JP5496403B2 - 対象物の高さまたは高さの推移を測定するための方法およびシステム - Google Patents

Description

本発明は、対象物の高さまたは高さの推移を測定するための方法に関する。ここでこの方法は、以下のステップを有する：
順次連続する符号化されたピクチャーエレメントの形態のライトパターンを、横軸の方向に延在して、光源によって対象物上に投映するステップを有しており、ここでこれらのピクチャーエレメントはそれぞれ少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定し、ここで所定数の順次連続するピクチャーエレメントのシーケンスから成るピクチャーエレメントグループが、それぞれ個々の一度だけコードワード内に現れる部分コードワードを規定し、ここで、直接的に隣接しているピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでおり、ここで各ピクチャーエレメントグループには、横軸の方向における、基準面に関する特定の基準位置が割り当てられており、
ライトパターンを画像センサによって検出するステップを有しており、この画像センサは光源に対してオフセットして配置されており、
各ピクチャーエレメントグループの横軸の方向における位置を求めるステップを有しており、
各基準位置と比べた各ピクチャーエレメントグループの求められた位置に基づいて対象物の高さを求めるステップを有している。

さらに、本発明は、対象物の高さまたは対象物の高さの推移を測定するための方法で使用されるライトパターンに関する。ここで、このライトパターンは、横軸の方向に延在して、順次連続する符号化されたピクチャーエレメントを有しており、これらのピクチャーエレメントはそれぞれ少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定する。ここで所定数の順次連続するピクチャーエレメントから成るピクチャーエレメントグループはそれぞれ個々の部分コードワードを規定する。ここで各ピクチャーエレメントグループには、横軸の方向における、基準面に関する特定の基準位置が割り当てられており、ここで直接的に隣接する２つのピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含む。

上述した方法および上述したライトパターンは、ＷＯ２００４／０８３７７８Ａ１号から公知である。この方法はここで、対象物の表面プロファイルをスキャンするのに使用される。ＤＥ１０２００７０５７７７１Ａ１号から、特に小包分類設備において小包の体積を求めるために使用される方法および装置が公知である。ここでこの小包は運搬システム上で搬送される。この運搬システムは、１つまたは複数のベルトコンベヤーまたは相前後して駆動される複数の運搬ロールを含んでおり、この上で、測定されるべき小包が運搬される。対象物ないしは小包の高さまたは高さの推移を測定するこの装置はここで位置を固定して配置されており、例えば、ベルトコンベヤーまたは運搬ロール上のブリッジを含むことができる。このブリッジは、搬送方向を横切って配置されており、ここに装置の個々のコンポーネントが固定されている。この装置は、リニア画像センサを含んでおり、このリニア画像センサは、運搬システムの搬送方向を横切るように配置されている。さらに、少なくとも１つの光源が設けられている。これは、リニア画像センサに対して同一直線上に配置されており、かつ、リニア画像センサに対して側方にずらして配置されている。光源は、運搬システムの幅および可動表面にわたって、一義的にパターニングされた光のシーケンスを作成する。この光のシーケンスは反射されて、リニア画像センサによって検出される。従って光のシーケンスはまず、ベルトコンベヤー上に、搬送方向を横切って投映される。リニア画像センサは、光源に対して側方にずらされている位置から、この光のシーケンスを検出する。小包は、ベルトコンベヤーによって、光のシーケンスを通過して動かされる。ここで、リニア画像センサの配置がずれているので、小包によって反射された、光のシーケンスの部分が、光のシーケンスの長手方向延在の方向において、すなわち搬送方向を横切ってずれる。光のシーケンスの、小包によって反射される部分のこのようなずれないしはオフセットは、小包の高さに比例する。従って、光のシーケンスのずれた部分の幅と、搬送速度と、ずれの大きさとに基づいて、小包の体積が推測される。

光のシーケンスとは、空間的に一義的な線のアレイである。この線のアレイは、レーザ照明装置によって形成される。これは、回折レンズ（ＤＯＥ、回折光学素子）を含んでいる。この空間的に一義的な線のアレイは、照明された長い線と照明された短い線から成る行を含む。これらの線は、短い隙間と長い隙間によって相互に分けられている。従ってこの線のアレイは、バーコードに準じる。この線のアレイは、１９９個のコードワードを含んでいる。ここで１つのコードワードは、６個のエレメントによって規定されている。エレメントは、照明された線または（照明されていない）隙間である。これらのコードワードはここで相前後してシーケンシャルに配置されている。一義的なパターンは、７８個のワードによって規定されており、ベルトコンベヤーの幅にわたって三回繰り返される。従って、３つの一義的なパターンのうちの１つにおいて、各個々のコードワードが識別および同定される。ここでこの場合には、ベルトコンベヤーの幅にわたったコードワードの位置も既知である。これによって、コードワードがずれた場合に、ずれの程度、ひいては小包の高さが求められる。

問題は、照明された長い線と照明された短い線、および、（照明されていない）長い隙間と短い隙間とが区別されなければならない、ということである。これは実際には、異なる表面（例えば明るい表面と暗い表面）を有する小包が分類される場合に問題となる。明るい表面の場合には、ライトパターンは、暗い表面よりも強く反射される。従って、過度の放射が生じ得る。過度の放射は次の特徴を有する。すなわち、相応に過度に放射された照明線が、リニア画像センサによって検出された画像上で、例えば暗い表面によって反射された、過度に放射されていない線よりも長く見える、という特徴を有する。さらに、相互に隣接する２つの過度に放射された照明線の場合には、隙間はより狭く見える。この現象は、コードワードの誤った識別、またはコードワードの非認識につながる恐れがある。

さらに、画像センサは、被写界深度（焦点深度）領域の縁部において、不鮮明さを生じさせ得る被写界深度を有している。不鮮明さによって同様に、照明線が、実際のものより幅広く結像されるという現象が生じ、相応に、不鮮明に示されたないしは結像された、２つの照明線の間の照明されていない隙間が狭く見える。

さらに基本的には常に、コードワード全体が読まれなければならない、ないしは、識別されなければならない。それぞれが６つのエレメントから成る、シーケンシャルに相前後して配置されたコードワードの場合、多数のエレメントが読まれるべきである。例えばはじめに、コードワードの第２のエレメントで読み出しが開始される場合には、次に第１のコードワードの残りのエレメントが読み出されるべきであり、これに続くコードワードの全てのエレメントが、完全なコードワードまで、ここでは第２のコードワードまで識別される。

ＷＯ２００４／０８３７７８Ａ１号 ＤＥ１０２００７０５７７７１Ａ１号

本発明の課題は、エラーになりにくくすることである。

上述の課題は、対象物の高さまたは高さの推移を測定するための方法によって解決され、前記方法は以下のステップを有している：
横軸の方向に延在する、順次連続する、符号化されたピクチャーエレメントの形態のライトパターンを、前記対象物上に光源を用いて投映するステップを有しており、ここで前記複数のピクチャーエレメントはそれぞれ、少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定し、所定数の順次連続するピクチャーエレメントのシーケンスから成るピクチャーエレメントグループは、それぞれ個々の、一度だけ前記コードワード内に存在する部分コードワードを規定し、直接的に接している複数のピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでおり、各ピクチャーエレメントグループには、前記横軸の方向における、基準面に関する特定の各基準位置が割り当てられており、
光源に対してずらして配置されている画像センサによって前記ライトパターンを検出するステップを有しており、
前記各ピクチャーエレメントグループの横軸の方向における前記位置を求めるステップを有しており、
各基準位置と比較した前記各ピクチャーエレメントグループの求められた位置に基づいて、前記対象物の高さを求めるステップを有している方法において、
前記ピクチャーエレメントは個々の光点であり、
前記符号化特徴は、前記個々のピクチャーエレメントのシーケンスの方向における前記ライトパターンの延在を横切る方向における複数の光点の位置であり、ここで前記複数の光点は複数の行で、前記ライトパターンの延在に沿って配置されている。

上述の課題はさらに、対象物の高さまたは高さの推移を測定する方法で使用されるライトパターンによって解決され、
前記ライトパターンは、横軸の方向における延在において順次連続する、符号化されたピクチャーエレメントを有しており、前記複数のピクチャーエレメントはそれぞれ少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定し、
所定数の順次連続するピクチャーエレメントのシーケンスから成るピクチャーエレメントグループはそれぞれ、個々の部分コードワードを規定し、
ここで各ピクチャーエレメントグループには、前記横軸の方向における、基準面に関する特定の基準位置が割り当てられており、
ここで直接的に接している２つのピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでいるライトパターンにおいて、
前記ピクチャーエレメントは個々の光点であり、
前記符号化特徴は、前記個々のピクチャーエレメントのシーケンスの方向における前記ライトパターンの延在を横切る方向における複数の光点の位置であり、ここで前記複数の光点は複数の行、有利には４つの行で、前記ライトパターン（１２）の延在に沿って配置されている。

ベルトコンベヤーの搬送方向における本発明による装置の概略図 ライトパターンの一部 本発明による装置の斜視図

この課題は、対象物の高さまたは高さの推移を測定する方法によって解決される。ここでこの方法は以下のステップを含んでいる：横軸の方向に延在する、順次連続している符号化されたピクチャーエレメントの形態のライトパターンを、光源によって対象物上に投映するステップを含んでおり、ここでこれらのピクチャーエレメントはそれぞれ、少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定し、ここで所定数の順次連続するピクチャーエレメントのシーケンスから成るピクチャーエレメントグループは、それぞれ個々の、一度だけ、コードワード内に存在する部分コードワードを規定し、ここで、直接的に隣接しているピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでおり、ここで各ピクチャーエレメントグループには、横軸の方向における、基準面に関する特定の各基準位置が割り当てられている、
ライトパターンを画像センサによって検出するステップを含んでおり、この画像センサは光源に対してずらして配置されており、
各ピクチャーエレメントグループの横軸の方向における位置を求めるステップを含んでおり、
各基準位置と比べた各ピクチャーエレメントグループの求められた位置に基づいて対象物の高さを求めるステップを含んでおり、ここでピクチャーエレメントは各光点であり、ここで符号化特徴は、個々のピクチャーエレメントのシーケンスの方向におけるライトパターンの延在を横切る方向における複数の光点の位置であり、ここでこの複数の光点は複数の行において、ここでは４つの行において、ライトパターン（１２）の延びに沿って配置されている。

従って、全体的なライトパターンは、自身の延在全体にわたってコードワードを形成し、ここで任意の順次連続するピクチャーエレメントが、それぞれ個別の部分コードワードを規定するピクチャーエレメントグループを形成する。ここで、直接的に隣接しているピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでいる。従ってこれらの部分コードワードは重畳しており、シーケンシャルに相前後して配置されていない。ピクチャーエレメントグループは例えば、直接的に隣接して配置されている５つのピクチャーエレメントから成る。これらのピクチャーエレメントは例えば、ライトパターンの第１〜第５の位置にあるピクチャーエレメントを含むことができる。直接的に隣接しているピクチャーエレメントグループはこの場合には例えば位置２〜６にある５つのピクチャーエレメントを含んでいる。すなわち、この実施例では、部分コードワードを検出するために常に、部分コードワードを規定する数のピクチャーエレメントのみが読み出されればよい。なぜなら、ライトパターンの各任意の箇所では、５個の任意のピクチャーエレメントが読み出し可能だからである。これらはこの場合に、１つの部分コードワードを提供する。上述した例において、ピクチャーエレメントグループが直接的に順次連続しているのではなく、例えば２つのピクチャーエレメントを介して相互にずらして配置されている場合にのみ、すなわち、第２のピクチャーエレメントグループが第３から第７の位置のピクチャーエレメントを含んでいる場合にのみ、相応に、部分コードワードを識別するためにより多くのピクチャーエレメントが読み出されるべきである。

各ピクチャーエレメントグループには特定の基準位置が割り当てられている。小包の体積特定のためのこの方法がベルトコンベヤー上で使用される場合、この基準位置は、搬送方向を横切るベルトコンベヤー上の各ピクチャーエレメントグループの位置を決める。小包がライトパターンを通って供給されると、小包表面によって反射されたピクチャーエレメントグループが、画像センサによって検出された画像内で、搬送方向を横切ってずれる。ここで、このずれの程度に基づいて、小包の高さを推測することができる。なぜなら、基準位置が既知だからである。ベルトコンベヤーはここで基準表面を形成する。この基準表面に、空間的な基準位置が関係する。

複数のピクチャーエレメントの符号化特徴が異なっていてもよい。例えばこれは、ライトパターンの延在を横切るピクチャーエレメントの位置であり得、小包体積特定の場合にはこれは搬送方向におけるピクチャーエレメントの位置であろう。従ってピクチャーエレメントを、搬送方向を横切る軸に関して、搬送方向における種々の位置に配向することができる。ピクチャーエレメント自身は、この場合には、有利には点である。しかし符号化特徴は、ライトパターンの延在を横切る方向におけるピクチャーエレメントの長さであってもよく、または、ピクチャーエレメントの光の波長であってもよい。

有利には、ピクチャーエレメントは、上述したように、相互に間隔を空けて配置された光点である。すなわちこれらの光点は重畳しておらず、これらの光点は全て同じ大きさおよび形状を有している。

ライトパターンの延在を横切って、すなわち例えばベルトコンベヤーの搬送方向において、光点を種々の位置に配置する場合、これらの光点を複数の行に、有利には４つの行に、ライトパターンの延在に沿って配置することができる。ライトパターンはさらに、ライトパターンの延在方向において、隣接して配置された列を形成する。すなわちこれらの列は、それぞれ搬送方向に配向されている。列毎に、ちょうど１つの光点が設定されている。

上述の課題はさらに、対象物の高さまたは高さの推移を測定する方法で使用されるライトパターンによって解決される。ここでこのライトパターンは、横軸の方向の延在において、順次連続する、符号化されたピクチャーエレメントを有しており、これらのピクチャーエレメントはそれぞれ少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワードを規定する。ここで所定数の順次連続するピクチャーエレメントのシーケンスから成るピクチャーエレメントグループはそれぞれ個々の部分コードワードを規定する。各ピクチャーエレメントグループには横軸の方向における、基準面に関する特定の基準位置が割り当てられており、ここで直接的に隣接する２つのピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメントを含んでいる。ピクチャーエレメントは個々の光点であり、符号化特徴は、個々のピクチャーエレメントのシーケンスの方向におけるライトパターンの延在を横切る方向における光点の位置である。ここで光点は複数の行、有利には４つの行で、ライトパターンの延在に沿って配置されている。

本発明を以下で、図面に基づいて詳細に説明する。

図１は、小包分類設備内のベルトコンベヤー用の測定装置を概略的に示している。ベルトコンベヤー１が設けられている。このベルトコンベヤーは図面に対して垂直である搬送方向Ｔへ動かされる。この場合、図の面は、装置の測定面に相応する。ベルトコンベヤー１は表面１０を有しており、この表面上に小包２が載置される。図示されているのは、小包２が長方形の断面を有している例である。ベルトコンベヤー１の代わりに、小包を運搬する別の装置を設けることもできる。これは例えば、駆動される運搬ロールである。ベルトコンベヤー１の上に垂直に、ベルトコンベヤー１のほぼ中央に、カメラ３の形態の画像センサが配置されている。カメラ３は視野４を有している。この視野は破線によって示されている。カメラ３の視野４は測定面上に配置されており、測定面は搬送方向に対して垂直に配向されている。

搬送方向を横切ってベルトコンベヤー１と交差する横軸Ｘに平行な方向において、側方に、光源がレーザ５の形態で配置されている。レーザ５は、投映面６において、ベルトコンベヤー１の表面１０上にライトパターンを投映する。投映面６は同様に、破線で示されている。投映面６は、視野４に対して同一面上に配置されている。基本的に、レーザ５とは異なる光源を設けることもできる。用語「面」は、例えば視野４が搬送方向への方向においても、ないしは図面に対して垂直にも広がるソリューションを含んでいる。このことは、投映面６にも当てはまる。殊に、以降でさらに説明するように、ライトパターンが横軸Ｘの方向における広がりのみを有しているのではなく、搬送方向における広がりも有している場合には、レーザビーム、ひいては投映面６は、搬送方向Ｔの方向において広がる。ここで、次のことに留意されたい。すなわち、カメラ３の視野４がベルトコンベヤー１の領域を覆っており、その領域は少なくともライトパターンの投映領域と同じまたはそれより広いということに留意されたい。搬送方向Ｔにおいてベルトコンベヤー１上の視野が、投映されたライトパターンよりも広い場合には、カメラ３とレーザ５のアライメントによる、視野４と投映面６の同一面上の正確な調整が必要なくなる、という利点が生じる。なぜなら、投映面６に対する、視野４の垂直軸Ｚを中心とした僅かな角度を成した配置の場合にも、ライトパターンは完全に、視野４内に配置されるからである。このために、カメラ３は、マトリクスカメラである必要がある。

さらに、ベルトコンベヤー１上に投映されたライトパターンが、個々のピクチャーエレメント１１によって形成されていることが概略的に示されている。ここでこれらのピクチャーエレメント１１は、図１に示されている例では、バイナリーに符号化されている。従って各ピクチャーエレメント１１は、バイナリー数０または１をもたらす。全てのピクチャーエレメント１１が共働して、ベルトコンベヤー１の幅にわたったコードワード７を形成する。コードワード７はこの場合には、４つのピクチャーエレメント１１を有する部分コードワードから示されている。これら４つのピクチャーエレメントは１つのピクチャーエレメントグループ８を形成する。例えば、ここでは、バイナリー値００１１を規定する部分コードワード８がマークされている。部分コードワード８は一義的に、かつ個別に、コードワード７内で識別可能である。この部分コードワード８は、一度だけ、コードワード７内に存在する。この部分コードワード８には、横軸Ｘにおける正確な位置が割り当てられている。これは、ベルトコンベヤー１の表面１０によって表されている基準面のことである。従って、コードワード８が識別されると、このコードワードが基準面上のどの位置に存在しているのかが明らかになる。

小包２が投映面６を通って動かされると、ライトパターンの個々のピクチャーエレメント１１が、小包２の表面９によって反射され、カメラ３によって撮影される。レーザ５は、カメラ３の側方にずらして配置されているので、カメラ３によって撮影された画像において、この場合には、コードワード８が横軸Ｘに沿って右方向へずれる。部分コードワード８が部分的にのみ小包２と垂直に重なって配置されているのにもかかわらず、完全な部分コードワード８が、小包２の表面９によって反射される。ここで、この場合には、２つのピクチャーエレメント１１分だけ、側方にずらされる。次に従来の三角法によって、部分コードワード８のずれの大きさに基づいて、小包２の表面９の高さが計算される。このために、例えばコンピュータの形態の画像処理ユニット２１が用いられる。この画像処理ユニットはデータ線２２を介してカメラ３と、場合によってはレーザ５とも接続されている。

図２は、ライトパターン１２の有利な実施例の一部を示している。このライトパターンは、コードワード１６を規定している。このライトパターン１２は、光点の形態の個々のピクチャーエレメント１７から成る。これらの光点は例えば、レーザとＤＯＥ（回折光学素子）によって形成され得る。個々のピクチャーエレメント１７は横軸Ｘの方向において、ひいては搬送方向Ｔを横切って、相互に隣接して配置されている。詳細には４つの行で配置されている。これらの行は、搬送方向Ｔに対して平行に配向されている長手方向Ｙにおいて、相前後して配置されている。画像点１７はさらに、横方向Ｘにわたって相互に隣接して配置されている列内に配置されている。ここで各列には１つのピクチャーエレメント１７が設けられている。各ピクチャーエレメント１７の位置は、長手方向Ｙないしは行の１つにおいて、符号化特徴を表している。この符号化特徴に関して、各個々のピクチャーエレメント１７が符号化されている。従って、各ピクチャーエレメント１０には、１つの数が割り当てられている。ここで図２に示された最下行内の全てのピクチャーエレメント１７には数０が割り当てられており、その上にある第２の行内の全てのピクチャーエレメント１７には数１が割り当てられており、第３の行内の全てのピクチャーエレメント１７には数２が割り当てられており、第４の行内の全てのピクチャーエレメント１７には数３が割り当てられている。このようにして、図２で、ライトパターン１２の下方に示されているコードワード１６が生じる。このコードワード１６は、それぞれ５つの任意の、相互に隣接して配置されているピクチャーエレメント１７によって、ピクチャーエレメントグループないしは部分コードワードを形成する。最も左側にある第１の部分コードワード１３は、コード「１１１２０」を有する。１つのピクチャーエレメント分はさらに右側には、コード「１１２０１」を有する第２の部分コードワード１４が存在している。さらに、これに続く第３の部分コードワード１５は、コード「１２０１１」を有している。ここで、全ての上述したピクチャーエレメントグループないし部分コードワード１３、１４、１５は重なっており、すなわち、部分的に、複数の同じピクチャーエレメント１７を有している。従って第１の部分コードワード１３は、第２の部分コードワード１４と、４つの共有のピクチャーエレメントを有している。有利にはここで、１つの部分コードワードを識別するために、５つのピクチャーエレメント７のみが求められればよい。これによって、コードワード１６内でこの部分コードを一義的に割り当てることができる。

図３は、対象物の高さおよび高さの推移を測定する装置の例を示している。その機能に関して、図１に示された装置の構成と一致している構成部分には、この装置が、図１の装置と異なる場合でも、同じ参照符号が設けられている。

この装置は、ケーシング１８を有している。このケーシング内にはカメラ３が配置されている。このカメラは視野４を有しており、視野４はこの図では、遠近法で識別される。ここで、カメラ３の視野４は横軸Ｘの方向のみに広がっているのではなく、僅かな程度であっても、長手軸Ｙの方向、すなわち搬送方向に対して平行にも広がっていることも識別される。ケーシング１８内には、さらに、レーザ５が配置されている。このレーザはライトパターンを投映面６において投映する。投映面は単に数学的に観察されるのではなく、この投映面が横軸Ｘの方向においても、長手軸Ｙの方向においても広がっていることにも留意されたい。しかし長手軸Ｙの方向におけるこの投映面６の広がりは、視野４のそれよりも小さい。カメラ３がマトリクスカメラとして形成されており、ライトパターンが搬送方向において視野４よりも狭い場合には、コンピュータに基づいて、エラーアライメント、すなわち、カメラ３の視野４に対するライトパターンの角度を成した配置が精確に補償される。

まずレーザ５は、ライトパターンをほぼ垂直に下方へ、第１のミラー１９上に投映し、このミラーから、ライトパターンが横軸Ｘの方向において、側方に、第２のミラー２０上に投映される。次にこのミラーはライトパターンを下方へ、ベルトコンベヤー上に反射する。ここでは、ライトパターンが、レーザ５から出て、横軸Ｘの方向にさらに広げられる。ここで既に、ケーシング１８からの出射時に、拡張されたライトパターンが存在する。ミラー１９、２０を介したこの偏向がケーシング１８内で行われないのであれば、レーザ５は格段に高く、ベルトコンベヤー上に配置されなければならないだろう。従って図示された配置構成によって、構造空間が格段に省かれる。

１ ベルトコンベヤー、 ２ 小包、 ３ カメラ、 ４ 視野、 ５ レーザ、 ６ 投映面、 ７ コードワード、 ８ 部分コードワード、 ９ 表面、 １０ 表面、 １１ ピクチャーエレメント、 １２ ライトパターン、 １３ 第１の部分コードワード、 １４ 第２の部分コードワード、 １５ 第３の部分コードワード、 １６ コードワード、 １７ ピクチャーエレメント、 １８ ケーシング、 １９ 第１のミラー、 ２０ 第２のミラー、 ２１ 画像処理ユニット、 ２２ データ線、 Ｘ 横軸、 Ｙ 縦軸、 Ｚ 垂直軸、 Ｔ 搬送方向

Claims (2)

1. 対象物（２）の高さまたは高さの推移を測定するための方法であって、
   前記方法は以下のステップを有している：
   横軸（Ｘ）の方向に延在する、順次連続する、符号化されたピクチャーエレメント（１１、１７）の形態のライトパターン（１２）を、前記対象物（２）上に光源（５）を用いて投映するステップを有しており、ここで前記複数のピクチャーエレメント（１１、１７）はそれぞれ、少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワード（７、１６）を規定し、所定数の順次連続するピクチャーエレメント（１１）のシーケンスから成るピクチャーエレメントグループは、それぞれ個々の、一度だけ前記コードワード（７、１６）内に存在する部分コードワード（８、１３、１４、１５）を規定し、直接的に接している複数のピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメント（１１、１７）を含んでおり、各ピクチャーエレメントグループには、前記横軸（Ｘ）の方向における、基準面に関する特定の各基準位置が割り当てられており、
   光源（５）に対してずらして配置されている画像センサ（３）によって前記ライトパターン（１２）を検出するステップを有しており、
   前記各ピクチャーエレメントグループの横軸（Ｘ）の方向における前記位置を求めるステップを有しており、
   各基準位置と比較した前記各ピクチャーエレメントグループの求められた位置に基づいて、前記対象物（２）の高さを求めるステップを有している方法において、
   前記ピクチャーエレメント（１１、１７）は個々の光点であり、
   前記符号化特徴は、前記個々のピクチャーエレメント（１１、１７）のシーケンスの方向における前記ライトパターン（１２）の延在を横切る方向における複数の光点の位置であり、ここで前記複数の光点は複数の行で、前記ライトパターン（１２）の延在に沿って配置されている、
   ことを特徴とする、対象物（２）の高さまたは高さの推移を測定するための方法。
2. 対象物（２）の高さまたは高さの推移を測定するためのシステムであって、
   横軸（Ｘ）の方向に延在する、順次連続する、符号化されたピクチャーエレメント（１１、１７）の形態のライトパターン（１２）を、前記対象物（２）上に光源（５）を用いて投映する手段を有しており、ここで前記複数のピクチャーエレメント（１１、１７）はそれぞれ、少なくとも１つの符号化特徴を有しており、協同して１つのコードワード（７、１６）を規定し、所定数の順次連続するピクチャーエレメント（１１）のシーケンスから成るピクチャーエレメントグループは、それぞれ個々の、一度だけ前記コードワード（７、１６）内に存在する部分コードワード（８、１３、１４、１５）を規定し、直接的に接している複数のピクチャーエレメントグループは部分的に、複数の同じピクチャーエレメント（１１、１７）を含んでおり、各ピクチャーエレメントグループには、前記横軸（Ｘ）の方向における、基準面に関する特定の各基準位置が割り当てられており、
   光源（５）に対してずらして配置されている画像センサ（３）によって前記ライトパターン（１２）を検出する手段を有しており、
   前記各ピクチャーエレメントグループの横軸（Ｘ）の方向における前記位置を求める手段を有しており、
   各基準位置と比較した前記各ピクチャーエレメントグループの求められた位置に基づいて、前記対象物（２）の高さを求める手段を有しているシステムにおいて、
   前記ピクチャーエレメント（１１、１７）は個々の光点であり、
   前記符号化特徴は、前記個々のピクチャーエレメント（１１、１７）のシーケンスの方向における前記ライトパターン（１２）の延在を横切る方向における複数の光点の位置であり、ここで前記複数の光点は複数の行で、前記ライトパターン（１２）の延在に沿って配置されている、
   ことを特徴とする、対象物（２）の高さまたは高さの推移を測定するためのシステム。

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