JP4765817B2 - 光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法 - Google Patents
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Description
102・・・HF信号増幅回路
104・・・フォーカスエラー信号生成回路
106・・・フォーカスサーボ回路
108・・・ドライブ回路
120・・・トラッキングエラー信号生成回路
122・・・トラッキングサーボ回路
124・・・ドライブ回路
130・・・再生信号生成回路
132・・・2値化信号生成回路
134・・・復号回路
140・・・ウォブル信号取り出し回路
201・・・光ピックアップ装置
202・・・レーザ駆動回路
206・・・信号切換回路
208・・・クロック信号発生回路
210・・・A/D変換機
212・・・エラー判定回路
214・・・データ保存回路(1)
216・・・データ保存回路(4)
218・・・エラーデータ処理回路(1)
220・・・エラーデータ処理回路(2)
222・・・信号切換回路
301・・・スピンドルモータ
302・・・スピンドルモータ制御回路
306・・・ターンテーブル
312・・・パルス数カウント回路(1)
314・・・データ保存回路(2)
400・・・フィードモータ
402・・・フィードモータ制御回路
412・・・パルス数カウント回路(2)
414・・・データ保存回路(3)
502・・・コントローラ
504・・・入力装置
506・・・表示装置
DK・・・・光ディスク
Claims (11)
- 光ピックアップによりレーザ光を光ディスクの記録面に照射し、光ディスクの記録面からの反射光に基づく検査用信号を生成して、該検査用信号を検査することにより光ディスクの検査を行う光ディスク検査装置において、
該光ディスクを回転させる回転手段と、
該検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力するエラー判定手段と、
該検査用信号の波高値を所定の間隔でサンプリングして波高値データとしてデータ保存用のメモリ領域に記憶し、該データ保存用のメモリ領域に記憶された波高値データが所定数に達するごとに該サンプリングされる波高値データを該データ保存用の同じメモリ領域に最初から記憶し直すことを繰り返すと共に、
該エラー判定手段からのエラー検出信号を受けた場合、該データ保存用のメモリ領域への波高値データの記憶を停止し、最後に記憶したデータを識別するためのフラグを最後に記憶した波高値データの領域から所定数後の領域に入れ、それ以降の該サンプリングされる波高値データを該データ保存用のメモリ領域とは別のデータ保存用のメモリ領域に同様にして所定数に達するごとに最初から記憶し直すことを繰り返すエラー箇所データ記憶手段と、
該エラー箇所データ記憶手段に記憶された波高値データを処理してエラー特性を算出するエラー特性計算手段と、
該光ディスクの回転位置や半径位置を検出すると共に、該エラー判定手段のエラー検出信号を受けた場合、検出した回転位置や半径位置をエラー位置として記憶するエラー位置検出手段と、
該エラー特性計算手段により算出されたエラー特性データと該エラー位置検出手段により記憶されたエラー位置データとにより、該光ディスクのエラー情報を作成するエラー情報作成手段とを備えることを特徴とする光ディスク検査装置。 - 前記エラー特性は、前記波高値データを所定レベルと比較することにより求めたデータ数又は所定レベルごとのデータ数により定めることを特徴とする請求項1記載の光ディスク検査装置。
- 前記エラー箇所データ記憶手段及び前記エラー特性計算手段を複数設け、
それぞれの該エラー箇所データ記憶手段及び該エラー特性計算手段を順次用いることにより、該エラー箇所データ記憶手段による前記波高値データの記憶と該エラー特性計算手段による前記エラー特性の算出とを並行して行うことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の光ディスク検査装置。 - 前記エラー判定手段は、前記エラー検出信号を出力する所定値として複数の値が設定されると共に、該エラー検出信号が、どの該所定値の波高値レベルによるものか判別可能であり、
前記エラー箇所データ記憶手段は、前記波高値データを記憶すると共に、該エラー検出信号から判別した該波高値レベルを記憶することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光ディスク検査装置。 - 前記エラー情報作成手段は、前記光ディスクの記録面におけるエラーマップを作成する手段を含むことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の光ディスク検査装置。
- 前記検査用信号は、前記光ディスクの記録面からの反射光に基づいて形成した、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号又は再生信号のいずれか少なくとも1つであることを特徴とする請求項l〜請求項5のいずれかに記載の光ディスク検査装置。
- 光ピックアップによりレーザ光を光ディスクの記録面に照射し、光ディスクの記録面からの反射光に基づく検査用信号を生成して、該検査用信号を検査することにより光ディスクの検査を行う光ディスク検査方法において、
該検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力し、
メモリのデータ保存用のメモリ領域に、該検査用信号の波高値を所定の間隔でサンプリングして波高値データとして記憶し、該データ保存用のメモリ領域に記憶された波高値データが所定数に達するごとに該サンプリングされる波高値データを該データ保存用の同じメモリ領域に最初から記憶し直すことを繰り返すと共に、該エラー検出信号を受けた場合、該データ保存用のメモリ領域への波高値データの記憶を停止し、最後に記憶したデータを識別するためのフラグを最後に記憶した波高値データの領域から所定数後の領域に入れ、それ以降の該サンプリングされる波高値データを該データ保存用のメモリ領域とは別のデータ保存用のメモリ領域に同様にして所定数に達するごとに最初から記憶し直すことを繰り返し、
メモリ内のそれぞれのデータ保存用のメモリ領域に記憶された波高値データを処理してエラー特性を算出し、
該光ディスクの回転位置や半径位置を検出すると共に、該エラー検出信号を受けた場合、該光ディスク上の回転位置や半径位置をエラー位置として記憶し、
該算出されたエラー特性のデータと該記憶されたエラー位置のデータとにより、該光ディスクのエラー情報を作成することを特徴とする光ディスク検査方法。 - 前記エラー特性は、前記波高値データを所定レベルと比較することにより求めたデータ数又は所定レベルごとのデータ数により定めることを特徴とする請求項7記載の光ディスク検査方法。
- 前記エラー検出信号を出力する所定値として複数の値を用い、該エラー検出信号が、どの該所定値の波高値レベルによるものか判別し、
前記メモリのそれぞれのデータ保存用のメモリ領域には、前記波高値データを記憶すると共に、該エラー検出信号から判別した該波高値レベルを記憶することを特徴とする請求項7又は請求項8記載の光ディスク検査方法。 - 前記エラー情報として、前記光ディスクの記録面におけるエラーマップを作成することを特徴とする請求項7〜請求項9のいずれかに記載の光ディスク検査方法。
- 前記検査用信号は、前記光ディスクの記録面からの反射光に基づいて形成した、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号又は再生信号のいずれか少なくとも1つであることを特徴とする請求項7〜請求項10のいずれかに記載の光ディスク検査方法。
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