JP4769451B2 - 露光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、表面に格子状の分割予定ラインによって区画された領域に機能素子が形成されたウエーハの裏面または表面に被覆されたレジスト膜を、分割予定ラインに沿って露光する露光装置に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に形成されたストリートと呼ばれる分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等の機能素子を形成する。そして、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切断することにより機能素子が形成された領域を分割して個々の半導体チップを製造している。また、サファイヤ基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体等の発光素子(機能素子)が積層された光デバイスウエーハも所定の分割予定ラインに沿って切断することにより個々の発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスに分割され、電気機器に広く利用されている。
上述した半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等の分割予定ラインに沿った切断は、通常、ダイサーと称されている切削装置によって行われている。この切削装置は、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削するための切削ブレードを備えた切削手段と、チャックテーブルと切削手段とを相対的に移動せしめる加工送り手段とを具備し、切削ブレードを回転しつつ被加工物を保持したチャックテーブルを加工送りすることにより,ウエーハをストリートに沿って切断する。(例えば、特許文献1参照。)
特開2001−85365号公報
しかるに、上述した切削装置の切削ブレードによってウエーハを切断すると、分割された個々のチップの外周に細かな欠けが生じやすく、チップの抗折強度を低下させる原因となっている。このような問題を解消するために、ウエーハの裏面にレジスト膜を被覆し、該レジスト膜の分割予定ラインに対応する領域を露光することにより現像して除去し、その後、ウエーハをレジスト膜側からプラズマエッチング等によって分割予定ラインに沿ってエッチングすることにより、ウエーハを分割予定ラインに沿って分割する方法が提案されている。
而して、ウエーハの裏面に被覆されたレジスト膜の分割予定ラインに対応する領域を露光する露光工程においては、ウエーハに形成された分割予定ラインに対応したマスク部材を準備する必要があり、このマスク部材は分割予定ラインの間隔が異なるウエーハに対してその都度製作しなければならず、生産性の面で必ずしも満足し得るものではない。
本発明は上記事実に鑑みてなされたもので、その主たる技術課題は、分割予定ラインの間隔が異なるウエーハに対してもマスク部材をその都度製作することなく露光することができる露光装置を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するために、本発明によれば、表面に格子状の分割予定ラインによって区画された領域に機能素子が形成されたウエーハの裏面または表面に被覆されたレジスト膜を、分割予定ラインに沿って露光する露光装置であって、
ウエーハを保持するチャックテーブルと、
該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成された分割予定ラインを検出するアライメント手段と、
該チャックテーブルに保持されたウエーハの裏面または表面に被覆されたレジスト膜に、分割予定ラインに対応したスリット光を露光するスリット露光手段と、
該チャックテーブルと該スリット露光手段とを相対的に移動し、該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成された分割予定ラインを該スリット光の露光位置に位置付けるインデックス手段と、を具備し
該スリット露光手段は、複数のスリットを備えたマスク手段と、該マスク手段の該複数のスリットを通してスリット光を露光する発光手段とからなっており、
該マスク手段は、該複数のスリットの間隔を調整する間隔調整手段を具備している、
ことを特徴とする露光装置が提供される。
上記インデックス手段は、チャックテーブルをマスク手段の複数のスリットと直交する方向に移動しチャックテーブルに保持されたウエーハに形成されている所定方向に延びる分割予定ラインをスリット光の露光位置に位置付ける割り出し送り手段と、チャックテーブルを回動してチャックテーブルに保持されたウエーハに形成されている所定方向に延びる分割予定ラインと直交する方向の分割予定ラインをマスク手段の複数のスリットと平行に位置付ける回動手段とからなっている。
本発明による露光装置おいては、インデックス手段によってチャックテーブルを移動し、チャックテーブルに保持されたウエーハに形成されている分割予定ラインをスリット光の露光位置に位置付けるので、マスク手段を分割予定ラインの間隔が異なるウエーハに対応してその都度製作する必要がない。
以下、本発明に従って構成された露光装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1には本発明に従って構成された露光装置の斜視図が示されている。図示の実施形態における露光装置は、基台2と、後述するウエーハを保持するチャックテーブル3と、基台2上に配設されチャックテーブルを支持するインデックス手段4と、チャックテーブル3に保持された後述するウエーハに形成された分割予定ラインを検出するアライメント手段5と、チャックテーブル3に保持されたウエーハにスリット光を露光するスリット露光手段6とを具備している。
上記チャックテーブル3およびインデックス手段4について、図2を参照して説明する。
チャックテーブル3は、多孔質材料から形成された吸着チャック31を具備しており、吸着チャック31上に後述するウエーハを図示しない吸引手段によって保持するようになっている。このチャックテーブル3は、インデックス手段4によって図1および図2において矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられるようになっているとともに、回動可能に構成されている。
インデックス手段4は、基台2(図1参照)上に矢印Yで示す割り出し送り方向に沿って平行に配設された一対の案内レール41、41と、該案内レール41、41上に矢印Yで示す割り出し送り方向に移動可能に配設された支持台42と、該支持台42上に配設され上記チャックテーブル3を回転可能に支持する円筒部材43と、該円筒部材43内に配設されチャックテーブル3を回動する回動手段としてのパルスモータ44と、支持台42を一対の案内レール41、41に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動させるための割り出し送り手段45を具備している。
上記支持台42は、その下面に上記一対の案内レール41、41と嵌合する一対の被案内溝421、421が設けられており、被案内溝421、421を一対の案内レール41、41に嵌合することにより、一対の案内レール41、41に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動可能に構成される。上記回動手段としてのパルスモータ44は、チャックテーブル3を所定角度毎に回動することができる。上記割り出し送り手段45は、上記一対の案内レール41と41の間に平行に配設された雄ネジロッド451と、該雄ネジロッド451を回転駆動するためのパルスモータ452等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド451は、その一端が上記基台2に固定された軸受ブロック453に回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ452の出力軸に伝動連結されている。なお、雄ネジロッド451は、支持台42の中央部下面に突出して設けられた雌ネジブロック423に形成された貫通雌ネジ穴423aに螺合されている。従って、パルスモータ452によって雄ネジロッド451を正転および逆転駆動することにより、支持台42は案内レール41、41に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。
図1に戻って説明を続けると、上記アライメント手段5は、上記インデックス手段4を構成する一対の案内レール41、41の一端部上方に配設されている。このアライメント手段5は、図示の実施形態においては可視光線によって撮像する通常の撮像素子(CCD)の外に、被加工物に赤外線を照射する赤外線照明手段と、該赤外線照明手段によって照射された赤外線を捕らえる光学系と、該光学系によって捕らえられた赤外線に対応した電気信号を出力する撮像素子(赤外線CCD)等で構成された撮像手段51を具備しており、撮像手段51は撮像した画像信号を図示しない制御手段に送る。撮像手段51は、基台2に立設された支持柱52に装着された支持部材53に支持アーム54を介して支持されている。なお、撮像手段51が取付けられた支持アーム54は、支持部材内に配設された図示しない移動手段によって図1において矢印Xで示す方向、即ち上記矢印Yで示す割り出し送り方向と直交する方向に移動せしめられるように構成されている。
次に、スリット露光手段6について説明する。図示の実施形態におけるスリット露光手段6は、マスク手段61と発光手段62とからなっている。マスク手段61は、上壁611と左側壁612と右側壁613と前端壁614によって形成されており、上記アライメント手段5の上方を覆うように基台2上に配設されている。このマスク手段61の上壁611には、図示の実施形態においては上記矢印Yで示す割り出し送り方向と直交する方向に1本のスリット611aが設けられている。このように構成されたマスク手段61内を上記チャックテーブル3が一対の案内レール41、41に沿って移動できるようになっている。スリット露光手段6を構成する発光手段62は、基台2に立設された支持柱63によって支持され、上記マスク手段61の上壁611に形成されたスリット611aの上方位置に配設されており、スリット611aに向けて所定の光を照射する。
図示の実施形態における露光装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
ここで、上記露光装置によって露光される被加工物としてのウエーハについて、図7を参照して説明する。図7に示すウエーハ10は、シリコンウエーハからなっており、表面10aには互いに平行な複数の分割予定ライン101によって格子状に形成されている。そして、ウエーハ10の表面10aには、複数の分割予定ライン101によって区画された複数の領域に機能素子としての回路102が形成されている。このように構成されたウエーハ10は、裏面が研削されその厚さが例えば100μmに形成されている。このウエーハ10を分割予定ライン101に沿ってエッチングして個々のチップに分割するには、図8に示すようにウエーハ10の裏面10bに感光性レジスト膜11を形成する(レジスト膜形成工程)。
次に、上述したレジスト膜形成工程によってウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11を分割予定ライン101に沿って露光し、分割予定ライン101と対応する領域を除去する露光工程を実施する。
露光工程は、先ず上記露光装置のチャックテーブル3上にウエーハ10の表面10a側を載置し、図示しない吸引手段を作動することによりチャックテーブル3上にウエーハ10を吸引保持する。従って、ウエーハ10は裏面10bに形成された感光性レジスト膜11が上側となる。このようにして、チャックテーブル3上にウエーハ10を保持したならば、チャックテーブル3を矢印Yで示す方向に作動してウエーハ10をアライメント手段5を構成する撮像手段51の直下に位置付ける。チャックテーブル3が撮像手段51の直下に位置付けられると、撮像手段51および図示しない制御手段によってウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11における露光領域を検出するアライメント作業を実行する。即ち、撮像手段51および図示しない制御手段は、ウエーハ10の所定方向に形成されている分割予定ライン101を検出し、この分割予定ライン101が上記マスク手段61の上壁611に形成されたスリット611aと平行に位置付けられようにアライメントを遂行する。もし、所定方向に形成されている分割予定ライン101とスリット611aが平行に位置付けられていない場合には、上記インデックス手段4のパルスモータ44を作動してチャックテーブル3従ってウエーハ10を回動させることによって分割予定ライン101とスリット611aが平行になるようにアライメントする。また、ウエーハ10に形成されている所定方向と直交する方向に形成されている分割予定ライン101に対しても、同様にアライメントが遂行される。このとき、ウエーハ10の分割予定ライン101が形成されている表面10aは下側に位置しているが、撮像手段51が上述したように赤外線照明手段と赤外線を捕らえる光学系および赤外線に対応した電気信号を出力する撮像素子(赤外線CCD)等で構成されているので、ウエーハ10の裏面bに形成されたレジスト膜11側から透かしてウエーハ10を撮像することができる。
以上のようにしてチャックテーブル3上に保持されているウエーハ10に形成されている分割予定ライン101を検出し、露光領域のアライメントが行われたならば、図3に示すようにウエーハ10を保持したチャックテーブル3を矢印Y1で示す方向、即ち上記スリット611aと直交する方向に移動し、ウエーハ10に形成されている分割予定ライン101における図において最右端の分割予定ライン101をマスク手段61の上壁611に形成されたスリット611aの直下に位置付ける。次に、発光手段62を附勢し上記スリット611aを通してウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11にスリット光を露光する(露光工程)。このスリット光は、ウエーハ10に形成されている分割予定ライン101における図3において最右端の分割予定ライン101に対応した領域を露光する。このスリット光による露光を1秒程度実施することにより、感光性レジスト膜11は分割予定ライン101に沿って露光され除去される。
上述したようにウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11における図3において最右端の分割予定ライン101に対応した領域を除去したならば、インデックス手段4の割り出し送り手段45を構成するパルスモータ452を作動して、上記分割予定ラインの間隔分だけチャックテーブル3を矢印Y1で示す方向に移動する(割り出し工程)。この結果、チャックテーブル3に保持されたウエーハ10に形成された分割予定ライン101における図3において最右端から2番目の分割予定ライン101がマスク手段61の上壁611に形成されたスリット611aの直下に位置付けられる。そして、上記露光工程を実施する。このようにして、割り出し工程と露光工程を順次実施することにより、ウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11における所定方向の分割予定ライン101と対応する領域を除去することができる。次に、インデックス手段4のパルスモータ44を作動してチャックテーブル3を90度回動せしめる。この結果、チャックテーブル3に保持されたウエーハ10は、上記所定方向に対して直角に形成された分割予定ライン101がマスク手段61の上壁611に形成されたスリット611aと平行に位置付けられる。そして、上述した割り出し工程と露光工程を順次実施することにより、ウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11における上記所定方向と直角に形成された分割予定ラインと対応する領域が露光されて除去される。
以上のように図示の実施形態における露光装置においては、インデックス手段4のパルスモータ44を作動してチャックテーブル3をウエーハに形成された分割予定ラインの間隔分だけ移動する割り出し工程と、ウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11に上記スリット611aを通して光を照射する露光工程を順次実施するので、分割予定ラインの間隔が異なるウエーハに対応してマスク手段61をその都度製作する必要がない。
以上のようにして、ウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11における全ての分割予定ラインと対応する領域が露光され除去されたならば、ウエーハ10は次工程である例えばプラズマエッチング工程に搬送される。
次に、マスク手段61の他の実施形態について図4および図5を参照して説明する。図4にはマスク手段61の他の実施形態を備えた露光装置が示されており、図5にはマスク手段61を構成する複数のスリットプレートおよび複数のスリットプレートの間隔を調整する間隔調整手段が示されている。なお、図4に示す実施形態においては、マスク手段61以外は上記図1に示す露光装置と実質的に同一であるため、同一部材には同一符号を付して、その説明は省略する。
図4および図5に示すマスク手段61は、上壁611に矩形状の開口611bが形成され該開口611bにスリット711を備えた3個のスリットプレート71a、71b、71cがその間隔を調整可能に配設されている。スリット711を備えたスリットプレート71a、71b、71cは、それぞれ図5に示すようにその両端部が下方に折り曲げて形成された連結部712、712を備えている。図示の実施形態における露光装置は、スリットプレート71a、71b、71c従ってスリット711の間隔を調整する間隔調整手段72を具備している。間隔調整手段72は、上記スリットプレート71aの連結部712、712にそれぞれ一端が支軸73によって揺動可能に連結されたリンク721、722と、スリットプレート71bの連結部712、712にそれぞれ一端が支軸73によって揺動可能に連結されたリンク723、724と、スリットプレート71cの連結部712、712にそれぞれ一端が支軸73によって揺動可能に連結されたリンク725、726と、上記リンク723の他端に支軸73によって一端が揺動可能に連結されたリンク728と、上記リンク726の他端に支軸73によって一端が揺動可能に連結されたリンク729とからなるリンク機構を備えている。なお、上記リンク722の他端とリンク725の他端は支軸73によって互いに揺動可能に連結され、リンク722とリンク723およびリンク724とリンク725はそれぞれ中間部が支軸73によってそれぞれ揺動可能に連結されている。
図示の実施形態における間隔調整手段72は、上記リンク機構を作動するための一対の作動手段74、74を具備している。作動手段74、74は、上記基台2(図4参照)上において割り出し送り手段45の一対の案内レール41と41の外側に平行に配設されている。この作動手段74、74は、それぞれ雄ネジロッド741と、該雄ネジロッド741を回転駆動するためのパルスモータ742等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド741は、その一端が上記基台2(図4参照)に固定された軸受ブロック743に回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ742の出力軸に伝動連結されている。なお、雄ネジロッド741には、雌ネジブロック744に形成された貫通雌ネジ穴744aが螺合されている。このように構成された作動手段74におけるパルスモータ742のケースには上記リンク721、728の他端が支軸73によってそれぞれ揺動可能に連結され、雌ネジブロック744には上記リンク726、729の他端が支軸73によってそれぞれ揺動可能に連結されている。従って、パルスモータ742によって雄ネジロッド741を正転または逆転駆動することにより、雌ネジブロック744に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。この結果、リンク機構に連結されたスリットプレート71a、71b、71cは、その間隔が拡大または縮小せしめられる。
図4に戻って説明を続けると、上記スリットプレート71aと71b間には蛇腹751が配設され、スリットプレート71bと71c間には蛇腹752が配設されている。また、スリットプレート71aとマスク手段61の上壁611に形成された開口611bの一方の縁辺との間には蛇腹753が配設され、スリットプレート71cと開口611bの他方の縁辺との間には蛇腹754が配設されている。このようにマスク手段61の上壁611に形成された開口611b部に配設された蛇腹751、752、753、754は、上記発光手段62からの光を遮断するとともに、上記スリットプレート71a、71b、71cの移動を許容する機能を有する。
図4および図5に示すマスク手段61は以上のように構成されており、以下このマスク手段61を用いた露光作業について説明する。
まず、マスク手段61のスリットプレート71a、71b、71cにそれぞれ形成されたスリット711とスリット711の間隔を、上述したウエーハ10に形成されている分割予定ライン101の間隔の整数倍で且つ最外側の分割予定ライン101と反対側の最外側の分割予定ライン101との間隔の3分の1の間隔になるように調整する。この調整は、上記間隔調整手段72のパルスモータ742を正転または逆転駆動することによって行う。このようにして、マスク手段61のスリットプレート71a、71b、71cにそれぞれ形成されたスリット711とスリット711の間隔を調整したならば、上述したようにチャックテーブル3上に保持されているウエーハ10に形成された分割予定ライン101を検出し、露光領域のアライメントを実行する。そして、図6に示すようにウエーハ10を保持したチャックテーブル3をスリットプレート71a、71b、71cの下方に移動し、スリットプレート71aに形成されたスリット711の直下にウエーハ10に形成されている分割予定ライン101における図において最右端の分割予定ライン101を位置付ける。この結果、スリットプレート71bに形成されたスリット711の直下にウエーハ10に形成されている全分割予定ライン101における図において最右端から3分の1に相当する分割予定ライン101が位置付けられ、スリットプレート71cに形成されたスリット711の直下にウエーハ10に形成されている全分割予定ライン101における図において最右端から3分の2に相当する分割予定ライン101が位置付けられる。
次に、発光手段62を附勢し上記スリットプレート71a、71b、71cに形成されたスリット711を通してウエーハ10の裏面10bに形成された感光性レジスト膜11にスリット光を照射する(露光工程)。この結果、感光性レジスト膜11は、スリットプレート71a、71b、71cに形成されたスリット711の直下に位置する3本の分割予定ライン101に沿って露光され除去される。
上述したように露光工程を実施したならば、上記インデックス手段4の割り出し送り手段45を構成するパルスモータ452を作動して、上記分割予定ライン101の間隔分だけチャックテーブル3を矢印Y1で示す方向に移動し(割り出し工程)、上記露光工程を実施することにより、3本の分割予定ライン101に沿って同時に露光することができる。このように図4乃至図6に示す実施形態においては、感光性レジスト膜11における複数本(図示の実施形態においては3本)の分割予定ライン101に対応した領域を同時に露光し除去することができるので、生産性が向上する。また、スリットプレート71a、71b、71cに形成されたスリット711の間隔は、間隔調整手段72のパルスモータ742を正転または逆転駆動することによって調整することができるので、分割予定ラインの間隔が異なるウエーハに対応することができる。
なお、上述した実施形態においては、ウエーハ10の裏面に感光性レジスト膜11を被覆した例を示したが、感光性レジスト膜11はウエーハ10の表面に被覆してもよい。
本発明に従って構成された露光装置の一実施形態を示す斜視図。 図1に示す露光装置に装備されるチャックテーブルおよびインデックス手段の一実施形態を示す斜視図。 図1に示す露光装置を構成するマスク手段のスリットの直下にチャックテーブルに保持されたウエーハの分割予定ラインを位置付けた状態を示す説明図。 本発明に従って構成された露光装置の他の実施形態を示す斜視図。 図4に示す露光装置に装備されるマスク手段を構成するスリットプレートおよび間隔調整手段の斜視図。 図4に示す露光装置を構成するマスク手段のスリットプレートに形成されたスリットの直下にチャックテーブルに保持されたウエーハの分割予定ラインを位置付けた状態を示す説明図。 被加工物であるウエーハの斜視図。 図7に示すウエーハの裏面に感光性レジスト膜が被覆された状態を示す斜視図。
符号の説明
2:基台
3:チャックテーブル
4:インデックス手段
41、41:案内レール
42:支持台
44:パルスモータ
45:割り出しし送り手段
451:雄ネジロッド
452:パルスモータ
453:雌ネジブロック
5:アライメント手段
52:撮像手段
6:スリット露光手段
61:マスク手段
611a:スリット
62:発光手段
71a、71b、71c:スリットプレート
711:スリット
712:連結部
72:間隔調整手段
74:作動手段
741:雄ネジロッド
742:パルスモータ
751、752、753、754:蛇腹
10:ウエーハ
101:分割予定ライン
102:回路
11:感光性レジスト膜

Claims (2)

  1. 表面に格子状の分割予定ラインによって区画された領域に機能素子が形成されたウエーハの裏面または表面に被覆されたレジスト膜を、分割予定ラインに沿って露光する露光装置であって、
    ウエーハを保持するチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成された分割予定ラインを検出するアライメント手段と、
    該チャックテーブルに保持されたウエーハの裏面または表面に被覆されたレジスト膜に、分割予定ラインに対応したスリット光を露光するスリット露光手段と、
    該チャックテーブルと該スリット露光手段とを相対的に移動し、該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成された分割予定ラインを該スリット光の露光位置に位置付けるインデックス手段と、を具備し
    該スリット露光手段は、複数のスリットを備えたマスク手段と、該マスク手段の該複数のスリットを通してスリット光を露光する発光手段とからなっており、
    該マスク手段は、該複数のスリットの間隔を調整する間隔調整手段を具備している、
    ことを特徴とする露光装置。
  2. 該インデックス手段は、チャックテーブルを該複数のスリットと直交する方向に移動し該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成されている所定方向に延びる分割予定ラインをスリット光の露光位置に位置付ける割り出し送り手段と、該チャックテーブルを回動して該チャックテーブルに保持されたウエーハに形成されている所定方向に延びる分割予定ラインと直交する方向の分割予定ラインを該複数のスリットと平行に位置付ける回動手段とからなっている、請求項記載の露光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62249418A (ja) * 1986-04-23 1987-10-30 Hitachi Ltd 分離方法
JP2002110588A (ja) * 2000-09-27 2002-04-12 Nec Kansai Ltd チップ製造装置
WO2003071591A1 (fr) * 2002-02-25 2003-08-28 Disco Corporation Procede de subdivision de plaquettes semi-conductrices
JP3966168B2 (ja) * 2002-11-20 2007-08-29 松下電器産業株式会社 半導体装置の製造方法
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