JP4812129B2 - 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定プログラム - Google Patents
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Description
次に、上記寸法測定装置の基本的な構成などについて、図面を参照して説明する。
また、図12は、本発明に関連する寸法測定装置の、基本的な測定方法を説明するための物品の概略上面図を示している。
図11に示すように、寸法測定装置は、投光器12及び受光器13を備えており、投光素子16から照射される光ビーム14の遮光された本数を、受光素子17で計測する。投光器12及び受光器13は、光ビーム14がベルトコンベアなどの搬送手段11どうしの隙間を上下方向に通過するように、設けられている。これにより、寸法測定装置は、搬送手段11によって搬送される物品10の、搬送方向に対して直角方向の寸法(幅寸法)を測定する。
また、寸法測定装置は、投光器12及び受光器13により物品10が検出されてから検出されなくなるまでの時間を測定し、この時間に既知である搬送手段11の搬送速度を乗ずることによって、長さLを測定する。
次に、この寸法測定装置の動作(測定方法)などについて、説明する。
すなわち、先ず、基準位置38と物品10の側面との距離d1、d2および測定点間距離aを測定する。tanθ=(d2−d1)/aであることから、物品10の傾き角θを求める。続いて、幅Dと長さLを、下記の式(9)及び式(10)の計算により求める。
D=D´cosθ 式(9)
L=L´/cosθ−D´sinθ 式(10)
ただし、上記の式(9)及び式(10)を用いるためには、図13に示すように、物品10の角40、41、42が、搬送方向に対して、先頭から順に角40、42、41の順に位置する必要がある。
この場合、L=D´sinθ、かつ、L´=Dsinθ+Lcosθであることから、幅Dと長さLは、下記の式(11)及び式(12)の計算により求めることができる。
D=L´/sinθ−D´cosθ 式(11)
L=D´sinθ 式(12)
すなわち、傾き角θが同じでも物品10の形状によって、幅Dと長さLを求める式が異なる場合がある。たとえば、図14に示す物品10に対しては、式(11)及び式(12)が用いられ、図13に示す物品10に対しては、式(9)及び式(10)が用いられる。
図15に示すように、基準位置38からの距離d1〜d18を順次測定し、距離d1〜d18の増減の変化を調べることにより、物品10の角42を見つけ出すことができる。
ここで、一般的には、距離d1〜d18の各d1、d2、…d18は、一定サンプリング間隔で測定される。
このように、物品10が多少変形した場合であっても、精度よく寸法測定することが要望されている。
また、図16に示すように、物品10の角41と角42が搬送方向15に対して同じ位置で搬送される場合もある。この場合、見かけの幅D´を精度よく測定することができる位置は、幅測定位置44の位置のみであり、この幅測定位置44からずれると、見かけの幅D´を精度よく測定することはできなくなり、幅Dと長さLの測定精度が低下するといった問題があった。
このため、従来の寸法測定装置は、判定機構や、幅測定位置44などを正確に求める機構が必要となり、装置のコストアップや複雑化を招くといった問題があった。
たとえば、上述したようにダンボール箱の上面が長方形からビア樽形状や台形状に変形した場合には、測定点間距離aの開始位置や終了位置、及び、見かけの幅D´を測定する位置の設定によって、測定精度が大きな影響を受ける。そして、様々に変形した形状に好適に対応可能な設定機構を設けようとすると、いたずらに構成が複雑化するといった問題があった。また、簡易な構成の寸法測定装置によっては、物品10の幅Dと長さLを、安定して精度よく測定することができないといった問題があった。
なお、上記直方体状の物品は、理想的な直方体に限定されるものではなく、たとえば、多少変形したほぼ直方体状の物品を含むものとする。
物品最大幅測定部は、搬送手段の搬送方向と直角な方向の物品の見かけの最大幅(W)を測定する。また、物品最大長測定部は、搬送手段の搬送方向と同じ方向の物品の見かけの最大長さ(L´)を測定する。
空き面積測定部は、見かけの最大幅(W)と見かけの最大長さ(L´)を有する、物品の被測定面に外接する外接長方形と、被測定面とによって形成される四つの直角三角形のうち、隣接する少なくとも二つの直角三角形の面積(S1、S2)を測定する。また、物品面積測定部は、物品の被測定面の面積(S0)を測定する。
さらに、寸法算出部は、少なくとも二つの直角三角形の面積(S1、S2)及び被測定面の面積(S0)にもとづいて、物品の長さ(L)及び幅(D)を算出する。
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
物品の長さ(L)及び幅(D)を算出する。
ここで、好ましくは、空き面積測定部が、四つの直角三角形のうち残りの二つの直角三角形の面積(S1´、S2´)を測定し、寸法算出部が、下記の式(1´)及び式(2´)により、
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
物品の長さ(L)及び幅(D)を算出してもよい。
なお、本発明は、寸法測定装置に限定されるものではなく、たとえば、寸法測定方法及び寸法測定プログラムとしても有効である。
図1は、本発明の一実施形態にかかる寸法測定装置を説明するための概略ブロック図を示している。
図2は、本発明の一実施形態にかかる寸法測定装置の、基本的な測定方法を説明するための概略上面図を示している。
図1、2において、本実施形態の寸法測定装置1は、搬送手段11によって搬送方向に対して斜めを向いた状態で搬送されている、直方体状の物品10の被測定面10aにおける長さ(L)及び幅(D)を測定する装置である。
また、寸法測定装置1は、物品最大幅測定部2、物品最大長測定部3、空き面積測定部4、物品面積測定部5及び寸法算出部6などを備えている。
なお、図2に示す構成は、図11に示した構成とほぼ同様としてある。
また、物品最大長測定部3は、受光器13からの測定信号を入力し、搬送手段11の搬送方向と同じ方向の物品10の見かけの最大長さL´を測定する。そして、測定結果(見かけの最大長さL´)を物品面積測定部5に出力する。
また、物品面積測定部5は、物品最大幅測定部2、物品最大長測定部3及び空き面積測定部4から、各測定結果を入力し、物品10の被測定面10aの面積(S0)を測定する。そして、測定結果(被測定面10aの面積(S0))を寸法算出部6に出力する。
通常、寸法算出部6は、下記の式(1)及び式(2)により、物品10の長さ(L)及び幅(D)を算出する。
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
そして、図示してないが、表示手段や外部接続端子に、算出結果を出力する。
この寸法測定手段7は、後述するように、受光器13からの測定信号を入力し、記憶手段がこれらの測定信号を所定のサンプリング間隔で順次記憶し、情報処理手段が、この記憶データを寸法測定プログラムによって処理することにより、物品10の長さ(L)及び幅(D)を算出する。
図3は、本発明の寸法測定装置の動作原理を説明するための概略図を示している。
図3において、物品10の被測定面10aは、基準位置38のラインに対して傾き角θだけ傾いた状態である。この被測定面10aは、理想的な長方形としてあり、長さがLであり、幅がDであり、各角40、41、42、43の角度が90°である。被測定面10aの面積S0は、D×L(=W×L´−2×(S1+S2))である。
また、外接長方形10bは、被測定面10aの各角40、41、42、43と接し、かつ、搬送方向(基準位置38のライン)と一辺が平行である。この外接長方形10bは理想的な仮想の長方形であり、長さがL´であり、幅がWであり、各角の角度が90°である。
さらに、被測定面10aと外接長方形10bによって、四つの直角三角形51、52、51´、52´が形成される。
なお、本実施形態では、被測定面10aを物品10の上面としてある。
S1=Dcosθ×Dsinθ/2 式(3)
S2=Lsinθ×Lcosθ/2 式(4)
したがって式(3)の両辺を式(4)の両辺で割り算すると
S1/S2=(D×D)/(L×L) 式(5)
となる。
S0=D×L 式(6)
であることから、
L=S0/D 式(7)
とする。
式(5)に式(7)を代入してLを消去すると、
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
となる。
また、
D=S0/L 式(8)
として、式(5)に式(8)を代入してDを消去すると、
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
となる。
また、上記式(1)及び式(2)に含まれるパラメータは面積のみであることから、式(1)及び式(2)は物品10の長さや傾き角θの大きさに関係しないで成り立つことを意味している。
したがって、特許文献1に開示された装置で必要となった物品10のどちらの角が先に来るかを判定する機構は不要となる。
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
また、面積S0、面積S1+S1´、面積S2+S2´を求めるだけで、物品10が多少変形している場合であっても、安定して精度よく幅D及び長さLを得ることができる。たとえば、特許文献1の技術では、物品10が変形している場合、測定点間距離aの開始位置や終了位置、及び、見かけの幅D´を測定する位置の設定によって、測定精度が大きな影響を受けるが、このような不具合を回避することができる。
図4a〜図4dは、本発明の一実施形態にかかる寸法測定装置の、測定動作を説明するための概略上面図を示している。
図4aに示すように、搬送手段11によって搬送方向に移動する物品10は、先端である角40が、投光素子16から照射された光ビーム14を遮る。すなわち、基準位置38から13番目の投光素子16からの光ビーム14が遮られ、この位置に非透過エリア21が発生する。なお、非透過エリア21の両側は、透過エリア20である。
このとき、寸法測定手段7は、サンプリング時刻T1において、基準位置38から13番目の投光素子16からの光ビーム14が遮られた旨の情報を記憶する。また、寸法測定手段7は、所定のサンプリング間隔Δtで、光ビーム14が遮られた旨の情報の記憶を開始する。
このとき、物品10の角42が検出され、基準位置38側の透過エリア20が最小になった時点を示している。
このとき、物品10の角41が検出され、基準位置38と反対側の透過エリア20が最小になった時点を示している。
このようにして、寸法測定手段7の記憶手段は、図5に示すような情報(データテーブル)を記憶する。
図5のデータテーブルは、行方向がサンプリング時刻であり、列方向が受光素子17の番号(No)であるマトリックスであり、このマトリックス内に、光ビーム14が遮られると「1」を記憶し、光ビーム14が遮られていないときは「0」を記憶する。
図6は、本発明の一実施形態にかかる寸法測定装置の、測定動作を説明するための概略フローチャート図を示している。
図6において、寸法測定手段7の情報処理手段は、搬送方向と直角な方向の物品10の見かけの最大幅W、及び、搬送方向と同じ方向の物品10の見かけの最大長さL´を測定する(ステップS1)。
すなわち、情報処理手段は、物品最大長測定部3として、データテーブル(図5参照)から、サンプリング時刻T1及びT4を入力し、(T4−T1)に既知である搬送手段11の搬送速度Vを乗ずることにより、見かけの最大長さL´(=(T4−T1)×V)を求める。
すなわち、情報処理手段は、空き面積測定部4として、データテーブルから、四つの直角三角形51、52、51´、52´の面積S1、S2、S1´、S2´を求める。
S1=((T2−T1)×V)×((13−4+1)×P)/2
となる。
また、直角三角形52の面積S2は、図4cに示すように、
S2=((T3−T1)×V)×((16−13+1)×P)/2
となる。
また、直角三角形51´の面積S1´は、図4dに示すように、
S1´=((T4−T3)×V)×((16−7+1)×P)/2
となる。
また、直角三角形52´の面積S2´は、図4dに示すように、
S2´=((T4−T2)×V)×((7−4+1)×P)/2
となる。
なお、被測定面10aが理想的な長方形である場合には、上述したように、S1=S1´、かつ、S2=S2´であり、式(1)及式(2)を用いて、物品10の長さL及び幅Dを算出してもよい。
すなわち、情報処理手段は、物品面積測定部5として、先に求めた見かけの最大幅W、見かけの最大長さL´、及び、四つの直角三角形51、52、51´、52´の面積S1、S2、S1´、S2´から、被測定面10aの面積S0(=L´×W−(S1+S2+S1´+S2´))を求める。
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
物品10の長さL及び幅Dを算出する(ステップS4)。
すなわち、情報処理手段は、寸法算出部6として、先に求めたS0、S1、S1´、S2、S2´を、式(1´)及び式(2´)に代入し、物品10の長さL及び幅Dを算出する。
たとえば、図7(a)に示すように、直角三角形51の面積S1を、所定のサンプリング間隔Δtで測定された帯状の微小領域の面積を順次加算することによって、算出してもよい。なお、角40と角41を結ぶ線がほぼ直線の場合には、この算出方法と上述した方法(底辺×高さ/2)は、ほぼ同じ結果を得る。
ただし、たとえば、図7(b)に示すように、角41と角43を結ぶ線が直線でない場合には、所定のサンプリング間隔Δtで測定された帯状の微小領域の面積を順次加算することによって、直角三角形52´(曲線(被測定面10aの角41と角43を結ぶ曲線)と外接長方形とによって囲まれた領域)の面積S2´を精度よく算出することができる。
<第一実施例>
図8は、本発明の第一実施例における物品を説明するための概略図を示している。
また、図9は、本発明の各実施例及び比較例の寸法測定結果を説明するための寸法測定結果表を示している。
図8に示すように、第一実施例の物品10は、被測定面10aが、底辺50cm、上辺40cm、高さ100cmの台形であり、斜辺の一つが傾き角θとなる状態で搬送した。
なお、直角三角形51、52、51´、52´の面積は、三角形の面積の公式(底辺×高さ/2)を用いて算出した。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが44.4cm、長さLが101.6cmであった。
測定誤差ΔD%は、−11.2(=(44.4−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、1.6(=(101.6−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、12.8(=11.2+1.6)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが45.0cm、長さLが100.7cmであった。
測定誤差ΔD%は、−10.0(=(45.0−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、0.7(=(100.7−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、10.7(=10.0+0.7)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが44.9cm、長さLが100.3cmであった。
測定誤差ΔD%は、−10.2(=(44.9−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、0.3(=(100.3−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、10.5(=10.2+0.3)%であった。
このことから、寸法測定装置1によれば、被測定面10aが変形している場合(たとえば、台形状に変形している場合)であっても、第一比較例と比べると、精度よく寸法測定することができた。
また、上記特許文献1に記載した技術では、見かけの幅D´をどの位置で測定するかによって、測定結果が変動するのに対して、本発明によれば、このような不確定要素がないので、安定して寸法測定を行うことができた。
図10は、本発明の第二実施例における物品を説明するための概略図を示している。
図10に示すように、第二実施例の物品10は、被測定面10aが、上辺及び底辺40cm、中段の幅50cm、高さ100cmの樽形(六角形)であり、斜辺の一つが傾き角θとなる状態で搬送した。
なお、直角三角形51、52、51´、52´の面積は、所定のサンプリング間隔Δtで測定された帯状の微小領域の面積を順次加算することによって、算出した。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが43.9cm、長さLが102.3cmであった。
測定誤差ΔD%は、−12.2(=(43.9−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、2.3(=(102.3−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、14.5(=12.2+2.3)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが43.7cm、長さLが104.0cmであった。
測定誤差ΔD%は、−12.6(=(43.7−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、4.0(=(104.0−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、16.6(=12.6+4.0)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが43.1cm、長さLが103.9cmであった。
測定誤差ΔD%は、−13.8(=(43.1−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、3.9(=(103.9−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、17.7(=13.8+3.9)%であった。
このことから、寸法測定装置1によれば、被測定面10aが変形している場合(たとえば、ほぼ樽形状に変形している場合)であっても、第二比較例に比べて、精度よく寸法測定することができた。
また、上記特許文献1に記載した技術では、見かけの幅D´や傾き角θをどの位置で測定するかによって、測定結果が変動するのに対して、本発明によれば、このような不確定要素がないので、安定して寸法測定を行うことができた。
第一比較例では、図8に示す第一実施例の物品10を、上記特許文献1に記載した技術(式(9)及び式(10))を用いて、寸法測定した。
まず、傾き角θを10°としたときの物品10の長さL及び幅Dを算出した。なお、この傾き角θは、上述した式(tanθ=(d2−d1)/a)を用いて算出した。なお、見かけの幅D´は41.5cmであった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが40.8cm、長さLが99.3cmであった。
測定誤差ΔD%は、−18.4(=(40.8−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、−0.7(=(99.3−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、19.1(=18.4+0.7)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが40.5cm、長さLが101.8cmであった。
測定誤差ΔD%は、−19.0(=(40.5−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、1.8(=(101.8−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、20.8(=19.0+1.8)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが40.5cm、長さLが103.8cmであった。
測定誤差ΔD%は、−19.0(=(40.5−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、3.8(=(103.8−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、22.8(=19.0+3.8)%であった。
図9に示すように、第一比較例では、各傾き角θにおいて、総合誤差%は、約21であった。
第二比較例では、図10に示す第二実施例の物品10を、上記特許文献1に記載した技術(式(9)及び式(10))を用いて、寸法測定した。
まず、傾き角θを10°としたときの物品10の長さL及び幅Dを算出した。なお、この傾き角θは、上述した式(tanθ=(d2−d1)/a)を用いて算出した。なお、d1は9.5cm、d2は21cm、aは30cm、見かけの幅D´は44cmであった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが41.1cm、長さLが99.9cmであった。
測定誤差ΔD%は、−17.8(=(41.1−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、−0.1(=(99.9−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、17.9(=17.8+0.1)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが40.3cm、長さLが101.8cmであった。
測定誤差ΔD%は、−19.4(=(40.3−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、1.8(=(101.8−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、21.2(=19.4+1.8)%であった。
測定結果は、図9に示すように、幅Dが40.8cm、長さLが103.2cmであった。
測定誤差ΔD%は、−18.4(=(40.8−50)×100/50)%であった。
また、測定誤差ΔL%は、3.2(=(103.2−100)×100/100)%であった。
さらに、総合誤差%(測定誤差ΔD%と測定誤差ΔL%の絶対値の和)は、21.6(=18.4+3.2)%であった。
図9に示すように、第二比較例では、各傾き角θにおいて、総合誤差%は、約20であった。
なお、本発明は、寸法測定装置1に限定されるものではなく、たとえば、上述した内容を有する寸法測定方法及び寸法測定プログラムとしても有効であり、寸法測定装置1とほぼ同じ効果を発揮することができる。
たとえば、図1に示す実施形態では、光ビームの透過状況を検出して物品の位置を検出する寸法測定装置としたが、これに限定されるものではない。たとえば、レーザビーム等を照射し二次元の距離測定を行う機器を投光器の位置に設置し、二次元の距離情報から物品の位置情報を得る機器を用いても、本発明が適用可能であることは容易に理解できるであろう。
2 物品最大幅測定部
3 物品最大長測定部
4 空き面積測定部
5 物品面積測定部
6 寸法算出部
7 寸法測定手段
10 物品
10a 被測定面
11 搬送手段
12 投光器
13 受光器
14 光ビーム
16 投光素子
17 受光素子
20 透過エリア
21 非透過エリア
38 基準位置
40、41、42、43 角
44 幅測定位置
51、51´、52、52´ 直角三角形
D 幅
L 長さ
D´ 見かけの幅
W 見かけの最大幅
L´ 見かけの最大長さ
θ 傾き角
a 測定点間距離
d1〜d18 距離
Claims (10)
- 搬送手段によって搬送方向に対して斜めを向いた状態で搬送されている、直方体状の物品の長さ(L)及び幅(D)を測定する寸法測定装置において、
前記搬送手段の搬送方向と直角な方向の前記物品の見かけの最大幅(W)を測定する物品最大幅測定部と、
前記搬送手段の搬送方向と同じ方向の前記物品の見かけの最大長さ(L´)を測定する物品最大長測定部と、
前記見かけの最大幅(W)と前記見かけの最大長さ(L´)を有する、前記物品の被測定面に外接する外接長方形と、前記被測定面とによって形成される四つの直角三角形のうち、隣接する少なくとも二つの前記直角三角形の面積(S1、S2)を測定する空き面積測定部と、
前記物品の被測定面の面積(S0)を測定する物品面積測定部と、
少なくとも前記二つの直角三角形の面積(S1、S2)及び前記被測定面の面積(S0)にもとづいて、前記物品の長さ(L)及び幅(D)を算出する寸法算出部と
を備えたことを特徴とする寸法測定装置。 - 前記寸法算出部が、下記の式(1)及び式(2)により、
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
前記物品の長さ(L)及び幅(D)を算出することを特徴とする請求項1に記載の寸法測定装置。 - 前記空き面積測定部が、前記四つの直角三角形のうち残りの二つの前記直角三角形の面積(S1´、S2´)を測定し、
前記寸法算出部が、下記の式(1´)及び式(2´)により、
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
前記物品の長さ(L)及び幅(D)を算出することを特徴とする請求項1に記載の寸法測定装置。 - 前記空き面積測定部が、所定のサンプリング間隔で測定された帯状の微小領域の面積を順次加算することによって、前記直角三角形の面積を算出することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の寸法測定装置。
- 搬送手段によって搬送方向に対して斜めを向いた状態で搬送されている、直方体状の物品の長さ(L)及び幅(D)を測定する寸法測定方法において、
前記搬送方向と直角な方向の前記物品の見かけの最大幅(W)、及び、前記搬送方向と同じ方向の前記物品の見かけの最大長さ(L´)を測定し、
前記見かけの最大幅(W)と前記見かけの最大長さ(L´)を有する、前記物品の被測定面に外接する外接長方形と、前記被測定面とによって形成される四つの直角三角形のうち、隣接する少なくとも二つの前記直角三角形の面積(S1、S2)を測定し、
前記被測定面の面積(S0)を測定し、
少なくとも前記二つの直角三角形の面積(S1、S2)及び前記被測定面の面積(S0)にもとづいて、前記物品の長さ(L)及び幅(D)を算出することを特徴とする寸法測定方法。 - 前記物品の長さ(L)及び幅(D)を、下記の式(1)及び式(2)により、
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
算出することを特徴とする請求項5に記載の寸法測定方法。 - 前記四つの直角三角形のうち残りの二つの前記直角三角形の面積(S1´、S2´)を測定し、
前記物品の長さ(L)及び幅(D)を、下記の式(1´)及び式(2´)により、
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
算出することを特徴とする請求項5に記載の寸法測定方法。 - 搬送手段によって搬送方向に対して斜めを向いた状態で搬送されている、直方体状の物品の長さ(L)及び幅(D)を測定する寸法測定プログラムにおいて、
情報処理手段や記憶手段を有する寸法測定手段に、
前記搬送方向と直角な方向の前記物品の見かけの最大幅(W)、及び、前記搬送方向と同じ方向の前記物品の見かけの最大長さ(L´)を測定する手順と、
前記見かけの最大幅(W)と前記見かけの最大長さ(L´)を有する、前記物品の被測定面に外接する外接長方形と、前記被測定面とによって形成される四つの直角三角形のうち、隣接する少なくとも二つの前記直角三角形の面積(S1、S2)を測定する手順と、
前記物品の被測定面の面積(S0)を測定する手順と、
少なくとも前記二つの直角三角形の面積(S1、S2)及び前記被測定面の面積(S0)にもとづいて、前記物品の長さ(L)及び幅(D)を算出する手順と
を実行させることを特徴とする寸法測定プログラム。 - 前記物品の長さ(L)及び幅(D)を、下記の式(1)及び式(2)により、
D=(S0×(S1/S2)1/2)1/2 式(1)
L=(S0×(S2/S1)1/2)1/2 式(2)
算出することを特徴とする請求項8に記載の寸法測定プログラム。 - 前記四つの直角三角形のうち残りの二つの前記直角三角形の面積(S1´、S2´)を測定し、
前記物品の長さ(L)及び幅(D)を、下記の式(1´)及び式(2´)により、
D=(S0×((S1+S1´)/(S2+S2´))1/2)1/2 式(1´)
L=(S0×((S2+S2´)/(S1+S1´))1/2)1/2 式(2´)
算出することを特徴とする請求項8に記載の寸法測定プログラム。
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