(A)第1の実施形態
以下、本発明の光クロック信号再生装置を適用した第1の実施形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。
(A−1)第1の実施形態の構成
図1は、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aの構成を説明するブロック構成図である。
図1において、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aは、モード同期半導体レーザ100、偏波分離回路31、λ/2波長板32、光遅延回路33、光カップラ34、光サーキュレータ35、結合レンズ36、波長フィルタ37、を少なくとも有して構成される。
図1において、S30は、ビットレートがfbit−rate(bit/s)であり、偏波状態が不定の入力光信号(信号光)を示す。ここで、ビットレートに対応する周波数をビットレート周波数として定義とする。すなわち、ビットレートfbit−rate(bit/s)に対応するビットレート周波数はfbit−rate(Hz)とする。また、入力光信号の信号時間間隔Tbit−rateは、ビットレート周波数の逆数で与えられる。すなわち、ビットレート周波数fbit−rate(Hz)の入力光信号の信号時間間隔Tbit−rateは、1/fbit−rate(s)である。
モード同期半導体レーザ100は、共振器端面R1、L1を有し、モード同期動作を生じたときに発生する光パルス列の繰り返し周波数が、入力光信号のビットレート周波数に近似した受動モード同期半導体レーザである。ここで、受動モード同期半導体レーザの繰り返し周波数が、入力光信号のビットレート周波数に近似した状態とは、入力光信号のビットレート周波数と、受動モード同期半導体レーザが生成する光パルス列の形の発振光の繰り返し周波数との差が、周波数引き込み現象が発現する程度に小さいことをいう。
また、モード同期半導体レーザ100は、望ましくは、多電極構造を有する半導体レーザとする。さらに、モード同期半導体レーザ100は、実用上の動作安定性を担保し、かつ、装置をより低コストに提供するという観点から、結合レンズなどを用いた外部共振器を構成しない、集積型半導体レーザとするのが望ましい。
図2は、モード同期半導体レーザ100の構成例を示す図である。図2のモード同期半導体レーザ100は、2電極受動モード同期半導体レーザの例を示す。モード同期半導体レーザ100の素子構造としては、レーザ発振を得るための利得領域103と、モード同期動作のための光スイッチとして動作する可飽和吸収領域102とから構成される。利得領域103には、p側電極107とn側共通電極108を介して定電流源110から電流印加され、また、可飽和吸収領域102には、p側電極106とn側共通電極108を介して定電圧源109から逆バイアス電圧が印加されることで、受動モード同期動作が生じ、素子の共振器周回周波数の自然数倍に近似した繰り返し周波数の光パルス列を発生する。
受動モード同期半導体レーザ100の素子構造は、図2に示された構造に限定されない。すなわち、受動導波路領域や、分布ブラッグ反射鏡領域が集積化された構造でも第1の実施形態の効果を得ることができる。また、パルス特性の向上などを目的に、利得領域を複数に分岐した構造でも構わない。またその材料系も、所望とする動作波長によってInP系、GaAs系など、様々な化合物半導体を用いた受動モード同期半導体レーザに適用できる。さらにまた、用いる基板もnドープ基板に限定されず、pドープ基板でも構わない。
入力光信号が入力される共振器端面L1の反射率は、入力光信号が受動モード同期半導体レーザ100の内部に導かれるのに十分な程度に低い反射率とする。一方、共振器端面R1の反射率は、特に限定されないが、高反射率コーティングを施すことにより、先に述べたモード同期パルス特性の改善と、共振器端面L1から出力される光クロック信号の光強度が増加する効果が得られ、応用上望ましい。また、利得領域103と可飽和吸収領域102の配置は、特に限定されないが、先述した衝突パルスモード同期の効果を発現させるためには、図示するように、共振器端面R1に接続して可飽和吸収領域102を配置し、共振器端面R1に高反射膜コーティングを施すのが望ましい。
ここで、紙面に垂直な偏光方向を有する直線偏波光をTE偏波光と定義する。また、これと直交する、紙面内の偏光方向を有する直線偏波光をTM偏波光と定義する。また、受動モード同期半導体レーザ100の発振偏波方向は、TE偏波であるとする。
偏波分離回路31は、3つの入出力ポートを有する偏波分離回路である。偏波分離回路31は、ポート31−aから光が入力されると、その入力光のTE偏波成分をポート31−bから出力し、その入力光のTM偏波成分をポート31−cから出力するものである。
λ/2波長板32は、偏波分離回路31から出力された光を取り込み、直線偏光の偏光方向を90°回転させるλ/2波長板である。
光遅延回路33は、λ/2波長板から出力された光に対して、所定の遅延時間を与えて、光カップラ34に与えるものである。
光カップラ34は、偏波分離回路31のポート31−bから出力された光と、光遅延回路33からの光とを取り込み、これらの光を合波させるものである。光カップラ34の分岐比は、50:50とする。すなわち、光カップラ34のポート34−a、ポート34−bから入力された光はそれぞれ、その強度の50%ずつで合波されポート34−cから出力される。
光サーキュレータ35は、ポート35−aから入力され光をポート35−bから出力し、ポート35−bから入力された光をポート35−cから出力するものである。
以上のように、光部品31〜35を通過する光経路は、光部品31〜35も含めて偏波保持光学系で構成されることが望ましい。もしくは、光経路内の適当な箇所に偏波面コントローラを挿入することでも第1の実施形態の効果を得ることはできる。
結合レンズ36は、モード同期半導体レーザ100の共振器端面L1に設けられ、モード同期半導体レーザ100と光ファイバ等との間を結合するためのものである。
波長フィルタ37は、光サーキュレータ35のポート35−cからの光、すなわち、モード同期半導体レーザ100から出力される光クロック信号の光学経路に設けられ、光クロック信号の波長成分のみを通過し、入力光信号の波長成分の光を遮断するものである。
(A−2)第1の実施形態の動作
次に、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aの動作を図面を参照して説明する。
まず、図1において、光ファイバ伝送網等を通過してきた、不定偏波光である入力光信号S30が、偏波分離回路31のポート31−aに入力される。
入力光信号S30の偏波成分のうち、TE偏波成分は光信号S31として偏波分離回路31のポート31−bから出力され、TM偏波成分は光信号S32として偏波分離回路31のポート31−cから出力される。
その後、光信号S32は、λ/2波長板32及び光遅延回路33を通過することで、その偏波方向が90°回転し、TE偏波となると共に、光信号S31に対してnTbit−rate(nはゼロでない整数)の時間遅延が与えられ、光信号S33に変換される。
光信号S31及び光信号S33はそれぞれ、光カップラ34のポート34−a及び34−bに入力され、その合波出力が光信号S34としてポート34−cから出力される。
この光信号S34は、光信号S31及び光信号S33が共にTE偏波光であるから、入力光信号S30の偏波状態に拘わらず、常にTE偏波光となる。光信号S34は、光サーキュレータ35のポート35−aに入力され、ポート35−bから光信号S35として出力される。
この光信号S35もTE偏波光である。光信号S35は、結合レンズ36を介して、受動モード同期半導体レーザ100の共振器端面L1に入力される。
一方、受動モード同期半導体レーザ100の共振器端面L1から出力される光クロック信号C31は、結合レンズ36を介して、光サーキュレータ35のポート35−bに入力される。
その後、光サーキュレータ35のポート35−cから、所望とする最終的な光クロック信号C32が得られる。また、光クロック信号C32から、入力光信号の波長成分光を除去する必要がある場合には、適宜、光サーキュレータ35のポート35−cに接続して、波長フィルタ37を挿入し、波長フィルタ37からの出力を所望とする最終的な光クロック信号C32として得る。
続いて、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aの動作は、大別して、次の2つのステップにより実現される。
(A)偏波不定の入力光信号S30からTE偏波の光信号S35を得るステップ
(B)光信号S35を入力することで、再生光クロック信号C31を発生するステップ。
まず、ステップ(A)の動作について、図面を参照して説明する。
図3は、入力光信号S30、光信号S31〜S35及び光クロック信号C31、C32の信号波形及び偏波状態の様子を模式的に示したものである。
図3において、入力光信号S30としては、<10110101>の8ビット信号の場合を図示する。ここで、信号が<1>であるとは、そのピーク強度が有意な強度を持つ状態であり、<0>であるとは、<1>のピーク強度に比べて十分弱い(望ましくは、ゼロに近い)状態であることを意味する。一般的なデジタル通信では、このような信号強度の強弱をもって、2値デジタル信号の判別を行う。
まず、入力光信号S30は、その信号が<1>であるとき、TE成分の光信号のピーク強度をIE、TM成分の光信号のピーク強度をIMとする。トータルの<1>の信号強度は、IE+IMで与えられる。
このとき、入力光信号の偏光消光比(Polarization Extinction Ratio:以下、PERと呼ぶこともある)として、TE成分強度をTM成分強度で除した値、すなわちIE/IMとして定義する。
入力光信号S30は偏波不定信号であり、このことは、任意の偏光消光比をとり得ることを意味する。また、TE成分とTM成分の光搬送波の位相関係も不定であるから、それらの間の相対位相差(Φ)は0〜2πの任意の値をとり得る。また、入力光信号の偏波状態は、上記の偏光消光比、相対位相差φによって規定することができる。
クロック再生動作が入力光信号の偏波状態に無依存であるとは、任意の偏光消光比、相対位相差φの値に対して、再生される光クロック信号の時間ジッタに大きな差が生じず、常にある規定以下の値が実現できることを意味する。
入力光信号S30は、偏波分離回路31で偏波分離され、TE偏波の光信号S31と、TM偏波の光信号S32に分離される(図3(B)、(C)参照)。
次に、光信号S32が、λ/2波長板32を通過することで、その偏波方向が90°回転されることで、TE偏波に変換され、その偏波状態を保ったまま、光遅延回路33にて、光信号S31に対して、その光信号の時間位置がnTbit−rateだけ遅延された光信号S33に変換される(図3(D)参照)。
その後、光信号S31及び光信号S33は、光カップラ34で合波され、その合成出力光である光信号S34が光カップラ34のポート34−cから出力される。
光信号S34は、TE偏波光である光信号S31及び光信号S32の合成光であるから、最初の入力光信号S30の偏波状態に拘わらず、常にTE偏波である(図3(E)参照)。
従って、光信号S34が、光サーキュレータ35を介して、モード同期半導体レーザ100に入力されるときの光信号S35は、最初の入力光信号S30の偏波状態に拘わらず、常にTE偏波とすることができる(図3(F)参照)。
このことは、光部品31〜35として偏波保持光学系を用いたり、あるいは、これらの光経路を適当な位置に偏波面コントローラを挿入することで、容易に実現できる。
以上の結果、入力光信号S30の偏波状態に拘わらず、モード同期半導体レーザ100には、常にTE偏波の光信号S35が入力されることになる。さらに、次に詳細に述べるステップ(B)の効果が加わることにより、モード同期半導体レーザ100においては、特許文献1及び非特許文献1と同様に、光クロック信号再生効果が生じ、所望とする光クロック信号を得ることができる。
次に、ステップ(B)の動作について、図面を参照して説明する。
ステップ(A)で説明した処理によって、入力光信号S30の偏波状態に拘わらず、モード同期半導体レーザ100に入力される光信号S35は、常にTE偏波とすることができる。
次に考慮すべきことは、光信号S35の信号波形が、入力光信号S30の偏波状態、すなわち、その偏光消光比と相対位相差Φの値によってどのように変化し、またそれが光クロック信号再生動作にどのように影響するかである。
入力光信号S30の強度時間波形I
S30(t)を次式のように表す。
ここで、IS30(t)は、ピーク強度を1として規格化した信号時間波形である。
このとき、光信号S31及び光信号S32の強度時間波形I
S31(t)及びI
S32(t)は、それぞれ式(2)及び式(3)となる。
モード同期半導体レーザ100に入力される光信号S35の強度時間波形I
S35(t)は、ステップ(A)での議論に従って、式(4)のように表すことができる。
ここで、θは、光信号S31、S32、S33が、光部品31、32、33、34及びそれらを結ぶ光経路を通過するときに生じる光搬送波位相の相対位相である。これは最初の入力光信号S30のもつ初期相対位相Φと同じ項に和の形で入っているため、以下の議論で、θの変化をΦの変化と独立に取り扱う必要はない。つまり、入力光信号S30のもつ初期相対位相Φの変化に関する議論は、実際には、θの変化を含んだΦ+θの変化についての議論となる。従って、Φ+θのとり得る任意の値(0から2πまでの任意の値)については、クロック再生動作の安定性が担保されれば、第1の実施形態で目的とする効果は達成される。またこのとき、θの任意の値について、クロック再生動作の安定性が担保されるということは、装置構成において、光搬送波位相の制御まで含めた、光遅延回路33の制御は、不要であるということを意味する。このことは、本発明の効果を実現できる装置のアッセンブリを安価に実行できることを意味する。
また、上式では簡単のために、光部品31、32、33、34、35での過剰光損失を無視した。
ここで、式(4)に基づいて、光信号IS35(t)の信号波形について考察すると、次のことがわかる。
(i)相対遅延時間差がゼロ(n=0)の場合、IE=IM(偏光消光比=1)、かつ、Φ+θ=πであるとき、光信号S31からの寄与と光信号S33からの寄与が完全に相殺してしまい、IS35(t)=0となる。
(ii)相対遅延時間差が与えられた場合(n≠0)、光信号S31が<1>、光信号S33が<0>での状態であるとき、その干渉波形である光信号S35には、ピーク強度(IT)がIE/2の<1>信号が生じる。逆に、光信号S33が<1>、光信号S31が<0>での状態であるとき、光信号S35には、ピーク強度(IT)がIM/2の<1>信号が生じる。また、光信号S31、光信号S33がともに<0>での状態であるとき、光信号S35には<0>信号が生じる。一方、光信号S31、光信号S33がともに<1>での状態であるとき、光信号S35には、一般にピーク強度(IT)がIE/2+IM/2+(IEIM)2cos(Φ+θ)である<1>信号が生じる。ただし、光信号S31、光信号S33がともに<1>での状態であり、IE=IM(偏光消光比=1)、かつ、Φ+θ=πの条件下においては、光信号S35は<0>信号となる。
(iii)nは自然数でなければならない。つまり、nが1/2などの有理数、無理数であってはならない。nが自然数である場合、偏光消光比やΦ+θの値が変化しても、光信号S35の<1>信号は、1つの<1>信号を基準として、それからTbit−rateの整数倍だけ離れた時間位置に規則的に配置される。これに対して、nが自然数でない場合、偏光消光比やΦ+θの値によって、光信号S35の<1>の時間位置が、Tbit−rateの整数倍とは異なった時間位置に不規則に配置されるようになってしまう。その結果、発生する再生光クロック信号に、偏光消光比やΦ+θの値に応じた位相ずれが生じてしまう。
(i)から、光信号S31とS33間に相対遅延時間差を与えないと、IE=IM、Φ+θ=πの条件下で,光信号S35は完全に消失してしまう。このような条件下では、何らの光信号もモード同期半導体レーザ100に入力されないので、クロック再生動作は生じ得ない。この条件を避けるために、光信号S31とS33との間に互いに数ビット分の相対遅延時間を与える必要がある。
また(iii)から、遅延時間差は信号時間間隔の自然数倍として、発生する再生光クロック信号に位相ずれが生じるのを避ける必要がある。
また、(ii)は次のことを意味する。まず、図3からも判るように、光信号S35の信号パターン、すなわち、<1>であるビットと<0>であるビットの配列は、元の入力光信号S30の配列とは異なる。しかしながら、クロック再生における最終目的は連続したパルス列(あるいは正弦波)の出力を得ることが目的であるので、このような入力光信号の信号パターンの変化は実際上問題とはならない。
さらに、(ii)は次のことを意味する。すなわち、光信号S35における<1>のピーク強度が一定ではなく、レベル変動を本質的に伴うことである。すなわち、入力光信号S30が、<1>信号のピーク強度が揃った、強度揺らぎのないきれいな信号であっても、モード同期半導体レーザ100に入力される光信号S35は、<1>信号のピーク強度が不揃いな、いわゆる強度揺らぎの大きな光信号となる。式(4)からわかるように、この強度揺らぎは入力信号S30の偏光消光比及び相対位相差Φに依存する。またこのことは、入力信号S30の平均強度が一定であっても、光信号S35の平均強度は、入力信号S30の偏光消光比及び位相差Φ(ならびにθ)に依存して変化することを意味する。
そこで、第1の実施形態のモード同期半導体レーザ100は、上記のことがクロック再生動作に影響しないために、次のような特徴を有する。
(1)光クロック再生動作において、入力光信号のピーク強度変動を吸収できる、強度雑音吸収効果を有する。
(2)光クロック再生動作において、実用上十分に低い時間ジッタを実現できる、光信号の平均入力強度の許容変動量が、十分なマージンを有する。
(1)について、既に我々は、先にあげた非特許文献2において、モード同期半導体レーザを用いた全光クロック再生における強度雑音吸収効果を報告している。非特許文献2の図9及び図10に示された実験結果によれば、±25%の強度雑音を有する信号入力に対しても、強度揺らぎ、及び、時間ジッタの小さい、良好な光クロック信号再生に成功している。
後に詳細に述べる実験結果が示すように、この程度の強度雑音吸収効果があれば、本発明の第1の実施形態を実現するためには実用上十分であり、このことから、光信号S35における<1>信号のピーク強度変動は、本発明の第1の実施形態においてはそれを十分吸収できるため、問題とならない。
一方、(2)について検討を進めるために、光信号S35の平均強度が、入力光信号S30の偏光消光比及び位相(Φ+θ)によって、どれほど変化するかを見積もった。
ここでは、光通信システムの評価において一般的に用いられる、擬似ランダム信号を入力光信号S30の信号パターンと仮定した。表1にその信号パターンを示す。信号はいわゆる7段の擬似ランダム信号であり、ビット数は2
7−1=127ビット、そのうち64ビットが<1>信号で、残り63ビットが<0>信号である。
個々の<1>信号の信号エネルギーを1と規格化すると、入力光信号S30の規格化平均強度は1×64=64となる。
図4(A)及び(B)に、光信号S31とS33のビットずれを横軸として、このときの光信号S35の規格化平均強度の最大値と最小値の偏光消光比(PER)依存性を計算した結果を示す。ここで、規格化平均強度の最大値と最小値は、それぞれの偏光消光比に対して、位相Φ+θを変化させたときの最大値と最小値である。
ビットずれn=0の場合、規格化平均強度の最大値は64、最小値は0である。最大値は偏光消光比=1及びΦ+θ=0のときに生じ、最小値は偏光消光比=1及びΦ+θ=πのときに生じる。この場合は、先にも述べたが、同じ信号パターンで同じピーク強度の光信号S31、S33がそれぞれ同相・逆相で干渉した結果である。ここでは光信号S31、S32間に数ビット分の時間遅延を与える場合を検討しているため、この結果は以下の議論から省いて考えるものとする。
また、ビットずれn≠0の場合、規格化平均強度の最小値は16である。一方、最大値は48であり、これは最小値に対して3倍の値である。最大値は偏光消光比=1及びΦ+θ=0のときに生じ、最小値は偏光消光比=1及びΦ+θ=πのときに生じる。図4(A)及び(B)に示す今回の結果ではビットずれnの変化に対する依存性は見られなかったが、これは評価に用いた擬似ランダム信号パターンの特徴を反映した結果である。
以上の議論より、第1の実施形態に係る光クロック信号再生装置1Aにおいて、モード同期半導体レーザ100に入力される光信号S35の平均強度は、入力光信号S30の偏光状態に応じて、3倍(約4.8dB程度)の幅をもって変動するものと想定される。従って、第1の実施形態のモード同期半導体レーザ100は、クロック再生動作が約4.8dB程度以上の光信号の平均入力強度のマージンを有するものを用いる。
また、以上の議論から、そのクロック再生動作が、約4.8dB程度以上の光信号の平均入力強度のマージンを有するモード同期半導体レーザ100を用いることで、光信号S35を入力されたモード同期半導体レーザ100からは、入力光信号S30の偏波状態が変化しても、時間ジッタの小さい、安定な再生光クロック信号C31が出力される。
再生光クロック信号C31は、その後、光サーキュレータ35のポート35−bに入力され、ポート35−cから出力され、その後、入力光信号の波長成分を除去する必要があれば、光フィルタ37を用いて、入力光信号の波長成分を除去した後、最終的に所望とされる光クロック信号C32が得られる。
(実施例)
次に、第1の実施形態の効果を実証するために行った実証実験について述べる。
ここで、受動モード同期半導体レーザ素子100としては、可飽和吸収領域(長さ250μm)、利得領域(610μm)、位相調整領域(150μm)が順に配置した、InP系の多電極半導体レーザを使用した。共振器長は1050μmであり、共振器周回周波数は約40GHzである。利得領域の導波層には、井戸を0.6%の圧縮歪InGaAsP層、障壁層を無歪のInGaAsP層で形成した多重量子井戸構造を採用しており、そのフォトルミネッセンスピーク波長が1562nmになるように、各層の組成比、厚さを設計したものを用いた。また、可飽和吸収領域、位相調整領域の導波層には、井戸を0.6%の圧縮歪InGaAsP層、障壁層を無歪のInGaAsP層で形成した多重量子井戸構造を採用しており、そのフォトルミネッセンスピーク波長が1480nmになるように、各層の組成比、厚さを設計したものを用いた。また、受動モード同期半導体レーザ素子100の両端の共振器端面は、へき開面のままである素子を用いた。受動モード同期半導体レーザ素子100の利得領域に電流印加したときのレーザ発振閾値は、約30mA、スロープ効率は0.1W/A程度であり、半導体レーザとして典型的な値を示した。
なお、ここで示したモード同期半導体レーザ素子100の各領域長や組成、各層の膜厚、フォトルミネッセンスピーク波長などは、単なる1つの構成例であり、これに限定されるものではない。
モード同期半導体レーザ素子100の利得領域に145.5mAの直流電流、可飽和吸収領域に−0.91Vの逆バイアス電圧を印加したとき、受動モード同期動作が生じた。このとき発生したモード同期光パルス列のパルス幅は約3.7ps、中心波長は1557.4nm、スペクトルの半値全幅は4.3nmであった。また、このとき発生したモード同期光パルス列の繰り返し周波数は39.6855GHzであった。また、このときのモード同期半導体レーザ素子100の位相調整領域側端面からの平均光強度出力は、約8.9dBmであった。
入力光信号は、ビットレート39.69012Gb/s、中心波長1547.84nm、パルス幅5.0psの、連続する<1>の信号間で光強度が一旦ゼロに落ちる、いわゆるリターン・トゥ・ゼロ(Return−to−zero,RZ)フォーマットの擬似ランダム光信号とした。擬似ランダム段数は7段(27−1=127ビット)とした。
図5に、モード同期半導体レーザ素子100への入力光信号強度(平均強度)を変化させたときの、モード同期半導体レーザ素子100から発生した再生光クロック信号の時間ジッタの変化を測定した実験結果を示す。
なお、ここでは、入力光信号の偏波状態をTE偏波一定とした、特許文献1、非特許文献1及び2に開示される従来型の光クロック信号再生装置としての実験結果を示す。光信号は、モード同期半導体レーザ素子の位相調整領域側端面から入力した。
図5から、入力光強度の増加と共に、時間ジッタが低減する様子がわかる。また、図5において、入力光強度が−5.4dBmから0dBmの範囲で、0.3ps以下の低時間ジッタ化が得られることがわかる。すなわち、0.3ps以下の時間ジッタを実現するのに、5.4dBの光信号の平均入力強度のマージンが得られることを示している。この値は、先に述べた第1の実施形態の効果を得るための条件(約4.8dB程度以上)を満足する値である。このことは、第1の実施例を実現するために必要な平均入力強度のマージンが、実際のモード同期半導体レーザ素子において実現できることを意味している。
次に、図1に示す構成からなる光クロック信号再生装置1Aを用いて、光クロック信号の再生動作の実験結果を、図面を参照して説明する。
図6は、入力光信号の偏光消光比の変化に対する再生光クロック信号の時間ジッタの変化との関係を示す図である。なお、図6の実験では、入力光強度を−4.47dBmの一定値とした場合を示す。
図6より、入力光信号の偏光消光比を+26dBから−28dBまで大きく変化させても、時間ジッタは、0.23ps〜0.28psの範囲内と極めて小さい範囲内での変化であることがわかる。このことは、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aを適用することにより、入力光信号の偏波状態に拘わらず、安定な全光クロック信号の再生動作が、実際のモード同期半導体レーザ素子において実現できることを実証する結果であり、第1の実施形態の効果を実証する実験結果である。
また、図7は、光クロック信号再生装置1Aを用いて、入力光信号の偏光消光比を変化させた場合の各信号のサンプリングオシロスコープ観測波形を示す図である。図7(a)は入力光信号S30、図7(b)は光信号S35、図7(c)は再生光クロック信号C32を示す。
入力光信号の偏光消光比を変化させると、光信号S35における<1>レベルの変動が変化する。特に、偏光消光比が1に近くなる(すなわち、TE偏波成分強度とTM偏波成分強度が同程度になる)と、<1>レベル変動は最大となる。
このことは、図7(b−2)、(b−3)に示す結果より、偏光消光比が0dB、−10dBであるときの光信号S35のサンプリングオシロスコープ波形が、アイ開口が見られないほど劣化した波形となることで示されている。そのような状況でも、このときの再生光クロック信号C32のサンプリングオシロスコープ波形(図7(c−2)、(c−3))は、入力光信号S30の偏光消光比が高く、光信号S35においても<1>レベル変動が小さいときの再生光クロック信号C32のサンプリングオシロスコープ波形(図7(c−1))に比べて遜色ない。このことは、モード同期半導体レーザにおける強度揺らぎ吸収効果が十分に働いていることを示し、第1の実施形態の効果を実証する実験結果となっている。
以上の実験結果から、第1の実施形態の効果を実証することができた。
(変形例)
第1の実施形態において、図1に示す構成の光クロック信号再生装置1Aを例示して説明した。しかし、第1の実施形態の効果を実現することができれば、そのための必要な光部品やその配置は、図1に示すブロック構成図において示された光部品やその配置に限定されず、異なった光部品を用いた構成を採用することができる。
図8は、第1の実施形態の変形例である光クロック信号再生装置1Bの構成を説明するブロック図である。
図8において、光クロック信号再生装置1Bは、モード同期半導体レーザ200、偏波無依存型光アイソレータ41、4ポート偏波分離合成回路42、ファラデー回転子43、λ/2波長板44、光遅延回路45、光カップラ46、結合レンズ47、波長フィルタ48、を少なくとも有して構成される。
図8に示す光クロック信号再生装置1Bの構成例は、以下の点で、図1に示す光クロック信号再生装置1Aと異なる。
すなわち、図8の光クロック信号再生装置1Bの構成では、光サーキュレータ35が不要である。また、光クロック信号再生装置1Bは、直線偏光を入力したときにその偏光方向を90°回転させるλ/2波長板32に代わりに、直線偏光を入力したときにその偏光方向を+45°回転させるλ/2波長板44と、図面の左側から直線偏光を入力したときにその偏波方向を+45°回転させるファラデー回転子43を用いる。また、3ポートの偏波分離回路31の代わりに、4ポートの入出力ポートを有する偏波分離合成回路42を用いる。
モード同期半導体レーザ200は、図1のモード同期半導体レーザ100と同じものである。すなわち、モード同期半導体レーザ200は、共振器端面L2、R2を有し、モード同期動作を生じたときに発生する光パルス列の繰返し周波数が、入力光信号のビットレート周波数に近似したものとする。なお、図1の場合と同様に、入力光信号が入力される共振器端面L2の反射率は、入力光信号が受動モード同期半導体レーザ200の内部に導かれるのに十分な程度に低い反射率とする。一方、共振器端面R2には、高反射膜コーティングを施すことが望ましい。
偏波分離合成回路42は、ポート42−aに光が入力されると、そのTE偏波成分をポート42−bから出力し、TM偏波成分をポート42−cから出力するものである。また、偏波分離合成回路42は、ポート42−bに光が入力されると、そのTE偏波成分をポート42−aから出力し、TM偏波成分をポート42−dから出力するものである。さらに、偏波分離合成回路42は、ポート42−cから光が入力されると、そのTE偏波成分をポート42−dから出力し、TM偏波成分をポート42−aから出力するものである。
反射戻り光による動作不安定性を抑制するために、偏波分離合成回路42のポート42−aに、偏波無依存型光アイソレータ41を接続する。
光カップラ46は、図1の光カップラ34と同様に、分岐比が50:50の光カップラである。光カップラ46のポート46−a、ポート46−bから入力された光は、その強度の50%ずつがポート46−cにより出力される。また、ポート46−cから入力された光は、その強度の50%ずつが、それぞれポート46−a、ポート46−bから出力される。
光遅延回路45は、第1の実施形態の光遅延回路33と同様のものである。
以上のように、光部品42〜46を通過する光経路は、光部品42〜46も含めて偏波保持光学系で構成されることが望ましい。もしくは、光経路内の適当な箇所に偏波面コントローラを挿入することでも第1の実施形態の効果を得ることはできる。
また、光遅延回路46は、図1の場合と同様に、光信号S41が通過する、偏波分離回路42のポート42−bと光カップラ46のポート46−aとを結ぶ光経路に挿入されるようにしてもよい。
図8に示す光クロック信号再生装置1bにおける光クロック信号の再生動作を説明する。図9は、入力光信号、光信号、光クロック信号の信号波形及び偏波状態を模式的に示す図である。
まず、図8において、光ファイバ伝送網等を通過してきた、不定偏波光である入力光信号S40が、偏波無依存型光アイソレータ41を通過した後、偏波分離回路42のポート42−aに入力される。
入力光信号S40の偏波成分のうち、TE偏波成分は光信号S41として偏波分離回路42のポート42−bから出力され、TM偏波成分は光信号S42として偏波分離回路42のポート42−cから出力される。
その後、光信号S42は、ファラデー回転子43、λ/2波長板44及び光遅延回路45を通過することで、その偏波方向が、ファラデー回転子43で+45°、λ/2波長板44で+45°回転することで、トータルで90°回転して、TE偏波となる。また、光遅延回路45で、光信号S41に対してnTbit−rate(nはゼロでない整数)の時間遅延が与えられ、光信号S43変換される。
光信号S41及び光信号S43はそれぞれ、光カップラ46のポート46−a及び46−bに入力され、その合波出力光が光信号S44としてポート46−cから出力される。
この光信号S44は、光信号S41及び光信号S43が共にTE偏波光であるから、入力光信号S40の偏波状態に拘わらず、常にTE偏波光となる。光信号S44は、結合レンズ47を介して、受動モード同期半導体レーザ200の共振器端面L2に入力される。
一方、受動モード同期半導体レーザ200の共振器端面L2から出力される光クロック信号C41は、結合レンズ47を介して、光カップラ46のポート46−cに入力される。
その後、光カップラ46のポート46−a、ポート46−bから、それぞれTE偏波の光クロック信号C42−1、C42−2として分岐出力される。
光クロック信号C42−1は、偏波分離回路42のポート42−bに入力され、その偏波状態がTE偏波であるため、ポート42−aに出力され、その結果、偏波無依存型光アイソレータ41によりその出力はカットされる。
一方、光クロック信号C42−2は、光遅延回路45、λ/2波長板44、ファラデー回転子43を通過する。その際、光クロック信号C42−2は、λ/2波長板44で+45°、ファラデー回転子43で−45°、その偏波面が回転するため、トータルで偏波面が回転することなく、ファラデー回転子43からはTE偏波の光クロック信号C42−3が出力される。光クロック信号C42−3は、偏波分離合成回路42のポート42−cに入力され、その偏波状態がTE偏波であるため、ポート42−dに出力される。
その後、入力光信号の波長成分光を除去する必要がある場合には、適宜、波長フィルタ48を通過させることで、最終的な光クロック信号C43が得られる。
このような図8に示す構成においても、モード同期半導体レーザ200に入力される光信号S44の変化状態は、入力光信号の偏波状態によらず、常にTE偏波となる。
また、図1に示す場合と同様に、光信号S41及び光信号S43の間に数ビット分の時間遅延を与えるため、光信号S44の出力がゼロになることはなく、クロック再生動作が、4.8dB以上の光信号の平均入力強度のマージンを有していれば、安定なクロック再生動作が保証される。
(A−3)第1の実施形態の効果
以上のように、第1の実施形態によれば、次のような効果が期待できる。すなわち、入
力される光データ信号の偏波に依存することなく、高ビットレートの光データ信号からの全光クロック信号再生動作が可能となる。また、その動作は、入力光信号をモード同期半導体レーザの一方のレーザ端面に入力することによって実行できるので、モード同期半導体レーザのもう一方のレーザ端面が高反射率を有している場合でも実行できる。すなわち、モード同期半導体レーザとして、可飽和吸収体側端面に高反射膜コーティングを施したモード同期半導体レーザを使用することができるため、発生する再生光クロック信号の高速化・高出力化など、パルス特性の向上に効果がある。
(B)第2の実施形態
次に、本発明の光クロック信号再生装置を適用した第2の実施形態を、図面を参照して詳細に説明する。
よく知られているように、NRZ信号は、その周波数スペクトル上において、ビットレート周波数成分がゼロかあるいは非常に弱い強度成分しか持たず、符号化により拡散したスペクトル成分にほとんど隠れた程度の強度しか有さない。
そのため、NRZ信号をモード同期半導体レーザにそのまま入力しても、モード同期半導体レーザにおけるクロック再生動作の偏波依存性の有無に係わらず、そもそも安定なクロック再生動作が生じない。
そのため、クロック再生動作を得るためには、NRZ信号をRZ信号に変換し、ビットレート周波数成分を増強する必要がある。
そこで、第2の実施形態では、NRZ信号をRZ信号に変換する変換手段を備える点に特徴がある。
(B−1)第2の実施形態の構成及び動作
図10は、第2の実施形態の光クロック信号再生装置1Cの構成を説明するブロック図である。
図10において、第2の実施形態の光クロック信号再生装置1Cは、モード同期半導体レーザ300、偏波分離回路51、λ/2波長板52、光遅延回路53、光カップラ54、光サーキュレータ55、結合レンズ56、波長フィルタ57、光遅延干渉計58、を少なくとも有して構成される。
第2の実施形態では、入力光信号として、連続する<1>の信号間で光強度がゼロに落ちない、いわゆるノンリターン・トゥ・ゼロ信号(Non Return to zero、以下でNRZ信号と呼ぶこともある)を考える。
第2の実施形態は、図1に示す光クロック信号再生装置1Aの構成に加えて、入力NRZ信号S100をRZ変換信号S50に変換するための光遅延干渉計58を備える。
なお、図10に示す構成は、第1の実施形態の光クロック信号再生装置1Aの構成をベースとしてものである。しかし、これに限定されず、モード同期半導体レーザ300からの再生光クロック信号を出力させるに至る光経路の構成は、図8に示す光クロック信号再生装置1Bの構成をベースとして構成するようにしてもよい。
光遅延干渉計58は、入力NRZ信号S100をRZ変換信号S50に変換するものであり、入力光信号を偏波分離回路51に入力する光経路に配置される。光遅延干渉計58としては、例えば、非特許文献5に示されるファイバグレーティングや、特許文献3に示すマッハツェンダ干渉計などを適用することができる。
(B−2)第2の実施形態の動作
次に、第2の実施形態の光クロック信号再生装置1Cにおける光クロック信号の再生動作を図面を参照して説明する。
以下では、光遅延干渉計58として、マッハツェンダ干渉計型の光遅延干渉計を適用した場合を例示して説明する。
まず、図11を参考にして、マッハツェンダ干渉計型の光遅延干渉計を用いた場合の、光信号(NRZ光信号)からRZ光信号への変換方法の原理を説明する。
入力NRZ光信号S100は、光遅延干渉計58に入力し、光分配器60にて2分岐される。2分岐された光信号はそれぞれ、マッハツェンダ干渉計の光路62、63を通過し、光分配器61にて再合波される。
ここで、光路62、63において、相対群遅延時間τが生じ、かつ、それぞれの光路62、63を通過する光信号間にπの位相差が生じるものとする。
図11(c)は、相対群遅延時間τが、入力光信号S100の信号時間間隔1/fbit−rateより小さいときの、光路62を通過して光分配器61に到達したときの光信号S101の振幅波形であり、図11(d)は、相対群遅延時間τが、入力光信号S100の信号時間間隔1/fbit−rateより小さいときの、光路63を通過して光分配器61に到達したときの光信号S102の振偏波形である。
ここで、Eは振幅の最大値であり、光分配器60、61における分岐比が1:1である場合は、光信号S101、S102で同じ値をとる。
これらの合成で得られる光分配器61からの干渉出力の振偏波形S103は、図11(e)に示すようになる。図11(e)からわかるように、干渉出力S103は、連続するビット間で信号レベルがゼロに戻る、いわゆるRZ信号に変換されることがわかる。
RZ変換光信号S50の信号パターンは、入力NRZ光信号S100の信号パターンとは異なったものになる。
例えば、図11の例では、入力NRZ光信号S100の信号パターンは<111010010>であるが、RZ変換光信号S50の信号パターンは<100111011>となる。しかしながら、クロック抽出における最終目的は、先に述べたように、連続したパルス列(あるいは正弦波)の出力を得ることが目的であるので、このような入力光信号の信号パターンの変化は問題とはならない。また、特許文献3で述べられているように、RZ光信号への変換過程は、何らの光電変換を介さずに、全光学的に実行されるので、このようなNRZ光信号からRZ光信号への変換は、光デバイス・電子デバイスの電気的帯域の制限を受けずに、高いビットレートの光信号にも適用できる。
光遅延干渉計58として、直交した光軸方向で光路差が等しい、いわゆる偏波無依存型のものを用いれば、入力NRZ光信号の偏波状態にかかわらず、上述したようなNRZ光信号からRZ光信号への変換が行われる。
RZ変換光信号S50は、入力NRZ光信号S100がそうであるように、偏波不定光であるが、このRZ変換光信号S50は、RZ光信号であるため、クロック再生動作を安定に実行できるほどの強いビットレート周波数成分を有する。
さらには、このRZ変換光信号S50が、偏波分離回路51に入力されると、第1の実施形態で説明した効果により、モード同期半導体レーザ300から、再生光クロック信号C51及びC52を得ることができる。
図12は、第2の実施形態の、入力光信号、光信号及び光クロック信号の信号波形及び偏波状態を模式的に示した図である。
図12に示すように、RZ変換光信号S50、光信号S51〜S54、光クロック信号C51、C52はそれぞれ、図3に示す第1の実施形態での、入力光信号S30、光信号S31〜S34、光クロック信号C31、C32に対応するものであり、その詳細な説明は先に述べられた通りなのでここでは割愛する。
(B−3)第2の実施形態の効果
以上のように、第2の実施形態によれば、第1の実施形態で説明した効果に加えて、次に示す効果を得ることができる。すなわち、入力光信号がNRZ光信号の場合であっても、入力光信号の偏波状態に無依存な、全光クロック信号再生が実行できるようになる。
(F)他の実施形態
第1、第2の実施形態において、モード同期半導体レーザがTE偏波発振するものとして説明したが、TM偏波発振する受動モード同期半導体レーザでも同様の効果は得られる。TM偏波発振するモード同期半導体レーザを適用する場合、TE偏波成分の光信号の偏光方向を90°回転させる構成を備えることで、第1、第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。
第1、第2の実施形態においては、モード同期半導体レーザ100、200、300として、可飽和吸収領域を有し、それがモード同期動作を生じさせるモードロッカとして動作する、いわゆる受動モード同期半導体レーザを考慮しているが、可飽和吸収領域を有しないタイプのモード同期半導体レーザであっても、光信号を受け入れることでレーザ内部の光学利得、光学吸収、あるいは屈折率に変調が生じ、それによって光クロック再生動作を生じることが可能であるならば、適用することができる。
第1、第2の実施形態では、一方の共振器端面R1、R2、R3に高反射膜をコーティングした受動モード同期半導体レーザを適用した場合を説明したが、共振器端面R1、R2、R3に高反射膜をコーティングしていない受動コード同期半導体レーザにも適用できる。この場合、受動モード半導体レーザに入力される光信号S35、S44、S55は共振器端面L1、L2、L3から入力し、発振される光クロック信号C31、C41、C51は共振器端面R1、R3から出力される構成となるので、光サーキュレータ35、55を備えず、共振器端面R1、R2、R3に波長フィルタ37、57等を接続する構成としてもよい。
第1、第2の実施形態では、偏波分離回路により分離された一方の光信号の偏波方向を90°回転させる場合を説明したが、偏波分離された一方の光信号と他方の光信号との偏波方向の光軸方向が一致させることができれば、他の方法も適用できる。例えば、偏波分離した一方の光信号の偏波方向を+45°回転させ、他方の光信号の偏波方向を−45°回転させるようにしてもよい。なお、この場合でも、合成出力光の偏波方向とモード同期半導体レーザの発振偏波方向との両光軸方向が一致している必要がある。
図1、図8及び図10では、一方の偏波分離光の偏波方向を90°回転させた後に、時間遅延を与える構成としたが、時間遅延を与えた後に、偏波方向を回転させる構成としてもよい。
また、図1、図8及び図10には図示していないが、光経路の反射戻り光を遮断するために、進行方向選択部(例えば、光アイソレータ等)を光クロック信号の光学経路に備えるようにしてもよい。
1A、1B、1C…光クロック信号再生装置、100、200、300…モード同期半導体レーザ、31、51…偏波分離回路、32、52…λ/2波長板(+90°回転)、33、45、53…光遅延回路、34、46、54…光カップラ、35、55…光サーキュレータ、36、47、56…結合レンズ、41…偏波無依存型光アイソレータ、42…4ポート偏波分離回路、43…ファラデー回転子(+45°回転)、44…λ/2波長板(+45°回転)。