JP4833198B2 - 放電加工機の電源制御装置 - Google Patents

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Description

本発明は、加工電極と加工物を対向してなる加工間隙にパルス放電を行って加工物を加工する形彫放電加工機に供給する放電パルスを制御する電源制御装置に関するものである。
加工電極と加工物を対向してなる加工間隙にパルス放電を行って加工物を加工する形彫放電加工機において、従来、放電電圧の高周波成分を検出してその大小を判定することで放電加工時の放電状態を認識できることが知られている。この高周波成分から放電状態を認識する技術として、例えば、特許文献1に開示されたものが知られている。
図13は例えば特許文献1に記載された従来の放電加工機の要部と実質的に同一の構成の回路図である。図において、放電加工機の電極2と被加工物3との加工間隙にパルス状の放電電圧が供給される。ハイパスフィルタ4は、この放電電圧の高周波成分を抽出する。整流装置5は、ハイパスフィルタ4により抽出された高周波成分を整流して出力信号Vrecとして出力する。放電電圧検出装置75は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧を検出する。放電電流検出装置76は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電流を検出する。
放電電圧検出装置75の出力信号u及び放電電流検出装置76の出力信号iは、ロジック回路77に入力される。ハイパスフィルタ4の時定数tHを計測する時定数計測装置70とロジック回路72とにより遅延回路が形成されている。ロジック回路77からの出力信号79は、時定数計測装置70及びロジック回路72に入力され、また、時定数計測装置70からの出力信号71は、ロジック回路72に入力される。積分回路9は、演算増幅器の反転(−)入力側と出力側との間に接続されるコンデンサC1及び整流装置5の出力側と演算増幅器の反転(−)入力側との間に直列接続される抵抗R1からなる。なお、演算増幅器の非反転(+)入力側はアースされている。
リセット回路10は、コンデンサC1の両端子間にコレクタ−エミッタが接続されたトランジスタからなる。ロジック回路72からの出力信号73は、リセット回路10に入力される。積分回路9の演算増幅器からの出力信号である積分出力値Vintは、比較器78の反転(−)入力側に入力され、比較器78の非反転(+)入力側には、基準電圧Vrefが入力される。
図14は図13に示す放電加工機の入出力信号波形のタイムチャート図である。図において、波形Aは電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、波形Bはハイパスフィルタ4の出力信号波形、波形Gはロジック回路77の出力信号波形、波形Hは時定数計測装置70の出力信号波形、波形Iはロジック回路72の出力信号波形、波形Fは積分回路9の積分出力信号波形である。
次に、動作について図13及び図14を参照して説明する。図14において、波形80は電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、時間間隔Tonは放電パルス幅、時間間隔Toffは休止時間である。電極2と被加工物3との加工間隙に電圧が印加されたのち放電が発生する。放電が発生すると、放電電圧検出装置75及び放電電流検出装置76からの出力信号は共にH(High:高)レベルとなる。これらの出力信号はロジック回路77に入力される。ロジック回路77ではそれらの入力信号が共にHレベル、即ち、電極2と被加工物3との加工間隙に放電が発生したときに、L(Low:低)レベルが出力される。この時刻を放電検出時刻t1とする。時刻t2は、この放電検出時刻t1を起点としてハイパスフィルタ4の時定数tH後の時刻(t2=t1+tH)である。
波形82は、放電電圧の高周波成分、波形83はハイパスフィルタ4の過渡特性に起因する外乱波形をそれぞれ示している。時定数計測装置70ではロジック回路77の出力信号79の立下りの時刻を起点としてtH時間、Hレベルが出力される(図14中H)。また、ロジック回路72にはロジック回路77の出力信号79と時定数計測装置70の出力信号71とが入力され、図14のIに示す出力信号73が出力される。この出力信号73の立ち下がりの時刻を図14のIにおいてt2として示している。リセット回路10ではロジック回路72の出力信号73がHレベルの期間、積分回路9がリセットされる。即ち、ロジック回路72の出力信号73がLレベルの期間のみ積分回路9で整流装置5からの出力信号Vrecが積分される。比較器78では基準電圧Vrefと図14のFに示す積分出力Vintとが比較され、放電パルス幅Tonの終了時点で積分出力Vintが基準電圧Vrefよりも大きいときには正常放電パルス、逆のときにはアーク放電パルス等の異常放電パルスと判定される。
また、従来、放電電圧のレベルを検出することで放電加工機の放電加工時の放電状態を判定できることが知られている。この放電電圧のレベルから放電状態を判定する技術としては、例えば、特許文献2にて開示されたものが知られている。
図15は特許文献2に記載された放電加工機の要部と実質的に同一の構成の回路図である。図において、図13と同一または相当部分には同一符号を付して説明を省略する。加工パルス発生回路は、加工電源1と源流抵抗100とスイッチ90とを有している。スイッチ90は加工間隙に電圧が印加されたのち放電の発生を検出するためのシュミットトリガ回路91と放電パルス幅Tonを固定させるための第1単安定フリップフロップ92と2個の放電電圧パルス間の間隔の休止時間Toffを固定させるための第2単安定フリップフロップ93と、一方の入力部がフリップフロップ93に、他方の入力部が制御回路にそれぞれ接続されているANDゲート94により制御される。2個の比較器95、96を含むこの制御回路は、基準電圧値としての電圧の上限値V2及び下限値V1と、加工間隙の放電電圧を比較する。ANDゲート97は単安定フリップフロップ98によって固定される時間Fが通過する間、2つの基準電圧の中間に測定電圧が含まれている場合に、1つの出力信号を送出する。
図16は図15に示す放電加工機の種々の放電電圧波形80と電圧の読出し窓の持続時間F基づいた電流波形84との関係を示す図である。図において、波形Aは放電電圧波形、波形Bは放電電圧波形80の電圧レベルを検出する読出し窓の持続時間Fの出力信号波形85、波形Cは放電電流波形84である。放電電圧波形の形式A1、A2は放電電圧の上限値V2(例えば20Vとしてよい)よりも高く、放電電圧及び電流のパルス幅は放電パルス幅Tonの間保持されている。放電電圧波形の形式B1、B2は放電電圧の上限値V2よりも低く電圧の下限値V1(例えば5Vとしてよい)よりも高く読出し終了後に放電電圧及び電流のパルス幅が遮断されている。放電電圧波形の形式Cは下限値V1よりも低く放電電圧及び電流のパルス幅は放電パルス幅Tonの間保持されている。
さらに従来、異常放電パルスと判定された場合に休止時間を制御し放電状態を改善し加工能率が大きくなるように加工条件を制御することが知られている。この技術としては、例えば特許文献1にて開示されたものが知られている。
図17は例えば特許文献1に記載された他の放電加工機の要部と実質的に同一の構成の構成図である。図13と同一または相当部分には同一符号を付して説明を省略する。放電加工機は、短絡検出装置28と、第1の比較装置29と、第1の比較基準値発生装置30と、第2の比較装置31と、第2の比較基準値発生装置32とを有している。
図18は図17に示す電源制御装置の要部における入出力信号波形のタイムチャート図である。波形Aは電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、波形Bはハイパスフィルタ4の出力信号波形、波形Cは整流装置5の出力信号波形、波形Pは放電検出装置23の出力信号波形、波形Qはタイマー24の出力信号波形、波形Fは積分回路9の出力信号波形、波形Sは放電検出装置23の出力を第1の基準値と比較する第1の比較装置29の出力信号波形、波形Tは放電検出装置23の出力を第2の基準値と比較する第2の比較装置31の出力信号波形、波形Uは短絡検出装置28の出力信号波形である。
次に、動作について図17及び図18を参照して説明する。加工間隙には加工電源1よりパルス状の電圧が印加されて放電加工が行われる。その際の放電電圧波形Aがハイパスフィルタ4で高周波成分のみ抜き出され出力信号波形Bとなる。得られた高周波成分は整流装置5で整流され出力信号波形Cとなり、これが積分回路9へ入力される。また、放電が発生すると放電検出装置23は出力信号波形Pを立ち上げられ、積分回路9がリセットすると共にタイマー24がスタートして出力信号波形Qとなる。積分回路9で出力信号波形Cが積分され出力信号波形Fとなる。放電が終了すると放電検出装置23は放電検出出力を立ち下げる。放電検出出力の立ち下りで、第1の比較装置29と第2の比較装置31は、積分回路9の出力と第1の比較基準値発生装置30と第2の比較基準値発生装置32(第1の基準値よりも低く設定)の基準値との比較結果を、出力信号波形S及び出力信号波形Tとして出力する。これにより、放電パルスは、正常放電パルス、準アーク放電パルス、及びアーク放電パルスの3種類に分類される。
一方、短絡検出装置28は、放電検出出力の立下りで加工間隙の電圧値をチェックし短絡基準電圧(15V以下が望ましい)と比較して短絡検出信号を出力する(図13の波形U)。なお、ここで言う短絡状態とは、電極2と被加工物3が直接接触することのみを意味するのではなく、加工屑、加工液が変成したタール分、あるいは電極表面に形成される炭化皮膜などを介しての短絡をも含む。そのため、加工間隙の電圧値は完全に0Vとはなり得ず数V程度の電圧を生じるものである。短絡基準電圧は、アーク放電電圧と同じく電極材質などにより異なるため全ての場合に共通の値があるわけでない。短絡基準電圧は、例えば電極2が銅で被加工物が鋼の場合においては15V以下、望ましくは10V以下に設定する。
加工条件制御装置27は、第1の比較装置29及び第2の比較装置31から正常放電、準アーク放電、アーク放電の3種類の判別出力を、また短絡検出装置28から短絡状態の有無を表す2種類の判別出力を各パルス毎に得るので、加工条件制御装置27は分類された判別出力を得ることになる。加工条件制御装置27は、短絡の場合と非短絡正常放電の場合は加工条件を変更せず、準アーク放電の場合は休止時間を長いものに切り替え、アーク放電の場合は休止時間を更に長いものに切り替える。また、非短絡正常放電の場合は休止時間を短縮する。以上のように高周波成分の有無による放電状態の把握に加えて、短絡状態の有無をあわせて放電パルスを判断し、加工条件を制御し加工状態を最適に維持している。
特開平5−293714号公報 特開昭61−159326号公報
しかしながら、このような従来の放電加工機は、以下に述べるような問題を有していた。まず、第1の問題について図19を用いて説明する。図19は図13に示す放電加工機において、アーク放電の異常発生によるアーク電圧の低下が現れた場合の入出力信号波形のタイムチャート図である。図において、図14と同一または相当部品には同一符号を付して説明を省略する。放電電圧波形80には、高周波成分82以外にアーク放電の異常発生に同期してアーク電圧が低下するアーク電圧低下84,85が現れることがある(ここで、波形84は若干の電圧低下、波形85は、波形84よりさらに所定量電圧低下している)。これらのアーク電圧の低下84,85は、電極2がグラファイト材料などの時に多く発生する。このアーク電圧の低下84,85は、放電開始直後だけでなく、放電パルス幅の1/2を超えるある時間経過後でも多く見られる。このようなアーク電圧低下84,85があると、放電加工現象の高周波成分を検出する図13の電源制御装置では、正確な加工状態を把握することができない。
以下、この誤検出の動作について説明する。図19に示す放電電圧波形Aのアーク電圧低下84,85は、ハイパスフィルタ4の出力信号波形Bに外乱波形を発生させる。また、この放電電圧波形Aのアーク電圧低下84,85は、積分回路9の出力信号波形Fに影響を与える。すなわち、アーク電圧低下84,85が現れると、積分回路9の出力信号波形Fは、図19に実線で示すように積分出力値が大きくなる。この大きくなった部分の積分出力値Vint2は、本来あるべき積分出力値Vint1よりも所定量大きな値となるため、これを原因として、本来検出すべき放電現象に起因する高周波成分を正確に検出することができない。
次に、第2の問題について説明する。放電パルス幅Tonの区間でアーク電圧低下84,85が現れる場合について説明する。アーク電圧低下84,85は放電状態が悪化及び放電現象が異常になると現れてアーク放電の発生や放電加工効率を低下させるもので、この状態のときに放電パルスを維持すべきではない(放電パルス幅Tonを保持すべきではない)。これに対して図13の放電加工機においては、放電状態の判定が放電パルス幅Tonの終了時点で積分出力Vintと基準電圧Vrefを比較することにより行われ、放電パルス幅Tonの間保持される。放電状態を放電パルス幅Tonの終了時点で判定する図13の放電状態検出装置では、アーク電圧低下84,85が現れる場合に放電パルス幅Tonを最適に制御できない。
一方、図15の放電加工機では、放電電圧の上限値V2(例えば20Vとしてよい)よりも高いと、放電電圧及び電流のパルス幅はパルス幅Tonの間保持される。放電電圧の上限値V2よりも低く放電電圧の下限値V1(例えば5Vとしてよい)よりも高いと、読出し終了後に放電電圧及び電流のパルス幅Tonが遮断される。放電開始時(放電の発生検出後)の放電パルスより遥かに小さい読み出し窓の時間における電圧レベルを比較しており、放電パルス幅Ton期間の任意の時点でアーク放電の異常発生に同期してアーク電圧が低下する現象は読み取れない。放電開始時(放電の発生検出後)に観察される電圧値により放電電圧及び電流のパルス幅Tonを制御する図13の放電加工機ではアーク電圧低下を的確に検出できない。また、放電パルス幅Tonを最適に制御できない。
また、放電電圧の上限値V2を20Vとした場合、アーク放電の異常パルスの検出については効果あるが、電極がグラファイト材の時に発生する電極コーナ部の粒状突起物発生(炭化物付着)は低減できない。
次に、第3の問題について図20を用いて説明する。図20は図17に示す放電加工機においてアーク放電の異常発生によるアーク電圧の低下が現れた場合の入出力信号波形のタイムチャート図である。図において、図18と同一または相当部分には同一符号を付して説明を省略する。放電電圧波形80には、高周波成分82以外に、波形84,85,86で示されるアーク放電の異常発生に同期したアーク電圧低下が現れることがある。これらのアーク電圧の低下84,85,86は、電極2がグラファイト材料などの時に多く発生する。このアーク電圧の低下84,85,86は、放電開始直後だけでなく、放電パルス幅の1/2を超えるある時間経過後でも多く見られる。放電パルス幅の終了時点で高周波成分の有無による放電状態を把握し短絡状態の有無をあわせて放電パルスを3種類に分類しこの分類に基づき加工条件を制御することで加工状態を最適に維持する図17の放電加工機では、このようなアーク電圧低下84,85,86があると、放電パルスの誤検出による加工条件の誤った制御が発生する。
以下、この誤検出の動作について説明する。アーク電圧低下84,85,86が現れると積分回路9の出力信号波形は図20の波形Fのようになり、準アーク放電パルスまたはアーク放電パルスと認識されてしまう。そして、アーク電圧低下84,85では、休止時間が長いものに切り替えられ、アーク電圧低下86では、更に長いものに切り替えられてしまう。アーク電圧が低下したアーク電圧低下85,86の放電電圧は、アーク放電の発生や放電加工効率を低下させるもので放電パルスを維持すべきではない(放電パルス幅を長く保持すべきではない)。放電状態を放電パルス幅の終了時点で判定し休止制御を実施する図17の放電加工機では放電状態の判定が遅くなり、アーク電圧低下84,85,86が現れる場合に休止時間を的確に制御することができない。
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、アーク電圧低下が現れる場合であっても、的確に放電状態を検出することができ、これに基づき放電パルス及び休止時間を的確に制御することができる放電加工機の電源制御装置を提供することを目的とする。
課題を解決するために、この発明の放電加工機の電源制御装置は、加工電極と加工物を対向してなる加工間隙にパルス放電を行って加工物を加工する放電加工機に供給する放電パルスを制御する放電加工機の電源制御装置において、加工間隙の放電電圧の高周波成分を検出する高周波成分検出手段と、加工間隙の放電電圧レベルを検出する電圧レベル検出手段と、検出された高周波成分を高周波成分基準値と比較する高周波成分比較手段と、検出された放電電圧レベルを電圧レベル基準値と比較する電圧レベル比較手段と、高周波成分比較手段の比較結果により休止時間を制御するとともに電圧レベル比較手段の比較結果により放電パルスを遮断するパルス制御手段とを備えたことを特徴とする。
この発明に係る放電加工機の電源制御装置によれば、パルス制御手段が、高周波成分の基準値との差に基づいて休止時間を制御するとともに、電圧レベルの基準値との差に基づいて放電パルスを遮断する。そのため、アーク電圧低下が現れる場合であっても、的確に放電状態を検出することができ、これに基づき放電パルス及び休止時間を的確に制御することができる。
図1は、この発明に係る実施の形態1の放電加工機の電源制御装置要部の概略の回路図である。 図2は、放電加工機の電源制御装置の加工電圧レベル検出装置の他の例を示す回路図である。 図3は、図1に示す放電加工機の電源制御装置の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図4−1は、基準電圧Vc変更とパルス幅分布の関係を示す図のうち、基準電圧Vcが55Vの場合を示す図である。 図4−2は、基準電圧Vc変更とパルス幅分布の関係を示す図のうち、基準電圧Vcが56Vの場合を示す図である。 図4−3は、基準電圧Vc変更とパルス幅分布の関係を示す図のうち、基準電圧Vcが57Vの場合を示す図である。 図5は、この発明に係る実施の形態2の放電加工機の電源制御装置要部を示す、一部を回路図とする機能ブロック図である。 図6は、図5に示す放電加工機の電源制御装置の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図7は、図5の加工条件制御装置の動作を示すフローチャート図である。 図8は、本実施の形態の電源制御装置を用いた放電加工機と従来のものとの加工性能比較を示す加工時間曲線の図である。 図9は、この発明に係る実施の形態3の放電加工機の電源制御装置要部を示す、一部を回路図とする機能ブロック図である。 図10は、図9に示す放電加工機の電源制御装置の動作を示すフローチャートである。 図11は、本実施の形態の放電加工機の電源制御装置において、放電パルス遮断率(パルスカット率)を算出した算出結果の一例を示す図である。 図12−1は、加工が不安定と判定する場合のパルス幅分布の一例を示す図である。 図12−2は、加工が安定していると判定する場合のパルス幅分布の一例を示す図である。 図13は、例えば特許文献1に記載された従来の放電加工機の要部と実質的に同一の構成の回路図である。 図14は、図13に示す放電加工機の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図15は、例えば特許文献2に記載された従来の放電加工機の要部と実質的に同一の構成の回路図である。 図16は、図15に示す放電加工機の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図17は、例えば特許文献1に記載された他の放電加工機の要部と実質的に同一の構成の構成図である。 図18は、図17に示す放電加工機の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図19は、図13に示す放電加工機においてアーク放電の異常発生によるアーク電圧の低下が現れた場合の入出力信号波形のタイムチャート図である。 図20は、図17に示す放電加工機においてアーク放電の異常発生によるアーク電圧の低下が現れた場合の入出力信号波形のタイムチャート図である。
符号の説明
1 加工電源
2 電極
3 被加工物
4 ハイパスフィルタ(高周波成分検出手段)
5 整流装置(高周波成分検出手段)
9 積分回路(高周波成分検出手段)
10 リセット回路
23 放電検出装置
24 タイマー
27 加工条件制御装置
28 短絡検出装置
29 第1の比較装置
30 第1の比較基準値発生装置
31 第2の比較装置
32 第2の比較基準値発生装置
40 加工電圧レベル検出装置(電圧レベル検出手段)
41 比較器(電圧レベル比較手段)
43 パルス制御装置(パルス制御手段)
44 スイッチング素子
45 平均休止時間算出装置(平均休止時間算出手段)
46 良否パルスカウンタ(良否パルスカウント手段)
47 加工安定度認識装置(加工安定度認識手段)
48 加工条件制御装置(加工条件制御手段)
50 パルス遮断算率出装置(パルス遮断算率出手段)
70 時定数計測装置
72 ロジック回路
75 放電電圧検出装置
76 放電電流検出装置
77 ロジック回路
78 比較器(高周波成分比較手段)
以下、本発明に係る放電加工機の電源制御装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
図1はこの発明に係る実施の形態1の放電加工機の電源制御装置要部の概略の回路図である。図において、放電加工機の電極2と被加工物3との加工間隙にパルス状の放電電圧が供給される。ハイパスフィルタ4は、この放電電圧の高周波成分を抽出する。整流装置5は、ハイパスフィルタ4により抽出された高周波成分を整流して出力信号Vrecを出力する。放電電圧検出装置75は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧を検出する。放電電流検出装置76は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電流を検出する。
放電電圧検出装置75の出力信号u及び放電電流検出装置76の出力信号iは、ロジック回路77に入力される。ハイパスフィルタ4の時定数tHを計測する時定数計測装置70とロジック回路72とにより遅延回路が形成されている。ロジック回路77からの出力信号79は、時定数計測装置70及びロジック回路72に入力され、また、時定数計測装置70からの出力信号71は、ロジック回路72に入力される。積分回路9は、演算増幅器の反転(−)入力側と出力側との間に接続されるコンデンサC1及び整流装置5の出力側と演算増幅器の反転(−)入力側との間に直列接続される抵抗R1からなる。なお、演算増幅器の非反転(+)入力側はアースされている。
リセット回路10は、コンデンサC1の両端子間にコレクタ−エミッタが接続されたトランジスタからなる。ロジック回路72からの出力信号73は、リセット回路10に入力される。積分回路9の演算増幅器からの出力信号である積分出力値Vintは、比較器(高周波成分比較手段)78の反転(−)入力側に入力され、比較器78の非反転(+)入力側には、基準電圧Vrefが入力される。ハイパスフィルタ4、整流装置5および積分回路9は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧の高周波成分を検出する高周波成分検出手段を構成している。
本実施の形態の電源制御装置においては、図13に示した従来装置に加えて加工電圧レベル検出装置(電圧レベル検出手段)40と比較器(電圧レベル比較手段)41とが設けられている。加工電圧レベル検出装置40は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧レベルを検出する。加工電圧レベル検出装置40の出力信号であるVCP電圧が、比較器41の非反転(+)入力側に入力され、比較器41の反転(−)入力側には、基準電圧Vcが入力される。比較器41の出力信号111は、パルス制御装置(パルス制御手段)43に入力される。
また、本実施の形態の放電加工機の電源制御装置における比較器41の反転(−)入力柄に入力される基準電圧Vcは、電源回路の主電源の極間オープン電圧(例えば80V)に対して加工電圧25〜30%に相当する電圧値に設定する。
図2は放電加工機の電源制御装置の加工電圧レベル検出装置40の他の例を示す回路図である。この例においては、加工電圧レベル検出装置40は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧レベルを検出する加工電圧レベル検出器40Aと、加工電流の断続を行うためのスイッチング素子44と、電流検出抵抗R3とを含む。加工電圧レベル検出器40Aには、加工電源としての直流電源1と電極2とが接続されている。スイッチング素子44は、パルス制御装置43からの制御信号により動作する。
図3は図1に示す放電加工機の電源制御装置の入出力信号波形のタイムチャート図である。波形Aは電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、波形Bはハイパスフィルタ4の出力信号波形、波形Gはロジック回路77の出力信号波形、波形Hは時定数計測装置70の出力信号波形、波形Iはロジック回路72の出力信号波形、波形Fは積分回路9の積分出力信号波形、波形Jは比較器78の出力信号波形、波形Kは加工電圧レベル検出装置40の出力信号波形、波形Lは比較器41の出力信号波形、波形O1はパルス制御装置43の第1の出力信号波形、O2はパルス制御装置43の第2の出力信号波形である。
次に動作について図1、図2、図3を参照して説明する。図3において、波形80は電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、時間間隔Tonは放電パルス幅、時間間隔Toffは休止時間である。電極2と被加工物3との加工間隙に電圧が印加されたのち放電が発生する。放電が発生すると、放電電圧検出装置75及び放電電流検出装置76からの出力信号は共にH(High:高)レベルとなる。これらの出力信号はロジック回路77に入力される。ロジック回路77ではそれらの入力信号が共にHレベル、即ち、電極2と被加工物3との加工間隙に放電が発生したときに、L(Low:低)レベルが出力される。この時刻を放電検出時刻t1とする。時刻t2は、この放電検出時刻t1を起点としてハイパスフィルタ4の時定数tH後の時刻(t2=t1+tH)である。
波形82は、放電電圧の高周波成分、波形83はハイパスフィルタ4の過渡特性に起因する外乱波形をそれぞれ示している。時定数計測装置70ではロジック回路77の出力信号79の立下りの時刻を起点としてtH時間、Hレベルが出力される(図3中H)。また、ロジック回路72にはロジック回路77の出力信号79と時定数計測装置70の出力信号71とが入力され、図3のIに示す出力信号73が出力される。この出力信号73の立ち下がり時刻を図3のIにおいてt2として示している。リセット回路10ではロジック回路72の出力信号73がHレベルの期間、積分回路9がリセットされる。即ち、ロジック回路72の出力信号73がLレベルの期間のみ積分回路9で整流装置5からの出力信号Vrecが積分される。比較器78では基準電圧Vrefと図3のFに示す積分出力Vintとが比較され、放電パルス幅Tonの終了時点で積分出力Vintが基準電圧Vrefよりも大きいときには正常放電パルス、小さいときにはアーク放電パルス等の異常放電パルスと判定され、比較器78から出力信号Jが出力される。
図2に示す例の場合、加工電圧レベル検出装置40は、図2の電流検出抵抗R3に流れる電圧を検出する。図1に示すように極間を直接検出する方法としてもよい。そして、加工電圧レベル検出装置40は、図3に示すように放電電圧の逆となる電圧波形の出力信号Kを出力する。比較器41では基準電圧Vcと加工電圧レベル検出装置40の出力信号とが比較され、加工電圧レベル検出装置40の出力VCP電圧が基準電圧Vcよりも大きいときには異常放電パルスと判定され図3に示す出力信号Lが出力される。なお、ここで基準電圧Vcは、電極材質などにより異なるため共通の値があるわけでないが、例えばグラファイト電極で鋼を加工する場合は20から25V相当の基準電圧値となるように設定する。もしくは、基準電圧Vcを電源回路の主電源の極間オープン電圧(例えば80V)に対して25〜30%に相当する電圧値に設定してもよい。
次に、上述の比較器78からの出力信号110と比較器41からの出力信号111とに基づき動作するパルス制御装置43における放電パルスの制御について説明する。比較器41の出力信号111が“H”レベル(図3のL)となり異常放電パルスと判別されると、放電電圧及び電流のパルス幅が遮断される。この時、比較器78は放電パルス幅の終了時点にて、積分出力Vintと基準電圧Vrefとの比較を行わない。図3において、実際には動作していない波形を示す点線で記載されている様に、比較器78の出力信号110が“H”レベルになると異常放電パルスと判別され休止時間を長いもの(Toff+ΔToff)に切換える。
以上のように構成することにより、放電加工状態の検出を的確にし、正常放電パルスか異常放電パルスかの判定を正確に行うことができ、高周波成分の有無や加工電圧レベルによる放電状態に基づき加工パルス幅と休止時間幅を制御するよう構成したので加工間隙での連続アークの発生を防止し電極あるいは被加工物の損傷を防ぐことができる。
図4−1、図4−2及び図4−3は、本実施の形態の電源制御装置を用いた放電加工機において、パルス制御装置43の出力信号から基準電圧変更にともなうパルス幅分布の変化を調べた結果を示すものであり、基準電圧Vc変更とパルス幅分布の関係を示す図のうち、図4−1は基準電圧Vcが55V(加工電圧25V相当)の場合を示し、図4−2は基準電圧Vcが56V(加工電圧24V相当)の場合を示し、図4−3は基準電圧Vcが57V(加工電圧23V相当)の場合を示している。いずれのものも、電極が直径Φ20mmのグラファイト電極、被加工物が鋼、液処理が無噴流、加工条件として、ピーク電流値25A、パルス幅192μs、休止時間115μs、ジャンプダウン時間500μs、ジャンプアップ距離1.4mmとし、正常放電パルスが出力されている間をサンプリング数1000でデータ取得したものである。基準電圧Vc55Vでは、粒状突起物がなく、基準電圧Vc56Vでは、粒状突起物が若干発生し、基準電圧Vc57Vが発生している。
このように、基準電圧Vcが、正常放電パルス(電極がグラファイト材の時は加工電圧約30V)と異常放電パルス(電極がグラファイト材の時は加工電圧約20V)の間であって、電圧レベル検出時に放電電圧のパルス幅Tonを遮断しても加工速度が低下しない特定の値になると、アーク放電の異常パルスの検出に加え粒状突起物発生(炭化物付着)も低減することができる。
なお、本実施の形態では、異常放電パルスを分類判別し直ちに放電パルス及び休止時間を制御するように構成しているが、分類判別された出力信号をカウントしカウント数が一定値に達したときに、放電パルス及び休止時間を制御するようにしてもよい。また、休止時間の変更以外に、加工条件のジャンプダウン時間やジャンプアップ距離などを併せて制御しても良い。また、加工電圧レベル検出装置40に関しては、上記のように図2に示す方法に限られず、図1に示すように極間を直接検出する方法としてもよい。また、本実施の形態では放電電圧レベル検出を放電電圧の逆となる電圧波形を採用しているが、電極と被加工物との間を直接検出してもよい。
実施の形態2.
図5はこの発明に係る実施の形態2の放電加工機の電源制御装置要部を示す、一部を回路図とする機能ブロック図である。図5において、電極2と被加工物3とにより加工間隙が形成される。この加工間隙に加工電源1からパルス状の放電電圧が供給される。ハイパスフィルタ4は、放電電圧の高周波成分を検出する。整流装置5はハイパスフィルタ4からの高周波成分を整流する。整流装置5から整流された出力信号が出力される。放電検出装置23は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧及び放電電流を検出する。放電検出装置23の出力で積分回路9がリセットすると共にタイマー24がスタートする。短絡検出手段としての短絡検出装置28が設けられている。第1の基準値との比較手段としての第1の比較装置29が設けられている。第1の比較基準値発生手段としての第1の比較基準値発生装置30が設けられている。第2の基準値との比較手段としての第2の比較装置31が設けられている。第2の比較基準値発生手段としての第2の比較基準値発生装置32が設けられている。
本実施の形態の電源制御装置においては、図17に示した従来装置に加えて、実施の形態1と同じように、加工電圧レベル検出装置40と比較器41とが設けられている。加工電圧レベル検出装置40は、電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧レベルを検出する。比較器41には、加工電圧レベル検出装置40の出力信号と基準電圧Vcとが入力される。比較器41の出力信号はパルス制御装置43に入力される。
そして、本実施の形態の電源制御装置においては、図17に示した従来装置にさらに加えて、平均休止時間算出装置(平均休止時間算出手段)45と、良否パルスカウンタ(良否パルスカウント手段)46と、加工安定度認識装置(加工安定度認識手段)47と、加工条件制御装置(加工条件制御手段)48とが設けられている。
平均休止時間算出装置45は、パルス制御装置43により制御され変動する放電パルスの休止時間の平均値を求める。良否パルスカウンタ46は、放電パルスが正常と判別された正常放電パルスをカウントする。加工安定度認識装置47は、平均休止時間算出装置45で求めた平均の休止時間により加工状態の“安定”“不安定”を判断する。加工条件制御装置48は、加工安定度認識装置47の出力に基づき加工条件を切り替える。
図6は図5に示す放電加工機の電源制御装置の入出力信号波形のタイムチャート図である。図において、波形Aは電極2と被加工物3との加工間隙の放電電圧波形、波形Bはハイパスフィルタ4の出力信号波形、波形Cは整流装置5の出力信号波形、波形Pは放電検出装置23の出力信号波形、波形Qはタイマー24の出力信号波形、波形Fは積分回路9の出力信号波形、波形Sは放電検出装置23の出力を第1の基準値と比較する第1の比較装置29の出力信号波形、波形Tは放電検出装置23の出力を第2の基準値と比較する第2の比較装置31の出力信号波形、波形Uは短絡検出装置28の出力信号波形、波形Kは加工電圧レベル検出装置40の出力信号波形、波形Lは比較器41の出力信号波形、波形O1はパルス制御装置43の第1の出力信号波形、波形O2はパルス制御装置43の第2出力信号波形である。
次に、その動作について図5及び図6を参照して説明する。加工間隙には加工電源1よりパルス状の電圧が印加されて放電加工が行われる。その際の放電電圧波形Aがハイパスフィルタ4で高周波成分のみ抜き出され出力信号波形Bとなる。得られた高周波成分は整流装置5で整流され出力信号波形Cとなり、これが積分回路9へ入力される。また、放電が発生すると放電検出装置23は出力信号波形Pを立ち上げられ、積分回路9がリセットすると共にタイマー24がスタートして出力信号波形Qとなる。そして、積分回路9で出力信号波形Cが積分され出力信号波形Fとなる。放電が終了すると放電検出装置23は放電検出出力を立ち下げる。放電検出出力の立ち下りで、第1の比較装置29と第2の比較装置31は、積分回路9の出力と第1の比較基準値発生装置30と第2の比較基準値発生装置32(第1の基準値よりも低く設定)の基準値との比較結果を、出力信号波形S及び出力信号波形Tとして出力する。
一方、短絡検出装置28は、放電検出出力の立下りで加工間隙の電圧値をチェックし短絡基準電圧(15V以下が望ましい)と比較して短絡検出信号を出力する(図6中U)。短絡基準電圧は、アーク放電電圧と同じく電極材質などにより異なるため全ての場合に共通の値があるわけでない。短絡基準電圧は、例えば電極2が銅で被加工物が鋼の場合は15V以下、望ましくは10V以下に設定する。また、電極2がグラファイト材料で被加工物が綱の場合でも15V以下、望ましくは10V以下に設定してもよい。
加工電圧レベル検出装置40は、図2の電流検出抵抗R3に流れる電圧を検出し、放電電圧の逆となる電圧波形Kを出力する。比較器41では基準電圧Vcと加工電圧レベル検出装置40の出力信号が比較され、加工電圧レベル検出装置40の出力VCP電圧が基準電圧Vcよりも大きいときには異常放電パルスと判定され、出力信号Lが出力される。なお、基準電圧Vcは、電極材質などにより異なるため共通の値があるわけでないが、グラファイト電極で鋼を加工する場合は加工電圧20〜25V相当の基準電圧値となるように設定する。もしくは、基準電圧Vcを電源回路の主電源の極間オープン電圧(例えば80V)に対して加工電圧25〜30%に相当する電圧値に設定しても良い。
パルス制御装置43は、第1の比較装置29及び第2の比較装置31と比較器41から放電パルスの判別出力、また、短絡検出装置28から短絡状態の有無を表す2種類の判別出力を各パルス毎に分類された判別出力を得る。そして、短絡検出装置28の出力信号Uが“L”レベル(非短絡放電パルス)のときに、第2の比較装置31の出力信号Tが“H”レベルを出力する場合は、高周波成分に基づく異常放電パルスと判断し、休止時間をToff+ΔToffに切り替える。放電検出装置23の出力信号がPに示すように“H”レベル(放電パルス中)のとき、また、比較器41の出力信号Lが“H”レベルを出力する場合は、加工電圧レベルに基づく異常放電パルスと判断し放電電圧及び電流のパルス幅が遮断される(図6中O2)。また、非短絡正常放電パルスの場合は、休止時間を変更前の設定に戻すよう制御する。以上のように、短絡状態の有無にあわせて、高周波成分や放電電圧レベルにより放電状態を把握し、各放電パルス毎に放電パルスを最適に制御している。
図7は図5の加工条件制御装置48の動作を示すフローチャート図である。図7に沿って、加工条件制御装置48の加工条件制御の動作を説明する。設定された期間毎(例えばサンプリングタイム0.25sec)に加工安定度認識装置47から“安定”あるいは“不安定”の信号が出力される。休止時間を制御する場合、休止時間の伸び方により加工状態の“安定”,“不安定”を判断することができる。図6において、例えば、休止時間がΔToff=Toffとなるように制御を実施する場合、Toffの休止時間を基準とし1とすると、休止時間は(2+1+1+1)となるので、平均休止時間は(2+1+1+1)/4=1.25となる。この例では放電パルスの遮断は平均休止時間の算出に盛込んでいない。この値を加工安定度認識装置47で判断し、例えば、平均休止時間の値が1.6以上の場合は“不安定”と認識し、1.6未満の場合は“安定”と認識させる(ステップS1)。
加工安定度認識装置47が“不安定”と認識した場合は、設定している加工条件(例えば、休止時間)を大きく回避させるなどの回避操作を実施し(ステップS2)、その後、加工安定度認識装置47が“安定”と認識すると、回避操作を実施する前の基の加工条件設定に戻す復帰操作を実施する(ステップS3)。
一方、加工安定度認識装置47が“安定”と認識し、この“安定”の出力が設定された一定時間(例えば、サンプリングタイム0.25secが400回)を経過するまで出力されている場合は(ステップS4)、設定している加工条件(例えば、ジャンプダウン時間、ジャンプアップ距離、休止時間)を加工能率が向上するよう最適化操作を実施する(ステップS5)。最適化操作は、例えばジャンプダウン時間(Jd=Jd+1ノッチ)、ジャンプアップ距離(Ju=Ju−1ノッチ)、休止時間(Off=Off−1ノッチの順に操作され、加工条件変更後に設定された期間(例えば、24sec)における加工安定度認識装置47が“安定”(ステップS6)のとき良否パルスカウンタがカウントする正常放電パルス数が所定の係数以上(例えば、1.03倍)であるかが判断され、所定の係数以上の時に増加と判断して最適化操作を継続する(ステップS7)。
次に、本実施の形態に係る放電加工機の電源制御装置を用いた加工性能事例を説明する。図8は本実施の形態の電源制御装置を用いた放電加工機と従来のものとの加工性能比較を示す加工時間曲線の図である。電極がΦ20mmのグラファイト電極、被加工物が鋼、液処理が無噴流、加工条件を、ピーク電流値25A、パルス幅192μs、休止時間115μs、ジャンプダウン時間500μs、ジャンプアップ距離1.4mmとし、加工深さを、20mmとして加工を行った。本実施の形態のものは従来のものより短い時間で所定の深さまで加工が行われていることが解る。本実施の形態に係る放電加工機の電源制御装置は、各放電パルス毎に放電パルスを最適に制御しているので正常放電パルス数を増加させることができる。また、平均休止時間が小さくなることにより加工安定度の“不安定”認識が減少するため一時的に加工条件(休止時間)を回避させる回避操作を大幅に減少させ、加工条件の最適化操作による加工条件設定において、加工速度が最大になる設定とすることができる。これにより、加工能率を向上させることができる。
なお、本実施の形態では、異常放電パルスを分類判別し直ちに放電パルス及び休止時間を制御するよう構成されているが、分類判別された出力信号をカウントしカウント数が一定値に達すると放電パルス及び休止時間を制御するようにしてもよい。また、休止時間を制御する代わりに加工間隙に与えられる電圧パルスから所望個数の電圧パルスを間引くように制御しても良い。また、休止時間の変更以外に加工条件のジャンプダウン時間やジャンプアップ距離などを制御もしくは付加した形態で制御しても良い。
また、本実施の形態では、加工安定度認識は設定された期間における平均休止時間算出装置に基づき“安定”或いは“不安定”と判定しているが、分類判別された異常放電パルスあるいは異常放電パルス数に基づき“安定”“不安定”を判定するようにしても良い。
実施の形態3.
図9はこの発明に係る実施の形態3の放電加工機の電源制御装置要部を示す、一部を回路図とする機能ブロック図である。図5に示す実施の形態2の放電加工機の電源制御装置と同一または相当部分には同一符号を付して説明を省略する。本実施の形態の電源制御装置においては、図5に示した実施の形態2の電源制御装置に加えて、パルス遮断率算出装置(パルス遮断率算出手段)50が設けられている。
平均休止時間算出装置(平均休止時間算出手段)45は、パルス制御装置(パルス制御手段)43により制御され変動する放電パルスの休止時間の平均値を求める。パルス遮断率算出装置(パルス遮断率算出手段)50は、比較器41の出力信号を読み込みパルス制御装置43により制御される放電パルス遮断の発生割合を算出する。良否パルスカウンタ(良否パルスカウント手段)46は、放電パルスが正常と判別された正常放電パルスをカウントする。加工安定度認識装置(加工安定度認識手段)47は、平均休止時間算出装置45で算出された平均の休止時間とパルス遮断率算出装置50で算出されたパルス遮断率により加工状態の“安定”“不安定”を判断する。加工条件制御装置(加工条件制御手段)48は、加工安定度認識装置47の出力に基づき加工条件を切り替える。
図10は図9に示す放電加工機の電源制御装置の動作を示すフローチャート図である。加工条件制御装置48の動作について図10にそって説明する。設定された期間毎(例えばサンプリングタイム0.25sec)に加工安定度認識装置47から“安定”あるいは“不安定”の信号が出力される。休止時間を制御する場合、休止時間の伸び方により加工状態の“安定”“不安定”を判断することができる。図6において、例えば、休止時間がΔToff=Toffとなるように制御を実施する場合、Toffの休止時間を基準とし1とすると、休止時間は(2+1+1+1)となるので、平均休止時間は(2+1+1+1)/4=1.25となる。この例では放電パルスの遮断は平均休止時間の算出に盛込んでいない。このように、設定された期間毎(例えばサンプリングタイム0.25sec)に平均休止時間を算出し、この値を加工安定度認識装置47で判断し、例えば、平均休止時間の値が1.6以上の場合は“不安定”と認識し、1.6未満の場合は“安定”と認識させる(ステップS11)。
また、放電パルス遮断を制御する場合、パルス遮断率算出装置50から放電パルス遮断率の値により加工状態の“安定”“不安定”を判断することができる。図6において、例えば、放電パルス遮断率を3/4=0.75(75%)と算出できるように、設定された期間毎(例えばサンプリングタイム0.25sec)に放電パルス遮断率を算出し、この値を加工安定度認識装置47で判断し、“安定”“不安定”の判断基準値と比較し“安定”“不安定”と認識させるようになっている(ステップS11)。例えば、放電パルス遮断率が15%以上の場合は“不安定”と認識し、15%未満の場合は“安定”と認識する(図11)。
さらに、加工安定度認識装置47が“不安定”と認識した場合は、平均休止時間による不安定の認識か、放電パルス遮断率による不安定の認識かの不安定の種類判別をする(ステップS12)。そして、平均休止時間による不安定の認識の場合は、設定している加工条件を小さくする回避(例えば、休止時間を2倍[Off=Off+1ノッチ]に設定)させるなどの第1の回避操作を実施する(ステップS13)。一方、放電パルス遮断率による不安定の認識の場合は、設定している加工条件を大きくする回避(例えば、休止時間を2倍[Off=Off+1]にすると共にジャンプダウン時間を1/2[Jd=Jd−1ノッチ]に設定)させるなどの第2の回避操作を実施する(ステップS14)。その後、加工安定度認識装置47が“安定”と認識すると回避操作を実施する前の基の加工条件設定に戻す復帰操作を実施する(ステップS15)。
一方、加工安定度認識装置47が“安定”と認識し、一定時間(例えば、サンプリングタイム0.25secが400回)を経過した場合は(ステップS16)、設定している加工条件(例えば、ジャンプダウン時間、ジャンプアップ距離、休止時間)を加工能率が向上するよう最適化操作を実施する(ステップS17)。最適化操作は、例えばジャンプダウン時間(Jd=Jd+1ノッチ)、ジャンプアップ距離(Ju=Ju−1ノッチ)、休止時間(Off=Off−1ノッチ)の順に操作され、加工条件変更後に設定された期間(例えば、24sec)における加工安定度認識装置47が“安定”(ステップS18)のとき良否パルスカウンタがカウントする正常放電パルス数が所定の係数以上(例えば、1.03倍)であるかが判断され、所定の係数以上の時に増加と判断して最適化操作を継続する(ステップS19)。
図11は本実施の形態の放電加工機の電源制御装置において、放電パルス遮断率(パルスカット率)を算出した算出結果の一例を示す図である。放電パルス遮断率(パルスカット率)が15%以上の場合は“不安定”と認識し、15%未満の場合は“安定”と認識する。
なお、本実施の形態では、加工安定度認識は設定された期間における平均休止時間算出装置45に基づき“安定”“不安定”と判定しているが、分類判別された異常放電パルスあるいは異常放電パルス数に基づき“安定”“不安定”を判定するようにしても良い。
さらに、本実施の形態では、パルス遮断率算出装置50に基づき“安定”“不安定”と判断しているが、放電パルス遮断時の放電パルスを計時し放電パルス幅分布を算出し、パルス幅分布状況に基づき“安定”“不安定”を判定するようにしても良い。本実施の形態の電源制御装置を用いて放電パルス幅の分布を算出した算出結果の一例を図12に示す。図12−1は加工が不安定と判定する場合のパルス幅分布の一例を示す図である。図12−2は加工が安定していると判定する場合のパルス幅分布の一例を示す図である。図に示すように設定された期間中(サンプリングタイム0.25sec)の安定加工時と不安定加工時のパルス幅分布に差異が見られる。例えば、パルス幅1/2以下のパルス幅が発生した場合、あるいは1/2以下のパルス幅の比率が設定値(例えば5%)を超えた場合に不安定としても良い。また、本実施の形態では、加工条件制御装置48が操作する最適化操作は、ジャンプダウン時間、ジャンプアップ時間休止時間の順としているが、加工内容に応じて、前記3つの加工条件パラメータの操作有無に基づき実施しても良い。
この発明の放電加工機の電源制御装置は、加工電極と加工物を対向してなる加工間隙にパルス放電を行って加工物を加工する放電加工機に供給する放電パルスを制御する放電加工機の電源制御装置に適用されて好適なものであり、特にアーク放電の異常発生によるアーク電圧低下の発生しやすい放電加工機にもちいられる電源制御装置に最適なものである。

Claims (10)

  1. 加工電極と加工物を対向してなる加工間隙にパルス放電を行って前記加工物を加工する放電加工機に供給する放電パルスを制御する放電加工機の電源制御装置において、
    前記加工間隙の放電電圧の高周波成分を検出する高周波成分検出手段と、
    前記加工間隙の放電電圧レベルを検出する電圧レベル検出手段と、
    検出された前記高周波成分を高周波成分基準値と比較する高周波成分比較手段と、
    検出された前記放電電圧レベルを電圧レベル基準値と比較する電圧レベル比較手段と、
    前記高周波成分比較手段の比較結果により休止時間を制御するとともに前記電圧レベル比較手段の比較結果により放電パルスを遮断するパルス制御手段と
    を備えたことを特徴とする放電加工機の電源制御装置。
  2. 前記パルス制御手段は、前記加工間隙の放電電圧レベルが前記電圧レベル基準値以下となったときに前記放電パルスを遮断する
    ことを特徴とする請求項1に記載の放電加工機の電源制御装置。
  3. 前記電圧レベル比較手段は、前記電圧レベル基準値を主電源回路の極間オープン電圧に対し25〜30%に設定する
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の放電加工機の電源制御装置。
  4. 前記パルス制御手段の出力に基づき、加工状態が安定の場合に加工条件を加工能率が向上するように切換える加工条件制御手段
    をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の放電加工機の電源制御装置。
  5. 各放電パルスの良否をカウントする良否パルスカウント手段をさらに備え、
    前記加工条件制御手段は、前記放電良否パルスカウント手段の出力に基づいて良パルス数が多くなるように加工条件を切換える
    ことを特徴とする請求項4に記載の放電加工機の電源制御装置。
  6. 前記パルス制御手段の出力から平均休止時間を算出する平均休止時間算出手段と、
    前記平均休止時間の長さを安定、不安定の指標として放電加工状態を判定する加工安定度認識手段とをさらに備え、
    前記加工条件制御手段は前記加工安定度認識手段の判定結果に基づき加工条件を切換えることを特徴とする請求項4または5に記載の放電加工機の電源制御装置。
  7. 前記加工安定度認識手段は、前記平均休止時間が所定値より大きいときに不安定と判定し、前記平均休止時間が所定値を下回るときに安定と判定する
    ことを特徴とする請求項6に記載の放電加工機の電源制御装置。
  8. 前記パルス制御手段の出力から放電パルス遮断率を算出するパルス遮断率算出手段と、 前記放電パルス遮断率を安定、不安定の指標として放電加工状態を判定する加工安定度認識手段とをさらに備え、
    前記加工条件制御手段は前記加工安定度認識手段の判定結果に基づき加工条件を切換えることを特徴とする請求項4または5に記載の放電加工機の電源制御装置。
  9. 前記パルス制御手段の出力から平均休止時間を算出する平均休止時間算出手段と、
    前記パルス制御手段の出力から放電パルス遮断率を算出するパルス遮断率算出手段と、
    前記平均休止時間の長さと前記放電パルス遮断率とを安定、不安定の指標として放電加工状態を判定する加工安定度認識手段とをさらに備え、
    前記加工条件制御手段は前記加工安定度認識手段の判定結果に基づき加工条件を切換えることを特徴とする請求項4または5項に記載の放電加工機の電源制御装置。
  10. 前記加工条件制御手段は、前記平均休止時間による不安定の判定のときには、不安定の状態から小さく回避するよう前記加工条件を切換え、前記放電パルス遮断率による不安定の判定のときには、不安定の状態から大きく回避するよう前記加工条件を切換る
    ことを特徴とする請求項9に記載の放電加工機の電源制御装置。
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