JP4761228B2 - 磁気ディスクの位置決め方法、磁気転写装置及び方法、並びに磁気ディスクの製造方法 - Google Patents
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Description
レンズ部にテレセントリック光学系を用いた撮像手段の当該光学系と同軸上から照明用の光を照射する同軸落射方式の照明手段を用いるとともに、前記チャック手段に前記磁気ディスクの孔を通過して入射する光を反射するための反射面が設けられ、前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、前記照明手段により、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射し、前記孔によって通過光束の断面形状を規制しつつ当該孔を通過した光の前記反射面からの反射光を前記撮像手段によって撮像することにより、当該通過光束の画像データを取得し、前記画像データから前記孔の中心位置を測定し、前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求め、前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正し、該ディスクを前記ホルダーに供給することを特徴とする磁気ディスクの位置決め方法を提供する。
また、本発明は、転写すべき情報を担持したマスターディスクと、被転写用の磁気ディスクとホルダーユニットで密着保持した状態で転写用磁界を印加することにより、前記磁気ディスクに前記情報を磁気的に転写記録する磁気転写装置において、中央部に孔が形成されている複数枚の磁気ディスクを収容するディスク収容部と、前記ディスク収容部から取り出された1枚の磁気ディスクをチャックするチャック手段と、前記チャック手段によって前記磁気ディスクをチャッキングした状態で当該磁気ディスクを予め定められている所定の測定位置を経由して前記ホルダーユニットに移動させ得るディスク搬送手段と、前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射する照明手段と、前記照明手段から照射され、前記孔によって通過光束の断面形状が規制された通過光を撮像し、当該通過光束の画像データを取得する撮像手段と、前記撮像手段によって得られた前記画像データから前記孔の中心位置を測定するとともに、前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求める画像解析手段と、前記画像解析手段により求めた前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正する位置補正を行い、当該磁気ディスクを前記ホルダーユニットに供給するように前記ディスク搬送手段を制御する制御手段と、を備え、前記撮像手段のレンズ部にテレセントリック光学系が用いられ、前記撮像手段の当該光学系と同軸上から照明用の光を照射する同軸落射方式の照明手段を備えるとともに、前記チャック手段に前記磁気ディスクの孔を通過して入射する光を反射するための反射面が設けられ、当該反射面からの反射光を前記撮像手段にて撮像する構成を備えることを特徴とする磁気転写装置を提供する。
前記マスターディスクが固定されているホルダーを含む前記ホルダーユニットに対して、前記被転写用の磁気ディスクを供給する際に、前述した本発明に係る磁気ディスクの位置決め方法を用いて、前記マスターディスク上に前記磁気ディスクを供給し、その後、前記マスターディスクと前記磁気ディスクとを密着させて前記転写用磁界を印加することを特徴とする。
図1は磁気転写装置の構成例を示す平面図である。図示の磁気転写装置10は、マスターディスク12,14を保持するホルダーユニット16内に被転写用の磁気ディスク(以下「スレーブディスク」という。)20を供給し、スレーブディスク20の両面にマスターディスク12,14を密着させた状態で磁石22、24により磁界を印加することにより、マスターディスク12,14の担持情報をスレーブディスク20の磁性層に転写記録するものである。
次に、本発明に係るディスクの位置決め方法の実施に好適な吸着ヘッド60の構成例を説明する。
測定対象物たるスレーブディスク20を挟んで、吸着ヘッド60と対向して配置されるディスク位置検出カメラ46には、例えば、テレセントリック光学系を組み込んで、入射する光線をCMOS又はCCDイメージセンサで受光するものが好適である。
下記条件にてディスク位置の検出及び測定を行った。
レンズ:オプトアート社製テレセットリックレンズ(TCL0400-M 0.4倍 絞り4)
カメラ:(株)アルゴ社製:LW620 (3000×2200 CMOS)
照明用の光源:赤LED (シーシーエス社製:LDL-TP-43×35)
分解能:8.751 μm/Pixel
画像解析ソフト:Vision builder7.1及び画像測定.vi
遮光条件:薄いφ10[mm]ゴムシート
上記条件により取得された画像例を図6に示す。
上記の構成を用いたディスクの位置決め方法は、次の手順によって行われる。
図3〜5で説明した光源内蔵タイプの吸着ヘッド60を用いてディスク孔からの透過光を撮像することによってディスク内周円の位置を測定する方式(「透過内径位置測定方式」と呼ぶ。)に代えて、テレセントリックレンズに同軸落射照明を組み合わせた光学系を利用してディスク孔からの反射光を撮像することによりディスク内周円の位置を測定する方式(「同軸落射内径位置測定方式」と呼ぶ。)を採用することも可能である。
下記条件にてディスク位置の検出及び測定を行った。
レンズ:オプトアート社製テレセットリックレンズ(TCL0400-F 0.4倍 絞り4 ;同軸落射タイプ)
カメラ:(株)アルゴ社製:LW620 (3000x2200 CMOS)
照明用の光源:青LED (シーシーエス社製:HLV-24BL)
分解能:7.763 μm/Pixel
画像解析ソフト:Vision builder7.1及び画像測定.vi
上記条件により取得された画像例を図13に示す。
ハードディスクは鏡面性が大変良いため、外乱光には特に留意が必要である。特に、内側エッジの面取り部は一般に45度±10度程度の角度のため、ハードディスクの面に沿う方向の外光はレンズ方向に反射するため、外乱光となりやすい。そこで、面から外周に向かう方向にカバーを設けたり、照明とレンズに適切な偏光フィルタを設けることが好ましい。また、青LED等、特定波長の照明を使用し、レンズ側にフィルタを設けるなどの構成により外乱光を軽減できる。
ここで、ホルダーユニット16の構成について説明する。
次に、本例の磁気転写装置の制御系について説明する。図18は、本例の磁気転写装置10の動作を制御する制御部と各構成機器との間の信号の流れを示す。マスターセット部36の隔壁ゲート84、アクチュエータ86、ホルダーユニット16、磁界印加装置48,49等の各要素の動作は、制御部300からの制御信号により制御される。
図19は、本例の磁気転写装置10における転写工程のフローチャートである。
Claims (12)
- 中央部に孔が形成されている磁気ディスクをホルダーに位置決めするための磁気ディスクの位置決め方法において、
前記磁気ディスクをチャッキングするチャック手段の内部に照明用の光源を配置するとともに、当該光源から照射される光を拡散しつつ前記孔よりも大きい外径の出射端面に導く導光板と、該導光板の出射端面側に、前記孔よりも小さい面積で中心部分の光を遮光する遮光板とを設け、
前記磁気ディスクを前記チャック手段でチャッキングした後、予め定められた所定の測定位置に当該磁気ディスクを移動させ、
前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射するように、前記遮光板の外側を通過したリング状の光束断面の光を前記チャック手段から前記磁気ディスクに向けて照射し、
前記孔によって通過光束の断面形状を規制しつつ当該孔を通過した光を撮像手段によって撮像することにより、当該通過光束の画像データを取得し、
前記画像データから前記孔の中心位置を測定し、
前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求め、
前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正し、該ディスクを前記ホルダーに供給することを特徴とする磁気ディスクの位置決め方法。 - 中央部に孔が形成されている磁気ディスクをホルダーに位置決めするための磁気ディスクの位置決め方法において、
前記磁気ディスクをチャック手段でチャッキングした後、予め定められた所定の測定位置に当該磁気ディスクを移動させ、
レンズ部にテレセントリック光学系を用いた撮像手段の当該光学系と同軸上から照明用の光を照射する同軸落射方式の照明手段を用いるとともに、前記チャック手段に前記磁気ディスクの孔を通過して入射する光を反射するための反射面が設けられ、
前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、前記照明手段により、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射し、
前記孔によって通過光束の断面形状を規制しつつ当該孔を通過した光の前記反射面からの反射光を前記撮像手段によって撮像することにより、当該通過光束の画像データを取得し、
前記画像データから前記孔の中心位置を測定し、
前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求め、
前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正し、該ディスクを前記ホルダーに供給することを特徴とする磁気ディスクの位置決め方法。 - 前記測定結果から求められた偏移量が所定の許容範囲内であるか否かを判定し、
許容範囲を超えていた場合には、当該磁気ディスクを前記測定位置に移動させる前の前記チャッキングを行ったときの位置の方向に前記磁気ディスクを所定量だけ戻す移動を行い、
その後、前記求められた偏移量の位置ずれを修正する補正量を含んだ再測定位置へ当該磁気ディスクを移動させ、
当該再測定位置にて再度前記磁気ディスクの孔の中心位置を測定し、当該再測定の結果と前記基準点との比較から、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求め、前記所定の許容範囲内であるか否かを再判定することを特徴とする請求項1又は2に記載の磁気ディクスの位置決め方法。 - 前記測定結果から求められた偏移量が所定の許容範囲内であるか否かを判定し、
許容範囲内であった場合に、当該磁気ディスクを前記ホルダーの保持位置まで移動させることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の磁気ディスクの位置決め方法。 - 前記測定結果から求められた偏移量が前記所定の許容範囲内であった場合に、前記基準点から前記ホルダーの保持位置まで前記磁気ディスクを移動させるための所定の移動量に対し、前記測定結果の偏移量に応じた補正量を考慮して移動量を求め、この求めた移動量による位置設定にしたがって、当該磁気ディスクを前記ホルダーの保持位置まで移動させることを特徴とする請求項4に記載の磁気ディスクの位置決め方法。
- 転写すべき情報を担持したマスターディスクと、被転写用の磁気ディスクとホルダーユニットで密着保持した状態で転写用磁界を印加することにより、前記磁気ディスクに前記情報を磁気的に転写記録する磁気転写装置において、
中央部に孔が形成されている複数枚の磁気ディスクを収容するディスク収容部と、
前記ディスク収容部から取り出された1枚の磁気ディスクをチャックするチャック手段と、
前記チャック手段によって前記磁気ディスクをチャッキングした状態で当該磁気ディスクを予め定められている所定の測定位置を経由して前記ホルダーユニットに移動させ得るディスク搬送手段と、
前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射する照明手段と、
前記照明手段から照射され、前記孔によって通過光束の断面形状が規制された通過光を撮像し、当該通過光束の画像データを取得する撮像手段と、
前記撮像手段によって得られた前記画像データから前記孔の中心位置を測定するとともに、前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求める画像解析手段と、
前記画像解析手段により求めた前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正する位置補正を行い、当該磁気ディスクを前記ホルダーユニットに供給するように前記ディスク搬送手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記チャック手段の内部に照明用の光源が配置されるとともに、当該光源から照射される光を拡散しつつ前記孔よりも大きい外径の出射端面に導く導光板と、該導光板の出射端面側に、前記孔よりも小さい面積で中心部分の光を遮光する遮光板とが設けられ、
前記遮光板の外側を通過したリング状の光束断面の光を当該チャック手段から前記磁気ディスクに向けて照射する構成を備えることを特徴とする磁気転写装置。 - 転写すべき情報を担持したマスターディスクと、被転写用の磁気ディスクとホルダーユニットで密着保持した状態で転写用磁界を印加することにより、前記磁気ディスクに前記情報を磁気的に転写記録する磁気転写装置において、
中央部に孔が形成されている複数枚の磁気ディスクを収容するディスク収容部と、
前記ディスク収容部から取り出された1枚の磁気ディスクをチャックするチャック手段と、
前記チャック手段によって前記磁気ディスクをチャッキングした状態で当該磁気ディスクを予め定められている所定の測定位置を経由して前記ホルダーユニットに移動させ得るディスク搬送手段と、
前記所定の測定位置で前記磁気ディスクのディスク面に対して垂直方向から、少なくとも前記孔のエッジを照明し得る光束断面の光を照射する照明手段と、
前記照明手段から照射され、前記孔によって通過光束の断面形状が規制された通過光を撮像し、当該通過光束の画像データを取得する撮像手段と、
前記撮像手段によって得られた前記画像データから前記孔の中心位置を測定するとともに、前記測定結果と予め設定されている基準点とを比較して、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求める画像解析手段と、
前記画像解析手段により求めた前記偏移量に基づいて前記磁気ディスクの位置を修正する位置補正を行い、当該磁気ディスクを前記ホルダーユニットに供給するように前記ディスク搬送手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記撮像手段のレンズ部にテレセントリック光学系が用いられ、
前記撮像手段の当該光学系と同軸上から照明用の光を照射する同軸落射方式の照明手段を備えるとともに、前記チャック手段に前記磁気ディスクの孔を通過して入射する光を反射するための反射面が設けられ、
当該反射面からの反射光を前記撮像手段にて撮像する構成を備えることを特徴とする磁気転写装置。 - 前記制御手段は、前記測定結果の偏移量に応じた補正量を考慮して、当該磁気ディスクを前記ホルダーユニットの規定位置まで移動させる制御を行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の磁気転写装置。
- 前記制御手段は、前記測定結果から求められた偏移量が所定の許容範囲内であるか否かを判定し、許容範囲を超えていた場合には、当該磁気ディスクを前記測定位置に移動させる前の前記チャッキングを行ったときの位置の方向に前記磁気ディスクを所定量だけ戻す移動を行い、その後、前記求められた偏移量の位置ずれを修正する補正量を含んだ再測定位置へ当該磁気ディスクを移動させ、当該再測定位置にて再度前記磁気ディスクの孔の中心位置を測定し、当該再測定の結果と前記基準点との比較から、前記基準点に対する前記測定結果の偏移量を求め、前記所定の許容範囲内であるか否かを再判定する制御を行うことを特徴とする請求項6乃至8のいずれか1項に記載の磁気転写装置。
- 前記制御手段は、前記測定結果から求められた偏移量が所定の許容範囲内であるか否かを判定し、許容範囲内であった場合に、当該磁気ディスクを前記ホルダーの保持位置まで移動させる制御を行うことを特徴とする請求項6乃至9のいずれか1項に記載の磁気転写装置。
- 転写すべき情報を担持したマスターディスクと、被転写用の磁気ディスクとホルダーユニットで密着保持した状態で転写用磁界を印加することにより、前記磁気ディスクに前記情報を磁気的に転写記録する磁気転写方法において、
前記マスターディスクが固定されているホルダーを含む前記ホルダーユニットに対して、前記被転写用の磁気ディスクを供給する際に、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の磁気ディスクの位置決め方法を用いて、前記マスターディスク上に前記磁気ディスクを供給し、
その後、前記マスターディスクと前記磁気ディスクとを密着させて前記転写用磁界を印加することを特徴とする磁気転写方法。 - 請求項11に記載の磁気転写方法を実施することによって前記情報が記録された磁気ディスクを製造することを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008017646A JP4761228B2 (ja) | 2008-01-29 | 2008-01-29 | 磁気ディスクの位置決め方法、磁気転写装置及び方法、並びに磁気ディスクの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008017646A JP4761228B2 (ja) | 2008-01-29 | 2008-01-29 | 磁気ディスクの位置決め方法、磁気転写装置及び方法、並びに磁気ディスクの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009181607A JP2009181607A (ja) | 2009-08-13 |
JP4761228B2 true JP4761228B2 (ja) | 2011-08-31 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4761228B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4060513B2 (ja) * | 1999-11-16 | 2008-03-12 | 松下電器産業株式会社 | ディスクの位置決め方法 |
JP2006252610A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | ディスクの位置決め方法、磁気転写装置、磁気転写方法、及び磁気ディスクの製造方法 |
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|
A521 | Written amendment |
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|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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