JP4826561B2 - 第2の画像形成装置 - Google Patents

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本発明は、像保持体や帯電ロールを有する寿命検知が可能なプロセスユニットを着脱可能な第1の画像形成装置と同一のプロセスユニットを着脱可能な第2の画像形成装置に関する。
従来、電子写真方式の複写機やプリンタ等の画像形成装置では、像保持体表面を帯電ロールで帯電させ、帯電した表面に潜像を形成し、現像装置から供給される現像剤により潜像を可視像化して画像形成を行っている。前記像保持体や帯電ロール、現像装置等は、使用に伴って経時的に損耗するため、交換、修理を容易とするために、交換可能なユニット構造とされていることが多い。
前記ユニット(プロセスユニット)の交換時期は、プロセスユニット内で最も寿命が短い像保持体の寿命を検知することで決定することが多い。像保持体は、磨耗により表面膜厚の減衰が進行して寿命に至るが、その磨耗量は、帯電ロールの印加バイアスの条件や、プロセスユニットのプロセススピード等、像保持体表面への負荷のかかり方によって変化する。
また、帯電ロールに像保持体表面に接触して帯電を行う帯電ロールを使用する場合には、像保持体表面から離れて帯電を行うコロトロン式のものを使用する場合と比較すると、磨耗が促進されて、像保持体の寿命が短くなることが知られている。
したがって、プロセスユニットを無駄なく且つ、トラブルが発生すること無く交換するためには、前記像保持体表面の磨耗量の変化に対応しながら、像担持体寿命を精度良く検知することが重要になる。
像担持体寿命を精度良く検知する技術として、下記の特許文献1〜4記載の技術が知られている。
前記特許文献1(特許第3285785号明細書)には、プリンタに着脱可能なドラムユニット(プロセスカートリッジ)(29)において、帯電ローラ(2)と、感光体(1)と、記憶素子(30)とを有し、帯電ローラ(2)により感光体(1)表面に付与される印加バイアス条件と、印加バイアス条件でバイアスが印加された時間からドラムユニット(29)のダメージを算出し、ドラムユニット(29)の寿命検知を行う技術が記載されている。
特許文献1では、帯電ローラ(2)から感光体(1)表面に印加される帯電印加バイアス条件として、画像形成動作毎に、AC電圧、DC電圧、電圧オフがあり、AC電圧印加時間t1、DC電圧印加時間t2、帯電バイアスオフ時間t3を検出する。そして、検出された各時間t1〜t3に、各条件での感光体(1)ダメージに応じた係数をかけて積算し、画像形成動作毎のダメージ指数Dとして算出する。次に、算出された各画像形成動作時のダメージ指数Dを、記憶素子(30)に記憶されている感光体(1)のダメージの総量としてのダメージ積算値Sに加算し、前記ダメージ積算値Sを更新する。そして、各画像形成動作後には、前記更新したダメージ積算値Sと、予め記憶素子(30)に記憶された寿命基準値としての寿命情報Rとの大小関係を比較し、ダメージ積算値Sが寿命情報Rよりも上回った場合には、ドラムユニット(29)が寿命に達したことを表示部(28)に表示してユーザに警告を行う。
特許文献2(特開2001−356655号公報)には、以下に示す点を除き、前記特許文献1と同様の構成を有する技術が記載されている。特許文献2では、現像ローラ(11)が感光体(1)に離接可能に形成され、現像ローラ(11)が画像形成時に感光体(1)に対し接触状態にある現像ローラ接触時間tdを検出する。ダメージ指数Dを算出する際には、帯電印加バイアス条件t1〜t3に前記現像ローラ接触時間tdを加え、各条件での感光体(1)ダメージに応じた係数をかけて積算する。
特許文献3(特開2002−214983号公報)には、以下に示す点を除き、前記特許文献2と同様の構成を有する技術が記載されている。特許文献3では、プリンタ(100)は、プロセススピードの切り換えモードを有しており、複数種のプロセススピードにより画像形成動作を行う。ダメージ指数Dを算出する際には、特許文献2で使用された帯電印加バイアス条件t1,t2,t3および現像ローラ接触時間tdと、プロセススピードVj(j≧2)に応じて設定されたダメージに応じた係数と、を乗算することで、プロセススピードの違いに応じたダメージ指数Dを積算する。
特許文献4(特開2006−84828号公報)には、写真モードと文字モード等複数の画像形成モードを有し、前記画像形成モードに応じてACバイアスとDCバイアス等の帯電バイアス方式が切り替わる画像形成装置(1)に関する技術が記載されている。特許文献4では、各画像形成動作において、画像形成モードが写真モードと文字モードのいずれのモードであるかを判定し、判定されたモードに応じた帯電バイアス電圧の印加時間を前回画像形成動作までの積算時間に加えて、メモリタグ(22)に搭載された不揮発メモリに記憶する。その後、前記積算時間を寿命判定の基準値と比較して、感光体(2b)の寿命を判定し、前記積算時間が寿命判定の基準値を上回っていた場合には、プロセスカートリッジ(2)の交換の警告や、画像形成動作の停止を行う。
特許第3285785号明細書(「0052」〜「0062」、図4) 特開2001−356655号公報(「0070」、「0081」) 特開2002−214983号公報(「0062」、「0084」、「0092」) 特開2006−84828号公報(要約書)
異なる機種の画像形成装置において共通のプロセスカートリッジを使用しつつ寿命を正確に判定することを技術的課題とする。
前記技術的課題を解決するために、請求項1記載の発明の第1の画像形成装置とは異なる画像形成速度で画像形成が可能な第2の画像形成装置は、
表面に潜像が形成される像保持体と、
記第1の画像形成装置の画像形成速度に対応した前記像保持体の単位時間当りの磨耗量である予め設定された膜減り係数と、前記第1の画像形成装置において前記像保持体の回転時間と前記膜減り係数と前記像保持体の膜厚の初期値である残膜厚の演算初期値とに基づいて演算された残膜厚情報と、を記憶する記憶部材とを有し、前記第1の画像形成装置および第2の画像形成装置に着脱可能な像保持体ユニットと、
前記像保持体の回転時間を計測する回転時間計測手段と、
前記第1の画像形成装置の画像形成速度に対する前記第2の画像形成装置の画像形成速度に応じて変動する前記像保持体の膜減りの速度に応じて予め設定された補正係数であって、前記膜減り係数を補正する補正係数を記憶する補正係数記憶手段と、
前記像保持体の回転時間と、前記膜減り係数と、前記補正係数と、前記残膜厚の情報に基づいて、前記像保持体の現在の残膜厚を演算する残膜厚演算手段と、
前記像保持体の寿命判別情報と、前記残膜厚演算手段で演算された残膜厚とに基づいて、前記像保持体の寿命であるか否かを判別する寿命判別手段と、
前記像保持体が寿命であると判別された場合に、前記像保持体が寿命であることを告知する告知手段と、
を備えたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の発明の第2の画像形成装置において、
前記像保持体を帯電させる帯電器と、
前記画像形成動作中に前記帯電器に印加される帯電電圧の変化に応じて変動する前記単位時間当りの磨耗量に対応して設定された複数の前記膜減り係数を記憶する前記記憶部材、
を備えたことを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の第2の画像形成装置において、
前記寿命判別情報を記憶する前記記憶部材を有する前記像保持体ユニットと、
前記第1の画像形成装置における前記像保持体の寿命判別情報とは異なる第2の画像形成装置用寿命判別情報を記憶する寿命判別情報記憶手段と、
前記像保持体ユニットが第2の画像形成装置に装着された場合に、寿命判別情報を前記記憶部材に書き込む寿命判別情報書込手段と、
を備えたことを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1ないし3のいずれかに記載の第2の画像形成装置において、
前記寿命判別情報よりも前記像保持体の初期の残膜厚値に近い値に予め設定された寿命接近判別情報と、前記残膜厚演算手段で演算された残膜厚とに基づいて、前記像保持体の寿命が近づいているか否かを判別する寿命接近判別手段、
を備えたことを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、第2の画像形成装置には、第1の画像形成装置と同一の像保持体ユニットを装着して使用することができるとともに、像保持体の寿命を精度良く判定して像保持体ユニットの交換時期をユーザに報知することができる。さらに、第2の画像形成装置では、画像形成速度の変更に対応して像保持体の寿命を精度良く判定することができ、像保持体ユニットの交換時期をユーザに報知することができる。
請求項2に記載の発明によれば、帯電器に印加される帯電電圧の変化に応じて適切な膜減り係数を使用して像保持体の現在の残膜厚演算が行え、像保持体の寿命を精度良く判定することができる。
請求項3に記載の発明によれば、第2の画像形成装置に記憶された第2の画像形成装置の寿命判別情報を像保持体ユニットの記憶部材に書き込むことができ、他の画像形成装置でも使用可能な像保持体に対して、第2の画像形成装置における寿命を精度良く判定することができる。
請求項4に記載の発明によれば、第2の画像形成装置の像保持体ユニットの交換時期が近づいていることを、事前にユーザに報知することができる。
次に図面を参照しながら、本発明の実施の形態の具体例(実施例)を説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
なお、以後の説明の理解を容易にするために、図面において、前後方向をX軸方向、左右方向をY軸方向、上下方向をZ軸方向とし、矢印X,−X,Y,−Y,Z,−Zで示す方向または示す側をそれぞれ、前方、後方、右方、左方、上方、下方、または、前側、後側、右側、左側、上側、下側とする。
また、図中、「○」の中に「・」が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印を意味し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面の表から裏に向かう矢印を意味するものとする。
図1は本発明の実施例1の画像形成装置の全体説明図である。
本実施例1において、第1機種の画像形成装置(第1の画像形成装置)Uの説明および、前記第1機種の画像形成装置Uに装着される像保持体ユニットが装着可能な第2機種の画像形成装置(第2の画像形成装置)U′の説明を行う。第1機種の画像形成装置Uと第2機種の画像形成装置U′は、同様の構成を有している。しかし、第1機種の画像形成装置Uが35ppm(ppm:単位時間あたりの排紙面数)のみの画像形成速度(プロセススピード)で画像形成動作を行う機種であるのに対し、第2機種の画像形成装置U′は、用紙厚さ等の紙種の違いに応じてプロセススピードが第1プロセススピード35ppmと第2プロセススピード25ppmとの間でプロセススピードが変更される機種であるというように、機種間の差異を有している。したがって、以下の実施例1の説明において、主として第1機種についての説明を行い、第2機種については、第1機種と異なる部分の説明についてのみ詳細な説明を行い、同様の構成および同様の制御部の詳細な説明は省略する。
図1において、第1機種の画像形成装置Uは、操作部の一例としてのユーザインタフェースUI、画像情報入力装置の一例としてのイメージ入力装置U1、給紙装置U2、画像形成装置本体U3、および用紙処理装置U4を有している。
前記ユーザインタフェースUIは、コピースタートキー、コピー枚数設定キー、テンキー等の入力キーおよび表示器UI1を有している。
前記イメージ入力装置U1は、自動原稿搬送装置および画像読取装置の一例としてのイメージスキャナ等により構成されている。図1において、イメージ入力装置U1では、図示しない原稿を読取って画像情報に変換し、画像形成装置本体U3に入力する。
給紙装置U2は複数の給紙部の一例としての給紙トレイTR1〜TR4、前記各給紙トレイTR1〜TR4に収容された媒体の一例としての記録用紙Sを取り出して画像形成装置本体U3に搬送する給紙路SH1等を有している。
図1において、画像形成装置本体U3は、前記給紙装置U2から搬送された記録用紙Sに画像記録を行う画像記録部、トナーディスペンサー装置U3a、および用紙搬送路SH2、用紙排出路SH3、用紙反転路SH4、用紙循環路SH6等を有している。なお、前記画像記録部については後述する。
また、画像形成装置本体U3は、制御部Cおよび前記制御部Cにより制御される潜像書込装置駆動回路の一例としてのレーザ駆動回路DL、前記制御部Cにより制御される電源回路E等を有している。制御部Cにより作動を制御されるレーザ駆動回路DLは、前記イメージ入力装置U1から入力されたY(イエロー)、M(マゼンタ)、C(シアン)、K(黒)の画像情報に応じたレーザ駆動信号を所定のタイミングで、各色の潜像形成装置ROSy,ROSm,ROSc,ROSkに出力する。
前記各色の潜像形成装置ROSy,ROSm,ROSc,ROSkの下方には、像形成ユニット用引出部材U3bが左右一対の案内部材R1,R1により、画像形成装置本体U3の前方に引き出された引出位置と画像形成装置本体U3内部に装着された装着位置との間で移動可能に支持されている。
図2は像保持体ユニットおよび現像器を有する可視像形成装置の説明図である。
図1、図2において、黒の像保持体ユニットUKは、像保持体の一例としての感光体ドラムPk、前記感光体ドラムPkに接触して従動する帯電器としての帯電ロールCRk、および像保持体用清掃器の一例としてのクリーナ(清掃器)CLk及び現像ロールR0を有する現像器Gkを有している。そして、他の色(Y,M,C)の像保持体ユニットUY,UM,UCも、感光体ドラムPy,Pm,Pc、放電器の一例としての帯電ロールCRy,CRm,CRc、クリーナCLy,CLm,CLc、現像器GY,GM,GCを有している。なお、実施例1では、使用頻度の高く表面の磨耗が多いK色の感光体ドラムPkは、他の色の感光体ドラムPy,Pm,Pcに比べて大径に構成され、高速回転対応および長寿命化がされている。
図1、図2において、黒の像保持体ユニットUKは、像保持体の一例としての感光体ドラムPk、前記感光体ドラムPkに当接して従動する帯電ロールCRk、および像保持体用清掃器の一例としてのクリーナ(清掃器)CLkを有している。そして、他の色(Y,M,C)の像保持体ユニットUY,UM,UCも、感光体ドラムPy,Pm,Pc、帯電器CRy,CRm,CRc、クリーナCLy,CLm,CLcを有している。なお、実施例1では、使用頻度の高く表面の磨耗が多いK色の感光体ドラムPkは、他の色の感光体ドラムPy,Pm,Pcに比べて大径に構成され、高速回転対応および長寿命化がされている。
また、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKには、不揮発性メモリーにより構成された寿命検知情報記憶手段(記憶部材)My,Mm,Mc,Mkが装備されている。像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが画像形成装置Uに装着される際には、図示しない接続端子により画像形成装置本体U3内の制御部Cと通信可能に接続される。実施例1では、前記寿命検知情報記憶手段My,Mm,Mc,Mkには、印加される帯電バイアスに応じて単位時間当たりに感光体ドラムPRの膜が減少する量である像保持体表面の膜減り係数K1y〜K1k、K2y〜K2k、K3y〜K3kと、像保持体の寿命であるか否かを判別するための閾値としての寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dk等のデータが保存されており、制御部Cからの前記データの読み出しや、更新が可能である。なお、寿命検知情報記憶手段My,Mm,Mc,Mkに記憶されている前記各データに関する詳細な説明は、後述する。
前記各像保持体ユニットUY,UM,UC,UKと現像ロールR0(図2参照)を有する現像器GY,GM,GC,GKとによりトナー像形成部材(UY+GY),(UM+GM),(UC+GC),(UK+GK)が構成されている。前記像形成ユニット用引出部材U3b(図1参照)には、前記像保持体ユニットUY,UM,UC,UKおよび現像器GY,GM,GC,GKが着脱可能に装着される。また、画像形成装置本体U3内部には、各像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの装着を検知する像保持体ユニット装着検知センサSNy〜SNkが配置されている。
図1において、感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pkは、それぞれ帯電ロールCRy,CRm,CRc,CRkにより帯電された後、前記潜像形成装置ROSy,ROSm,ROSc,ROSkの出力する潜像書込光の一例としてのレーザ光Ly,Lm,Lc,Lkによりその表面に静電潜像が形成される。前記感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pk表面の静電潜像は、現像器GY,GM,GC,GKによりY(イエロー)、M(マゼンタ)、C(シアン)、K(黒)の色のトナー像に現像される。
感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pk表面上のトナー像は、一次転写器の一例としての1次転写ロールT1y,T1m,T1c,T1kにより、中間転写体の一例としての中間転写ベルトB上に順次重ねて転写され、中間転写ベルトB上に多色画像、いわゆる、カラー画像が形成される。中間転写ベルトB上に形成されたカラー画像は、2次転写領域(画像記録位置)Q4に搬送される。
なお、黒画像データのみの場合はK(黒)の感光体ドラムPkおよび現像器GKのみが使用され、黒のトナー像のみが形成される。
1次転写後、感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pk表面の残留トナーは感光体ドラム用のクリーナCLy,CLm,CLc,CLkによりクリーニングされる。
前記像形成ユニット用引出部材U3bの下方には、中間転写体用引出部材U3cが画像形成装置本体U3の前方に引き出された引出位置と画像形成装置本体U3内部に装着された装着位置との間で移動可能に支持されている。前記中間転写体用引出部材U3cにより、中間転写装置の一例としてのベルトモジュールBMが、前記感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pkの下面に接触する上昇位置と前記下面から下方に離れた下降位置との間で昇降可能に支持されている。
前記ベルトモジュールBMは、前記中間転写ベルトBと、中間転写体支持部材の一例としてのベルト支持ロール(Rd,Rt,Rw,Rf,T2a)と、前記1次転写ロールT1y,T1m,T1c,T1kとを有している。ベルト支持ロール(Rd,Rt,Rw,Rf,T2a)は、中間転写体駆動部材の一例としてのベルト駆動ロールRd、張力付与部材の一例としてのテンションロールRt、蛇行防止部材の一例としてのウォーキングロールRw、従動部材の一例としての複数のアイドラロールRfおよび二次転写対向部材の一例としてのバックアップロールT2aを有する。そして、前記中間転写ベルトBは前記ベルト支持ロール(Rd,Rt,Rw,Rf,T2a)により矢印Ya方向に回転移動可能に支持されている。
前記バックアップロールT2aの下方には2次転写ユニットUtが配置されている。2次転写ユニットUtの二次転写部材の一例としての2次転写ロールT2bは、前記中間転写ベルトBを挟んでバックアップロールT2aに離隔および接触可能に配置されており、前記2次転写ロールT2bが中間転写ベルトBと圧接する領域により2次転写領域Q4が形成されている。また、前記バックアップロールT2aには電圧印加用接触部材の一例としてのコンタクトロールT2cが当接しており、前記ロールT2a〜T2cにより2次転写器T2が構成されている。
前記コンタクトロールT2cには制御部Cにより制御される電源回路から所定のタイミングでトナーの帯電極性と同極性の2次転写電圧が印加される。
前記ベルトモジュールBM下方には用紙搬送路SH2が配置されている。前記給紙装置U2の給紙路SH1から給紙された記録用紙Sは、前記用紙搬送路SH2に搬送され、給紙時期調節部材の一例としてのレジロールRrにより、トナー像が2次転写領域Q4に搬送されるのに時期を合わせて、媒体案内部材SGr、転写前媒体案内部材SG1を通って2次転写領域Q4に搬送される。
なお、媒体案内部材SGrはレジロールRrとともに、画像形成装置本体U3に固定されている。
前記中間転写ベルトB上のトナー像は、前記2次転写領域Q4を通過する際に前記2次転写器T2により前記記録用紙Sに転写される。なお、フルカラー画像の場合は中間転写ベルトB表面に重ねて1次転写されたトナー像が一括して記録用紙Sに2次転写される。
2次転写後の前記中間転写ベルトBは、中間転写体清掃器の一例としてのベルトクリーナCLBにより清掃、すなわち、クリーニングされる。なお、前記2次転写ロールT2bおよびベルトクリーナCLBは、中間転写ベルトBと離隔および接触可能に支持されている。
前記1次転写ロールT1y,T1m,T1c,T1k、中間転写ベルトB、二次転写器T2、ベルトクリーナCLB等により、感光体ドラムPy〜Pk表面の画像を記録用紙Sに転写する転写装置(T1+B+T2+CLB)が構成されている。
トナー像が2次転写された前記記録用紙Sは、転写後媒体案内部材SG2、定着前媒体搬送部材の一例としての用紙搬送ベルトBHを通って定着装置Fに搬送される。前記定着装置Fは、加熱定着部材の一例としての加熱ロールFhと、加圧定着部材の一例としての加圧ロールFpとを有し、加熱ロールFhと加圧ロールFpとが圧接する領域により定着領域Q5が形成されている。
前記記録用紙S上のトナー像は定着領域Q5を通過する際に定着装置Fにより加熱定着される。前記定着装置Fの下流側には搬送路切替部材GT1が設けられている。前記搬送路切替部材GT1は用紙搬送路SH2を搬送されて定着領域Q5で加熱定着された記録用紙Sを、用紙処理装置U4の用紙排出路SH3または用紙反転路SH4側のいずれかに選択的に切り替える。前記用紙排出路SH3に搬送された用紙Sは、用紙処理装置U4の用紙搬送路SH5に搬送される。
用紙搬送路SH5の途中には、カール補正装置U4aが配置されており、前記用紙搬送路SH5には搬送路切替部材の一例としての切替ゲートG4が配置されている。前記切替ゲートG4は、前記画像形成装置本体U3の用紙搬送路SH3から搬送された記録用紙Sを、湾曲、いわゆる、カールの方向に応じて、第1カール補正部材ho1または第2カール補正部材ho2のいずれかの側に搬送する。前記第1カール補正部材ho1または第2カール補正部材ho2に搬送された記録用紙Sは、通過時にカールが補正される。カールが補正された記録用紙Sは、排出部材の一例としての排出ロールRhから用紙処理装置U4の排出部の一例としての排出トレイTH1に用紙の画像定着面が上向きの状態、いわゆる、フェイスアップ状態で排出される。
前記搬送路切替部材GT1により画像形成装置本体U3の前記用紙反転路SH4側に搬送された用紙Sは、弾性薄膜状部材により構成された搬送方向規制部材、いわゆる、マイラーゲートGT2を押しのける形で通過して、画像形成装置本体U3の前記用紙反転路SH4に搬送される。
前記画像形成装置本体U3の用紙反転路SH4の下流端には、用紙循環路SH6および用紙反転路SH7が接続されており、その接続部にもマイラーゲートGT3が配置されている。前記切替ゲートGT1を通って用紙搬送路SH4に搬送された用紙は、前記マイラーゲートGT3を通過して前記用紙処理装置U4の用紙反転路SH7側に搬送される。両面印刷を行う場合には、用紙反転路SH4を搬送されてきた記録用紙Sは、前記マイラーゲートGT3をそのまま一旦通過して、用紙反転路SH7に搬送された後、逆方向に搬送、いわゆる、スイッチバックさせられると、マイラーゲートGT3により搬送方向が規制され、スイッチバックした記録用紙Sが用紙循環路SH6側に搬送される。前記用紙循環路SH6に搬送された記録用紙Sは前記給紙路SH2を通って前記転写領域Q4に再送される。
一方、用紙反転路SH4を搬送される記録用紙Sを、記録用紙Sの後端がマイラーゲートGT2を通過後、マイラーゲートGT3を通過する前に、スイッチバックすると、マイラーゲートGT2により記録用紙Sの搬送方向が規制され、記録用紙Sは表裏が反転された状態で用紙搬送路SH5に搬送される。表裏が反転された記録用紙Sは、カール補正部材U4aによりカールが補正された後、前記用紙処理装置U4の用紙排出トレイTH1に、用紙Sの画像定着面が下向きの状態、いわゆる、フェイスダウン状態で排出することができる。
前記符号SH1〜SH7で示された要素により用紙搬送路SHが構成されている。また、前記符号SH,Ra,Rr,Rh,SGr,SG1,SG2,BH、GT1〜GT3で示された要素により用紙搬送装置SUが構成されている。
(実施例1の第1機種の制御部Cの説明)
図3は本発明の実施例1の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図である。
図3において、前記制御部Cは、外部との信号の入出力および入出力信号レベルの調節等を行うI/O(入出力インタフェース)、必要な処理を行うためのプログラムおよびデータ等が記憶されたROM(リードオンリーメモリ)、必要なデータを一時的に記憶するためのRAM(ランダムアクセスメモリ)、前記ROMに記憶されたプログラムに応じた処理を行うCPU(中央演算処理装置)、ならびにクロック発振器等を有するコンピュータにより構成されており、前記ROMに記憶されたプログラムを実行することにより種々の機能を実現することができる。
(前記制御部Cに接続された信号入力要素)
前記制御部Cには、次の信号出力要素UI(ユーザインタフェース)等の出力信号が入力されている。
UI:ユーザインタフェース
ユーザインタフェースUIは、表示部UI1、スタートキーUI2等を備えている。
SNy〜SNk:像保持体ユニット装着検知センサ
像保持体ユニット装着検知センサSNy〜SNkは、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが画像形成装置Uに装着されていることを検知し、その検知信号を画像形成装置Uの制御部Cに送信する。
(制御部Cに接続された被制御要素)
制御部Cは、次の被制御要素の制御信号を出力している。
IPS:イメージプロセッシングシステム
イメージプロセッシングシステムIPSは、CCDから入力された読取画像信号をデジタルの画像書込信号に変換してレーザ駆動信号出力回路DLに出力する。
DL:レーザ駆動回路
レーザ駆動回路DLは、入力された画像書込信号に応じてレーザ駆動信号をROSy〜ROSk(潜像形成装置)に出力する。前記レーザ駆動信号に応じて、ROSy〜ROSk(潜像形成装置)のレーザダイオード(図示せず)から照射されたレーザ光Ly〜Lkは、前記感光体Py〜Pk表面を走査して、前記感光体Py〜Pk表面に静電潜像を形成する。
D1:メインモータ駆動回路
メインモータ駆動回路D1は、メインモータM1を駆動することにより、前記現像器Gの現像ロールR0,R0,R0,R0、感光体ドラムPy〜Pk、帯電ロールCRy〜CRk、1次転写ロールT1y〜T1k、2次転写ロールT2b、定着装置Fの加熱ロールFhおよび中間転写ベルトB等を回転駆動する。
E:電源回路
電源回路Eは、現像バイアス用電源回路E1y〜E1k、帯電用電源回路E2y〜E2
k、転写用電源回路E3y〜E3k,E3tおよび定着用電源回路E4y〜E4kを有している。
E1y〜E1k:現像バイアス用電源回路
現像バイアス用電源回路E1y〜E1kは、現像器GY〜GKの現像ロールR0に現像バイアスを印加する。
E2y〜E2k:帯電用電源回路
帯電用電源回路E2は、帯電ロールCRy〜CRkに帯電バイアスを印加する。
E3y〜E3k,E3t:転写用電源回路
転写用電源回路E3y〜E3k,E3tは、転写ロールT1y〜T1kおよびT2bに転写バイアスを印加する。
E4y〜E4k:定着用電源回路
定着用電源回路E4y〜E4kは、加熱ロールFhに加熱用電力を供給する。
My〜Mk:寿命検知情報記憶手段
各ユニットに設けられた寿命検知情報記憶手段My〜Mkは、膜減り係数記憶手段M1y〜M1k、寿命判別残膜厚値情報記憶手段M2y〜M2k、残膜厚値記憶手段M3y〜M3kとを有し、像保持体ユニットUY〜UKの寿命検知に必要な情報を記憶する。
M1y〜M1k:膜減り係数記憶手段
膜減り係数記憶手段M1y〜M1kは、像保持体ユニットの使用状況に応じて感光体ドラムの膜厚が減少する割合に対応した膜減り係数K1y〜K1k、K2y〜K2k、K3y〜K3kを記憶する。実施例1の膜減り係数記憶手段M1y〜M1kでは、後述する帯電バイアスの印加モードに応じて、AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kを記憶する。
M2y〜M2k:寿命判別残膜厚値情報記憶手段
寿命判別残膜厚値情報記憶手段M2y〜M2kは、各色Y,M,C,Kの像保持体としての感光体ドラムPy〜Pkに設定された像保持体寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkを記憶する。
M3y〜M3k:残膜厚値記憶手段
残膜厚値記憶手段M3y〜M3kは、像保持体ユニット内で使用されている各色Y,M,C,Kの感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを記憶する。
(前記制御部Cの機能)
前記制御部Cは、前記各信号出力要素からの出力信号に応じた処理を実行して、前記各制御要素に制御信号を出力する機能を実現するプログラム(機能実現手段)を有している。前記制御部Cの各種機能を実現するプログラム(機能実現手段)を次に説明する。
C1:メインモータ回転制御手段
メインモータ回転制御手段C1は、前記メインモータ駆動回路D1の動作を制御して、感光体Py〜Pk、現像器GY〜GK、定着装置Fおよび中間転写ベルトB等の回転を制御する。
C2:電源回路制御手段
電源回路制御手段C2は、次の手段C2a〜C2dを有しており、前記電源回路Eを制御して、前記現像バイアス、帯電バイアス、転写バイアス、加熱ロールFhのヒータのオンオフ等を制御する。
C2a:現像バイアス制御手段
現像バイアス制御手段C2aは、前記現像バイアス用電源回路E1y〜E1kの動作を制御して現像器GY〜GKの現像ロールR0に現像バイアスを印加する。
C2b:帯電バイアス制御手段
帯電バイアス制御手段C2bは、前記帯電バイアス用電源回路E2y〜E2kの動作を制御して帯電ロールCRy〜CRkに印加する帯電バイアスを制御する。実施例1では、帯電バイアス制御手段C2bは、帯電電圧として、直流電圧(DC)のみ、または直流(DC)に交流電圧(AC)を重畳した電圧を印加する。そして、実施例1では、帯電バイアス制御手段C2bが、以下に示す3種類の帯電バイアス印加モードを切り換えながら、感光体ドラムPy〜Pk表面に印加する帯電バイアスの制御を行っている。
(1)AC+DCバイアス重畳印加モード:画像形成動作時に感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pk表面の作像領域に均一で良好な画像を得るため、ACバイアスにDCバイアスを重畳して印加する。
(2)DCバイアス印加モード:画像形成動作時の用紙間部分のような、感光体ドラムPy,Pm,Pc,Pk表面の非作像領域において、現像装置から現像剤が移動することを防止するために、感光体Py〜Pk表面に一定の電位が必要な場合に、DCバイアスのみを印加する。
(3)帯電バイアス印加停止モード:ウォームアップ動作のような画像形成動作を実行していない場合は、帯電バイアスを印加しない。
C2c:転写バイアス制御手段
転写バイアス制御手段C2cは、前記転写用電源回路E3y〜E3k,E3tの動作を制御して1次転写ロールT1y〜T1kおよび2次転写ロールT2bに印加する転写バイアスを印加する。
C2d:定着用電源制御手段
定着用電源制御手段C2dは、定着用電源回路E4y〜E4kの動作を制御して、前記加熱ロールFhのヒータをオンオフ制御する。
C3:潜像形成手段
潜像形成手段C3は、レーザ駆動回路DLを介して、潜像形成装置ROSy〜ROSkから感光体Py〜Pkに照射するレーザ光Ly〜Lkの出力を制御して、感光体ドラムPy〜Pk表面の潜像を形成する。
C4:像保持体ユニット情報読込手段
像保持体ユニット情報読込手段C4は、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの寿命検知情報記憶手段My,Mm,Mc,Mkに保存されているデータである感光体ドラムPy〜Pk表面の膜減り係数としてのAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k,DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2k、帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kと、感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkを読込むと共に、感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚演算初期値Dym-1,Dmm-1,Dcm-1,Dkm-1として読み込む。
TM1y:Y像保持体回転時間計時タイマ(回転時間計測手段)
Y像保持体回転時間計時タイマTM1yは、感光体ドラムPy回転時の回転時間を計時する。
TM1m:M像保持体回転時間計時タイマ(回転時間計測手段)
M像保持体回転時間計時タイマTM1mは、感光体ドラムPm回転時の回転時間を計時する。
TM1c:C像保持体回転時間計時タイマ(回転時間計測手段)
C像保持体回転時間計時タイマTM1cは、感光体ドラムPc回転時の回転時間を計時する。
TM1k:K像保持体回転時間計時タイマ(回転時間計測手段)
K像保持体回転時間計時タイマTM1kは、感光体ドラムPk回転時の回転時間を計時する。
C5:帯電バイアス印加モード判別手段
帯電バイアス印加モード判別手段C5は、前記感光体ドラムPy〜Pk回転中すなわち像保持体回転時間計時タイマTM1の計時中に、帯電バイアス制御手段C2bにより実行されている帯電バイアス印加モードが、AC+DCバイアス重畳印加モード、DCバイアス印加モードおよび帯電バイアス印加停止モードのいずれであるかを判別する。
C6:像保持体寿命演算判別手段
像保持体寿命演算判別手段C6は、帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段C6a、像保持体残膜厚値演算手段C6bおよび像保持体寿命判別手段C6cを有しており、像保持体としての感光体ドラムPy〜Pkの寿命を演算し、判別する。
C6a:帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段
帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段C6aは、像保持体計時タイマTM1の計時中に実行される帯電バイアス印加モードの実行時間を計測し、前記帯電バイアス印加モード毎の累積実行時間を一時的に記憶する。実施例1の第1機種では、前記帯電バイアス印加モードの実行時間としては、帯電バイアス印加モードに対応する各色毎のAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kが設定されている。なお、像保持体計時タイマTM1の計時中には、前記帯電バイアス印加モードの切り換えが行われるが、帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段C6aは、前記切り換えによる帯電バイアス印加モードの変更に応じて、計測する帯電バイアス印加モード時間を変更しながら、実行時間の累積時間を記憶する。
C6b:像保持体残膜厚値演算手段(残膜厚演算手段)
像保持体残膜厚値演算手段C6bは、経時的に表面が磨耗して膜厚が減少する感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。実施例1の像保持体残膜圧演算手段C6bでは、像保持体計時タイマTM1〜TM4の計時中において、帯電ロールCRy〜CRkとの接触およびバイアス印加により磨耗する感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値を色毎に演算する。具体的には、寿命検知情報記憶手段My,Mm,Mc,Mkから読み込んだ感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚演算初期値Dym-1,Dmm-1,Dcm-1,Dkm-1と、AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kと、AC+DCバイアス重畳印加モードの実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kとから、次の式(1)〜(4)により演算する。
Dy=Dym-1−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)…式(1)
Dm=Dmm-1−(K1m・t1m+K2m・t2m+K3m・t3m)…式(2)
Dc=Dcm-1−(K1c・t1c+K2c・t2c+K3c・t3c)…式(3)
Dk=Dkm-1−(K1k・t1k+K2k・t2k+K3k・t3k)…式(4)
なお、式(1)〜(4)に使用されている前記AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り
係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kは、実験等により予め設定された値が設定されており、帯電バイアスにより感光体ドラムPy〜Pk表面が受けるダメージの大小すなわち、膜減りの速さに応じた値に設定されている。
また、式(1)〜(4)中のAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kには、式(1)〜(4)による演算処理が行われる期間の各バイアス印加モード毎の実行時間の累積値が使用されている。
C6c:像保持体寿命判別手段(寿命判別手段)
像保持体寿命判別手段C6cは、感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。実施例1の像保持体寿命判別手段C6cは、色毎に前記像保持体残膜厚演算手段C6bの式(1)〜(4)で演算された感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が、感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkの値よりも小さいか否か、すなわちdy>Dy,dm>Dm,dc>Dc,dk>Dkであるか否かを判別することにより、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であると判別する。
また、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの交換時に、画像形成装置本体U3内に装着された像保持体ユニットUY,UM,UC,UKから読込まれた感光体Py〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkの値よりも小さいか否か、すなわちdy>Dy,dm>Dm,dc>Dc,dk>Dkであるか否かを判別することにより、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。
C7:像保持体ユニット寿命表示手段(告知手段)
像保持体ユニット寿命表示手段C7は、前記像保持体寿命判別手段C6cにより感光体ドラムPy〜Pkのいずれかが寿命であると判断された場合に、ユーザインターフェイスUIの表示器UI1に、前記寿命であると判断された感光体ドラムPy〜Pkを有する像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの寿命、すなわち、ユニットの交換時期となったことを通知するメッセージを表示する。
C8:像保持体残膜厚値情報更新手段
像保持体残膜厚値情報更新手段C8は、感光体Py〜Pk回転終了時に、像保持体残膜厚値演算手段C6bにより演算された画像形成装置本体U3内の感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの残膜厚値記憶手段M3y〜M3kに記憶、更新する。
C9:像保持体ユニット着脱判別手段
像保持体ユニット着脱判別手段C9は、前記像保持体ユニット装着検知センサSNy〜SNkからの検知信号を受信して、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが画像形成装置Uに装着されているか否かを判別する。
FL1:Y像保持体ユニット寿命判定フラグ
Y像保持体ユニット寿命判定フラグFL1は、イエロー(Y)の像保持体ユニットUYが寿命と判別されるとFL1=「1」となり、寿命になっていない場合には、FL=「0」となる。
FL2:M像保持体ユニット寿命判定フラグ
M像保持体ユニット寿命判定フラグFL2は、マゼンタ(M)の像保持体ユニットUMが寿命と判別されるとFL2=「1」となり、寿命になっていない場合には、FL=「0」となる。
FL3:C像保持体ユニット寿命判定フラグ
C像保持体ユニット寿命判定フラグFL3は、シアン(C)の像保持体ユニットUCが寿命と判別されるとFL3=「1」となり、寿命になっていない場合には、FL=「0」となる。
FL4:Y像保持体ユニット寿命判定フラグ
K像保持体ユニット寿命判定フラグFL4は、黒(K)の像保持体ユニットUKが寿命と判別されるとFL4=「1」となり、寿命になっていない場合には、FL=「0」となる。
(実施例1の第2機種の制御部C′の説明)
図4は本発明の実施例1の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、前記図3に対応する図である。
次に図4を使用して第2機種の制御部の説明を行うが、第1機種の制御部と異なる制御手段についてのみ説明を行い、第1機種と同様の制御部分については同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
図4において、実施例1の第2機種の画像形成装置U′の制御部C′は、第1機種Uの制御部Cの像保持体残膜厚値演算手段C6bおよび像保持体寿命判別手段C6cの替わりに、像保持体残膜厚値演算手段C6b1、および像保持体寿命判別手段C6c′を有している。また、制御部C′では、次の機能(手段)像保持体寿命時残膜厚演算手段C6b2が追加されている。さらに、ユーザインターフェイスUIには、用紙種類選択キーUI3、が追加されている。
(前記制御部C′に接続された信号入力要素)
UI3:用紙種類選択キー
ユーザインタフェースUIには、用紙種類選択キーUI3が追加されている。
(前記制御部C′の機能)
C6b1:像保持体残膜厚値演算手段
像保持体残膜厚値演算手段C6b1は、経時的に表面が磨耗して膜厚が減少する感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。実施例1の像保持体残膜厚値演算手段C6b1では、前記像保持体残膜厚値演算手段C6bで使用している式(1)〜(4)に替えて式(1′)〜(4′)を使用して、AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kと、AC+DCバイアス重畳印加モードの実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kと、プロセススピードに応じた補正係数であるAC+DCバイアス重畳印加モード用補正係数h1y〜h1kと、DCバイアス印加モード用補正係数h2y〜h2kと、帯電バイアス印加停止モード補正係数h3y〜h3kと、に基づいて感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。
Dy=Dym-1−(K1y・h1y・t1y+K2y・h2y・t2y+K3y・h3y・t3y)…式(1′)
Dm=Dmm-1−(K1m・h1m・t1m+K2m・h2m・t2m+K3m・h3m・t3m)…式(2′)
Dc=Dcm-1−(K1c・h1c・t1c+K2c・h2c・t2c+K3c・h3c・t3c)…式(3′)
Dk=Dkm-1−(K1k・h1k・t1y+K2k・h2k・t2y+K3k・h3k・t3y)…式(4′)
C6b2:像保持体寿命時残膜厚演算手段
像保持体寿命時残膜厚演算手段C6b2は、像保持体ユニット情報読込手段C4により読込まれた感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkと、第2機種用の感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値補正項zと、に基づいて、第2機種の像保持体寿命時残膜厚dy×z,dm×z,dc×z,dk×zを演算する。
C6c′:像保持体寿命判別手段
像保持体寿命判別手段C6c′は、感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。実施例1の像保持体寿命判別手段C6c′は、色毎に前記像保持体残膜厚演算手段C6b1′の式(1′)〜(4′)で演算された感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が、前記像保持体寿命時残膜厚演算手段C6b2′によって演算
された第2機種の感光体Py〜Pkの像保持体寿命時残膜厚dy×z,dm×z,dc×z,dk×zの値よりも小さいか否か、すなわちdy×z>Dy,dm×z>Dm,dc×z>Dc,dk×z>Dkであるか否かを判別することにより、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否か判別する。
また、実施例1の像保持体寿命判別手段C6c′は、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの交換時において、新たに画像形成装置本体U3内に装着された像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの残膜厚値記憶手段M3y〜M3kから読込まれた感光体Py〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が、前記像保持体寿命時残膜厚演算手段C6b2′によって演算された第2機種の感光体Py〜Pkの像保持体寿命時残膜厚dy×z,dm×z,dc×z,dk×zの値よりも小さいか否か、すなわちdy×z>Dy,dm×z>Dm,dc×z>Dc,dk×z>Dkであるか否かを判別し、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。
C10:紙種判別手段
紙種判別手段C10は、前記用紙種類選択キーUI3への入力情報に基づいて用紙種類(紙種)を判別する。実施例1では、前記用紙種類として、普通紙(坪量が100g/m未満)および坪量が前記普通紙よりも大きく設定された厚紙(坪量が100g/m以上)の2つの用紙種類が選択可能に構成されている。
C11:プロセススピード判別手段
プロセススピード判別手段C11は、前記紙種判別手段C10により判別された用紙種類判別結果から画像形成動作中に使用するプロセススピードを判別する。実施例1では、用紙種類判別結果が普通紙である場合には、プロセススピードに第1プロセススピードとして35ppmが設定され、用紙種類判別結果が厚紙である場合には、プロセススピードに第2プロセススピードとして25ppmが設定される。
C12:プロセススピード制御手段
プロセススピード制御手段C12は、前記プロセススピード判別手段C11により設定されたプロセススピードに基づいて、画像形成動作(ジョブ)のプロセススピードを制御する。
C13:補正項記憶手段(補正係数記憶手段)
補正項記憶手段C13は、前記プロセススピードに応じて変更される補正係数としてのAC+DCバイアス重畳印加モード用補正係数h1y〜h1k、DCバイアス印加モード用補正係数h2y〜h2kおよび帯電バイアス印加停止モード補正係数h3y〜h3kに代入される膜減り補正値と、感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値補正項zに代入される寿命時の残膜厚値補正値とを記憶する。
実施例1の補正項記憶手段C13は、第1プロセススピード用の膜減り補正値として、AC+DCバイアス重畳印加モード用補正係数h1y〜h1kに代入されるAC+DCバイアス重畳印加モード用第1膜減り補正値α1y〜α1kと、DCバイアス印加モード用補正係数h2y〜h2kに代入されるDCバイアス印加モード用第1膜減り補正値α2y〜α2kと、帯電バイアス印加停止モード補正係数h3y〜h3kに代入される帯電バイアス印加停止モード用第1膜減り補正値α3y〜α3kとを記憶する。
また、実施例1の補正項記憶手段C13は、第2プロセススピード用の膜減り補正値として、AC+DCバイアス重畳印加モード用補正係数h1y〜h1kに代入されるAC+DCバイアス重畳印加モード用第2膜減り補正値β1y〜β1kと、DCバイアス印加モード用補正係数h2y〜h2kに代入されるDCバイアス印加モード用第2膜減り補正値β2y〜β2kと、帯電バイアス印加停止モード補正係数h3y〜h3kに代入される帯電バイアス印加停止モード用第2膜減り補正値β3y〜β3kとを記憶する。
さらに、実施例1の補正項記憶手段C13は、寿命時の残膜厚値補正値として、残膜厚値補正項zに代入される第1プロセススピード用の第1残膜厚補正値z1と、第2プロセススピード用の第2残膜厚補正値z2とを記憶する。
C14:補正項選択手段
補正項選択手段C14は、実行される画像形成動作の速度(プロセススピード)に応じて、各補正値α1y〜α3k,β1y〜β3k,z1,z2を選択し、各補正係数h1y〜h3k,zに代入する。
(実施例1のフローチャートの説明)
(第1機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図5は実施例1の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートである。
図5のフローチャートの各ST(ステップ)の処理は、前記制御部CのROMやハードディスク等に記憶されたプログラムに従って行われる。また、この処理は画像形成装置Uの他の各種処理と並行してマルチタスクで実行される。なお、この処理では、各色(Y,M,C,K)毎の処理が並行して実行される。そのため、図5では、イエロー(Y)の像保持体ユニットUYの寿命検知処理についてのみ説明を行い、その他の色(M,C,K)の像保持体ユニットUM,UC,UKの寿命検知処理についての詳細な説明は省略する。
図5に示すフローチャートは画像形成装置Uの電源投入時に開始される。
図5のST1において、像保持体としての感光体ドラムPyが回転を開始したか否かを判別する。ノー(N)の場合はST12に移り、イエス(Y)の場合はST2に移る。
ST2において、像保持体ユニットUYの寿命検知情報記憶手段Myに記憶されているAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyおよび感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを感光体Pyの残膜厚演算初期値Dym-1として読込み、ST3に移る。
ST3において、AC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yを0にリセットし、ST4に移る。
ST4において、以下の処理(1)、(2)を実行し、ST5に移る。
(1)実行中の帯電バイアス印加モードが、AC+DCバイアス重畳印加モード、DCバイアス印加モードおよび帯電バイアス印加停止モードのいずれかを判別する。
(2)判別された帯電バイアス印加モードに応じたAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yの時間の計測を実行(再開)する。
ST5において、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy>Dy=Dym-1−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST6に移り、イエス(Y)の場合はST9に移る。
ST6において、感光体ドラムPyの回転が終了したか否かを判別する。ノー(N)の場合はST10に移り、イエス(Y)の場合は、ST7に移る。
ST7において、AC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yの計測を終了して、ST8に移る。
ST8において、画像形成装置本体U3の前記ST5で演算した画像形成装置本体U3の感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを、像保持体ユニットUYの残膜厚値記憶手段M3yに記憶(更新)し、前記ST1に戻る。
ST9において、以下の処理(1)、(2)を行い、前記ST1に戻る。
(1)像保持体ユニットUYに関連する動作を強制終了する。すなわち、感光体ドラムPkの回転動作や、画像形成動作を強制終了する。
(2)寿命判定フラグFL1=「1」に設定する。
ST10において、帯電バイアス印加モードが変更されたか否か判別する。ノー(N)の場合は前記ST5に戻り、イエス(Y)の場合はST11に移る。
ST11において、計測中の帯電バイアス印加モードに応じたAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yのいずれかの時間を一時記憶して、前記ST4に戻る。
ST12において、寿命判定フラグFL1が「1」であるか否か半別する。イエス(Y)の場合はST13に移り、ノー(N)の場合は前記ST1に戻る。
ST13において、ユーザインターフェイスUIの表示部UI1に、寿命と判別された像保持体ユニットUYが寿命である旨のメッセ―ジを表示し、ST14に移る。
ST14において、像保持体ユニットUYが交換されたか否か判断する。ノー(N)の場合はST14を繰り返し実行し、イエス(Y)の場合はST15に移る。
ST15において、交換された像保持体ユニットの感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyおよび感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを読み込んで、ST16に移る。
ST16において、前記感光体ドラムPyの残膜厚値Dyは、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyよりも小さいか否か、すなわち、dy>Dyであるか否かを判別する。イエス(Y)の場合は、前記ST13に戻り、ノー(N)の場合は、ST17に移る。
ST17において、寿命判定フラグFL1=「0」に設定して、前記ST1に戻る。
(第2機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図6は実施例1の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、前記図5に対応する図である。
次に図6のフローチャートにおいて、第2機種のフローチャートの説明を行うが、前記第1機種のフローチャートと同様の処理には、同一のST番号を付し、詳細な説明は省略する。
図6のST2′では、図4のST2に替えて次の処理(1)、(2)、(3)を実行し、ST3に移る。
(1)像保持体ユニットUYの寿命検知情報記憶手段Myに記憶されているAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyと、を読み込むとともに、感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを感光体ドラムPyの残膜厚演算初期値Dym-1として読み込む。
(2)画像形成動作(ジョブ)で使用するプロセススピードに応じた膜減り補正項h1y〜h3yおよび、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値補正項zを読み込む。
(3)感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyに寿命時の残膜厚値補正項zを乗算してdy×zを演算する。
図6のST5′では、図4のST5に替えて、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy×z>Dy=Dym-1−(K1y・h1y・t1y+K2y・h2y・t2y+K3y・h3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST6に移り、イエス(Y)の場合はST9に移る。
(実施例1の作用)
前記構成を備えた実施例1の画像形成装置U,U′では、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚は、感光体ドラムPy〜Pkと帯電ロールとの磨耗や電圧の印加により減少し、減少量は印加される電圧やプロセススピードにより異なる。
実施例1の第1機種の画像形成装置Uでは、感光体ドラムPy〜Pk回転時に印加される電圧等に基づいて感光体ドラムPy〜Pkの表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算し、寿命時の残膜厚値dy〜dkと比較することにより、感光体ドラムPy〜Pkの寿命が検知される。
また、第2機種の画像形成装置U′では、第1機種の画像形成装置Uで使用される像保持体ユニットと同型の像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが装着される。前記第2機種では、プロセススピードの変更に応じて値が変化する補正係数h1y〜h3kにより、感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚演算時に使用されるAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kの値が補正される。
さらに、プロセススピードの変更に応じて値が変化する寿命時の残膜厚値補正項zにより、寿命時の残膜厚値dy〜dkの値が、第2機種の画像形成装置U′の寿命時の残膜厚値dy×z〜dk×zに補正される。
そのため、実施例1の第2機種の画像形成装置U′では、プロセススピードの変更に対応して補正された感光体Py〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkおよび寿命時の残膜厚値dy×z〜dk×zを比較することにより、感光体Py〜Pkの寿命が検知される。
また、前記第1機種の画像形成装置Uと第2機種の画像形成装置U′とのいずれにおいても、感光体ドラムPy〜Pkの寿命を検知した場合には、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが寿命である内容のメッセージを表示部UI1に表示し、ユーザに像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの交換が促される。
(実施例2の制御部の説明)
(第1機種の制御部Cの説明)
図7は本発明の実施例2の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図3に対応する図である。
図7において、実施例2の寿命検知情報記憶手段My〜Mkは、実施例1と同様の寿命検知情報記憶手段M1y〜M1k、M2y〜M2k、実施例1の残膜厚値記憶手段M3y〜M3kに替えて、初期膜厚記憶手段M3y′〜M3k′とを有し、帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段M4y〜M4kが追加されている。また、実施例2の制御部Cは、実施例1と同様の制御手段C1〜C3、TM1y〜Tm1k、C5、C7、C9、FL1〜FL4を有し、実施例1とは異なる像保持体ユニット情報読込手段C4、像保持体残膜厚値演算手段C6b、像保持体寿命判別手段C6cを有し、像保持体残膜厚情報更新手段C8に替えて帯電バイアス印加モード時間累積値更新手段C8′が追加されている。
(制御部Cに接続された被制御要素)
M3y′〜M3k′:初期残膜厚値記憶手段
初期残膜厚値記憶手段M3y′〜M3k′は、感光体ドラムPy〜Pkの初期膜厚値でDy0、Dm0、Dc0、Dk0を記憶する。
M4y〜M4k:帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段
帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段M4y〜M4kは、帯電バイアス印加モード毎の時間であるAC+DCバイアス重畳印加モードの実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kを記憶する。
(実施例2の制御部Cの機能)
C4:像保持体ユニット情報読込手段
像保持体ユニット情報読込手段C4は、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの記憶素子My,Mm,Mc,Mkに保存されている感光体ドラムPy〜Pk表面の膜減り係数K1y〜K1k,K2y〜K2k,K3y〜K3kと、感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkを読込むと共に、実施例1で読込んだ感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkに替えて前記初期膜厚値M3y′〜M3k′に保存されている感光体Py〜Pkの初期膜厚値Dy0〜Dk0と、帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段M4y〜M4kに保存されているAC+DCバイアス重畳印加モードの累積実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの累積実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの累積実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kと、を読込む。
C6b:像保持体残膜厚値演算手段
像保持体残膜厚値演算手段C6bは、経時的に表面が磨耗して膜厚が減少する感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。実施例2の像保持体残膜圧演算手段C6bでは、実施例1と同様に像保持体計時タイマTM1〜TM4の計時中および像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの交換後において、帯電ロールCRy〜CRkとの接触およびバイアス印加により磨耗する感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値を色毎に演算する。具体的には、寿命検知情報記憶手段My,Mm,Mc,Mkから読み込んだ感光体ドラムPy〜Pkの初期膜厚値Dy0,Dm0,Dc0,Dk0と、AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kと、AC+DCバイアス重畳印加モードの累積実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの累積実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの累積実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kとから、次の式(5)〜(8)により演算する。
Dy=Dy0−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)…式(5)
Dm=Dm0−(K1m・t1m+K2m・t2m+K3m・t3m)…式(6)
Dc=Dc0−(K1c・t1c+K2c・t2c+K3c・t3c)…式(7)
Dk=Dk0−(K1k・t1k+K2k・t2k+K3k・t3k)…式(8)
C6c:像保持体寿命判別手段
像保持体寿命判別手段C6cは、感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。実施例2の像保持体寿命判別手段C6cは、感光体Py〜Pk回転中すなわち像保持体回転時間計時タイマTM1〜TM4および像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの交換時に、色毎に前記像保持体残膜厚演算手段C6bの式(5)〜(8)で演算された感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が、感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy,dm,dc,dkの値よりも小さいか否か、すなわち、dy>Dy,dm>Dm,dc>Dc,dk>Dkであるか否かを判別することにより、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であると判別する。
(第2機種の制御部C′の説明)
図8は本発明の実施例2の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図4に対応する図である。
次に図8を使用して実施例2の第2機種U′の制御部C′の説明を行うが、実施例1と異なる制御手段ついてのみ説明を行い、実施例1と同様の制御手段ついては同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
図8において、実施例2の第2機種の画像形成装置U′の制御部C′は、実施例1の制御部C′の像保持体残膜厚値演算手段C6b1′および像保持体寿命判別手段C6c′と異なる像保持体残膜厚値演算手段C6b1′および像保持体寿命判別手段C6c′とを有している。
(前記制御部C′の機能)
C6b1′:像保持体残膜厚値演算手段
像保持体残膜厚値演算手段C6b1′は、経時的に表面が磨耗して膜厚が減少する感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。実施例2の像保持体残膜厚値演算手段C6b1′では実施例1の前記像保持体残膜厚値演算手段C6b′で使用している式(1′)〜(4′)に替えて式(5′)〜(8′)を使用して、AC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y〜K1k、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y〜K2kおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y〜K3kと、AC+DCバイアス重畳印加モードの累積実行時間であるAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y〜t1k、DCバイアス印加モードの累積実行時間であるDCバイアス印加モード時間t2y〜t2kおよび帯電バイアス印加停止モードの累積実行時間である帯電バイアス印加停止モード時間t3y〜t3kと、プロセススピードに応じた補正係数であるAC+DCバイアス重畳印加モード用補正係数h1y〜h1kと、DCバイアス印加モード用補正係数h2y〜h2kと、帯電バイアス印加停止モード補正係数h3y〜h3kと、に基づいて感光体ドラムPy〜Pk表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを演算する。
Dy=Dy0−(K1y・h1y・t1y+K2y・h2y・t2y+K3y・h3y・t3y)…式(5′)
Dm=Dm0−(K1m・h1m・t1m+K2m・h2m・t2m+K3m・h3m・t3m)…式(6′)
Dc=Dc0−(K1c・h1c・t1c+K2c・h2c・t2c+K3c・h3c・t3c)…式(7′)
Dk=Dk0−(K1k・h1k・t1y+K2k・h2k・t2y+K3k・h3k・t3y)…式(8′)
C6c′:像保持体寿命判別手段
像保持体寿命判別手段C6c′は、感光体ドラムPy〜Pkが寿命であるか否かを判別する。実施例2の像保持体寿命判別手段C6c′は、色毎に前記像保持体残膜厚演算手段C6b1′の式(5′)〜(8′)で演算された感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkの値が、前記像保持体寿命時残膜厚演算手段C6b2′によって演算された第2機種の感光体Py〜Pkの像保持体寿命時残膜厚dy×z,dm×z,dc×z,dk×zの値よりも小さいか否か、すなわちdy×z>Dy,dm×z>Dm,dc×z>Dc, dk×z>Dkであるか否かを判別することにより、該当する色の感光体ドラムPy〜Pkが寿命であると判別する。
(実施例2のフローチャートの説明)
(第1機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図9は実施例2の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図5に対応する図である。
次に、実施例2のフローチャートの説明を行うが、実施例1のフローチャートと同様の処理には同一のステップ(ST)番号を付し、詳細な説明は省略する。なお、実施例2の寿命検知処理では、実施例1の寿命検知処理のST3が省略されている。
実施例1のST2に替えて実行される図8のST22では、像保持体ユニットUYの寿命検知情報記憶手段Myに記憶されているAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyおよび感光体Pyの初期膜厚値Dy0を読込み、ST4に移る。
実施例1のST5に替えて実行される図8のST25では、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy>Dy=Dy0−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST6に移り、イエス(Y)の場合はST9に移る。
実施例1のST8に替えて実行される図8のST28では、感光体Py回転中に計測されて帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段C6に記憶されたAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yを像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段M4y〜M4kに記憶(更新)し、前記ST1に戻る。
実施例1のST15に替えて実行される図8のST35では、交換された像保持体ユニットUY,UM,UC,UKからAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyおよび感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを読み込んで、ST36に移る。
実施例1のST16に替えて実行される図8のST36では、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy>Dy=Dy0−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST17に移り、イエス(Y)の場合は前記ST13に戻る。
(第2機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図10は実施例2の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図6に対応する図である。
次に図10のフローチャートにおいて、第2機種のフローチャートの説明を行うが、実施例1の前記図6のフローチャートと同様の処理には、同一のST番号を付し、詳細な説明は省略する。なお、図10に示す実施例2の寿命検知処理では、実施例1の寿命検知処理のST3が省略されている。
実施例1のST2′に替えて実行される図10のST22′では、次の処理(1)、(2)、(3)を実行し、ST4に移る。
(1)像保持体ユニットUYの寿命検知情報記憶手段Myに記憶されているAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyとおよび感光体ドラムPyの初期膜厚値Dy0を読み込む。
(2)画像形成動作(ジョブ)で使用するプロセススピードに応じた膜減り補正項h1y〜h3yおよび、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値補正項zを読み込む。
(3)感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyに寿命時の残膜厚値補正項zを乗算してdy×zを演算する。
実施例1のST5′に替えて実行される図10のST25′では、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy×z>Dy=Dy0−(K1y・h1y・t1y+K2y・h2y・t2y+K3y・h3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST6に移り、イエス(Y)の場合はST9に移る。
実施例1のST8に替えて実行される図10のST28では、感光体Py回転中に計測されて帯電バイアス印加モード時間一時記憶手段C6に記憶されたAC+DCバイアス重畳印加モード時間t1y、DCバイアス印加モード時間t2yおよび帯電バイアス印加停止モード時間t3yを像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの帯電バイアス印加モード時間累積値記憶手段M4y〜M4kに記憶(更新)し、前記ST1に戻る。
実施例1のST15に替えて実行される図10のST35では、交換された像保持体ユニットUY,UM,UC,UKからAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、感光体ドラムPyの寿命時の残膜厚値dyおよび感光体ドラムPyの残膜厚値Dyを読み込んで、ST36に移る。
実施例1のST16に替えて実行される図10のST36では、感光体ドラムPyの残膜厚値が寿命時の残膜厚値よりも小さいか否か、すなわち、dy×z>Dy=Dy0−(K1y・t1y+K2y・t2y+K3y・t3y)であるか否かを判別する。ノー(N)の場合はST17に移り、イエス(Y)の場合は前記ST13に戻る。
(実施例2の作用)
前記構成を備えた実施例2の画像形成装置U,U′では、感光体ドラムPy〜Pkの初期膜厚値Dy0,Dm0,Dc0,Dk0と、帯電バイアス印加モード毎の累積実行時間t1y〜t3k等に基づいて感光体ドラムPy〜Pkの表面の残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkが演算される。実施例2では、前記演算された残膜厚値Dy,Dm,Dc,Dkを寿命時の残膜厚値dy〜dkまたはdy×z〜dk×zと比較することにより、感光体ドラムPy〜Pkの寿命が検知される。
(実施例3の制御部の説明)
(第1機種の制御部Cの説明)
図11は本発明の実施例3の第1機種の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図3に対応する図である。
図11において、実施例3の第1機種Uの制御部Cは、実施例1の制御部Cと同様の制御手段C1〜C3〜C9、TM1y〜TM1k、FL1〜FL4を有し、機種情報記憶書込手段C15が追加されている。
(実施例3の制御部Cの機能)
C15:機種情報記憶書込手段(寿命判別情報記憶手段)
機種情報記憶書込手段C15は、機種情報記憶手段C15a、機種情報書込時期判別手段C15bおよび機種情報書込手段C15cとを有し、第1機種の機種情報を記憶(保存)し、前記機種情報を像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの寿命検知情報記憶手段My〜Mkに書込む。
C15a:機種情報記憶手段(寿命判別情報記憶手段)
機種情報記憶手段C15aは、第1機種用膜減り係数K1y〜K3kおよび第1機種用寿命時残膜厚値dy〜dkの機種情報を記憶(保存)する。
C15b:機種情報書込時期判別手段(寿命判別情報書込時期判別手段)
機種情報書込時期判別手段C15bは、第1機種情報を像保持体ユニットUY,UM,UC,UKに書込む時期になったか否かを判別する。実施例3の機種情報書込時期判別手段C15bは、画像形成装置Uの電源がオフからオンに切り替わったか否か、もしくは、電源オン状態中に像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが交換されて画像形成装置Uに装着されたか否かを判別することにより、機種情報を書込む時期になったか否かを判別する。
C15c:機種情報書込手段(寿命判別情報書込手段)
機種情報書込手段C15cは、前記機種情報書込時期判別手段C15bにより機種情報を書込む時期になったと判別された場合に、前記機種情報記憶手段C15aに保存されている第1機種用膜減り係数K1y〜K3kおよび第1機種用寿命時残膜厚値dy〜dkをそれぞれ、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの膜減り係数記憶手段M1y〜M1kおよび寿命判別残膜厚情報記憶手段M2y〜M2kに書込む。
(実施例3の第2機種の制御部C′の説明)
図12は実施例3の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図4に対応する図である。
次に図12を使用して実施例3の第2機種U′の制御部C′の説明を行うが、実施例1の制御部C′の制御手段についてのみ説明を行い、実施例1と同様の制御手段については同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
図12において、実施例3の制御部C′は、実施例1と同様の制御手段C1〜C3〜C14、TM1y〜TM1k、FL1〜FL4を有し、機種情報記憶書込手段C15′が追加されている。
C15′:機種情報記憶書込手段
機種情報記憶書込手段C15′は、機種情報記憶手段C15a′、機種情報書込時期判別手段C15b′および機種情報書込手段C15c′とを有し、第2機種C′の機種情報を記憶(保存)し、前記機種情報を像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの寿命検知情報記憶手段My〜Mkに書込む。
C15a′:機種情報記憶手段
機種情報記憶手段C15a′は、第2機種用膜減り係数K1y′〜K3k′および第2機種用寿命時残膜厚値dy′〜dk′の機種情報を記憶(保存)する。
C15b′:機種情報書込時期判別手段
機種情報書込時期判別手段C15b′は、第2機種情報を像保持体ユニットUY,UM,UC,UKに書込む時期になったか否かを判別する。実施例3の機種情報書込時期判別手段C15bは、画像形成装置U′の電源がオフからオンに切り替わったか否か、もしくは、電源オン状態中に像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが交換されて画像形成装置U′に装着されたか否かを判別する。
C15c′:機種情報書込手段
機種情報書込手段C15c′は、前記機種情報書込時期判別手段C15b′により機種情報を書込む時期になったと判別された場合に、前記機種情報記憶手段C15a′に保存されている第2機種用膜減り係数K1y′〜K3k′および第2機種用寿命時残膜厚値dy′〜dk′をそれぞれ、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの膜減り係数記憶手段M1y〜M1kおよび寿命判別残膜厚情報記憶手段M2y〜M2kに書込む。
(実施例3のフローチャートの説明)
(第1機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図13は実施例3の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図5に対応する図である。
次に、実施例3のフローチャートの説明を行うが、実施例1のフローチャートと同様の処理には同一のステップ(ST)番号を付し、詳細な説明は省略する。なお、実施例3の寿命検知処理では、前記実施例1のST1の処理の前にST41〜ST43の処理が追加されている。
図13のST41において、画像形成装置Uの電源オン時か否かを判別する。ノー(N)の場合はST42に移り、イエス(Y)の場合はST43に移る。
ST42において、像保持体ユニットUY,UM,UC,UKが交換されて画像形成装置Uに装着されたか否か判別する。ノー(N)の場合はST1に移り、イエス(Y)の場合はST43に移る。
ST43において、像保持体ユニットUyの寿命検知情報記憶手段Myに第1機種用膜減り係数であるAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2yおよび帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3yと、第1機種用寿命時残膜厚値dyとを書込む。
(第2機種のイエロー(Y)の寿命検知処理のフローチャート)
図14は実施例3の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図6に対応する図である。
次に、実施例3のフローチャートの説明を行うが、実施例1のフローチャートと同様の処理には同一のステップ(ST)番号を付し、詳細な説明は省略する。なお、実施例3の寿命検知処理では、前記実施例1のST1の手前にST41′〜ST43′の処理が追加されている。
また、実施例3のフローチャートでは、前記実施例1の図6のフローチャートの膜減り係数K1y〜K3yおよび寿命時残膜厚値dyに替えて、第2機種用膜減り係数K1y′〜K3y′および第2機種用寿命時残膜厚値dy′が使用されている点が異なり、各ステップ(ST)の処理内容は前記図6と同じため、その詳細な説明は省略する。
図14のST41′,ST42′では、図13のST41,ST42と同様の処理が実行される。
ST43′において、像保持体ユニットUyの寿命検知情報記憶手段Myに第2機種用膜減り係数であるAC+DCバイアス重畳印加モード用膜減り係数K1y′、DCバイアス印加モード用膜減り係数K2y′および帯電バイアス印加停止モード用膜減り係数K3y′と、第2機種用寿命時残膜厚値dy′とを書込む。
(実施例3の作用)
前記構成を備えた実施例3の画像形成装置U,U′では、画像形成装置U,U′の電源オン時や像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの装着時に、機種毎に固有の情報である膜減り係数K1y〜K3k、K1y′〜K3k′および寿命時残膜厚値dy〜dk,dy′〜dk′が像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの像保持体検知情報記憶手段My〜Mkに書込まれる。
(変更例)
以上、本発明の実施例を詳述したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で、種々の変更を行うことが可能である。本発明の変更例(H01)〜(H04)を下記に例示する。
(H01)本発明は、カラーの画像形成装置Uに限定されず、モノクロの画像形成装置にも適用可能である。
(H02)前記各実施例において、第2機種の画像形成装置U′は2種類の異なるプロセススピードを有したものを使用したが、これに限定されず、プロセススピードが2種類を上回る場合でも、各プロセススピードに対応する所定の補正項h1y〜h3kを設定することで、各プロセススピードに対応した感光体Py〜Pkの残膜厚が演算可能であるとともに精度の良い寿命検知が可能である。
(H03)本発明は、2種類の画像形成装置U,U′間において同一の像保持体ユニットUY,UM,UC,UKを装着したが、本発明の像保持体ユニットUY,UM,UC,UKの寿命検知機能が可能で、同一の像保持体ユニットUY,UM,UC,UKを装着可能な機種で有れば、2種類以上の複数機種間において使用可能である。
(H04)各実施例において感光体ドラムPy〜Pkの寿命時の残膜厚値dy〜dk、dy′〜dk′、dy×z〜dk×z、dy′×z〜dk′×zよりも初期の残膜厚値に近い値を有する寿命接近警告値を設定して、感光体ドラムPy〜Pkの残膜厚値Dy〜Dk、Dy〜Dkが前記寿命接近警告値を下回った場合に、ユーザに対して感光体ドラムPy〜Pkの寿命が接近していることを報知する。すなわち、寿命になる前に予め、寿命が接近していることを告知する。
図1は本発明の実施例1の画像形成装置の全体説明図である。 図2は像保持体ユニットおよび現像器を有する可視像形成装置の説明図である。 図3は本発明の実施例1の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図である。 図4は本発明の実施例1の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、前記図3に対応する図である。 図5は実施例1の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートである。 図6は実施例1の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、前記図5に対応する図である。 図7は本発明の実施例2の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図3に対応する図である。 図8は本発明の実施例2の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図4に対応する図である。 図9は実施例2の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図5に対応する図である。 図10は実施例2の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図6に対応する図である。 図11は本発明の実施例3の第1機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図3に対応する図である。 図12は本発明の実施例3の第2機種の画像形成装置の制御部のブロック線図であり、実施例1の前記図4に対応する図である。 図13は実施例3の第1機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図5に対応する図である。 図14は実施例3の第2機種の像保持体ユニットの寿命検知処理のフローチャートであり、実施例1の前記図6に対応する図である。
符号の説明
C6b,C6b1′…残膜厚演算手段、
C6c,C6c′…寿命判別手段、
C7…告知手段、
C13…補正係数記憶手段、
C15a…寿命判別情報記憶手段、
C15b…寿命判別情報書込時期判別手段、
C15c…寿命判別情報書込手段、
CRy〜CRk…帯電器、
My〜Mk…記憶部材、
TM1y,TM1m,TM1c,TM1k…回転時間計測手段、
U…第1の画像形成装置、
U′…第2の画像形成装置、
UY,UM,UC,UK…像保持体。

Claims (4)

  1. 第1の画像形成装置とは異なる画像形成速度で画像形成が可能な第2の画像形成装置であって、
    表面に潜像が形成される像保持体と、
    記第1の画像形成装置の画像形成速度に対応した前記像保持体の単位時間当りの磨耗量である予め設定された膜減り係数と、前記第1の画像形成装置において前記像保持体の回転時間と前記膜減り係数と前記像保持体の膜厚の初期値である残膜厚の演算初期値とに基づいて演算された残膜厚情報と、を記憶する記憶部材とを有し、前記第1の画像形成装置および第2の画像形成装置に着脱可能な像保持体ユニットと、
    前記像保持体の回転時間を計測する回転時間計測手段と、
    前記第1の画像形成装置の画像形成速度に対する前記第2の画像形成装置の画像形成速度に応じて変動する前記像保持体の膜減りの速度に応じて予め設定された補正係数であって、前記膜減り係数を補正する補正係数を記憶する補正係数記憶手段と、
    前記像保持体の回転時間と、前記膜減り係数と、前記補正係数と、前記残膜厚の情報に基づいて、前記像保持体の現在の残膜厚を演算する残膜厚演算手段と、
    前記像保持体の寿命判別情報と、前記残膜厚演算手段で演算された残膜厚とに基づいて、前記像保持体の寿命であるか否かを判別する寿命判別手段と、
    前記像保持体が寿命であると判別された場合に、前記像保持体が寿命であることを告知する告知手段と、
    を備えたことを特徴とする前記第2の画像形成装置。
  2. 前記像保持体を帯電させる帯電器と、
    前記画像形成動作中に前記帯電器に印加される帯電電圧の変化に応じて変動する前記単位時間当りの磨耗量に対応して設定された複数の前記膜減り係数を記憶する前記記憶部材、
    を備えたことを特徴とする請求項1に記載の第2の画像形成装置。
  3. 前記寿命判別情報を記憶する前記記憶部材を有する前記像保持体ユニットと、
    前記第1の画像形成装置における前記像保持体の寿命判別情報とは異なる第2の画像形成装置用寿命判別情報を記憶する寿命判別情報記憶手段と、
    前記像保持体ユニットが第2の画像形成装置に装着された場合に、寿命判別情報を前記記憶部材に書き込む寿命判別情報書込手段と、
    を備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の第2の画像形成装置。
  4. 前記寿命判別情報よりも前記像保持体の初期の残膜厚値に近い値に予め設定された寿命接近判別情報と、前記残膜厚演算手段で演算された残膜厚とに基づいて、前記像保持体の寿命が近づいているか否かを判別する寿命接近判別手段、
    を備えたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の第2の画像形成装置。
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