JP4772062B2 - 最適な書込パラメータを選択する方法ならびに装置、およびかかる方法ならびに装置に使用する光記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、放射ビームによって光記録媒体上に情報を書き込む光記録装置で使用する書込パラメータの、最適値を設定する方法に関するものである。本発明はまた、光記録媒体上に情報を記録する光記録装置であって、その記録媒体上に情報を記録するための制御可能な書込パワーレベルの値を有する放射ビームを発する放射源を含む、光記録装置にも関するものである。加えて、本発明は、放射ビームによる照射によって情報を記録するための光記録媒体であって、当該記録プロセスによりその記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す、制御情報を含む領域を有する光記録媒体にも関するものである。

光記録装置では、正しいパワーの放射ビーム（たとえばレーザービーム）で光記録媒体上に情報を記録することが重要である。媒体製造業者は、この正しいパワーを絶対的な形で与えることができるが（たとえばディスク上に予め記録された形で）、個々の記録媒体と記録装置との組合せに対する環境および装置ごとの偏差のため、信頼性の高い光記録のためには、対象の記録媒体に依存する正しいパワーを見出すことが必要となってくる。この目的のため、当該技術分野では、いくつかの最適パワー制御（ＯＰＣ）ルーチン、たとえばガンマＯＰＣ（一般的に、たとえばＣＤ−ＲＷやＤＶＤ＋／−ＲＷといった書換可能型媒体に使用される）、ベータＯＰＣ（一般的に、たとえばＣＤ−ＲやＤＶＤ＋／−Ｒといった記録可能型媒体に使用される）およびカッパＯＰＣ（たとえばＢＤ−ＲＥ／Ｒ媒体に使用される）等が知られている。

国際公開ＷＯ０２／４１３０６号（引用により本出願に組み込まれており、本出願の一部をなすものとする）には、光記録媒体上に一連のテストパターンを書き込み、それらのパターンから読出信号を形成し、その読出信号を処理することにより、光記録装置内における放射ビームの最適な書込パワーを設定する方法が記載されている。かかる処理は、微分工程を実行する必要なしに、読出信号から得られた複数のパラメータに、関数（好ましくは直線）をフィッティングする処理を包含する。読出信号から得られるそのようなパラメータの一例としては、変調（Ｍ）が挙げられる。曲線フィッティング処理は、フィッティングが行われる区間を規定するための、１つ以上のパワー値を必要とする。国際公開ＷＯ０２／４１３０６号は、曲線フィッティングが、何らかの理由により最適な書込パラメータとして適格でない書込パラメータの第１の値（たとえば予め設定された値の範囲外の値）をもたらした場合のための、いくつかのとり得る方策を開示している。かかる方策の１つは、書込パラメータの第１の値が、フィッティングが実行されるべき第２の区間を規定するのに用いられる、反復処理である。結果として得られる第２の書込パラメータは、その後、たとえば予め設定された範囲と比較されるなどして、最適な書込パラメータとしての評価を受け得る。第２の書込パラメータが最適な書込パラメータとして適格でない場合、何らかの予め設定された条件が満たされるまで、反復処理が続けられてもよい。

しかしながら、光記録装置および光記録媒体のいくつかの組合せに内在する問題として、この反復処理は、最適な書込パワーが得られるまでに、比較的多くの回数の反復工程を必要とし得るという問題がある。そのため、記録処理が遅延され、ユーザーに不快感を抱かせるかもしれない。さらに、光記録装置と光記録媒体とのいくつかの不適当な組合せでは、反復処理は、最適な書込パラメータに向かって収束しないかもしれない。そのような場合には、光記録装置は記録媒体上に記録を行うことができず、動作不良という結果を招く。

そのため、改善された光記録装置が有利であり、とりわけより効率的かつ／または信頼性の高い光記録装置が有利である。

したがって、本発明は、好ましくは、上記で説明した欠点の１つまたは複数を、単独でまたは任意の組合せで軽減、緩和または除去することを模索するものである。とりわけ、本発明の１つの目的とされ得るのは、光媒体上への光記録のための書込パラメータの最適値を得る際の上記の従来技術の問題を、解決する方法を提供することである。かかる書込パラメータの最適値から、書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）が導出されてもよい。

本発明の第１の側面によれば、上記およびその他のいくつかの目的は、放射ビームによって光記録媒体上に情報を書き込む光記録装置内で使用する書込パラメータの、最適値を設定する方法であって、
１）一連のテストパターンであって、各パターンが放射ビームの異なる値の書込パワーレベル（Ｐ）を用いて書き込まれるものであるテストパターンを、光記録媒体上に書き込む工程と、
２）上記の一連のテストパターンを読み出して、対応の読出信号部分（１８、１９）を生成する工程と、
３）各読出信号部分から、読出パラメータの値を導出する工程と、
４）上記の読出パラメータと上記の書込パワーレベル（Ｐ）との関係を規定する関数を、読出パラメータおよび書込パワーレベル（Ｐ）の対応する値に曲線フィッティングする工程であって、その曲線フィッティング関数が、書込パワーレベルの初期値（Ｐ_ｉｎｉ）を有するものである工程と、
５）上記の曲線フィッティング関数から、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を取得し、その書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が書込パラメータの最適値として適格であるか否かを評価する工程とを含み、
上記の書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が書込パラメータの最適値として適格でないときは、
６）一連の書込パワーレベルの初期値（Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ}）が
Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ＋１}＝ＡＰ_{ｉｎｉ，ｎ}＋（１−Ａ）Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}
で与えられる反復処理（Ａは定数、ｎは整数）により、１つ以上の書込パワーレベルの特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}）を取得する工程を開始する方法を提供することによって達成される。

本発明は、これに限定されるものではないが、比較的短い時間内で書込パラメータの少なくとも１つの最適値を得るのに、特に有利である。有利な形態では、通常、収束しないまたは不安定な反復処理に伴う問題が回避される。したがって、書込パラメータの最適値を得るための、改善された効率的な方法が提供される。

この最適値は、本発明の方法により得られる最適な値を表すものであるが、この見出された書込パラメータの最適値は、必ずしも書込パラメータの取得可能な厳密な最適値でなくてもよい。たとえば、全体を通じた最適値ではなく、局所的な最適値が取得されてもよい。

上記の読出パラメータは、光記録媒体上に記録された情報から導出された読出信号の振幅の変調（Ｍ）であってもよい。この変調（Ｍ）は、式
Ｍ＝（（Ｉ_Ｈ−Ｉ_Ｌ）／Ｉ_Ｈ）・１００
より計算される。ここで、Ｉ_Ｈは、より長い長マークを含む情報担体上に記録された情報を読み出すことから導出された、読出信号中の振幅の最大レベルを示し、Ｉ_Ｌは、同読出信号中の振幅の最小レベルを示す。より長い長マークとは、たとえば、８−１４＋変調（ＥＦＭ＋）コード化が採用されている場合には、チャネルビット長の１４倍の長さを有するマークとされる。

上記の曲線フィッティング関数は、
Ｐ・Ｍ＝α・（Ｐ−β）
の形式の関数とされてもよく、ここでαおよびβは曲線フィッティングの結果として得られた値を有する。この関数に対する書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は、βの値と、第１の乗算定数（κ）との積に実質的に等しい値に設定されてもよい。全般的にいえば、読出パラメータと書込パワーレベル（Ｐ）との関係を規定する関数であれば、任意の形状の任意の関数を使用することができる。しかしながら、直線であれば、極めて容易かつ精確な曲線フィッティングが可能である点に留意されたい。したがって、直線をフィッティングすることができるように、読出パラメータおよび書込パワーレベル（Ｐ）の値を配することが有利である。加えて、βの値が、直線フィッティング手順から精確に決定され、このことは、いくつかの結果が得られ得る代替のフィッティング手順と比較して、非常に有利である。

上記の第１の乗算定数（κ）は、当該プロセスにより光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す制御情報を含む、その光記録媒体上の領域から読み出されてもよい。すなわち、媒体製造業者は、この情報を光媒体上に付与してもよい。あるいは、乗算定数（κ）は、較正手順内においてユーザーにより決定されてもよい。

書込パワーレベルの予め決められたフィッティング範囲内において、直線を規定する関数の曲線フィッティングが行われ、この予め決められたフィッティング範囲の位置が、範囲因子（Ｒ）、および各曲線フィッティング関数と対応付けられた書込パワーレベルの初期値（Ｐ_ｉｎｉ）により決められてもよい。ここで、Ｒはパーセント値である。フィッティング範囲の上限は、Ｐ_ｉｎｉ×（１＋Ｒ）により与えられてもよく、フィッティング範囲の下限は、Ｐ_ｉｎｉ×（１−Ｒ）により与えられてもよい。範囲因子（Ｒ）の値は、１０％、２０％または３０％とされてもよい。

書込パワーレベルの初期値を示す情報は、当該プロセスにより光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す制御情報を含む、その光記録媒体上の領域から読み出されてもよい。すなわち、対象の光媒体に情報を記録するための書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）の、迅速かつ精確な特定を容易にするため、媒体製造業者は、上記の情報を光媒体上に付与してもよい。

上記の定数Ａは、０から１の間のいかなる値であってもよく、たとえば０．１、０．２、０．３、０．４、０．５、０．６、０．７、０．８または０．９等の値であってもよい。また、定数Ａは、０．１−０．４、０．２−０．３、０．６−０．９または０．７−０．８のうちの任意の区間内の値を有していてもよい。あるいは、定数Ａは、０．１５−０．３５、０．０５−０．４９５、０．０１−０．４９９、０．５１５−０．９８５、０．５０５−０．９９５または０．５０１−０．９９９のうちの任意の区間内の値を有していてもよい。

本発明の方法は、ある書込パワーレベル（Ｐ）を有する放射ビームによって光記録媒体上に情報を書き込む光記録装置内での使用を意図した、放射ビームの書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）を設定する方法であって、書込パラメータの最適値の設定に上記で説明した方法を用い、書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）が、書込パラメータの最適値と、第２の乗算定数（ρ）との積に等しい値に設定されるような方法を提供するものであってもよい。ここで、この書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）の定義は、国際公開ＷＯ０２／４１３０６号に開示されているものとは異なる点に留意されたい。すなわち、乗算定数の規定の仕方が異なる。書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）は、記録媒体上に記録された情報から読出信号の最も低いジッタが得られるような、書込パワーレベルとして定義されてもよい。また、書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）は、その書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）周辺の変動に対する読出信号の安定性を考慮に入れたものであってもよい。書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）は、記録媒体の目的に応じて異なり得る。したがって、１回記録のための書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）は、記録媒体の同一の領域上への複数回記録のための書込パワーレベルの最適値（Ｐ_ｏｐｔ）とは異なるかもしれない。

上記の第２の乗算定数（ρ）は、当該プロセスにより光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す制御情報を含む、その光記録媒体上の領域から読み出されてもよい。すなわち、光媒体の製造業者は、規格化された条件の下、この第２の乗算定数（ρ）を決定し、この情報を光媒体上に付与してもよい。

第２の側面によれば、本発明は、上記の本発明の第１の側面に係る方法を実行する光記録装置であって、
光記録媒体上に情報を記録するための、制御可能な書込パワーレベル（Ｐ）の値を有する放射ビームを発する放射源と、
一連のテストパターンであって、各パターンが異なる値の書込パワーレベルを用いて書き込まれるものであるテストパターンを、記録するための制御ユニットと、
上記の一連のテストパターンを読み出して、対応の読出信号部分を生成する読出ユニットと、
各読出信号部分から、読出パラメータの値を導出する第１の手段と、
上記の読出パラメータと上記の書込パワーレベル（Ｐ）との関係を規定する関数を、対応する読出パラメータおよび書込パワーレベル（Ｐ）の値に曲線フィッティングする第２の手段であって、その曲線フィッティング関数が、書込パワーレベルの初期値（Ｐ_ｉｎｉ）を有するものとされる第２の手段と、
上記の曲線フィッティング関数から、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を取得し、その書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が書込パラメータの最適値として適格であるか否かを評価する第３の手段とを含み、
上記の書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が書込パラメータの最適値として適格でないときは、
一連の書込パワーレベルの初期値（Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ}）が
Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ＋１}＝ＡＰ_{ｉｎｉ，ｎ}＋（１−Ａ）Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}
で与えられる反復処理（Ａは定数、ｎは整数）により、１つ以上の書込パワーレベルの特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}）を取得する第４の手段を始動させる光記録装置を提供する。

とりわけ有利な点は、本発明は当該技術分野で既に知られている手段を用いて適用され得る点であるが、本発明の書込パラメータの最適値を見出す手法は、書込パラメータの最適値を見出す既知の手法と比較して、いくつかの利点を有する。

第３の側面によれば、本発明は、放射ビームによる照射によって情報を記録するための光記録媒体であって、当該プロセスによりその光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す、制御情報を含む領域を含み、その制御情報が、上記の記録プロセスの記録パラメータの値を含み、かつその制御情報が、上記の本発明の第１の側面に係る方法または上記の本発明の第２の側面に係る装置で使用する、書込パワーレベルの初期値（Ｐ_ｉｎｉ）を示す情報を含んでいるような光記録媒体を提供する。

制御情報が記録媒体自体に付与され得ることは、媒体製造業者が効果的にユーザーに制御情報を頒布することを可能とするので、特に有利である。

さらに、放射ビームによる照射によって情報を記録するための光記録媒体は、当該プロセスによりその光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す、制御情報を含む領域を含むものとされてもよく、その制御情報が、上記の記録プロセスの記録パラメータの値を含み、かつその制御情報が、上記の本発明の方法で使用する、定数Ａ、第１の乗算定数（κ）または第２の乗算定数（ρ）の、少なくとも１つを含んでいるものとされてもよい。

本発明の上記およびその他の側面は、以下に説明する実施形態を参照することにより明らかとされる。以下では、単なる例としての図面を参照して、本発明を説明する。

図１は、本発明に従う光記録装置および光記録媒体１を示した図である。記録媒体１は、透明基板２と、その上に配された記録層３とを有している。記録層３は、放射ビーム５により情報を記録するのに適した材料を含んでいる。記録材料は、たとえば、磁気光学材料タイプ、相変化タイプ、色素タイプ、Ｃｕ／Ｓｉのような金属合金、または任意の他の適当な材料とされ得る。情報は、記録層３上に、光検出可能な領域（マークとも呼ばれる）の形態で記録され得る。装置は、放射ビーム５を発する放射源４、たとえば半導体レーザーを含んでいる。放射ビームは、ビームスプリッタ６、対物レンズ７および基板２を介して、記録層３へと指向させられる。これに代えて、記録媒体は、空気側入射であってもよく、その場合、放射ビームは基板を通過することなく記録層３上に直接入射する。媒体１から反射された放射は、対物レンズ７により集められ、ビームスプリッタ６を通過した後、検出システム８に入射する。この検出システム８は、入射した放射を、電気的な検出信号に変換する。検出信号は、回路９に供される。回路９は、検出信号から、記録媒体１より読み出された情報を表す読出信号Ｓ_Ｒその他の、いくつかの信号を導出する。放射源４、ビームスプリッタ６、対物レンズ７、検出システム８および回路９は、全体で、読出ユニット９０を形成する。

回路９からの読出信号は、その読出信号から読出パラメータを表す信号を導出すべく、第１のプロセッサ１０内で処理される。導出された信号は、第２のプロセッサ１０１に供給され、続いて第３のプロセッサ１０２に供給される。これらのプロセッサは、読出パラメータの一連の値を処理し、それらの値から、レーザーパワーレベルの制御に必要な書込パワー制御信号の値を導出する。

書込パワー制御信号は、制御ユニット１２に供される。記録媒体１上に記録される情報を表す情報信号１３も、制御ユニット１２に供給される。制御ユニット１２の出力は、放射源４に接続される。記録層３上のマークは、プロセッサ１０２が決定する最適な書込パワーレベル（Ｐ_ｏｐｔ）によりパワーが決定される、単一の放射パルスで記録されてもよい。あるいは、マークは、等しい長さまたは異なる長さと、書込パワー信号により特定される１つまたは複数のパワーレベルとを有する、一連の放射パルスにより記録されてもよい。

ここで、プロセッサとは、計算を実行するのに適した任意の手段を意味するものと理解されたい。たとえば、プロセッサは、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、ハードワイヤ接続されたアナログ回路、またはフィールドプログラマブル回路とされ得る。さらに、第１のプロセッサ１０、第２のプロセッサ１０１および第３のプロセッサ１０２は、別個の装置であってもよいし、あるいは３つすべての処理を実行する単一の装置に統合されていてもよい。

媒体１上に情報を記録する前に、装置は、本発明に係る１つの方法を実行することにより、自己の書込パワー（Ｐ）を最適値（Ｐ_ｏｐｔ）に設定する。この方法は、図４のフローチャートに概略的に図示されている。

第１のステップ４１では、装置は、媒体１上に一連のテストパターンを書き込む。これらのテストパターンは、所望の読出信号を与えるように選択されるべきものである。読出信号から導出される読出パラメータが、テストパターンに係る読出信号部分の変調（Ｍ）である場合には、その読出信号部分の最大限の変調を実現するために、テストパターンは、十分長いマークを含んでいるべきである。いわゆる８−１４変調（ＥＦＭ）に従って情報がコード化される場合には、テストパターンは、その変調方式の長マークであるＩ１１マークを含むことが好ましい。８−１４＋変調（ＥＦＭ＋）に従って情報がコード化される場合には、テストパターンは、この変調方式の長マークであるＩ１４マークを含むべきである。いわゆる１７ＰＰ変調に従って情報がコード化される場合には、テストパターンは、その変調方式の長マークであるＩ８マークを含むことが好ましい。各テストパターンは、異なる書込パワーレベル（Ｐ）で記録される。パワー範囲は、記録媒体上に制御情報として記録された指示パワーレベル（Ｐ_ｉｎｉ）に基づいて選択されてもよい。後続のテストパターンは、制御ユニット１２による制御の下、段階的に増分される書込パワーレベル（Ｐ）で記録されてもよい。テストパターンは、記録媒体上の任意の個所に書き込まれ得る。あるいは、これらのテストパターンは、記録媒体上に特別に設けられたテスト領域内に書き込まれてもよい。

第２のステップ４２では、読出信号Ｓ_Ｒを生成するべく、記録されたテストパターンが、読出ユニット９０により読み出される。図２は、２つの異なる書込パワーレベルで書き込まれた２つのテストパターンから得られる、読出信号部分１８および１９を示している。図示されているパターンは、読出信号部分１８と１９との両方において、信号部分１５として示された短マーク、信号部分１６として示された長マーク、および信号部分１７として示された短マークを含んでいる。実際のパターンは、異なる長さまたは等しい長さの、数百個のマークを含み得る。

第３のステップ４３では、プロセッサ１０が、読出信号Ｓ_Ｒから、各読出信号部分について読出パラメータを導出する。可能な読出パラメータの一例としては、読出信号部分の振幅の最大レベル（読出信号部分１８について、図２中に「ｂ」で示されている）に対する、同一の読出信号部分の振幅の最小レベル（「ａ」で示されている）の比が挙げられる。１つの好ましい読出パラメータは変調（Ｍ）であり、これは、読出信号部分の最大振幅「ｂ」に対する、読出信号の最大ピーク間値（「ｃ」で示されている）の比である。

第４のステップ４４では、プロセッサ１０１が、互いに対応付けられた読出パラメータおよび書込パワーレベル（Ｐ）の値に対し、関数のフィッティングを行う。この関数は、読出パラメータと書込パワーレベル（Ｐ）との間の関係を規定した関数である。曲線フィッティング関数に対する入力値として、書込パワーレベルの対応の初期値（Ｐ_ｉｎｉ）が供給される。書込パワーは、テストパターン記録中の書込パワー制御信号の値から、あるいは放射パワーの測定値から取得され得る。曲線フィッティング関数は、当業者には容易に利用可能な、多くの異なる数学的形式の関数とされ得る。こうして、曲線、たとえば多項式曲線が、問題の書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）周辺のパワーレベルにフィッティングされ得る。

図３には、曲線フィッティング手順の好ましい実施形態を伴うグラフが示されている。

縦軸は書込パワー（Ｐ）と変調（Ｍ）との積を示し、横軸は書込パワー（Ｐ）を示している。点５１はそれぞれ、測定された変調（Ｍ）と書込パワー（Ｐ）との積と、書込パワー（Ｐ）との値の組を表している。

図３の好ましい実施形態には、書込パワーレベル初期値Ｐ_{ｉｎｉ，１}が示されている。書込パワーレベル初期値Ｐ_{ｉｎｉ，１}周辺の予め規定された区間（矢印５２により模式的に示されている）内において、図３中のグラフの測定点５１が、
Ｐ・Ｍ＝α・（Ｐ−β）
の形式の関数にフィッティングされる。ここで、αおよびβはフィッティング定数である。図３のグラフ中では、フィッティング関数は直線５３である。βの値は、直線５３と横軸との交点５４に対応する。直線５３およびそれに付随する定数αならびにβは、最小自乗法その他の適当な数学的手法で見出される。

区間５２は、書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）のある範囲割合（Ｒ）、たとえば書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）の１０％、２０％、３０％または４０％の範囲割合（Ｒ）として規定されてもよいが、予め規定された一定区間、たとえば０．１ｍＷまたは０．２ｍＷとされてもよい。

第５のステップ４５では、プロセッサ１０２が、予め規定された手順を実行して、第４のステップの曲線フィッティング関数から、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を導出する。したがって、これにより書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は、対応の書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）を有することとなる。好ましい実施形態では、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は、
Ｐ_ｃｈａｒ＝κ・β
で与えられる。ここで、κは第１の乗算定数である。このκは、光記録媒体１から読み出される。βの値は書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）に依存するので、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は、対象の書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）の関数である。見出された書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が最適な値であるか否かを評価するために、得られたばかりの書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を評価する予め規定された手順が実行される。すなわち、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は、特定の許容される値の範囲と比較されてもよいし、かつ／または特定の固定値の組と比較されてもよい。

最も好ましい実施形態では、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）と対応の書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）との数値的な差を評価することにより、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が、対応の書込パワーレベル初期値（Ｐ_ｉｎｉ）と比較される。その数値的な差が、たとえば０．１ｍＷ、０．０５ｍＷ、０．００１ｍＷまたは０．００５ｍＷといった、特定の閾値レベル未満である場合、書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）は最適値であると捉えられ、書込手順が開始されるステップ４７において、本発明の方法が終了させられる。上記の閾値レベルは、書込レーザーのパワーステッピング解像度に依存するのが有利である。ここで、パワーステッピング解像度は、パワー較正中における連続するレーザーパワーレベル間の差、すなわち図３の横軸上における点５１間のパワー差によって与えられ得る。しかしながら、上記の予め規定された手順によって書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）が最適値でないと判断された場合には、第６のステップ４６が開始される。

書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）の評価手法としては、多くの異なる手法が当業者に容易に利用可能である。これには、測定値に内在する分散による比較の敏感さを低減するのに役立つ、統計的な方法が含まれる。

第６のステップ４６において、プロセッサ１０２は、第５のステップ４５の条件を満たす改善された書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）、すなわち最適値である書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を見出すことを目的として、反復処理を開始する。この処理は、一連の書込パワーレベルの初期値（Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ}）が
Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ＋１}＝ＡＰ_{ｉｎｉ，ｎ}＋（１−Ａ）Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}
で与えられる反復手法すなわち反復処理により行われる。ここで、Ａは好ましくは０から１の間である定数であり、ｎは整数である。

このことは、図３において、ｎ＝１である上記の反復式により与えられたＰ_{ｉｎｉ，２}によって、模式的に図解されている。第４のステップ４４において提供されたのと同一の手順により、Ｐ_{ｉｎｉ，２}周辺の矢印５５で示されている予め規定された区間内において、変調（Ｍ）と書込パワー（Ｐ）との積の測定値５１に、フィッティングが施される。そうして、値β_２を有する点５７において横軸と交差する、直線５６が得られる。β_２より、書込パワーレベルの新たな特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，２}）が取得される。続いて、本発明の第５のステップ４５に従って、この新たな特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，２}）が最適値として評価される。取得された書込パワーレベルの特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，２}）が最適値でない場合には、別の書込パワーレベルの特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，３}）を取得し、そのＰ_{ｃｈａｒ，３}が最適値として適格であるか否かを評価するために、さらなる反復ステップが実行されてもよい。その後、最適値が得られるまで反復が進められてもよい。

こうして、取得された書込パワーレベルの特性値（Ｐ_{ｃｈａｒ，ｉ}）の各々について、第５のステップ４５において評価がなされる。第５のステップ４５と第６のステップ４６との間のループは、最適値が得られるまで繰り返されるのが好ましいが、比較的多数回の反復ループ後も最適値が得られない場合は、予め規定された停止手順によりループを中断してもよい。

本発明は、最適な書込パワーレベルの特性値（Ｐ_ｃｈａｒ）を見出すための比較的高速かつより安定した反復処理を可能とすることが、数値的な計算により示された。すなわち、通常は、数回のみの反復ステップが必要とされ、非収束は稀にしか観測されない。

上記の結果、図１に示した放射ビーム５の、書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）を見出すことができる。書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）は、書込パラメータの最適値と、第２の乗算定数（ρ）との積に等しくなるよう設定される。すなわち、
Ｐ_ｏｐｔ＝ρ・Ｐ_ｃｈａｒ
である。

こうして、光記録媒体上に情報を書き込むための書込パワーレベル（Ｐ）の最適値（Ｐ_ｏｐｔ）が得られる。

書込パラメータの最適値を見出すため、そしておそらくは見出された１つ以上の書込パラメータの最適値の安定性を評価するために、定数（すなわちＡ、ρおよびκ）の値が変化させられ得ると考えられる。同様に、見出された書込パラメータの最適値、およびその安定性を評価するため、範囲割合（Ｒ）も、反復態様で変化させられてもよい。

以上、具体的な実施形態との関連で本発明を説明してきたが、これは、本発明を本明細書に開示の具体的な形態に限定する意図ではない。そうではなく、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によってのみ限定されるべきである。特許請求の範囲において、
「含む」または「備える」との語は、他の要素または工程の存在を排除するものではない。また、個々の特徴が異なる請求項中に含まれているかもしれないが、これらの特徴は場合によっては有利に組み合わせられ得るものであり、異なる請求項中に含まれていることは、それらの特徴の組合せが不可能であることおよび／または不利であることを示唆するものではない。加えて、単一の要素として言及していることは、かかる要素が複数存在することを排除するものではない。すなわち、「１つの」、「第１の」、「第２の」等の言及は、その要素が複数存在することを排除するものではない。さらに、請求項中の参照符号は、技術的範囲を限定するものと解釈されるべきではない。

本発明に従う光記録装置の１つの実施形態を示した図 ２つのテストパターンからの２つの読出信号部分を示した図 書込パワーの関数としての変調測定値と書込パワーとの積、および２つの曲線フィッティング関数を示したグラフ 本発明に従う１つの方法のフローチャート

Claims (9)

1. 放射ビームによって光記録媒体上に情報を書き込む光記録装置内で使用する書込パラメータの、最適値を設定する方法であって、
   １）一連のテストパターンであって、各パターンが前記放射ビームの異なる値の書込パワーレベルを用いて書き込まれるものであるテストパターンを、前記光記録媒体上に書き込む工程と、
   ２）前記一連のテストパターンを読み出して、対応の読出信号部分を生成する工程と、
   ３）各読出信号部分から、前記光記録媒体上に記録された情報から導出された読出信号の振幅の変調Ｍである読出パラメータの値を導出する工程と、
   ４）前記読出パラメータと前記書込パワーレベルＰとに基づく関数を、前記読出パラメータおよび前記書込パワーレベルＰの対応する値に曲線フィッティングする工程であって、該曲線フィッティング関数が、Ｐ・Ｍ＝α・（Ｐ−β）の形式の関数であり、前記αおよび前記βは前記曲線フィッティングの結果として得られた値を有するものであり、該曲線フィッティング関数に対する入力値として書込パワーレベルの初期値が供給される工程と、
   ５）前記曲線フィッティング関数から、前記βの値と第１の乗算定数との積に実質的に等しい値に設定される書込パワーレベルの特性値を取得し、該書込パワーレベルの特性値が書込パラメータの最適値として適格であるか否かを評価する工程とを含み、
   前記書込パワーレベルの特性値が書込パラメータの最適値として適格でないときは、
   ６）一連の書込パワーレベルの初期値Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ}が
   Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ＋１}＝ＡＰ_{ｉｎｉ，ｎ}＋（１−Ａ）Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}
   で与えられる反復処理（Ａは０から１の間の定数、ｎは整数）により、１つ以上の書込パワーレベルの特性値Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}を取得し、書込パワーレベルの初期値Ｐ _ｉｎｉ のそれぞれの新たな値がβの新たな値をもたらし、βの新たな値が書込パワーレベルの特性値Ｐ _ｃｈａｒ の新たな値をもたらす工程を開始することを特徴とする方法。
2. 前記第１の乗算定数が、当該プロセスにより前記光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す制御情報を含む、前記光記録媒体上の領域から読み出されることを特徴とする請求項１記載の方法。
3. 書込パワーレベルの予め決められたフィッティング範囲内において、直線を規定する前記関数の曲線フィッティングが行われることを特徴とする請求項１記載の方法。
4. 前記予め決められたフィッティング範囲の位置が、範囲因子および各曲線フィッティング関数と対応付けられた前記書込パワーレベルの初期値により決まる位置であることを特徴とする請求項３記載の方法。
5. ある書込パワーレベルを有する放射ビームによって光記録媒体上に情報を書き込む光記録装置内での使用を意図した、前記放射ビームの前記書込パワーレベルの最適値を設定する方法であって、
   書込パラメータの最適値の設定に請求項１記載の方法を用い、
   前記書込パワーレベルの最適値が、前記書込パラメータの最適値と、第２の乗算定数との積に等しい値に設定されることを特徴とする方法。
6. 前記第２の乗算定数が、当該プロセスにより前記光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す制御情報を含む、前記光記録媒体上の領域から読み出されることを特徴とする請求項５記載の方法。
7. 請求項１記載の方法を実行する光記録装置であって、
   前記光記録媒体上に情報を記録するための、制御可能な書込パワーレベルの値を有する放射ビームを発する放射源と、
   一連のテストパターンであって、各パターンが異なる値の前記書込パワーレベルを用いて書き込まれるものであるテストパターンを、記録するための制御ユニットと、
   前記一連のテストパターンを読み出して、対応の読出信号部分を生成する読出ユニットと、
   各読出信号部分から、前記制御ユニットで記録した情報から導出された読出信号の振幅の変調Ｍである読出パラメータの値を導出する第１の手段と、
   前記読出パラメータと前記書込パワーレベルとに基づく関数を、前記読出パラメータおよび前記書込パワーレベルＰの対応する値に曲線フィッティングする第２の手段であって、該曲線フィッティング関数が、Ｐ・Ｍ＝α・（Ｐ−β）の形式の関数であり、前記αおよび前記βは前記曲線フィッティングの結果として得られた値を有するものであり、該曲線フィッティング関数に対する入力値として書込パワーレベルの初期値が供給される第２の手段と、
   前記曲線フィッティング関数から、前記βの値と第１の乗算定数との積に実質的に等しい値に設定される書込パワーレベルの特性値を取得し、該書込パワーレベルの特性値が書込パラメータの最適値として適格であるか否かを評価する、第３の手段とを含み、
   前記書込パワーレベルの特性値が書込パラメータの最適値として適格でないときは、
   一連の書込パワーレベルの初期値Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ}が
   Ｐ_{ｉｎｉ，ｎ＋１}＝ＡＰ_{ｉｎｉ，ｎ}＋（１−Ａ）Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}
   で与えられる反復処理（Ａは０から１の間の定数、ｎは整数）により、１つ以上の書込パワーレベルの特性値Ｐ_{ｃｈａｒ，ｎ}を取得し、書込パワーレベルの初期値Ｐ _ｉｎｉ のそれぞれの新たな値がβの新たな値をもたらし、βの新たな値が書込パワーレベルの特性値Ｐ _ｃｈａｒ の新たな値をもたらす第４の手段を始動させることを特徴とする光記録装置。
8. 放射ビームによる照射によって情報を記録するための光記録媒体であって、
   当該プロセスにより前記光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す、制御情報を含む領域を含み、
   前記制御情報は、前記記録プロセスの記録パラメータの値を含み、
   前記制御情報は、請求項１記載の方法または請求項７記載の装置で使用する、前記書込パワーレベルの初期値を示す情報を含んでいることを特徴とする光記録媒体。
9. 放射ビームによる照射によって情報を記録するための光記録媒体であって、
   当該プロセスにより当該光記録媒体上への情報の記録が可能な記録プロセスを示す、制御情報を含む領域を含み、
   前記制御情報は、前記記録プロセスの記録パラメータの値を含み、
   前記制御情報は、請求項１または５記載の方法でそれぞれ使用する、前記定数Ａ、前記第１の乗算定数、または前記第２の乗算定数の、少なくとも１つを含んでいることを特徴とする光記録媒体。

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