JP4784108B2 - 圧力波発振素子の製造方法 - Google Patents
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Description
始めに、本発明の実施例に係る圧力波発振素子の構成について説明する。
次に、図2,3を参照して、本発明の実施例に係る圧力波発振素子の動作について説明する。
次に、本発明の実施例に係る圧力波発振素子の製造方法について、図4を参照しながら説明する。図4は、本発明の実施例に係る圧力波発振素子の製造工程を説明するための断面工程図である。
2:エッチングマスク
3:電極設置溝
4、40:エッチングマスク
5、50:多孔質層
6a、6b、6c、60:金属電極
Claims (11)
- 半導体基板表面上に電極形成領域を形成するためのマスクパターンを形成する第1の工程と、
前記マスクパターンが形成された半導体基板表面をエッチングし、前記半導体基板表面上に基板水平方向に対し傾斜角を有する少なくとも一つの電極形成領域を形成する第2の工程と、
前記電極形成領域の表面上に電極を形成する第3の工程と
を有することを特徴とする圧力波発振素子の製造方法。 - 前記第1の工程は、
前記半導体基板表面上に熱酸化膜を形成し、当該熱酸化膜上にレジスト膜を形成する工程と、
前記レジスト膜に第1のマスクパターンを形成する工程と、
前記第1のマスクパターンのエッチングレートが前記熱酸化膜よりも大きくなるようにエッチングを行い、傾斜角を有する第2のマスクパターンを形成する工程と
を有することを特徴とする請求項1に記載の圧力波発振素子の製造方法。 - 前記第3の工程は、前記電極形成領域の表面上に熱絶縁層を形成し、熱絶縁層上に前記電極を形成する工程を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記熱絶縁層は、フッ酸溶液中で電気化学エッチングを行うことにより形成することを特徴とする請求項3に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 表面の結晶方位角が(100)方向の半導体基板表面に電極形成領域を形成するためのマスクパターンを形成する第1の工程と、
前記マスクパターンが形成された半導体基板表面に対しウエットエッチング処理を施すことにより、基板水平方向に対し傾斜角を有する少なくとも一つの電極形成領域を形成する第2の工程と、
前記電極形成領域の表面上に電極を形成する第3の工程と
を有することを特徴とする圧力波発振素子の製造方法。 - 前記ウエットエッチング処理は、アルカリ溶液を用いて行うことを特徴とする請求項5に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記アルカリ溶液は、水酸化カリウム、エチレンジアミンピロカテコール又は抱水ヒドラジンのうちのいずれかを含むことを特徴とする請求項6に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記第3の工程は、前記電極形成領域に熱絶縁層を形成し、形成された熱絶縁層上に前記電極を形成する工程を含むことを特徴とする請求項5から請求項7のうちいずれか1項に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記熱絶縁層は、フッ酸溶液中で電気化学エッチングを行うことにより形成することを特徴とする請求項8に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記電極は、高融点金属により形成されていることを特徴とする請求項1から請求項9のうちいずれか1項に記載の圧力波発振素子の製造方法。
- 前記高融点金属は、タングステン又はモリブデンであることを特徴とする請求項10に記載の圧力波発振素子の製造方法。
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