JP4824439B2 - Qcm装置 - Google Patents

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本発明は、水晶振動子マイクロバランス(QCM)を含む装置に関し、特に半導体の製造に使用されるレジストが液体、特には水と接触した際の挙動を観察するために有用な装置に関する。
近年、水晶振動子マイクロバランス(QCM)は、薄膜およびインタフェースの研究に非常に役立つ重要なツールとしてますます多くの分野で認められつつある。QCMは水晶の単結晶から生成される圧電素子であり、共振子のQ(quality factor)は、エネルギーの観点から定義される。
Q=(蓄積されたピーク・エネルギー)/(1ラジアン当たり消失される2πエネルギー)
軽負荷の条件下では、周波数の低下は堆積物の質量密度(kgm/m)に比例するものと解釈できる。軽負荷条件下のこの比例特性はソルベリ(Sauerbrey)によって確認されており、次のソルベリの関係式で表すことができる。
Figure 0004824439
ここで、Δfは周波数の変化、fは無負荷時の共振周波数、ρは水晶の密度(2.649x10kgm/m)、μは水晶の有効剛性率(2.947x1010ニュートン/m)、m’は容量密度(kgm/m)である。
QCM装置の検出部にあたる水晶振動子の4素子電気的等価回路は、Butterworth−van Dyke表現と呼ばれており、図1のような表現となる。図1の左アームは共振子の静的誘電容量(static dielectric capacitance)を表し、固定の容量値を持つ。このアームは、水晶や膜の動作からは独立しているので“静的”アームと呼ばれている。同図の右アームは、直列のインダクタL、キャパシタC、および抵抗Rから構成されている。これらの素子は共振子の負荷によって変わり、この右側のアームは“動的”アームと呼ばれている。抵抗Rは、共振子の損失を示すメジャーである。Rが小さいと損失は小さく、Qは大きい。一方、Rが大きいと損失は大きくQは小さい。LとCsの変化をより正確に観察するためには、周囲の温度変化の減少や水晶振動子自身にかかる圧力をできる限り除去する必要がある。
この等価回路の共振子の固有共振周波数は次式で表される。
Figure 0004824439
共振周波数fは水晶振動子上の物質だけでなく、周囲の温度の変化や、水晶振動子自身にかかる圧力からも影響を受け、変化する。
前記のようにQCM装置は薄膜およびインタフェースの研究に非常に役立つ重要なツールであり、半導体の製造の際に使用されるレジストの挙動を評価するための利用が図られている。より具体的には、近年注目を集めている、露光装置のレンズとウエハーの間のすき間を純水で満たして露光を行う液浸リソグラフィーにおけるレジストの挙動を解析するための研究が行われている。
この液浸リソグラフィーに使用されるレジストは水と直接接触するため、その際の挙動が重要となる。すなわち、水と接触した際に水中に成分が溶け出したり、または水がレジスト中に取り込まれたりすると、レジストの特性が変化してしまうため、その特性を正確に測定する必要がある。
レジストに水中に溶出する成分が含まれる場合には、水と接触してから数十秒、場合によっては15秒程度で溶出してしまうと考えられている。そのため、水と接触する瞬間から正確なデータを採取することが必要とされる。しかし、従来のQCM装置では、水を基板上に摘下した場合、共振周波数が安定するまでに通常200−500秒もの時間を要し、その時間にもバラツキがあった。さらに、共振周波数のドリフト量は毎回異なる上、量が大きかった。そのため、現実的には正確な測定をすることのできる方法は見いだされていなかった。さらには、水以外の液体とレジストが接触する場合にも、その際の挙動を正確に知ることはレジストの開発に際して重要であり、そのような手段を提供することは有意義なことである。
本願発明は、上記の課題を解決する、共振周波数のドリフト量が小さく、かつ速やかに安定する、新規なQCM装置を提供することを目的とする。
本明細書においては、
本発明者の研究により、QCM装置において共振周波数のドリフト量が小さく、かつ速やかに安定した測定値が得られるようにするためには、QCM基板と滴下される液体の温度が同じであること、液体の滴下時にQCM基板にショックを与えないようにすること、および液体の滴下時にQCM基板の感度のある部分、すなわちQCM回路部分に直接液体を滴下しないことが重要であることが見いだされた。さらに、QCM回路の周囲の全方向から均一に液体が滴下されると、より好ましい結果が得られることも見いだされた。
本発明はかかる知見に基づいてなされたものであり、本発明は、QCM基板、該基板を保持するQCM基板ホルダー、該QCM基板ホルダーを取り囲む金属製ブロック、および少なくとも一部は金属製ブロックの内部に形成された液体を通すことができる流路を有し、該流路に形成された開口部を通してブロックとほぼ同じ温度にされた液体が、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下される、QCM装置に関する。
一般にQCM基板1は図2に示されるように、基板の内側にQCM回路部分2を有し、典型的には円形の基板の内側に円形の回路部分が配置されている。一般的には5MHzで発振するQCM基板は直径約2.54cm(1インチ)であり、感度のある部分は直径約7mmである。
本発明の装置では、QCM基板は、QCM基板の形状に対応したQCM基板ホルダーにより固定、保持される。QCM基板ホルダーの材質および構造は任意である。材質として好適にはテフロン(登録商標)のようなフッ素化樹脂が使用される。構造の例は図3に示される。QCM基板ホルダーはQCM基板下ホルダー、インナーリングおよびアウターリングから作られている。インナーリングはQCM基板を保持するとともに、O−リングなどを使用して、測定時にQCM基板上に滴下される液体が漏れないよう、基板と密着する必要がある。
QCM基板ホルダーを取り囲む金属製ブロックは、その内部にQCM基板およびQCM基板ホルダーを保持する。図3の構成例のように、金属製ブロックのQCM基板の上に位置する部分に、石英などの露光エネルギーが通過する材料で作られた部分を設けることができる。ただし、露光する必要のない場合には石英部分を含まずに、金属製ブロックで内部を密閉してもよいし、また単にガラス板を設けて内部を観察できるようにすることもできる。金属製ブロックの材質も任意であるが、熱伝導率のよい金属で作られることが好ましく、また内部に液体を流すための流路が形成されるので、加工のしやすいものが好ましい。一般的にはアルミまたは銅が使用される。
金属製ブロックの内部には液体を通すことができる流路が形成される。これは、後述されるように、本発明の装置を使用する際には、流路内部に液体を保持して、液体の温度を金属製ブロック、ひいてはQCM基板と同じ温度にするためである。ブロックとほぼ同じ温度にされた液体は、ついで流路に形成された開口部を通して、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下される。
流路は、全体が金属製ブロックの内部に形成されてもよいし、一部が金属製ブロックの外部に形成されてもよい。すなわち、本発明はその一態様として、金属製ブロックの内部から外部へ伸びる流路が形成される、本発明のQCM装置を提供する。
本発明の装置においては、測定に先立ち流路に液体を満たし、通常約20分そのまま保持し、金属製ブロックの内部および外部の流路の中の液体の温度を、QCM基板とほぼ同じ温度にする。簡易的には、流路のQCM基板側の末端は閉止され、ビーカーなどの容器からビニルチューブを通して流路内を完全に満たすまで液体が供給された後、クリップなどの手段により液体の流出を止める。測定装置内の温度は均一に保持されているので、流路内部の液体を保持することにより、液体の温度は金属製ブロックの温度、すなわちQCM基板の温度と同じ温度とされる。好ましくは、QCM基板と液体との温度差は、好ましくは+/−0.01℃以内、より好ましくは+/−0.005℃以内、もっとも好ましくは+/−0.0015℃以内で制御される。なお、流路内の液体がQCM基板上に滴下しない条件下で液体を循環し、一定温度とすることもできる。また、外部加熱または冷却により、液体の温度が速やかに金属製ブロックの温度と同じになるようにすることもできる。
本発明において、液体としては測定条件下において液体である、任意のすべての液体を使用することができる。もっとも典型的には水であるが、メタノール、エタノール、プロパノールなどのアルコール類、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、乳酸エチルなどの各種有機溶媒、酸、アルカリ、有機および無機物質の水溶液、無機溶媒溶液、および有機溶媒溶液、並びに各種モノマーなどを使用することができる。
前記のように、本発明の装置においては、QCM基板と滴下される液体の温度が同じであることに加え、液体の滴下時にQCM基板にショックを与えないようにすること、および液体の滴下時にQCM基板の感度のある部分に直接液体を滴下しないという要件が重要である。かかる要件を達成するため、本発明においてはQCM基板上のQCM回路ではない位置に、QCM基板と等温にされた液体が、QCM回路にショックを与えないように、滴下される。滴下は流路に設けられた開口部を通して行われる。
QCM基板上のQCM回路ではない位置とは、たとえば図2において、基板1の上であるが、回路2ではない部分を言う。なお、滴下による衝撃をより少なくするために、開口部と基板の間にじゃま板を配置し、一端この上に滴下した後、基板に落下させることもできる。
該開口部は好ましくは直径約0.1−1mm、より好ましくは0.3−0.7mm、もっとも好ましくは約0.5mmの開口である。開口の位置は、QCM基板上であってQCM回路の上でなければ、任意の位置であることができる。好ましくは、開口はQCM回路の輪郭に沿って均一な間隔で設けられる。開口の個数は好ましくは4−20個、より好ましくは6−15個、もっとも好ましくは8−12個である。
流路から開口部までは、金属製ブロック内部の流路に細い枝管などを設け、連結してもよいが、好適には、後述の図4に示されるように、金属製ブロックの外部の、QCM基板上のQCM回路ではない位置に、ゴムまたはプラスチック製のチューブで流路を設け、そのチューブに穴をあけることにより開口部を形成することができる。
該開口部から、QCM基板上に滴下される液体の量は特に制限するものではないが、液体の深さが0.5−3mm、典型的には1−2mmになるような量であり、一般的なQCM基板の場合には、液体の量は約0.1−2ml、好ましくは約0.2−0.7ml、もっとも好ましくは0.5mlである。
本発明のQCM装置50からの出力は、図5に示されるようにQCMアンプ52に供給され、周波数カウンター54を経てコンピューター56に送られることができる。
さらに本発明は、QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法に関する。
等温とは、QCM基板と液体との温度差が+/−0.01℃以内であることをいい、好ましくは+/−0.005℃以内、より好ましくは+/−0.0015℃以内である。
本発明の方法においては、液体がQCM回路の周囲に滴下されるので、液体の滴下によるQCM回路への影響がない。
さらに本発明は、QCM回路上にフィルムを形成し、QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法に関する。
本発明の方法では、共振周波数のドリフト量が小さく、かつ速やかに安定し、かつ液体の滴下と同時にフィルムが液体と接触せず、回路にショックを与えることがない。また回路上に塗布されたフィルムが液体と接触する瞬間から測定値を得ることができる。そのため、接触初期における現象を解析することができる。
さらに本発明は、QCM基板上にフォトレジストを塗布し、フォトレジストに露光エネルギーを加えながら、QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法に関する。
これは、QCM基板上に石英のような露光エネルギーが通過する材料で作られた部分が設けられた本発明の装置を用い、フォトレジストを露光しながら、フォトレジストと液体との相互作用を測定することができる。本発明の方法では、フォトレジストの露光前、露光中、または露光直後に液体と接触した場合の測定を行うことができる。
本発明の装置によれば、QCMの測定値は共振周波数のドリフト量が小さく、かつ速やかに安定する。また、ドリフト中の強度変化の再現性が優れているため、ドリフト期間中に生じた測定対象物質の変化に起因する周波数の変化も測定することができる。すなわち、測定対象物質が液体と接触した瞬間から、正確なデータを採取することができるのである。
また、本発明の測定方法によれば、フォトレジストなどの物質と液体が接触した場合の、ごく初期の変化を測定することができる。さらには、フォトレジストを露光しながら、または露光直後の測定を行うこともできる。
QCM基板上のQCM回路ではない位置に形成される流路が金属製ブロックの外部に形成される場合の、本発明の装置の構成例を図3に示す。
QCM基板10は、テフロン(登録商標)製のQCM基板下ホルダー12,インナーリング14,およびアウターリング16からなるQCM基板ホルダーにより保持、固定される。QCM基板ホルダーは、下アルミブロック18、および上アルミブロック20からなる金属製ブロック内に収納される。金属製ブロック内には液体を通すことができる流路22が形成される。金属製ブロックの外側で、QCM基板上であって、QCM回路の上ではない位置に配置された流路24から、QCM回路の周囲に液体が滴下される。滴下された液体はQCM基板の上に流れ、QCM基板10とインナーリング14により形成される空間26に溜まる。QCM基板の上には、石英28が設けられている。なお、30はQCM基板と接触する電極である。
図4は、図3に記載された装置内の流路の様子を示す図である。外部の容器40に連結された流路がアルミブロック内に形成される。ブロック内の部分を点線で表し、数字42で示す。流路はアルミブロックから外部に伸び、石英28の周囲を取り巻くように配置される。この部分は塗りつぶして表し、数字44で示す。そして、石英の周囲を取り巻く流路には、開口部46が設けられる。数字44で示された塗りつぶされた流路部分の内部に示される白い点が開口部である。図中の矢印は、液体の進む方向を示す。液体の温度が金属製ブロックと等温になった後に、この開口部からQCM回路の周囲に液体が滴下される。
実施例1
QCM装置において、QCM回路の上に、直接水を滴下して測定した結果を図6a)に示す。水を滴下した瞬間に共振周波数はグラフの範囲外まで振り切れ、−10Hzよりも小さくなった後、図の測定時間約30の箇所に示した矢印のように上昇する。水の滴下後、共振周波数が安定するまでの時間をドリフト時間と呼ぶが、図中、共振周波数の−6Hzの位置に矢印付きの横線で示すように長い時間を要し、約500秒経過しても依然として共振周波数が安定しなかった。水を滴下した際の最小値と安定時との共振周波数の差をドリフト量として示すと、測定時間約425の位置に矢印付きの縦線で示したように、非常に大きいことが示された。なお、多くの実験を行った結果、水の温度は+/−0.1℃の範囲で変化していた。またドリフト時間はばらつきがあり、200−500秒の間で変化することがわかった。
本発明のQCM装置を使用した測定例を図6b)に示す。共振周波数のドリフト量を、図中の測定時間100秒の位置に矢印付きの縦線で示す。図6a)と比較して非常に小さいことがわかる。そして図中の共振周波数−4.5Hzの位置に矢印付きの横線で示されるドリフト時間も非常に短かった。また、図の上に記載された矢印付きの横線により示される広い範囲にわたって、非常に安定した測定値を得ることができる。多くの実験を行った結果、水の温度変化は+/−0.0015℃の範囲で制御され、ドリフト時間およびドリフト中の変化は非常に再現性にすぐれていた。そのため、ドリフト中のデータに変化があった場合には、測定対象物質の変化を反映するものであることが確認された。
実施例2
QCM基板の上に市販のトップコートを210nmの膜厚で塗布し、本発明の方法により測定した結果を図7に示す。
何も塗布されていない時の結果と同じであり、フィルムには水に溶け出す成分のないことが確認された。
水晶振動子の4素子電気的等価回路を示す図である。 QCM基板を示す図である。 本発明の装置の構成例を示す図である。 本発明の装置の構成例を示す図である。 本発明の装置の構成例を示す図である。 本発明の実施例の結果を示す図である。 本発明の実施例の結果を示す図である。
符号の説明
1:QCM基板
2:QCM回路
10:QCM基板
12:QCM基板下ホルダー
14:インナーリング
16:アウターリング
18:下アルミブロック
20:上アルミブロック
22:流路
24:流路
26:空間
28:石英
30:電極
40:外部の容器
42:金属製ブロック内部に形成された流路
44:石英の周囲の流路
46:流路の開口部
50:QCM装置
52:QCMアンプ
54:周波数カウンター
56:コンピューター

Claims (10)

  1. QCM基板、該基板を保持するQCM基板ホルダー、該QCM基板ホルダーを取り囲む金属製ブロック、および少なくとも一部は金属製ブロックの内部に形成された液体を通すことができる流路を有し、該流路に形成された開口部を通してブロックとほぼ同じ温度にされた液体が、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下される、QCM装置。
  2. 金属製ブロックの内部から外部へ伸びる流路が形成される、請求項1記載のQCM装置。
  3. QCM基板上に露光エネルギーが通過する材料で作られた部分が設けられた、請求項1または2記載のQCM装置。
  4. QCM回路の周囲全体に液体が滴下される、請求項1から3のいずれか1項記載のQCM装置。
  5. QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法。
  6. QCM回路上にフィルムを形成し、QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法。
  7. フィルムが、フォトレジストフィルムである、請求項6記載の方法。
  8. QCM基板上にフォトレジストを塗布し、フォトレジストに露光エネルギーを加えながら、QCM基板と等温にした液体を、QCM基板上のQCM回路ではない位置に滴下することを特徴とする、QCM測定方法。
  9. QCM回路の周囲全体に液体が滴下される、請求項8記載の方法。
  10. 液体が水である、請求項5から9のいずれか1項記載の方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010078334A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 検出センサ、振動子
CN101957297B (zh) * 2009-07-16 2012-04-18 河南科瑞科技有限公司 一种石英晶体传感器检测池
JP7371124B2 (ja) * 2019-12-27 2023-10-30 富士フイルム株式会社 管理方法、測定方法、測定装置、水晶振動子センサ、および、セット

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0875629A (ja) * 1994-09-09 1996-03-22 Nippon Steel Corp 流体中吸着物量連続測定素子及び材料層コーティング方法
JP3015021B1 (ja) * 1999-03-05 2000-02-28 株式会社半導体先端テクノロジーズ 膨潤性薄膜評価方法および膨潤性薄膜用マイクロバランスシステム
JP3148984B2 (ja) * 1999-04-16 2001-03-26 工業技術院長 水晶振動子を用いた検出対象物質の感度可変検出方法
JP3416618B2 (ja) * 2000-06-07 2003-06-16 株式会社半導体先端テクノロジーズ 薄膜評価方法および薄膜評価装置
JP2002122600A (ja) * 2000-10-12 2002-04-26 Nippon Laser & Electronics Lab バイオセンサー用センサーチップ
JP4205558B2 (ja) * 2003-11-20 2009-01-07 富士通株式会社 汚染評価方法、汚染評価装置、露光方法、及び、露光装置

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