JP4757937B2 - 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 - Google Patents
延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4757937B2 JP4757937B2 JP2009212005A JP2009212005A JP4757937B2 JP 4757937 B2 JP4757937 B2 JP 4757937B2 JP 2009212005 A JP2009212005 A JP 2009212005A JP 2009212005 A JP2009212005 A JP 2009212005A JP 4757937 B2 JP4757937 B2 JP 4757937B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- extending
- conductors
- array
- conductor
- tunneling current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/14—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
Landscapes
- Nanotechnology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Description
延在する導電体のそれぞれに対して要素を関連づけ;
導電体を、好ましくは、相互に分離して、おおよそ直線状とし、検出可能な量子的トンネル電流がそれらの間に存在するように、電位差を印加し;そして
前記量子的トンネル電流を検出および/または測定することを含む。
図1の実施形態において、ナノないしサブミクロン寸法の範囲の幅の、ナノ寸法の延在する電気伝導性のワイヤ10、11はそれぞれ、それぞれの絶縁性メジウムのサブストレート12、13に、同一平面となるように埋め込まれる。この場合、導電体間を渡って電位差が電位源26によって印加されたときに、これらの間に、適切な検出回路27において検出可能な量子的トンネル電流100が存在するように、ワイヤは、2〜50オングストロームの範囲内の分離またはギャップ18にて実質的に直線状且つ平行な関係に重ね合わされる。
Claims (16)
- 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視するための装置であって、
前記それぞれの要素と関連付けられるようになっている一対の延在する導電体と、
前記延在する導電体をその間に可変とされた相対角度を与えつつ相互に離隔させて配置し、前記延在する導電体の間に電気的ポテンシャルの差を与えることで、その間に前記相対角度の関数である検出可能な量子的トンネル電流が発生するようにする手段とを有し、
前記延在する導電体を前記相互に離間させた配置にする前記手段は介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブもしくはバッキーボール(C60)ベアリングを含む装置。 - 前記延在する導電体の相対位置を調整して最大の量子的トンネル電流が検出される位置を決定する手段をさらに備える請求項1に記載の装置。
- 前記延在する導電体は、実質的に互いに平行となる関係で整列されており、それにより前記相対角度はそれら導電体の間の整列不良を示す尺度となる請求項1又は2に記載の装置。
- 前記延在する導電体は、導電体セグメントの並べられたグリッド又はアレイにそれぞれ配置されており、そのグリッド又はアレイは相補的かつ重ね合わされて前記導電体セグメントが検出可能な量子的トンネル電流を得るために十分な近さに配置される、請求項1から3のいずれかに記載の装置。
- 前記各グリッド又はアレイの導電体セグメントは、電気的に並列に結線されている請求項4に記載の装置。
- 前記延在する導電体は、ミクロンからナノメータオーダーの寸法である、請求項1から5のいずれかに記載の装置。
- 前記延在する導電体の対向する表面セグメント相互の分離は2〜50オングストロームの範囲にある、請求項1から6のいずれかに記載の装置。
- 前記延在する導電体は、長さが10−6〜10−2mの範囲にある1以上の導電体セグメントの状態になっている、請求項1から7のいずれかに記載の装置。
- 前記介挿フィルムは、有機媒質のフィルム、例えば有機溶剤である請求項1から8のいずれかに記載の装置。
- 前記延在する導電体は、導電体セグメントの並べられたグリッド又はアレイにそれぞれ配置され、それにより各アレイの交点が静電的な散乱井戸の格子を画成している、請求項1〜9のいずれかに記載の装置。
- 前記の格子は、その格子を形成するとともに、前記交点においてあるいはその間に1次元の領域を生成する磁気要素のアレイをさらに含んでいる請求項10に記載の装置。
- 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視する方法であって、
前記要素を延在する導電体にそれぞれ関連付け、
介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブもしくはバッキーボール(C60)ベアリングを用いて、前記延在する導電体をその間に可変とされた相対角度を与えつつ相互に離隔させて配置し、
その間に前記相対角度の関数である検出可能な量子的トンネル電流が発生するように、それら延在する導電体の間に電気的ポテンシャルの差を与え、
前記量子的トンネル電流を検出及び/又は測定する方法。 - 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視するための装置であって、
前記それぞれの要素と関連付けられるようになっている延在する導電体セグメントのそれぞれ並べられたグリッド又はアレイと、
前記グリッド又はアレイを相補的にかつ重ね合わせつつ相互に離隔させて配置し、前記グリッド又はアレイの間に電気的ポテンシャルの差を与えることで、その間に検出可能な量子的トンネル電流が発生するのに十分な近傍に前記延在する導電体セグメントを配置する手段とを有し、
前記延在する導電体を前記相補的にかつ重ね合わせつつ相互に離間させた配置にする前記手段は介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブもしくはバッキーボール(C60)ベアリングを含む装置。 - 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視するための装置であって、
前記それぞれの要素と関連付けられるようになっている平行な延在する導電体のそれぞれが並べられたアレイと、
前記アレイを互いに離隔させて配置する手段であって、前記アレイの前記延在する導電体は実質的に互いに平行な関係で整列されており、それによって前記要素が前記導電体の相対位置を横方向に変化させると、前記延在する導電体間に電気的ポテンシャルの差を印加することで、それら前記延在する導電体間に生成される検出可能な量子的トンネル電流は、前記相対位置又は変位の尺度となる一連のピークを示す手段とを有し、
前記アレイを前記相互に離間させた配置にする前記手段は介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブもしくはバッキーボール(C60)ベアリングを含む装置。 - 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視する方法であって、
前記要素を延在する導電体セグメントの並べられたグリッド又はアレイにそれぞれ関連付け、
介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブもしくはバッキーボール(C60)ベアリングを用いて、前記延在する導電体セグメントに電気的ポテンシャルの差を与えた際に、前記グリッド又はアレイ間に検出可能な量子的トンネル電流が発生するように前記延在する導電体セグメントを十分な近接に置くために、前記グリッド又はアレイを相補的で且つ重ねられた相互に離隔させて配置し、
前記量子的トンネル電流を検出及び/又は測定する方法。 - 二つの要素の相対的な位置又は変位を測定及び/又は監視する方法であって、
前記要素を、平行な延在する導電体の並べられたアレイにそれぞれ関連付け、
介挿フィルムおよび前記フィルムを包囲する手段またはナノチューブあるいはバッキーボール(C60)ベアリングを用いて、前記アレイの前記延在する導電体が実質的に互いに平行な関係で整列されるように前記アレイを相互に離隔させて配置し、前記導電体間において、前記相対的な位置又は変位の尺度となる一連のピークを呈するような検出可能な量子的トンネル電流が発生するように、前記導電体に電気的ポテンシャルの差を与え、
前記量子的トンネル電流を検出及び/又は測定する方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AUPP5702A AUPP570298A0 (en) | 1998-09-07 | 1998-09-07 | Device for measuring angles, angles of rotation, rotational velocity and alignment at microscopic and macroscopic level |
AUPP5702 | 1998-09-07 | ||
AUPP7709A AUPP770998A0 (en) | 1998-12-14 | 1998-12-14 | Measurement of fine angles |
AUPP7709 | 1998-12-14 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000569178A Division JP2002524725A (ja) | 1998-09-07 | 1999-09-07 | 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010060562A JP2010060562A (ja) | 2010-03-18 |
JP4757937B2 true JP4757937B2 (ja) | 2011-08-24 |
Family
ID=25645861
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000569178A Pending JP2002524725A (ja) | 1998-09-07 | 1999-09-07 | 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 |
JP2009212005A Expired - Fee Related JP4757937B2 (ja) | 1998-09-07 | 2009-09-14 | 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000569178A Pending JP2002524725A (ja) | 1998-09-07 | 1999-09-07 | 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6707308B1 (ja) |
EP (1) | EP1135665B1 (ja) |
JP (2) | JP2002524725A (ja) |
KR (1) | KR20010073134A (ja) |
CN (2) | CN100437017C (ja) |
AT (1) | ATE473942T1 (ja) |
BR (1) | BR9913502A (ja) |
CA (1) | CA2343261C (ja) |
DE (1) | DE69942585D1 (ja) |
IL (2) | IL141890A0 (ja) |
RU (1) | RU2224978C2 (ja) |
WO (1) | WO2000014476A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ATE473942T1 (de) * | 1998-09-07 | 2010-07-15 | Quantum Prec Instr Asia Pte Lt | Messungen zwischen langgestreckten leitern unter verwendung des tunnelstroms |
JP3522261B2 (ja) * | 2002-04-18 | 2004-04-26 | 日本電気株式会社 | ナノチューブ、近接場光検出装置および近接場光検出方法 |
JP3969228B2 (ja) * | 2002-07-19 | 2007-09-05 | 松下電工株式会社 | 機械的変形量検出センサ及びそれを用いた加速度センサ、圧力センサ |
EP1595123A1 (en) | 2003-01-23 | 2005-11-16 | William Marsh Rice University | Smart materials: strain sensing and stress determination by means of nanotube sensing systems, composites, and devices |
AU2003901914A0 (en) * | 2003-04-22 | 2003-05-08 | Quantum Precision Instruments Pty Ltd | Quantum tunnelling transducer device |
WO2006029450A2 (en) | 2004-09-14 | 2006-03-23 | Quantum Precision Instruments Asia Pte Ltd | Particle optics and waveguide apparatus |
DE102006004922B4 (de) * | 2006-02-01 | 2008-04-30 | Nanoscale Systems Nanoss Gmbh | Miniaturisiertes Federelement und Verfahren zu dessen Herstellung, Balkensonde, Rasterkraftmikroskop sowie Verfahren zu dessen Betrieb |
WO2009029043A1 (en) | 2007-08-24 | 2009-03-05 | Quantum Precision Instruments Asia Private Limited | Quantum tunnelling sensor device and method |
US8381601B2 (en) * | 2008-05-05 | 2013-02-26 | John F. Stumpf | Transducer matrix film |
US8091437B2 (en) * | 2008-05-05 | 2012-01-10 | John Stumpf | Transducer matrix film |
CN101776434B (zh) * | 2010-03-10 | 2011-12-14 | 南开大学 | 基于隧道电流反馈瞄准的小盲孔测量方法及测量装置 |
WO2014117161A1 (en) * | 2013-01-28 | 2014-07-31 | Massachusetts Institute Of Technology | Electromechanical device |
CN105891547A (zh) * | 2014-09-18 | 2016-08-24 | 扬州思必得仪器设备有限公司 | 一种隧穿纤维 |
IT202100027005A1 (it) | 2021-10-21 | 2023-04-21 | Milano Politecnico | Supporto antivibrazione con sensore integrato e sistema di monitoraggio di sollecitazioni meccaniche comprendente detto supporto |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0262253A1 (en) | 1986-10-03 | 1988-04-06 | International Business Machines Corporation | Micromechanical atomic force sensor head |
EP0646913B1 (en) * | 1987-08-25 | 1999-01-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Encoder using the tunnel current effect |
JPS6486002A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | Fujitsu Ltd | Fine displacement meter |
US5210714A (en) * | 1988-10-14 | 1993-05-11 | International Business Machines Corporation | Distance-controlled tunneling transducer and direct access storage unit employing the transducer |
JP2996748B2 (ja) * | 1990-02-09 | 2000-01-11 | キヤノン株式会社 | 位置ずれ検出装置および方法 |
US5216631A (en) * | 1990-11-02 | 1993-06-01 | Sliwa Jr John W | Microvibratory memory device |
US5418771A (en) * | 1993-02-25 | 1995-05-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing apparatus provided with surface aligning mechanism between probe head substrate and recording medium substrate |
US5432356A (en) * | 1993-04-02 | 1995-07-11 | Fujitsu Limited | Semiconductor heterojunction floating layer memory device and method for storing information in the same |
US6021065A (en) * | 1996-09-06 | 2000-02-01 | Nonvolatile Electronics Incorporated | Spin dependent tunneling memory |
JPH07118270B2 (ja) * | 1993-10-25 | 1995-12-18 | 日本電気株式会社 | カーボンナノチューブトランジスタ |
US5679888A (en) * | 1994-10-05 | 1997-10-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dynamic quantity sensor and method for producing the same, distortion resistance element and method for producing the same, and angular velocity sensor |
GB9426363D0 (en) * | 1994-12-29 | 1995-03-01 | Lynxvale Ltd | A micromechanical accelerometer |
US5703382A (en) * | 1995-11-20 | 1997-12-30 | Xerox Corporation | Array having multiple channel structures with continuously doped interchannel regions |
US5751156A (en) * | 1995-06-07 | 1998-05-12 | Yale University | Mechanically controllable break transducer |
US5756895A (en) * | 1995-09-01 | 1998-05-26 | Hughes Aircraft Company | Tunneling-based rate gyros with simple drive and sense axis coupling |
GB9524241D0 (en) * | 1995-11-28 | 1996-01-31 | Smiths Industries Plc | Rate sensors |
JPH10321482A (ja) * | 1997-05-22 | 1998-12-04 | Casio Comput Co Ltd | 電気二重層コンデンサ |
ATE473942T1 (de) * | 1998-09-07 | 2010-07-15 | Quantum Prec Instr Asia Pte Lt | Messungen zwischen langgestreckten leitern unter verwendung des tunnelstroms |
-
1999
- 1999-09-07 AT AT99947096T patent/ATE473942T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-09-07 BR BR9913502-7A patent/BR9913502A/pt not_active IP Right Cessation
- 1999-09-07 IL IL14189099A patent/IL141890A0/xx active IP Right Grant
- 1999-09-07 EP EP99947096A patent/EP1135665B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-09-07 WO PCT/AU1999/000733 patent/WO2000014476A1/en not_active Application Discontinuation
- 1999-09-07 DE DE69942585T patent/DE69942585D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-09-07 US US09/786,641 patent/US6707308B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-09-07 JP JP2000569178A patent/JP2002524725A/ja active Pending
- 1999-09-07 CN CNB2004101000861A patent/CN100437017C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-09-07 RU RU2001110083/28A patent/RU2224978C2/ru not_active IP Right Cessation
- 1999-09-07 CA CA002343261A patent/CA2343261C/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-09-07 KR KR1020017002955A patent/KR20010073134A/ko not_active Application Discontinuation
- 1999-09-07 CN CNB998106658A patent/CN1249398C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-03-07 IL IL141890A patent/IL141890A/en not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-09-14 JP JP2009212005A patent/JP4757937B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1673665A (zh) | 2005-09-28 |
IL141890A (en) | 2006-08-20 |
DE69942585D1 (de) | 2010-08-26 |
JP2002524725A (ja) | 2002-08-06 |
CN1317083A (zh) | 2001-10-10 |
ATE473942T1 (de) | 2010-07-15 |
EP1135665B1 (en) | 2010-07-14 |
RU2224978C2 (ru) | 2004-02-27 |
IL141890A0 (en) | 2002-03-10 |
US6707308B1 (en) | 2004-03-16 |
BR9913502A (pt) | 2001-12-04 |
CN1249398C (zh) | 2006-04-05 |
CA2343261A1 (en) | 2000-03-16 |
EP1135665A4 (en) | 2002-06-19 |
KR20010073134A (ko) | 2001-07-31 |
EP1135665A1 (en) | 2001-09-26 |
WO2000014476A1 (en) | 2000-03-16 |
CN100437017C (zh) | 2008-11-26 |
JP2010060562A (ja) | 2010-03-18 |
CA2343261C (en) | 2007-11-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4757937B2 (ja) | 延在する導電体間のトンネル電流を用いた測定 | |
US5235187A (en) | Methods of fabricating integrated, aligned tunneling tip pairs | |
Nakayama et al. | Development and application of multiple‐probe scanning probe microscopes | |
US7455788B2 (en) | Nanoscale electric lithography | |
JP3069923B2 (ja) | カンチレバー型プローブ及び原子間力顕微鏡、情報記録再生装置 | |
RU2001110083A (ru) | Измерения с использованием туннельного тока между удлиненными проводниками | |
AU762017B2 (en) | Measurements using tunnelling current between elongate conductors | |
ZA200101914B (en) | Measurements using tunnelling current between elongate conductors. | |
KR20070010174A (ko) | 재료의 가로 특성화 장치 및 방법 | |
GB2267997A (en) | Atomic scale devices | |
JP3226424B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡ならびに該顕微鏡を用いた加工装置および情報処理装置 | |
US9766066B2 (en) | Position sensing apparatus | |
Huang | Quantum Transport in Strained Single-wall Carbon Nanotube Transistors | |
JP2001183282A (ja) | 走査型プローブを有する情報検出装置及び情報検出方法 | |
JP2960592B2 (ja) | 形状測定プローブおよびその製造方法 | |
JP2686651B2 (ja) | 変位量検出装置 | |
JPH04115103A (ja) | カンチレバー型プローブ及び該プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡、精密位置決め装置、情報処理装置 | |
JPH06241780A (ja) | 走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡及びそれらを 用いた加工装置 | |
Gong et al. | Design and modeling of a MEMS-based tunable optical nanoantenna | |
JPH04366702A (ja) | 微小変位検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101214 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110311 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110316 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110412 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110510 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110601 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140610 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140610 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140610 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |