JP4831689B2 - 光子又は粒子の計数方法 - Google Patents
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グレンF.ノル著、木村逸郎他1名訳、「放射線計測ハンドブック」2001年3月27日第3版1刷発行、日刊工業新聞社、第137頁〜147頁
AAS=aAS,θZ/(1−τatotal,θZ)
となる。
Claims (6)
- 光子又は粒子の計数方法であって、検出システムにより観測されるスペクトル中に測定対象エネルギー領域を定め、該測定対象エネルギー領域に入射する光子数又は粒子数を一定に保ちつつ、該測定対象エネルギー領域外に入射する光子数又は粒子数を変動させて計数することを特徴とする光子又は粒子の計数方法。
- 上記変動は、入射光子又は粒子の散乱強度が試料の結晶方位と光子又は粒子の入射方位の関係により変化する現象を利用することを特徴とする請求項1に記載の光子又は粒子の計数方法。
- 光子又は粒子の計数方法であって、請求項2に記載の計数方法を用いることにより、上記検出システムの数え落としに関する特性値を求めることを特徴とする光子又は粒子の計数方法。
- 光子又は粒子の計数方法であって、請求項3に記載の計数方法を用いることにより、測定対象エネルギー領域又は測定対象エネルギー領域外において観測される光子数又は粒子数を求めることを特徴とする光子又は粒子の計数方法。
- 請求項2に記載の光子又は粒子の計数方法であって、上記測定対象エネルギー領域外に入射する光子数又は粒子数を変動させる方法は、試料に対する入射光子方位又は入射粒子方位を変動させることであることを特徴とする光子又は粒子の計数方法。
- 請求項1に記載の光子又は粒子の計数方法であって、上記測定対象エネルギー領域外に入射する光子数又は粒子数を変動させる方法は、入射光子源とは別の光子源又は入射粒子源とは別の粒子源を用いて、測定対象エネルギー領域外にある光子の強度を変動させることを特徴とする光子又は粒子の計数方法。
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