JP4767085B2 - 周波数シンセサイザ、および周波数シンセサイザの発振制御方法 - Google Patents

周波数シンセサイザ、および周波数シンセサイザの発振制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、周波数シンセサイザとその発振制御方法に関するものであり、特に、発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザ、および周波数シンセサイザの発振制御方法に関するものである。
DVDやその他の光ディスク等の記録メディアを連続的にアクセスする場合、ディスク上のアクセス位置に応じて、サンプリングされる同期信号等の基準信号の発振周波数が変化する場合がある。データの記録密度がディスクの内周側と外周側とで異なっており、同一の回転数でディスクが回転する場合に、内周側と外周側とでデータの転送レートが異なるためである。このような基準信号における発振周波数の連続変化に追従する周波数シンセサイザとして、広い周波数範囲で安定して発振制御が行なわれる特許文献1に例示される技術が提案されている。
特許文献1に開示されているPLL回路では、図7に示すように、定電流回路107と電流制御発振回路(ICO回路)108とにより電圧制御発振回路(VCO回路)が構成されている。定電流回路107は図8に示すとおりである。抵抗116〜120は、それぞれ異なる抵抗値R5〜R1を有し、信号SW1〜SW5により、MOSトランジスタ111〜115の何れか一つがオン状態となる。定電流回路107では、オン状態となるMOSトランジスタに応じて異なるレンジの電流が流れる。
図9にVCTRL電圧対VCO回路周波数特性を示す。信号SW1〜SW5ごとに定電流回路107に流れる電流のレンジを離散的に変化させることにより、隣接するVCTRL電圧対VCO回路周波数の特性間に重なり領域を有した上で、個々の特性傾きを小さく抑えながら広い周波数範囲での発振制御を可能とするものである。個々の特性曲線の傾きを小さく抑えることで、入力されるVCTRL電圧に対する発振周波数の安定を図ると共に、電流レンジを変化させることで広い周波数特性への対応を図るものである。
特開平11−220388号公報
しかしながら、基準信号の発振周波数は、図9に示す周波数特性曲線をまたがって遷移することも考えられる。特許文献1においては、信号SW1〜SW5が切り替わり、MOSトランジスタ111〜115のうちオン状態とされるトランジスタが切り替わって、電流レンジが切り替わることとなる。
電流レンジの切り替わりは、VCTRL電圧の上限値から一つ上に隣接する特性曲線のVCRL電圧下限値に遷移すること、またはVCTRL電圧の下限値から一つ下に隣接する特性曲線のVCRL電圧上限値に遷移することにより行なわれる。何れの場合も、電流レンジの切り替わりの前後でVCTRL電圧が大きく変化することとなる。特許文献1に開示されているVCO回路を使用してPLL回路を構成する場合、VCTRL電圧の変化に伴い一時的にロック状態をはずれたPLL回路が変化後のVCTRL電圧に応じたロック状態に安定するまでには、時間を要することも考えられる。この間、メディアへのアクセスを中断せざるを得ないおそれがあり問題である。
また、こうした不都合を回避するためには、PLL回路を複数備えておき、互いに隣接する電流レンジに発振制御回路を設定しておくことも考えられる。特性曲線を越える周波数特性変動に対してPLL回路の選択を切り替えて対応すれば、切り替え時間を要することなく基準信号の発振周波数の遷移に追従することは可能ではある。しかしながら、この場合には、回路の占有面積、および消費電流が多大なものとなってしまうおそれがあり問題である。また、PLL回路間の干渉により発振信号が不安定になる等、発振特性の劣化を招来してしまう場合もあり問題である。
本発明は前記背景技術に鑑みなされたものであり、ロック状態を維持したまま発振周波数帯域の切り替え動作が可能な周波数シンセサイザを、小規模で低消費電流な回路構成で実現することができる周波数シンセサイザを提供することを目的とする。
的を達成するために、本発明に係る周波数シンセサイザは、発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザであって、発振周波数帯域ごとに発振制御回路へのバイアス電流を増減させる差分バイアス信号を出力する差分バイアス部と、発振周波数が、発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出する帯域限界検出部と、帯域限界検出部による検出に応じて発振周波数帯域を切り替える過渡期間において、差分バイアス部が出力する差分バイアス信号を漸次遷移させる制御を行なう過渡制御部とを備え、差分バイアス部は、差分バイアス信号を生成する差分バイアス源と、差分バイアス源を出力に接続する出力トランジスタと、出力トランジスタを導通/非導通の2状態に制御する第1ドライバ回路とを備え、過渡制御部は、出力トランジスタが2状態の間において、出力トランジスタに流れる電流量を段階的に制御する第2ドライバ回路を備えることを特徴とする。
本発明の周波数シンセサイザでは、差分バイアス部により、発振周波数帯域ごとに発振制御回路へのバイアス電流を増減させる差分バイアス信号を出力することにより、発振制御回路の発振周波数帯域を切り替えることが可能である。帯域限界検出部により、発振周波数が発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことが検出されると、差分バイアス部の動作切り替えが開始される。その過渡期間において、過渡制御部は、差分バイアス部に対して、差分バイアス信号を漸次遷移させる制御を行なう。
また、本発明に係る周波数シンセサイザの発振制御方法は、発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザの発振制御方法であって、発振周波数が、発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出するステップと、帯域を検出するステップに応じて発振周波数帯域を切り替えるために、発振周波数帯域に対応する発振制御回路へのバイアス電流の差である差分バイアス信号の経路上のインピーダンスを漸次遷移するステップとを有することを特徴とする。
本発明の周波数シンセサイザの発振制御方法では、発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザに対して、発振周波数が発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出すると、発振周波数帯域を切り替えるために、発振周波数帯域に対応する発振制御回路へのバイアス電流の差である差分バイアス信号を漸次遷移する。
これにより、発振周波数帯域の違い応じて発振制御回路に必要なバイアス信号の差である差分バイアス信号を差分バイアス部が生成する際、差分バイアス部を過渡的に制御することができる。バイアス信号が漸次遷移し段階的に信号値が変化して、発振周波数帯域を段階的に漸次変化させることができる。
発振周波数帯域の切り替えを段階的、連続的に行なうことができる。発振周波数帯域の切り替わりの過渡期間において、発振周波数帯域が不連続に切り替わって周波数シンセサイザがロック状態から外れてしまう状態を抑制することができる。発振周波数帯域が切り替わる過渡期間においてもロック状態を維持することができる。
発振周波数帯域の切り替えの過渡期間においてもロック状態の維持が可能な周波数シンセサイザを、冗長な回路構成とすることなく実現することができる。小規模な回路構成であって低消費電流動作が可能であり、更に、過渡期間および定常状態を問わず発振周波数の安定した出力信号を出力することができる。
本発明によれば、発振制御に必要となるバイアス信号を段階的に供給することにより、ロック状態を維持したまま発振周波数帯域の切り替え動作が可能な周波数シンセサイザを、小規模であって低消費電流な回路構成で実現する周波数シンセサイザ、および周波数シンセサイザの発振制御方法を提供することが可能となる。
以下、本発明の周波数シンセサイザについて具体化した実施形態を図1乃至図6に基づき図面を参照しつつ詳細に説明する。
図1は、本発明にかかる周波数シンセサイザ1の発明原理を示す原理図である。周波数シンセサイザ1は、入力される参照クロックRefCLKの周波数が変化する際に、出力クロックOutCLKの周波数が所定の周波数帯域内であるか否かを検出し、含まれない場合に、発振制御回路の発振特性を連続に変化させて発振周波数帯域の切り替えを行なう。
周波数シンセサイザ1は、発振周波数帯域fbの切り替えが可能な発振制御回路2と、発振周波数帯域fbの違いによる発振制御回路2へのバイアス信号IBの差を、差分バイアス信号ΔIBとして生成する差分バイアス部5と、を備えている。また、出力クロックOutCLKの発振周波数foが、周波数帯域fbに応じた所定値を超えたことを検出する帯域限界検出部3と、帯域限界検出部3による検出に応じて、前記バイアス部が制御される過渡期間において、差分バイアス部5から出力されるバイアス信号IBを漸次遷移する制御を行う過渡制御部4とを備えている。
発振制御回路2は、位相比較器20と、IDAC21と、ICO22と、1/M分周器23とを備えている。位相比較器20では、参照クロックRefCLKおよび1/M分周器23から出力される内部クロックICLKの位相が比較され、その位相差に応じたデジタルコードである位相差値PhCmpが出力される。
IDAC21では、位相差値PhCmpに応じたバイアス電流ICが出力される。ICO22では、バイアス電流ICおよび差分バイアス部5からのバイアス信号IBに応じた発振周波数の出力クロックOutCLKが出力される。1/M分周器23では、出力クロックOutCLKが1/M分周される。
これにより、発振制御回路2では、PLL(Phase Locked Loop)により、参照クロックRefCLKの入力周波数fiのM倍の発振周波数foである出力クロックOutCLKが出力されることとなる。なお、バイアス信号IBは、発振制御回路2の発振周波数帯域fbを切り替えるために差分バイアス部5から入力されている。
本発明の周波数シンセサイザ1では、差分バイアス部5により、発振周波数帯域の違いによる発振制御回路へのバイアス信号IBの差を差分バイアス信号ΔIBとして生成することにより、発振制御回路2の発振周波数帯域fbを切り替えることが可能である。帯域限界検出部3により、発振周波数foが発振周波数帯域fbに応じた所定値を越えたことが検出されると、差分バイアス部5の動作切り替えが開始される。その過渡期間において、過渡制御部4は、差分バイアス部5から出力されるバイアス信号IBを漸次遷移する制御を行なう。
これにより、発振周波数帯域fbの違いに応じて発振制御回路2に必要なバイアス信号IBの差である差分バイアス信号ΔIBを差分バイアス部5が生成する際、差分バイアス部5を過渡的に制御することができる。バイアス信号が漸次遷移する制御がなされることによって、発振周波数帯域fbを漸次変化させることができる。
次いで、本発明の実施形態にかかる周波数シンセサイザ1Aについて図2乃至図6を参照して説明する。図2は、実施形態にかかる周波数シンセサイザの構成を示す機能ブロック図である。周波数シンセサイザ1Aは、発振制御回路2と、帯域限界検出部3と、過渡制御部4と、差分バイアス部5と、平均化回路6と、遷移限界検出部7と、シーケンス部8とを備えている。
平均化回路6では、位相差値PhCmpの出力コードが平均化された値である位相差平均値PhCmpAvが出力される。具体的には、位相差平均値PhCmpAvは、位相差値PhCmpが数回サンプリングされて累積され、その累積値がサンプリング回数で除されて得られる、いわゆる位相差値PhCmpの移動平均値である。この位相差平均値PhCmpAvは、平均化回路6において、次の位相差値PhCmpがサンプリングされるまで保持される。
帯域限界検出部3では、位相差平均値PhCmpAvが予め設定される上限値Upperおよび下限値Lowerと比較される。その結果、位相差平均値PhCmpAvが上限値Upperを超える場合には上限検知信号Overが出力され、位相差平均値PhCmpAvが下限値Lowerを下回る場合には下限検知信号Underが出力される。
図3に示すように帯域限界検出部3は、初期値Startを格納する初期値格納部30と、位相差平均値PhCmpAvを初期値Startと比較する比較器33とを備えている。初期値Startには、始動直後または発振周波数帯域fbの切り替え直後において、発振制御回路2のPLLがロックしている場合の位相差平均値PhCmpAvが格納される。
比較器33では、位相差平均値PhCmpAvの値が、初期値Startを上回る場合にはハイレベルが出力され、初期値Startを下回る場合にはローレベルが出力される。これにより、比較器33では、始動直後または発振周波数帯域fbの切り替え直後の位相差平均値PhCmpAvに対して、正方向に変化しているのか、または、負方向に変化しているのかが検出されることとなる。
また、帯域限界検出部3は、上限値Upperを格納する上限値格納部31と、下限値Lowerを格納する下限値格納部32と、位相差平均値PhCmpAvを上限値Upperと比較する比較器34と、位相差平均値PhCmpAvを下限値Lowerと比較する比較器35とを備えている。
比較器34では、位相差平均値PhCmpAvが上限値Upperを上回る場合にはハイレベルが出力される。また、比較器35では、位相差平均値PhCmpAvが下限値Lowerを下回る場合にはローレベルが出力される。なお、上限値Upperおよび下限値Lowerは周波数シンセサイザ1Aの始動前に、図示しないCPUにより、発振制御回路2の特性に応じて予め設定される固定値である。
さらに、帯域限界検出部3は、ゲート回路36,37と、フラグ出力回路38,39とを備えている。ゲート回路36では、一端が比較器33の出力に、他端が比較器34の出力に接続されており、比較器33の出力および比較器34の出力が共にハイレベルである場合に、ハイレベルが出力される。すなわち、位相差平均値PhCmpAvの変化が正方向であり、位相差平均値PhCmpAvが上限値Upperを越える場合にハイレベルが出力されることとなる。フラグ出力回路38では、ゲート回路36の出力が所定時間ハイレベルである場合に、上限検知信号Overが出力される。
ゲート回路37では、一端が比較器33の出力に、他端が比較器35の出力に接続されており、比較器33の出力および比較器35の出力が共にローレベルである場合に、ハイレベルが出力される。すなわち、位相差平均値PhCmpAvの変化が負方向であり、位相差平均値PhCmpAvが下限値Lowerを越える場合にハイレベルが出力されることとなる。フラグ出力回路39では、ゲート回路37の出力が所定時間ハイレベルである場合に、下限検知信号Underが出力される。
次いで、遷移限界検出部7について説明する。遷移限界検出部7では、発振制御回路2における発振周波数foの遷移が所定値を越えるか否かが検出される。発振周波数foの遷移が所定値を越える場合には、ホールド信号Holdが出力される。
遷移限界検出部7は、図3に示すように、正オフセット値UpOfstを格納する正オフセット値格納部70と、負オフセット値LoOfstを格納する負オフセット値格納部71と、位相差平均値PhCmpAvに正オフセット値UpOfstを加算する加算器72と、位相差平均値PhCmpAvから負オフセット値LoOfstを減算する減算器73とを備えている。
また、遷移限界検出部7は、加算器72の出力および位相差値PhCmpを比較する比較器74と、減算器73の出力および位相差値PhCmpを比較する比較器75と、比較器74および比較器75を入力とするゲート回路76と、停止信号発生部77とを備えている。
比較器74では、位相差値PhCmpが加算器72の出力を上回るとハイレベルが出力される。比較器75では、位相差値PhCmpが減算器73の出力を下回るとローレベルが出力される。ゲート回路76では、比較器74の出力がハイレベルまたは比較器75の出力がローレベルの場合にハイレベルが出力される。停止信号発生部77では、ゲート回路76の出力が所定時間ハイレベルの場合にホールド信号Holdにハイレベルが出力される。
次いで、過渡制御部4について説明する。過渡制御部4は、シーケンス部8の制御に応じて、過渡制御信号CTLを出力する。また、遷移限界検出部7からのホールド信号Holdが出力されると過渡制御信号CTLの過渡制御を一時的にホールドする。
過渡制御部4は、過渡制御信号CTLを生成する過渡制御信号生成部4A(図3参照)と、過渡制御信号CTLを差分バイアス部5の各差分バイアス回路に選択出力するセレクタ4B(図4参照)とを備えている。
過渡制御信号生成部4Aは、図3に示すように、遅延素子40と、ゲート回路41,42,43と、定電流源44,47と、P型トランジスタ45と、N型トランジスタ46と、コンデンサ48とを備えている。ゲート回路41には、シーケンス部8からの更新イネーブル信号UENと、システムクロック信号SysClkの反転信号と、遅延素子40の出力と、ホールド信号Holdの反転信号が入力されている。ゲート回路41では、更新イネーブル信号UENがハイレベルおよびホールド信号Holdがローレベルの場合には、システムクロック信号SysClkの立ち上がりエッジごとに遅延素子40のディレイ値をパルス幅とする正パルス信号が出力される。
ゲート回路42には、シーケンス部8からのアップダウン制御信号UDと、リセット信号RSTと、ゲート回路41の出力が入力されている。アップダウン制御信号UDがローレベルであり、リセット信号RSTがローレベルの場合には、ゲート回路41からの正パルス信号が反転されて、ドライブ信号Aupに負パルス信号が出力される。また、アップダウン制御信号UDがローレベルであり、リセット信号RSTがハイレベルの場合には、ドライブ信号Aupにローレベルが出力される。その他の場合には、ドライブ信号Aupにハイレベルが出力される。
ゲート回路43には、シーケンス部8からのアップダウン制御信号UDと、リセット信号RSTと、ゲート回路41の出力が入力されている。アップダウン制御信号UDがハイレベルであり、リセット信号RSTがローレベルの場合には、ゲート回路41からの正パルス信号が、ドライブ信号Adnに出力される。また、アップダウン制御信号UDがハイレベルであり、リセット信号RSTがハイレベルの場合には、ドライブ信号Adnにハイレベルが出力される。その他の場合には、ドライブ信号Adnにローレベルが出力される。
P型トランジスタ45では、ゲートにドライブ信号Aupが入力される。ドライブ信号Aupがローレベルの場合には、P型トランジスタ45を介して、定電流源44からの電流により、コンデンサ48が充電される。N型トランジスタ46では、ゲートにドライブ信号Adnが入力される。ドライブ信号Adnがハイレベルの場合には、N型トランジスタ46を介して、定電流源47への電流により、コンデンサ48が放電される。過渡制御信号CTLの電位は、コンデンサ48に蓄電された電荷の量により決定される。従って、上述したコンデンサ48に対する充放電の制御により、過渡制御信号CTLの電位を制御することが出来る。
セレクタ4Bは、図4に示すように、過渡制御信号CTLを、シーケンス部8からの選択信号SWONA〜SWONDに応じて、過渡制御信号CTLA〜CTLDに出力する。具体的には選択信号SWONA〜SWONDにハイレベルが入力されると、対応する過渡制御信号CTLA〜CTLDに過渡制御信号CTLが伝達されることとなる。
次いで、差分バイアス部5について説明する。差分バイアス部5は図4に示すように差分バイアス回路51〜54と、IDACB55と、を備えている。差分バイアス部5では、IDACB55からの電流出力に、差分バイアス回路51〜54からの出力電流値が加えられて、バイアス信号IBが出力される。
差分バイアス回路51〜54はそれぞれ同じ回路で構成されている。従って、その詳細について、差分バイアス回路51のみについて説明し、差分バイアス回路52〜54についてはその詳細な説明を省略する。
差分バイアス回路51は、P型トランジスタ510と、N型トランジスタ511と、定電流源512と、P型トランジスタ513とを備えている。P型トランジスタ510では、ゲートが制御信号HCLAに、ソースが電源電位に、ドレインが過渡制御信号CTLAに接続されている。また、N型トランジスタ511では、ゲートが制御信号LCLAに、ソースが接地電位に、ドレインが過渡制御信号CTLAに接続されている。差分バイアス信号ΔIBが出力される定電流源512では、高電圧側端子が電源電位に接続され、出力側端子がP型トランジスタ513のソースに接続されている。P型トランジスタ513では、ゲートが過渡制御信号CTLAに接続され、ドレインはIDACB55に接続されている。
過渡制御信号CTLAが出力されない状態(ハイインピーダンス状態)の場合において、制御信号HCLAおよび制御信号LCLAが共にローレベルであると、P型トランジス
タ513のゲートにハイレベルが印加され、P型トランジスタ513は非導通状態となる。これにより、バイアス信号IBには、差分バイアス信号ΔIBが加えられない。一方、制御信号HCLAおよび制御信号LCLAが共にハイレベルであると、P型トランジスタ513のゲートにローレベルが印加され、P型トランジスタ513は導通状態となる。これにより、バイアス信号IBに差分バイアス信号ΔIBが加えられることとなる。
また、制御信号HCLAがハイレベルおよびLCLAがローレベルの場合には、P型トランジスタ513がバイアス制御されることとなり、過渡制御信号CTLAに応じた電流がバイアス信号IBに加えられることとなる。
ここで、差分バイアス信号ΔIBは、バイアス信号IBを加えた場合のICO22の発振周波数の上限値と、バイアス信号IB+差分バイアス信号ΔIBを加えた場合のICO22の発振周波数帯域の下限値がオーバーラップする関係にされている。IDACB55から出力されるバイアス信号IBの場合のICO22の発振周波数帯域fbをN−2とするとき、差分バイアス回路51〜54からそれぞれ差分バイアス信号ΔIBの出力を調整することで、発振周波数帯域fbをN−2〜N+2に設定することが可能となる。また、例えば、N−2からN+1に切り替える際には、過渡制御信号CTLx(x=A〜D)はローレベルからハイレベルに漸次変化されて入力される。これにより、発振周波数帯域fbが連続的に切り替わって、周波数シンセサイザ1Aがロック状態から外れてしまうことを抑制することができる。
次いで、シーケンス部8について図5を参照して説明する。図5はシーケンス部8の動作を示す状態遷移図である。
まず、ステートS0はICO22がN−2の発振周波数帯域fbで動作するアイドル状態である。なお、周波数シンセサイザ1Aにおいて、発振周波数帯域fbを設定するのに当り、ステートSAにおいて、IDACB55がICO22の発振周波数帯域fbがN−2となるように設定され、シーケンス部8における一連の動作シーケンスが初期化される。すなわち、選択制御信号SWONx、制御信号HCLx、制御信号LCLx、更新イネーブル信号UEN、リセット信号RST、および、アップダウン制御信号UDがすべてローレベルにされる。外部から発振周波数帯域fbの移行指令が入力されると、ステートS1に移行する。
ステートS1において、バイアス信号IBを漸次変化させる差分バイアス部5x(x=1〜4)が選択される。本例では、以後、選択された差分バイアス部5xが差分バイアス回路51である場合について説明する。次いで、ステートS2に移行する。
ステートS2において、過渡制御信号CTLが初期化される。選択された差分バイアス部51のP型トランジスタ513のゲート電圧VGAと同じレベルに初期化される。例えば、ゲート電圧VGAがハイレベルの場合には、アップダウン制御信号UDにローレベルが、および、リセット信号RSTにハイレベルが出力されて、過渡制御信号CTLはハイレベルにされ、ゲート電圧VGAがローレベルの場合には、アップダウン制御信号UDがハイレベルおよびリセット信号RSTにハイレベルが出力されて、過渡制御信号CTLにローレベルが出力される。次いで、ステートS3に移行する。
ステートS3において、過渡制御部4から出力される過渡制御信号CTLが選択された差分バイアス部51に接続される。具体的には、選択制御信号SWONAがハイレベルに遷移して、過渡制御信号CTLのレベルが過渡制御信号CTLAに伝達される。次いで、ステートS4に移行する。
ステートS4において、P型トランジスタ510またはN型トランジスタ511のいずれかが導通するクランプ状態が解除される。具体的には、制御信号HCLAがハイレベルおよび制御信号LCLAがローレベルにされる。次いで、ステートS5に移行する。
ステートS5において、過渡制御信号CTLの過渡制御がなされる。具体的には更新イネーブル信号UENがハイレベル、リセット信号RSTがローレベル、アップダウン制御信号UDが過渡制御の電圧レベルの変化方向に応じて出力される。過渡制御信号CTLの初期値がハイレベルの場合には、アップダウン制御信号UDはハイレベルとなり、ドライブ信号Adnからの正パルス信号により、コンデンサ48が放電されていき、過渡制御信号CTLの電位が徐々に降下する。一方、過渡制御信号CTLの初期値がローレベルの場合には、アップダウン制御信号UDは、ローレベルとなり、ドライブ信号Aupからの負パルス信号により、コンデンサ48が充電されていき、過渡制御信号CTLの電位が徐々に上昇する。なお、いずれの場合もホールド信号Holdが入力される場合には、ドライブ信号Aupまたはドライブ信号Adnからのパルス信号が一時的に停止される。従って、過渡制御信号CTLの電位の変化も一時的に停止することとなる。過渡制御信号CTLの電位が初期値と反対極性の電位に達した場合にステートS6に移行する。
ステートS6において、P型トランジスタ510またはN型トランジスタ511のいずれかがクランプ状態にされる。具体的には、ゲート電圧VGAの過渡制御の最終電位と同電位になるように制御され、過渡制御後のゲート電圧VGAがハイレベルの場合には、制御信号HCLAがローレベルにされてP型トランジスタ510がクリップ状態にされ、ローレベルの場合には、制御信号LCLAがハイレベルにされて、N型トランジスタ511がクリップ状態にされる。次いで、ステートS7に移行する。
ステートS7において、過渡制御部4から出力される過渡制御信号CTLが差分バイアス回路51から切り離される。具体的には選択制御信号SWONAがローレベルに遷移することにより、過渡制御信号CTLAがハイインピーダンスにされる。以上により、一連の過渡制御が完了し、ステートS1に戻る。
次いで、図6を参照して、周波数シンセサイザ1Aの動作について説明する。図6は、実施形態にかかる周波数シンセサイザ1Aの動作を示すタイミング図である。
本動作タイミングは、参照クロックRefCLKの入力周波数fiが徐々に上昇していき、N−2の発振周波数帯域fbの上限を超えるために、差分バイアス回路51のP型トランジスタ513を導通する過渡制御を行う場合のものである。
タイミングチャートのうち、“CPU”は、図示しないCPUによる周波数シンセサイザ1Aの動作状態を示し、“Start”は、周波数シンセサイザ1Aの始動状態を示し、“Seq”は、シーケンス部8のステートを示している。
(1)において、CPUが周波数シンセサイザ1Aの動作を有効にすることにより、シーケンス部8のステートがステートSAに移行し、IDACB55およびシーケンス部8の状態が初期化される。
(2)において、ステートSAが完了するとステートS0に移行し周波数シンセサイザ1Aはアイドル状態となり、さらに、(3)において、CPUからの命令や他のアクセス開始制御論理により、周波数シンセサイザ1Aが始動され、シーケンス部8では、上限検知信号Overおよび下限検知信号Underが受信可能となる。
(4)において、参照クロックRefCLKの入力周波数fiの上昇に伴い、位相差平均値PhCmpAvが上昇し、上限値Upperに達すると上限検知信号Overが出力される。すると、シーケンス部8のステートは、ステートS1に移行する。
(5)において、シーケンス部8がステートS1に移行すると、シーケンス部8は、過渡制御の対象を差分バイアス回路51に決定し、ステートS2に移行する。
(6)において、シーケンス部8がステートS2に移行すると、シーケンス部8では、リセット信号RSTにハイレベル、アップダウン制御信号UDにローレベルが出力され、ドライブ信号Aupにローレベルが出力される。これにより、コンデンサ48は充電され、過渡制御信号CTLにはハイレベルが出力される。
(7)において、シーケンス部8がステートS3に移行すると、シーケンス部8では、選択制御信号SWONAにハイレベルが出力され、過渡制御信号CTLが、過渡制御信号CTLAを介して、ゲート電圧VGAに伝達される。
(8)において、シーケンス部8がステートS4に移行すると、シーケンス部8では、制御信号HCLAにハイレベルが出力され、P型トランジスタ510のクリップ状態が解除される。また、リセット信号RSTにローレベルが出力され、ドライブ信号Aupがハイレベルとなる。これにより、コンデンサ48への充電が停止するが、コンデンサ48ではその電荷が保持され、過渡制御信号CTLは引き続きハイレベルを維持する。
(9)において、シーケンス部8がステートS5に移行すると、シーケンス部8では、更新イネーブル信号UENおよびアップダウン制御信号UDにハイレベルが出力され、ドライブ信号Adnには正パルス信号が出力されることとなる。これにより、コンデンサ48は、間欠的に放電され、過渡制御信号CTLおよびゲート電圧VGAは徐々に降圧していく。これにより、バイアス信号IBが徐々に増大し、発振周波数帯が高くなる事で、ロックすべき周波数で発振させる為の、IDAC21の出力電流ICが相対的に小さくなり、PhCmpAvも徐々に絶対値が小さくなっていく。
(10)において、位相差値PhCmpの遷移量が大きくなり位相差平均値PhCmpAvに正オフセット値UpOfstを加算した値、または位相差平均値PhCmpAvから負オフセット値LoOfstを減算した値を超えるとホールド信号Holdが出力され、ドライブ信号Adnの正パルス信号の出力が一時的に停止される。これにより、ゲート電圧VGAの電圧の下降が停止し、その電圧値が保持される。このように、位相差平均値PhCmpAvの遷移量を制限することにより、発振制御回路2のPLLのロックが外れることを防止することができる。
(11)において、位相差平均値PhCmpAvの遷移量の大きさが位相差平均値PhCmpAvに正オフセット値UpOfstを加算した値、または位相差平均値PhCmpAvから負オフセット値LoOfstを減算した値を下回った場合には、ホールド信号Holdが解除され、再度、ドライブ信号Adnに正パルス信号が出力される。これにより、ゲート電圧VGAの電圧の下降が再開され、バイアス信号IBが増大し始め、位相差平均値PhCmpAvの値が小さくなっていく。
(12)において、ゲート電圧VGAがローレベルとなり、シーケンス部8がステートS6に移行すると、シーケンス部8では、制御信号LCLAにハイレベルが出力され、N型トランジスタ511が導通し、ゲート電圧VGAは接地電位にクランプされる。これによりバイアス信号IBには差分バイアス信号ΔIBが付加されて出力されることとなる。
(13)において、シーケンス部8がステートS7に移行すると、シーケンス部8では、選択制御信号SWONAにローレベルが出力され、過渡制御信号CTLのゲート電圧VGAへの伝達が遮断される。その後、(14)において、シーケンス部8はステートS0に戻る。
以上詳細に説明したとおり、本実施形態に係る周波数シンセサイザ1Aによれば、発振周波数帯域fbの違い応じて発振制御回路2に必要なバイアス信号IBの差である差分バイアス信号ΔIBを差分バイアス部5が生成する際、差分バイアス部5を過渡的に制御することができる。バイアス信号IBが漸次遷移する制御がなされることによって、発振周波数帯域fbを漸次変化させることができる。
発振周波数帯域fbの切り替えを段階的、連続的に行なうことができる。発振周波数帯域fbの切り替わりの過渡期間において、発振周波数帯域fbが不連続に切り替わって周波数シンセサイザ1がロック状態から外れてしまう状態を抑制することができる。発振周波数帯域fbが切り替わる過渡期間においてもロック状態を維持することができる。
発振周波数帯域fbの切り替えの過渡期間においてもロック状態の維持が可能な周波数シンセサイザ1を、冗長な回路構成とすることなく実現することができる。小規模な回路構成であって低消費電流動作が可能であり、更に、過渡期間および定常状態を問わず発振周波数foの安定した出力信号を出力することができる。
尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形が可能であることは言うまでもない。
例えば、本実施形態においては、シーケンス部8は、図5の状態遷移で制御されるハードウェアで構成される例について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、シーケンス部8がCPUやシーケンサなどを用いてソフトウェアにより制御される場合にも同様に適用することができることは言うまでもない。
なお、P型トランジスタ513は出力バッファ回路の一例、P型トランジスタ510およびN型トランジスタ511はドライバ回路の一例、過渡制御信号CTLは、多段階信号の一例、セレクタ4Bは選択回路の一例、コンデンサ48は積分回路の一例、定電流源44,47、P型トランジスタ45およびN型トランジスタ46は充放電回路の一例、システムクロック信号SysClkは周期信号の一例、である。また、初期値格納部30および比較器33は第1検出回路の一例、比較器33は、第1比較器の一例、初期値格納部30は第1格納部の一例、上限値格納部31および比較器34は第2検出回路の一例、比較器34は第2比較器の一例、下限値格納部32および比較器35は第3検出回路の一例、比較器35は第3比較器の一例、平均化回路6は第2格納部の一例、比較器74,75は第4比較部の一例である。
ここで、本発明の技術思想により、背景技術における課題を解決するための手段を以下に列記する。
(付記1) 発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザであって、
前記発振周波数帯域の違いによる前記発振制御回路へのバイアス信号の差を、差分バイアス信号として生成する差分バイアス部と、
前記発振周波数が、前記発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出する帯域限界検出部と、
前記帯域限界検出部による検出に応じて、前記差分バイアス部が制御される過渡期間において、前記差分バイアス部に対して、出力されるバイアス信号を漸次遷移する制御を行なう過渡制御部と
を備えることを特徴とする周波数シンセサイザ。
(付記2) 前記発振周波数の遷移幅が所定幅を越えたことを検出する遷移限界検出部を備え、
前記遷移限界検出部による検出に応じて、前記過渡制御部による前記バイアス信号の漸次遷移を一時停止することを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記3) 前記帯域限界検出部による検出に応じて、前記発振周波数帯域を切り替える切替手続きを指令するシーケンス部を備え、
前記切替手続きは、
動作切り替えが行なわれる前記差分バイアス部を選択するステップと、
選択された前記差分バイアス部の動作切り替え方向に応じて、前記過渡制御部を初期化するステップと、
選択された前記差分バイアス部の制御を、該差分バイアス部による定常制御から、前記過渡制御部による過渡制御に切り替えるステップと、
動作切り替えの完了に応じて、前記過渡制御部による過渡制御から、前記差分バイアス部による定常制御に切り替えるステップとを有することを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記4) 前記差分バイアス部は、
前記差分バイアス信号を出力する出力バッファ回路と、
前記出力バッファ回路を、前記差分バイアス信号の出力状態/非出力状態の2値に制御するドライバ回路とを備えることを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記5) 前記ドライバ回路は、前記差分バイアス部の動作切り替えの完了に応じて、前記出力バッファ回路を、前記差分バイアス信号の出力状態または非出力状態の何れかに固定することを特徴とする付記4に記載の周波数シンセサイザ。
(付記6) 前記差分バイアス部の動作切り替えの過渡期間において、
前記ドライバ回路は、前記出力バッファ回路を、前記差分バイアス信号の非出力状態とすると共に、
前記過渡制御部は、前記出力バッファ回路を、前記バイアス信号の出力状態とすることを特徴とする付記4に記載の周波数シンセサイザ。
(付記7) 前記差分バイアス部は、前記差分バイアス信号のうち隣接する前記発振周波数帯域を区別する信号を出力する第1差分バイアス回路を備えることを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記8) 前記差分バイアス部は、前記第1差分バイアス回路を、少なくとも2つ備えることを特徴とする付記7に記載の周波数シンセサイザ。
(付記9) 前記差分バイアス部は、前記第1差分バイアス回路が出力する信号の2の累乗倍の信号を出力する第2差分バイアス回路を更に備えることを特徴とする付記7に記載の周波数シンセサイザ。
(付記10) 前記過渡制御部は、
前記差分バイアス部を制御する多段階信号を生成する信号生成回路と、
前記信号生成回路を動作切り替え対象の前記差分バイアス部に接続する選択回路とを備えることを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記11) 前記信号生成回路は、
積分回路と、
前記積分回路を充放電する充放電回路とを備えることを特徴とする付記10に記載の周波数シンセサイザ。
(付記12) 前記充放電回路は、
前記差分バイアス部の動作切り替えの開始に伴い、動作切り替え方向に応じて、前記積分回路に対して初期化充電または初期化放電を行ない、
その後の過渡期間において、前記積分回路に対して漸次放電または漸次充電を行なうことを特徴とする付記11に記載の周波数シンセサイザ。
(付記13) 前記漸次放電または前記漸次充電は、周期信号に基づき所定周期ごとにパルス駆動されることを特徴とする付記12に記載の周波数シンセサイザ。
(付記14) 前記帯域限界検出部は、
前記発振周波数の遷移方向を検出する第1検出回路と、
前記発振周波数が前記発振周波数帯域における上限値を越えていることを検出する第2検出回路、または/および前記発振周波数が前記発振周波数帯域における下限値を越えていることを検出する第3検出回路とを備え、
前記発振周波数は、前記第1検出回路による周波数増加の検出、且つ前記第2検出回路による周波数が上限値より大なることの検出、または/および前記第1検出回路による周波数減少の検出、且つ前記第3検出回路による周波数が下限値より小なることの検出により、限界値を越えて遷移したことが検出されることを特徴とする付記1に記載の周波数シンセサイザ。
(付記15) 基準信号と出力信号との間の位相を比較する位相比較器を備え、
前記第1検出回路は、
前記出力信号が前記基準信号にロックされている定常状態での前記位相比較器による比較結果が格納される第1格納部と、
前記第1格納部に格納されている比較結果と前記位相比較器による比較結果とを比較する第1比較器と
を備えることを特徴とする付記14に記載の周波数シンセサイザ。
(付記16) 基準信号と出力信号との間の位相を比較する位相比較器を備え、
前記第2または第3検出回路は、
前記上限値または下限値と、前記位相比較器による比較結果とを比較する第2または第3比較器とを備えることを特徴とする付記14に記載の周波数シンセサイザ。
(付記17) 基準信号と出力信号との間の位相を比較する位相比較器を備え、
前記遷移限界検出部は、
前記位相比較器による先行の比較結果を格納する第2格納部と、
前記第2格納部に格納されている先行の比較結果と、前記位相比較器による比較結果とを比較する第4比較器とを備え、
前記所定値とは、前記先行の比較結果からの上限所定値または/および下限所定値であることを特徴とする付記2に記載の周波数シンセサイザ。
(付記18) 前記位相比較器からの出力信号を平均化する平均化回路を備え、
前記比較結果は前記平均化回路から出力されることを特徴とする付記15乃至17の少なくとも何れか一項に記載の周波数シンセサイザ。
(付記19) 発振周波数帯域の切り替えが可能な周波数シンセサイザの発振制御方法であって、
前記発振周波数が、前記発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出するステップと、
前記帯域を検出するステップに応じて、前記発振周波数帯域を設定するバイアス信号を漸次遷移するステップと
を有することを特徴とする周波数シンセサイザの発振制御方法。
(付記20) 前記発振周波数の遷移幅が所定幅を越えたことを検出するステップを有し、
前記遷移を検出するステップに応じて、前記漸次遷移のステップを一時停止することを特徴とする付記19に記載の周波数シンセサイザの発振制御方法。
(付記21) 前記漸次遷移のステップは、
前記発振周波数帯域の切り替えに必要とされる差分バイアス信号を決定するステップと、決定された前記差分バイアス信号に応じて、前記バイアス信号を初期化するステップと、初期化された前記バイアス信号を、前記差分バイアス信号に向けて漸次遷移するステップと
を有することを特徴とする付記19に記載の周波数シンセサイザ。
(付記22) 前記帯域を検出するステップは、
前記発振周波数の遷移方向を検出するステップと、
前記発振周波数が前記発振周波数帯域における上限値を越えていることを検出するステップ、または/および前記発振周波数が前記発振周波数帯域における下限値を越えていることを検出するステップとを有し、
前記発振周波数は、前記遷移方向の検出ステップによる周波数増加の検出、且つ前記周波数が上限値より大なることの検出ステップ、または/および前記遷移方向の検出ステップによる周波数減少の検出、且つ前記周波数が下限値より小なることの検出ステップにより、限界値を越えて遷移したことが検出されることを特徴とする付記19に記載の周波数シンセサイザの発振制御方法。
(付記23) 基準信号と出力信号との間の位相比較をするステップを有し、
前記発振周波数の遷移方向を検出するステップは、
前記出力信号が前記基準信号にロックされている定常状態での位相の比較結果が格納されるステップと、
前記比較結果の格納ステップにより格納されている比較結果と前記位相比較のステップによる比較結果とを比較するステップと
を有することを特徴とする付記22に記載の周波数シンセサイザの発振制御方法。
(付記24) 基準信号と出力信号との間の位相比較をするステップを有し、
前記遷移を検出するステップは、
前記位相比較のステップによる先行の比較結果を格納するステップと、
前記先行の位相比較の格納ステップにより格納されている先行の比較結果と、前記位相比較のステップによる比較結果とを比較するステップと
を有ることを特徴とする付記20に記載の周波数シンセサイザの発振制御方法。
本発明の動作原理を示す原理図である。 実施形態にかかる周波数シンセサイザの構成を示す機能ブロック図である。 実施形態にかかる周波数シンセサイザの回路の具体例を示す回路図である。 実施形態にかかる周波数シンセサイザの回路の具体例を示す回路図である。 シーケンス部の動作を示す状態遷移図である。 実施形態にかかる周波数シンセサイザの動作を示すタイミング図である。 従来技術のVCO回路の構成を示す機能ブロック図である。 従来技術のVCO回路における低電流回路の回路図である。 従来技術のVCO回路におけるVCO周波数特性を示す特性図である。
1、1A 周波数シンセサイザ
2 発振制御回路
3 帯域限界検出部
4 過渡制御部
5 差分バイアス部
6 平均化回路
7 遷移限界検出部
8 シーケンス部
ΔIB 差分バイアス信号
IB バイアス信号

Claims (9)

  1. 発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザであって、
    前記発振周波数帯域ごとに前記発振制御回路へのバイアス電流を増減させる差分バイアス信号を出力する差分バイアス部と、
    振周波数が、前記発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出する帯域限界検出部と、
    前記帯域限界検出部による検出に応じて前記発振周波数帯域を切り替える過渡期間において、前記差分バイアス部が出力する前記差分バイアス信号を漸次遷移させる制御を行なう過渡制御部とを備え、
    前記差分バイアス部は、
    前記差分バイアス信号を生成する差分バイアス源と、
    前記差分バイアス源を出力に接続する出力トランジスタと、
    前記出力トランジスタを導通/非導通の2状態に制御する第1ドライバ回路とを備え、
    前記過渡制御部は、
    前記出力トランジスタが前記2状態の間において、前記出力トランジスタに流れる電流量を段階的に制御する第2ドライバ回路
    を備えることを特徴とする周波数シンセサイザ。
  2. 前記発振周波数の遷移幅が所定幅を越えたことを検出する遷移限界検出部を備え、
    前記遷移限界検出部による検出に応じて、前記過渡制御部による前記差分バイアス信号の漸次遷移を一時停止することを特徴とする請求項1に記載の周波数シンセサイザ。
  3. 前記帯域限界検出部による検出に応じて、前記発振周波数帯域を切り替える切替手続きを指令するシーケンス部を備え、
    前記切替手続きは、
    前記差分バイアス信号を生成する前記差分バイアス部を選択するステップと、
    選択された前記差分バイアス部の前記差分バイアス信号の遷移方向に応じて、前記過渡制御部を初期化するステップと、
    選択された前記差分バイアス部の制御を、該差分バイアス部による定常制御から、前記過渡制御部による過渡制御に切り替えるステップと、
    動作切り替えの完了に応じて、前記過渡制御部による過渡制御から、前記差分バイアス部による定常制御に切り替えるステップとを有することを特徴とする請求項1に記載の周波数シンセサイザ。
  4. 前記差分バイアス部の動作切り替えの過渡期間において、
    前記第1ドライバ回路は、前記出力トランジスタを、前記差分バイアス信号の非出力状態とすると共に、
    前記第2ドライバ回路は、前記出力トランジスタを、前記差分バイアス信号の出力状態とすることを特徴とする請求項に記載の周波数シンセサイザ。
  5. 前記発振周波数帯域の切り替えが3段階以上可能であって、互いに隣接する前記発振周波数帯域に対応する前記差分バイアス部を備え、
    前記過渡制御部は
    第2ドライバ回路を、切り替える前記発振周波数帯域に対応する前記差分バイアス部に接続する選択回路を備えることを特徴とする請求項1に記載の周波数シンセサイザ。
  6. 前記帯域限界検出部は、
    前記発振周波数の遷移方向を検出する第1検出回路と、
    前記発振周波数が前記発振周波数帯域における上限値を越えていることを検出する第2検出回路、または/および前記発振周波数が前記発振周波数帯域における下限値を越えていることを検出する第3検出回路とを備え、
    前記発振周波数は、前記第1検出回路による周波数増加の検出、且つ前記第2検出回路による周波数が上限値より大なることの検出、または/および前記第1検出回路による周波数減少の検出、且つ前記第3検出回路による周波数が下限値より小なることの検出により、限界値を越えて遷移したことが検出されることを特徴とする請求項1に記載の周波数シンセサイザ。
  7. 基準信号と出力信号との間の位相を比較する位相比較器を備え、
    前記遷移限界検出部は、
    前記位相比較器による先行の比較結果を格納する格納部と、
    記格納部に格納されている先行の比較結果に前記所定値として上限遷移値または/および下限遷移値を加減した値と、前記位相比較器による比較結果とを比較する比較器と
    備えることを特徴とする請求項2に記載の周波数シンセサイザ。
  8. 発振周波数帯域の切り替えが可能な発振制御回路を備える周波数シンセサイザの発振制御方法であって、
    振周波数が、前記発振周波数帯域に応じた所定値を超えたことを検出するステップと、
    前記帯域を検出するステップに応じて前記発振周波数帯域を切り替えるために、前記発振周波数帯域に対応する前記発振制御回路へのバイアス電流の差である差分バイアス信号の経路上のインピーダンスを漸次遷移するステップと
    を有することを特徴とする周波数シンセサイザの発振制御方法。
  9. 前記発振周波数の遷移幅が所定幅を越えたことを検出するステップを有し、
    前記遷移を検出するステップに応じて、前記漸次遷移のステップを一時停止することを特徴とする請求項に記載の周波数シンセサイザの発振制御方法。
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