を有効軸にする。また、片側タッチ同様な現象が発生した場合は、片側タッチの処理と同等の処理を行う。

（５）状態継続の例を説明する。スキャン（ｎ−１）のタッチパネル面（ｎ−１）２５１では、遮光物２５０ａによって遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）が検出された。その後、スキャン（ｎ）の時点でも、タッチパネル面（ｎ）２５２の遮光物２５０ａの位置に変化はなく、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）が検出される。このように、状態継続とは、遮断軸の状態が変化ないことをいう。判別遮断軸も検出されない。そこで、前回スキャン時に決定した有効軸を継続させる。

このように、判別遮断軸から予測される状態に応じて、有効軸を決定し、有効座標を算出する。ここで、同軸上のタッチについて説明する。図８は、同軸上のタッチを説明する図である。（６）は同軸（Ｘ軸上）の例、（７）は同軸（遮光物大）の例である。

（６）同軸（Ｘ軸上）の例を説明する。スキャン（ｎ−２）のタッチパネル面（ｎ−２）２６１では、遮光物２６０ａによって、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）が検出された。次のスキャン（ｎ−１）の時点では、同じＸ軸上に遮光物２６０ｂがタッチされ、タッチパネル面（ｎ−１）２６２における遮断軸は（Ｘａ，Ｙａ，Ｙｂ）となる。このときは、片側タッチと同じであるが、同軸上のタッチの場合、次のスキャン時にも遮断軸は変化しない。すなわち、次のスキャン（ｎ）におけるタッチパネル面（ｎ）２６３でも、遮光物２６０ａ，２６０ｂによる遮断軸（Ｘａ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出される。このように、片側タッチが検出された次のスキャン周期でも遮断軸に変化のない場合は、同軸上のスキャンと判定し、有効軸を（Ｘａ，Ｙｂ）とする。Ｙ軸上で同軸上のタッチがされた場合についても同様であるので、説明は省略する。

しかし、スキャン（ｎ−２）の時点で検出された遮断軸幅が大きい場合、その幅を後から検出されるタッチ点の遮断軸とすると、誤差が大きくなる可能性がある。そのような場合の処理を説明する。

（７）同軸（遮光物大）の例を説明する。スキャン（ｎ−２）のタッチパネル面（ｎ−２）２７１で、遮断軸幅の広い遮光物２７０ａによって、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ）が検出される。次のスキャン（ｎ−１）のタッチパネル面（ｎ−１）２７２では、遮光物２７０ｂがタッチされるが、Ｘ軸方向の遮断軸が同軸であるため、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出される。これは、片側タッチと判定される。次のスキャン（ｎ）でも、状態に変化はなく、遮断軸（Ｘａ，Ｙａ，Ｙｂ）が検出されるため、同軸と判定する。このとき、遮光物２７０ａの遮断軸幅（タッチパネル面の点線部分）が大きいと、Ｘ軸方向の遮光物２７０ｂの遮断軸を、遮光物２７０ａの遮断軸幅で決定すると誤差が大きくなる。そこで遮光物２７０ａの遮断軸幅が一定値（これを検知可能範囲とする）を超えているときは、誤差が大きいとして多点エラーとする。検知可能範囲内であれば、上記の（６）と同じ処理が行われる。

このように、前の状態に追従して有効軸を判定することにより、従来エラーとしていたケースでも有効座標を特定することが可能となる。これにより、エラーの発生頻度を抑えることができる。

次に、パターンＡからパターンＪまで、いくつかの具体例を挙げて座標検出処理を説明する。本例では、１点検知、２点検知、３点検知までの例を記載しているが、３点を超える場合も本例では包含している。

以下、最初に各パターンにおけるタッチパネル上の遮光物の動きについて説明し、続いてスキャンごとの遮断軸の座標上の変化をＸ軸とＹ軸について説明する。そして、最後に、生成される遮断軸情報について説明する。なお、以下の説明では、遮光物の大きさには制限が有り、ある基準値を超えて遮光物が大きい場合には有効座標を算出しないこととする。

１．パターンＡ
パターンＡは、１点のみがタッチされるという例である。
図９は、パターンＡ（１点タッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。（Ａ−１）パターンＡは、タッチパネル面２１０上に利用者の指４０１のみがタッチされたという１点タッチのパターンでの動きを示している。パターンＡでは、タッチパネル面２１０に何もタッチされていない状態から、操作を指示するために利用者が所定の位置を指４０１でタッチするという動作が行われる。

図１０は、パターンＡの場合の座標の変化を示した図である。（Ａ−２）はパターンＡのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ａ−３）はパターンＡのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。どちらも横軸は座標値、縦軸はスキャン時を表している。図１０の斜線部分は、遮断軸幅を示しており、その右隣もしくは左隣に隣接する括弧内の数値は、最小座標値（ｍｉｎ）と最大座標値（ｍａｘ）を表している。なお、前のスキャン時と遮断軸幅が同じであれば、座標値の表記は省略している。遮断軸は、同属性の遮断軸に同一番号を振り、その幅を最小と最大の座標値で表す。Ｘ軸方向の遮断軸は、割り振られた番号をｎ、最小座標値（ｍｉｎ）及び最大座標値（ｍａｘ）を用いて、Ｘｎ（ｍｉｎ−ｍａｘ）と表す。同様に、Ｙ軸方向は、ｍを割り振られた番号とし、Ｙｍ（ｍｉｎ−ｍａｘ）で表す。また、矢印は遮断軸の中心の変化を示している。これらは、以下のすべてのパターンについても同様である。

（Ａ−２）パターンＡのＸ軸方向では、最も過去の時点のスキャン１では遮断軸は検出されていない。次のスキャン周期のスキャン２では、遮断軸Ｘ１（６−１０）が検出されている。次のスキャン周期のスキャン３では、遮断軸Ｘ１（７−１０）が検出される。これらの遮断軸は、前のスキャン時点の遮断軸幅と、今回のスキャン時点の遮断軸幅とで座標が重なっているので、同属性と判定されている。同様にして、スキャン４からスキャン８の間では、遮断軸Ｘ１（７−９）が検出されている。

（Ａ−３）パターンＡのＹ軸方向では、スキャン１では遮断軸は検出されていない。以降のスキャン２では遮断軸Ｙ１（１３−１５）、スキャン３からスキャン７では遮断軸Ｙ１（１４−１６）が検出されている。スキャン２からスキャン７までに検出された遮断軸が同属性であることは、Ｘ軸方向の場合と同様である。

図１１は、パターンＡの場合の遮断軸情報を示した図である。（Ａ−４）は、パターンＡでスキャンごとに生成される遮断軸情報を示している。図１１の例では、図５に示した遮断軸情報テーブル１１００の内容に加え、タッチパネル面２１０へのタッチ状態を示す情報も有している。タッチ状態には、タッチされていない「ｎｕｌｌ」、有効座標が示すタッチ点を有効にした「ＯＮ」、及びタッチ点を無効にした「ＯＦＦ」の状態がある。なお、タッチ状態に続く括弧内の記述は、現在のタッチパネル面の状態を示した説明であり、図には表記されない。

スキャン１では、遮断軸は検出されないため、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、図１０に示したようにＸ軸方向の遮断軸（６−１０）と、Ｙ軸方向の遮断軸（１３−１５）が検出される。次に、判別遮断軸特定部１３０は、前回のスキャン１では遮断軸は検出されていないので、検出されたＸ軸方向の遮断軸（６−１０）にＸ１、Ｙ軸方向の遮断軸（１３−１５）にＹ１を割り当て、Ｘ１（６−１０），Ｙ１（１３−１５）とする。また、これらを判別遮断軸とする。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向それぞれに１ずつ検出されたので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ１（６−１０），Ｙ１（１３−１５）を有効軸にする。そして、有効軸の中心座標を式（１）を用いて算出する。ここでは、Ｘ１の中心座標が８＝（６＋１０）／２、Ｙ１の中心座標が１４＝（１３＋１５）／２と算出される。算出された中心座標を組み合わせ、有効座標（８，１４）が特定される。こうして特定された遮断軸Ｘ１，Ｙ１は検出遮断軸１１０２ａ、有効軸Ｘ１，Ｙ１は有効軸１１０３ａ、有効座標（８，１４）は有効座標１１０４ａのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ａには、１点がタッチされオンになったことを示す「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（７−１０）と、Ｙ軸方向の遮断軸（１４−１６）が検出される。次に、判別遮断軸特定部１３０は、検出されたＸ軸方向の遮断軸（７−１０）と、前回特定された遮断軸Ｘ１（６−１０）の遮断軸幅を照合する。ここでは、遮断軸幅の座標が重なるので、遮断軸（７−１０）をＸ１と特定する。同様にして、Ｙ方向の遮断軸（１４−１６）もＹ１と特定される。次に、判別遮断軸特定部１３０は、判別遮断軸を検出する。遮断軸Ｘ１，Ｙ１は、前回のスキャン２で既検出であるので、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定する。また、前回の有効軸Ｘ１，Ｙ１は、スキャン３においても検出されているので、今回検出された遮断軸Ｘ１（７−１０），Ｙ１（１４−１６）を有効軸にする。そして、上記と同様にして有効軸の中心座標を算出し、算出された（８．５，１５）を有効座標とする。タッチ状態は、スキャン２の状態が継続される。

スキャン４からスキャン７までは、スキャン３と同様の処理が行われる。
スキャン８では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）のみが検出される。該当領域のＸ軸方向のスキャンが終了してからＹ軸方向のスキャンまでの間に、タッチが解消された場合である。判別遮断軸特定部１３０は、検出されたＸ軸方向の遮断軸（７−９）と、前回特定された遮断軸Ｘ１（７−９）の領域が重なるので、遮断軸（７−９）をＸ１と特定する。Ｙ軸方向の遮断軸はない。また、新たに検出された遮断軸はないので、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定する。状態継続の場合、今回スキャン（スキャン８）の遮断軸に前回の有効軸が含まれているかどうかを判定する。スキャン８では、前回の有効軸Ｙ１は検出されないので片側タッチと判定し、タッチ状態を「ＯＮ（片側）」とする。有効軸は、前回の遮断軸Ｙ１（１４−１６）を用いて、遮断軸Ｘ１（７−９），Ｙ１（１４−１６）とする。そして、有効軸の中心を有効座標（８，１５）とする。

スキャン９では、遮断軸検出部１２０は遮断軸を検出することができず、判別遮断軸特定部１３０は「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定する。スキャン９では、前回のタッチ状態は「ＯＮ（片側）」であり、前回の有効軸Ｘ１は検出されないのでタッチ点は「ＯＦＦ」されたと判定し、タッチ状態を「ＯＦＦ」とする。有効軸及び有効座標はタッチ状態を「ＯＦＦ」としたタッチ点の有効軸及び有効座標を設定する。すなわち、前回スキャン時の有効軸及び有効座標が設定される。

このような手順により、パターンＡに示したような１点タッチが発生した場合、タッチされた有効座標を特定することができる。
パターンＢからパターンＤまでは、２点が順に押される２点順押しの例である。

２．パターンＢ
図１２は、パターンＢ（２点順押しの第１例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＢは、タッチパネル面２１０に利用者の袖がタッチされてから、続いて利用者の指がタッチされるというパターンである。（Ｂ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に利用者の袖４０２がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｂ−１ｂ）では、袖４０２に加え、指４０１が順押しされている。

図１３は、パターンＢの場合の座標の変化を示した図である。（Ｂ−２）はパターンＢのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｂ−３）はパターンＢのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｂ−２）パターンＢのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｘ２（３３−３７）が検出される。遮断軸Ｘ２は、スキャン３でＸ２（３４−３７）、スキャン４からスキャン８でＸ２（３４−３６）として検出される。そして、スキャン９で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５で新たに検出される。スキャン５からスキャン７まで、遮断軸Ｘ１（７−９）として継続して検出された後、スキャン８で消える。

（Ｂ−３）パターンＢのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ２，Ｙ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｙ２（２４−２６）が検出される。遮断軸Ｙ２は、スキャン３からスキャン７までＹ２（２５−２７）として継続して検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン４でＹ１（７−９）として新たに検出される。さらに、遮断軸Ｙ１は、スキャン５及びスキャン６では、遮断軸Ｙ１（８−１０）として検出され、スキャン７で消える。

図１４は、パターンＢの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されないため、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３３−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２４−２６）が検出され、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）と特定される。また、前回のスキャン１では遮断軸は検出されていないので、検出された遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）が判別遮断軸となる。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向それぞれに１ずつ検出されたので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）を有効軸に設定する。そして、有効軸の中心座標をパターンＡと同様に算出する。こうして、有効座標（３５，２５）が特定される。こうして特定された遮断軸Ｘ２，Ｙ２は検出遮断軸１１０２ｂ、有効軸Ｘ２，Ｙ２は有効軸１１０３ｂ、有効座標（３５，２５）は有効座標１１０４ｂのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｂには、１点がタッチされオンになったことを示す「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３４−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２５−２７）が検出される。次に、判別遮断軸特定部１３０は、検出されたＸ軸方向の遮断軸（３４−３７）及びＹ軸方向の遮断軸（２５−２７）の属性を特定する。Ｘ軸方向の遮断軸（３４−３７）は、前回特定された遮断軸Ｘ２（３３−３７）の遮断軸と領域が重なるので、遮断軸Ｘ２と特定される。Ｙ軸方向の遮断軸（２５−２７）は、前回特定された遮断軸Ｙ２（２４−２６）の領域と重なるので、遮断軸Ｙ２と特定する。いずれの遮断軸も既検出であるので、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定する。前回の有効軸Ｘ２，Ｙ２は、スキャン３においても検出されているので、遮断軸Ｘ２（３４−３７），Ｙ２（２５−２７）を有効軸にする。そして、上記と同様にして有効軸の中心座標を算出し、算出された（３５．５，２６）を有効座標とする。タッチ状態は、スキャン２の状態を継続する。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＹ軸方向の遮断軸（７−９）にＹ１を割り当て、遮断軸Ｙ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、前回の遮断軸Ｘ２，Ｙ２も同様にして検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定し、有効軸は前回周期と同じにする。ここでは、遮断軸Ｘ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）が有効軸になる。そして、有効軸の中心座標（３５，２６）を算出し、有効座標とする。タッチ状態は、新たに有効座標が特定されたので「ＯＮ（１点＋Ｙ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＸ軸方向の遮断軸（７−９）にＸ１を割り当て、遮断軸Ｘ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、前回の遮断軸Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２も同様にして検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定する。タッチ状態には、「Ｙ軸片側タッチ」が設定されているので、前回の判別遮断軸Ｙ１として特定された遮断軸Ｙ１（８−１０）と、今回の判別遮断軸Ｘ１（７−９）とを有効軸とすることができる。しかし、この例では、今回特定された有効軸Ｘ１（７−９），Ｙ１（８−１０）は、前回の有効軸Ｘ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）とは異なるので、このスキャン周期では、前の有効軸Ｘ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）をオフさせるイベントを発生させ、有効軸は前回周期と同じとする。この場合、有効軸はＸ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）、有効座標は（３５，２６）となる。タッチ状態は、タッチ点は２点検出されているが、前の有効座標（３５，２６）をオフさせたので、「ＯＦＦ（２点）」としてタッチ状態１１０５ｂに登録する。「ＯＦＦ」は発生させたオフイベント、「２点」は現在のタッチ点の数を示す。

次のスキャン６では、スキャン５と同じ遮断軸が検出されるので、有効軸を遮断軸Ｘ１（７−９），Ｙ１（８−１０）とし、有効軸の中心座標（８，９）を有効座標とする。タッチ状態は、今回新たに設定された有効座標（８，９）のオンイベントを発生させ、「ＯＮ（２点）」とする。

スキャン７では、遮断軸Ｙ１が検出されなくなり、他の遮断軸Ｘ１（７−９），Ｘ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）は検出される。判別遮断軸特定部１３０は、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定する。前回の有効軸Ｙ１は、検出されないので片側タッチと判定し、タッチ状態を「ＯＮ（Ｘ軸片側タッチ＋１点）」とする。有効軸は、前回の有効軸を継続し、遮断軸Ｘ１（７−９），Ｙ１（８−１０）とする。そして、有効軸の中心（８，９）を有効座標とする。

スキャン８では、遮断軸検出部１２０は遮断軸を検出することができず、判別遮断軸特定部１３０は「判別遮断軸無」と特定する。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、有効軸を継続させる。スキャン８では、前回のタッチ状態は「ＯＮ（片側）」であり、前回の有効軸Ｘ１も検出されないのでタッチ点はＯＦＦされたと判定し、タッチ状態を「ＯＦＦ（１点）」とする。

次のスキャン９では、遮断軸検出部１２０は、遮断軸を検出することができないので、残りのタッチ点もオフし、タッチ状態に「ｎｕｌｌ」を登録する。
このような手順により、パターンＢによるタッチパネル面２１０に袖、指の順にタッチされ、指、袖の順にタッチパネル面２１０から離される場合の有効座標が特定される。従来の座標検出では、スキャン５及びスキャン６では、複数点の入力となりエラーが発生していた。しかし、過去に特定された有効座標に追従性を持たせたことにより、スキャン５及びスキャン６において有効座標を特定することが可能となった。

なお、上記の説明では、スキャンごとにイベントを１つずつ発生させるために、当該タッチ点のイベントがオフになるまで前の有効軸を継続するとした。しかし、新たな有効軸が検出された時点、または、有効軸が消えた時点で複数のイベントを発生させ、有効軸及び有効座標を変えるとしてもよい。

３．パターンＣ
図１５は、パターンＣ（２点順押しの第２例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＣは、利用者の袖がタッチされてから、利用者の指がタッチされ、その後、袖、指の順に離されるというパターンである。（Ｃ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に利用者の袖４０２がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｃ−１ｂ）では、袖４０２に加え、指４０１が順押しされている。そして、続くスキャン周期の（Ｃ−１ｃ）では、袖４０２が離され、指４０１が残っている。

図１６は、パターンＣの場合の座標の変化を示した図である。（Ｃ−２）はパターンＣのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｃ−３）はパターンＣのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｃ−２）パターンＣのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｘ２（３３−３７）が検出される。遮断軸Ｘ２は、スキャン３でＸ２（３４−３７）、スキャン４からスキャン７でＸ２（３４−３６）として継続して検出された後、スキャン８で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５でＸ１（７−９）として新たに検出される。スキャン６からスキャン９までＸ１（７−９）として継続して検出された後、スキャン１０で消える。

（Ｃ−３）パターンＣのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ２，Ｙ１が順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｙ２（２４−２６）が検出される。遮断軸Ｙ２は、スキャン３からスキャン７までＹ２（２５−２７）として継続して検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン４でＹ１（７−９）として新たに検出される。スキャン５からスキャン８では、Ｙ１（８−１０）として継続して検出され、スキャン９で消える。

図１７は、パターンＣの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３３−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２４−２６）が検出される。この遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）と特定され、判別遮断軸となる。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向それぞれに１ずつ検出されたので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）を有効軸にする。そして、パターンＡと同様の手法によって有効軸の中心座標を算出する。算出された中心座標（３５，２５）は、有効座標（３５，２５）とする。こうして特定された遮断軸Ｘ２，Ｙ２は検出遮断軸１１０２ｃ、有効軸Ｘ２，Ｙ２は有効軸１１０３ｃ、有効座標（３５，２５）は有効座標１１０４ｃのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｃには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３４−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２５−２７）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、これらを遮断軸Ｘ２（３４−３７），Ｙ２（２５−２７）と特定し、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、前回の有効軸と同様に、遮断軸Ｘ２（３４−３７），Ｙ２（２５−２７）を有効軸にする。そして、有効軸の中心座標（３５．５，２６）を有効座標とする。タッチ状態は、スキャン２の状態を継続する。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＹ軸方向の遮断軸（７−９）にＹ１を割り当て、遮断軸Ｙ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、前回の遮断軸Ｘ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定し、有効軸は前回周期と同じにする。ここでは、前回スキャン時の有効軸であった遮断軸Ｘ２，Ｙ２が有効軸に設定され有効座標（３５，２６）も継続される。タッチ状態は、１点ＯＮに加え、Ｙ軸方向の片側タッチが検出されたので、「ＯＮ（１点＋Ｙ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＸ軸方向の遮断軸（７−９）にＸ１を割り当て、遮断軸Ｘ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、前回の遮断軸Ｘ２（３４−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定する。前回のタッチ状態には、「Ｙ軸片側タッチ」が設定されているので、前回（スキャン４）の判別遮断軸と、今回（スキャン５）の判別遮断軸とを組み合わせ、遮断軸Ｙ１（８−１０）と、Ｘ１（７−９）とを有効軸と見なすことができるので、前の有効座標（３５，２６）をオフさせるイベントを発生させる。遮断軸情報の有効軸１１０３ｃ及び有効座標１１０４ｃに格納する値は前回周期と同じとする。この場合、有効軸はＸ２（３４−３６），Ｙ２（２５−２７）、有効座標は（３５，２６）となる。タッチ状態は、タッチ点が２点検出され、前のタッチ点はオフされるので、「ＯＦＦ（２点）」としてタッチ状態１１０５ｃに登録する。

スキャン６では、スキャン５と同じ遮断軸が検出されるので、有効軸を遮断軸Ｘ１（７−９），Ｙ１（８−１０）とし、有効軸の中心座標（８，９）を有効座標とする。タッチ状態は、今回新たに設定された有効座標のオンイベントを発生させ、「ＯＮ（２点）」とする。特定された遮断軸、有効軸、有効座標及びタッチ状態は、各項目のスキャン６に対応する欄に登録される。

スキャン７では、スキャン６の状態が継続される。
スキャン８では、遮断軸Ｘ２，Ｙ２が検出されなくなる。判別遮断軸特定部１３０は、前回スキャン時に有効軸であったＸ１（７−９），Ｙ１（８−１０）は検出するが、既検出であるので「判別遮断軸無」と判定する。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、前回スキャン時の有効軸と有効座標とを継続する。有効軸はそのままＸ１（７−９）とＹ１（８−１０）が設定される。有効座標も前回スキャン時の値が継続される。遮断軸Ｘ２，Ｙ２は、有効軸ではないので、タッチ状態のみが「ＯＮ（１点）」に変わる。

スキャン９では、遮断軸Ｙ１が検出されなくなり、遮断軸Ｘ１（７−９）のみが検出される状態となる。判別遮断軸特定部１３０は、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、有効軸を継続させる。ここで、前回の有効軸Ｙ１は検出されないので、タッチ状態は、「ＯＮ（Ｘ軸片側タッチ）」になる。

スキャン１０では、遮断軸が１つも検出されない状態となる。有効座標特定部１４０は、前回のタッチ状態は「ＯＮ（Ｘ軸片側タッチ）」であり、前回の有効軸Ｘ１も検出されないのでタッチ点はＯＦＦされたと判定し、タッチ状態を「ＯＦＦ」とする。

このような手順により、パターンＣによるタッチパネル面２１０に袖、指の順にタッチされ、袖、指の順にタッチパネル面２１０から離される場合の有効座標が特定される。
４．パターンＤ
図１８は、パターンＤ（２点順押しの第３例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＤは、利用者の袖がタッチされてから、利用者の指がタッチされるというパターンであるが、袖及び指の遮断軸の座標移動が大きい場合である。（Ｄ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に利用者の袖４０２がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｄ−１ｂ）では、袖４０２に加え、指４０１が順押しされている。

図１９は、パターンＤの場合の座標の変化を示した図である。（Ｄ−２）はパターンＤのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｄ−３）はパターンＤのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｄ−２）パターンＤのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。遮断軸Ｘ２は、スキャン２でＸ２（３３−３７）として検出される。さらに、スキャン３でＸ２（３１−３４）、スキャン４でＸ２（３１−３１）、スキャン５でＸ２（２９−３０）、スキャン６でＸ２（３１−３１）、スキャン７でＸ２（３１−３２）と、座標が大きく移動して検出された後、スキャン８で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５でＸ１（７−９）として新たに検出される。さらに、スキャン６でＸ１（８−１０）、スキャン７でＸ１（９−１１）、スキャン８でＸ１（１２−１４）、スキャン９でＸ１（１４−１４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン１０で消える。

（Ｄ−３）パターンＤのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ２，Ｙ１の順に検出される。遮断軸Ｙ２は、スキャン２でＹ２（２４−２６）として検出され、スキャン３からスキャン７では、Ｙ２（２５−２７）と継続して検出される。そして、スキャン８で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン４でＹ１（７−９）として新たに検出される。さらに、スキャン５からスキャン８では、Ｙ１（８−１０）として継続して検出され、スキャン９で消える。

図２０は、パターンＤの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３３−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２４−２６）が検出される。これらの遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）と特定され、判別遮断軸となる。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向それぞれに１ずつ検出されたので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ２（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）を有効軸にする。そして、有効軸の中心座標を有効座標として算出する。算出はパターンＡと同様にして、有効座標（３５，２５）が特定される。こうして特定された遮断軸Ｘ２，Ｙ２は検出遮断軸１１０２ｄ、有効軸Ｘ２，Ｙ２は有効軸１１０３ｄ、有効座標（３５，２５）は有効座標１１０４ｄのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｄには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３４）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２５−２７）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、これらを遮断軸Ｘ２（３１−３４）、遮断軸Ｙ２（２５−２７）と特定し、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、前回の有効軸と同様に、遮断軸Ｘ２（３１−３４），Ｙ２（２５−２７）を有効軸にする。そして、有効軸の中心座標（３２．５，２６）を有効座標とする。タッチ状態は、スキャン２の状態を継続する。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＹ軸方向の遮断軸（７−９）にＹ１を割り当て、遮断軸Ｙ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、既検出の遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定し、有効軸は前回周期と同じにする。ここでは、遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｙ２（２５−２７）が有効軸になる。そして、有効軸の中心座標（３１，２６）が有効座標となる。タッチ状態は、１点ＯＮに加え、Ｙ軸方向の片側タッチが検出されたので、「ＯＮ（１点＋Ｙ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＸ軸方向の遮断軸（７−９）にＸ１を割り当て、遮断軸Ｘ１（７−９）を判別遮断軸とする。また、既検出の遮断軸Ｘ２（２９−３０），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２５−２７）も検出・特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向の１つだけであるので、「片側タッチ」と判定する。前回のタッチ状態には、「Ｙ軸片側タッチ」が設定されているので、前回（スキャン４）の判別遮断軸と、今回（スキャン５）の判別遮断軸とを組み合わせ、遮断軸Ｙ１（８−１０）と、Ｘ１（７−９）とを有効軸とすることができる。このスキャンでは、前の有効座標（３１，２６）をオフさせるイベントを発生させる。また、有効軸は前回周期と同じとする。この場合、有効軸はＸ２（２９−３０），Ｙ２（２５−２７）、有効座標は（２９．５，２６）となる。タッチ状態は、タッチ点が２点検出され、前のタッチ点はオフされるので、「ＯＦＦ（２点）」としてタッチ状態１１０５ｄに登録する。

なお、スキャン５のＸ２（２９−３０）と、スキャン４のＸ２（３１−３１）とでは、重なる範囲がない。ここではマージンαを１とし、受光素子１個分まではこの遮光物が移動していると見なす。図の例では、軸４１２に接するＸ２（３１−３１）と、Ｘ２（２９−３０）とは同属性と判定する。

スキャン６では、スキャン５と同じ遮断軸が検出され、新たな遮断軸は検出されない。判別遮断軸特定部１３０は、「判別遮断軸無」を設定する。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がないので「状態継続」と判定し、前回スキャン時の判別遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（９，９）を有効座標とする。タッチ状態は、今回新たに設定された有効座標のオンイベントを発生させ、「ＯＮ（２点）」とする。

スキャン７では、新たな遮断軸は検出されないので、「判別遮断軸無」とされ、有効軸は継続される。ここでは、遮断軸Ｘ１（９−１１），Ｙ１（８−１０）が有効軸になる。また、有効軸の中心座標（１０，９）が有効座標になる。そして、タッチ状態は「ＯＮ（２点）」が継続される。

スキャン８では、遮断軸Ｘ２，Ｙ２が検出されなくなる。判別遮断軸特定部１３０は、遮断軸Ｘ１（１２−１４），Ｙ１（８−１０）は検出するが、既検出であるので、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、前回スキャン時の有効軸及び有効座標を継続させる。ここでは、有効軸として、前回スキャン時と同様に、遮断軸Ｘ１（１２−１４）とＹ１（８−１０）が設定される。有効座標も前回と同じに算出される。遮断軸Ｘ２，Ｙ２は、有効軸ではないので、タッチ状態のみが「ＯＮ（１点）」に変わる。なお、スキャン７のＸ１（９−１１）と、スキャン８のＸ１（１２−１４）とでは、重なる範囲がない。ここではマージンαを１とし、受光素子１個分まではこの遮光物が移動していると見なす。図の例では、軸４１１に接するＸ１（９−１１）と、Ｘ１（１２−１４）とは同属性と判定する。

スキャン９では、遮断軸Ｙ１が検出されなくなる。判別遮断軸特定部１３０は、遮断軸Ｘ１（１４−１４）のみを検出し、「判別遮断軸無」とする。有効座標特定部１４０は、「判別遮断軸無」であるので「状態継続」と判定し、有効軸を継続させる。ここで、前回の有効軸Ｙ１は検出されないので、タッチ状態は、「ＯＮ（Ｘ軸片側タッチ）」になる。

スキャン１０では、遮断軸が１つも検出されない状態となる。有効座標特定部１４０は、前回のタッチ状態は「ＯＮ（Ｘ軸片側タッチ）」であり、前回の有効軸Ｘ１も検出されないのでタッチ点はＯＦＦされたと判定し、タッチ状態を「ＯＦＦ」とする。

このような手順により、パターンＤによる、タッチパネル面２１０に利用者の袖がタッチされてから、利用者の指がタッチされるというパターンの有効座標が特定される。
５．パターンＥ
パターンＥは、新たなタッチ点が、既に検出されたタッチ点の同軸上にタッチされた例である。

図２１は、パターンＥ（同軸タッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＥは、利用者の袖がタッチされてから、利用者の指が袖と同軸上にタッチされるというパターンである。（Ｅ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に利用者の袖４０２がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｅ−１ｂ）では、袖４０２のＸ軸方向の同軸上に、指４０１が順押しされている。

図２２は、パターンＥの場合の座標の変化を示した図である。（Ｅ−２）はパターンＥのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｅ−３）はパターンＥのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｅ−２）パターンＥのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ１のみが検出される。遮断軸Ｘ１は、スキャン２でＸ１（３３−３７）、スキャン３でＸ１（３１−３４）、スキャン４でＸ１（３１−３４）、スキャン５でＸ１（２９−３０）、スキャン６でＸ１（３１−３１）、スキャン７でＸ１（３１−３２）と、座標が大きく移動した状態で検出される。続く、スキャン８とスキャン９では、Ｘ１（３１−３２）と継続して検出され、スキャン１０で消える。一方、後からタッチされた指４０１のＸ軸方向の遮断軸は検出されない。

（Ｅ−３）パターンＥのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ２，Ｙ１の順に検出される。遮断軸Ｙ２は、スキャン２でＹ２（２４−２６）として検出される。スキャン３からスキャン９では、Ｙ２（２５−２７）が継続して検出され、スキャン１０で消える。一方、遮断軸Ｙ１は、スキャン３でＹ１（７−８）、スキャン４でＹ１（８−９）と検出された後、スキャン５及びスキャン６と検出されない。スキャン７で再び遮断軸Ｙ１（８−９）が検出され、スキャン８と継続して検出された後、スキャン９で消える。

図２３は、パターンＥの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３３−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２４−２６）が検出され、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ１（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）と特定され、判別遮断軸となる。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向それぞれに１ずつ検出されたので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ１（３３−３７），Ｙ２（２４−２６）を有効軸にする。そして、有効軸の中心座標を算出する。算出はパターンＡと同様にして、有効座標（３５，２５）が特定される。こうして特定された遮断軸Ｘ１，Ｙ２は検出遮断軸１１０２ｅ、有効軸Ｘ１，Ｙ２は有効軸１１０３ｅ、有効座標（３５，２５）は有効座標１１０４ｅのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｅには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、新たに、Ｙ軸方向の遮断軸（７−８）が検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たなＹ軸方向の遮断軸（７−８）にＹ１を割り当て、遮断軸Ｙ１（７−８）を判別遮断軸とする。また、前回の遮断軸Ｘ１（３１−３４），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出・特定する。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向の１つだけであるので、有効軸は、前回と同様に遮断軸Ｘ１（３１−３４），Ｙ２（２５−２７）とする。そして、有効軸の中心座標（３２．５，２６）が有効座標となる。タッチ状態は、１点ＯＮに加え、Ｘ軸方向の同軸上のタッチが検出されたので、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」が設定される。しかし、この時点では、Ｘ軸同軸タッチではなく、Ｙ軸片側タッチである可能性もある。

スキャン４では、前回と同様に遮断軸Ｘ１（３１−３４），Ｙ１（８−９），Ｙ２（２５−２７）が検出・特定される。新たな遮断軸は検出されないため、判別遮断軸特定部１３０は、「判別遮断軸無」を設定する。有効座標特定部１４０では、今回スキャンにおいても片側タッチが解消されないので、Ｘ軸同軸タッチであると確定し、前回周期の有効座標をタッチアップさせる。有効軸は、前回スキャン時の有効軸及び有効座標を継続させる。ここでは、遮断軸Ｘ１（３１−３４），Ｙ２（２５−２７）を有効軸とし、有効座標（３２．５，２６）を得る。

スキャン５では、遮断軸Ｙ１が検出されない。このため、有効軸及び有効座標を特定することができない。有効軸、有効座標には「ｎｕｌｌ」が設定される。スキャン６も同様である。

スキャン７では、遮断軸検出部１２０によって、再度遮断軸Ｙ１（８−９）が検出され、判別遮断軸に設定される。遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出される。タッチ状態は、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」とする。まだ、Ｙ軸片側タッチの可能性も有り、Ｘ軸同軸タッチであるかどうかは判別できないので、有効軸及び有効座標は設定しない。

スキャン８では、遮断軸検出部１２０によって検出された遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０によって遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ１（８−９），Ｙ２（２５−２７）と特定される。また、判別遮断軸は検出されない。有効座標特定部１４０は、Ｙ軸片側タッチが継続されたので、Ｘ軸同軸タッチと判定する。そこで、前の周期の判別遮断軸Ｙ１（８−９）と、今回検出されたＸ１（３１−３２）を有効軸とし、有効軸の中心座標（３１．５，８．５）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」を設定する。

スキャン９では、遮断軸検出部１２０によって、遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ２（２５−２７）が検出され、Ｙ１は検出されない。そこで、前回スキャン周期の有効座標をタッチアップし、「ＯＦＦ」にする。また、タッチ状態は、Ｘ軸同軸タッチが解除され、「ＯＦＦ（１点）」となる。有効軸は、前回スキャン周期のＸ１（３１−３２），Ｙ１（８−９）、有効座標（３１．５，８．５）が継続される。

６．パターンＦ
図２４は、パターンＦ（同時押しタッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＦは、利用者の袖と指が同時にタッチ、かつ、袖と指とが同軸上にあるというパターンである。（Ｆ−１）では、タッチパネル面２１０上に利用者の袖４０２と、指４０１とがタッチされている。

図２５は、パターンＦの場合の座標の変化を示した図である。（Ｆ−２）はパターンＦのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｆ−３）はパターンＦのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｆ−２）パターンＦのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ１のみが検出される。遮断軸Ｘ１は、スキャン２でＸ１（３３−３７）、スキャン３でＸ１（３１−３４）、スキャン４でＸ１（３１−３１）、スキャン５でＸ１（２９−３０）、スキャン６でＸ１（３１−３１）、スキャン７でＸ１（３１−３２）と、座標が大きく移動した状態で検出される。続く、スキャン８とスキャン９では、Ｘ１（３１−３２）と継続して検出され、スキャン１０で消える。一方、後からタッチされた指４０１のＸ軸方向の遮断軸は検出されない。

（Ｆ−３）パターンＦのＹ軸方向では、スキャン２で遮断軸Ｙ１（７−８）と、遮断軸Ｙ２（２４−２６）とが同時に検出されている。遮断軸Ｙ２は、スキャン３からスキャン９でＹ２（２５−２７）が継続して検出され、スキャン１０で消える。一方、遮断軸Ｙ１は、スキャン３でＹ１（７−８）、スキャン４でＹ１（８−９）と検出された後、スキャン５及びスキャン６と検出されない。スキャン７で再び遮断軸Ｙ１（８−９）が検出され、スキャン８と継続して検出された後、スキャン９で消える。

図２６は、パターンＦの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３３−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（７−８），（２４−２６）が検出される。判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ１（３３−３７），Ｙ１（７−８），Ｙ２（２４−２６）と特定され、判別遮断軸となる。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向に複数検出されたので、多点エラーとされ、有効軸及び有効座標は特定されない。タッチ状態は、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」が設定される。特定された遮断軸は検出遮断軸１１０２ｆのスキャン２に対応する欄に登録される。また、有効軸が特定されたときは有効軸１１０３ｆ、有効座標が特定されたときは有効座標１１０４ｆの該当するスキャンに対応する欄に登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３、スキャン４も同様の状態が継続される。
スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、遮断軸Ｘ１（２９−３０），Ｙ２（２５−２７）の遮断軸が検出され、Ｙ１は検出されない。タッチパネル面２１０の状態は、１点タッチの状態に戻るが、ここでは検出処理を行わない。したがって、有効軸及び有効座標とも「ｎｕｌｌ」、タッチ状態は「ＯＮ」を継続する。スキャン６も同様である。

スキャン７では、遮断軸検出部１２０によって、再度遮断軸Ｙ１（８−９）が検出され、判別遮断軸に設定される。遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ２（２５−２７）も同様に検出される。タッチ状態は、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」とする。まだ、Ｙ軸片側タッチの可能性も有り、Ｘ軸同軸タッチであるかどうかは判別できないので、有効軸及び有効座標は設定しない。

スキャン８では、遮断軸検出部１２０によって、遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ１（８−９），Ｙ２（２５−２７）の遮断軸が検出される。Ｙ軸片側タッチが継続されたので、Ｘ軸同軸タッチと判定される。そこで、前の周期の判別遮断軸Ｙ１（８−９）と、今回検出されたＸ１（３１−３２）を有効軸とし、有効軸の中心座標（３１．５，８．５）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（１点＋Ｘ軸同軸タッチ）」を設定する。特定された遮断軸、有効軸、有効座標及びタッチ状態は、各項目のスキャン８に対応する欄に登録される。

スキャン９では、遮断軸検出部１２０によって、遮断軸Ｘ１（３１−３２），Ｙ２（２５−２７）の遮断軸が検出され、Ｙ１は検出されない。そこで、前回スキャン周期の有効座標をタッチアップし、「ＯＦＦ」にする。また、タッチ状態は、Ｘ軸同軸タッチが解除され、「ＯＦＦ」となる。有効軸は、前回スキャン周期のＸ１（３１−３２），Ｙ１（８−９）、有効座標（３１．５，８．５）が継続される。

パターンＧからパターンＪは、３点入力の例である。
７．パターンＧ
図２７は、パターンＧ（３点入力の第１例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＧは、タッチパネル面２１０上に物が置かれている状態で、利用者の袖、指と順にタッチされるというパターンである。（Ｇ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に、物４０３が置かれている。（Ｇ−１ｂ）では、タッチパネル面２１０上に物４０３が置かれた状態で、利用者の袖４０２がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｇ−１ｃ）では、物４０３が置かれ、袖４０２がタッチされた状態で、指４０１が順押しされている。

図２８は、パターンＧの場合の座標の変化を示した図である。（Ｇ−２）はパターンＧのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｇ−３）はパターンＧのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｇ−２）パターンＧのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ３，Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｘ３（４４−４５）が検出される。この遮断軸Ｘ３は、スキャン３からスキャン９まで、Ｘ３（４４−４５）として継続して検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｘ２は、スキャン３でＸ２（３１−３４）として検出される。その後、スキャン４でＸ２（３１−３１）、スキャン５でＸ２（２９−３０）、スキャン６でＸ２（３１−３１）、スキャン７でＸ２（３１−３２）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５でＸ１（７−９）として検出される。その後、スキャン６でＸ１（８−１０）、スキャン７でＸ１（９−１１）、スキャン８でＸ１（１２−１４）、スキャン９でＸ１（１４−１４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン１０で消える。

（Ｇ−３）パターンＧのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ１，Ｙ３，Ｙ２の順に検出される。遮断軸Ｙ１は、スキャン２からスキャン９までＹ１（２−３）として検出され、スキャン１０で消える。遮断軸Ｙ２は、スキャン４でＹ２（７−９）、スキャン５からスキャン８でＹ２（８−１０）と、検出された後、スキャン９で消える。遮断軸Ｙ３は、スキャン３でＹ３（３５−３７）として検出され、スキャン７まで継続して検出された後、スキャン８で消える。

図２９は、パターンＧの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（４４−４５）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２−３）が検出される。そして、判別遮断軸特定部１３０によって遮断軸Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が、Ｘ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、Ｘ３（４４−４５）及びＹ１（２−３）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（４４．５，２．５）を有効座標に設定する。タッチ状態は、「ＯＮ（１点）」が設定される。こうして特定された遮断軸Ｘ３，Ｙ１は検出遮断軸１１０２ｇ、有効軸Ｘ３，Ｙ１は有効軸１１０３ｇ、有効座標（４４．５，２．５）は有効座標１１０４ｇのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｇには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３４）と、Ｙ軸方向の遮断軸（３５−３７）が新たに検出される。Ｘ３（４４−４５）及びＹ１（２−３）も継続して検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たに検出された遮断軸をＸ２（３１−４１）と、Ｙ３（３５−３７）と名付け、判別遮断軸に特定する。判別遮断軸が、Ｘ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、前回スキャン周期の有効座標のオフイベントを発生させる。有効軸は前回スキャンと同じく遮断軸Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３）とし、有効座標（４４．５，２．５）を継続させる。タッチ状態は、「ＯＦＦ」になる。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０で遮断軸Ｙ２（７−９）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＹ軸方向のみであるので、Ｙ軸片側タッチとする。しかし、この時点では、Ｘ軸同軸タッチの可能性があるので、有効軸と有効座標は、設定しない。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たに検出された遮断軸をＸ１（７−９）と名付け、判別遮断軸に特定する。また、遮断軸Ｘ２（２９−３０），Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３），Ｙ２（８−１０），Ｙ３（３５−３７）も継続して検出・特定される。有効座標特定部１４０では、判別遮断軸はＸ軸方向のみであるので、片側タッチと判定する。前回スキャンで判別遮断軸Ｙ２が検出されているので、これと組み合わせ、有効軸Ｘ１（７−９），Ｙ２（８−１０）を決定する。また、有効軸の中心座標（８，９）を算出し、有効座標とする。さらに、タッチ状態を「ＯＮ（３点）」に設定する。

スキャン６では、遮断軸検出部１２０で検出された遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｘ２（３１−３１），Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３），Ｙ２（８−１０），Ｙ３（３５−３７）と特定される。判別遮断軸は、検出されない。有効座標特定部１４０では、状態継続と判定し、前回スキャンで有効軸とした遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ２（８−１０）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（９，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」で変化ない。

スキャン７では、遮断軸検出部１２０で検出された遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０で、遮断軸Ｘ１（９−１１），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３），Ｙ２（８−１０），Ｙ３（３５−３７）と特定される。判別遮断軸は、検出されない。有効座標特定部１４０では、状態継続と判定し、前回スキャンで有効軸に特定したＸ１（９−１１），Ｙ２（８−１０）を継続して有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（１０，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」で変化ない。

スキャン８では、遮断軸検出部１２０で検出された遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ１（１２−１４），Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３），Ｙ２（８−１０）と特定される。判別遮断軸はない。有効座標特定部１４０では、状態継続と判定し、前回スキャン周期で有効軸としたＸ１（１２−１４），Ｙ２（８−１０）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（１３，９）を有効座標とする。このとき、遮断軸Ｘ２，Ｙ３は検出されないので、現在のタッチ点数は２になる。したがって、タッチ状態は、「ＯＮ（２点）」になる。

スキャン９では、遮断軸検出部１２０で検出された遮断軸は、判別遮断軸特定部１３０で、遮断軸Ｘ１（１４−１４），Ｘ３（４４−４５），Ｙ１（２−３）と特定される。判別遮断軸はない。有効座標特定部１４０では、状態継続と判定し、前回スキャンで有効軸としたＸ１（１４−１４），Ｙ２（８−１０）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（１４，９）を有効座標とする。タッチ状態は「ＯＮ（１点＋Ｘ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン１０では、遮断軸は検出されず、オフイベントを発生させ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。
８．パターンＨ
図３０は、パターンＨ（３点入力の第２例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＨは、タッチパネル面２１０に利用者の袖１、袖２、指と順にタッチされるというパターンである。（Ｈ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に、袖４０２がタッチされている。（Ｈ−１ｂ）では、袖４０２がタッチされた状態で、さらに利用者の別の袖４０４がタッチされている。その後のスキャン周期の（Ｈ−１ｃ）では、袖４０２及び袖４０４に加え、指４０１が順押しされている。

図３１は、パターンＨの場合の座標の変化を示した図である。（Ｈ−２）はパターンＨのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｈ−３）はパターンＨのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｈ−２）パターンＨのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ３，Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｘ３（３６−３７）が検出される。この遮断軸Ｘ３は、スキャン３でＸ３（３６−３６）、スキャン４でＸ３（３６−３６）、スキャン５でＸ３（３３−３５）、スキャン６でＸ３（３４−３５）、スキャン７でＸ３（３１−３５）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｘ２は、スキャン３でＸ２（３１−３４）として検出される。その後、スキャン４でＸ２（３１−３１）、スキャン５でＸ２（２９−３０）、スキャン６でＸ２（３１−３１）と検出され、スキャン７では遮断軸Ｘ３と重なってＸ２（３１−３５）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５でＸ１（７−９）として検出される。その後、スキャン６でＸ１（８−１０）、スキャン７でＸ１（９−１１）、スキャン８でＸ１（１２−１４）、スキャン９でＸ１（１４−１４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン１０で消える。

（Ｈ−３）パターンＨのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ３，Ｙ２，Ｙ１の順に検出される。遮断軸Ｙ３は、スキャン２でＹ３（２６−２７）として検出される。その後、スキャン３でＹ３（２５−２７）、スキャン４でＹ３（２４−２６）、スキャン５でＹ３（２３−２５）、スキャン６でＹ３（２３−２４）、スキャン７でＹ３（２１−２４）と検出された後、スキャン８で消える。遮断軸Ｙ２は、スキャン３でＹ２（２０−２１）として検出される。その後、スキャン４でＹ２（１９−２０）、スキャン５でＹ２（１９−２０）、スキャン６でＹ２（２０−２１）と検出され、スキャン７では遮断軸Ｙ３と重なってＹ２（２１−２４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン８で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン４でＹ１（７−９）として検出され、スキャン５からスキャン８までＹ１（８−１０）として継続して検出された後、スキャン９で消える。

図３２は、パターンＨの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３６−３７）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２６−２７）が検出される。そして、判別遮断軸特定部１３０によって遮断軸Ｘ３（３６−３７），Ｙ３（２６−２７）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が、Ｘ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、Ｘ３（３６−３７）及びＹ３（２６−２７）を有効軸とする。有効軸の中心座標（３６．５，２６．５）を有効座標に設定する。タッチ状態は、「ＯＮ（１点）」が設定される。こうして特定された遮断軸Ｘ３，Ｙ３は検出遮断軸１１０２ｈ、有効軸Ｘ３，Ｙ３は有効軸１１０３ｈ、有効座標（３６．５，２６．５）は有効座標１１０４ｈのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｈには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３４）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２０−２１）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０は、新たに検出されたＹ軸方向の遮断軸を、Ｙ２（２０−２１）と名付ける。しかし、Ｘ軸方向については、属性を特定することができない。マージンαを１とすると、前回スキャンのＸ３（３６−３７）から、座標範囲が（３５−３８）であれば、検出された遮断軸がＸ３と同属性であると判定することができる。しかし、図の例では、Ｘ軸方向で検出される遮断軸（３１−３４），（３６−３６）のいずれもＸ３と同属性となる。このため、遮断軸Ｘ３の遮断軸幅を特定することはできない。そこで、有効軸及び有効座標は、前回スキャンのものとし、有効座標をオフする。有効軸及び有効座標は、前回スキャンのＸ３（３６−３７），Ｙ３（２６−２７）、有効座標（３６．５，２６．５）を継続させる。タッチ状態は、「ＯＦＦ（２点）」になる。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。また、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３１），（３６−３６）も検出される。判別遮断軸特定部１３０では、Ｙ軸方向の遮断軸をＹ２（７−９）と特定し、判別遮断軸に設定する。スキャン３のときと同様に、Ｘ軸方向は、遮断軸を特定することはできない。また、Ｙ軸方向も同様である。したがって、有効軸と有効座標は設定されない。タッチ状態は、「ｎｕｌｌ（２点＋Ｙ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。また、Ｘ軸方向の遮断軸（２９−３０），（３３−３５）も検出される。判別遮断軸特定部１３０では、Ｘ軸方向の遮断軸をそれぞれＸ１（７−９），Ｘ２（２９−３０），Ｘ３（３３−３５）と設定する。同様に、Ｙ軸方向は、Ｙ１（８−１０），Ｙ２（１９−２０），Ｙ３（２３−２５）が特定される。そして、新たに検出された遮断軸Ｘ１（７−９）が判別遮断軸に選択される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向に１つであるので「片側タッチ」と判定する。前回スキャンで、Ｙ軸片側タッチが検出されているので、今回スキャンの判別遮断軸Ｘ１（７−９）と、前回スキャンの判別遮断軸Ｙ１（８−１０）とを有効軸にする。そして、有効軸の中心座標（８，９）を有効座標とする。また、タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」になる。

スキャン６では、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）が特定される。判別遮断軸は検出されない。なお、遮断軸Ｘ２，Ｘ３，Ｙ２，Ｙ３は特定することができない。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が検出されないので、「状態継続」と判定する。そして、前回スキャンでも有効軸であった遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）を有効軸とする。また、有効軸の中心座標（９，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン７もスキャン６と同様に、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（９−１１），Ｙ１（８−１０）のみが特定される。そして、有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（９−１１），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（１０，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン８では、遮断軸Ｘ２，Ｘ３，Ｙ２，Ｙ３は検出されない。しかし、判別遮断軸特定部１３０によって、前回スキャンにおいて有効軸であった既検出の遮断軸Ｘ１（１２−１４），Ｙ１（８−１０）は特定される。有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（１２−１４），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（１３，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（１点）」になる。

スキャン９では、さらに、遮断軸Ｙ１が検出されなくなる。判別遮断軸特定部１３０によって、遮断軸Ｘ１（１４−１４）のみが特定される。有効座標特定部１４０は、「状態継続」の処理を行う。遮断軸Ｙ１が検出されないのでＸ軸片側タッチと判断し、有効軸及び有効座標は前回スキャンの値を用いる。

スキャン１０では、すべての遮断軸が検出されなくなったので、オフイベントを発生させ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。
以上の処理手順が実行されることにより、タッチパネル面２１０上に袖１、袖２、指と順にタッチされる場合の有効座標が検出できる。

９．パターンＩ
図３３は、パターンＩ（同時押し＋３点入力）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＩは、利用者の２つの袖が同時にタッチされ、続いて指がタッチされるというパターンである。（Ｉ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に、袖４０２，４０４が同時にタッチされている。（Ｉ−１ｂ）では、タッチパネル面２１０上に袖４０２，４０４に加え、指４０１が順押しされている。

図３４は、パターンＩの場合の座標の変化を示した図である。（Ｉ−２）はパターンＩのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｉ−３）はパターンＩのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｉ−２）パターンＩのＸ軸方向では、遮断軸Ｘ３，Ｘ２，Ｘ１が検出される。最初に、スキャン３で遮断軸Ｘ２（３１−３４）と、遮断軸Ｘ３（３７−３８）とが同時に検出される。このうち、遮断軸Ｘ２は、スキャン４でＸ２（３１−３１）、スキャン５でＸ２（２９−３０）、スキャン６でＸ２（３１−３１）、スキャン７からスキャン９でＸ２（３１−３２）と検出され、スキャン１０で消える。遮断軸Ｘ３は、スキャン４とスキャン５でＸ３（３６−３７）、スキャン６でＸ３（３６−３８）、スキャン７からスキャン９でＸ３（３５−３６）と検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン５でＸ１（７−９）として検出される。その後、スキャン６でＸ１（８−１０）、スキャン７でＸ１（９−１１）、スキャン８でＸ１（１２−１４）、スキャン９でＸ１（１４−１４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン１０で消える。

（Ｉ−３）パターンＩのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３が検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｙ２（２１−２２）と、遮断軸Ｙ３（２５−２７）とが検出される。その後、遮断軸Ｙ２は、スキャン３からスキャン９まで継続してＹ２（２１−２２）として検出された後、スキャン１０で消える。同様に、遮断軸Ｙ３は、スキャン３からスキャン９まで継続してＹ３（２５−２７）として検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン４でＹ１（７−９）として検出され、スキャン５からスキャン８まで継続してＹ１（８−１０）として検出された後、スキャン９で消える。

図３５は、パターンＩの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｙ軸方向の遮断軸（２１−２２），（２５−２７）が検出される。そして、判別遮断軸特定部１３０によって遮断軸Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が、Ｙ軸方向に複数あるので、「同時押し」と判定し、多点エラーと判定する。タッチ状態は、「ＯＮ（Ｙ軸２点）」が設定される。こうして特定された遮断軸Ｙ２，Ｙ３は検出遮断軸１１０２ｉのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｉには、「ＯＮ（Ｙ軸２点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３４），（３７−３８）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０によって、新たに検出されたＸ軸方向の遮断軸は、Ｘ２（３１−３４），Ｘ３（３７−３８）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が、Ｘ軸方向に複数あるので、「同時押し」と判定し、多点エラーと判定する。タッチ状態は、「ＯＮ（２点）」になる。

スキャン４では、遮断軸検出部１２０によって、Ｙ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０では、Ｙ軸方向の遮断軸をＹ１（７−９）と特定し、判別遮断軸に設定する。なお、既検出の遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｘ３（３６−３７），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）も特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が遮断軸Ｙ１（７−９）のみであるので、「片側タッチ」と判定する。前回スキャンでは有効軸及び有効座標は設定されていないので、今回スキャンでも設定されない。タッチ状態は、「ＯＮ（２点＋Ｙ軸片側タッチ）」が設定される。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（７−９）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０では、Ｘ軸方向の遮断軸をＸ１（７−９）とし、判別遮断軸に設定する。また、既検出のＸ２（２９−３０），Ｘ３（３６−３７），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）も特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向に１つであるので「片側タッチ」と判定する。前回スキャンで、Ｙ軸片側タッチが検出されているので、今回スキャンの判別遮断軸Ｘ１（７−９）と、前回スキャンの判別遮断軸Ｙ１（８−１０）とを有効軸にする。そして、有効軸の中心座標（８，９）を有効座標とする。また、タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」になる。

スキャン６では、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｘ２（３１−３１），Ｘ３（３６−３８），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が検出されないので、「状態継続」と判定する。そして、前回スキャンでも有効軸であった遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）を有効軸とする。また、有効軸の中心座標（９，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン７もスキャン６と同様に、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（９−１１），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。そして、有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（９−１１），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（１０，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン８もスキャン７と同様に、判別遮断軸特定部１３０によって、既検出の遮断軸Ｘ１（１２−１４），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（１２−１４），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（１３，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」を継続する。

スキャン９では、遮断軸Ｙ１が検出されなくなる。判別遮断軸特定部１３０によって、既検出の遮断軸Ｘ１（１４−１４），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。有効座標特定部１４０は、「状態継続」の処理を行う。ここでは、遮断軸Ｙ１が検出されないのでＸ軸片側タッチと判断し、有効軸及び有効座標は前回スキャンの値を用いる。タッチ状態は、「ＯＮ」を継続する。

スキャン１０では、すべての遮断軸が検出されなくなったので、オフイベントを発生させ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。
１０．パターンＪ
図３６は、パターンＪ（３点入力で移動座標大）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。パターンＩの状態で、各遮断軸の座標の移動量が大きい場合である。（Ｊ−１ａ）では、タッチパネル面２１０上に、袖４０２，４０４が同時にタッチされている。（Ｊ−１ｂ）では、タッチパネル面２１０上に袖４０２，４０４に加え、指４０１が順押しされている。

図３７は、パターンＪの場合の座標の変化を示した図である。（Ｊ−２）はパターンＪのＸ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値、（Ｊ−３）はパターンＪのＹ軸方向の遮断軸のスキャンごとの座標値を示している。

（Ｊ−２）パターンＪのＸ軸方向では、遮軸Ｘ３，Ｘ２，Ｘ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｘ３（３７−３８）が検出される。遮断軸Ｘ３は、スキャン３からスキャン４でＸ３（３７−３８）、スキャン５でＸ３（３３−３３）、スキャン６でＸ３（３４−３６）、スキャン７からスキャン９でＸ３（３５−３６）と検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｘ２は、スキャン３でＸ２（３１−３４）と検出される。その後、スキャン４でＸ２（３１−３１）、スキャン５でＸ２（２９−３０）、スキャン６でＸ２（３１−３１）、スキャン７からスキャン９でＸ２（３１−３２）と検出され、スキャン１０で消える。遮断軸Ｘ１は、スキャン６でＸ１（８−９）として検出される。その後、スキャン７でＸ１（６−８）、スキャン８でＸ１（４−６）、スキャン９でＸ１（４−４）と、座標が大きく移動した状態で検出され、スキャン１０で消える。

（Ｊ−３）パターンＪのＹ軸方向では、遮断軸Ｙ３，Ｙ２，Ｙ１の順に検出される。最初に、スキャン２で遮断軸Ｙ３（２５−２７）が検出される。遮断軸Ｙ３は、スキャン３からスキャン９まで継続してＹ３（２５−２７）として検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｙ２は、スキャン３でＹ２（２１−２２）として検出される。その後、スキャン４からスキャン９まで継続してＹ２（２１−２２）として検出された後、スキャン１０で消える。遮断軸Ｙ１は、スキャン６でＹ１（８−１０）として検出され、スキャン９まで継続してＹ１（８−１０）として検出された後、スキャン１０で消える。

図３８は、パターンＪの場合の遮断軸情報を示した図である。
スキャン１では、遮断軸は検出されず、タッチ状態も「ｎｕｌｌ」である。
スキャン２では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３７−３８）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２５−２７）が検出される。そして、判別遮断軸特定部１３０によって遮断軸Ｘ３（３７−３８），Ｙ３（２５−２７）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が、Ｘ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、Ｘ３（３７−３８），Ｙ３（２５−２７）を有効軸とする。有効軸の中心座標（３７．５，２６）を有効座標に設定する。タッチ状態は、「ＯＮ（１点）」が設定される。こうして特定された遮断軸Ｘ３，Ｙ３は検出遮断軸１１０２ｊ、有効軸Ｘ３，Ｙ３は有効軸１１０３ｊ、有効座標（３７．５，２６）は有効座標１１０４ｊのスキャン２に対応する欄に登録される。また、タッチ状態１１０５ｊには、「ＯＮ（１点）」が登録される。なお、以降のスキャン周期で特定された各項目の情報は、スキャン周期に対応する欄に登録されるとし、登録処理の説明は省く。

スキャン３では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（３１−３４）、Ｙ軸方向の遮断軸（２１−２２）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０によって、新たに検出された遮断軸は、Ｘ２（３１−３４），Ｙ２（２１−２２）と特定され、判別遮断軸に設定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、前回スキャンにおいて特定された有効座標のオフイベントを発生させる。このため、有効軸は、前回スキャンのＸ３（３７−３８），Ｙ３（２５−２７）、有効座標は、同じく（３７．５，２６）に設定される。タッチ状態は、「ＯＦＦ（２点）」になる。

スキャン４では、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｘ３（３７−３８），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が検出されないので、「状態継続」と判定する。そして、前回スキャンの判別遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｙ２（２１−２２）を有効軸とする。また、有効軸の中心座標（３１，２１．５）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（２点）」になる。

スキャン５では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（２９−３０），（３３−３３）と、Ｙ軸方向の遮断軸（２１−２２），（２５−２７）が検出される。しかし、判別遮断軸特定部１３０では、Ｙ軸方向の遮断軸については属性を特定できるが、Ｘ軸方向の遮断軸については特定できない。マージンαを１とすると、遮断軸（３３−３３）の座標範囲は（３２−３４）となる。前回スキャンでＸ２（３１−３１），Ｘ３（３７−３８）であったので、どちらに属するかを判定することはできない。エラー発生により、有効座標特定部１４０は、前回スキャンの有効座標のオフイベントを発生させる。このため、有効軸は、前回スキャンのＸ２（３１−３１），Ｙ２（２１−２２）、有効座標は、同じく（３１，２１．５）に設定される。タッチ状態は、「ＯＦＦ（２点）」になる。

スキャン６では、遮断軸検出部１２０によって、Ｘ軸方向の遮断軸（８−１０）、Ｙ軸方向の遮断軸（８−１０）が新たに検出される。判別遮断軸特定部１３０によって、それぞれ遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）と特定され、判別遮断軸に設定される。既検出の遮断軸Ｘ２（３１−３１），Ｘ３（３４−３６），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）も同様に特定される。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸がＸ軸方向とＹ軸方向にそれぞれ１つずつあるので、「順押し」と判定し、判別遮断軸Ｘ１（８−１０），Ｙ１（８−１０）を有効軸とする。そして、有効軸の中心座標（９，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」となる。

スキャン７では、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（６−８），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。有効座標特定部１４０は、判別遮断軸が検出されないので、「状態継続」と判定する。そして、前回スキャンでも有効軸であった遮断軸Ｘ１（６−８），Ｙ１（８−１０）を有効軸とする。また、有効軸の中心座標（７，９）を有効座標とする。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン８もスキャン７と同様に、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（４−６），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。そして、有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（４−６），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（５，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン９もスキャン８と同様に、判別遮断軸特定部１３０によって既検出の遮断軸Ｘ１（４−４），Ｘ２（３１−３２），Ｘ３（３５−３６），Ｙ１（８−１０），Ｙ２（２１−２２），Ｙ３（２５−２７）が特定される。判別遮断軸は検出されない。そして、有効座標特定部１４０では、「状態継続」と判定され、前回スキャンと同じ有効軸Ｘ１（４−４），Ｙ１（８−１０）が設定される。また、有効軸の中心座標（４，９）が有効座標になる。タッチ状態は、「ＯＮ（３点）」が継続される。

スキャン１０では、すべての遮断軸が検出されなくなったので、オフイベントを発生させ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。
このような手順が実行されることにより、３点が入力された場合も有効座標を検出することができる。

次に、座標検出装置１００による座標検出処理の処理手順について詳細に説明する。図３９は、座標検出処理の処理手順を示したフローチャートである。
なお、以下の説明では、図５に示した遮断軸情報テーブル１１００に加え、有効座標のタッチ状態（タッチされているＯＮ、または離れているＯＦＦ）と、片側タッチが検出されたことを示す片側タッチ情報とを記憶しておき、処理に用いるとする。

［ステップＳ０１］ 遮断軸検出部１２０は、スキャン周期に到達したら、タッチパネルコントローラ２０１から遮断情報を取得する。
［ステップＳ０２］ 遮断情報を取得したら、前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報が存在するかどうかを判定する。前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報が存在するときは、処理をステップＳ０４へ進める。存在しないときは、処理をステップＳ０３へ進める。

［ステップＳ０３］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報が存在しないときは、タッチオフ処理として、取得された遮断情報のみで有効座標を特定する。特定された有効座標は、このスキャン周期の遮断軸情報として登録する。また、タッチ状態は、該当するタッチ点をＯＮにする。このとき、Ｘ軸方向またはＹ軸方向に複数点の遮断軸が検出されたときは、多点エラーを発生させる。その後、ステップＳ０１に戻って次のスキャン周期の処理を行う。

［ステップＳ０４］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報が存在するときは、今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸の遮断軸属性を特定する。今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸の遮断軸幅が、前回スキャン（ｎ−１）で検出された遮断軸の遮断軸幅にマージンを付加した範囲内に含まれているかどうかを判定する。含まれている場合は、同属性と判定し、前回スキャン（ｎ−１）で設定された遮断軸名を付ける。含まれていないときは、同属性ではないと判定し、これまでに付与された遮断軸名とは異なる遮断軸名を設定する。なお、遮断軸属性の特定にあたっては、前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸ばかりでなく、スキャン（ｎ−１）以前のスキャンで検出された遮断軸と比べてもよい。

［ステップＳ０５］ 遮断軸属性が設定された遮断軸から、判別遮断軸を特定する。判別遮断軸は、今回スキャン（ｎ）の遮断軸から前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸を差し引き、残った遮断軸を判別遮断軸とする。

［ステップＳ０６］ 判別遮断軸が、Ｘ軸方向またはＹ軸方向のいずれか、もしくは両方で２つ以上検出されているかどうかを判定する。複数検出されているときは、処理をステップＳ０９に進める。複数検出されていないときは、ステップＳ０７へ処理を進める。

［ステップＳ０７］ 判別遮断軸が複数検出されていないときは、判別遮断軸がＸ軸方向またはＹ軸方向のいずれか１つのみが検出されているかどうかを判定する。判別遮断軸が１つのみであれば、処理をステップＳ１０に進める。１つでないときは、ステップＳ０８へ処理を進める。

［ステップＳ０８］ 判別遮断軸が１つでないときは、判別遮断軸がＸ軸方向及びＹ軸方向にともに１つであるかどうかを判定する。Ｘ軸方向及びＹ軸方向にともに１つであるときは、処理をステップＳ１１に進める。そうでないときは、処理をステップＳ１２に進める。

［ステップＳ０９］ 判別遮断軸がＸ軸方向またはＹ軸方向のいずれか、もしくは両方で複数検出されたときは、同時押しの有効座標検出処理を行う。有効座標検出処理終了後、ステップＳ０１に戻って次のスキャン周期の処理を行う。

［ステップＳ１０］ 判別遮断軸がＸ軸方向またはＹ軸方向のいずれか１つのみで検出されたときは、片側タッチの有効座標検出処理を行う。有効座標検出処理終了後、ステップＳ０１に戻って次のスキャン周期の処理を行う。

［ステップＳ１１］ 判別遮断軸がＸ軸方向及びＹ軸方向にともに１つであるときは、順押しの有効座標検出処理を行う。有効座標検出処理終了後、ステップＳ０１に戻って次のスキャン周期の処理を行う。

［ステップＳ１２］ 判別遮断軸が上記のすべてに当てはまらない場合、すなわち、検出されないときは、状態継続の有効座標検出処理を行う。有効座標検出処理終了後、ステップＳ０１に戻って次のスキャン周期の処理を行う。

それぞれの有効座標特定処理について説明する。
図４０は、同時押しの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。Ｘ軸方向またはＹ軸方向について、少なくとも一方の方向に２以上の判別遮断軸が検出されたとき、処理が開始される。

［ステップＳ９０１］ 遮断軸情報テーブル１１００から前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報を抽出する。そして、有効座標が登録されているかどうかを判定する。有効座標が登録されているときは、処理をステップＳ９０２に進める。有効座標が登録されていないときは、処理をステップＳ９０３に進める。

［ステップＳ９０２］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標が登録されているときは、その有効座標をタッチアップする。すなわち、前回スキャン（ｎ−１）で検出された有効座標のタッチ状態を「ＯＮ」から「ＯＦＦ」にする。

［ステップＳ９０３］ 今回スキャン（ｎ）の遮断軸情報の有効軸及び有効座標を「ｎｕｌｌ（無）」に設定する。また、多点エラーを発生させ、片側タッチ情報に、「片側タッチ無」を登録する。

以上の処理手順が実行されることにより、同一軸方向に複数の判別遮断軸が検出されたときは、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標を終了させ、多点エラーを発生させる。
図４１は、片側タッチの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。判別遮断軸が、Ｘ軸方向またはＹ軸方向のいずれか１方向のみに検出されたとき、処理が開始される。

［ステップＳ１００１］ 片側タッチ情報を読み出し、「片側タッチ」が設定されているかどうかを判定する。「片側タッチ」が設定されているときは、処理をステップＳ１００２に進める。「片側タッチ無」が設定されているときは、処理をステップＳ１００４に進める。

［ステップＳ１００２］ 「片側タッチ」が設定されているときは、前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸と、今回スキャン（ｎ）の判別遮断軸とが不一致であるかどうかを判定する。不一致のときは、処理をステップＳ１００３に進める。一致しているときは、処理をステップＳ１００４に進める。

［ステップＳ１００３］ 前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸と、今回スキャン（ｎ）の判別遮断軸とが不一致であるときは、片側タッチの状態が解消されたと見なす。そして、有効軸に前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸と、今回スキャン（ｎ）の判別遮断軸とを設定する。有効座標は、この有効軸の中心座標とする。そして、片側タッチ情報に「片側タッチ無」を登録する。

［ステップＳ１００４］ 「片側タッチ無」が設定されているときは、前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標が設定されているかどうかを判定する。有効座標が設定されているときは、処理をステップＳ１００６に進める。有効座標が設定されていないときは、処理をステップＳ１００５に進める。

［ステップＳ１００５］ 前回スキャン（ｎ−１）に有効座標が設定されていないときは、有効軸及び有効座標に「ｎｕｌｌ」を登録し、処理をステップＳ１００７に進める。
［ステップＳ１００６］ 前回スキャン（ｎ−１）に有効座標が設定されているときは、有効軸を前回スキャン（ｎ−１）の有効軸、有効座標をその有効軸の中心座標に設定する。

［ステップＳ１００７］ 片側タッチ情報に「片側タッチ」を登録する。
［ステップＳ１００８］ 今回スキャン（ｎ）の遮断軸に、前回スキャン（ｎ−１）の有効軸が検出されなかったときは、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標をタッチアップさせ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。

以上の処理手順が実行されることにより、Ｘ軸方向またはＹ軸方向のいずれか１つの判別遮断軸が検出されたときは、片側タッチ情報に基づき処理を行う。「片側タッチ」であれば、前回スキャン（ｎ−１）で一方の軸方向のみが検出され、今回スキャン（ｎ）でもう一方の軸方向が検出されたとし、これらを組み合わせて有効軸が特定される。「片側タッチ無」であれば、片側タッチ情報に「片側タッチ」が設定され、次のスキャン周期を待つ。

図４２は、順押しの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。判別遮断軸がＸ軸方向及びＹ軸方向に１ずつ検出されたとき、処理が開始される。
［ステップＳ１１０１］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標が設定されているかどうかを判定する。有効座標が設定されているときは、処理をステップＳ１１０２に進める。有効座標が設定されていないときは、処理をステップＳ１１０３に進める。

［ステップＳ１１０２］ 前回スキャン（ｎ−１）に有効座標が設定されているときは、その有効座標をタッチアップさせる。すなわち、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標のタッチ状態を「ＯＮ」から「ＯＦＦ」にする。

［ステップＳ１１０３］ 有効軸に今回スキャン（ｎ）で検出された判別遮断軸を設定する。有効座標は、この有効軸の中心座標とする。また、今回スキャン（ｎ）で特定された有効座標のタッチダウンを登録し、タッチ状態を「ＯＮ」にする。そして、片側タッチ情報を「片側タッチ無」に設定する。

以上の処理手順が実行され、順押しのときは検出されたＸ軸方向及びＹ軸方向に１つずつの判別遮断軸が有効軸に設定される。
図４３は、状態継続の場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。判別遮断軸が検出されないとき、処理が開始される。

［ステップＳ１２０１］ 片側タッチ情報を読み出し、「片側タッチ」が設定されているかどうかを判定する。「片側タッチ」が設定されているときは、処理をステップＳ１２０２に進める。「片側タッチ無」が設定されているときは、処理をステップＳ１２０７に進める。

［ステップＳ１２０２］ 「片側タッチ」が設定されていて判別遮断軸が検出されないときは、同軸上にタッチされた場合と見なす。今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸のＸ軸方向またはＹ軸方向の遮断軸幅が検知可能範囲以下であるかどうかを判定する。検知可能範囲を超えていれば、処理をステップＳ１２０３に進める。検知可能範囲以下であれば、処理をステップＳ１２０４に進める。

［ステップＳ１２０３］ 今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸のＸ軸方向またはＹ軸方向の遮断軸幅が検知可能範囲を超えているときは、多点エラーを発生させ、処理をステップＳ１２１３に進める。

［ステップＳ１２０４］ 今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸のＸ軸方向またはＹ軸方向の遮断軸幅が検知可能範囲以下であるときは、前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標の登録が有るかどうかを判定する。ないときは、処理をステップＳ１２０６に進める。有るときは、ステップＳ１２０５へ処理を進める。

［ステップＳ１２０５］ 前回スキャン（ｎ−１）の有効座標をタッチアップし、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。
［ステップＳ１２０６］ 前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸と、今回スキャン（ｎ）のＸ軸方向またはＹ軸方向のいずれか１つの遮断軸と、を有効軸に設定する。「同軸上」の特性上、Ｘ軸方向またはＹ軸方向の一方で１つの遮断軸しか検出されないためである。例えば、前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸がＸ軸方向であれば、Ｙ軸方向の遮断軸を設定する。また、前回スキャン（ｎ−１）の判別遮断軸がＹ軸方向であれば、Ｘ軸方向の遮断軸を設定する。こうして、同軸上に位置する他の遮光物によって当該方向の遮断軸が検出不可となっている遮光物の位置を推定する。その後、処理をステップＳ１２１２に進める。

［ステップＳ１２０７］ 「片側タッチ無」が設定されていて判別遮断軸が検出されないときは、図７の（５）状態継続の例、図７の（４）離れたときの例に該当する。前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に、有効座標の登録が有るかどうかを判定する。有効座標の登録が有るときは、処理をステップＳ１２０９に進める。有効座標の登録がないときは、処理をステップＳ１２０８に進める。

［ステップＳ１２０８］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標の登録が無いときは、有効軸及び有効座標に「ｎｕｌｌ」を登録し、処理をステップＳ１２１２に進める。

［ステップＳ１２０９］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に登録された有効軸が、今回スキャン（ｎ）で検出された遮断軸に有るかどうかを判定する。有効軸が遮断軸として検出されているときは、処理をステップＳ１２１０に進める。検出されていないときは、処理をステップＳ１２１１に進める。

［ステップＳ１２１０］ 今回スキャン（ｎ）の遮断軸に、前回スキャン（ｎ−１）の有効軸が検出されたときは、前回スキャン（ｎ−１）時の有効軸と同属性の遮断軸を有効軸に設定する。有効座標は、有効軸の中心座標とし、処理をステップＳ１２１２に進める。

［ステップＳ１２１１］ 今回スキャン（ｎ）の遮断軸に、前回スキャン（ｎ−１）の有効軸が検出されなかったときは、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標をタッチアップさせ、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。

［ステップＳ１２１２］ 片側タッチ情報に「片側タッチ無」を登録する。
［ステップＳ１２１３］ 前回スキャン（ｎ−１）の遮断軸情報に有効座標の登録が無いときは、有効軸及び有効座標に「ｎｕｌｌ」を設定し、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標をタッチアップし、タッチ状態を「ＯＦＦ」にする。

以上の処理手順が実行されることにより、新たに判別遮断軸が検出されなかったとき、同軸上の遮光物の有効座標特定、前回スキャン（ｎ−１）の有効座標保持、または前回スキャン（ｎ−１）の有効座標のタッチアップのいずれかの処理が行われる。

なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、座標検出装置が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。

プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）などの可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。

プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、サーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。

発明の概要を示す図である。 タッチパネルシステムを構成する座標検出装置の構成を示した図である。 タッチパネルの概略構成を示した図である。 座標検出装置の処理機能を示したブロック図である。 遮断軸情報テーブルの一例を示した図である。 同時押し、順押し及び片側タッチの例を示した図である。 離れたとき及び状態継続の例を示した図である。 同軸上のタッチを説明する図である。 パターンＡ（１点タッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＡの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＡの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＢ（２点順押しの第１例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＢの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＢの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＣ（２点順押しの第２例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＣの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＣの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＤ（２点順押しの第３例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＤの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＤの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＥ（同軸タッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＥの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＥの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＦ（同時押しタッチ）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＦの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＦの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＧ（３点入力の第１例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＧの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＧの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＨ（３点入力の第２例）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＨの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＨの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＩ（同時押し＋３点入力）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＩの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＩの場合の遮断軸情報を示した図である。 パターンＪ（３点入力で移動座標大）のタッチパネル上の遮光物の動きを示した図である。 パターンＪの場合の座標の変化を示した図である。 パターンＪの場合の遮断軸情報を示した図である。 座標検出処理の処理手順を示したフローチャートである。 同時押しの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。 片側タッチの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。 順押しの場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。 状態継続の場合の有効座標検出処理の手順を示したフローチャートである。

符号の説明

１０ 座標検出装置
１１ 遮断軸情報記憶手段
１２ 遮断軸検出手段
１３ 判別遮断軸特定手段
１４ 有効座標特定手段
２０ 座標入力面
２１ 検出装置

Claims (10)

1. 座標入力面上に形成される光路の遮断状況に基づいて前記座標入力面に接触した遮光物の位置の座標を検出する座標検出装置において、
   前記座標入力面の辺の縦方向及び横方向に対向して配列される投光部と受光部との間に形成される前記光路を遮断する前記遮光物の前記座標入力面上の位置を表す縦方向及び横方向の遮断軸の情報と、前記遮断軸のうち有効と判定された有効軸の情報と、を含む所定の周期ごとの遮断軸情報を記憶する遮断軸情報記憶手段と、
   前記周期ごとに、前記受光部の受光状態を遮断情報として取得し、前記遮断情報から前記光路が遮断された前記受光部の前記座標入力面に対する位置に基づいて前記縦方向の遮断軸及び前記横方向の遮断軸を検出する遮断軸検出手段と、
   前記遮断軸情報記憶手段から前回周期で登録された前回遮断軸情報を抽出し、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、前記遮断軸検出手段が検出した今回周期の遮断軸とを比較して、同じ遮断軸かを特定するとともに、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期で特定された遮断軸を比較して、変化のあった遮断軸を特定し、判別遮断軸とする判別遮断軸特定手段と、
   前記判別遮断軸の個数と、前記前回遮断軸情報に登録される前回有効軸と、に基づいて前記有効軸を決定するとともに、前記有効軸の領域内の有効座標を算出し、前記有効軸の情報と前記有効座標の情報及び前記今回周期の遮断軸の情報を前記周期に応じた時間情報に関連付けて前記遮断軸情報を生成し、前記遮断軸情報記憶手段に格納する有効座標特定手段と、
   を有することを特徴とする座標検出装置。
2. 前記遮断軸情報記憶手段は、さらに前記有効軸に基づいて算出される有効座標の情報を含む所定の周期ごとの前記遮断軸情報を記憶する、
   ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
3. 判別遮断軸特定手段は、前記前回遮断軸情報に登録される前記前回周期の遮断軸の幅と、前記遮断軸検出手段が検出した前記今回周期の遮断軸の幅とを比較して、同じ遮断軸かを特定する、
   ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
4. 前記有効座標特定手段は、前記判別遮断軸が前記前回遮断軸情報に含まれない新規の遮断軸であり、前記判別遮断軸の個数が、前記縦方向の遮断軸及び前記横方向の遮断軸がそれぞれについて１であるときは、前記判別遮断軸を前記有効軸とするとともに、前記前回有効軸が設定されていたときは前記前回有効軸を無効とする、ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
5. 前記有効座標特定手段は、前記判別遮断軸が検出されないときは、前記前回有効軸と前記遮断軸検出手段が検出した前記今回周期の遮断軸とを照合し、前記前回有効軸が前記今回周期の遮断軸に含まれているときは前記今回周期の遮断軸を前記有効軸とする、ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
6. 前記有効座標特定手段は、前記判別遮断軸の個数が、少なくとも前記縦方向または前記横方向の１方向について２以上であるときは、前記有効軸を無とし、前記前回有効軸が設定されていたときは前記前回有効軸を無効とする、ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
7. 前記有効座標特定手段は、前記判別遮断軸の個数が１であり、前記縦方向または前記横方向の１方向についてのみであるときは、前記前回有効軸と、前記遮断軸検出手段が検出した前記今回周期の遮断軸と、を照合し、前記前回有効軸が前記今回周期の遮断軸に含まれているときは、前記前回有効軸を前記有効軸とする、ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
8. 前記有効座標特定手段は、前記有効座標が新たに特定されたときは、該有効座標の指示する有効地点における前記遮光物の接触状態を表すタッチ情報をオンにし、該有効座標に応じた前記遮断軸が検出されなくなったとき、または該有効座標が他の地点に設定されたときは、前記有効地点に関する前記タッチ情報をオフにして、前記有効地点におけるタッチ状態を管理する、ことを特徴とする請求項１記載の座標検出装置。
9. 座標入力面上に形成される光路の遮断状況に基づいて前記座標入力面に接触した遮光物の位置の座標を検出する座標検出方法において、
   遮断軸検出手段が、所定の周期で、前記座標入力面の辺の縦方向及び横方向に対向して配列される投光部と受光部との間に形成される前記光路を遮断する遮光物の有無を表す前記受光部の受光状態を遮断情報として取得し、前記遮断情報から前記光路が遮断された前記受光部の前記座標入力面に対する位置に基づいて前記遮光物の前記座標入力面上の位置を表す縦方向の遮断軸及び横方向の遮断軸を検出する手順と、
   判別遮断軸特定手段が、前記縦方向及び横方向の遮断軸の情報と、前記遮断軸のうち有効と判定された有効軸の情報とが前記周期に応じた時間情報に関連付けて登録される遮断軸情報を格納する遮断軸情報記憶手段から、前回周期で登録された前回遮断軸情報を抽出し、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、前記遮断軸検出手段が検出した今回周期の遮断軸とを比較して、同じ遮断軸かを特定するとともに、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期で特定された遮断軸を比較して、変化のあった遮断軸を特定し、判別遮断軸とする手順と、
   有効座標特定手段が、前記判別遮断軸の個数と、前記前回遮断軸情報に登録される前回有効軸と、に基づいて前記有効軸を決定するとともに、前記有効軸の領域内の有効座標を算出し、前記有効軸の情報と前記有効座標の情報及び前記今回周期の遮断軸の情報を前記周期に応じた時間情報に関連付けて前記遮断軸情報を生成し、前記遮断軸情報記憶手段に格納する手順と、
   を有することを特徴とする座標検出方法。
10. 座標入力面上に形成される光路の遮断状況に基づいて前記座標入力面に接触した遮光物の位置の座標を検出するための座標検出処理プログラムにおいて、
    コンピュータを、
    所定の周期で、前記座標入力面の辺の縦方向及び横方向に対向して配列される投光部と受光部との間に形成される前記光路を遮断する遮光物の有無を表す前記受光部の受光状態を遮断情報として取得し、前記遮断情報から前記光路が遮断された前記受光部の前記座標入力面に対する位置に基づいて前記遮光物の前記座標入力面上の位置を表す縦方向の遮断軸及び横方向の遮断軸を検出する遮断軸検出手段、
    前記縦方向及び横方向の遮断軸の情報と、前記遮断軸のうち有効と判定された有効軸の情報とが前記周期に応じた時間情報に関連付けて登録される遮断軸情報を格納する遮断軸情報記憶手段から、前回周期で登録された前回遮断軸情報を抽出し、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、前記遮断軸検出手段が検出した今回周期の遮断軸とを比較して、同じ遮断軸かを特定するとともに、前記前回遮断軸情報に登録される前回周期の遮断軸と、今回周期の特定された遮断軸を比較して、変化のあった遮断軸を特定し、判別遮断軸とする判別遮断軸特定手段、
    前記判別遮断軸の個数と、前記前回遮断軸情報に登録される前回有効軸と、に基づいて前記有効軸を決定するとともに、前記有効軸の領域内の有効座標を算出し、前記有効軸の情報と前記有効座標の情報及び前記今回周期の遮断軸の情報を前記周期に応じた時間情報に関連付けて前記遮断軸情報を生成し、前記遮断軸情報記憶手段に格納する有効座標特定手段、
    として機能させることを特徴とする座標検出処理プログラム。

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