JP4786465B2 - Optical mask member and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、表面実装用の光学マスク部材及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an optical mask member for surface mounting and a method for manufacturing the same.

従来、半導体発光素子や半導体受光素子などの光半導体装置と、光半導体装置に光学的に結合され所定の光透過部以外からの光を遮光するマスクなどの光学部品とは、夫々別々に形成され、組み立ての際に互いに位置合わせされ光学的に結合される。   Conventionally, an optical semiconductor device such as a semiconductor light emitting element or a semiconductor light receiving element and an optical component such as a mask that is optically coupled to the optical semiconductor device and shields light from a portion other than a predetermined light transmitting portion are separately formed. , And are optically coupled to each other during assembly.

その一例として、例えば特許文献1に開示されたものが知られている。この文献では、ガラス基板の一面に所定のピッチで複数のマイクロレンズを直線上に形成すると共に、マイクロレンズアレイが形成された面と対向する他の面にマイクロレンズアレイの光通過部分の周囲に電気絶縁性光吸収膜を真空蒸着法にて成膜し、マイクロレンズアレイ内の光通過部以外の部分の光はこの光吸収膜に吸収され、マイクロレンズアレイ内の洩れ光はすぐに減衰する。同時に受光素子と接合する電極として下地にニッケル、銅、金を蒸着またはメッキで付着させ、所定ピッチで形成された受光素子アレイの電極部とマイクロアレイの電極部とを金バンプによりボンディングする。
特開平05−121710号公報
As an example thereof, for example, one disclosed in Patent Document 1 is known. In this document, a plurality of microlenses are linearly formed on one surface of a glass substrate at a predetermined pitch, and on the other surface opposite to the surface on which the microlens array is formed around the light passage portion of the microlens array. An electrically insulating light absorption film is formed by vacuum deposition, and light in the portion other than the light passage portion in the microlens array is absorbed by this light absorption film, and the leakage light in the microlens array is immediately attenuated. . At the same time, nickel, copper, or gold is deposited on the base as an electrode to be bonded to the light receiving element by vapor deposition or plating, and the electrode part of the light receiving element array and the electrode part of the microarray formed at a predetermined pitch are bonded by gold bumps.
Japanese Patent Laid-Open No. 05-121710

しかしながら、上記特許文献に開示された光学的な結合構造では、マイクロレンズを形成する基板には表面の平滑性に優れたガラス基板が用いられるため、蒸着法により形成された光吸収膜及び電極における基板への付着強度が低く、且つ成膜に時間を要し量産性に乏しい。   However, in the optical coupling structure disclosed in the above-mentioned patent document, since a glass substrate having excellent surface smoothness is used as a substrate for forming a microlens, a light absorbing film and an electrode formed by vapor deposition are used. The adhesion strength to the substrate is low, and it takes time to form a film and is poor in mass productivity.

本発明は、上記の問題点を解消する為になされたものであり、付着強度が高く、量産性に優れた光学マスク部材及びその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an optical mask member having high adhesion strength and excellent mass productivity, and a method for manufacturing the same.

本発明に係る光学マスク部材は、所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材と、光遮蔽部材の周縁に設けられた金属板と、光遮蔽部材と金属板とを樹脂封止する透明樹脂とを備え、金属板は少なくとも一端面が透明樹脂から露出するように透明樹脂に覆われていることを特徴とする。   An optical mask member according to the present invention comprises: a light shielding member that shields light of a predetermined wavelength; a metal plate provided at the periphery of the light shielding member; and a transparent resin that seals the light shielding member and the metal plate. The metal plate is covered with a transparent resin so that at least one end surface is exposed from the transparent resin.

このように構成された光学マスク部材は、光遮蔽部材と、金属板と、光遮蔽部材と金属板とを樹脂封止する透明樹脂とを備えることにより形成されたため、簡単に製造されることができ、優れた量産性が得られる。また、金属板は少なくとも一端面が透明樹脂から露出するように透明樹脂に覆われているので、金属板の透明樹脂への付着強度を高めることができる。   Since the optical mask member configured in this manner is formed by including a light shielding member, a metal plate, and a transparent resin for resin-sealing the light shielding member and the metal plate, the optical mask member can be easily manufactured. And excellent mass productivity can be obtained. Moreover, since the metal plate is covered with the transparent resin so that at least one end face is exposed from the transparent resin, the adhesion strength of the metal plate to the transparent resin can be increased.

本発明に係る光学マスク部材において、金属板を覆う透明樹脂の領域には、透明樹脂で形成された樹脂層を貫通すると共に金属板と電気的に接続された導電体が設けられていることが好適である。この場合には、導電体が電気的に接続された外部接続端子として機能するため、外部との電気的な接続を容易且つ確実に行うことができる。   In the optical mask member according to the present invention, a region of the transparent resin covering the metal plate is provided with a conductor that penetrates the resin layer formed of the transparent resin and is electrically connected to the metal plate. Is preferred. In this case, since the conductor functions as an external connection terminal to which the conductor is electrically connected, the electrical connection with the outside can be easily and reliably performed.

本発明に係る光学マスク部材の製造方法は、上記の本発明に係る光学マスク部材を製造する方法であって、(1)導電性を有する基板の主面上に所定のレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、(2)レジストパターン形成工程において形成されたレジストパターンを除く基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、(3)金属板電着工程の後に、基板からレジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、(4)レジストパターン除去工程の後に、基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、(5)光遮蔽部材形成工程の後に、平板状の上型を用いて金属板及び光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、(6)樹脂封止工程の後に基板を除去する基板除去工程と、を備えることを特徴とする。この場合には、金属板の透明樹脂への付着強度が強い光学マスク部材を容易に量産することができる。   A method for producing an optical mask member according to the present invention is a method for producing the above-described optical mask member according to the present invention. (1) A resist for forming a predetermined resist pattern on a main surface of a conductive substrate. (2) A metal that forms a metal plate on the main surface of the substrate by electrodepositing a conductive metal on the exposed portion of the main surface of the substrate excluding the resist pattern formed in the resist pattern forming step. A plate electrodeposition step; (3) a resist pattern removal step of removing the resist pattern from the substrate after the metal plate electrodeposition step; and (4) light of a predetermined wavelength on the main surface of the substrate after the resist pattern removal step. A light shielding member forming step for forming a light shielding member for shielding light, and (5) a resin sealing step for covering the metal plate and the light shielding member with a transparent resin by using a flat upper mold after the light shielding member forming step. And (6 Characterized in that it comprises a substrate removal step of removing the substrate after the resin sealing step. In this case, an optical mask member having strong adhesion strength of the metal plate to the transparent resin can be easily mass-produced.

また、本発明に係る光学マスク部材の製造方法は、上記の本発明に係る光学マスク部材を製造する方法であって、(1)導電性を有する基板の主面上に第1レジストパターンを形成する第1レジストパターン形成工程と、(2)第1レジストパターン形成工程において形成された第1レジストパターンを除く基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、(3)金属板電着工程の後に、基板から第1レジストパターンを除去する第1レジストパターン除去工程と、(4)第1レジストパターン除去工程の後に、金属板の主面上に第2レジストパターンを形成する第2レジストパターン形成工程と、(5)第2レジストパターン形成工程において形成された第2レジストパターンを除く金属板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、金属板の主面上に導電体を形成する導電体電着工程と、(5)導電体電着工程の後に、金属板から第2レジストパターンを除去する第2レジストパターン除去工程と、(6)第2レジストパターン除去工程の後に、基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、(7)光遮蔽部材形成工程の後に、平板状の上型の内面を導電体と当接するように上型と基板と合わせて金属板及び光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、(8)樹脂封止工程の後に基板を除去する基板除去工程と、を備えることが好適である。この場合には、金属板の透明樹脂への付着強度が強い光学マスク部材を容易に量産することができる。   A method for manufacturing an optical mask member according to the present invention is a method for manufacturing the optical mask member according to the present invention, wherein (1) a first resist pattern is formed on a main surface of a conductive substrate. A first resist pattern forming step, and (2) electrodepositing a conductive metal on an exposed portion of the main surface of the substrate excluding the first resist pattern formed in the first resist pattern forming step. A metal plate electrodeposition step for forming a metal plate thereon; (3) a first resist pattern removal step for removing the first resist pattern from the substrate after the metal plate electrodeposition step; and (4) first resist pattern removal. A second resist pattern forming step for forming a second resist pattern on the main surface of the metal plate after the step; and (5) gold excluding the second resist pattern formed in the second resist pattern forming step. A conductor electrodeposition step of electrodepositing a conductive metal on an exposed portion of the main surface of the plate to form a conductor on the main surface of the metal plate; and (5) a metal plate after the conductor electrodeposition step. A second resist pattern removing step for removing the second resist pattern from the substrate, and (6) a light shielding member for forming a light shielding member for shielding light of a predetermined wavelength on the main surface of the substrate after the second resist pattern removing step. (7) After the light shielding member forming step, a resin seal that covers the metal plate and the light shielding member with a transparent resin together with the upper die and the substrate so that the inner surface of the flat upper die contacts the conductor. It is preferable to include a stopping step and (8) a substrate removing step of removing the substrate after the resin sealing step. In this case, an optical mask member having strong adhesion strength of the metal plate to the transparent resin can be easily mass-produced.

また、本発明に係る光学マスク部材の製造方法は、上記の本発明に係る光学マスク部材を製造する方法であって、(1)導電性を有する基板の主面上に所定のレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、(2)レジストパターン形成工程において形成されたレジストパターンを除く基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、(3)金属板電着工程の後に、基板からレジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、(4)レジストパターン除去工程の後に、基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、(5)光遮蔽部材形成工程の後に、基板と合わせる際に金属板と当接する凸部を有する上型を用いて金属板及び光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、(6)樹脂封止工程の後に基板を除去する基板除去工程と、(7)基板と合わせた際に上型の凸部により形成された透明樹脂の凹部に導電体を埋め込み、導電体を金属板と電気的に接続する接続工程と、を備えることが好適である。この場合には、金属板の透明樹脂への付着強度が強い光学マスク部材を容易に量産することができる。   The method for manufacturing an optical mask member according to the present invention is a method for manufacturing the optical mask member according to the present invention described above, and (1) a predetermined resist pattern is formed on a main surface of a conductive substrate. And (2) forming a metal plate on the main surface of the substrate by electrodepositing a conductive metal on the exposed portion of the main surface of the substrate excluding the resist pattern formed in the resist pattern forming step. A metal plate electrodeposition step, (3) a resist pattern removal step for removing the resist pattern from the substrate after the metal plate electrodeposition step, and (4) a predetermined wavelength on the main surface of the substrate after the resist pattern removal step. A light shielding member forming step for forming a light shielding member that shields the light of the metal plate, and (5) a metal plate using an upper mold having a convex portion that comes into contact with the metal plate when the substrate is aligned with the substrate after the light shielding member forming step. And light A resin sealing step of covering the covering member with a transparent resin, (6) a substrate removing step of removing the substrate after the resin sealing step, and (7) a transparent formed by the upper mold convex portion when combined with the substrate. It is preferable to include a connecting step of embedding a conductor in the concave portion of the resin and electrically connecting the conductor to the metal plate. In this case, an optical mask member having strong adhesion strength of the metal plate to the transparent resin can be easily mass-produced.

本発明によれば、付着強度が高く、量産性に優れた光学マスク部材及びその製造方法を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide an optical mask member having high adhesion strength and excellent mass productivity and a method for manufacturing the same.

以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は同等の構成要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same or equivalent components are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

(第1実施形態)
まず、本発明に係る光学マスク部材及びその製造方法の第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係る光学マスク部材1の上面図、断面図および底面図である。同図(a)は上面図を示し、同図(b)は断面図を示し、同図(c)は底面図を示す。この図に示される光学マスク部材1は、光遮蔽部材10と金属板22,24と透明樹脂30とを備え、一体成型により直方体状に形成されている。
(First embodiment)
First, a first embodiment of an optical mask member and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described. FIG. 1 is a top view, a cross-sectional view, and a bottom view of an optical mask member 1 according to the first embodiment. FIG. 1A shows a top view, FIG. 1B shows a cross-sectional view, and FIG. 1C shows a bottom view. The optical mask member 1 shown in this figure includes a light shielding member 10, metal plates 22 and 24, and a transparent resin 30, and is formed in a rectangular parallelepiped shape by integral molding.

光遮蔽部材10は、所定波長の光を遮蔽する部材からなり、中心部に円形の開口部10bを有し平板状を呈している。光遮蔽部材10として、光学的に接続される発光素子の発光波長または受光素子の受光波長の光を遮蔽する特性を有し、例えば黒色レジスト等が挙げられる。そして、光遮蔽部材10の底面10aが透明樹脂30から露出しており、その他の平面は透明樹脂30により覆われている。   The light shielding member 10 is made of a member that shields light of a predetermined wavelength, has a circular opening 10b at the center, and has a flat plate shape. The light shielding member 10 has a characteristic of shielding light having a light emission wavelength of a light emitting element optically connected or a light reception wavelength of a light receiving element, and examples thereof include a black resist. The bottom surface 10 a of the light shielding member 10 is exposed from the transparent resin 30, and the other plane is covered with the transparent resin 30.

金属板22,24は、平板状を呈しており、光遮蔽部材10の両側に左右対称に設けられている。金属板22,24の下面(端面)22a,24aが同一平面上に形成されると共に透明樹脂30から露出しており、金属板22,24の他の平面は透明樹脂30により覆われている。   The metal plates 22 and 24 have a flat plate shape, and are provided symmetrically on both sides of the light shielding member 10. Lower surfaces (end surfaces) 22 a and 24 a of the metal plates 22 and 24 are formed on the same plane and exposed from the transparent resin 30, and the other planes of the metal plates 22 and 24 are covered with the transparent resin 30.

透明樹脂30は、光遮蔽部材10及び金属板22,24を覆うようにこれらを封止している。透明樹脂30の下面30a、金属板22,24の下面22a,24a、及び光遮蔽部材10の底面10aが同一平面上に形成されている。なお、透明樹脂30としては、樹脂封止に用いられる透明な樹脂が用いられ、例えば光学マスク部材1と光学的に接続される発光素子の発光波長または受光素子の受光波長の光に対して透明である熱硬化型のエポキシ透明樹脂やシリコーン透明樹脂等が挙げられている。そして、このような透明樹脂30が光遮蔽部材10の中心部に設けられた開口部10b内に充填されることにより、所定波長の光を透過する光透過部32が形成される。   The transparent resin 30 seals the light shielding member 10 and the metal plates 22 and 24 so as to cover them. The lower surface 30a of the transparent resin 30, the lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24, and the bottom surface 10a of the light shielding member 10 are formed on the same plane. In addition, as the transparent resin 30, a transparent resin used for resin sealing is used. For example, the transparent resin 30 is transparent to light having a light emission wavelength of a light emitting element optically connected to the optical mask member 1 or a light receiving wavelength of a light receiving element. The thermosetting epoxy transparent resin and silicone transparent resin which are are mentioned. The transparent resin 30 is filled in the opening 10 b provided in the center of the light shielding member 10, thereby forming a light transmitting portion 32 that transmits light of a predetermined wavelength.

このように構成された光学マスク部材1は透明樹脂30を用いて光遮蔽部材10と金属板22,24とを樹脂封止することにより形成されたため、簡単に製造され、優れた量産性が得られる。そして、金属板22,24それぞれの露出した下面22a,24aが例えば受光素子上に半田付けされることで、光学マスク部材1は該受光素子に実装される。このような光学マスク部材1は、パッケージに入れられることなく、樹脂封止された形態のままであるので、小型化及び薄型化が可能となると共に、受光素子等の他部品上における表面実装の密度の向上が可能である。   Since the optical mask member 1 configured in this way is formed by resin-sealing the light shielding member 10 and the metal plates 22 and 24 using a transparent resin 30, it is easily manufactured and has excellent mass productivity. It is done. Then, the exposed lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24 are soldered onto, for example, the light receiving element, so that the optical mask member 1 is mounted on the light receiving element. Since such an optical mask member 1 remains in a resin-sealed form without being put into a package, it can be reduced in size and thickness, and can be surface-mounted on other components such as a light receiving element. The density can be improved.

また、金属板22,24は透明樹脂30により封止され、その下面22a,24aが透明樹脂30から露出しているため、金属板22,24の透明樹脂30への付着強度が高く得られると共に、金属板22,24は位置合わせ手段として機能し、光学マスク部材1を他部品に実装する際に他部品との位置合わせ作業を簡単に行うことができる。例えば光学マスク部材1を受光素子に実装する場合に、設計段階において受光素子の電極パッドの位置と合わせて金属板22,24の位置を設定し、光学マスク部材1の金属板22,24を受光素子の電極パッドに半田等で直接に載置し、リフローすることで、簡単に光学マスク部材1の位置を決めることができ、歩留まりよく実装することができる。また、半田による実装を行う際にセルフアライメントにより光学マスク部材1と他部品と接続することができるため、高精度の位置合わせを容易に実施することができる。   Further, since the metal plates 22 and 24 are sealed with the transparent resin 30 and the lower surfaces 22a and 24a are exposed from the transparent resin 30, the adhesion strength of the metal plates 22 and 24 to the transparent resin 30 can be obtained high. The metal plates 22 and 24 function as alignment means, and when the optical mask member 1 is mounted on another component, the alignment operation with the other component can be easily performed. For example, when the optical mask member 1 is mounted on the light receiving element, the positions of the metal plates 22 and 24 are set in accordance with the positions of the electrode pads of the light receiving element at the design stage, and the metal plates 22 and 24 of the optical mask member 1 are received. The position of the optical mask member 1 can be easily determined by mounting directly on the electrode pad of the element with solder or the like and reflowing, and can be mounted with a high yield. Moreover, since the optical mask member 1 and other components can be connected by self-alignment when mounting by solder, highly accurate positioning can be easily performed.

さらに、光学マスク部材1が光遮蔽部材10と金属板22,24とを透明樹脂30で樹脂封止することにより形成され、光遮蔽部材10の底面10aと金属板22,24の下面22a,24aを除きその他の平面は透明樹脂部材30により取り込まれている。このため、光学マスク部材1の厚さを薄くすることができ、光学マスク部材1の薄型化が可能となる。   Further, the optical mask member 1 is formed by sealing the light shielding member 10 and the metal plates 22 and 24 with a transparent resin 30, and the bottom surface 10 a of the light shielding member 10 and the lower surfaces 22 a and 24 a of the metal plates 22 and 24. Other planes except for are taken in by the transparent resin member 30. For this reason, the thickness of the optical mask member 1 can be reduced, and the optical mask member 1 can be thinned.

次に、第1実施形態に係る光学マスク部材1を製造する方法について説明する。図2は、第1実施形態に係る光学マスク部材1を製造する方法を説明するフローチャートである。図3および図4は、第1実施形態に係る光学マスク部材1を製造する方法を説明する工程図である。これらの図では、複数個(図示では3個)の光学マスク部材1を同時に製造する場合を示している。   Next, a method for manufacturing the optical mask member 1 according to the first embodiment will be described. FIG. 2 is a flowchart illustrating a method for manufacturing the optical mask member 1 according to the first embodiment. 3 and 4 are process diagrams illustrating a method of manufacturing the optical mask member 1 according to the first embodiment. In these drawings, a case where a plurality (three in the drawing) of optical mask members 1 are manufactured simultaneously is shown.

初めに、レジストパターン形成工程(ステップS1)では、導電性を有する基板40の主面上に所定のレジストパターン42が形成される(図3(a),(b))。ここで用いられる基板40は、両面が平坦な金属板であり、厚みが例えば0.1mmであり、例えばステンレススチール,アルミニウムおよび銅などからなる。この基板40の両面にレジスト42,44が塗布される(図3(a))。ここで塗布されるレジストは、例えば厚み50μmのアルカリタイプの感光性フィルムレジストである。このレジストが塗布された基板40の一方の主面上に所定パターンのマスクが配され、この状態で紫外線照射による両面露光が行われ、現像処理が行われる。これにより、基板40の主面上のレジストが硬化し、所定のレジストパターン42が形成される(図3(b))。   First, in the resist pattern forming step (step S1), a predetermined resist pattern 42 is formed on the main surface of the conductive substrate 40 (FIGS. 3A and 3B). The board | substrate 40 used here is a metal plate with flat both surfaces, and thickness is 0.1 mm, for example, for example, consists of stainless steel, aluminum, copper, etc. Resists 42 and 44 are applied to both surfaces of the substrate 40 (FIG. 3A). The resist applied here is, for example, an alkali type photosensitive film resist having a thickness of 50 μm. A mask having a predetermined pattern is arranged on one main surface of the substrate 40 coated with the resist, and in this state, double-sided exposure is performed by ultraviolet irradiation, and development processing is performed. Thereby, the resist on the main surface of the substrate 40 is cured, and a predetermined resist pattern 42 is formed (FIG. 3B).

レジストパターン形成工程(ステップS1)に続く金属板電着工程(ステップS2)では、レジストパターン42を除く基板40の主面の露出部上に導電性金属が電着されて、基板40の主面上に金属板22,24が形成される(図3(c))。なお、この電着の前に、必要に応じて化学エッチングによる表面酸化被膜除去や薬品による化学処理等の表面活性化処理が行われる。例えば、電着物としてはニッケルやニッケル−コバルト合金、銅その他種々の金属が用いられ、また、スルファミン酸ニッケルの無光沢浴が使用され、レジストパターン42の厚さ程度の40〜50μmの厚さで金属板22,24が形成される。なお、必要に応じて、金属板22,24それぞれの表面に結着力向上用の金メッキ等を0.3〜0.4μm厚で行うのが好ましい。   In the metal plate electrodeposition step (step S2) subsequent to the resist pattern formation step (step S1), the conductive metal is electrodeposited on the exposed portion of the main surface of the substrate 40 excluding the resist pattern 42, so that the main surface of the substrate 40 is obtained. Metal plates 22 and 24 are formed thereon (FIG. 3C). Before this electrodeposition, surface activation treatment such as removal of the surface oxide film by chemical etching or chemical treatment with chemicals is performed as necessary. For example, nickel, nickel-cobalt alloy, copper and other various metals are used as electrodeposits, and a matte bath of nickel sulfamate is used. The thickness of the resist pattern 42 is about 40 to 50 μm. Metal plates 22 and 24 are formed. If necessary, it is preferable to perform gold plating or the like for improving the binding force on the surfaces of the metal plates 22 and 24 in a thickness of 0.3 to 0.4 μm.

金属板電着工程(ステップS2)に続くレジストパターン除去工程(ステップS3)では、基板40からレジスト42,44が除去される(図3(d))。レジスト除去方法としては、アルカリ溶液による膨潤除去の方法等が可能である。   In the resist pattern removal step (step S3) subsequent to the metal plate electrodeposition step (step S2), the resists 42 and 44 are removed from the substrate 40 (FIG. 3D). As a resist removal method, a swelling removal method using an alkaline solution or the like is possible.

レジストパターン除去工程(ステップS3)に続く光遮蔽部材形成工程(ステップS4)では、基板40の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材10が形成される(図4(a))。具体的には、例えば発光波長あるいは受光波長の光に対して遮蔽する特性を有する黒色レジストを基板40の主面上の所定位置に塗布し硬化させて、所定のパターンの光遮蔽部材10を形成させる。   In the light shielding member forming step (step S4) subsequent to the resist pattern removing step (step S3), the light shielding member 10 that shields light of a predetermined wavelength is formed on the main surface of the substrate 40 (FIG. 4A). . Specifically, for example, a black resist having a property of shielding light having a light emission wavelength or light reception wavelength is applied to a predetermined position on the main surface of the substrate 40 and cured to form a light shielding member 10 having a predetermined pattern. Let

光遮蔽部材形成工程(ステップS4)に続く樹脂封止工程(ステップS5)では、金属板22,24及び光遮蔽部材10は透明樹脂30により覆われて封止される。このとき具体的には、平板状のモールド金型(上型)50を用い基板40の上面に装着し(図4(b))、そのモールド金型内のキャビティに透明樹脂30を圧入する。透明樹脂30としては、例えば発光波長あるいは受光波長の光に対して透明な熱硬化型エポキシ樹脂等が用いられる。このとき、基板40は樹脂モールド時における下型の機能を果たす。これにより、モールド金型60と基板40との間に透明樹脂30が流れ込み、基板40上に複数の金属板22,24等が配列されて透明樹脂30により一体的に封止された形態となる(図4(c))。なお、モールド時に複数の基板40を並列に配置して、透明樹脂30をランナーにより各基板40とモールド金型50との間に分配して圧入するようにすれば、効率よく多数の樹脂封止を行うことが可能である。そして、透明樹脂30が硬化した後にモールド金型50を取り外し、樹脂封止工程が終了する(図4(d))。   In the resin sealing step (step S5) subsequent to the light shielding member forming step (step S4), the metal plates 22, 24 and the light shielding member 10 are covered and sealed with the transparent resin 30. Specifically, a flat mold die (upper die) 50 is mounted on the upper surface of the substrate 40 (FIG. 4B), and the transparent resin 30 is press-fitted into the cavity in the mold die. As the transparent resin 30, for example, a thermosetting epoxy resin that is transparent to light having a light emission wavelength or a light reception wavelength is used. At this time, the substrate 40 functions as a lower mold during resin molding. As a result, the transparent resin 30 flows between the mold 60 and the substrate 40, and a plurality of metal plates 22, 24, etc. are arranged on the substrate 40 and integrally sealed with the transparent resin 30. (FIG. 4 (c)). If a plurality of substrates 40 are arranged in parallel at the time of molding, and the transparent resin 30 is distributed and press-fitted between each substrate 40 and the mold die 50 by a runner, a large number of resin sealing can be performed efficiently. Can be done. And after the transparent resin 30 hardens | cures, the mold die 50 is removed and a resin sealing process is complete | finished (FIG.4 (d)).

樹脂封止工程(ステップS5)に続く基板除去工程(ステップS6)では、基板40が除去されることにより、金属板22,24の下面22a,24a及び光遮蔽部材10の底面10aが露出した樹脂封止体が得られる(図4(e))。基板40を除去する方法としては、樹脂封止体から基板40を機械的に引き剥がす等の強制的に剥離除去する方法の他、基板40等を構成する材質に応じては、樹脂封止体側への影響のない溶剤等により基板40を溶解して除去する方法も可能である。金属板22,24それぞれの下面22a,24a、光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aは同一平面上にある。なお、本工程後に必要に応じて、金属板22,24それぞれの下面22a,24aに、実装用に金及び銀等の導電性金属層の薄膜をフラッシュメッキ等の方法により0.3〜0.5μm厚で形成するようにしてもよい。   In the substrate removal step (step S6) subsequent to the resin sealing step (step S5), the substrate 40 is removed to expose the lower surfaces 22a, 24a of the metal plates 22, 24 and the bottom surface 10a of the light shielding member 10. A sealing body is obtained (FIG. 4E). As a method for removing the substrate 40, in addition to a method for forcibly peeling and removing the substrate 40 from the resin sealing body, the resin sealing body side may be used depending on the material constituting the substrate 40 or the like. A method of dissolving and removing the substrate 40 with a solvent or the like that does not affect the surface is also possible. The lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24, the bottom surface 10a of the light shielding member 10, and the lower surface 30a of the transparent resin 30 are on the same plane. If necessary, a thin film of a conductive metal layer such as gold or silver is mounted on the lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24 by a method such as flash plating after the process, if necessary. It may be formed with a thickness of 5 μm.

基板除去工程(ステップS6)に続く切断工程(ステップS7)では、図4(e)中において破線で示される切断線に沿って上記の樹脂封止体が切断されて、これにより、個々の光学マスク部材1(図1)が製造される。   In the cutting step (step S7) subsequent to the substrate removing step (step S6), the resin sealing body is cut along the cutting line indicated by the broken line in FIG. Mask member 1 (FIG. 1) is manufactured.

このように光遮蔽部材10及び金属板22,24を透明樹脂30により一体にモールド成型することにより、光学マスク部材1を簡単に量産することができ、製造コストを削減する効果をもたらす。そして、この製造方法により製造された光学マスク部材1では金属板22,24の透明樹脂30への付着強度が強い。   Thus, by integrally molding the light shielding member 10 and the metal plates 22 and 24 with the transparent resin 30, the optical mask member 1 can be easily mass-produced, resulting in an effect of reducing the manufacturing cost. In the optical mask member 1 manufactured by this manufacturing method, the adhesion strength of the metal plates 22 and 24 to the transparent resin 30 is strong.

次に、光学マスク部材1の変形例について図5を参照して説明する。図5(a)の変形例では、光遮蔽部材10の底面10aと透明樹脂30の下面30aとが同一平面上に形成されているが、金属板222,242はその下面222a,242aが光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aから光学マスク部材1の外側に突出するように形成されている。この場合には、上記の実施形態と同様に光学マスク部材1を他部品に実装する際に他部品との位置合わせ作業を簡単に行うことができると共に、光学マスク部材1の薄型化が可能となる。さらに、金属板222,242の下面222a,242aが光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aから光学マスク部材1の外側に突出することにより、実装時に半田の流れによる短絡等を防止する効果が期待できる。なお、この場合の光学マスク部材1の製造方法では、用いられる基板は導電性金属が電着されるべき領域(金属板222,242が形成される領域)が他の領域に対して窪むように加工されることが必要である。   Next, a modification of the optical mask member 1 will be described with reference to FIG. 5A, the bottom surface 10a of the light shielding member 10 and the lower surface 30a of the transparent resin 30 are formed on the same plane. However, the lower surfaces 222a and 242a of the metal plates 222 and 242 are light-shielded. The optical mask member 1 is formed so as to protrude from the bottom surface 10 a of the member 10 and the lower surface 30 a of the transparent resin 30. In this case, similarly to the above-described embodiment, when the optical mask member 1 is mounted on another component, the alignment operation with the other component can be easily performed, and the optical mask member 1 can be thinned. Become. Further, the lower surfaces 222a and 242a of the metal plates 222 and 242 protrude from the bottom surface 10a of the light shielding member 10 and the lower surface 30a of the transparent resin 30 to the outside of the optical mask member 1, thereby preventing a short circuit due to a solder flow during mounting. Can be expected. In the manufacturing method of the optical mask member 1 in this case, the substrate used is processed so that the region where the conductive metal is to be electrodeposited (the region where the metal plates 222 and 242 are formed) is recessed relative to the other regions. It is necessary to be done.

図5(b)の変形例では、光遮蔽部材10の底面10aと透明樹脂30の下面30aとが同一平面上に形成されているが、金属板224,244はその下面224a,244aが光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aから光学マスク部材1の内側に窪むように形成されている。この場合には、上記の実施形態と同様に光学マスク部材1を他部品に実装する際に他部品との位置合わせ作業を簡単に行うことができると共に、光学マスク部材1の薄型化が可能となる。さらに、金属板224,244の下面224a,244aが光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aから光学マスク部材1の内側に窪むことにより、実装時に半田の流れによる短絡等を防止する効果が期待できる。なお、この場合の光学マスク部材1の製造方法では、用いられる基板は導電性金属が電着されるべき領域(金属板224,244が形成される領域)が他の領域に対して突出するように加工されることが必要である。   5B, the bottom surface 10a of the light shielding member 10 and the lower surface 30a of the transparent resin 30 are formed on the same plane, but the lower surfaces 224a and 244a of the metal plates 224 and 244 are light-shielded. The optical mask member 1 is formed so as to be recessed from the bottom surface 10 a of the member 10 and the lower surface 30 a of the transparent resin 30. In this case, similarly to the above-described embodiment, when the optical mask member 1 is mounted on another component, the alignment operation with the other component can be easily performed, and the optical mask member 1 can be thinned. Become. Further, the lower surfaces 224a and 244a of the metal plates 224 and 244 are recessed from the bottom surface 10a of the light shielding member 10 and the lower surface 30a of the transparent resin 30 to the inside of the optical mask member 1, thereby preventing a short circuit due to a solder flow during mounting. Can be expected. In the method of manufacturing the optical mask member 1 in this case, the substrate to be used is such that the region where the conductive metal is to be electrodeposited (the region where the metal plates 224 and 244 are formed) protrudes from the other regions. It is necessary to be processed.

(第2実施形態)
次に、本発明に係る光学マスク部材の第2実施形態について説明する。図6は、第2実施形態に係る光学マスク部材2の上面図、断面図および底面図である。同図(a)は上面図を示し、同図(b)は断面図を示し、同図(c)は底面図を示す。この図に示される透光性キャップ部材2は、所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材10と、光遮蔽部材10の両側に設けられた金属板22,24と、光遮蔽部材10及び金属板22,24を樹脂封止する透明樹脂30とを備え、一体成型により形成されている。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the optical mask member according to the present invention will be described. FIG. 6 is a top view, a cross-sectional view, and a bottom view of the optical mask member 2 according to the second embodiment. FIG. 1A shows a top view, FIG. 1B shows a cross-sectional view, and FIG. 1C shows a bottom view. The translucent cap member 2 shown in this figure includes a light shielding member 10 that shields light of a predetermined wavelength, metal plates 22 and 24 provided on both sides of the light shielding member 10, and the light shielding member 10 and the metal plate. And a transparent resin 30 for resin-sealing 22 and 24, and formed by integral molding.

図1に示された第1実施形態に係る光学マスク部材1と比較すると、この図6に示される第2実施形態に係る光学マスク部材2は導電体26,28を備える点で相違している。具体的には、金属板22,24を覆う透明樹脂30の領域(すなわち、金属板22,24の上面22b,24bを覆う領域)には、透明樹脂30で形成された樹脂層を貫通すると共に金属板22,24と電気的に接続された導電体26,28がそれぞれ設けられており、導電体26,28それぞれの下面が金属板22,24の上面22b,24bに接続され、それぞれの上面26a,28aが透明樹脂30から露出し透明樹脂30の上面30bと同一平面上に形成されている。なお、その他の構成については、第1実施形態と同様な構造を有するため説明を省略する。   Compared with the optical mask member 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1, the optical mask member 2 according to the second embodiment shown in FIG. 6 is different in that it includes conductors 26 and 28. . Specifically, the region of the transparent resin 30 covering the metal plates 22 and 24 (that is, the region covering the upper surfaces 22b and 24b of the metal plates 22 and 24) penetrates the resin layer formed of the transparent resin 30. Conductors 26 and 28 electrically connected to the metal plates 22 and 24 are provided, and the lower surfaces of the conductors 26 and 28 are connected to the upper surfaces 22b and 24b of the metal plates 22 and 24, respectively. 26 a and 28 a are exposed from the transparent resin 30 and formed on the same plane as the upper surface 30 b of the transparent resin 30. Since other structures have the same structure as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

このような構成とすることにより、第2実施形態に係る光学マスク部材2は、上記の第1実施形態と同様に金属板22,24の透明樹脂30への付着強度が高く得られると共に優れた量産性が可能となる。また、表面実装する際に他部品との位置合わせ作業を簡単に行うことができる。さらに、導電体26,28を備えることで、導電体26,28が電気的に接続された外部接続端子として機能し、外部との電気的な接続を容易且つ確実に行うことができる。   By adopting such a configuration, the optical mask member 2 according to the second embodiment is excellent in that the adhesion strength of the metal plates 22 and 24 to the transparent resin 30 is high as in the first embodiment. Mass production is possible. Further, when performing surface mounting, it is possible to easily perform alignment work with other components. Furthermore, by providing the conductors 26 and 28, the conductors 26 and 28 function as external connection terminals to which the conductors 26 and 28 are electrically connected, and electrical connection with the outside can be easily and reliably performed.

次に、第2実施形態に係る光学マスク部材2を製造する方法について説明する。図7は、第2実施形態に係る光学マスク部材2を製造する方法を説明するフローチャートである。図8〜図10は、第2実施形態に係る光学マスク部材2を製造する方法を説明する工程図である。これらの図では、複数個(図示では3個)の光学マスク部材2を同時に製造する場合を示している。   Next, a method for manufacturing the optical mask member 2 according to the second embodiment will be described. FIG. 7 is a flowchart illustrating a method for manufacturing the optical mask member 2 according to the second embodiment. 8-10 is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member 2 which concerns on 2nd Embodiment. In these drawings, a case where a plurality (three in the drawing) of optical mask members 2 are manufactured simultaneously is shown.

初めに、第1レジストパターン形成工程(ステップS10)では、導電性を有する基板40の主面上に第1レジストパターン42が形成される(図8(a),(b))。ここで用いられる基板40は、両面が平坦な金属板であり、厚みが例えば0.1mmであり、例えばステンレススチール,アルミニウムおよび銅などからなる。この基板40の両面にレジスト42,44が塗布される(図8(a))。ここで塗布されるレジストは、例えば厚み50μmのアルカリタイプの感光性フィルムレジストである。このレジストが塗布された基板40の一方の主面上に第1パターンのマスクが配され、この状態で紫外線照射による両面露光が行われ、現像処理が行われる。これにより、基板40の主面上のレジストが硬化し、第1レジストパターン42が形成される(図8(b))。   First, in the first resist pattern forming step (step S10), the first resist pattern 42 is formed on the main surface of the conductive substrate 40 (FIGS. 8A and 8B). The board | substrate 40 used here is a metal plate with flat both surfaces, and thickness is 0.1 mm, for example, for example, consists of stainless steel, aluminum, copper, etc. Resists 42 and 44 are applied to both surfaces of the substrate 40 (FIG. 8A). The resist applied here is, for example, an alkali type photosensitive film resist having a thickness of 50 μm. A mask having a first pattern is arranged on one main surface of the substrate 40 coated with the resist, and in this state, double-sided exposure is performed by ultraviolet irradiation, and development processing is performed. As a result, the resist on the main surface of the substrate 40 is cured, and the first resist pattern 42 is formed (FIG. 8B).

第1レジストパターン形成工程(ステップS10)に続く金属板電着工程(ステップS11)では、第1レジストパターン42を除く基板40の主面の露出部上に導電性金属が電着されて、基板40の主面上に金属板22,24が形成される(図8(c))。なお、この工程は第1実施形態の製造方法のステップS2と同様のため、詳細説明は省略する。   In the metal plate electrodeposition step (step S11) subsequent to the first resist pattern formation step (step S10), the conductive metal is electrodeposited on the exposed portion of the main surface of the substrate 40 excluding the first resist pattern 42, and the substrate Metal plates 22 and 24 are formed on the main surface of 40 (FIG. 8C). In addition, since this process is the same as that of step S2 of the manufacturing method of 1st Embodiment, detailed description is abbreviate | omitted.

金属板電着工程(ステップS11)に続く第1レジストパターン除去工程(ステップS12)では、基板40からレジスト42,44が除去される(図8(d))。第1レジスト除去方法としては、アルカリ溶液による膨潤除去の方法等が可能である。   In the first resist pattern removal process (step S12) subsequent to the metal plate electrodeposition process (step S11), the resists 42 and 44 are removed from the substrate 40 (FIG. 8D). As the first resist removal method, a swelling removal method using an alkaline solution or the like is possible.

第1レジストパターン除去工程(ステップS12)に続く第2レジストパターン形成工程(ステップS13)では、基板40及び金属板22,24の主面上に第2レジストパターン46が形成される(図9(a),(b))。すなわち、金属板22,24と基板40との主面、及び基板40のもう一方の平面にそれぞれレジスト46,48が塗布される(図9(a))。ここで塗布されるレジストは、例えば厚み50μmのアルカリタイプの感光性フィルムレジストである。このレジストが塗布された基板40及び金属板22,24の主面上に第2パターンのマスクが配され、この状態で紫外線照射による両面露光が行われ、現像処理が行われる。これにより、基板40及び金属板22,24の主面上のレジストが硬化し、第2レジストパターン46が形成される(図9(b))。   In the second resist pattern forming step (step S13) subsequent to the first resist pattern removing step (step S12), the second resist pattern 46 is formed on the main surface of the substrate 40 and the metal plates 22 and 24 (FIG. 9 ( a), (b)). That is, resists 46 and 48 are applied to the main surfaces of the metal plates 22 and 24 and the substrate 40 and the other plane of the substrate 40, respectively (FIG. 9A). The resist applied here is, for example, an alkali type photosensitive film resist having a thickness of 50 μm. A mask of a second pattern is arranged on the main surface of the substrate 40 and the metal plates 22 and 24 coated with the resist, and in this state, double-sided exposure is performed by ultraviolet irradiation, and development processing is performed. As a result, the resist on the main surfaces of the substrate 40 and the metal plates 22 and 24 is cured, and a second resist pattern 46 is formed (FIG. 9B).

第2レジストパターン形成工程(ステップS13)に続く導電体電着工程(ステップS14)では、第2レジストパターン46を除く金属板22,24の主面の露出部上に導電性金属が電着されて、金属板22,24の主面上にそれぞれ導電体26,28が形成される(図9(c))。なお、この工程は第1実施形態の製造方法のステップS2と同様のため、詳細説明は省略する。   In the conductor electrodeposition step (step S14) subsequent to the second resist pattern formation step (step S13), conductive metal is electrodeposited on the exposed portions of the main surfaces of the metal plates 22 and 24 excluding the second resist pattern 46. Thus, the conductors 26 and 28 are formed on the main surfaces of the metal plates 22 and 24, respectively (FIG. 9C). In addition, since this process is the same as that of step S2 of the manufacturing method of 1st Embodiment, detailed description is abbreviate | omitted.

導電体電着工程(ステップS14)に続く第2レジストパターン除去工程(ステップS15)では、基板40及び金属板22,24からレジスト46,48が除去される(図9(d))。第2レジスト除去方法としては、アルカリ溶液による膨潤除去の方法等が可能である。   In the second resist pattern removing step (step S15) subsequent to the conductor electrodeposition step (step S14), the resists 46 and 48 are removed from the substrate 40 and the metal plates 22 and 24 (FIG. 9D). As the second resist removal method, a swelling removal method using an alkaline solution or the like is possible.

第2レジストパターン除去工程(ステップS15)に続く光遮蔽部材形成工程(ステップS16)では、基板40の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材10が形成される(図10(a))。具体的には、例えば発光波長あるいは受光波長の光に対して遮蔽する特性を有する黒色レジストを基板40の主面上の所定位置に塗布し硬化させて、所定のパターンの光遮蔽部材10を形成させる。   In the light shielding member forming step (step S16) subsequent to the second resist pattern removing step (step S15), the light shielding member 10 that shields light of a predetermined wavelength is formed on the main surface of the substrate 40 (FIG. 10A). )). Specifically, for example, a black resist having a property of shielding light having a light emission wavelength or light reception wavelength is applied to a predetermined position on the main surface of the substrate 40 and cured to form a light shielding member 10 having a predetermined pattern. Let

光遮蔽部材形成工程(ステップS16)に続く樹脂封止工程(ステップS17)では、金属板22,24及び光遮蔽部材10は透明樹脂30により覆われて封止される。このとき具体的には、平板状のモールド金型(上型)52の内面52aを導電体26,28と当接するようにモールド金型52と基板40と合わせて(図10(b))、モールド金型52内のキャビティに透明樹脂30を圧入する。透明樹脂30としては、例えば発光波長あるいは受光波長の光に対して透明な熱硬化型エポキシ樹脂等が用いられる。このとき、基板40は樹脂モールド時における下型の機能を果たす。これにより、モールド金型52と基板40との間に透明樹脂30が流れ込み、基板40上に複数の金属板22,24等が配列されて透明樹脂30により一体的に封止された形態となる(図10(c))。なお、モールド時に複数の基板40を並列に配置して、透明樹脂30をランナーにより各基板40とモールド金型52との間に分配して圧入するようにすれば、効率よく多数の樹脂封止を行うことが可能である。そして、透明樹脂30が硬化した後にモールド金型52を取り外し、樹脂封止工程が終了する(図10(d))。   In the resin sealing step (step S17) subsequent to the light shielding member forming step (step S16), the metal plates 22, 24 and the light shielding member 10 are covered and sealed with the transparent resin 30. Specifically, at this time, the mold mold 52 and the substrate 40 are combined so that the inner surface 52a of the flat mold mold (upper mold) 52 is in contact with the conductors 26 and 28 (FIG. 10B). The transparent resin 30 is pressed into the cavity in the mold 52. As the transparent resin 30, for example, a thermosetting epoxy resin that is transparent to light having a light emission wavelength or a light reception wavelength is used. At this time, the substrate 40 functions as a lower mold during resin molding. Thereby, the transparent resin 30 flows between the mold 52 and the substrate 40, and a plurality of metal plates 22, 24, etc. are arranged on the substrate 40 and integrally sealed with the transparent resin 30. (FIG. 10 (c)). If a plurality of substrates 40 are arranged in parallel at the time of molding, and the transparent resin 30 is distributed and press-fitted between each substrate 40 and the mold die 52 by a runner, a large number of resin sealing can be efficiently performed. Can be done. And after the transparent resin 30 hardens | cures, the mold die 52 is removed and a resin sealing process is complete | finished (FIG.10 (d)).

樹脂封止工程(ステップS17)に続く基板除去工程(ステップS18)では、基板40が除去されることにより、導電体26,28の上面26a,28a及び金属板22,24の下面22a,24aが露出した樹脂封止体が得られる(図10(e))。基板40を除去する方法としては、樹脂封止体から基板40を機械的に引き剥がす等の強制的に剥離除去する方法の他、基板40等を構成する材質に応じては、樹脂封止体側への影響のない溶剤等により基板40を溶解して除去する方法も可能である。金属板22,24それぞれの下面22a,24a、光遮蔽部材10の底面10a及び透明樹脂30の下面30aは同一平面上にある。なお、本工程後に必要に応じて、金属板22,24それぞれの下面22a,24aに、実装用に金および銀等の導電性金属層の薄膜をフラッシュメッキ等の方法により0.3〜0.5μm厚で形成するようにしてもよい。   In the substrate removal process (step S18) subsequent to the resin sealing process (step S17), the upper surfaces 26a, 28a of the conductors 26, 28 and the lower surfaces 22a, 24a of the metal plates 22, 24 are removed by removing the substrate 40. An exposed resin sealing body is obtained (FIG. 10E). As a method for removing the substrate 40, in addition to a method for forcibly peeling and removing the substrate 40 from the resin sealing body, the resin sealing body side may be used depending on the material constituting the substrate 40 or the like. A method of dissolving and removing the substrate 40 with a solvent or the like that does not affect the surface is also possible. The lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24, the bottom surface 10a of the light shielding member 10, and the lower surface 30a of the transparent resin 30 are on the same plane. If necessary, a thin film of a conductive metal layer such as gold or silver is mounted on the lower surfaces 22a and 24a of the metal plates 22 and 24 by a method such as flash plating after the process, if necessary. It may be formed with a thickness of 5 μm.

基板除去工程(ステップS18)に続く切断工程(ステップS19)では、図10(e)中において破線で示される切断線に沿って上記の樹脂封止体が切断されて、これにより、個々の光学マスク部材2(図6)が製造される。   In the cutting step (step S19) subsequent to the substrate removal step (step S18), the resin sealing body is cut along the cutting line indicated by the broken line in FIG. Mask member 2 (FIG. 6) is manufactured.

このように金属板22,24、導電体26,28及び光遮蔽部材10を透明樹脂30で一体にモールド成型することにより、光学マスク部材2を簡単に量産することができ、製造コストを削減する効果をもたらす。   Thus, by integrally molding the metal plates 22, 24, the conductors 26, 28 and the light shielding member 10 with the transparent resin 30, the optical mask member 2 can be easily mass-produced and the manufacturing cost can be reduced. Bring effect.

なお、第2実施形態に係る光学マスク部材2の製造方法は上記の製造方法に限定されなく、下記のように製造されてもよい。以下、第2実施形態に係る光学マスク部材2の他の製造する方法について説明する。図11は、第2実施形態に係る光学マスク部材2の他の製造方法を説明するフローチャートである。この他の製造方法において、レジストパターン形成工程(ステップS21)から光遮蔽部材形成工程(ステップS24)までは第1実施形態の製造方法のステップS1〜S4と同様のため、これらの説明を省略する。以下、第1実施形態の製造方法と異なる工程を図12を参照して説明する。   In addition, the manufacturing method of the optical mask member 2 which concerns on 2nd Embodiment is not limited to said manufacturing method, You may manufacture as follows. Hereinafter, another method for manufacturing the optical mask member 2 according to the second embodiment will be described. FIG. 11 is a flowchart for explaining another method of manufacturing the optical mask member 2 according to the second embodiment. In this other manufacturing method, the steps from the resist pattern forming step (step S21) to the light shielding member forming step (step S24) are the same as steps S1 to S4 of the manufacturing method according to the first embodiment, and thus description thereof is omitted. . Hereinafter, steps different from the manufacturing method of the first embodiment will be described with reference to FIG.

光遮蔽部材形成工程(ステップS24)に続く樹脂封止工程(ステップS25)では、金属板22,24及び光遮蔽部材10は透明樹脂30により覆われて封止される。このとき具体的には、基板40と合わせる際に金属板22,24と当接する凸部54aを有するモールド金型(上型)54を用いて基板40の上面に装着し(図12(a))、そのモールド金型54の内部のキャビティに透明樹脂30を圧入する。透明樹脂30としては、例えば発光波長あるいは受光波長の光に対して透明な熱硬化型エポキシ樹脂等が用いられる。このとき、基板40は樹脂モールド時における下型の機能を果たす。これにより、モールド金型54と基板40との間に透明樹脂30が流れ込み、基板40上に複数の金属板22,24等が配列されて透明樹脂30により一体的に封止された形態となる(図12(b))。透明樹脂30が硬化した後にモールド金型54を取り外し、樹脂封止工程が終了する。そして、樹脂封止体において基板40と合わせる際にモールド金型54の凸部54aに該当する個所には凹部56が形成されている(図12(c))。   In the resin sealing step (step S25) subsequent to the light shielding member forming step (step S24), the metal plates 22, 24 and the light shielding member 10 are covered and sealed with the transparent resin 30. At this time, specifically, it is mounted on the upper surface of the substrate 40 using a mold die (upper die) 54 having a convex portion 54a that comes into contact with the metal plates 22 and 24 when mating with the substrate 40 (FIG. 12A). ) The transparent resin 30 is press-fitted into the cavity inside the mold 54. As the transparent resin 30, for example, a thermosetting epoxy resin that is transparent to light having a light emission wavelength or a light reception wavelength is used. At this time, the substrate 40 functions as a lower mold during resin molding. As a result, the transparent resin 30 flows between the mold 54 and the substrate 40, and a plurality of metal plates 22, 24, etc. are arranged on the substrate 40 and integrally sealed with the transparent resin 30. (FIG. 12B). After the transparent resin 30 is cured, the mold 54 is removed, and the resin sealing process is completed. A concave portion 56 is formed in a portion corresponding to the convex portion 54a of the mold 54 when the resin sealing body is combined with the substrate 40 (FIG. 12C).

樹脂封止工程(ステップS25)に続く基板除去工程(ステップS26)は、第1実施形態の製造方法の基板除去工程(ステップS6)と同様のため重複説明を省略する。   Since the substrate removal step (step S26) following the resin sealing step (step S25) is the same as the substrate removal step (step S6) of the manufacturing method of the first embodiment, a duplicate description is omitted.

基板除去工程(ステップS26)に続く導電体を金属板と電気的に接続する接続工程(ステップS27)工程では、凹部56の中に導電体26,28をそれぞれ埋め込み、導電体26,28を金属板22,24と電気的に接続する(図12(d))。なお、導電体26,28としては金属導体あるいは導電性樹脂等が用いられてもよい。また、この場合には、導電体26,28はその上面26a,28aが透明樹脂30の上面30bと同一平面上に形成されてもよく、または透明樹脂30の上面30bから突出するように形成されてもよい。   In the connection step (step S27) in which the conductor is electrically connected to the metal plate following the substrate removal step (step S26), the conductors 26 and 28 are embedded in the recess 56, respectively. They are electrically connected to the plates 22 and 24 (FIG. 12 (d)). The conductors 26 and 28 may be metal conductors or conductive resins. In this case, the conductors 26 and 28 may be formed such that the upper surfaces 26a and 28a thereof are flush with the upper surface 30b of the transparent resin 30 or protrude from the upper surface 30b of the transparent resin 30. May be.

接続工程(ステップS27)に続く切断工程(ステップS28)では、図12(d)中において破線で示される切断線に沿って上記の樹脂封止体が切断されて、これにより、個々の光学マスク部材2(図6)が製造される。   In the cutting step (step S28) subsequent to the connecting step (step S27), the resin sealing body is cut along a cutting line indicated by a broken line in FIG. Member 2 (FIG. 6) is manufactured.

上記の光学マスク部材2の他の製造方法では、導電体を金属板と電気的に接続する接続工程は樹脂封止工程と基板除去工程との間に実施してもよい。すなわち、樹脂封止工程に続いて接続工程を行い、その後に基板除去工程を実施することとしても構わない。   In another manufacturing method of the optical mask member 2 described above, the connecting step of electrically connecting the conductor to the metal plate may be performed between the resin sealing step and the substrate removing step. That is, it is possible to perform a connecting step after the resin sealing step and then perform a substrate removing step.

また、第2実施形態に係る光学マスク部材2についても、第1実施形態に係る光学マスク部材1と同様な変形例(図5)を採用することが可能である。   Further, the same modification (FIG. 5) as that of the optical mask member 1 according to the first embodiment can be adopted for the optical mask member 2 according to the second embodiment.

本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記の実施形態では、金属板または導電体の数量はそれぞれ2つとしたが、必要に応じて数量を増減してもよい。   The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above embodiment, the number of metal plates or conductors is two, but the number may be increased or decreased as necessary.

第1実施形態に係る光学マスク部材の上面図、断面図および底面図である。It is the top view, sectional drawing, and bottom view of the optical mask member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る光学マスク部材の変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of the optical mask member which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材の上面図、断面図および底面図である。It is the upper side figure, sectional drawing, and bottom view of the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材を製造する方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the method to manufacture the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材の他の製造方法を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the other manufacturing method of the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment. 第2実施形態に係る光学マスク部材の他の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the other manufacturing method of the optical mask member which concerns on 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1,2…光学マスク部材、10…光遮蔽部材、22,24…金属板、22a,24…下面(端面)、26,28…導電体、30…透明樹脂、40…基板、42,44,46,48…レジスト、50,52,54…モールド金型(上型)、52a…内面、54a…凸部、56…凹部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,2 ... Optical mask member, 10 ... Light shielding member, 22, 24 ... Metal plate, 22a, 24 ... Lower surface (end surface), 26, 28 ... Conductor, 30 ... Transparent resin, 40 ... Substrate, 42, 44, 46, 48 ... resist, 50, 52, 54 ... mold (upper die), 52a ... inner surface, 54a ... convex part, 56 ... concave part.

Claims (5)

所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材と、
前記光遮蔽部材の周縁に設けられた金属板と、
前記光遮蔽部材と前記金属板とを樹脂封止する透明樹脂と、
を備え、
前記金属板は少なくとも一端面が前記透明樹脂から露出するように前記透明樹脂に覆われている、
ことを特徴とする光学マスク部材。
A light shielding member that shields light of a predetermined wavelength;
A metal plate provided on the periphery of the light shielding member;
A transparent resin for resin-sealing the light shielding member and the metal plate;
With
The metal plate is covered with the transparent resin so that at least one end surface is exposed from the transparent resin,
An optical mask member characterized by the above.
前記金属板を覆う前記透明樹脂の領域には、前記透明樹脂で形成された樹脂層を貫通すると共に前記金属板と電気的に接続された導電体が設けられている、ことを特徴とする請求項1に記載の光学マスク部材。   The region of the transparent resin that covers the metal plate is provided with a conductor that penetrates the resin layer formed of the transparent resin and is electrically connected to the metal plate. Item 5. The optical mask member according to Item 1. 請求項1に記載の光学マスク部材を製造する方法であって、
導電性を有する基板の主面上に所定のレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、
前記レジストパターン形成工程において形成されたレジストパターンを除く前記基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、前記基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、
前記金属板電着工程の後に、前記基板から前記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、
前記レジストパターン除去工程の後に、前記基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、
前記光遮蔽部材形成工程の後に、平板状の上型を用いて前記金属板及び前記光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、
前記樹脂封止工程の後に前記基板を除去する基板除去工程と、
を備えることを特徴とする光学マスク部材製造方法。
A method for producing the optical mask member according to claim 1, comprising:
A resist pattern forming step of forming a predetermined resist pattern on the main surface of the conductive substrate;
A metal plate electrodeposition step of electrodepositing a conductive metal on the exposed portion of the main surface of the substrate excluding the resist pattern formed in the resist pattern forming step, and forming a metal plate on the main surface of the substrate; ,
After the metal plate electrodeposition step, a resist pattern removal step of removing the resist pattern from the substrate,
After the resist pattern removing step, a light shielding member forming step for forming a light shielding member that shields light of a predetermined wavelength on the main surface of the substrate;
After the light shielding member forming step, a resin sealing step of covering the metal plate and the light shielding member with a transparent resin using a flat upper mold,
A substrate removal step of removing the substrate after the resin sealing step;
An optical mask member manufacturing method comprising:
請求項2に記載の光学マスク部材を製造する方法であって、
導電性を有する基板の主面上に第1レジストパターンを形成する第1レジストパターン形成工程と、
前記第1レジストパターン形成工程において形成された第1レジストパターンを除く前記基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、前記基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、
前記金属板電着工程の後に、前記基板から前記第1レジストパターンを除去する第1レジストパターン除去工程と、
前記第1レジストパターン除去工程の後に、前記金属板の主面上に第2レジストパターンを形成する第2レジストパターン形成工程と、
前記第2レジストパターン形成工程において形成された第2レジストパターンを除く前記金属板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、前記金属板の主面上に導電体を形成する導電体電着工程と、
前記導電体電着工程の後に、前記金属板から前記第2レジストパターンを除去する第2レジストパターン除去工程と、
前記第2レジストパターン除去工程の後に、前記基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、
前記光遮蔽部材形成工程の後に、平板状の上型の内面を前記導電体と当接するように前記上型と前記基板と合わせて前記金属板及び前記光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、
前記樹脂封止工程の後に前記基板を除去する基板除去工程と、
を備えることを特徴とする光学マスク部材製造方法。
A method for producing the optical mask member according to claim 2,
A first resist pattern forming step of forming a first resist pattern on the main surface of the conductive substrate;
A metal plate for forming a metal plate on the main surface of the substrate by electrodepositing a conductive metal on the exposed portion of the main surface of the substrate excluding the first resist pattern formed in the first resist pattern forming step An electrodeposition process;
A first resist pattern removing step of removing the first resist pattern from the substrate after the metal plate electrodeposition step;
A second resist pattern forming step of forming a second resist pattern on the main surface of the metal plate after the first resist pattern removing step;
Conductive metal is electrodeposited on the exposed portion of the main surface of the metal plate excluding the second resist pattern formed in the second resist pattern forming step, and a conductor is formed on the main surface of the metal plate. A conductor electrodeposition process;
A second resist pattern removing step of removing the second resist pattern from the metal plate after the conductor electrodeposition step;
A light shielding member forming step of forming a light shielding member that shields light of a predetermined wavelength on the main surface of the substrate after the second resist pattern removing step;
Resin sealing that covers the metal plate and the light shielding member with a transparent resin together with the upper die and the substrate so that the inner surface of the flat upper die comes into contact with the conductor after the light shielding member forming step Process,
A substrate removal step of removing the substrate after the resin sealing step;
An optical mask member manufacturing method comprising:
請求項2に記載の光学マスク部材を製造する方法であって、
導電性を有する基板の主面上に所定のレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、
前記レジストパターン形成工程において形成されたレジストパターンを除く前記基板の主面の露出部上に導電性金属を電着して、前記基板の主面上に金属板を形成する金属板電着工程と、
前記金属板電着工程の後に、前記基板から前記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、
前記レジストパターン除去工程の後に、前記基板の主面上に所定波長の光を遮蔽する光遮蔽部材を形成する光遮蔽部材形成工程と、
前記光遮蔽部材形成工程の後に、前記基板と合わせる際に前記金属板と当接する凸部を有する上型を用いて前記金属板及び前記光遮蔽部材を透明樹脂で覆う樹脂封止工程と、
前記樹脂封止工程の後に前記基板を除去する基板除去工程と、
前記基板と合わせた際に前記上型の凸部により形成された前記透明樹脂の凹部に導電体を埋め込み、前記導電体を前記金属板と電気的に接続する接続工程と、
を備えることを特徴とする光学マスク部材製造方法。

A method for producing the optical mask member according to claim 2,
A resist pattern forming step of forming a predetermined resist pattern on the main surface of the conductive substrate;
A metal plate electrodeposition step of electrodepositing a conductive metal on the exposed portion of the main surface of the substrate excluding the resist pattern formed in the resist pattern forming step, and forming a metal plate on the main surface of the substrate; ,
After the metal plate electrodeposition step, a resist pattern removal step of removing the resist pattern from the substrate,
After the resist pattern removing step, a light shielding member forming step for forming a light shielding member that shields light of a predetermined wavelength on the main surface of the substrate;
After the light shielding member forming step, a resin sealing step of covering the metal plate and the light shielding member with a transparent resin using an upper mold having a convex portion that comes into contact with the metal plate when matching with the substrate,
A substrate removal step of removing the substrate after the resin sealing step;
A connecting step of embedding a conductor in the concave portion of the transparent resin formed by the convex portion of the upper mold when combined with the substrate, and electrically connecting the conductor to the metal plate;
An optical mask member manufacturing method comprising:

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