JP4748455B2 - 電子部品モジュール - Google Patents

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本発明は電子部品モジュールに関し、より詳しくは各種電子部品がセラミック多層基板等の基板表面に実装され、かつ前記電子部品の実装領域が金属製部材で保護された電子部品モジュールに関する。
各種電子部品がセラミック多層基板等の基板表面に実装された電子部品モジュールは、吸着ノズル等の吸着治具を使用して回路基板上に実装される。そして、従来の電子部品モジュールでは、吸着治具の吸着部位を確保し、かつ電子部品を保護するために基板には金属製部材が取り付けられている。
上記金属製部材としては、平面形状の天板部と、該天板部の端面から垂下された爪部とを有するものが一般的であり、爪部が基板にはんだ付けされて金属製部材が基板に取り付けられている。また、爪部と基板との接合位置は、従前は基板上の実装領域の周辺に設けられていたが、近年の電子部品の小型化や実装領域の拡大等に伴い、アース電位とされた側面電極を基板側壁に設け、爪部を側面電極にはんだ付けして接合する方式が広く採用されている。
そして、この種の先行技術としては、発振器に関するものであるが、基板の相対向する2つの側面にのみアース電極を形成し、その基板上に実装された発振回路を遮蔽ケースで覆うと共に、遮蔽ケースとアース電極とを該遮蔽ケースの接合部を介してはんだ付けし、電気的に接続したものが知られている(特許文献1)。
特許文献1を上述した金属製部材に適用すると、図10に示すように、基板101の側壁に形成された側面電極102(アース電極)に爪部103(接合部)がはんだ付けされて金属製部材104が基板101に接合されることとなる。そして、この図10のような構成を採用した場合は、金属製部材104によって基板101上に実装された電子部品が保護されると共に吸着治具のための吸着部位を確保することができる。
また、取付部材の基板に対する接合構造としては、図11に示すように、基板106の側面電極107に隣接する基板上面にはんだ付け用電極108を形成する一方、取付部材である金属製部材109の爪部110に切欠部(スリット)110aを形成すると共に、該切欠部110aの最深部110bがはんだ付け用電極108の上面よりも上方に位置するように形成した技術も既に提案されている(特許文献2)。
図11のような構成を採用した場合は、切欠部110aの最深部110bとはんだ付け用電極108との間にはんだを流し込むことによってはんだ付け用電極108と金属製部材109とを内側からはんだ付けすることが可能となり、これにより接合強度の向上を図ることが可能になる。
特開平4−328903号公報 特許第3221130号明細書
ところで、上記図10及び図11において、爪部103、110を基板101、106に接合する方法としては、金属製部材104、109を下にして該金属製部材104、109の爪部103、110に基板101、106を嵌め込み、ディスペンサやシリンジ等のはんだ供給手段を介して爪部103、110近傍にはんだペーストを供給し、リフロー炉で加熱処理を施すのが一般的である。
しかしながら、図10に示すような構造を採用した場合、側面電極102と爪部103との間で十分な接合面積を確保するために側面電極102を基板101の厚み方向の上端から下端に至るまで形成しているものの、爪部103が単なる板状であるため、はんだは主として爪部103の先端部分から供給されることとなって爪部103の基端部分(図中、xで示す。)には殆どはんだを供給することができない。このため、リフロー処理を施しても、基端部分では爪部103と側面電極102とが接合されず、したがって接合面積も小さく接合強度が弱いため、爪部103と側面電極102とが容易に外れてしまうおそれがある。
また、図12に示すように、爪部103の先端に凹状の切欠部103aを形成し、これによりはんだを基端部分に供給するように工夫しても、はんだペーストを基端部分にまで万遍なく行き渡らすのは困難であり、本来はんだで満たされていなければならない接合部、すなわち爪部103と側面電極102との間に空洞が形成されて接合強度の低下を招き、このため製品検査時や回路基板への搭載時に金属製部材104が基板101から容易に外れてしまうおそれがある。
一方、図11に示すような構造を採用した場合は、爪部110の切欠部110aの最深部110bがはんだ付け用電極113よりも上方に位置しているので、金属製部材109と基板106とははんだ付け用電極108を介して強固に接合させることができるが、リフロー処理時に溶融したはんだペーストが基板106の表面に入り込み、このためはんだが実装領域にまで流れ込んで短絡等の不具合が生じるおそれがある。
また、はんだ付け用電極108を設けずに爪部110を側面電極107のみにはんだ接合した場合であっても、はんだペーストは切欠部110aの最深部110b付近から基板106の表面に容易に入り込み、したがって上述と同様、リフロー時に溶融したはんだペーストが実装領域に流れ込んで短絡等の不具合が生じるおそれがある。
特に、近年、電子部品モジュールの小型化・高密度化に伴って実装領域が拡大していることから、はんだペーストが基板表面に流れ込むのは信頼性確保の観点からも避ける必要がある。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであって、はんだ等の導電性接合剤が実装領域に流れ込みことなく接合領域に万遍なく行き渡らせることができ、これにより基板と金属製部材との接合強度に優れた電子部品モジュールを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明に係る電子部品モジュールは、基板の表面に電子部品が実装されると共に、金属製部材が前記基板に取り付けられて前記電子部品の実装領域が保護された電子部品モジュールにおいて、前記基板の側壁には、該側壁の厚み方向の上端から下端にかけて側面電極が形成されると共に、前記金属製部材は、導電性接合剤を介して前記側面電極に接合する爪部を有し、記爪部は、下端から上方にかけて切欠部が形成されると共に、該切欠部の最深部は、前記基板の上端に対応する位置よりも微小距離だけ下方であり、かつ、前記側面電極は、前記切欠部と対向する位置に配されると共に、前記側面電極の幅は、前記爪部の幅よりも短く形成されていることを特徴としている。
また、本発明の電子部品モジュールは、前記微小距離が150μm以下であることを特徴としている。
さらに、本発明の電子部品モジュールは、前記側面電極と電気的に接続された裏面電極が前記基板の裏面側に形成されると共に、前記側面電極の幅寸法は、前記裏面電極の幅寸法と同等、又は同等以下であることを特徴としている。
本発明の電子部品モジュールによれば、基板の側壁には、該側壁の厚み方向の上端から下端にかけて側面電極が形成されると共に、金属製部材は、導電性接合剤を介して前記側面電極に接合する爪部を有し、かつ、前記爪部は、下端から上方にかけて切欠部が形成されると共に、該切欠部の最深部は、前記基板の上端に対応する位置よりも微小距離(具体的には、150μm以下)だけ下方であり、 かつ、前記側面電極は、前記切欠部と対向する位置に配されると共に、前記側面電極の幅は、前記爪部の幅よりも短く形成されているので、はんだが過度に濡れ拡がることもなく、側面電極と爪部との間隙には前記切欠部から導電性接合剤を万遍なく行き渡らせることができる。また、切欠部を形成したことにより、爪部と側面電極との接合面積は減少するが、側面電極と切欠部の端縁部との間でフィレットを形成することができ、これにより接合強度を確保することができる。
さらに、切欠部の最深部は、前記基板の上端対応位置よりも微小距離だけ下方であるので、導電性接合剤が基板表面側に流入するのを避けることができ、実装部品と電気的に接触することもなく、短絡等の不具合が生じるのを回避することができ、これにより接続信頼性を確保することができ、製品歩留まりを向上させることが可能となる。
さらに、本発明の電子部品モジュールは、前記側面電極と電気的に接続された裏面電極が前記基板の裏面側に形成されると共に、前記側面電極の幅寸法は、前記裏面電極の幅寸法と同等、又は同等以下であるので、側面電極の幅寸法も小さくすることができ、小型化・高密度化に適した電子部品モジュールを得ることができる。
次に、本発明の実施の形態を図面に基づき詳説する。
図1は本発明に係る電子部品モジュールの概略を示す斜視図であり、図2はその側面図である。
図1及び図2において、この電子部品モジュールは、セラミック多層基板やプリント基板等の基板1の表面に半導体素子やチップ型電子部品等の多数の電子部品2a、2b、…が実装されている。そして、基板1には金属製部材3が取り付けられ、これにより前記電子部品2a、2b、…の実装領域が保護されると共に、吸着治具による吸着部位が確保されている。
金属製部材3は、具体的には、平面形状に形成された天板部4と、該天板部4の端縁から対向状に垂下された一対の爪部5と、実装領域を遮蔽する平面視コ字状の遮蔽部30とを有している。遮蔽部30は、爪部5が形成されていない対向側面に形成されて実装領域を遮蔽されると共に、前記爪部5には切欠部5aが形成されている。
そして、基板1の側壁部1aには、側面電極6が形成され、導電性接合剤としてのはんだを介して爪部5と側面電極6とが接合されている。
図3は図2のA部拡大図である。
側面電極6は、具体的には斜線で示すように、爪部5と略対向状に側壁部1aの上端から下端にかけて所定の幅Dでもって形成されている。
また、爪部5の切欠部5aは、該爪部5の下端から上方にかけて略コ字状に前記側面電極6と対向する位置に形成されており、切欠部5aの最深部5bは、基板1の上端1bに対応する位置よりも微小距離Tだけ下方となるように形成されている。
ここで、前記微小距離Tは、はんだが爪部5と側面電極6との間隙に万遍なく行き渡らせることができ、かつ切欠部5aの最深部5bから基板表面にはんだが入り込まないような距離であればよく、具体的には150μm以下が好ましい。
また、側面電極6の幅Dは、はんだが過度に濡れ拡がらないようにるためには、図3に示すように、爪部5の幅よりも短く形成して爪部5内に収まらせるのが好ましく、そのためには側面電極6の幅Dは、0.6mm以下が好ましい。すなわち、基板1の裏面には、後述するように回路基板との電気的接続を確保すべく裏面電極が形成され、また、側面電極6は前記裏面電極と電気的に接続される。しかるに、今日の基板の小型化・高密度化を実現するためには、裏面電極同士の間隔を短くし、また、裏面電極自体の幅も狭くする必要がある。このため側面電極6の幅Dも所望の接合強度を確保できるのであれば、極力狭いのが好ましく、具体的には0.6mm以下が好ましい。
このように本実施の形態では、爪部5に略コ字状の切欠部5aが形成されると共に、切欠部5aの最深部5bが基板1の上端1bに対応する位置よりも微小距離Tだけ下方となるように形成されているので、はんだが過度に濡れ拡がることもなく、はんだを切欠部5aの端縁部分から側面電極6と爪部5との間隙、すなわち接合領域に万遍なく行き渡らせることができる。また、切欠部5aを形成したことにより、爪部5と側面電極6との接合面積は減少するが、側面電極6と切欠部5aの端縁部5cとの間にははんだフィレットが形成されるため、十分なる接合強度を確保することができる。
さらに、切欠部5の最深部5bは、基板1の上端1bに対応する位置よりも微小距離Tだけ下方にあるので、はんだが基板1の表面、すなわち実装領域に流入するのを回避することができ、短絡等の不具合が生じるのを極力防止することができ、接続信頼性を確保することができ、製品歩留まりの向上を図ることができる。
上記電子部品モジュールは、通常、大判の基板本体をマトリックス状に切断することにより、一つの基板本体から複数個取得される。
図4は上記電子部品モジュールの製造方法を示す工程図である。
まず、メタルマスク等を使用して所定の配線パターンを大判の基板本体7の表面にはんだ印刷し、次いでマウンタを使用し、図4(a)に示すように、半導体素子やチップ型電子部品等の各種電子部品2a、2b、…を基板1上に搭載し、次いで、リフロー炉を使用して加熱処理を行い、これら電子部品2a、2b、…を基板1上に実装する。
そして、基板本体7には上下方向に予め導通ビア(不図示)が形成されており、導通ビアを二分割して側面電極が形成されるように基板本体を切断し、電子部品モジュールの構成部材となる基板1(子基板)を取得する。図中、二点鎖線が切断線を示している。
そしてその後、上述した金属製部材3を用意する。そして、図4(b)に示すように、該金属製部材3を爪部5が上方に位置するようにし、さらに、電子部品2a、2b、…が下側となるように基板1を配し、基板1を前記爪部5内に嵌め込む。
次に、図4(c)に示すように、シリンジ等のはんだ供給手段8を使用してはんだ9を切欠部5aから爪部5と側面電極6との間隙に供給し、前記間隙にはんだ9を充填する。
次に、図4(d)に示すように、リフロー炉で加熱処理を行ってはんだ9を溶融させて爪部5と側面電極6とを接合させ、これにより、図5に示すような電子部品モジュールが製造される。
このように本実施の形態では、切欠部5aを最深部5bが基板1の上端1よりも微小距離Tだけ下方となるように形成しているので、はんだ9は基板表面に流れ込むことなく側面電極6の略全域に濡れ拡がり、金属製部材3と側面電極6とは強固に接合する。そして、はんだ9は基板1上には流れ込まないので、基板1上に実装された電子部品2a、2b、…と金属製部材3間とで短絡等が発生するのを回避することができる。また、製品の特性検査時に加圧冶具で上方から押圧して特性選別を行っているが、金属製部材3と側面電極6との間の接合が強固であることから、加圧冶具で上方から押圧しても金属製部材3が基板1から外れることもない。
さらに、側面電極の幅Dが狭くても、金属製部材3と側面電極6との接合強度が大きいことから、金属製部材3が基板1から外れるのを防止することができる。
近年、電子部品モジュールの小型化・高密度化によって側面電極の幅をより一層狭くすることが要求されており、本発明はこのような側面電極の幅の狭い電子部品モジュール用基板、特にセラミック多層基板に有用である。
すなわち、コンデンサ電極やコイル導体等の内部導体が内蔵されたセラミック多層基板では、セラミックグリーンシート上にビアホールを形成する一方で、セラミックグリーンシート上に導電性ペーストを塗布・印刷し、その後、積層し、焼成処理を行って大判の基板本体を作製し、上述したように基板本体を切断し、子基板としてのセラミック多層基板が得られる。
図6はこの種の基板本体の底面図であって、該基板本体10は、導電性材料が充填された導通ビア11が、子基板10aと子基板10bとの境界部分であって基板本体10の裏面に対して垂直方向に形成されている。さらに基板本体10の裏面には導通ビア11と電気的に接続可能となるように裏面電極12が形成されている。尚、裏面電極12及び該裏面電極12と電気的に接続された導通ビア11は、回路基板に実装されたときに双方共、回路基板のアース電位に電気的に接続される。
このように裏面電極12と導通ビア11とは重畳的に形成されており、切断線13に沿って基板本体10を切断することにより、図7に示すように、子基板10a、10bとしてのセラミック多層基板が取得される。そしてこれにより、裏面電極12が裏面電極12aと裏面電極12bとに二分割され、さらに導通ビア11も二分割されて側面電極11a、11bが形成されることとなる。
そして、セラミック多層基板の小型化・高密度化を実現するためには、上述したように、裏面電極12の幅d2を狭くし、かつ裏面電極12間の間隔を狭くする必要があり、したがって側面電極の幅d1も狭くする必要がある。
裏面電極12を側面電極11a、11bと同時に形成する場合、すなわち、裏面電極12を導通ビア11と同時に形成する場合は、側面電極11a、11b(導通ビア11)の幅d1は裏面電極12の幅d2と同一寸法に形成される。
また、裏面電極12の形状を安定させるために導通ビア11を形成した後、さらに裏面電極12を形成する場合は、裏面電極12は側面電極11a、11b(導通ビア11)の形状を隠すように形成されるため、側面電極11a、11bの幅d1は裏面電極12の幅d2よりも狭く形成される。
しかるに、本実施の形態では、上述のように爪部5と側面電極6とが強固に接合されているので、側面電極11a、11bの幅d1が狭くとも、十分な接合強度を得ることができ、したがって、本発明は、側面電極11a、11bの幅d1を狭くしなければならないような小型化・高密度化の要求される電子部品モジュールに特に有用である。
図8はこのようにして製造された電子部品モジュールの一実施の形態を示す内部構造図である。
すなわち、この電子モジュールでは、内部導体15がセラミック多層基板16に内蔵され、またビアホール17を介してセラミック層の内部導体15同士が電気的に接続され、或いはビアホール17がセラミック多層基板16から表面露出している。そして、セラミック多層基板16の表面側にはチップ型電子部品や半導体素子等の各種電子部品19a〜19eが実装され、さらに、セラミック多層基板16の裏面側にはキャビティ20が形成されると共に、該キャビティ20内にはIC等の電子部品19f、19gが収容されている。そしてこれら電子部品19f、19gはキャビティ20に表面露出している内部導体やビアホールとワイヤボンディングされて電気的に接続されている。
そして、金属製部材21は、その爪部21aが側面電極22とはんだを介して接合され、該側面電極22は裏面電極23を介して回路基板(不図示)に実装され、アース電位に電気的に接続されている。
このように本実施の形態では、金属製部材21の爪部21aと側面電極22とが強固に接合されているので、側面電極22の幅が狭くとも、十分な接合強度を得ることができ、したがって側面電極22の幅を狭くする必要のある小型化・高密度化の要求される電子部品モジュールに特に有用である。
尚、本発明は上記実施の形態に限定されるものではない。例えば、上記実施の形態では、爪部5における切欠部5aが略コ字状となるように最深部5bを直線状に形成しているが(図3参照)、図9に示すように、切欠部5aが略U字状となるように最深部5cをR形状に形成してもよい。
また、はんだ9の塗布方法についても特に限定されるものではなく、例えば、側面電極又は爪部に対しはんだを横方向や垂直方向から塗布する方法や、メタルマスクを介して上方から供給する方法等、いずれを採用してもよい。
さらに、上記実施の形態ではリフロー炉で加熱処理し、はんだを溶融させているが、はんだの塗布領域に熱風を吹き込んで溶融させるようにしてもよい。
本発明に係る電子部品モジュールの一実施の形態を示す斜視図である。 上記電子部品モジュールの側面図である。 図2のA部拡大図である。 上記電子部品モジュールの製造工程の概略を示す工程図である。 図4(d)のB−B矢視図である。 大判基板の底面図である。 大判基板を切断した状態を示す底面図である。 本発明の電子部品ジュールの一実施の形態を示す内部構造図である。 本発明に係る電子部品モジュールの他の実施の形態を示す要部拡大図である。 従来の電子部品モジュールの一例を示す要部拡大図である。 従来の電子部品モジュールの他の例を示す要部拡大図である。 図10の従来例の変形例を示す要部拡大図である。
符号の説明
1 基板
1a 基板上端
2a、2b 電子部品
3 金属製部材
5 爪部
5a 切欠部
5b 最深部
5c 最深部
6 側面電極
9 はんだ(導電性接合剤)
10a、10b セラミック多層基板(基板)
11a、11b 側面電極
12、12a、12b 裏面電極
16 セラミック多層基板(基板)
19a〜19g 電子部品
21 金属製部材
21a 爪部
22 側面電極
23 裏面電極

Claims (3)

  1. 基板の表面に電子部品が実装されると共に、金属製部材が前記基板に取り付けられて前記電子部品の実装領域が保護された電子部品モジュールにおいて、
    前記基板の側壁には、該側壁の厚み方向の上端から下端にかけて側面電極が形成されると共に、
    前記金属製部材は、導電性接合剤を介して前記側面電極に接合する爪部を有し、
    記爪部は、下端から上方にかけて切欠部が形成されると共に、該切欠部の最深部は、前記基板の上端に対応する位置よりも微小距離だけ下方であり、
    かつ、前記側面電極は、前記切欠部と対向する位置に配されると共に、前記側面電極の幅は、前記爪部の幅よりも短く形成されていることを特徴とする電子部品モジュール。
  2. 前記微小距離は150μm以下であることを特徴とする請求項1記載の電子部品モジュール。
  3. 前記側面電極と電気的に接続された裏面電極が前記基板の裏面側に形成されると共に、前記側面電極の幅寸法は、前記裏面電極の幅寸法と同等、又は同等以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の電子部品モジュール。
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