JP4772398B2 - 成膜方法及び成膜装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 70
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 145
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 68
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 47
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 34
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 claims description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 14
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910021385 hard carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Description
図1は、本発明による成膜装置の第1実施形態の構成を示す側面断面図である。本実施形態の成膜装置1aは、いわゆるイオンプレーティング装置であり、本発明による成膜方法に好適に用いられる。なお、図1には、説明を容易にする為にXYZ直交座標系も示されている。
放電電流:80[A]
放電電圧:50〜70[V]
被処理物に入射するイオン粒子のエネルギー:10〜30[eV]
成膜室内圧力:1〜5[mTorr](0.133〜0.667[Pa])
成膜室内導入ガス:Ar及びO2
クリーニング時間:1〜3[分]
放電電流:60〜150[A]
放電電圧:40〜65[V]
被処理物に入射するイオン粒子のエネルギー:10〜30[eV]
成膜室内圧力:3〜5[mTorr](0.4〜0.667[Pa])
成膜室内導入ガス:Ar及びO2
図5は、本発明による成膜装置の第2実施形態の構成を示す側面断面図である。本実施形態の成膜装置1bは、第1実施形態の成膜装置1aと同様に、イオンプレーティング装置であり、本発明による成膜方法の実施に好適に用いられる。なお、図5には、説明を容易にする為にXYZ直交座標系も示されている。
Claims (6)
- プラズマガンからプラズマを照射し、第1の主陽極へ導くとともに、前記プラズマに被処理物を曝すことにより、前記被処理物の表面をクリーニングするクリーニング工程と、
前記成膜材料を保持する第2の主陽極側にプラズマを照射して前記成膜材料を気化させ、該成膜材料を前記被処理物に付着させることにより前記被処理物の表面に膜を形成する成膜工程と
を備えることを特徴とする、成膜方法。 - 前記クリーニング工程と前記成膜工程との間に、前記第1の主陽極を取り除き、該第1の主陽極が設置されていた位置へ前記第2の主陽極を移送する主陽極交換工程を更に備えることを特徴とする、請求項1に記載の成膜方法。
- 前記第1の主陽極を収容し前記プラズマガンを有するクリーニング室、前記クリーニング室と並置され前記第2の主陽極を収容し前記プラズマガンとは別のプラズマガンを有する成膜室、並びに前記クリーニング室上及び前記成膜室上にわたって配置された搬送室を有する真空容器を用い、前記搬送室内において前記被処理物を搬送しつつ、前記クリーニング室及び前記成膜室のそれぞれにおいて前記クリーニング工程及び前記成膜工程を行うことを特徴とする、請求項1に記載の成膜方法。
- 成膜材料にプラズマを照射することにより前記成膜材料を気化させ、該成膜材料を被処理物の表面に付着させることにより成膜を行う成膜装置であって、
真空容器と、
前記真空容器内へ前記プラズマを照射するプラズマガンと、
前記真空容器内に設けられ、前記真空容器内の所定位置へ前記プラズマを吸引する主陽極機構と
を備え、
前記主陽極機構が、
前記プラズマを吸引するための第1の主陽極部材と、
前記プラズマを吸引するとともに前記成膜材料を保持するための第2の主陽極部材と、
前記第1及び第2の主陽極部材を順に前記所定位置へ移送する移送機構と
を有することを特徴とする、成膜装置。 - 前記移送機構が、
前記第1及び第2の主陽極部材を搭載するとともに、前記第1及び第2の主陽極部材を前記所定位置の下方へ順次移動させる主陽極搭載部と、
前記所定位置の下方において上下方向に移動可能に設けられ、前記所定位置の下方へ移動された前記第1又は第2の主陽極部材を前記所定位置へ押し上げる主陽極押上げ部材と
を有することを特徴とする、請求項4に記載の成膜装置。 - 成膜材料を気化させて被処理物の表面に付着させることにより成膜を行う成膜装置であって、
互いに並置されたクリーニング室及び成膜室、並びに前記クリーニング室上及び前記成膜室上にわたって配置された搬送室を有する真空容器と、
前記クリーニング室内へプラズマを照射する第1のプラズマガンと、
前記クリーニング室内に設けられ、前記第1のプラズマガンからの前記プラズマを吸引する第1の主陽極と、
前記成膜室内へプラズマを照射する第2のプラズマガンと、
前記成膜室内に設けられ、前記第2のプラズマガンからの前記プラズマを吸引するとともに前記成膜材料を保持する第2の主陽極と、
前記搬送室内に設けられ、前記被処理物を支持するとともに、前記クリーニング室上から前記成膜室上へ前記被処理物を搬送する搬送機構と
を備えることを特徴とする、成膜装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005195266A JP4772398B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 成膜方法及び成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005195266A JP4772398B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 成膜方法及び成膜装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007009309A JP2007009309A (ja) | 2007-01-18 |
| JP4772398B2 true JP4772398B2 (ja) | 2011-09-14 |
Family
ID=37748186
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005195266A Expired - Fee Related JP4772398B2 (ja) | 2005-07-04 | 2005-07-04 | 成膜方法及び成膜装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4772398B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8268094B2 (en) | 2007-05-09 | 2012-09-18 | Air Products And Chemicals, Inc. | Furnace atmosphere activation method and apparatus |
| JP6009220B2 (ja) * | 2012-05-21 | 2016-10-19 | 住友重機械工業株式会社 | 成膜装置 |
-
2005
- 2005-07-04 JP JP2005195266A patent/JP4772398B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2007009309A (ja) | 2007-01-18 |
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