JP4866807B2 - 表面形状校正装置および表面形状校正方法 - Google Patents
表面形状校正装置および表面形状校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4866807B2 JP4866807B2 JP2007196838A JP2007196838A JP4866807B2 JP 4866807 B2 JP4866807 B2 JP 4866807B2 JP 2007196838 A JP2007196838 A JP 2007196838A JP 2007196838 A JP2007196838 A JP 2007196838A JP 4866807 B2 JP4866807 B2 JP 4866807B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacement sensor
- stage
- displacement
- distance
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
て零点誤差補償量を算出し、該零点誤差補償量により逐次3点法による零点誤差補正を行う被測定物の形状校正方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
真直形状)は、次式で表される。{S(x+x0+d,y0)−S(x+x0,y0)}
7 基準直定規8 コントローラ9 データ解析装置
Claims (4)
- x軸方向およびy軸方向に移動可能なxyステージ(2)、該xyステージのxy面(2a)を跨いで3本一組の変位センサ(A i ,B i ,C i 、ただし、iは1か2か3の何れかの列番号順序を示す整数である。)を取り揃えた凹字状アーム(4a,4b,4c)が前記xyステージのxy面(2a)に平行となるように設けられた3対の変位センサ保持具(H1,H2,H3)、該3対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 ,H 3 )を等間隔に前記凹字状アーム(4a,4b,4c)底部で連結し、かつ、前記xyステージ(2)に搭載された連結棒(4)、前記xyステージ(2)に平行に設けられた被校正測定物(w)の被測定面(6)、前記3対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 ,H 3 )の凹字状アーム(4a,4b,4c)の凹字空間に挿まれる状態で、かつ、前記xyステージ(2)とは独立して180度反転可能に保持される基準直定規(7)、前記3対の変位センサ保持具(H1,H2,H3)の凹字状アーム3対(4a,4b,4c)の各々にそれぞれ前記3本一組(A i ,B i ,C i )の変位センサ(A i ,B i ,C i )の感度がxy面に垂直な直線上にセンサの感度方向を合わせて保持させ、前記の被校正測定物(w)と変位センサ(A1,A2,A3)間の距離を測定する変位センサ(A1,A2,A3)と、変位センサ(B1,B2,B3)と前記基準直定規(7)の裏面間距離を測定する変位センサ(B1,B2,B3)、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C1,C2,C3)間の距離を測定する変位センサ(C1,C2,C3)の群を備え、および、前記xyステージの移動により前記3本のセンサ組(A 1 ,A 2 ,A 3 、B 1 ,B 2 ,B 3 、C 1 ,C 2 ,C 3 )が同時に走査する被校正測定物(w)と変位センサ(A i )間の距離値、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の裏面間距離値、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C i )間の距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、それら送信された距離電気信号値から被校正測定物(w)のx座標およびy座標の表面形状値を算出するデータ解析装置(9)、を有する表面形状校正装置(1)。
- 請求項1に記載の表面形状校正装置(1)を用い、前記xyステージ(2)の移動により前記3本のセンサ組(A i ,B i ,C i )が同時に走査して測定した被校正測定物(w)と変位センサ(A i )間の距離値、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の裏面間距離値、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C i )間の距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、ついで、基準直定規(7)を180度反転させた後に前記xyステージ(2)の移動により前記3本のセンサ組(A 1 ,A 2 ,A 3 、B 1 ,B 2 ,B 3 、C 1 ,C 2 ,C 3 )が同時に走査して測定した被校正測定物(w)と変位センサ(A i )間の距離値、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の裏面間距離値、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C i )間の距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、それら送信された距離電気信号値からデータ解析装置(9)が被校正測定物のx座標およびy座標の表面形状値を算出することを特徴とする、表面形状校正方法。
- x軸方向およびy軸方向に移動可能なxyステージ(2)、該xyステージのxy面(2a)を跨いで2本一組の変位センサ(A i ,B i 、ただし、iは1か2か3の何れかの列番号順序を示す整数である。)を取り揃えた凹字状アーム(4a,4b,4c)が前記xyステージのxy面(2a)に平行となるように設けられた3対の変位センサ保持具(H1,H2,H3)、該3対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 ,H 3 )を等間隔に前記凹字状アーム(4a,4b,4c)底部で連結し、かつ、前記xyステージ(2)に搭載された連結棒(4)、前記xyステージ(2)に平行に設けられた被校正測定物(w)の被測定面(6)、前記3対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 ,H 3 )の凹字状アーム(4a,4b,4c)の凹字空間に挿まれる状態で、かつ、前記xyステージ(2)とは独立して180度反転可能に保持される基準直定規(7)、前記3対の変位センサ保持具(H1,H2,H3)の凹字状アーム3対(4a,4b,4c)の各々にそれぞれ前記2本一組の変位センサ(A i ,B i )の感度がxy面(2a)に垂直な直線上にセンサの感度方向を合わせて保持させ、前記の被校正測定物(w)と変位センサ(A1,A2,A3)間の距離を測定する変位センサ(A1,A2,A3)と、変位センサ(B1,B2,B3)と前記基準直定規(7)の裏面間距離を測定する変位センサ(B1,B2,B3)、および、前記基準直定規(7)の180度反転時に前記凹字状アーム(4a,4b,4c)が前記基準直定規の180度反転軸と同軸で180度回転し、基準直定規(7)の表面と反転した変位センサ(B1,B2,B3)間の距離を測定する変位センサ(B1,B2,B3)の群を備え、および、前記xyステージ(2)の移動により前記3本のセンサ組(A 1 ,A 2 ,A 3 、B 1 ,B 2 ,B 3 )が同時に走査する被校正測定物(w)と変位センサ(A)間の距離値、変位センサ(B)と前記基準直定規(7)の裏面間距離値、および、前記基準直定規(7)の表面と反転した変位センサ(B)間の距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、それら送信された距離電気信号値から被校正測定物(w)のx座標およびy座標の表面形状値を算出するデータ解析装置(9)、を有する表面形状校正装置(1)を用い、前記xyステージ(2)の移動により前記2本のセンサ組(A 1 ,A 2 ,A 3 、B 1 ,B 2 ,B 3 )が同時に走査して測定した被校正測定物と変位センサ(A i )間の距離値、および、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の裏面間距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、ついで、基準直定規(7)を180度反転させるとともに、変位センサ(Bi)を保持する凹字状アーム(4a,4b,4c)を180度反転させた後に前記xyステージ(2)の移動により前記2本のセンサ組(A 1 ,A 2 ,A 3 、B 1 ,B 2 ,B 3 )が同時に走査して測定した被校正測定物(w)と変位センサ(A i )間の距離値、および、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の表面間距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、それら送信された距離電気信号値からデータ解析装置(9)が被校正測定物(w)のx座標およびy座標の表面形状値を算出することを特徴とする、表面形状校正方法。
- x軸方向およびy軸方向に移動可能なxyステージ(2)、該xyステージのxy面(2a)を跨いで3本一組の変位センサ(A i ,B i ,C i 、ただし、iは1か2の何れかの列番号順序を示す整数である。)を取り揃えた凹字状アーム(4a,4b)がxyステージのxy面(2a)に平行となるように設けられた2対の変位センサ保持具(H1,H2)、該2対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 )を等間隔に凹字状アーム(4a,4b)底部で連結し、かつ、前記xyステージ(2)に搭載された連結棒(4)、前記xyステージ(2)に平行に設けられた被校正測定物(w)の被測定面(6)、前記2対の変位センサ保持具(H 1 ,H 2 )の凹字状アーム(4a,4b)の凹字空間に挿まれる状態で、かつ、前記xyステージ(2)とは独立して180度反転可能に保持される基準直定規(7)、前記2対の変位センサ保持具(H1,H2)の凹字状アーム2対(4a,4b)の各々にそれぞれ前記3本一組の変位センサ(A i ,B i ,C i )の感度がxy面(2a)に垂直な直線上にセンサの感度方向を合わせて保持させ、前記の被校正測定物(w)と変位センサ(A1,A2)間の距離を測定する変位センサ(A1,A2)と、変位センサ(B1,B2)と前記基準直定規(7)の裏面間距離を測定する変位センサ(B1,B2)、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C1,C2)間の距離を測定する変位センサ(C1,C2)の群を備え、および、前記xyステージ(2)の移動により前記3本のセンサ組(A 1 ,A 2 、B 1 ,B 2 、C 1 ,C 2 )が同時に走査する被校正測定物(w)と変位センサ(A i )間の距離値、変位センサ(B i )と前記基準直定規(7)の裏面間距離値、および、前記基準直定規(7)の表面と変位センサ(C i )間の距離値をコントローラ(8)より電気信号としてデータ解析装置(9)に送信し、それら送信された距離電気信号値から被校正測定物(w)のx座標およびy座標の表面形状値を算出するデータ解析装置(9)、を有する表面形状校正装置(1)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007196838A JP4866807B2 (ja) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | 表面形状校正装置および表面形状校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007196838A JP4866807B2 (ja) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | 表面形状校正装置および表面形状校正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009031170A JP2009031170A (ja) | 2009-02-12 |
JP4866807B2 true JP4866807B2 (ja) | 2012-02-01 |
Family
ID=40401823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007196838A Expired - Fee Related JP4866807B2 (ja) | 2007-07-30 | 2007-07-30 | 表面形状校正装置および表面形状校正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4866807B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4980818B2 (ja) * | 2007-08-07 | 2012-07-18 | 株式会社ナガセインテグレックス | 多点プローブの零点誤差の変動検出方法 |
JP5571989B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2014-08-13 | 株式会社東芝 | 物体表面傷の計測方法 |
CN112624590A (zh) * | 2021-01-08 | 2021-04-09 | 南京亚鼎光学有限公司 | 一种大尺寸双曲面玻璃3d测绘装置 |
CN114838650B (zh) * | 2022-03-28 | 2024-04-09 | 北京航天控制仪器研究所 | 一种基于转台的位移传感器标定装置和方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61139712A (ja) * | 1984-12-13 | 1986-06-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 真直度測定方法 |
JPS6288912A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-23 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 表面プロフイ−ル測定方法及び装置 |
JPH03255305A (ja) * | 1990-03-05 | 1991-11-14 | Kawasaki Steel Corp | 表面プロフィール測定方法及び装置 |
JP4533050B2 (ja) * | 2004-09-03 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 表面形状測定装置および表面形状測定方法 |
JP4452651B2 (ja) * | 2005-05-31 | 2010-04-21 | 株式会社ナガセインテグレックス | 逐次3点法における零点誤差補正方法及び零点誤差補正装置 |
JP2007057502A (ja) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Toshiba Mach Co Ltd | 基板の両面形状測定システム |
JP4717639B2 (ja) * | 2006-01-06 | 2011-07-06 | 東芝機械株式会社 | 基板の両面形状測定方法及び装置 |
JP2008008879A (ja) * | 2006-05-29 | 2008-01-17 | Satoshi Kiyono | 測定装置、測定基準及び精密工作機械 |
-
2007
- 2007-07-30 JP JP2007196838A patent/JP4866807B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009031170A (ja) | 2009-02-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5832416A (en) | Calibration system for coordinate measuring machine | |
JP4504818B2 (ja) | 加工物検査方法 | |
US7385214B2 (en) | System and method for correcting systematic error of, and calibrating for, tilt angle of surface topology sensor head having plurality of distance sensors | |
JP4866807B2 (ja) | 表面形状校正装置および表面形状校正方法 | |
US7142313B2 (en) | Interaxis angle correction method | |
TWI405057B (zh) | Dynamic path detection method and device for five - axis machine | |
JP4964691B2 (ja) | 被測定面の測定方法 | |
JP5158791B2 (ja) | 測定装置 | |
JP4890188B2 (ja) | 運動誤差測定基準体及び運動誤差測定装置 | |
JP2008008879A (ja) | 測定装置、測定基準及び精密工作機械 | |
TW201017096A (en) | Straightness measuring method and straightness measuring apparatus | |
CN113091653A (zh) | 基于五棱镜测量直线导轨角自由度误差的装置及方法 | |
JP2015129667A (ja) | 計測装置、および計測装置の校正方法 | |
JP5290038B2 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
CN110017803A (zh) | 一种revo测头b轴零位误差标定方法 | |
JP4980818B2 (ja) | 多点プローブの零点誤差の変動検出方法 | |
JP2008524576A (ja) | 直定規の直線度測定のための順次式マルチプローブ法 | |
JP2009145152A (ja) | 測定装置 | |
JP6181935B2 (ja) | 座標測定機 | |
TWI245878B (en) | Device for measuring linear dual axis geometric tolerances | |
JP3940819B2 (ja) | 半導体ウェーハの表面形状測定装置および表面形状測定方法 | |
JP6052953B2 (ja) | 三次元測定機、てこ式プローブの位置情報および姿勢情報を取得する方法 | |
CN109269456B (zh) | 一种revo测头ab轴垂直度误差标定方法 | |
JP2003254747A (ja) | 真直度測定法 | |
JPH11281306A (ja) | 座標測定機の校正値検出方法及びこの校正値を用いた形状データ校正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110721 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110816 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110822 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111108 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111114 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141118 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |