JP4826810B2 - 位置決め装置のメンテナンス方法、位置決め装置及びicハンドラ - Google Patents
位置決め装置のメンテナンス方法、位置決め装置及びicハンドラ Download PDFInfo
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。
置は、ICハンドラとも呼ばれ、該ICハンドラには測定ロボットが備えられている。該
測定ロボットは、吸着パットにて電子部品を真空吸着して把持し、テスタの検査用ソケッ
トに装着する。このとき、電子部品は、所定の力で押圧させながら検査用ソケットに装着
され、電子部品に設けた端子と検査用ソケットに設けた端子とが電気的に接続され、検査
が行われる。そして、テスタで検査が終了すると、測定ロボットは、検査用ソケットに装
着された電子部品を真空吸着して検査用ソケットから外し、検査結果に応じた回収トレイ
に配置する。
に接続されないと検査を行うことができない。そのため、電子部品の端子と検査ソケット
の端子とは、正確に接続されなければならない。従って、電子部品は、検査用ソケットに
対して高い精度で位置調整した上で装着されることが望ましい。しかしながら、より高い
精度に位置調整を行うと、効率よく検査を行うことができなかった。
孔とを設けてそれらを係合させることで、電子部品を検査ソケットに対して位置調整する
方法が考案されている(たとえば、特許文献1)。さらに、ガイド孔にスリットを設けて
、より高い精度で位置調整する考案がなされている(たとえば、特許文献2)。
し係合させると、どちらかが摩耗して摩り減っていく。それに伴って、ガイドピンとガイ
ド孔とが係合したときに、該ガイドピンと該ガイド孔との隙間が大きくなってくる。この
隙間によって、摩耗する前のような高い精度の位置調整を行うことができなくなってしま
う。
続できなくなり、検査を行うことができなくなってしまう。特許文献1及び特許文献2の
方法は、ガイドピンとガイド孔の摩耗状態を確認する確認手段を備えていないため、摩耗
状態を確認する作業は多大な労力を必要としていた。
査ソケットに装着する際の位置調整を、ガイドピンとガイド孔とを係合させることによっ
て行うICハンドラにおいて、該ガイドピンと該ガイド孔との摩耗状態を把握することが
でき、摩耗による検査不良を未然に起こさないようにすることができるICハンドラを提
供することにある。
品を収容する収容部を備えた受け部材と、を備え、前記把持部材と前記受け部材とのどち
らか一方にガイド孔を設け、他方に前記ガイド孔に貫挿され摺動可能なガイドピンとを設
け、前記把持部材に把持した電子部品を前記収容部に配置するときに、前記ガイド孔に前
記ガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによ
って、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め
装置のメンテナンス方法であって、前記ガイド孔の内周面または前記ガイドピンの外周面
のどちらか一方に、電気抵抗膜を形成し、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿している
とき、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前
記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする。
し貫挿し摺接されることにより、電気抵抗膜が摩耗する。この摩耗によって、ガイド孔の
内周面とガイドピンの外周面とが電気的に短絡状態、ずなわち、ガイド部材とガイドピン
との間の電気抵抗値が小さくなる。
換時期等の予測が可能となる。
本発明のICハンドラの位置決め装置は、電子部品を把持する把持部材と、電子部品を
収容する収容部を備えた受け部材と、を備え、前記把持部材と前記受け部材とのどちらか
一方にガイド孔を設け、他方に前記ガイド孔に貫挿され摺動可能なガイドピンを設け、前
記把持部材に把持した電子部品を前記収容部に配置するときに、前記ガイド孔に前記ガイ
ドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、
前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めするICハンドラの
位置決め装置であって、前記ガイド孔の内周面または前記ガイドピンの外周面のどちらか
一方に形成した電気抵抗膜と、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の
電気抵抗を計測する計測手段と、を設けたことを特徴とする。
挿し、摺接されることにより、電気抵抗膜が摩耗する。この摩耗によって、ガイド孔の内
周面とガイドピンの外周面とが直接接触することになる。このとき、ガイド孔の内周面と
ガイドピンの外周面とが電気的に短絡状態、すなわち、ガイド部材とガイドピンとの間の
電気抵抗値が小さくなる。
ランプを点灯させて電気抵抗膜が摩耗していることを明示すれば、電子部品の位置決め精
度が低下していることを容易に知ることができ、事前に交換時期を知らせることができる
。
検査を行う検査ソケットであってもよい。
このICハンドラの位置決め装置によれば、電子部品は、検査ソケットに差し込まれて
、電子部品の良否を検査することができる。
。
このICハンドラの位置決め装置によれば、電気抵抗膜が摩耗したときに、ガイド孔の
内周面とガイドピンの外周面とが直接接触し、短絡することによって電気抵抗値が小さく
なる。従って、計測手段は、予め定めた電気抵抗値よりも小さくなったことを検出し、電
気抵抗膜が摩耗していることを明示することができる。
られてもよい。
このICハンドラの位置決め装置によれば、電気抵抗膜をガイド孔の内周面に設けたの
で、電気抵抗膜の肉厚を精度よく形成することができる。たとえば、ガイド孔の内周面に
電気抵抗膜を形成した後、所定の内径になるようにドリルなどの工具を用いて電気抵抗膜
の肉厚を調整することができる。従って、ガイドピンに形成した電気抵抗膜の肉厚を調整
するよりも効率よく製造することができる。その結果、ICハンドラのコストを低減する
ことができる。
ンドラの構成を示す平面図である。ICハンドラ10は、ベース11、安全カバー12、
高温チャンバ13、供給ロボット14、回収ロボット15、第1スライドテーブル16、
第2スライドテーブル17、複数のコンベアC1〜C6を備えている。
大きな領域を囲っていて、この内部には、ドライエアーが供給されている。また、安全カ
バー12内には、前記供給ロボット14、回収ロボット15、第1スライドテーブル16
及び第2スライドテーブル17が収容されている。
が安全カバー12内に位置するように、ベース11に設けられている。各コンベアC1〜
C6は、電子部品としてのICチップTを複数収容したトレイ18を、安全カバー12の
外から安全カバー12の中へ搬送したり、反対に、トレイ18を、安全カバー12の中か
ら安全カバー12の外へ搬送したりする。
いる。回収ロボット15は、該X軸フレームFXと第2のY軸フレームFY2により構成
されている。X軸フレームFXは、X方向に配置されている。第1のY軸フレームFY1
及び第2のY軸フレームFY2は、Y方向に沿って互いに平行になるように配置され、前
記X軸フレームFXに対して、X方向に移動可能に支持されている。そして、第1のY軸
フレームFY1及び第2のY軸フレームFY2は、X軸フレームFXに設けた図示しない
それぞれのモータによって、該X軸フレームFXに沿って往復移動する。
移動可能に支持されている。供給側ロボットハンドユニット20は、第1のY軸フレーム
FY1に設けた図示しないモータによって、該第1のY軸フレームFY1に沿ってY方向
に往復移動する。そして、供給側ロボットハンドユニット20は、例えば、コンベアC1
のトレイ18に収容した検査前のICチップTを、例えば、第1スライドテーブル16に
供給する。
移動可能に支持されている。回収側ロボットハンドユニット21は、第2のY軸フレーム
FY2に設けた図示しないモータによって、該第2のY軸フレームFY2に沿ってY方向
に往復移動する。そして、回収側ロボットハンドユニット21は、例えば、第2スライド
テーブル17に供給された検査後のICチップTを、例えば、コンベアC6のトレイ18
に供給する。
ル22が固設されている。一方のレール22には、第1スライドテーブル16がX軸方向
に往復可能に備えられており、他方のレール22には、第2スライドテーブル17がX軸
方向に往復可能に備えられている。
。測定ロボット25は、たとえば、第1スライドテーブル16に供給された検査前のIC
チップTを、一対のレール22の間に設けられたテスタ64に備えた収容部としての検査
用ソケット65(図3参照)に装着する。検査用ソケット65に装着されたICチップT
は、電気的検査(以下、単に検査という)が行われる。また、測定ロボット25は、検査
用ソケット65に装着された検査終了後のICチップTを、たとえば、第2スライドテー
ブル17に供給する。
30を備えている。測定ロボット側壁30は、測定ロボット25のロボット本体に設けた
図示しないY軸モータにて、ロボット本体に対して、Y方向に往復移動可能に設けられて
いる。
モータMZは、エンコーダSE1を備え、同エンコーダSE1からの検出信号によって同
Z軸モータMZの回転数、回転位置、回転方向が検出されるようになっている。
向)に延びたボールネジ31が上下一対の軸受32にて回転可能に支持されている。ボー
ルネジ31の上部の軸受32から突出した部分には従動プーリ33が固着されている。従
動プーリ33は、連結ベルト34を介してZ軸モータMZの回転軸に固着した駆動プーリ
35と駆動連結されている。従って、Z軸モータMZが正逆回転すると、ボールネジ31
は駆動プーリ35、連結ベルト34、従動プーリ33を介して正逆回転する。
(上下方向)に延びたガイドレール36が固設されている。ガイドレール36には、同ガ
イドレール36に沿って移動可能に設けられたキャリッジ37が設けられ、キャリッジ3
7には連結部材38が設けられている。連結部材38には、前記ボールネジ31が螺合す
る雌ネジが形成された螺合部38aが設けられている。従って、ボールネジ31が正逆回
転すると、ボールネジ31と螺合する連結部材38(キャリッジ37)は、ガイドレール
36に沿って移動可能なことから、コンタクトアーム39はZ方向(上下方向)に往復移
動する。
9は、連結部材38から反X方向(前方)に延び、その下面にコンプライアンスユニット
CUが設けられている。
チップTを把持(吸着保持)して、テスタベース68(図3(a)参照)に設けた検査用
ソケット65に押圧するものであってコンタクトアーム39の下面に固設されている。
結され、検査対象のICチップTの数や配置に応じて適宜交換可能になっている。
次に、押圧装置40について図3(a)に従って説明する。
と、そのエアシリンダSLの先端部に連結されたデバイスチャックDCとから構成されて
いる。
る。シリンダチューブ42は、有底筒状のチューブ本体42aと、チューブ本体42aの
開口を塞ぐフロントプレート42bとからなり、チューブ本体42aとフロントプレート
42bとで形成されるシリンダ室内に作動体としてのピストン43がZ方向(上下方向)
に移動可能に配設されている。従って、シリンダ室、ピストン43によって上側に第1室
aと、下側に第2室bとに区画される。
ストン43の第1室a側の面が、図3(a)に示すチューブ本体42aの底面と当接する
位置(以下これを最上端位置という)に位置するようになっている。
入口44には、第1連結ポートP1が取着されている。第1連結ポートP1は、図示しな
いエア供給管を介して図示しない電空レギュレータに連結されている。そして、電空レギ
ュレータからエアが第1室aに供給されると、ピストン43は、そのエアの圧力によって
、チューブ本体42aの底面と当接した最上端位置から、デバイスチャックDCのスプリ
ングSPの弾性力に抗して、下方に移動するようになっている。
す最上端位置にある時から、ピストン43の下面がフロントプレート42bの内側面に当
接する位置(最下端位置)までの距離、すなわち、図3(a)に示す第2室bの上下方向
の間隔と一致する。
aがフロントプレート42bに形成した貫通穴を介して、ピストン43とネジNで連結固
定されている。従って、連結ブロック51(デバイスチャックDC)は、ピストン43と
ともに上下方向に移動する。
。つまり、連結ブロック51は、連結ベース41に対して、スプリングSPを介して弾性
的に吊るされている。そして、本実施形態では、スプリングSPは、連結ブロック51を
介して、ピストン43が最上端位置に位置するように、ピストン43を押し上げている。
そして、第1室aにエアが供給されると、その圧力によって、ピストン43はスプリング
SPの弾性力に抗して、下方に移動し、やがて、最下端位置に到達してフロントプレート
42bに当接し、下方への移動が規制される。
って貫通孔を形成することによって、真空案内路52が形成されている。そして、連結ブ
ロック51の外側面の真空案内路52には、第2連結ポートP2が取着されている。第2
連結ポートP2は、図示しない空圧装置に連通している。空圧装置は、第2連結ポートP
2を介して、吸引管55を負圧状態または大気圧状態にする。
3の下側には、把持部材としてのガイドブロック54が連結固着されている。
中間ブロック53とガイドブロック54との中央位置には、連結ブロック51に形成し
た真空案内路52と連通する収容穴がそれぞれ貫通形成され、それら収容穴には吸引管5
5が配設されている。
内を負圧状態することによって、吸着パット56は、図3(a)に示すように、ICチッ
プTを吸着保持するようになっている。反対に、吸引管55内の負圧を解除することによ
って、吸着パット56は、吸着保持しているICチップTを、たとえば、テスタ64のテ
スタベース68に設けた検査用ソケット65に配置する。
設けられている(本実施形態では2箇所)。ガイド孔59は、テスタ64の検査用ソケッ
ト65(テスタベース68)に対して、吸着パット56が保持しているICチップT(ガ
イドブロック54)を位置決めするために使用される貫通孔である。ガイド孔59は下側
開口部において、下側開口面積を大きくするテーパが設けられており、ガイド孔59の内
周面59aには、電気的絶縁体(たとえば、ポリエーテルエーテルケトン樹脂など)から
なる電気抵抗膜としての絶縁層60が均一な厚さで形成されている。
3など)とは、電気的に絶縁されている。
テスタ64は、テスタベース68と検査用ソケット65とガイドピン69とを備えてい
る。
65が設けられている。検査用ソケット65は、上端に接触部61を有するスプリングピ
ン62が、ICチップTの端子Taの数だけ設けられている。スプリングピン62は、検
査用ソケット65に対して所定のストロークで上下動する。そして、図3(b)のように
、ICチップTが下方へ押し下げられると、ICチップTの各端子Taが、上方からそれ
ぞれ対応する接触部61と当接し、スプリングピン62を下方に押し下げる。これによっ
て、ICチップTの各端子Taと検査用ソケット65の接触部61とが電気的に接触して
検査が行われる。従って、ICチップTは、検査用ソケット65に正確に配置されないと
検査を行うことができないので、位置調整を行って検査用ソケット65に配置される。
イド孔59に貫挿され摺接可能なガイドピン69が形成されている。つまり、ガイドブロ
ック54のガイド孔59にテスタベース68に設けたガイドピン69を貫挿させながらガ
イドブロック54を下降させることによって、ガイドブロック54(ICチップT)がテ
スタベース68(検査用ソケット65)に対して位置決め調整されるようになっている。
に摺動して相対移動するとともに、その先端部がガイド孔59に貫挿しやすいように略半
球状に形成されている。
摩耗するようにしている。また、ガイド孔59とガイドピン69とは、絶縁層60が摩耗
してなくなった状態でも、ガイド孔にガイドピン69に貫挿させてICチップTの位置調
整を行い、ICチップTの検査が行えるように形成されている。
リード端子がそれぞれ接続されている。摩耗検出装置80は、本実施形態では、電気抵抗
測定器であって、ガイド孔59にガイドピン69が貫挿された状態での、ガイドブロック
54とテスタベース68の間の電気抵抗の値(以下、単に抵抗値という)を検出する。つ
まり、図4(a)のように、ガイド孔59の絶縁層60が摩耗していないとき、絶縁層6
0によってガイドブロック54とテスタベース68の間は高抵抗値となる。反対に、図4
(b)のように、ガイド孔59の絶縁層60が摩耗しているとき、ガイドピン69がガイ
ドブロック54に直接接触するため、短絡してガイドブロック54とテスタベース68の
間は低抵抗値となる。
4とテスタベース68の間が低抵抗値になったことを検出すると、警報ランプ81を点灯
させるようになっている。従って、警報ランプ81の点灯によって、ガイド孔59の絶縁
層60が摩耗して、ガイドブロック54(ICチップ)がテスタベース68(検査用ソケ
ット65)に対して位置決め調整が精度よくできない状態にきていることを知ることがで
きる。
(1)上記実施形態によれば、ガイド孔59の内周面59aに絶縁層60を設けた。そし
て、ガイド孔59とガイドピン69とが摺動しているときに、絶縁層60が摩耗するよう
にした。また、テスタベース68とガイドブロック54との間の抵抗値を検出する摩耗検
出装置80を設けた。そして、図4(b)のように、絶縁層60が摩耗したとき、ガイド
孔59の内周面59aとガイドピン69とが直接接触するため、短絡してガイドブロック
54とテスタベース68との間が低抵抗値になると、摩耗検出装置80は、低抵抗値にな
ったことを検出し、警報ランプ81を点灯させるようにした。
・上記実施形態では、電気抵抗膜として絶縁層60を設けた。これに限らず、抵抗値の高
い導電体を用いて電気抵抗膜を形成してもよい。これによれば、電気抵抗膜の摩耗に伴っ
て、すなわち、電気抵抗膜の肉厚の減少に伴って、ガイドブロック54とテスタベース6
8との間の抵抗値は小さくなっていく。そして、ガイドブロック54とテスタベース68
との間の抵抗値が、予め定めた抵抗値よりも小さくなったとき、摩耗検出装置80は警報
ランプ81を点灯させるようにするとよい。
・上記実施形態では、ガイド孔59の内周面59aに絶縁層60を設けたが、これに限ら
ず、ガイドピン69の外周面に絶縁層60を設けてもよい。このとき、ガイドピン69は
、ねじなどを用いてテスタベース68に固設して適宜交換可能とするとよい。
・上記実施形態では、ガイド孔59はガイドブロック54、ガイドピン69はテスタベー
ス68にそれぞれ設けた。これに限らす、ガイド孔59をテスタベース68、ガイドピン
69をガイドブロック54にそれぞれ設けてもよい。
・上記実施形態では、ガイドブロック54とテスタベース68との間の抵抗値を測定する
ことにより、絶縁層60の摩耗状態を確認できるようにした。これに限らす、ガイドブロ
ック54とテスタベース68との間の電流値によって摩耗状態を確認するようにしてもよ
い。
・上記実施形態では、ガイドブロック54は、ICチップTを1つ真空吸着し、把持でき
るものとした。これに限らず、ガイドブロック54に複数のICチップTを真空吸着し、
把持できるものに具体化してもよい。このとき、検査用ソケット65とガイド孔59とガ
イドピン69との位置や数を適宜変更するとよい。
・上記実施形態では、コンタクトアーム39にコンプライアンスユニットCUを1つ設け
た。これに限らず、コンタクトアーム39に複数のコンプライアンスユニットCUを設け
てもよい。このとき、検査用ソケット65とガイド孔59とガイドピン69との位置や数
を適宜変更するとよい。
・上記実施形態では、警報ランプ81を用いて、絶縁層60が摩耗したことを明示した。
これに限らず、警報ブザーまたはICハンドラのコントローラに警報信号を伝え、装置が
停止するように用いてもよい。
イドテーブル、17…第2スライドテーブル、25…測定ロボット、54…ガイドブロッ
ク、59…ガイド孔、59a…ガイド孔59の内周面、60…絶縁層、64…テスタ、6
5…検査用ソケット、68…テスタベース、69…ガイドピン、80…摩耗検出装置、8
1…警報ランプ、CU…コンプライアンスユニット、DC…デバイスチャック、T…IC
チップ、Ta…端子。
Claims (10)
- 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイド孔の内周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。 - 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイドピンの外周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。 - 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置のメンテナンス方法であって、
前記ガイドピンの外周面には電気抵抗膜が形成されており、前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿しているときの、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗に基づいて、前記電気抵抗膜の摩耗を検出することを特徴とする位置決め装置のメンテナンス方法。 - 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、を設けたことを特徴とする位置決め装置。 - 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイド孔に、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイドピンを貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、を設けたことを特徴とする位置決め装置。 - 電子部品を把持する把持部材に設けられたガイドピンを、電子部品を収容する収容部を備えた受け部材に設けられたガイド孔に貫挿摺接させながら、前記受け部材と前記把持部材とを近づけることによって、前記把持部材に把持された電子部品を、前記収容部に対して位置決めする位置決め装置であって、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、を設けたことを特徴とする位置決め装置。 - 請求項4〜6のいずれかに記載の位置決め装置であって、
前記電気抵抗膜は、電気的絶縁体であることを特徴とする位置決め装置。 - 電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイドピンと、
前記受け部材に設けられたガイド孔と、
前記ガイド孔の内周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするICハンドラ。 - 電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイド孔と、
前記受け部材に設けられたガイドピンと、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするICハンドラ。 - 電子部品を把持および搬送する把持部材と、
前記電子部品が収容され、前記電子部品の端子が接触して電気的検査を行うための検査ソケットと、
前記検査ソケットを備えた受け部材と、
前記把持部材に設けられたガイドピンと、
前記受け部材に設けられたガイド孔と、
前記ガイドピンの外周面に形成された電気抵抗膜と、
前記ガイド孔に前記ガイドピンが貫挿摺接された際に、前記ガイド孔の内周面と前記ガイドピンの外周面との間の電気抵抗を計測する計測手段と、
を備えたことを特徴とするICハンドラ。
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