JP4874139B2 - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
Semiconductor integrated circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP4874139B2 JP4874139B2 JP2007065933A JP2007065933A JP4874139B2 JP 4874139 B2 JP4874139 B2 JP 4874139B2 JP 2007065933 A JP2007065933 A JP 2007065933A JP 2007065933 A JP2007065933 A JP 2007065933A JP 4874139 B2 JP4874139 B2 JP 4874139B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- monitor
- signal
- circuit
- output
- internal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
本発明は、半導体集積回路に関し、詳細には、内部信号を適宜選択してモニタ信号として出力するモニタ回路を搭載した半導体集積回路に関する。 The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and more particularly to a semiconductor integrated circuit equipped with a monitor circuit that appropriately selects an internal signal and outputs it as a monitor signal.
近年、デジタル複合機(MFP:Multi Functional Products)等の画像処理装置においては、高機能化に伴って、搭載するソフトウェア及びハードウェア構成が大規模かつ複雑化し、問題が発生した場合の原因の究明が困難となってきているが、市場の要求にタイムリーに対応するためには、早急な原因究明が求められる。 2. Description of the Related Art In recent years, in image processing apparatuses such as digital multifunction peripherals (MFPs), as software functions and hardware configurations become larger and more complex with higher functionality, investigation of the cause when problems occur However, in order to respond to market demands in a timely manner, an immediate cause investigation is required.
画像処理装置には、近時、高機能なASIC(Application Specific Integrated Circuit)が搭載され、このようなASICにおいては、デバッグや評価を行うために、ASIC内部回路の状態をモニタするモニタ信号(テスト信号)を出力する機構が実装されるようになってきている。 In recent years, an image processing apparatus is equipped with a high-function ASIC (Application Specific Integrated Circuit). In such an ASIC, a monitor signal (test for monitoring the state of an ASIC internal circuit for debugging and evaluation) Signal) is being implemented.
このモニタ機構の設計においては、従来、一般的には、全てのモニタ信号をクロック等の基準信号に同期させて出力する同期出力設計、あるいは、基準信号を設けず全てのモニタ信号を非同期で出力する非同期出力設計のいずれかが用いられている。 In the design of this monitor mechanism, conventionally, generally, all monitor signals are output in synchronization with a reference signal such as a clock, or all monitor signals are output asynchronously without providing a reference signal. One of the asynchronous output designs is used.
ところが、モニタ機構の有するテスト信号を出力する端子数が少ないときには、様々なテスト信号の中から出力するモニタ信号が選択されることとなるが、同期出力設計においてクロックに同期させてモニタ信号を出力させるためには、合成上あるいはレイアウト上の全てのパスでタイミングを合わせる等の回路設計以降の後工程に対する負荷が大きくなるという問題があった。 However, when the number of terminals that output the test signal of the monitor mechanism is small, the monitor signal to be output is selected from various test signals. In the synchronous output design, the monitor signal is output in synchronization with the clock. In order to achieve this, there has been a problem that the load on the subsequent processes after the circuit design such as matching the timings in all the paths in the synthesis or layout becomes large.
また、図13に示すように、異なる周波数のクロック(例えば、図13のクロック1、クロック2)で生成された複数のテスト信号(例えば、図13のモニタ信号1、モニタ信号2)をある一意に決定したクロック(図13の基準クロック)に同期させて出力させる場合、モニタ信号1に対するテスト信号1は正常に出力されるが、モニタ信号2についてはデータが欠落した状態のテスト信号2が出力されてしまう状態が発生することがあり、このような場合、正しいテストデータ(出力モニタ信号)を得ることができない。
Further, as shown in FIG. 13, a plurality of test signals (for example,
また、非同期出力設計において、基準信号を設けずに全てのモニタ信号を出力すると、モニタ信号を受信する装置(例えば、計測装置)がモニタ信号を適切に取り込むことができなかったり、データ等の複数の信号を束ねて意味を成すバス接続された信号については、各端子の変化タイミングが異なるため、詳細な解析用途としては使用できない等の問題があった。 In addition, in the asynchronous output design, if all monitor signals are output without providing a reference signal, a device (for example, a measurement device) that receives the monitor signal cannot properly capture the monitor signal, or a plurality of data, etc. As for signals connected by buses, which make sense by bundling these signals, there is a problem that they cannot be used for detailed analysis because the change timing of each terminal is different.
例えば、図14に示すように、モニタ制御回路DebMonとモニタ回路Mon0〜Mon31を、モニタ制御回路DebMonを中心として放射状にモニタ回路Mon0〜Mon31を接続する一般的なモニタ構成にすると、モニタ制御回路DebMonにモニタ信号が集中して、回路設計後の後工程である合成作業が難しくなるおそれがあるとともに、モニタ回路Mon0〜Mon31の増減によってもモニタ制御回路MSCの端子数に影響を与える。 For example, as shown in FIG. 14, when the monitor control circuit DebMon and the monitor circuits Mon0 to Mon31 are arranged in a general monitor configuration in which the monitor circuits Mon0 to Mon31 are connected radially around the monitor control circuit DebMon, the monitor control circuit DevMon is arranged. The monitor signals are concentrated on each other, which may make it difficult to perform a composition operation, which is a subsequent process after circuit design, and the increase or decrease in the monitor circuits Mon0 to Mon31 also affects the number of terminals of the monitor control circuit MSC.
そして、従来、基準の周波数に対して任意(1/N)に分周されたクロックで同期したモニタ信号を出力する半導体集積回路が提案されている(特許文献1参照)。 Conventionally, there has been proposed a semiconductor integrated circuit that outputs a monitor signal synchronized with a clock frequency divided arbitrarily (1 / N) with respect to a reference frequency (see Patent Document 1).
しかしながら、上記従来技術にあっては、基準の周波数に対して任意(1/N)に分周されたクロックで同期したモニタ信号を出力しているため、なお、全てのモニタ信号に対してタイミングを合わせる処理を必要とし、後工程に対する負荷が大きくなるという問題があるとともに、分周でできない周波数に対しては対応することができず、汎用性に欠けるという問題があった。 However, in the above-described prior art, since the monitor signal synchronized with the clock frequency divided arbitrarily (1 / N) with respect to the reference frequency is output, the timings for all the monitor signals are output. There is a problem that a process for adjusting the frequency is required, and a load on a subsequent process is increased, and a frequency that cannot be divided cannot be dealt with, so that there is a lack of versatility.
そこで、本発明は、後工程への負荷を最小限に抑えつつ、意図する全てのモニタ信号を適切に出力させて、適切なデバッグ情報を提供する汎用性に富んだ半導体集積回路を提供することを目的としている。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention provides a versatile semiconductor integrated circuit that appropriately outputs all intended monitor signals and provides appropriate debug information while minimizing the load on subsequent processes. It is an object.
請求項1記載の発明の半導体集積回路は、その搭載するモジュールが複数の内部信号から適宜選択した内部信号を出力モニタ信号として出力するモニタ回路を内蔵し、該モジュールの内部信号が第1内部信号と第2内部信号に分けられている半導体集積回路であって、前記モニタ回路は、非同期で動作する第1モニタ回路と同期信号に同期して動作する第2モニタ回路及び選択回路を有し、該第1モニタ回路は、前記モジュールの前記第1内部信号から第1制御信号に応じて適宜選択した第1内部信号を第1モニタ信号として選択し、該第2モニタ回路は、前記モジュールの前記第2内部信号から前記第2制御信号に応じて適宜選択した第2内部信号を第2モニタ信号として選択し、前記選択回路が、選択信号に基づいて該第1モニタ信号と該第2モニタ信号のいずれか一方を前記出力モニタ信号として選択して出力することにより、上記目的を達成している。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor integrated circuit having a built-in monitor circuit that outputs an internal signal appropriately selected from a plurality of internal signals as an output monitor signal. And the second internal signal, wherein the monitor circuit includes a first monitor circuit that operates asynchronously, a second monitor circuit that operates in synchronization with the synchronization signal, and a selection circuit, The first monitor circuit selects a first internal signal appropriately selected according to a first control signal from the first internal signal of the module as the first monitor signal, and the second monitor circuit selects the first internal signal of the module. A second internal signal appropriately selected from the second internal signals according to the second control signal is selected as a second monitor signal, and the selection circuit selects the first monitor signal based on the selection signal. By either of the second monitor signal for selecting and outputting as the output monitor signal, it has achieved the above objects.
この場合、例えば、請求項2に記載するように、前記半導体集積回路は、前記モニタ回路をそれぞれ搭載するモジュールを複数搭載し、該複数のモニタ回路は、少なくとも前記出力モニタ信号と前記第1制御信号がシリアル接続されており、前記第1モニタ回路は、前記適宜選択した第1内部信号と該前段のモニタ回路からの出力モニタ信号のうち一方を該第1制御信号に基づいて前記第1モニタ信号として選択し、前記第2モニタ回路は、前記選択した第2内部信号と該前段のモニタ回路からの出力モニタ信号のうち一方を前記第2モニタ信号として選択してもよい。 In this case, for example, the semiconductor integrated circuit includes a plurality of modules each mounting the monitor circuit, and the plurality of monitor circuits include at least the output monitor signal and the first control circuit. Signals are serially connected, and the first monitor circuit selects one of the appropriately selected first internal signal and the output monitor signal from the preceding monitor circuit based on the first control signal. The second monitor circuit may select one of the selected second internal signal and the output monitor signal from the preceding monitor circuit as the second monitor signal.
また、例えば、請求項3に記載するように、前記半導体集積回路は、前記モジュールの前記第1内部信号がそれぞれ複数の第1内部信号からなる複数の第1内部信号群に分けられており、前記第1制御信号が、該第1内部信号群の前記複数の第1内部信号をそれぞれ複数の信号グループに分割して該各第1内部信号群の各第1内部信号を該信号グループ毎にそれぞれまとめる信号選択信号と、該信号選択信号でまとめられた各信号グループの第1内部信号群のうちどの第1内部信号群の信号グループを該モジュールから出力する前記出力モニタ信号を複数のパートに分割したときのどのパートに割り当てるかを選択するグループ選択信号と、前記第1モニタ信号を該出力モニタ信号と同様に分割した各パート毎に前記グループ選択信号で選択された信号グループと前記前段のモニタ回路からの出力モニタ信号の対応するパートの出力モニタ信号のうちいずれかを該第1モニタ回路から出力する第1モニタ信号として選択する機能ブロック選択信号とを有していてもよい。
For example, as described in
さらに、例えば、請求項4に記載するように、前記各モニタ回路は、それぞれ該モニタ回路を他のモニタ回路と識別する識別情報が予め付与されており、前記第1制御信号の前記機能ブロック選択信号は、前記パート毎に設定された該識別情報を用いた第1識別情報であって、該第1識別情報によって該各第1モニタ回路の出力する第1モニタ信号を選択してもよい。
Further, for example, as described in
また、例えば、請求項5に記載するように、前記各モニタ回路は、それぞれ該モニタ回路を他のモニタ回路と識別する識別情報が付与されており、前記第2モニタ回路は、前記第2制御信号として該識別情報を用いた第2識別情報が入力され、該第2識別情報に応じて前記第2内部信号から選択した第2内部信号を前記第2モニタ信号として出力してもよい。 Further, for example, as described in claim 5, each monitor circuit is provided with identification information for identifying the monitor circuit from another monitor circuit, and the second monitor circuit is provided with the second control circuit. Second identification information using the identification information as a signal may be input, and a second internal signal selected from the second internal signals according to the second identification information may be output as the second monitor signal.
さらに、例えば、請求項6に記載するように、前記第2モニタ回路は、前記同期信号として所定のクロックが入力されていてもよい。 Further, for example, as described in claim 6, the second monitor circuit may receive a predetermined clock as the synchronization signal.
また、例えば、請求項7に記載するように、前記選択回路は、前記機能ブロック選択信号を前記選択信号として、前記第1モニタ信号と前記第2モニタ信号のいずれか一方を前記出力モニタ信号として選択して出力してもよい。
For example, as described in
さらに、例えば、請求項8に記載するように、前記第2モニタ回路は、前記前段のモニタ回路からの出力モニタ信号のみが入力され、該出力モニタ信号を前記第2制御信号に応じて同期動作して前記第2モニタ信号として適宜選択してもよい。
Further, for example, as described in
また、例えば、請求項9に記載するように、前記モニタ回路は、前記機能ブロック選択信号の前記第1識別情報が、前記いずれのモニタ回路にも付与されていない未付与識別情報であると、前記第2モニタ回路が、前記第2制御信号で選択された前記第2モニタ信号を、前記選択回路が所定ビットずつ順次出力モニタ信号として選択して出力してもよい。 Further, for example, as described in claim 9, the monitor circuit is configured such that the first identification information of the functional block selection signal is unassigned identification information that is not given to any of the monitor circuits. The second monitor circuit may select and output the second monitor signal selected by the second control signal as an output monitor signal sequentially by a predetermined bit.
本発明の半導体集積回路によれば、モジュールの搭載する非同期で動作する第1モニタ回路と同期信号に同期して動作する第2モニタ回路がそれぞれ該モジュールの内部信号を適宜選択して第1モニタ信号と第2モニタ信号を選択回路に出力して、選択回路で該第1モニタ信号と第2モニタ信号のいずれか一方を出力モニタ信号として選択して出力するので、内部信号を非同期と同期で適宜選択して出力することができ、回路設計の後工程である合成時のタイミング調整の作業を容易なものとし、LSI開発期間を短縮させることができるとともに、意図する全てのモニタ信号を適切に出力させて適切なデバッグ情報を提供して汎用性を向上させることができる。 According to the semiconductor integrated circuit of the present invention, the first monitor circuit that operates asynchronously mounted on the module and the second monitor circuit that operates in synchronization with the synchronization signal appropriately select the internal signal of the module, respectively. Since the signal and the second monitor signal are output to the selection circuit, and either the first monitor signal or the second monitor signal is selected and output as the output monitor signal by the selection circuit, the internal signal is asynchronously and synchronously output. It is possible to select and output as appropriate, making it easy to adjust the timing during synthesis, which is a post-process of circuit design, shortening the LSI development period, and ensuring that all intended monitor signals are properly It can be output to provide appropriate debug information to improve versatility.
以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施例は、本発明の好適な実施例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, since the Example described below is a suitable Example of this invention, various technically preferable restrictions are attached | subjected, However, The scope of the present invention limits this invention especially in the following description. As long as there is no description of the effect, it is not restricted to these aspects.
図1〜図7は、本発明の半導体集積回路の第1実施例を示す図であり、図1は、本発明の半導体集積回路の第1実施例を適用したLSI1のブロック構成図である。
1 to 7 are diagrams showing a first embodiment of a semiconductor integrated circuit according to the present invention. FIG. 1 is a block diagram of an
図1において、LSI(Large Scale Integrated circuit )1は、複数の機能モジュールF0〜Fn、モニタ制御回路MC及びメモリ・アービタ(Memory Arbiter)MA等を搭載しており、各機能モジュールF0〜Fnは、R(Read)−DMAC(Direct Memory Access Controller :DMAコントローラ)、W(Write)−DMAC、R(Read)・W(Write)−DMAC、ユーザ回路及びIP(intellectual property)回路等をその構成要素として実装している。 In FIG. 1, an LSI (Large Scale Integrated circuit) 1 includes a plurality of functional modules F0 to Fn, a monitor control circuit MC, a memory arbiter MA, and the like. R (Read) -DMAC (Direct Memory Access Controller: DMA controller), W (Write) -DMAC, R (Read) / W (Write) -DMAC, user circuit, IP (intellectual property) circuit, and the like as its constituent elements Implemented.
そして、各機能モジュールF0〜Fnの構成要素であるDMAC及びユーザ回路には、モニタ回路MN0〜MNmが実装されており、モニタ制御回路MCは、モニタ回路MN0〜MNmの動作を調停する。 The monitor circuits MN0 to MNm are mounted on the DMAC and the user circuit, which are the components of the functional modules F0 to Fn, and the monitor control circuit MC arbitrates the operations of the monitor circuits MN0 to MNm.
各機能モジュールF0〜Fnの各DMACは、LSI1の外部に接続された図示しないメモリへアクセスする際のアクセス・コントロール機能を有しており、メモリ・アービタMAが、各DMACからのアクセスを制御する。
Each DMAC of each functional module F0 to Fn has an access control function when accessing a memory (not shown) connected outside the
そして、モニタ制御回路MC及び全てのモニタ回路MN0〜MNmは、図2に示すように、各モニタ回路MN0〜MNmの出力する制御信号と出力モニタ信号が順次シリアルに接続されるとともに、モニタ制御回路MCが始点及び終点となるようにチェーン状にシリアル接続されており、前段のモニタ制御回路MCまたはモニタ回路MN0〜MNmから出力される制御信号に従って、その出力するデバッグ信号が変化して、後段のモニタ回路MN0〜MNmまたはモニタ制御回路MCに伝えられる。また、各モニタ回路MN0〜MNmには、該モニタ回路MN0〜MNmを識別する識別情報として識別ID(Identity)が付与されている。 As shown in FIG. 2, the monitor control circuit MC and all the monitor circuits MN0 to MNm are connected serially to the control signals and output monitor signals output from the monitor circuits MN0 to MNm, and the monitor control circuit MC is serially connected in a chain so as to be the start point and end point, and the debug signal to be output changes according to the control signal output from the monitor control circuit MC or the monitor circuits MN0 to MNm in the previous stage, and the subsequent stage This is transmitted to the monitor circuits MN0 to MNm or the monitor control circuit MC. Each monitor circuit MN0 to MNm is assigned an identification ID (Identity) as identification information for identifying the monitor circuits MN0 to MNm.
このように、LSI1は、モニタ制御回路MCとモニタ回路MN0〜MNmが、シリアル接続されているので、同一のインターフェイスによりシリアルに接続することができ、図14に示した従来のように、モニタ制御回路を中心としてモニタ回路を放射状に接続した場合に比較して、モニタ制御回路MCに信号が集中することが無く、また、モニタ回路MN0〜MNmの増減が端子数に影響することがない。
In this way, since the monitor control circuit MC and the monitor circuits MN0 to MNm are serially connected to the
なお、図2に示すように、本実施例のLSI1は、モニタ回路MN0〜モニタ回路MN32までの33個のモニタ回路MN0〜MNmが実装されている。
As shown in FIG. 2, the
モニタ回路MN0〜MNmは、例えば、図3にその要部回路構成を示すように回路構成されており、大きく分けて、第1モニタ回路1MNと第2モニタ回路2MN及び選択回路としてのMUX(multiplexer :マルチプレクサ)100を備えており、第1モニタ回路1MNは、MUX11を備えていて、同期信号を持たず非同期で動作して第1モニタ信号をMUX100に出力し、第2モニタ回路2MNは、MUX21とフリップフロップ(FF)22を備えていて、同期信号としてのクロックCLKに同期して動作して第2モニタ信号をMUX100に出力する。
The monitor circuits MN0 to MNm are, for example, configured as shown in FIG. 3 to show the main circuit configuration. The monitor circuits MN0 to MNm are roughly divided into a first monitor circuit 1MN, a second monitor circuit 2MN, and a MUX (multiplexer) as a selection circuit. The first monitor circuit 1MN includes the MUX 11, operates asynchronously without a synchronization signal, and outputs the first monitor signal to the
モニタ回路MN0〜MNmは、64ビットでバス接続された前段のモニタ回路MN0〜MNmから出力される出力モニタ信号mono_dtが、入力モニタ信号moni_dtとして、入力され、この入力モニタ信号moni_dtが、第1モニタ回路1MNに入力第1モニタ信号として、また、第2モニタ回路2MNに入力第2モニタ信号としてそれぞれ入力される。 The monitor circuits MN0 to MNm receive the output monitor signal mono_dt output from the preceding monitor circuits MN0 to MNm connected in a 64-bit bus as the input monitor signal moni_dt, and the input monitor signal moni_dt is the first monitor signal. An input first monitor signal is input to the circuit 1MN, and an input second monitor signal is input to the second monitor circuit 2MN.
モニタ回路MN0〜MNmは、入力モニタ信号moni_dtを、16ビット毎にA〜Dの4つのグループで管理する。なお、各バス幅およびグループ数は、任意に決定することができる。 The monitor circuits MN0 to MNm manage the input monitor signal moni_dt in four groups A to D every 16 bits. Each bus width and the number of groups can be arbitrarily determined.
第1モニタ回路1MNは、各機能モジュールF0〜Fnのモニタしたい第1内部信号であってそれぞれ複数の第1内部信号からなる第1内部信号群sig0org〜sig7orgが、そのMUX11に入力され、さらに、上記前段のモニタ回路MN0〜MNmの出力する出力モニタ信号mono_dtが入力モニタ信号moni_dtとしてMUX11に入力される。
The first monitor circuit 1MN receives a first internal signal group sig0org to sig7org, each of which is a first internal signal to be monitored by each of the functional modules F0 to Fn, each of which is composed of a plurality of first internal signals. The output monitor signal mono_dt output from the preceding monitor circuits MN0 to MNm is input to the
さらに第1モニタ回路1MNには、モニタ制御回路MCから出力された第1制御信号が、上記シリアル接続されたモニタ回路MN0〜MNmの前段の第1モニタ回路1MNから入力され、この第1制御信号として、第1内部信号群sig0org〜sig7orgの複数の第1内部信号をそれぞれ複数の信号グループA〜Dに分割して各第1内部信号群sig0org〜sig7orgの各第1内部信号を該信号グループA〜D毎にそれぞれまとめる信号選択信号moni_a_sigsel〜moni_d_sigsel、該信号選択信号moni_a_sigsel〜moni_d_sigselでまとめられた各信号グループA〜Dの第1内部信号群sig0org〜sig7orgのうちどの第1内部信号群の信号グループA〜Dを該第1モニタ回路1MNから出力する第1モニタ信号を複数のパートに分割したときのどのパートに割り当てるかを選択するグループ選択信号moni_a_gsel〜moni_d_gselと、該出力する第1モニタ信号を分割した各パート毎にグループ選択信号moni_a_gsel〜moni_d_gselで選択された信号グループA〜Dと前段のモニタ回路MN0〜MNmから出力される出力モニタ信号mono_dtの対応するパートの出力モニタ信号mono_dtである入力モニタ信号moni_dtのうちいずれか一方を該第1モニタ回路1MNから出力する第1モニタ信号として選択する機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csと、が入力される。この第1制御信号は、モニタ回路MN0〜MNmから信号選択信号mono_a_sigsel〜とmono_d_sigsel、グループ選択信号mono_a_gsel〜とmono_d_gsel及び機能ブロック信号mono_a_cs〜mono_d_csとして出力されて、次段のモニタ回路MN0〜MNmの第1モニタ回路1MNに入力される。また、第1モニタ回路1MNには、さらに、モニタ回路MN0〜MNmに付与されている上記識別IDに対応する第1モニタ識別番号mon_idがモニタ制御回路MCから入力される。 Further, the first control signal output from the monitor control circuit MC is input to the first monitor circuit 1MN from the first monitor circuit 1MN before the serially connected monitor circuits MN0 to MNm. As described above, a plurality of first internal signals of the first internal signal groups sig0org to sig7org are divided into a plurality of signal groups A to D, and the first internal signals of the first internal signal groups sig0org to sig7org are assigned to the signal group A. Signal group of signal selection signals moni_a_sigsel to moni_d_sigsel to be grouped for each D, and signal group of which first internal signal group among the first internal signal groups sig0org to sig7org of each signal group A to D grouped by the signal selection signals moni_a_sigsel to moni_d_sigsel A group selection signal for selecting which part is assigned when the first monitor signal output from the first monitor circuit 1MN is divided into a plurality of parts. Moni_a_gsel to moni_d_gsel, signal groups A to D selected by group selection signals moni_a_gsel to moni_d_gsel for each part obtained by dividing the output first monitor signal, and output monitor signals output from the preceding monitor circuits MN0 to MNm Function block signals moni_a_cs to moni_d_cs that select one of the input monitor signals moni_dt, which is the output monitor signal mono_dt of the part corresponding to mono_dt, as the first monitor signal output from the first monitor circuit 1MN are input. . The first control signals are output from the monitor circuits MN0 to MNm as signal selection signals mono_a_sigsel to mono_d_sigsel, group selection signals mono_a_gsel to and mono_d_gsel, and function block signals mono_a_cs to mono_d_cs, and are output from the monitor circuits MN0 to MNm in the next stage. 1 is input to the monitor circuit 1MN. The first monitor circuit 1MN further receives a first monitor identification number mon_id corresponding to the identification ID given to the monitor circuits MN0 to MNm from the monitor control circuit MC.
一方、第2モニタ回路2MNは、上述のように、MUX21とフリップフロップ(FF)22を備え、各機能モジュールF0〜Fnのモニタしたい第2内部信号として、マスタであるDMACの出すリクエスト信号reqとスレーブであるメモリ・アービタMAからの応答信号ack、DMACがメモリ・アービタMAに対してライト・アクセスの場合、DMACが転送データと同期して出すデータ有効信号data_validとメモリ・アービタMAが出す応答信号data_acceptが入力され、また、第2制御信号として、同期信号であるクロックCLKとモニタ回路MN0〜MNmに付与されている上記識別IDに対応する第2モニタ識別番号pmnunがモニタ制御回路MCから入力される。 On the other hand, the second monitor circuit 2MN includes the MUX 21 and the flip-flop (FF) 22 as described above, and the request signal req output from the master DMAC as the second internal signal to be monitored by each of the functional modules F0 to Fn. A response signal ack from the memory arbiter MA as a slave, and a data valid signal data_valid that the DMAC outputs in synchronization with the transfer data and a response signal that the memory arbiter MA outputs when the DMAC is a write access to the memory arbiter MA. data_accept is input, and a second control identification signal pmnun corresponding to the identification ID given to the clock CLK as a synchronization signal and the monitor circuits MN0 to MNm is input from the monitor control circuit MC as the second control signal. The
第2モニタ回路2MNは、MUX21で、第2モニタ識別番号pmnumに基づいて第2内部信号と入力モニタ信号moni_dtを選択してフリップフロップ22に出力し、フリップフロップ22は、クロックCLKに同期させてMUX21から入力される信号を第2モニタ信号としてMUX100に出力する。
The second monitor circuit 2MN uses the MUX 21 to select the second internal signal and the input monitor signal moni_dt based on the second monitor identification number pmnum and output them to the flip-flop 22, and the flip-flop 22 is synchronized with the clock CLK. A signal input from the MUX 21 is output to the
MUX100は、第1モニタ回路1MNからの第1モニタ信号とフリップフロップ22からの第2モニタ信号が入力され、第1制御信号である機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csを選択信号として第1モニタ信号と第2モニタ信号の一方を選択して出力モニタ信号mono_dtとして次段のモニタ回路MN0〜MNmに出力する。
The
次に、本実施例の作用を説明する。本実施例のLSI1は、その搭載するモニタ回路MN0〜MNmが、非同期動作する第1モニタ回路1MNと同期動作する第2モニタ回路2MNを有し、内部信号とシリアル接続されるモニタ信号を適宜選択して出力する。
Next, the operation of this embodiment will be described. In the
すなわち、各機能モジュールF0〜Fnの構成要素であるDMAC及びユーザ回路には、モニタ回路MN0〜MNmが実装されており、モニタ制御回路MCは、モニタ回路MN0〜MNmの動作を制御する。 That is, the monitor circuits MN0 to MNm are mounted on the DMAC and the user circuit that are the components of the functional modules F0 to Fn, and the monitor control circuit MC controls the operations of the monitor circuits MN0 to MNm.
そして、各モニタ回路MN0〜MNmの第1モニタ回路1MNは、図3に示したように、64ビットでバス接続された前段のモニタ回路MN0〜MNm(特に、第1モニタ回路1MN)から入力される入力モニタ信号moni_dtを、16ビット毎にA〜Dの4つのグループで管理する。 Then, as shown in FIG. 3, the first monitor circuit 1MN of each of the monitor circuits MN0 to MNm is input from the preceding monitor circuits MN0 to MNm (particularly, the first monitor circuit 1MN) connected in a 64-bit bus. The input monitor signal moni_dt is managed in four groups A to D every 16 bits.
そして、第1モニタ回路1MNは、各機能モジュールF0〜Fnのモニタしたい第1内部信号が、第1内部信号群「sig0org」〜「sig7org」として、MUX11に入力され、その中から第1モニタ信号として出力したい信号を、信号選択信号moni_a_sigsel〜とmoni_d_sigselに基づいて、4つ選択する(選択信号A〜選択信号D)。
The first monitor circuit 1MN inputs the first internal signals to be monitored by the functional modules F0 to Fn to the
さらに、第1モニタ回路1MNは、選択した4つの信号(選択信号A〜選択信号D)を、それぞれ出力モニタ信号mono_dtと同様に、A〜Dの4つのグループに分けて、グループ選択信号moni_a_gsel〜とmoni_d_gselに従って、各グループA〜Dに属する入力モニタ信号moni_dtを選択する(選択グループA〜選択グループD)。 Further, the first monitor circuit 1MN divides the four selected signals (selection signal A to selection signal D) into four groups A to D, respectively, similarly to the output monitor signal mono_dt, and selects group selection signals moni_a_gsel to And the input monitor signals moni_dt belonging to the groups A to D are selected in accordance with moni_d_gsel (selected group A to selected group D).
そして、第1モニタ回路1MNは、第1モニタ識別番号mon_idと機能ブロック信号mono_a_cs〜mono_d_csに基づいて上記選択した第1内部信号と入力モニタ信号moni_dtから第1モニタ信号を選択して、MUX100に出力する。すなわち、第1モニタ回路1MNは、第1モニタ識別番号mon_idと機能ブロック信号mono_a_cs〜mono_d_csが一致するグループについては、該グループの第1内部信号を該機能モジュールF0〜Fnの第1モニタ回路1MNから出力する第1モニタ信号の該グループの信号として選択してMUX100に出力し、第1モニタ識別番号mon_idと機能ブロック信号mono_a_cs〜mono_d_csが一致しないグループについては、前段のモニタ回路MN0〜MNmから入力される入力モニタ信号moni_dtの該当するグループの入力モニタ信号moni_dtをそのまま第1モニタ信号としてMUX100に出力する。
The first monitor circuit 1MN selects the first monitor signal from the selected first internal signal and the input monitor signal moni_dt based on the first monitor identification number mon_id and the functional block signals mono_a_cs to mono_d_cs, and outputs the first monitor signal to the
例えば、図4に示すように、信号選択信号moni_a_sigsel〜moni_d_sigselが、「2」、「7」、「0」、「1」で、グループ選択信号moni_a_gsel〜moni_d_gselが、「2」、「0」、「0」、「3」、機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csが、「11」、「12」、「5」、「11」、そして、第1モニタ識別番号mon_idが、「11」の場合、第1モニタ回路1MNは、まず、信号選択信号「moni_a_sigsel」=2に従って、選択信号A=「sig2org」を選択し、以下同様に、信号選択信号「moni_b_sigsel」=7、信号選択信号「moni_c_sigsel」=0、信号選択信号「moni_d_sigsel」=1に従って、選択信号B=「sig7org」、選択信号C=「sig0org」、選択信号D=「sig1org」をそれぞれ選択する。さらに、第1モニタ回路1MNは、いま、グループA〜Dの識別値が「0」〜「3」となっており、「moni_a_gsel」=2は、選択信号Aの中からグループCを選択することを示しているので、選択グループA=C2が選択される。以下同様に、グループ選択信号「moni_b_gsel」=0、グループ選択信号「moni_c_gsel」=0、グループ選択信号「moni_d_gsel」=3に、従って、選択グループB=A7、選択グループC=A0、選択グループD=D1をそれぞれ選択する。 For example, as shown in FIG. 4, the signal selection signals moni_a_sigsel to moni_d_sigsel are “2”, “7”, “0”, “1”, and the group selection signals moni_a_gsel to moni_d_gsel are “2”, “0”, When “0”, “3”, function block signals moni_a_cs to moni_d_cs are “11”, “12”, “5”, “11”, and the first monitor identification number mon_id is “11”, the first The monitor circuit 1MN first selects the selection signal A = “sig2org” according to the signal selection signal “moni_a_sigsel” = 2, and similarly, the signal selection signal “moni_b_sigsel” = 7, the signal selection signal “moni_c_sigsel” = 0, According to the signal selection signal “moni_d_sigsel” = 1, the selection signal B = “sig7org”, the selection signal C = “sig0org”, and the selection signal D = “sig1org” are selected. Furthermore, the identification values of the groups A to D are now “0” to “3” in the first monitor circuit 1MN, and “moni_a_gsel” = 2 selects the group C from the selection signal A. it indicates, it is selected selection group a = C 2. Similarly, the group selection signal “moni_b_gsel” = 0, the group selection signal “moni_c_gsel” = 0, the group selection signal “moni_d_gsel” = 3, and accordingly, the selection group B = A 7 , the selection group C = A 0 , the selection group Select D = D 1 respectively.
そして、図4において、第1モニタ回路1MNは、第1モニタ識別番号mon_id=11に対して、機能ブロック信号mono_a_cs〜mono_d_csのうち、機能ブロック信号moni_a_cs及び機能ブロック信号moni_d_csが、それぞれ「11」で一致しているため、図4の中央下部に示すように、選択グループA及び選択グループDについては、上記選択した第1内部信号の該当するグループA、Dの信号(C2、D1)を第1モニタ信号として選択してMUX100に出力し、選択グループB及び選択グループCについては、前段のモニタ回路MN0〜MNmから入力される入力モニタ信号moni_dtのグループB及びグループCの信号に置き換えてMUX100に出力する。なお、図4において、ハッチングで示す部分は、第1モニタ信号の出力時に第1内部信号が第1モニタ回路1MNに入力される入力モニタ信号moni_dtのグループの信号に置き換えられるパートを示している。
In FIG. 4, the first monitor circuit 1MN has a function block signal moni_a_cs and a function block signal moni_d_cs of “11” among the function block signals mono_a_cs to mono_d_cs for the first monitor identification number mon_id = 11. As shown in the lower center of FIG. 4, for the selected group A and the selected group D, the signals (C 2 , D 1 ) of the corresponding groups A and D of the selected first internal signal are used. The first monitor signal is selected and output to the
また、第1モニタ回路1MNは、例えば、図5に示すように、m=0〜31の32個がシリアル接続されている場合、モニタ回路MN0〜MNmの識別IDとして、第1モニタ識別番号mon_idにそれぞれ0〜31が与えられており、機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csとして、機能ブロック信号moni_a_cs=0、機能ブロック信号moni_b_cs=1、機能ブロック信号moni_b=2、機能ブロック信号moni_d_cs=32が与えられると、まず、機能ブロック信号moni_a_cs=0に従って第1モニタ回路1MN0は、入力モニタ信号moni_dtを、グループAのみを、所望の第1内部信号に置き換えて第1モニタ信号として後段の第1モニタ回路1MN1に出力する。同様に、第1モニタ回路MN1は入力モニタ信号moni_dtのグループBのみを所望の第1内部信号に置き換えて、第1モニタ信号として後段の第1モニタ回路1MN2に出力し、第1モニタ回路1MN2は、入力モニタ信号moni_dtのグループCのみを所望の第1内部信号に置き換えて、第1モニタ信号として後段の第1モニタ回路1MN3に出力する。 Further, for example, as shown in FIG. 5, the first monitor circuit 1MN has a first monitor identification number mon_id as an identification ID of the monitor circuits MN0 to MNm when 32 pieces of m = 0 to 31 are serially connected. 0 to 31 are respectively given, and as the function block signals moni_a_cs to moni_d_cs, the function block signal moni_a_cs = 0, the function block signal moni_b_cs = 1, the function block signal moni_b = 2, and the function block signal moni_d_cs = 32 First, according to the function block signal moni_a_cs = 0, the first monitor circuit 1MN0 replaces only the group A with the desired first internal signal for the input monitor signal moni_dt as the first monitor signal to the first monitor circuit 1MN1 at the subsequent stage. Output. Similarly, the first monitor circuit MN1 replaces only the group B of the input monitor signal moni_dt with a desired first internal signal and outputs it as a first monitor signal to the first monitor circuit 1MN2 at the subsequent stage, and the first monitor circuit 1MN2 Then, only the group C of the input monitor signal moni_dt is replaced with a desired first internal signal, and is output to the first monitor circuit 1MN3 at the subsequent stage as the first monitor signal.
そして、グループDについては、機能ブロック信号moni_d_cs=32に一致するID番号mon_idを有するモニタ回路MN0〜MNmが存在しないため、入力モニタ信号moni_dtが置き換えられずに、そのまま出力される。 For group D, there is no monitor circuit MN0 to MNm having an ID number mon_id that matches the functional block signal moni_d_cs = 32. Therefore, the input monitor signal moni_dt is output as it is without being replaced.
なお、図5において、ハッチングで示す部分は、入力モニタ信号moni_dtが、モニタ信号出力時に第1内部信号で置換されるグループを示している。 In FIG. 5, a hatched portion indicates a group in which the input monitor signal moni_dt is replaced with the first internal signal when the monitor signal is output.
そして、上記第2モニタ回路2MNにおいては、図6に示すように、MUX21に入力される第2内部信号は、DMACの出すリクエスト信号「req」とスレーブであるメモリ・アービタMAからの応答信号「ack」が共にアクティブ「High」であるときに、コマンド送信の成立、さらに、DMACがメモリ・アービタMAに対してライト・アクセスの場合、DMACが転送データと同期して出すデータ有効信号「data_valid」とメモリ・アービタMAが出す応答信号「data_accept」、あるいは、DMACがメモリ・アービタMAに対してリード・アクセスの場合、メモリ・アービタMAが「data_valid」、DMACが「data_accept」をそれぞれ出力し、共にアクティブ「High」であるときに、データ転送の成立となる。 In the second monitor circuit 2MN, as shown in FIG. 6, the second internal signal input to the MUX 21 is a request signal “req” issued by the DMAC and a response signal “req” from the memory arbiter MA as a slave. When both “ack” are active “High”, the command transmission is established, and further, when the DMAC is a write access to the memory arbiter MA, the data valid signal “data_valid” which the DMAC outputs in synchronization with the transfer data And the response signal “data_accept” issued by the memory arbiter MA, or when the DMAC performs read access to the memory arbiter MA, the memory arbiter MA outputs “data_valid” and the DMAC outputs “data_accept”. Data transfer is established when active "High".
そして、MUX21は、入力モニタ信号moni_dtのうち、第2モニタ識別番号pmnumによって選択された信号を、この第2内部信号に置き換えてMUX21からフリップフロップ22に出力し、フリップフロップ22は、クロックCLKに同期してMUX21から入力される信号を第2モニタ信号としてMUX100に出力する。
Then, the MUX 21 replaces the signal selected by the second monitor identification number pmnum in the input monitor signal moni_dt with this second internal signal and outputs the signal from the MUX 21 to the flip-flop 22, and the flip-flop 22 receives the clock CLK. A signal input from the MUX 21 in synchronization is output to the
MUX100は、MUX11からの第1モニタ信号とフリップフロップ22からの第2モニタ信号が入力されているとともに、第1モニタ回路1MNから機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csが入力され、機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csに基づいて第1モニタ信号と第2モニタ信号の一方を選択して出力モニタ信号mono_dtとして次段のモニタ回路MN0〜MNmに出力に出力する。
The
そして、本実施例のLSI1は、上述のように、上記モニタ回路MN0〜MNmが、図7に示すように、モニタ制御回路MCを含めてチェーン状にシリアル接続されている。なお、図7において、ハッチングで示す部分は、入力モニタ信号moni_dtが、モニタ信号出力時に第2内部信号で置換されるグループを示している。
In the
そして、本実施例のLSI1の各モニタ回路MN0〜MNmは、予め設定された機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_cs、例えば、機能ブロック信号moni_c_csに、図7に示すように、そのモニタ回路MN0〜MNmで識別ID(mon_id)として使用されていない番号(未付与識別情報)、例えば、「33」が、に指定されると、入力モニタ信号moni_dtの所望の2本を、第2内部信号であるリクエスト信号「req」と応答信号「ack」の論理積及びデータ有効信号「data_valid」と応答信号「data_accept」の論理積の各値に置き換えて、出力モニタ信号mono_dtとして、後段のモニタ回路MN0〜MNmに出力する。
Then, the monitor circuits MN0 to MNm of the
そして、第2モニタ回路2MNは、入力モニタ信号moni_dtのうち第2制御信号で置き換える2本の入力モニタ信号moni_dtが、第2モニタ識別番号pmnumによって一意に決定される。 In the second monitor circuit 2MN, two input monitor signals moni_dt to be replaced with the second control signal in the input monitor signal moni_dt are uniquely determined by the second monitor identification number pmnum.
このように、本実施例のLSI1は、機能モジュールF0〜Fnのモニタ回路MN0〜MNmが、非同期で動作する第1モニタ回路1MNと同期信号に同期して動作する第2モニタ回路2MN及び選択回路としてのMUX100を有し、第1モニタ回路1MNが、機能モジュールF0〜Fnの第1内部信号から第1制御信号に応じて適宜選択した第1内部信号を第1モニタ信号として選択し、第2モニタ回路2MNが、機能モジュールF0〜Fnの第2内部信号から第2制御信号に応じて適宜選択した第2内部信号を第2モニタ信号として選択し、MUX100が、選択信号に基づいて第1モニタ信号と第2モニタ信号のいずれか一方を出力モニタ信号mono_dtとして選択して出力している。
As described above, in the
したがって、内部信号を非同期と同期で適宜選択して出力することができ、回路設計の後工程である合成時のタイミング調整の作業を容易なものとし、LSI開発期間を短縮させることができる。また、第1モニタ回路1MNは、その出力を、クロックで同期化させていないため、詳細なタイミングを見るような解析や基準信号(クロック)を必要とするようなデバッグ装置による詳細な解析に用いることは困難であるが、異なるクロックで生成されたモニタ信号を混載してもデータの欠落等が発生することを防止することができる。 Therefore, internal signals can be appropriately selected and output asynchronously and synchronously, the timing adjustment operation at the time of synthesis, which is a subsequent process of circuit design, can be facilitated, and the LSI development period can be shortened. Further, since the output of the first monitor circuit 1MN is not synchronized with the clock, the first monitor circuit 1MN is used for an analysis for checking a detailed timing or a detailed analysis by a debugging device that requires a reference signal (clock). Although it is difficult, it is possible to prevent data loss or the like from occurring even when monitor signals generated with different clocks are mixedly mounted.
また、本実施例のLSI1は、モニタ回路MN0〜MNmがそれぞれ搭載する機能モジュールF0〜Fnを複数搭載し、複数のモニタ回路MN0〜MNmは、少なくとも出力モニタ信号mono_dtと第1制御信号がシリアル接続されており、第1モニタ回路1MNが、適宜選択した第1内部信号と該前段のモニタ回路MN0〜MNmからの出力モニタ信号mono_dtである入力モニタ信号moni_dtのうち一方を該第1制御信号に基づいて第1モニタ信号として選択し、第2モニタ回路2MNが、選択した第2内部信号と該前段のモニタ回路MN0〜MNmからの出力モニタ信号mono_dtである入力モニタ信号moni_dtのうち一方を第2モニタ信号として選択している。
Further, the
したがって、従来のように放射状にモニタ回路MN0〜MNmをモニタ制御回路MCに接続した場合に比較して、信号が集中することを防止することができ、回路設計の後工程である合成時のタイミング調整の作業を容易なものとし、LSI開発期間を短縮することができる。また、第1制御信号をもシリアルに接続しているので、配線集中をより一層防止することができ、回路設計の後工程である合成時のタイミング調整の作業をより一層容易なものとして、LSI開発期間を短縮させることができるとともに、意図する全てのモニタ信号を適切に出力させて適切なデバッグ情報を提供して汎用性を向上させることができる。 Therefore, compared with the case where the monitor circuits MN0 to MNm are connected to the monitor control circuit MC in a radial manner as in the prior art, the concentration of signals can be prevented, and the timing at the time of synthesis, which is a subsequent process of circuit design. Adjustment work can be facilitated, and the LSI development period can be shortened. In addition, since the first control signal is also serially connected, wiring concentration can be further prevented, and the timing adjustment operation at the time of synthesis, which is a subsequent process of circuit design, can be made easier. The development period can be shortened, and all intended monitor signals can be output appropriately to provide appropriate debug information, thereby improving versatility.
さらに、本実施例のLSI1は、多数の第1内部信号を第1内部信号群sig0org〜sig7orgに分けるとともに、出力する第1モニタ信号をパートに分けて適宜選択して、第1モニタ信号として出力している。
Furthermore, the
したがって、必要な内部信号を適切に選択してモニタすることができ、解析に必要な信号を適切に選択して出力することができる。 Therefore, necessary internal signals can be appropriately selected and monitored, and signals necessary for analysis can be appropriately selected and output.
また、本実施例のLSI1は、各モニタ回路MN0〜MNmが、それぞれ該モニタ回路MN0〜MNmを他のモニタ回路MN0〜MNmと識別する識別ID(識別情報)が予め付与されており、第1モニタ回路1MNが、第1制御信号として、パート毎に該識別IDを用いた機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csと第1モニタ識別番号mon_id(第1識別情報)を用い、該各第1モニタ回路1MNの各パートの出力する第1モニタ信号を選択している。
Further, in the
したがって、機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csと第1モニタ識別番号mon_idによって、モニタ回路MN0〜MNmとパートを特定して、信号の選択を行うことができ、各モニタ回路MN0〜MNm間のインターフェイスを変えることなく性質の異なる信号を取り出すことができる。 Therefore, the monitor circuit MN0 to MNm and the part can be specified by the function block signals moni_a_cs to moni_d_cs and the first monitor identification number mon_id, and the signal can be selected, and the interface between the monitor circuits MN0 to MNm is changed. It is possible to extract signals with different characteristics.
さらに、本実施例のLSI1は、各モニタ回路MN0〜MNmが、それぞれ該モニタ回路MN0〜MNmを他のモニタ回路MN0〜MNmと識別する識別IDが予め付与されており、第2モニタ回路2MNが、第2制御信号として該識別IDを用いた第2モニタ識別番号pmnun(第2識別情報)が入力され、該第2モニタ識別番号pmnunに応じて第2内部信号から選択した第2内部信号を第2モニタ信号として出力している。
Further, in the
したがって、第2モニタ識別番号pmnunによって、モニタ回路MN0〜MNmを特定して、信号の選択を行うことができ、各モニタ回路MN0〜MNm間のインターフェイスを変えることなく性質の異なる信号を取り出すことができる。 Therefore, the monitor circuits MN0 to MNm can be specified by the second monitor identification number pmnun to select signals, and signals having different properties can be taken out without changing the interface between the monitor circuits MN0 to MNm. it can.
また、本実施例のLSI1は、第2モニタ回路2MNが、同期信号として所定のクロックCLKが入力されている。
Further, in the
したがって、クロックCLKとして外部の解析装置からのクロックCLKを入力することで、データ欠落を防止しつつ解析装置と同期させた第2内部信号を出力モニタ信号mono_dtとして出力することができ、汎用的な解析装置を使用して、より詳細で高性能な解析を行うことができるとともに、解析等を効率化することができる。 Therefore, by inputting the clock CLK from the external analysis device as the clock CLK, the second internal signal synchronized with the analysis device can be output as the output monitor signal mono_dt while preventing data loss. The analysis device can be used to perform more detailed and high-performance analysis, and the analysis can be made more efficient.
また、本実施例のモニタ回路MN0〜MNmは、本来グループ選択のためのパラメータである機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csを、第1モニタ回路1MNの出力する第1モニタ信号と第2モニタ回路2MNの出力する第2モニタ信号から出力する出力モニタ信号mono_dtを選択する制御信号としても用いている。 In addition, the monitor circuits MN0 to MNm of the present embodiment output the function block signals moni_a_cs to moni_d_cs, which are originally parameters for group selection, from the first monitor signal output from the first monitor circuit 1MN and the output from the second monitor circuit 2MN. It is also used as a control signal for selecting the output monitor signal mono_dt output from the second monitor signal.
したがって、出力モニタ信号mono_dtの選択用に新たなパラメータを用意する必要がなく、追加端子を最小限に抑えることができる。 Therefore, it is not necessary to prepare a new parameter for selecting the output monitor signal mono_dt, and the additional terminals can be minimized.
さらに、本実施例のLSI1は、メモリ・アービタMAに接続されているDMACについて、本実施例のモニタ回路MN0〜MNmを用い、メモリ・アービタMAとDMACのリクエスト頻度として、リクエスト信号「req」、応答信号「ack」を、データ転送率として、データ有効信号「data_valid」、応答信号「data_accept」を出力モニタ信号mono_dtとして外部に出力している。
Further, the
したがって、解析装置を用いて、リクエスト頻度やデータ転送率のパフォーマンス解析を行うことができる。 Therefore, it is possible to perform a performance analysis of request frequency and data transfer rate using an analysis device.
図8及び図9は、本発明の半導体集積回路の第2実施例を示す図であり、図8は、本発明の半導体集積回路の第2実施例を適用したLSIに実装されているモニタ回路3MN0〜3MNmの要部回路構成図である。 8 and 9 are diagrams showing a second embodiment of the semiconductor integrated circuit of the present invention, and FIG. 8 shows a monitor circuit mounted on an LSI to which the second embodiment of the semiconductor integrated circuit of the present invention is applied. It is a principal part circuit block diagram of 3MN0-3MNm.
なお、本実施例は、上記第1実施例のLSI1と同様のLSIに適用され、その搭載する全て、または、一部のモニタ回路が図8に示すモニタ回路3MN0〜3MNmに変更されている。そこで、本実施例の説明においては、必要に応じて、第1実施例で用いた符号をそのまま用いて説明する。
The present embodiment is applied to an LSI similar to the
本実施例のモニタ回路3MN0〜3MNmは、大きく分けて、上記第1実施例と同様のモニタ回路MN0〜MNmの第1モニタ回路1MNと第2モニタ回路32MN及び第1実施例と同様の選択回路としてのMUX100を備えている。第1モニタ回路1MNは、MUX11を備えていて、同期信号を持たず非同期で動作して第1モニタ信号を出力し、第2モニタ回路32MNは、MUX31とフリップフロップ(FF)32を備えていて、同期信号としてのクロックCLKに同期して動作してフリップフロップ32からMUX100に第2モニタ信号を出力する。
The monitor circuits 3MN0 to 3MNm of the present embodiment are roughly divided into the first monitor circuit 1MN and the second monitor circuit 32MN of the monitor circuits MN0 to MNm similar to the first embodiment and the selection circuit similar to the first embodiment. As a MUX100. The first monitor circuit 1MN includes a
本実施例のモニタ回路3MN0〜3MNmは、第1実施例のモニタ回路MN0〜MNmが、主に、メモリアクセスの際にリードあるいはライトのみの一方向のアクセスとなるDMACに適応したものであるのに対して、リードおよびライトの双方向アクセスとなるDMAC(図1のRW−DMAC等)に適用される。 The monitor circuits 3MN0 to 3MNm of this embodiment are adapted to the DMAC in which the monitor circuits MN0 to MNm of the first embodiment are mainly used for one-way access only for reading or writing at the time of memory access. On the other hand, the present invention is applied to a DMAC (RW-DMAC in FIG. 1 or the like) which is a bidirectional access for reading and writing.
第1モニタ回路1MNへ入力される信号は、上記第1実施例と同様の第1内部信号と第1制御信号であり、第1モニタ回路1MNは、上記同様に動作して、第1モニタ信号をMUX100に出力する。 The signals input to the first monitor circuit 1MN are the first internal signal and the first control signal similar to those in the first embodiment, and the first monitor circuit 1MN operates in the same manner as described above, and the first monitor signal Is output to the MUX100.
第2モニタ回路32MNは、第2制御信号として、第1実施例の場合と同様に、クロックCLK及び第2モニタ識別番号pmnumが入力されるが、第2内部信号は、リードおよびライトの双方向アクセスとなるDMACに対応するように、DMACの出すライト・リクエスト信号「req_w」、リード・リクエスト信号「req_r」、リード及びライト・リクエストに対するリクエスト応答信号「ack」、ライト・データ転送と同期して出力されるデータ有効信号「data_valid」及びそれに対する応答信号「data_accept」、リード・データ転送と同期して受信する「resp」及びそれに対する応答信号「resp_accept」が入力される。 As in the case of the first embodiment, the second monitor circuit 32MN receives the clock CLK and the second monitor identification number pmnum as the second control signal, but the second internal signal is a read / write bidirectional signal. Synchronize with the write request signal “req_w”, the read request signal “req_r”, the request response signal “ack” for the read and write requests, and the write data transfer, so as to correspond to the DMAC to be accessed. The data valid signal “data_valid” to be output and the response signal “data_accept” corresponding thereto, “resp” received in synchronization with the read data transfer, and the response signal “resp_accept” corresponding thereto are input.
そして、MUX31は、ライト・リクエスト信号「req_w」とリクエスト応答信号「ack」、リード・リクエスト信号「req_r」とリクエスト応答信号「ack」及びデータ有効信号「data_valid」「data_valid」と応答信号「data_accept」、「resp」と「resp_accept」の各論理積の1つと、入力モニタ信号moni_dtのうち、第2モニタ識別番号pmnumによって選択した信号をフリップフロップ32に出力し、フリップフロップ32は、MUX31から入力される信号をクロックに同期させてMUX100に第2モニタ信号として出力する。
The
そして、本実施例の各モニタ回路3MN0〜3MNmは、予め設定された機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_cs、例えば、機能ブロック信号moni_c_csに、図9に示すように、そのモニタ回路3MN0〜3MNmで識別ID(mon_id)として使用されていない番号(未付与識別情報)、例えば、「32」が指定されると、モニタ回路3MN0〜3MNmが入力モニタ信号moni_dtのうち所望の本数を、上記第2内部信号で置き換える。 Then, each of the monitor circuits 3MN0 to 3MNm of the present embodiment uses the function block signals moni_a_cs to moni_d_cs, for example, the function block signal moni_c_cs set in advance, as shown in FIG. When a number not used as mon_id) (unassigned identification information), for example, “32” is designated, the monitor circuits 3MN0 to 3MNm replace the desired number of input monitor signals moni_dt with the second internal signal. .
いま、図9では、モニタ回路3MN0が、入力モニタ信号moni_dtのうち4本の入力モニタ信号moni_dtを第2内部信号で置き換えるタイプで、それ以外のモニタ回路3MN1〜MN31が2本の入力モニタ信号moni_dtを置き換えるタイプの場合を示している。 In FIG. 9, the monitor circuit 3MN0 is a type in which four input monitor signals moni_dt of the input monitor signal moni_dt are replaced with second internal signals, and the other monitor circuits 3MN1 to MN31 are two input monitor signals moni_dt. The case of the type that replaces is shown.
そして、いま、機能ブロック信号moni_c_csに、「32」が設定されると、1信号グループ当たり2本の入力モニタ信号moni_dtを制御することができるので、モニタ回路3MN0は、2つのグループ(グループ0、グループ1)の入力モニタ信号moni_dtを同時に上記第2内部信号に置き換え、それ以外のモニタ回路3MN1〜3MNmは、1つのグループのみの入力モニタ信号moni_dtを第2内部信号に置き換えて、出力モニタ信号mono_dtとして出力する。
Now, when “32” is set in the functional block signal moni_c_cs, two input monitor signals moni_dt can be controlled per signal group, so that the monitor circuit 3MN0 has two groups (
このように、本実施例のLSI1のモニタ回路3MN0〜3MNmは、異なるサイズの入力モニタ信号moni_dtの出力を基本的な構造を変えることなく、既存の回路である第1モニタ回路1MNを流用して作成することができ、設計工数及び検証期間を短縮することができる。
As described above, the monitor circuits 3MN0 to 3MNm of the
図10は、本発明の半導体集積回路の第3実施例を適用したLSIに実装されているモニタ回路4MN0〜4MNmの要部回路構成図である。 FIG. 10 is a circuit diagram showing the principal parts of the monitor circuits 4MN0 to 4MNm mounted on the LSI to which the third embodiment of the semiconductor integrated circuit of the present invention is applied.
なお、本実施例は、上記第1実施例のLSI1であって、その搭載するモニタ回路MN0〜MNmの全て、または、一部が図10に示すモニタ回路4MN0〜4MNmに変更されているLSI1に適用したものであり、本実施例の説明において、必要に応じて、第1実施例で用いた符号をそのまま用いて説明する。
The present embodiment is the
図10において、モニタ回路4MN0〜4MNmは、第1実施例と同様の第1モニタ回路1MNと第2モニタ回路42MN及び選択回路である第1実施例と同様のMUX100を備えており、第1モニタ回路1MNへ入力される信号は、上記第1実施例と同様の第1内部信号と第1制御信号である。
In FIG. 10, the monitor circuits 4MN0 to 4MNm include a first monitor circuit 1MN similar to the first embodiment, a second monitor circuit 42MN, and a
第2モニタ回路42MNは、フリップフロップ(FF)41で構成されており、第2モニタ回路42MNには、第2制御信号として、クロックCLKが入力される。また、第2モニタ回路42MNには、入力モニタ信号moni_dtのみが入力されており、第2内部信号は入力されていない。 The second monitor circuit 42MN includes a flip-flop (FF) 41, and a clock CLK is input to the second monitor circuit 42MN as a second control signal. Further, only the input monitor signal moni_dt is input to the second monitor circuit 42MN, and the second internal signal is not input.
本実施例のモニタ回路4MN0〜4MNmは、上記各実施例と同様に、シリアルに接続されていて、該モニタ回路4MN0〜4MNmを識別する識別情報として識別ID(Identity)「mon_id」として、「0」〜「31」が排他的に割り当てられており、第1実施例のモニタ回路MN0〜MNmと同様に、第1モニタ回路1MNが第1制御信号に基づいて第1内部信号と入力モニタ信号moni_dtから第1モニタ信号を選択してMUX100に出力する。
The monitor circuits 4MN0 to 4MNm according to the present embodiment are serially connected in the same manner as the above embodiments, and “0” is set as an identification ID (Identity) “mon_id” as identification information for identifying the monitor circuits 4MN0 to 4MNm. ”To“ 31 ”are assigned exclusively, and similarly to the monitor circuits MN0 to MNm of the first embodiment, the first monitor circuit 1MN receives the first internal signal and the input monitor signal moni_dt based on the first control signal. The first monitor signal is selected and output to the
また、第2モニタ回路42MNは、クロックCLKに同期させて、入力モニタ信号moni_dtをMUX100に出力する。
The second monitor circuit 42MN outputs the input monitor signal moni_dt to the
そして、MUX100は、機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csに基づいて、第1モニタ信号と第2モニタ信号を適宜選択して、出力モニタ信号mono_dtとして出力する。
Then, the
そして、本実施例のモニタ回路4MN0〜4MNmは、第1制御信号の所定の機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_cs、例えば、機能ブロック信号moni_c_csに、モニタ回路MN0〜MNmで識別ID(mon_id)として使用されていない番号(未付与識別情報)、例えば、「32」が、に指定されると、入力される入力モニタ信号moni_dtを同期信号であるクロックCLKに同期させて出力する。 The monitor circuits 4MN0 to 4MNm of the present embodiment are used as identification IDs (mon_id) by the monitor circuits MN0 to MNm for predetermined function block signals moni_a_cs to moni_d_cs of the first control signal, for example, the function block signal moni_c_cs. When no number (unassigned identification information), for example, “32” is specified, the input monitor signal moni_dt that is input is output in synchronization with the clock CLK that is a synchronization signal.
このように、本実施例のモニタ回路4MN0〜4MNm簡単な構成で、入力モニタ信号moni_dtをクロックに同期させて後段のモニタ回路4MN0〜4MNmに出力することができ、安価かつ容易にタイミング調整したモニタ信号を出力させることができる。 As described above, the monitor circuits 4MN0 to 4MNm according to the present embodiment can be output to the subsequent monitor circuits 4MN0 to 4MNm in synchronization with the clock with the simple configuration, and the monitor can be adjusted easily at a low cost. A signal can be output.
図11及び図12は、本発明の半導体集積回路の第4実施例を示す図であり、図11は、本発明の半導体集積回路の第4実施例を適用したLSIに実装されているモニタ回路5MN0〜5MNmの要部回路構成図である。 11 and 12 are diagrams showing a fourth embodiment of the semiconductor integrated circuit according to the present invention. FIG. 11 shows a monitor circuit mounted on an LSI to which the fourth embodiment of the semiconductor integrated circuit according to the present invention is applied. It is a principal part circuit block diagram of 5MN0-5MNm.
なお、本実施例は、上記第1実施例のLSI1であって、その搭載するモニタ回路MN0〜MNmの一部または全部が図11に示すモニタ回路5MN0〜5MNmに変更されているLSI1に適用したものであり、本実施例の説明において、必要に応じて、第1実施例で用いた符号をそのまま用いて説明する。
The present embodiment is applied to the
図11において、モニタ回路5MN0〜5MNmは、大きく分けて、第1実施例と同様の第1モニタ回路1MNと第2モニタ回路52MN及び第1実施例と同様の選択回路としてのMUX100を備えている。
In FIG. 11, the monitor circuits 5MN0 to 5MNm are roughly divided into a first monitor circuit 1MN and a second monitor circuit 52MN similar to the first embodiment, and a
第1モニタ回路1MNは、第1実施例と同様であり、MUX11を備えていて、同期信号を持たず非同期で動作して第1モニタ信号を出力し、第2モニタ回路52MNは、MUX51とフリップフロップ(FF)52を備えていて、同期信号としてのクロックCLKに同期して動作してフリップフロップ52からMUX100に第2モニタ信号を出力する。
The first monitor circuit 1MN is the same as that of the first embodiment, includes the
本実施例のモニタ回路5MN0〜5MNmは、MUX51に、同期信号としてのクロックCLKに同期して出力する第2内部信号として、図1に示す半導体IP(Intellectual Property)の信号であるIP信号群sig0org_jp〜sig7org_JPが入力され、さらに、入力モニタ信号moni_dtが入力される。
The monitor circuits 5MN0 to 5MNm according to the present embodiment output the IP signal group sig0org_jp which is a signal of the semiconductor IP (Intellectual Property) shown in FIG. 1 as the second internal signal output to the
第2モニタ回路52MNのMUX51は、第1モニタ回路1MNの第1制御信号である機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csが第2制御信号として入力され、該機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csに基づいてIP信号群sig0org_jp〜sig7org_JPと入力モニタ信号moni_dtから適宜選択した信号をフリップフロップ52に出力する。フリップフロップ52は、クロックに同期させてMUX51からの信号を第2モニタ信号としてMUX100に出力する。
The
半導体IPにあらかじめ用意されているIP信号群sig0org_jp〜sig7org_JPは、第1内部信号群sig0org〜sig7orgとは異なり、グループ分けが困難な場合がある。 Unlike the first internal signal groups sig0org to sig7org, the IP signal groups sig0org_jp to sig7org_JP prepared in advance for the semiconductor IP may be difficult to group.
そこで、いま、図12に示すように、第1実施例のLSI1のシリアル接続されたモニタ回路MN0〜MNmのうち、3番目のモニタ回路5MN2が本実施例のモニタ回路5MNであるとし、モニタ回路MN0〜5MN2〜MNmで識別ID(mon_id)として使用されていない番号(未付与識別情報)、例えば、「34」が機能ブロック信号moni_c_csに指定されると、モニタ信号バスを全てIPからの信号であるIP信号群sig0org_jp〜sig7org_JPの信号に置き換えて、フリップフロップ52で同期させて、MUX100を介して出力モニタ信号mono_dtとして出力する。
Therefore, as shown in FIG. 12, it is assumed that the third monitor circuit 5MN2 is the monitor circuit 5MN of the present embodiment among the serially connected monitor circuits MN0 to MNm of the
このように、本実施例では、第2モニタ回路52の信号選択用の第2制御信号として、第1モニタ回路1MNの第1制御信号である機能ブロック信号moni_a_cs〜moni_d_csを使用しているので、新たな信号を設けることが必要なく、配線作業等を削減して、コストを削減することができる。
Thus, in this embodiment, the function block signals moni_a_cs to moni_d_cs that are the first control signals of the first monitor circuit 1MN are used as the second control signals for signal selection of the
以上、本発明者によってなされた発明を好適な実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記のものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。 The invention made by the present inventor has been specifically described based on the preferred embodiments. However, the present invention is not limited to the above, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.
本発明は、複数の内部信号のうち意図する内部信号をモニタ信号として取得して出力するモニタ回路を搭載したASIC等の半導体集積回路に適用することができる。 The present invention can be applied to a semiconductor integrated circuit such as an ASIC equipped with a monitor circuit that acquires and outputs an intended internal signal among a plurality of internal signals as a monitor signal.
1 LSI
F0〜Fn 機能モジュール
MC モニタ制御回路
MA メモリ・アービタ
MN0〜MNm モニタ回路
1MN 第1モニタ回路
2MN 第2モニタ回路
100 MUX
21 MUX
22 フリップフロップ(FF)
3MN0〜3MNm モニタ回路
32MN 第2モニタ回路
31 MUX
32 フリップフロップ(FF)
4MN0〜4MNm モニタ回路
42MN 第2モニタ回路
41 フリップフロップ(FF)
5MN0〜5MNm モニタ回路
52MN 第2モニタ回路
51 MUX
52 フリップフロップ(FF)
1 LSI
F0 to Fn Functional module MC Monitor control circuit MA Memory arbiter MN0 to MNm Monitor circuit 1MN First monitor circuit 2MN
21 MUX
22 Flip-flop (FF)
3MN0 to 3MNm Monitor circuit 32MN
32 Flip-flop (FF)
4MN0 to 4MNm Monitor circuit 42MN Second monitor circuit 41 Flip-flop (FF)
5MN0 to 5MNm Monitor circuit 52MN
52 Flip-flop (FF)
Claims (9)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007065933A JP4874139B2 (en) | 2007-03-15 | 2007-03-15 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007065933A JP4874139B2 (en) | 2007-03-15 | 2007-03-15 | Semiconductor integrated circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008224555A JP2008224555A (en) | 2008-09-25 |
JP4874139B2 true JP4874139B2 (en) | 2012-02-15 |
Family
ID=39843350
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007065933A Expired - Fee Related JP4874139B2 (en) | 2007-03-15 | 2007-03-15 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4874139B2 (en) |
-
2007
- 2007-03-15 JP JP2007065933A patent/JP4874139B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008224555A (en) | 2008-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10281524B2 (en) | Test partition external input/output interface control for test partitions in a semiconductor | |
US8700818B2 (en) | Packet based ID generation for serially interconnected devices | |
US9535120B2 (en) | Integrated circuit and method for establishing scan test architecture in integrated circuit | |
JP6594309B2 (en) | Channel circuit and automatic test system | |
JPH0784863A (en) | Information processor and semiconductor storage device suitable to the same | |
US20230123826A1 (en) | Source Synchronous Partition of an SDRAM Controller Subsystem | |
JP4874139B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP2007087284A (en) | Memory interface control method in integrated circuit | |
JP4806747B2 (en) | Serializer / deserializer / bus controller / interface | |
US7360129B2 (en) | Simultaneous switch test mode | |
JP4388641B2 (en) | Integrated circuit testing equipment | |
JP5107152B2 (en) | CPU operating clock tuned PLC bus system | |
US8327202B2 (en) | System and method for scan testing | |
JP2006170761A (en) | Test system for semiconductor integrated circuit | |
JP2009037574A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP2007171060A (en) | Operating mode setting circuit, lsi having the operating mode setting circuit, and operating mode setting method | |
JP4651399B2 (en) | Verification test bench | |
US20220349940A1 (en) | Method for testing a circuit system and a circuit system thereof | |
JP4647578B2 (en) | Radar signal processing device | |
JP2672408B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
JP2004271282A (en) | High-speed serial controller | |
JP3908175B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and evaluation circuit thereof | |
US20120001668A1 (en) | Die and a package comprising a plurality of dies | |
JP2008171221A (en) | Semiconductor device, and method for acquiring internal bus information | |
US20020190757A1 (en) | Output control circuit and output control method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100218 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20100218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111110 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111115 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111122 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4874139 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |