JP4727469B2 - 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム - Google Patents

画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム Download PDF

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Description

本発明は、被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段が相対移動しながら指定された測定箇所で停止することなく瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う非停止測定モードを備えた画像測定システム及び画像測定方法及び画像測定プログラムに関する。
従来、CNC画像測定機は、図14に示すようにCCDカメラ等の撮像手段に対して測定ステージ移動させ、測定箇所で停止させると共に、照明光量を調整して被測定対象の画像情報を取得し、取得された画像情報に対して測定ツール設定及びエッジ検出等の画像処理を施すことにより1つの測定箇所の測定を実行する。この測定を測定1,測定2,…のように全ての測定箇所に繰り返し実行することにより必要な箇所の測定を行うようにしている(以下、このような測定モードを「標準モード」と呼ぶ。)。
これに対し、測定のスループットを向上させる目的で、測定箇所でも撮像手段に対して測定ステージを停止させることなく測定動作を行う測定モード(以下、このような測定モードを「非停止測定モード」と呼ぶ。)を備えた画像測定機が提案されている(特許文献1)。この画像測定機は、図15に示すように、測定ステージを測定箇所で停止させることなく被測定対象にストロボ照明を照射するか又はシャッター付きのCCDカメラを使用して撮像された瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う。また、この画像測定機においては、CCDカメラを測定領域に高速で粗く位置決め、その後、減速させて所定の低速領域でイメージを取り込む。
特表2004−535587号公報、段落0005〜0006、図2
上述した従来の画像測定機は、測定すべき複数の箇所が直線上に配置されている場合には問題ないが、直線上に並んでいない場合、図16に示す矢印のような既定の順序や、最近隣接点探索法によって測定経路を決定するようにしていた。
このため、図17に示すように、各測定点を通過する経路上の曲がる箇所(以下屈曲点と呼ぶ)の角度が大きくなり、測定機の進行方向の変化角が大きくなってしまうことがある。例えば、正方形(方向変化角90°)、あるいはZ字形(方向変化角90°以上)のような測定パスだと、屈曲点においては、それに追従するにはステージ速度を減速する必要が生じるため、測定時間が多くかかる等、問題が生じている。
本発明は、このような問題を鑑みてなされたものであって、移動機構の移動速度の減速を抑制することができ、移動機構を円滑に移動させることができ、測定時間を短縮することができる画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラムを提供することを目的とする。
本発明に係る画像測定システムは、被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定システムであって、測定点を取得する測定点取得部と、該測定点取得部が取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定部と、前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定部と、測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出部と、順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定部と、前記第1測定点決定部の決定結果、前記第2測定点決定部の決定結果、及び前記次測定点決定部の決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出部と、前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定部と、該交差解消判定部の判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出部と、該変換経路導出部によって導出された変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定部とを備えることを特徴とする。
本発明に係る画像測定方法は、被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定方法であって、測定点を取得する測定点取得ステップと、取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップとを有することを特徴とする。
本発明に係る画像測定プログラムは、被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定プログラムであって、測定点を取得する測定点取得ステップと、取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップとをコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする。
本発明によれば、第1評価量にもとづいて各測定点での屈曲角度が鋭角とならないようにすることができ、さらに第2評価量と第3評価量とにもとづいて特定の交差を解消し各測定点での屈曲角度をより鈍角化した測定経路が設定される。
したがって、移動機構の移動速度の減速を抑制することができ、移動機構を円滑に移動させることができ、測定時間を短縮することができる画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラムを提供することが可能となる。
次に、添付図面に基づいて、本発明の実施形態について説明する。
[システム構成]
図1は、本発明の実施形態に係る画像測定システムの全体構成を示す斜視図である。このシステムは、非接触型の画像測定機1と、この画像測定機1を駆動制御すると共に、必要なデータ処理を実行するコンピュータシステム2と、計測結果をプリントアウトするプリンタ3とにより構成されている。
画像測定機1は、次のように構成されている。即ち、架台11上には、ワーク12を載置する測定ステージ13が装着されており、この測定ステージ13は、図示しないY軸駆動機構によってY軸方向に駆動される。架台11の両側縁中央部には上方に延びる支持アーム14、15が固定されており、この支持アーム14、15の両上端部を連結するようにX軸ガイド16が固定されている。このX軸ガイド16には、撮像ユニット17が支持されている。撮像ユニット17は、図示しないX軸駆動機構によってX軸ガイド16に沿って駆動される。撮像ユニット17の下端部には、CCDカメラ18が測定ステージ13と対向するように装着されている。また、撮像ユニット17の内部には、図示しない照明装置及びフォーカシング機構の他、CCDカメラ18のZ軸方向の位置を移動させるZ軸駆動機構が内蔵されている。
コンピュータシステム2は、コンピュータ本体21、キーボード22、ジョイスティックボックス(以下、J/Sと呼ぶ)23、マウス24及びCRT25を備えて構成されている。コンピュータ本体21は、内部に記憶された所定のプログラムに従って、例えば、図2に示す各機能を実現する。
すなわち、キーボード22,J/S23及びマウス24の入力手段からの指示入力に基づいて画像測定機1を制御するためのステージ移動処理部31と、照明調整処理部32及びその他測定条件調整処理部33が設けられている。ステージ移動処理部31は、入力手段からのステージ移動指示入力に基づいて画像測定機1のXYZ軸駆動機構を制御して、測定ステージ13に対するCCDカメラ18の位置を移動させる。照明調整処理部32は、ティーチング時には、画像測定機1の照明装置を所定周期で連続的にストロボ点灯すると共に、入力手段からの照明調整指示入力に基づいてストロボ点灯のパルス幅を調整し、非停止測定モード時では、指定された測定箇所において、予め設定されたパルス幅でストロボ点灯させる、その他測定条件調整処理部33は、その他の測定条件調整指示入力に基づいてレンズ倍率、フォーカシング調整等、その他の測定条件を調整する。
これら各処理部31〜33で調整されたステージ位置、ストロボ点灯のパルス幅の情報及びその他の測定条件情報は、入力手段による所定の指示入力に基づいてパラメータ取得部34で取り込まれる。パラメータ取得部34で取り込まれたパラメータは、パラメータ記憶部35に記憶される。パートプログラム生成部36は、パラメータ記憶部35に記憶されたパラメータを使用して測定用のパートプログラムを生成する。生成されたパートプログラムは、パートプログラム記憶部37に記憶される。
パートプログラム生成部36は、主として、第1測定点決定部361と、第2測定点決定部362と、初期経路導出部363と、交差解消判定部364と、変換経路導出部365とから構成されている。
第1測定点決定部361は、パラメータ記憶部35に記憶されているパラメータから測定対象とする各測定点を抽出し、抽出した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定するように構成されている。第1測定点は、例えば、任意に選択した測定点、測定対象とする各測定点のうち所定の位置条件を満たす測定点(例えばX軸方向の座標値が最も大きい測定点、Y軸方向の座標値が最も大きい測定点など)などのようにして、あらかじめ定められた第1測定点決定条件に従って決定される。
第2測定点決定部362は、測定対象とする各測定点のうち第1測定点以外の測定点の中から、第1測定点の次に測定する第2測定点を決定するように構成されている。第2測定点は、例えば、第1測定点からの距離が最も短い測定点などのようにして、あらかじめ定められた第2測定点決定条件に従って決定される。
初期経路導出部363は、測定順序が既に決定されている測定点のうち測定順序が最後の2つとなっている2つの測定点と測定順序が未だ決定されていない各測定点のうち1つの測定点との3点間の距離と、その3点間を結んだ直線による各測定点での角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出部を含む。第1評価量算出部は、測定順序が最後の2つとなっている2つの測定点に関し、測定順序が未だ決定されていない各測定点それぞれについての第1評価量を算出する。
また、初期経路導出部363は、測定順序が未だ決定されていない各測定点について算出したそれぞれの第1評価量を比較し、その比較結果に応じて次に測定する測定点を決定する次測定点決定部を含む。次測定点決定部は、第1評価量を比較した結果、例えば最も小さい第1評価量となった測定点を、次に測定する測定点に決定する。
初期経路導出部363は、第1評価量算出部と次測定点決定部とによる次に測定する測定点の決定処理を繰り返すことで、測定点の測定順番を順次決定していく。そして、初期経路導出部363は、第1評価量算出部と次測定点決定部とによる次測定点の決定処理を、測定順序が決定されていない測定点が無くなるまで繰り返すことで、第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する。
交差解消判定部364は、初期経路における経路の各交差を、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での角度とにもとづいて第2評価量を算出する第2評価量算出部と、交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での角度とにもとづいて第3評価量を算出する第3評価量算出部とを有する。
交差解消判定部364は、算出した第2評価量と第3評価量とにもとづいて、該当する交差を解消するか維持するか判定する。具体的には、交差解消判定部364は、算出した第2評価量が第3評価量より大きければ交差を解消すると判定し、算出した第2評価量が第3評価量以下であれば交差を維持すると判定する。
変換経路導出部365は、交差解消判定部364の判定結果に応じて初期経路における経路の交差の一部または全部を解消させるために初期経路を変換した変換経路を導出するように構成されている。
測定経路設定部366は、変換経路導出部365によって導出された変換経路を測定の経路に設定するように構成されている。
パートプログラム実行部38は、パートプログラム記憶部37から必要なパートプログラムを読み出してこれを実行し、パートプログラムに記述された各種命令に従って、ステージ移動処理部31、照明調整処理部32、その他測定条件調整処理部33、画像取得部43を適宜駆動する。CCDカメラ18で撮像された画像情報は、画像記憶部41に逐次記憶される。画像記憶部41に記憶された画像情報は、表示装置25で逐次表示される一方、パートプログラムに基づき画像取得部42によって静止画としてキャプチャされる。画像処理部43は、画像取得部42で取得した画像情報に対して、測定ツールの設定、エッジ検出、座標検出等の画像測定のための画像処理を実行する。
[測定経路の設定手順]
次に、図3のフローチャート、適宜図4〜図13を参照し、このように構成された本実施形態に係る画像測定システムの測定経路の設定手順について説明する。なお、この測定経路の設定は、例えば、オフラインティーチングにおけるパートプログラムの作成処理の中での処理となる。図4〜図6,図9,図13は、測定点を決定する方法を模式的に表した図である。図7は、測定点Pから測定点Pn+1の間の測定経路の決定方法を表した図である。
まず、図4に示すように、パラメータ取得部34は、パラメータを取得し、測定点P1〜Pmを決定する(ステップS1)。このパラメータとは、測定点を特定する情報である。
次に、図5に示すように、第1測定点決定部361は、測定点P〜Pの中から、最初に測定する第1測定点Pを決定する(ステップS2)。第1測定点Pは、ここでは、測定点P〜Pの中でX軸座標が小さい測定点が選択されるものとする。
つづいて、図6に示すように、第2測定点決定部351は、測定点P〜Pの中の第1測定点Pを除く測定点P〜Pから、第1測定点Pの次に測定する第2測定点Pを決定する(ステップS3)。第2測定点P2−1は、ここでは、測定点P〜Pの中で第1測定点Pからの距離が最も短い位置にある測定点が選択されるものとする。
次に、初期経路導出部363の第1評価量算出部は、測定順序が既に決定されている測定点P〜Pnのうち最後の2つとなっている測定点Pn−1,P(n=2,3,・・・,m)に関し、測定順序が未だ決定されていない各測定点Pn+1〜Pそれぞれについての第1評価量Dn+1(n=2,3,・・・,m)〜Dを算出する(ステップS4)。
ステップS4では、第1評価量算出部は、例えば図7に示すように、2つの測定点Pn−1,P(n=2,3,・・・,m)と測定順序が未だ決定されていない各測定点Pn+1〜Pのうち1つの測定点P(K=n+1,n+2,・・・,m)との3点間の距離|Pn−1|,|P|と、その3点間を経路順に結んだ直線による各測定点での角度R(測定点Pでの180°以下となる側の屈曲角度)とにもとづいて第1評価量D(Pn−1,P,P)を算出する。
具体的には、第1評価量算出部は、例えば図8に示す数式を用いて、測定順序が未だ決定されていない各測定点P(Pn+1〜P)それぞれについての第1評価量D=(D(Pn−1,P,P))を算出する。
第1評価量は、図8に示す数式を用いるようにすれば、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点と次の測定点の候補とされている測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度が、180°に近づくほど小さくなり、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、決定済の測定点のうち最後の測定点と次の測定点の候補とされている測定点との距離との和が小さいほど小さくなる。
なお、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点と次の測定点の候補とされている測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度が180°に近づくほど導出値が小さくなるような数式であれば、図8に示す数式以外の数式を用いてもよい。また、この場合、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点間の距離や、決定済の測定点のうち最後の測定点と次の測定点の候補とされている測定点との距離によらず、屈曲角度の変化のみに依存する数式を用いるようにしてもよい。
また、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点と次の測定点の候補とされている測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度が所定角度(例えば105°〜180°)の範囲内であるものの中から評価量により、次の測定点を決めるような場合には、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、決定済の測定点のうち最後の測定点と次の測定点の候補とされている測定点との距離との和が小さいほど導出値が小さくなるような数式を用いるようにしてもよい。また、この場合に、決定済の測定点のうち最後の2つの測定点間の距離は固定値であるため、決定済の測定点のうち最後の測定点と次の測定点の候補とされている測定点との距離が小さいほど導出値が小さくなるような数式を用いるようにしてもよい。
次に、初期経路導出部363の次測定点決定部は、測定順序が未だ決定されていない各測定点Pについて算出したそれぞれの第1評価量Dn+1(n=2,3,・・・,m)〜Dを比較し、第1評価量の値が最も小さくなった測定点Pを、次に測定する測定点Pn+1に決定する(ステップS5)。
前記次測定点決定部は、前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量のうち、最も小さい第1評価量となった次候補測定点を次の測定点に決定する

つづいて、初期経路導出部363は、測定点Pの2つ先(測定点Pn+1の1つ先)の測定点Pn+2が存在するか否かを判断する(ステップS6)。ここで、測定点Pn+2が存在する場合には(ステップS6,YES)、測定点Pから1つ先の測定点Pn+1に対象を移し(ステップS7)、ステップS4〜ステップS6までの処理を繰り返し実行する。ステップS4〜ステップS7を繰り返し実行することで、測定点の測定順番を順次決定していき、第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する図9に示すような初期経路を導出する(ステップS8)。
すなわち、測定点Pn+2が存在しなくなる(ステップS6,NO)までステップS4〜ステップS7を繰り返し実行することで、初期経路を導出する(ステップS8)。
次に、交差解消判定部364は、初期経路に特定の交差態様の交差箇所があるか否か検索する(ステップS9)。特定の交差形態の交差箇所とは、本例では8の字状の経路(図11参照)における交差箇所である。
特定の交差形態の交差箇所がある場合には、交差解消判定部364の第2評価量算出部は、その交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて、第2評価量Doldを算出する(ステップS10)。第2評価量Doldは、例えば図11に示すような交差箇所があった場合には、例えば図10に示すように、交差前後の4点それぞれについての4つの第1評価量の和で表される。
つづいて、交差解消判定部364の第3評価量算出部は、交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて、第3評価量Dnewを算出する(ステップS11)。第3評価量Dnewは、例えば図11に示すような交差箇所を図12に示すように変換して解消するとした場合には、例えば図10に示すように、交差を解消するとした場合に経路変更される線分の前後の4点それぞれについての4つの第1評価量の和で表される。
そして、交差解消判定部364は、算出した第2評価量Doldと第3評価量Dnewとを比較して、該当する交差を解消するか維持するか判定する(ステップS12)。具体的には、交差解消判定部364は、算出した第2評価量Doldが第3評価量Dnewより大きければ、経路上の屈曲が滑らかになるため交差を解消すると判定し、算出した第2評価量Doldが第3評価量Dnew以下であれば、現状の方が経路上の屈曲が滑らかであるとして交差を維持すると判定する。
つづいて、変換経路導出部365は、交差解消判定部364により交差を解消すると判定された場合には、初期経路における経路の該当する交差を解消させるために初期経路を変換した変換経路を導出する(ステップS13)。なお、交差解消判定部364により交差を解消しないと判定された場合には、経路の変換は行わない。そして、ステップS9に戻る。
特定の交差形態の交差箇所全てについて検討が行われ、検討結果に応じて経路変換が行われるまで、ステップS9〜ステップS13が繰り返し実行される。
そして、最終処理が実行され(ステップS14)、本フローを終了する。ここで、最終処理とは、測定経路設定部366により、変換経路導出部365によって導出された変換経路(変換した交差箇所がない場合には初期経路)を測定経路に設定する処理である。
このように、本実施形態では、第1評価量にもとづいて各測定点での屈曲角度が鋭角とならない初期経路を導出することができ、さらに第2評価量と第3評価量とにもとづいて特定の交差形態の効果箇所を解消し各測定点での屈曲角度をより鈍角化した変換経路を導出することができる。したがって、撮像装置の移動機構の移動方向を滑らか変えることができるようになり、移動機構の移動速度の減速を抑制することができ、移動機構を円滑に移動させることができ、測定時間を短縮することができる。また、滑らかにその移動方向を変えることが可能となるので、撮像装置に急激な角度変位をもたらすことを大幅に軽減することができ、移動速度を極力一定に維持することができるようになり、高速に測定を実行することができ、さらに測定時間を短縮することができる。
この発明の一実施形態に係る画像測定システムの構成を示す外観斜視図である。 同測定システムにおけるコンピュータの機能ブロック図である。 同測定システムによる測定経路の設定手順を示すフローチャート図である。 同システムによる測定動作の一部を示す図である。 同システムによる測定動作の一部を示す図である。 同システムによる測定動作の一部を示す図である。 測定経路の設定例を示す図である。 同システムによる第1評価量の算出式の例を示す図である。 同システムによる測定動作の一部を示す図である。 同システムによる第2評価量の算出式および第3評価量の算出式の例を示す図である。 特定の交差形態の交差箇所を含む経路態様の例を示す図である。 特定の交差形態の交差箇所の交差を解消した場合の経路態様の例を示す図である。 同システムによる測定動作の一部を示す図である。 標準停止モードでの測定を説明するための図である。 非停止測定モードでの測定を説明するための図である。 従来の測定動作の例を説明するための図である。 従来の測定動作の例を説明するための図である。
符号の説明
1…画像測定機、2…コンピュータ、3…プリンタ、12…ワーク、13…測定ステージ、31…ステージ移動処理部、32…照明調整処理部、33…その他測定条件調整処理部、34…パラメータ取込部、35…パラメータ記憶部、36…パートプログラム生成部、37…パートプログラム記憶部、38…パートプログラム実行部、41…画像記憶部、42…画像取得部、43…画像処理部。

Claims (6)

  1. 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定システムであって、
    測定点を取得する測定点取得部と、
    該測定点取得部が取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定部と、
    前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定部と、
    測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出部と、
    順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定部と、
    前記第1測定点決定部の決定結果、前記第2測定点決定部の決定結果、及び前記次測定点決定部の決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出部と、
    前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定部と、
    該交差解消判定部の判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出部と、
    該変換経路導出部によって導出された変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定部と
    を備えることを特徴とする画像測定システム。
  2. 前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度が180°に近づくほど前記第1評価量は小さくなり、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と前記次候補測定点との距離との和が小さいほど前記第1評価量は小さくなるものとされ、
    前記次測定点決定部は、前記第1評価量算出部が算出したそれぞれの第1評価量のうち、最も小さい第1評価量となった次候補測定点を次の測定点に決定する
    ことを特徴とする請求項1記載の画像測定システム。
  3. 評価対象の各測定点での経路の屈曲角度が180°に近づくほど前記第2評価量及び前記第3評価量は小さくなり、当該各測定点間の距離が小さいほど前記第2評価量及び前記第3評価量は小さくなるものとされ、
    前記交差解消判定部は、算出した第2評価量よりも算出した第3評価量が小さいときに、交差を解消すると判定する
    ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の画像測定システム。
  4. 前記特定の交差形態の交差箇所は、8の字状に交差している箇所であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の画像測定システム。
  5. 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定方法であって、
    測定点を取得する測定点取得ステップと、
    取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、
    前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、
    測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、
    順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、
    前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、
    前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、
    該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、
    該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップと
    を有することを特徴とする画像測定方法。
  6. 被測定対象を支持する測定ステージに対して撮像手段を相対移動させながら複数の測定箇所のそれぞれで前記被測定対象の瞬間的な画像情報を取り込むことにより画像測定を行う画像測定プログラムであって、
    測定点を取得する測定点取得ステップと、
    取得した測定点の中から測定を開始する第1測定点を決定する第1測定点決定ステップと、
    前記第1測定点の次に測定する第2測定点を決定する第2測定点決定ステップと、
    測定順序が既に決定されている順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点間の距離と、前記順序決定済測定点のうち測定順序が最後の測定点と測定順序が未だ決定されていない順序未決定測定点のうち次の測定点候補である次候補測定点との距離と、前記順序決定済測定点のうち最後の2つの測定点と前記次候補測定点を測定順序に結んだ2本の線分により特定される屈曲角度とにもとづいて第1評価量を算出する第1評価量算出ステップと、
    順序未決定測定点それぞれを次候補測定点として算出したそれぞれの第1評価量にもとづいて、前記次候補測定点の中から次の測定点を決定する次測定点決定ステップと、
    前記第1測定点決定ステップでの決定結果、前記第2測定点決定ステップでの決定結果、及び前記次測定点決定ステップでの決定結果にもとづいて、前記第1測定点から各測定点を順次経由して全測定点を通過する初期経路を導出する初期経路導出ステップと、
    前記初期経路における経路交差箇所に特定の交差形態の交差箇所があるときに、該交差を形成する経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第2評価量と、前記交差を解消した場合に新たに結ばれる経路前後の各測定点間の距離と当該各測定点での経路の屈曲角度とにもとづいて算出した第3評価量とにもとづいて、前記交差を解消するか維持するか判定する交差解消判定ステップと、
    該交差解消判定ステップでの判定結果に応じて前記初期経路の経路を変換し、前記初期経路における特定の交差形態の交差箇所を解消させた変換経路を導出する変換経路導出ステップと、
    該変換経路導出ステップにて導出した変換経路を測定の経路に設定する測定経路設定ステップと
    をコンピュータに実行させるよう構成されたことを特徴とする画像測定プログラム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5319445A (en) * 1992-09-08 1994-06-07 Fitts John M Hidden change distribution grating and use in 3D moire measurement sensors and CMM applications
JP3689191B2 (ja) * 1996-08-05 2005-08-31 大成建設株式会社 三次元形状自動認識方法及びその装置
JPH11104982A (ja) * 1997-10-01 1999-04-20 Meidensha Corp ロボットの教示方法
JP3468504B2 (ja) * 1999-06-09 2003-11-17 株式会社ミツトヨ 測定手順ファイル生成方法、測定装置および記憶媒体
JP2002168793A (ja) * 2000-11-30 2002-06-14 Fuji Photo Film Co Ltd 表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法
WO2003009070A2 (de) 2001-07-16 2003-01-30 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren zum messen eines objektes mit einem koordinatenmessgerät mit bildverarbeitungssensor
JP4138555B2 (ja) * 2003-03-31 2008-08-27 株式会社ミツトヨ 非接触三次元測定装置
JP2005010042A (ja) * 2003-06-19 2005-01-13 Olympus Corp 検査装置
JP4299688B2 (ja) * 2004-02-04 2009-07-22 パナソニック株式会社 基板検査方法及び基板検査装置

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