JP4747984B2 - 触媒劣化量推定方法及び触媒劣化量推定装置 - Google Patents
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Description
2 エンジン(内燃機関)
3 排気通路
4 触媒
5 温度センサ(触媒温度測定手段)
6 コンピュータ(維持時間検出手段、演算手段、表示部)
6a 表示部
Claims (9)
- 触媒の使用時の触媒温度と該触媒温度の維持時間を基に、該維持時間内での触媒の劣化増分量を、触媒の劣化速度に前記維持時間を乗じた値として算出し、前記維持時間内での前記劣化増分量を触媒使用開始時から触媒の劣化量の推定時まで積算した値を、該推定時までの触媒の劣化量とすると共に、前記各維持時間における前記劣化速度を前記各維持時間における触媒の劣化量と前記各維持時間における触媒温度に対応して変化させることを特徴とする触媒劣化量推定方法。
- 前記維持時間内における、前記触媒温度をTi(℃)、前記劣化速度をVi、前記劣化量をRiとした時に、前記劣化量Riに応じて決まる係数Kiを用いて、前記劣化速度Vi
を、Vi=exp(−Ki/(Ti+273))で算出することを特徴とする請求項1記載の触媒劣化量推定方法。 - 前記係数Kiと前記劣化量Riとの関係を、対象とする触媒を所定の一定温度Teで所定の時間Δty維持した後に、単一又は複数の実用的な所定の浄化温度T1,T2,T3・・で浄化率ryを測定することを繰り返して、経過時間tyと浄化率ryとの関係を求める浄化率測定試験から得られるデータを基に設定することを特徴とする請求項2記載の触媒劣化量推定方法。
- 前記所定の一定温度Teでの経過時間の区間Δtyiにおける劣化増分量Δryiを用いて、経過時間の区間Δtyiにおける劣化速度Vi(Te)をVi(Te)=Δryi/Δtyiで算出し、経過時間の区間Δtyiにおける前記係数Kiを、Ki=−(Te+273)×Ln(Vi(Te))で算出すると共に、経過時間の区間Δtyiにおける劣化量Riを前記経過時間tyと前記浄化率ryの関係から算出し、経過時間の区間Δtyiにおける前記係数Kiと前記劣化量Riの関係から、前記係数Kiを前記劣化量Riに応じて決めることを特徴とする請求項3記載の触媒劣化量推定方法。
- 触媒の使用時の触媒温度を検出する触媒温度検出手段と、前記触媒温度の維持時間を検出する維持時間検出手段と、演算手段を備え、
該演算手段が、前記触媒温度検出手段で検出した触媒の使用時の触媒温度と、前記維持時間検出手段で検出された前記触媒温度の維持時間を基に、該維持時間内での触媒の劣化増分量を、前記触媒温度における触媒の劣化速度に前記維持時間を乗じた値として算出し、前記劣化増分量を触媒使用開始時から触媒の劣化量の推定時まで積算した値を、該推定時までの触媒の劣化量とすると共に、前記各維持時間における前記劣化速度を前記各維持時間における触媒の劣化量と前記各維持時間における触媒温度に対応して変化させることを特徴とする触媒劣化量推定装置。 - 前記演算手段が、前記維持時間内における、前記触媒温度をTi(℃)、前記劣化速度をVi、前記劣化量をRiとした時に、前記劣化量Riに応じて決まる係数Kiを用いて、前記劣化速度Viを、Vi=exp(−Ki/(Ti+273))で算出することを特徴とする請求項5記載の触媒劣化量推定装置。
- 前記演算手段において、前記係数Kiと前記劣化量Riとの関係が、対象とする触媒を所定の一定温度Teで所定の時間Δty維持した後に、単一又は複数の実用的な所定の浄化温度T1,T2,T3・・で浄化率ryを測定することを繰り返して、経過時間tyと浄化率ryとの関係を求める浄化率測定試験から得られるデータを基に設定されていることを特徴とする請求項6記載の触媒劣化量推定装置。
- 前記演算手段において、前記所定の一定温度Teでの経過時間の区間Δtyiにおける劣化増分量Δryiを用いて、経過時間の区間Δtyiにおける劣化速度Vi(Te)がVi(Te)=Δryi/Δtyiで算出され、経過時間の区間Δtyiにおける前記係数Kiが、Ki=−(Te+273)×Ln(Vi(Te))で算出されると共に、経過時間の区間Δtyiにおける劣化量Riが前記経過時間tyと前記浄化率ryの関係から算出され、経過時間の区間Δtyiにおける前記係数Kiと前記劣化量Riの関係から、前記係数Kiが前記劣化量Riに応じて決められるように設定されていることを特徴とする請求項7記載の触媒劣化量推定装置。
- 更に、前記演算手段で算出された結果を表示する表示部を備え、前記劣化量Riを予め設定された寿命劣化量Reで除して算出された劣化度合Ri/Reと、触媒の熱履歴中の最高温度の少なくとも一方を、前記表示部に表示することを特徴とする請求項6、7、又は、8記載の触媒劣化量推定装置。
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