JP4725793B2 - 光ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き角調整方法及び光ディスク装置並びにプログラム - Google Patents

光ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き角調整方法及び光ディスク装置並びにプログラム Download PDF

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Description

本発明は、光ディスク装置における光ヘッドに搭載された対物レンズの光軸と光ディスク表面の垂直軸との傾き角調整方法及びこの光ディスク装置,傾き調整用プログラムに関する。
従来、光ディスク装置は、光ヘッドを用いて、光ディスクに情報を記録したり、記録された情報を読みだしたりする装置である。そのような光ディスク装置において、光ディスク表面の垂直軸と光ヘッドに搭載された対物レンズの光軸との傾き角のずれ(通常光ディスクと、光ヘッド又は対物レンズとの相対的チルトずれ、あるいは単に光ディスクと光ヘッド間のチルトといわれる)は、光ディスク装置の性能に大きく影響を与える。光ディスクと対物レンズ間にチルトずれがなければ、良好なレーザービームが光ディスクの情報記録面に照射され良好な記録再生が行われるが、光ディスクと対物レンズ間にチルトずれが生じると、光ディスクの情報記録面に照射されるレーザービームに収差が発生し、記録再生性能を劣化させる。
チルトには一般的に、光ディスクの記録面の垂直方向に対する対物レンズ光軸の光ディスク半径方向の傾きを意味するラジアルチルトと、対物レンズ光軸の光ディスク円周方向の傾きを意味するタンジェンシャルチルトがある。
図14にエラーレートとラジアルチルトの関係を示す。図14に示すとおり、ラジアルチルトが大きくなるとエラーレートが上昇している。つまり、チルトが大きくなると記録再生性能が著しく劣化することになる。タンジェンシャルチルトはドライブ出荷時に補正しておけば、光ディスク毎に調整する必要はないが、ラジアルチルトは光ディスク固有なことが多く、そのつど補正しなければならない。したがって、良好なラジアルチルト補正方法の提案が切望されており、このチルトを補正し再生信号を改善する方法がいくつか開示されている。
例えば、特許文献1には、光ディスクにメインビームひとつとサブビームふたつを照射し、それらの検出結果を基にチルトを検出し、そのチルト検出信号を用いてチルトずれが小さくなるように光ディスク又は光ヘッド全体もしくは対物レンズを角度制御する光ヘッド装置が示されている。
また、特許文献2には、4分割フォトディテクタを用い、ラジアルチルトならば、光ヘッド操作方向に対して左右にあるディテクタ(半径方向に分割したディテクタ)の光量バランスで、タンジェンシャルチルトならば光ヘッド操作方向に対して前後にあるディテクタ(操作方向に分割したディテクタ)の光量バランスでチルトを検出し、チルトを補正するチルト制御方法が示されている。
また、特許文献3には、光ヘッド操作方向に対して左右にあるディテクタ(半径方向に分割したディテクタ)の出力の割合をチルトに連動させて変化させることで、機械的なチルト制御を行わずに信号処理的にチルトによる悪影響を排除する光ディスク装置が示されている。
また、特許文献4には、3つまたは5つのビームを光ディスクに照射し、各ビームの反射強度を利用してチルトの検出を行い、チルトの程度によって3つまたは5つのビームのうちもっとも再生信号品質のすぐれたものを選択して再生する光記録媒体の記録,再生装置が示されている。
また、特許文献5には、メインスポットおよび両サイドスポット、または両サイドスポットの検出信号を利用してDPPおよびDPD信号を生成し、それら両信号の差分演算値に基づいて光ディスクの傾きずれ角の検出を行うことによりチルトずれ量を検出して補正する検出方法が示されている。
特許文献6には、光ディスクと対物レンズとの傾きずれ調整をディスク評価指標の1つであるPRSNR(詳細は後述)を用いて調整する記録方法が開示されている。
特開2003−157553号公報 特開2003−16677号公報 特開2001−256652号公報 特開平09−054953号公報 特開2000−149298号公報 特開2005−339690号公報
しかしながら、特許文献1,特許文献4及び特許文献5に記載の発明では、複数のビームを照射する必要があり、光ヘッドが複雑になるという大きなデメリットを抱えている。また、チルト検出信号は、記録された信号又は再生信号とは直接関係なく得られるものであるため、必ずしも記録,再生特性を最適に改善することにならない場合も起こりえる。
また、特許文献4に記載の装置では、3つまたは5つのビームのいずれかの出力を再生信号として使用するため、シグナル・ノイズレシオ(SNR)を稼ぐという観点から、各ビームの光強度がそれなりに大きくなければならず、非常に大出力のレーザダイオードを使用する必要があり現実味に乏しい。
特許文献2に記載の方法では、比較的簡単な構成となっているが、実際には、このようなチルト検出では充分な精度のチルト検出信号を得ることができず、実用的ではない。
特許文献3に記載の装置では、比較的構成も簡単であるが、最大の問題は、半径方向に分割したディテクタの出力の割合を変える度合いの設定方法で、これを決めるために出力割合を変えながらジッタなりエラーレート(実際に記録を行ったビット列と、再生されデコードされたビット列の差がどの程度あるかを示すもので(間違ったビット数)/(数えたビットの総数)で算出する)を計って最適点を求めなければならない。ジッタやエラーレートは極性のない値であり、このようなパラメータを調整に使うと、例えばチルトならどちらにチルトを動かせば最適になるかがわからず、チルトを正負に変化させつつ、信号が最良となる位置を探しながら調整していく、いわゆる山登り法が必要となる。
この山登り法は学習に時間がかかり、光ディスク装置としては非常に大きな総合性能劣化となる。また、上記発明には予め出力の割合を変える度合いを情報として持っておくという方法も開示されているが、その情報を得るためにも山登り法が必要であり、光ディスクの反りは、光ディスク装置の温度や環境の湿度で変わるもので、光学ディスクの反りなどが発生すると(相対的)チルトずれが大きくなり、予め蓄えた補正量では十分な精度は期待できない。
特許文献6に記載の方法では、ディテクタの出力の総和(非分割のディテクタからの出力でひとつの出力)を使用しているため、Tilt補正が、手間のかかる山登り法(試行錯誤法)となってしまう。
また、現在知られているチルト検出法の殆どは、チルト検出自体を実際の再生信号とは別の信号を用いて間接的に行っており、再生信号品質の最適チルト点とチルト検出信号で見つけた最適チルト点がずれていることが多く、再生特性を最適に改善する目的に対して充分な検出精度を持っているとは言えない。
そこで、本発明は、上記従来技術の不都合を改善し、再生信号品質の最適チルト点とチルト検出信号で見つけた最適チルト点がずれることがなく、また、学習時間の係る山登り法を使用しないで精度のよい傾き角調整方法を提供することを、その目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の光ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き角調整方法は、光ヘッドに備えられている対物レンズから光ディスクに集光ビームを照射することで前記光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置における前記対物レンズの光軸と光ディスク表面の垂直軸との傾き角調整方法であり、データを再生するために前記光ディスクに照射した前記集光ビームの反射光を少なくとも2つに分割して受光する受光工程と、この受光した各光から信号をそれぞれ検出する複数信号検出工程と、この検出によって得られた各信号のずれ情報を含む特性値をそれぞれ算出する特性値算出工程と、この算出したうちの2つの信号の特性値に基づいて傾き係数を算出する傾き係数算出工程と、この算出した傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズ光軸との傾きを調整する傾き調整工程とを設け、前記特性値算出工程では、前記各信号の特性値として、各検出信号のその中心レベルのずれを表すアシンメトリ値を算出し、前記傾き係数算出工程で算出する前記傾き係数が、前記特性値算出工程で算出された前記2つの検出信号のアシンメトリ値の差に比例する値であることを特徴とする。
このような傾き角調整方法によれば、反射光から検出されるデータ再生信号そのものから直接的に傾き角のずれ補正用の値を得ているため、間接的な信号により光学ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き角のずれを補正している従来例と異なり、信号の傾き角のずれによる変化を非常に精度良く検出することができる。
このようにすると、傾き係数は、傾き角のずれの方向により極性が変わるため、どちらの方向にどれだけ傾いたかが瞬時にわかる。つまり、山登り法を使う必要がない。
た更に、上記の傾き角調整方法において、上述した特性値が、分解能値であってもよい。
また、上記の傾き角調整方法において、上述した傾き係数算出工程は、傾き係数をk、複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=c(α2−α1)
c:比例定数
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
また、上記の傾き角調整方法において、上述した傾き係数算出工程は、傾き係数をk、複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=(α2−α1)/(α2+α1)
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
更に、上記の傾き角調整方法において、上述した傾き係数算出工程は、傾き係数をk、複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
k=(α2−α1)/α3
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
このようにすると、検出した信号から傾き係数を算出することができる。
また、上記の傾き角調整方法において、上述した受光工程を、反射光を3つ以上に分割して受光するようにした場合に、複数信号検出工程においては、受光した分割光を信号に変換しこの各信号を組み合わせて2つの信号を作成するように構成してもよい。このようにすると、調整したい方向の傾きずれに応じて特性値が変化するような信号を2つ取り出して傾きを調整することができる。
次に、本発明の光ディスク装置は、データを再生するために光ディスクに光ビームを集光して照射する対物レンズと、この照射された光ビームが前記光ディスクに反射されて生じる反射光を少なくとも2つ以上に分割して受光しこの受光した各光から信号をそれぞれ検出する受光部と、この検出された各信号のずれ情報を含む特性値をそれぞれ算出する特性値算出部と、この算出されたうちの2つの検出信号の特性値に基づいて傾き係数を算出する係数算出部と、この算出された傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きを調整する傾き調整手段とを備え、前記特性値算出部が、前記各検出信号の特性値として、前記各検出信号のその中心レベルのずれを表すアシンメトリ値を算出する機能を備え、前記係数算出部で算出される前記傾き係数が、前記特性値算出部で算出された前記2つの検出信号のアシンメトリ値の差に比例する値であることを特徴とする。
このような光ディスク装置によれば、データを再生するために受光部で受光した光による信号そのものから直接的に傾き角のずれ補正用の特性値を得ているため、間接的な信号により光学ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き角のずれを補正している従来例と異なり、信号の傾き角のずれによる変化を非常に精度良く検出することができる。
また、このようにすると、傾き係数は、傾き角のずれの方向により極性が変わるため、どちらの方向にどれだけ傾いたかが瞬時にわかる。つまり、山登り法を使う必要がない。
更に、上記の光ディスク装置において、上述した特性値が、分解能値であってもよい。このようにすると、信号のアシンメトリ値や分解能値の特性から傾き角のずれを検出できる。
更に、上記の光ディスク装置において、上述した係数算出部が、傾き係数をk、光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=c(α2−α1)
c:比例定数
で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有してもよい。
また、上記の光ディスク装置において、上述した係数算出部が、傾き係数をk、光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=(α2−β1)/(α2+α1)
で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有してもよい。
また、上記の光ディスク装置において、上述した係数算出部が、傾き係数をk、光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
k=(α2−α1)/α3
で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有してもよい。
このようにすると、検出した信号から傾き係数を算出することができる。
また、上記の光ディスク装置において、上述した受光部が反射光を3つ以上に分割して受光するようにした場合に、光検出部が、受光した分割光から信号を検出しこの各信号を組み合わせて2つの信号を作成する機能を有してもよい(請求項16)。このようにすると、調整したい方向の傾きずれに応じて特性値が変化するような信号を2つ取り出して傾きを調整することができる。
次に、本発明の光ディスク表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾き調整用プログラムは、光ヘッドに備えられている対物レンズから光ディスクに集光ビームを照射することで前記光ディスクに対してデータを再生する光ディスク装置の動作を制御するコンピュータに、データを再生するために前記光ディスクに照射した集光ビームの反射光を少なくとも2つに分割し受光して得る各光から検出した信号のずれ情報を含む特性値として当該各検出信号の中心レベルのずれを表すアシンメトリ値をそれぞれ算出する特性値算出処理と、この算出された2つの検出信号の特性値の差に比例する値である傾き係数を算出する傾き係数算出処理と、この算出された傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きを検出する傾き検出処理と、この検出した傾きを補正する調整動作を制御する傾き調整制御処理とを実行させることを特徴とする。
更に、上記の傾き調整用プログラムにおいて、上述した特性値が、分解能値であってもよい。
更に、上記の傾き調整用プログラムにおいて、上述した傾き係数算出処理は、傾き係数をk、受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=c(α2−α1)
c:比例定数
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
また、上記の傾き調整用プログラムにおいて、上述した傾き係数算出処理は、傾き係数をk、受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
k=(α2−α1)/(α2+α1)
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
また、上記の傾き調整用プログラムにおいて、上述した傾き係数算出処理は、傾き係数をk、受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
k=(α2−α1)/α3
で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されてもよい。
このような傾き調整用プログラムによれば、前述した傾き角調整方法と同様の作用効果を得ることができる。
本発明は以上のように構成され機能するため、これにより、反射光から検出されるデータ再生信号そのものから直接的に光ディスクの表面の垂直軸と対物レンズの光軸との傾きのずれ補正用の値を得て、信号の傾き角のずれによる変化を非常に精度良く検出することができる。また、分割した反射光の比較から、瞬時に傾きずれの方向(極性)を検出することができる。したがって、手間のかかる山登り法に比べ、高速にチルト補正ができるという長所を有している。
以下、本発明における一実施形態を、図面を参照して説明する。
[第1実施形態]
図1は、本発明における第1実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図1に示す光ディスク装置は、光ディスク15を駆動するスピンドル駆動系1、データを記録又は再生するために光ディスク15に光ビームを照射しそれを検出する光ヘッド2、入力信号にフィルタリング等の処理を行うRF回路部3、入力信号からその特性値としてアシンメトリ値を算出するアシンメトリ値算出部4、算出したアシンメトリ値をもとに傾き係数を算出する係数算出部5、入力信号を復調する復調器7、装置全体を統括するシステムコントローラ8、記録すべき信号を変調する変調器9、レーザダイオード10を駆動するLD駆動部11、アシンメトリ値を基に算出された傾き係数を基に光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きを調整する傾き調整手段として機能することでチルト補正が可能で、かつ、サーボ信号をコントロールするサーボコントローラ12を備えて構成されている。
そして、光ヘッド2は、レーザダイオード10と、レーザダイオード10からの光ビームを集光して光ディスク15に照射する対物レンズ13と、この照射された光ビームが光ディスク15に反射されて生じる反射光を少なくとも2つ以上に分割して受光しこの各光から信号を検出する受光部14と、ダイオード10からの光ビームを対物レンズ13に反射させるとともに光ディスク15からの反射光を受光部14に通過させるビームスプリッタ16とにより構成されている。
受光部14には、光ディスク15の半径方向に分割された2分割フォトディテクタを使用しており、入力された光のうち、光ディスク15の半径方向に対して内側の受光部で検出された光からI1信号、外側の受光部で検出された光からI2信号を検出する。通常、受光部14の出力は電流であるため、I1信号およびI2信号は電流を電圧に変えるIVアンプを通して使用する。また、I1+I2が通常の再生信号である。
ここで、本実施形態の光ディスク装置は、光ディスク15の半径方向に分割された2種類の信号をI1、I2としたので、光ディスク15と対物レンズ13との間の半径方向の傾きずれが変化したときに、それによる劣化を防ぐ装置として機能するが、光ディスク15の走査方向に分割したフォトディテクタを使用すれば、光ディスク15と対物レンズ13との間の走査方向の傾きずれが変化したときに、それによる劣化を防ぐように機能することができる。
また、本実施形態では、2分割フォトディテクタを使用しているが、図2に示すような受光部A30a、受光部B30b、受光部C30c、受光部D30dから構成される4分割ディテクタを使用して、適宜信号を束ねてI1信号、I2信号を作り出しても良い。
2分割フォトディテクタを使用した場合、光ディスク15に記録された信号はディテクタの分割された2つの部分から、それぞれ分割して検出された信号として出力され、それぞれ単独で2種類の信号I1、I2を生成する。一方、4分割ディテクタを使用する場合は、光ディスク15に記録された信号は、ディテクタの分割された4つの部分から、それぞれ4つに分割された信号の1つとして出力され、2つの信号を組み合わせることによって、2種類の信号I1、I2を生成することになる。
このように、様々なディテクタの形式が考えられるが、補正したいパラメータに対してアシンメトリ値が変わるような出力を2種類以上取り出し、それらのアシンメトリ値を評価することで信号補正を行うことが重要であるので、それが実行できれば、ディテクタの形式は適宜選定されてもよく、分割方法も実施形態に示す形に限定されるものではない。
上述した信号I1、I2は、RF回路部3に入力され、I1+I2(再生信号)なる演算を行った後、フィルタリング、イコライジング、PLL(フェーズロックドループ)等の処理を施される。PRML(Partial Response Maximum Likelihood)を使用する場合はここで、ビタビ復号等の処理も行われる。ここで、本実施形態で使用されるRF回路部3のブロック図を図3に示す。RF回路部3は、プリフィルタ100、オートゲインコントロール(AGC)101、A/Dコンバータ(ADC)102、フェーズロックドループ(PLL)103、適応等化器104およびビタビ複号器105から構成されている。
一方で、図1に示すアシンメトリ値算出部4は、信号I1、I2のアシンメトリ値を算出する。図4aに示すように、記録長8Tのマークパターンと記録長2Tのマークパターンの再生波形から、8Tのピークレベルaと8Tのボトムレベルbとを求め、(数1)式よりアシンメトリ値βを算出する。
Figure 0004725793
リファレンスレベル(REF)は、2Tの中心に設定している。アシンメトリ値βの定義からわかるように、アシンメトリ値間に関係があるということは、8T,2Tの信号レベルに関係があると言うことで、各パターンの最小値、最大値、平均レベル(平均電圧)等の信号レベルを使用して、光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きの調整をすることもできる。その際、上記に示したアシンメトリ値間の関係及び値を信号レベルという観点から焼き直す必要がある。
図4bに示すように、2Tの平均電圧をVaとし、8Tの平均電圧をVp、振幅をVppとすれば、β値は(数2)式で表される。
Figure 0004725793
そして、そのアシンメトリ値は係数算出部5に送られて、係数算出部5は、信号I1、I2のアシンメトリ値をそれぞれβ1,β2とし、(数3)式を用いて傾き係数kを算出する。
Figure 0004725793
本実施形態では、光ヘッド2として、LD波長405nm、NA(開口数)0.65のものを用意した。また、RF回路部3にはPR(12221)用のビタビ復号器を有するものを用意した。光ディスク15としては、直径120mm、0.6mm厚のポリカーボネイト基板上に、ビットピッチが0.153μm、トラックピッチが0.4μmのエンボスを形成したものを用意した。図5に本実施形態で用意した光ディスク15の断面図を示す。反射膜50としてはAlTiを使用しており、また、光は0.6mm厚の基板51を通過する方向から入射している。
図6は、本実施形態の装置において、対物レンズ13の光ディスク15半径方向の傾き(以下ラジアルチルトとする)を故意に変化させた時の、信号I1及びI2の8Tと2Tの再生信号から求められたアシンメトリ値β1及びβ2とラジアルチルトとの関係である。
また、図7は本実施形態の装置において、故意にラジアルチルトを変化させた時の、ラジアルチルトと図6のアシンメトリ値β1,β2から算出される係数kの関係である。8Tと2Tの再生信号から求められたアシンメトリ値から算出される係数kをk(Asym_2T)とする。
また、図7は、故意にラジアルチルトを変化させたときのRF回路部3に入力されI1+I2(再生信号)なる演算を行った後の信号のPRSNRを示している。
ここで、PRSNRは、信号品質と非常に強い相関があり、HD DVDの信号品質評価指標として用いられているものである(Technical Digest pp.164−165 “Signal−to−Noise Ratio in a PRML Detection” S.OHKUBO et al)。
図7から、ラジアルチルトと係数k(Asym_2T)がリニアに相関していることがよくわかる。
また、PRSNRと係数k(Asym_2T)との関係を見てみると、PRSNRが最も高くなるラジアルチルトつまり最適な対物レンズ13の半径方向の傾きにて係数k(Asym_2T)が0となっているが、最適差分値は0に限らず、光ヘッド2によってはオフセットしている場合もあり、そのときはそのオフセット値を予めドライブにインプリメントしておけば良い。
本実施形態の装置にPRSNRが最も高くなるラジアルチルト、つまり、最適な対物レンズ13の半径方向の傾きが、図8のような半径依存性を持つ光ディスク15を挿入し再生を行った。この光ディスク15は、従来のチルト補正機能がないドライブでは外周側でエラーが頻発し、良好な再生ができなかった光ディスク15である。本実施形態の光ディスク装置に挿入した場合、チルト補正機能により、外周部のチルトが発生している部位でも良好な再生を実現できた。
図1に示すサーボコントローラ12は、光ディスク15表面の垂直軸と対物レンズ13光軸との傾き角のずれを調整するように構成されているが、この構成は、対物レンズ13の乗った光ヘッド2又は光ディスク15を物理的に傾ける構成(レールチルト方式)と、対物レンズ13のみをアクチュエータを用いて傾ける構成(アクチュエータチルト方式)とのどちらであってもよい。どちらの構成であっても同等の効果を得られた。
また、本実施形態では、(数3)式を用いて傾き係数kを算出しているが、(数4)又は(数5)式を用いてもよい。
Figure 0004725793
Figure 0004725793
ここで、本実施形態では、8T−2Tのアシンメトリ値を用いたが、8T−3Tのアシンメトリ値など、その他の信号でも同様の効果が得られた。また長いマークは8Tでなければならないというものではなく、5T以上でも同様の効果が得られた。
次に、本実施形態の光ディスク装置の動作を説明する。ここで、本発明にかかる傾き角調整方法についても同時に説明する。
図9は、本実施形態の光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
まず、受光部14において、データを記録又は再生するために光ディスク15に照射された集光ビームの反射光が、少なくとも2つに分割されて受光され(受光工程)、その各光から信号が検出されると(複数信号検出工程)、その各信号がアシンメトリ値算出部4に取り込まれる(図9:ステップs21)。アシンメトリ値算出部4では、得られた各信号の特性値としてアシンメトリ値が算出される(図9:ステップs22,特性値算出工程)。続いて、係数算出部5において、各信号のアシンメトリ値を基に傾き係数が算出される(図9:ステップs23,傾き係数算出工程)。
そして、サーボコントローラ12において、傾き係数を基に、光ディスク15の表面の垂直軸と対物レンズ13の光軸との傾きがどの方向にどれぐらいの角度で傾いているかが検出され(図9:ステップs24)、その規定された値に従って、レールチルト方式又はアクチュエータチルト方式による光ディスク15の表面の垂直軸と対物レンズ13の光軸との傾き調整が実行される(図9:ステップs25,傾き調整工程)。
ここで、上述した特性値算出工程,傾き係数算出工程,傾き調整工程についてはその内容をプログラム化し特性値算出処理,傾き係数算出処理,傾き調整制御処理として光ディスク装置を制御するコンピュータに実行させるように構成してもよい。また、傾き係数を基に光ディスク15の表面の垂直軸と対物レンズ13の光軸との傾きがどの方向にどれぐらいの角度で傾いているかを検出する内容をプログラム化し傾き検出処理として同様のコンピュータに実行させるように構成してもよい。
[第2実施形態]
図10は、本発明における第2実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図10に示すとおり、本実施形態の光ディスク装置は、図1に示す第1実施形態の光ディスク装置におけるアシンメトリ値算出部4に代えて、分解能値算出部6を備えて構成されている。
分解能値算出部6は、信号I1、I2の分解能値を算出する機能を有している。図11に示すように、記録長8Tのマークパターンと記録長3Tのマークパターンの再生波形から8Tの振幅Vcと3Tの振幅Vdとを求め、(数6)式より分解能値RESを算出する。
Figure 0004725793
ここで、本実施形態では、分解能値算出において、ある程度振幅があった方が便利なため、3Tを用いている。しかし、8Tと2Tの分解能値でも同様の効果が得られる。また長いマークは8Tでなければならないというものではなく、5T以上ならほぼ同じ効果が得られる。
そして、この分解能値は係数算出部5に送られ、係数算出部5は、信号I1、I2の分解能値をそれぞれRES1,RES2とし、(数7)式を用いて傾き係数kを算出する。
Figure 0004725793
本実施形態の光ディスク装置に、第1実施形態と同様の光ディスクを挿入し、ラジアルチルト依存性を調べた。図12は、本実施形態の装置において、故意にラジアルチルトを発生させた時の、信号I1及びI2の分解能値RES1とRES2とラジアルチルトとの関係である。
また、図13は、本実施形態の装置において、故意にラジアルチルトを発生させた場合の、ラジアルチルトと図12の分解能値から算出される係数kの関係である。算出される係数kをk(Resolution)とする。
図13には、故意にラジアルチルトを発生させたときのRF回路部3に入力され、I1+I2(再生信号)なる演算を行った後の信号のPRSNRも示している。図13から、ラジアルチルトと係数k(Resolution)がリニアに相関していることがよくわかる。
また、PRSNRと係数k(Resolution)との関係を見てみると、PRSNRが最も高くなるラジアルチルトつまり最適な対物レンズ13の半径方向の傾きにて係数k(Resolution)が0となっているが、光ヘッド2によってはオフセットしており0でない場合もある。そのときはそのオフセット値を予めドライブにインプリメントしておけば良い。
PRSNRが最も高くなるラジアルチルトつまり最適な対物レンズ13の半径方向の傾きが、図8のような半径依存性を持つ光ディスク15を挿入し再生を行った。この光ディスク15は、従来のチルト補正機能がないドライブでは外周側でエラーが頻発し、良好な再生ができなかった光ディスク15である。本願実施形態の光ディスク装置に挿入した場合、装置のチルト補正機能により、外周部のチルトが発生している部位でも良好な再生を実現できた。
本実施形態におけるサーボコントローラ12は、レールチルト方式で傾き調整する構成と、アクチュエータチルト方式で傾き調整する構成とのどちらであってもよい。どちらの構成であっても同等の効果を得られた。
また、本実施形態では、(数7)式を用いて傾き係数kを算出しているが、(数8)又は(数9)式を用いてもよい。
Figure 0004725793
Figure 0004725793
ここで、本実施形態では、8T−3Tの分解能値を使用したが、8T−2Tの分解能値でも同様の効果が得られた。また長いマークは8Tでなければならないというものではなく、5T以上ならほぼ同じ効果が得られた。
本実施形態の光ディスク装置の動作は、図9に示す第1実施形態の光ディスク装置の動作のうち、アシンメトリ値算出部4で各信号のアシンメトリ値が算出される代わりに、分解能値算出部6で各信号の分解能値が算出されるように動作し、この分解能値に基づいて傾き係数を算出するように動作する。
ここで、本発明における第1及び第2実施形態では、光ヘッド2として、波長405nm、NA0.6のものを用意しているが、これに限定されることなく、あらゆる波長、およびNAに適応可能である。
本発明は高密度光学的情報記録媒体の記録再生装置および記録再生方法として、広く適応することができ、記録再生装置の信頼性を著しく高める効果を得ることができる。
本発明における第1実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。 4分割ディテクタを示す図である。 図1に示す実施形態におけるRF回路部3の構成を示すブロック図である。 図1に示す実施形態において検出された信号のアシンメトリ値を示す図である。 図1に示す実施形態における光ディスク15の断面図である。 図1に示す実施形態において検出された信号のアシンメトリ値のラジアルチルト依存性を示す図である。 図1に示す実施形態において検出された信号から算出された傾き係数のラジアルチルト依存性を示す図である。 図1に示す実施形態における光ディスク15のラジアルチルトの半径依存性を示す図である。 図1に示す実施形態の光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。 本発明における第2実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図10に示す実施形態において検出された信号の分解能値を示す図である。 図10に示す実施形態において検出された信号の分解能値のラジアルチルト依存性を示す図である。 図10に示す実施形態において検出された信号から算出された傾き係数のラジアルチルト依存性を示す図である。 エラーレートとラジアルチルト依存性を示す図である。
符号の説明
1 スピンドル駆動系
2 光ヘッド
3 RF回路部
4 特性値算出部としてのアシンメトリ値算出部
5 係数算出部
6 特性値算出部としての分解能値算出部
7 復調器
8 システムコントローラ
9 変調器
10 レーザダイオード(LD)
11 LD駆動系
12 サーボコントローラ
13 対物レンズ
14 受光部
15 光ディスク
16 ビームスプリッタ
30a 受光部A
30b 受光部B
30c 受光部C
30d 受光部D
50 反射膜(AlTi)
51 基板(ポリカーボネイト)
100 プリフィルタ
101 オートゲインコントロール(AGC)
102 A/Dコンバータ(ADC)
103 フェーズロックドループ(PLL)
104 適応等化器
105 ビタビ復号器

Claims (17)

  1. 光ヘッドに備えられている対物レンズから光ディスクに集光ビームを照射することで前記光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置における前記対物レンズの光軸と光ディスク表面の垂直軸との傾き角調整方法において、
    データを再生するために前記光ディスクに照射した前記集光ビームの反射光を少なくとも2つに分割して受光する受光工程と、
    この受光した各光から信号をそれぞれ検出する複数信号検出工程と、
    この検出によって得られた各信号のずれ情報を含む特性値をそれぞれ算出する特性値算出工程と、
    この算出したうちの2つの検出信号の特性値に基づいて傾き係数を算出する傾き係数算出工程と、
    この算出した傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズ光軸との傾きを調整する傾き調整工程とを設け、
    前記特性値算出工程では、前記各検出信号の特性値として、前記各検出信号のその中心レベルのずれを表すアシンメトリ値を算出し、
    前記傾き係数算出工程で算出する前記傾き係数が、前記特性値算出工程で算出された前記2つの検出信号のアシンメトリ値の差に比例する値であることを特徴とする傾き角調整方法。
  2. 前記請求項1に記載の傾き角調整方法において、
    前記特性値算出工程では、前記各検出信号の特性値として、前記アシンメトリ値に代えて、前記各検出信号のその検出レベルの変化に基づいて得られる分解能値を算出し、
    前記傾き係数算出工程で算出する前記傾き係数が、前記特性値算出工程で算出された前記2つの検出信号の分解能値の差に比例する値であることを特徴とする傾き角調整方法。
  3. 前記請求項1又は2に記載の傾き角調整方法において、
    前記傾き係数算出工程は、前記傾き係数をk、前記複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=c(α2−α1)
    c:比例定数
    で示す数式を用いて前記傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き角調整方法。
  4. 前記請求項1又は2に記載の傾き角調整方法において、
    前記傾き係数算出工程は、傾き係数をk、前記複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=(α2−α1)/(α2+α1)
    で示す数式を用いて前記傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き角調整方法。
  5. 前記請求項1又は2に記載の傾き角調整方法において、
    前記傾き係数算出工程は、傾き係数をk、前記複数信号検出工程で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
    k=(α2−α1)/α3
    で示す数式を用いて前記傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き角調整方法。
  6. 前記請求項1乃至5のいずれか一項に記載の傾き角調整方法において、
    前記受光工程を、前記反射光を3つ以上に分割して受光するようにした場合に、複数信号検出工程においては、前記受光した分割光を信号に変換しこの各信号を組み合わせて2つの信号を作成するように構成したことを特徴とする傾き角調整方法。
  7. データを再生するために光ディスクに光ビームを集光して照射する対物レンズと、この照射された光ビームが前記光ディスクに反射されて生じる反射光を少なくとも2つ以上に分割して受光しこの受光した各光から信号をそれぞれ検出する受光部と、この検出された各信号のずれ情報を含む特性値をそれぞれ算出する特性値算出部と、この算出されたうちの2つの検出信号の特性値に基づいて傾き係数を算出する係数算出部と、この算出された傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きを調整する傾き調整手段とを備え、
    前記特性値算出部が、前記各検出信号の特性値として、前記各検出信号のその中心レベルのずれを表すアシンメトリ値を算出する機能を備え、
    前記係数算出部で算出される前記傾き係数が、前記特性値算出部で算出された前記2つの信号のアシンメトリ値の差に比例する値であることを特徴とする光ディスク装置。
  8. 前記請求項7に記載の光ディスク装置において、
    前記特性値算出部が、前記各検出信号の特性値として、前記アシンメトリ値に代えて、前記各検出信号のその検出レベルの変化に基づいて得られる分解能値を算出する機能を備え、
    前記係数算出部で算出される前記傾き係数が、前記特性値算出部で算出された前記2つの検出信号の分解能値の差に比例する値であることを特徴とする光ディスク装置。
  9. 前記請求項7又は8に記載の光ディスク装置において、
    前記係数算出部が、前記傾き係数をk、前記光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=c(α2−α1)
    c:比例定数
    で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有したことを特徴とする光ディスク装置。
  10. 前記請求項7又は8に記載の光ディスク装置において、
    前記係数算出部が、前記傾き係数をk、前記光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=(α2−α1)/(α2+α1)
    で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有したことを特徴とする光ディスク装置。
  11. 前記請求項7又は8に記載の光ディスク装置において、
    前記係数算出部が、前記傾き係数をk、前記光検出部で得られたうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
    k=(α2−α1)/α3
    で示す数式を用いて傾き係数を算出する機能を有したことを特徴とする光ディスク装置。
  12. 前記請求項7乃至10のいずれか一項に記載の光ディスク装置において、
    前記受光部が前記反射光を3つ以上に分割して受光するようにした場合に、前記光検出部が、前記受光した分割光から信号を検出しこの各信号を組み合わせて2つの信号を作成する機能を有したことを特徴とする光ディスク装置。
  13. 光ヘッドに備えられている対物レンズから光ディスクに集光ビームを照射することで前記光ディスクに対してデータを再生する光ディスク装置の動作を制御するコンピュータに、
    データを再生するために前記光ディスクに照射した集光ビームの反射光を少なくとも2つに分割し受光して得る各光から検出した信号のずれ情報を含む特性値として当該各検出信号の中心レベルのずれを表すアシンメトリ値をそれぞれ算出する特性値算出処理と、この算出された2つの検出信号の特性値の差に比例する値である傾き係数を算出する傾き係数算出処理と、この算出された傾き係数に基づいて前記光ディスクの表面の垂直軸と前記対物レンズの光軸との傾きを検出する傾き検出処理と、この検出した傾きを補正する調整動作を制御する傾き調整制御処理とを実行させることを特徴とする傾き調整用プログラム。
  14. 前記請求項12に記載の傾き調整用プログラムにおいて、
    前記特性値算出処理が、前記各検出信号の特性値として、前記アシンメトリ値に代えて、前記各検出信号のその検出レベルの変化に基づいて得られる分解能値を算出する処理であることを特徴とする傾き調整用プログラム。
  15. 前記請求項12又は13に記載の傾き調整用プログラムにおいて、
    前記傾き係数算出処理は、前記傾き係数をk、前記受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=c(α2−α1)
    c:比例定数
    で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き調整用プログラム。
  16. 前記請求項12又は13に記載の傾き調整用プログラムにおいて、
    前記傾き係数算出処理は、傾き係数をk、前記受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2とした場合の、
    k=(α2−α1)/(α2+α1)
    で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き調整用プログラム。
  17. 前記請求項12又は13に記載の傾き調整用プログラムにおいて、
    前記傾き係数算出処理は、傾き係数をk、前記受光し検出したうちの2つの信号の特性値をα1,α2、この2つの信号を加算した信号の特性値をα3とした場合の、
    k=(α2−α1)/α3
    で示す数式を用いて傾き係数を算出するように構成されたことを特徴とする傾き調整用プログラム。
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