JP4800670B2 - 伝送路の試験装置 - Google Patents
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Description
図1はBRT試験装置の説明図である。図1において、BRT試験装置には、コントローラCM0〜CM7とBRT3がエクステンションボード(中継ボード)2に実装したファイバチャネル(Fibre Channel )クロスポイントスイッチを介して接続されている。コントローラCM0〜CM7は、それぞれが一つのボード(基板)で構成された磁気ディスクのコントローラ(制御装置)であり、通常の使用状態ではぞれぞれBRT3の一つのポートと接続されるものである。エクステンションボード2は、コントローラCM0〜CM7をBRT3のいずれか一つのポートに接続可能なものである。なお、エクステンションボード2のファイバチャネルクロスポイントスイッチの切換の指示は、別の系統(図1ではエクステンションボード外側上部の点線で示している)の信号線で切換制御信号がホスト(コントローラCM0〜CM7の上位装置(図示せず))又はコントローラCMからBRTを介して与えられる。BRT3は、一つのボード(基板)で構成されコントローラCM0〜CM7と接続するための8つのポート(FCポート)と磁気ディスク(デバイス)と接続する8つの出力(図示せず)があり、磁気ディスクとコントローラCM0〜CM7との接続の切換えを行うものである。
ボード(基板)同士がコネクタ接続された伝送路において、使用状態を生かしたまま伝送路の試験を行うため、クロスポイントスイッチチップを搭載し、上下に外部出力ポートを保有した中継ボードを作成し、この中継ボードを挿入することで外部出力を可能にする。そして、外部インタフェース(外部コネクタ)には、SFP(Small Form Factor Plagable)を使用し試験用外部ソースとの接続が可能とするものである。
図2はトレーサを設ける場合の説明図である。図2において、基板10と中継ボード11とがコネクタ14、18とコネクタ16、19で接続され、中継ボード11と基板12とがコネクタ20、15とコネクタ21、17で接続され、中継ボード11とFCトレーサ13がFCケーブルで接続されている。
図3は信号が同一方向のポートの接続の入れ替えの説明図である。図3において、基板10と中継ボード11とがコネクタ14、18とコネクタ16、19で接続され、中継ボード11と基板12とがコネクタ20、15とコネクタ21、17で接続されいる(図2からFCトレーサ13とFCケーブルを除いた構成)。
設計初期段階では、試験用外部ソースが接続可能になることで単体ボードでの伝送路評価を可能にするものである。図4は相手側ボード(基板10)が存在しない場合の試験の説明図である。図4において、中継ボード11と基板12とがコネクタ20、15とコネクタ21、17で接続され、中継ボード11と試験用外部ソース23がFCケーブルで接続されている。試験用外部ソース23は、テスト用の信号を送受信できるホストバスアダプタ(Host Bus Adapter)等の外部ソースである。
図5は中継ボードの説明図である。図5において、中継ボード(エクステンションボード)11には、2つのクロスポイントスイッチチップ30、31、バックパネル(BP)側のコントローラCM0〜CM3と接続されるコネクタ34、バックパネル(BP)側のコントローラCM4〜CM7と接続されるコネクタ36、BRT側と接続されるコネクタ35、37、FCトレーサ32と接続するためのコネクタ38、FCトレーサ33と接続するためのコネクタ39、制御線I2C、チップ間FC接続線40、チップ制御用のバイパス設定スイッチ41、42、制御線I2C用のコネクタ43、コネクタHM5が設けてある。
(付記1) 複数の伝送路を備えた第1の基板の伝送路の試験方法において、
前記第1の基板の複数の伝送路の一部と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と前記第1の基板との伝送路の間に備えた中継ボードで、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行えるようにし、
前記第2の基板からの伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記第2の基板で、前記第1の基板の複数の伝送路の試験を行うことを特徴とした伝送路の試験方法。
該第1の基板の複数の伝送路の一部と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板の伝送路の間に、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行う中継ボードとを備え、
前記第2の基板からの伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記第2の基板で前記第1の基板の全ての伝送路の試験を行うことを特徴とした伝送路の試験装置。
該第1の基板の複数の伝送路と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板の伝送路の間に、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行うと共に該伝送路のトレースを行う外部コネクタを設けた中継ボードと、
前記外部コネクタに接続されたトレーサとを備え、
前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記複数の伝送路のトレースを行うことを特徴とした伝送路の試験装置。
該第1の基板の複数の伝送路と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板の伝送路の間に、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行う中継ボードとを備え、
前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記複数の伝送路の障害個所を特定することを特徴とした伝送路の試験装置。
該第1の基板の複数の伝送路と接続して伝送路の切り替えを行うと共に該伝送路に接続された外部コネクタを設けた中継ボードと、
前記外部コネクタに接続された試験信号の送受信を行う試験用外部ソースとを備え、
前記試験用外部ソースが接続された伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記複数の伝送路の試験を行うことを特徴とした伝送路の試験装置。
2 エクステンションボード(中継ボード)
3 バックエンドルータ(BRT;第1の基板)
Claims (3)
- 複数の伝送路を備えた第1の基板と、
該第1の基板の複数の伝送路と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板の伝送路の間に、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行う、外部コネクタを設けた中継ボードと、
前記外部コネクタに接続されたトレーサとを備え、
前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記複数の伝送路のトレースを行うことを特徴とした伝送路の試験装置。 - 複数の伝送路を備えた第1の基板と、
該第1の基板の複数の伝送路の2つ以上と接続して信号の送出又は受信を行う第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板の伝送路の間に、前記第1の基板と前記第2の基板間の伝送路の切り替えを行う、外部コネクタを設けた中継ボードとを備え、
前記第1の基板と前記第2の基板間の2つ以上の伝送路を同時に前記中継ボードで切り替えることにより前記2つ以上の伝送路の障害個所を同時に特定することを特徴とした伝送路の試験装置。 - 複数の伝送路を備えた第1の基板と、
該第1の基板の複数の伝送路と接続して伝送路の切り替えを行う、外部コネクタを設けた中継ボードと、
前記外部コネクタに接続された試験信号の送受信を行う試験用外部ソースとを備え、
前記試験用外部ソースが接続された伝送路を前記中継ボードで切り替えることにより前記複数の伝送路の試験を行うことを特徴とした伝送路の試験装置。
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