JP4713347B2 - Semiconductor device drive circuit - Google Patents
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Description
本発明は、直流と交流を相互に変換する電力変換装置に係り、特に電力変換装置に使用されるスイッチング素子を制御する半導体素子の駆動回路に関する。 The present invention relates to a power converter for converting direct current and alternating current to each other, and more particularly to a semiconductor element drive circuit for controlling a switching element used in the power converter.
高速スイッチングが可能で大電力を制御できるIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)は、家電品から鉄道用インバータ等の大電力用途まで幅広い分野で使われている。IGBTはゲート、コレクタ、エミッタの三端子を持ち、ゲートに印加する電圧によりコレクタ−エミッタ間に流れる電流を制御できる。IGBTを使う場合に重要なのは、スイッチング時のゲートの制御である。スイッチング時には損失や過電圧、電圧・電流の振動等により、IGBTが破壊し、ノイズが発生するなどの問題がある。 IGBTs (Insulated Gate Bipolar Transistors) capable of high-speed switching and controlling large power are used in a wide range of fields from home appliances to high-power applications such as railway inverters. The IGBT has three terminals of a gate, a collector, and an emitter, and can control a current flowing between the collector and the emitter by a voltage applied to the gate. What is important when using an IGBT is gate control during switching. At the time of switching, there are problems such as destruction of the IGBT and generation of noise due to loss, overvoltage, voltage / current vibration and the like.
これに対応するために、コレクタ−エミッタ間の状態を監視してゲートにフィードバックを掛ける手段が特許文献1等に開示されている。特許文献1ではIGBTに流れる電流を、IGBTに直列に繋いだインダクタンスもしくは配線の寄生インダクタンスに発生する電圧で監視し、この電圧の変化が一定の条件を超えた場合にゲート制御にフィードバックをかけている。
しかし上述の発明では、電流変化を検出してゲートにフィードバックするまでに、di/dt信号計測手段、インターフェイス回路、アンプなどを経由するため、ゲートが制御されるまでに遅延が生じてしまう。このためダイナミックアバランシェ状態の検出等のような時間変化の緩やかな場合には適用できるが、通常のスイッチング動作時の様な急峻な変化の場合には、ゲートの制御が間に合わず、制御が出来ないという問題点があった。 However, in the above-described invention, since a change in current is detected and fed back to the gate, the signal passes through a di / dt signal measuring means, an interface circuit, an amplifier, and the like, so that a delay occurs until the gate is controlled. For this reason, it can be applied when the time change is slow, such as detection of a dynamic avalanche state, etc., but in the case of a steep change such as during normal switching operation, control of the gate is not in time and control is not possible. There was a problem.
上記問題点を解決するために、本発明では、IGBTと、IGBTのスイッチング速度を制御するスイッチング速度制御回路と、IGBTのスイッチング開始を検出し前記スイッチング速度制御回路に信号を送るスイッチング検出回路と、IGBTの電流の変化を検出し前記スイッチング速度制御回路に信号を送る電流検出回路とを有し、前記スイッチング速度制御回路は前記スイッチング検出回路からの信号で動作準備状態となり、前記電流検出回路からの信号で動作することを特徴とする。 In order to solve the above problems, in the present invention, an IGBT, a switching speed control circuit that controls the switching speed of the IGBT, a switching detection circuit that detects the switching start of the IGBT and sends a signal to the switching speed control circuit, A current detection circuit that detects a change in the current of the IGBT and sends a signal to the switching speed control circuit, and the switching speed control circuit is ready for operation by a signal from the switching detection circuit, It is characterized by operating with signals.
本発明によれば、IGBTのスイッチング開始時にスイッチング検出回路によりスイッチング開始を検出し、あらかじめスイッチング速度制御回路を動作準備状態にしておくことにより、IGBTのスイッチング時に遅延無くゲートを制御することが可能となり、スイッチング時に発生する過電圧やノイズを低減することが出来る。 According to the present invention, when the switching of the IGBT is started, the switching detection circuit detects the switching start, and the switching speed control circuit is set in an operation ready state in advance, so that the gate can be controlled without delay when the IGBT is switched. Overvoltage and noise generated during switching can be reduced.
過電圧やノイズを低減できると、サージ抑制のためのスナッバー回路やフィルタ回路が不要となるために、インバータ装置の小型・軽量化が図れるという効果がある。また、過電圧による破壊も防止できることから、インバータ装置の信頼性の向上するという効果もある。 If the overvoltage and noise can be reduced, a snubber circuit and a filter circuit for suppressing surges are not necessary, and the inverter device can be reduced in size and weight. In addition, since destruction due to overvoltage can be prevented, there is an effect of improving the reliability of the inverter device.
以下に、本発明の実施の態様について図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は本発明の第1の実施例を示す。図1において、100はIGBTを駆動するための信号を出力する指令部、101はゲート駆動回路、102はスイッチング検出回路、103は電流検出回路、104はIGBT、105はフリーホイールダイオード、106は電流検出のためのインダクタンスである。106はIGBTに直列接続したインダクタンス部品や、配線のインダクタンス、またはIGBTのパッケージ内部の配線にある寄生インダクタンスなどでも良い。また、110〜114は各部の信号を表し、その時間変化を、IGBTの動作波形とともに図2に示す。
FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, 100 is a command unit that outputs a signal for driving the IGBT, 101 is a gate drive circuit, 102 is a switching detection circuit, 103 is a current detection circuit, 104 is an IGBT, 105 is a freewheel diode, and 106 is a current. Inductance for detection. 106 may be an inductance component connected in series with the IGBT, an inductance of wiring, or a parasitic inductance in wiring inside the IGBT package.
図1と図2を使って本実施例1を説明する。時刻t1で指令部100からターンオフ指令が出力されると、指令部からの信号110はLoレベルに下がり、駆動回路101はIGBTをターンオフするためにゲート電圧を減少させ始める。一方、スイッチング検出回路102はターンオフ指令を受け取ると直ちに出力111をHiレベルにする。スイッチング速度制御回路107はスイッチング検出回路102からの出力111が入力されると内部の回路ノードに必要な電位を与え、電流検出回路103からのトリガが掛かった場合に速やかに動作できるよう準備状態になる。駆動回路101がある程度IGBTのゲートの電位を引き下げると、IGBTがオフ状態に移行し始める。IGBTがオフし始めるとコレクタ電圧が増加し、続いて時刻t2でコレクタ電流が減少し始める。コレクタ電流が変化するとインダクタンス106の両端に電圧が発生し、114はHiレベルになる。電流検出回路103では114が所定の電圧より高くなった場合に電流が変化していると判定し、112をHiレベルに反転する。スイッチング速度制御回路107は112の反転をトリガとしてゲートの制御動作を開始する。
The first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. When a turn-off command is output from the
このように本実施例1によれば、スイッチング速度制御回路が107がスイッチング開始時にあらかじめ動作準備状態になっているために、電流変化が発生した場合に速やかにゲートを制御でき、遅延無くスイッチング時にゲートを制御できる。これにより、従来は困難であった通常のスイッチング動作時にもゲート制御が可能となり、スイッチング時に発生する過電圧やノイズを低減できる。
As described above, according to the first embodiment, since the switching
図3に、本発明の第2実施例を示す。図3において、図1と同じ構成要素には同一の符号を付してある。本実施例2の特徴は、スイッチング速度制御回路107の出力をゲート駆動回路101に入力し、スイッチング速度制御回路107がゲート駆動回路101を制御することで、IGBTのスイッチング速度を制御する点にある。定格電流が数百アンペアのIGBTのゲート駆動回路は瞬間的に数アンペアの電流を制御しなければならない。このためにゲート駆動回路101内には数アンペア程度の定格のスイッチング素子が使われているが、これらの素子はサイズが大きく、コストも高い。実施例1のようにスイッチング速度制御回路107で直接IGBTのゲートを制御する構成とする場合には、スイッチング速度制御回路107内部にもこれらの素子が必要となる。本実施例2ではスイッチング速度制御回路107はゲート駆動回路101を制御するだけであるので、これらのスイッチング素子が不要となり、ゲート駆動回路の小型・低コスト化に効果がある。
FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention. 3, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. The feature of the second embodiment is that the switching speed of the IGBT is controlled by inputting the output of the switching
図4は本発明の第3の実施例を示す。図4において図1及び2と同じ構成要素には同一の符号を付してある。図4において、300は電圧検出回路である。
FIG. 4 shows a third embodiment of the present invention. 4, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. In FIG. 4,
本実施例3の特徴は、IGBTのスイッチングを検出する手段として、実施例1の電流検出回路103に代わり、電圧検出回路300を設けた点にある。実施例1では配線の寄生インダクタンスを利用して電流を検出したが、配線インダクタンスが十分に小さくなるよう構成されている場合には、電流を検出するための十分な電圧が得られず、電流変化を検出できない場合がある。また、電流が数A程度の小さいIGBTに本技術を適用する場合にも、同様に寄生インダクタンスに発生する電圧が小さくなるために、実施例1を適用できない。
The feature of the third embodiment is that a
本実施例3ではコレクタ電圧を監視し、コレクタ電圧が所定の電圧を超えたときにIGBTが遮断状態になったと判定して、スイッチング速度制御回路107にトリガ信号を出力する。IGBTが遮断状態に入ったと判定する電圧は例えば、図2の時刻t2のコレクタ電流が減少し始めるコレクタ電圧に設定しておけばよい。このような構成とすることで、寄生インダクタンスの小さいIGBTや、電流容量の小さいIGBTの場合でも本発明の適用が可能となる。
In the third embodiment, the collector voltage is monitored, and when the collector voltage exceeds a predetermined voltage, it is determined that the IGBT has been cut off, and a trigger signal is output to the switching
なお、本実施例3ではスイッチング速度制御回路107の出力で直接IGBTのゲートを制御する方式について示したが、もちろんスイッチング速度制御回路107の出力でゲート駆動回路101を制御する実施例2に示した構成にも適用できる。
In the third embodiment, the method of directly controlling the gate of the IGBT by the output of the switching
図5に本発明の第4の実施例を示す。図5において図1乃至4と同じ構成要素には同一の符号を付してある。図5において、400はゲート抵抗、401はゲート電流検出回路である。ゲート抵抗400とゲート検出回路401によりスイッチング検出回路102を構成している。
FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention. 5, the same components as those in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals. In FIG. 5, reference numeral 400 denotes a gate resistor, and 401 denotes a gate current detection circuit. A
本実施例4の特徴はスイッチングの検出を司令部からの信号で検出するのではなく、ゲート電流で判定する点にある。ゲート電流検出回路はゲート抵抗400に発生する電圧を監視することで、ゲート電流を監視している。ゲート電流が所定値以上になった場合にスイッチングの開始と判定し、スイッチング速度制御回路107に信号を出力する。この場合、ゲート電流の絶対値で判定する方法と、ゲート電流の積分値で判定する方法が有り、後者はノイズに強いという特徴がある。
The feature of the fourth embodiment is that the detection of switching is not detected by a signal from the command unit, but is determined by a gate current. The gate current detection circuit monitors the gate current by monitoring the voltage generated in the gate resistor 400. When the gate current exceeds a predetermined value, it is determined that switching is started, and a signal is output to the switching
また本実施例4には、スイッチング開始の検出から、スイッチング速度制御回路107が動作するまでの期間を短くできると言う特徴もある。実施例1乃至2の場合には、指令値が入力されると直ちにスイッチング速度制御回路を準備状態にする。準備状態にあるスイッチング速度制御回路はノイズが入った場合に動作しやすく、所望のタイミング以外の時間で回路が動作してしまう可能性がある。所望のタイミング以外の時間にスイッチング速度制御回路が動作すると、所定のスイッチング動作を得られず、過電圧やノイズの原因となる。このため、本実施例のようにスイッチング速度制御回路107が準備状態になってから実際に動作するまでの期間を短くすれば、誤動作を抑制できるというメリットがある。
The fourth embodiment also has a feature that the period from the detection of the start of switching to the operation of the switching
なお、本実施例4ではスイッチング速度制御回路107の出力で直接IGBTのゲートを制御する方式について示したが、もちろんスイッチング速度制御回路107の出力でゲート駆動回路101を制御する実施例2に示した構成にも適用できる。
In the fourth embodiment, the IGBT gate is directly controlled by the output of the switching
図6は本発明の第5の実施例を示す。図6において図1乃至5と同じ構成要素には同一の符号を付してある。図6において、500はゲート駆動回路のプラスの電源ライン、501〜506は抵抗、507〜509はバイポーラトランジスタであり、バイポーラトランジスタ507と抵抗502,503によりスイッチング速度制御回路107を構成している。
FIG. 6 shows a fifth embodiment of the present invention. In FIG. 6, the same components as those in FIGS. 1 to 5 are denoted by the same reference numerals. In FIG. 6, 500 is a positive power supply line of the gate drive circuit, 501 to 506 are resistors, and 507 to 509 are bipolar transistors. The bipolar transistor 507 and the
本実施例5は実施例1で説明したスイッチング速度制御回路107の具体的な回路構成を説明するものである。駆動回路101は出力段のバイポーラトランジスタのみ示してあり、その他の回路は省略している。
The fifth embodiment describes a specific circuit configuration of the switching
動作を説明する。はじめにIGBTがオンしている状態を考える。IGBTがオンの状態では指令部100からの出力はハイレベルになっており、バイポーラトランジスタ508はオン、509はオフしている。このため、IGBTのゲートにはプラス電源ライン500の電位がそのまま掛かっている。一方、IGBTには負荷に応じた電流が流れているが、この状態に発生する電流変化では103の出力は常にハイレベルになるよう設定されている。電流検出回路103がハイレベルを出力しているため、バイポーラトランジスタ507はオフしている。また、指令部100からの信号がオン指令であるので、スイッチング検出回路102も同様にハイレベルを出力している。
The operation will be described. First, consider a state in which the IGBT is turned on. When the IGBT is on, the output from the
次に、指令部100からオフ指令が出るとバイポーラトランジスタ508はオフし、509がオンする。すると、IGBTのゲートからゲート抵抗504、バイポーラトランジスタ509、抵抗505を通って電流が流れ、ゲート電圧が減少し始める。
Next, when an off command is issued from
スイッチング検出回路102は指令部100からの信号を受信すると直ちに出力をローレベルに反転させ、バイポーラトランジスタのベース電位を引き下げる。この際、スイッチング検出回路102はバイポーラトランジスタ507がオンする電位まではベース電位を引き下げず、オンする直前の状態のベース電位まで引き下げるよう設定する。次にIGBTのゲート電位が下がり続けるとコレクタ電圧が増加し始め、コレクタ電圧が電源電圧に到達するとコレクタ電流が減少し始める。すると、インダクタンス106に電圧が発生し、この電圧が所定の値を超えると電流検出回路103が動作して出力をローレベルに下げる。この際、既にスイッチング検出回路102によりバイポーラトランジスタ507はオン直前の状態となっているので、電流検出回路103からの信号が入力されると直ちにオンし、プラス電源ライン500からゲートに電流を流すようになる。バイポーラトランジスタ507を介してゲートに電流が流れ込むと、この電流によりIGBTのゲート電位の減少は抑制され、コレクタ電流の減少が緩やかに出来る。
As soon as the switching
本実施例5では、スイッチング検出手段としては実施例1に示した指令部100からの信号を使う手段を示したが、実施例4に示したゲート電流により検出する手段によっても同様の効果を実現できる。また、電流検出回路103を使う構成を説明したが、実施例2に示したコレクタ電圧を検出する手段を適用しても同様の効果を得られる。
In the fifth embodiment, as the switching detection means, the means using the signal from the
図7に、本発明の第6の実施例を示す。図7において、図1乃至6と同じ構成要素には同一の符号を付している。図7において、601〜605は抵抗、606〜608はバイポーラトランジスタであり、バイポーラトランジスタ608と、抵抗603,604,605により、スイッチング速度制御回路107を構成している。
FIG. 7 shows a sixth embodiment of the present invention. In FIG. 7, the same components as those in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals. In FIG. 7,
本実施例6は、実施例2のスイッチング速度制御回路107の具体的回路構成を示すものである。駆動回路101は出力段のバイポーラトランジスタのみ示してあり、その他の回路は省略している。本実施例6ではスイッチング速度制御回路として、バイポーラトランジスタを使ったゲート抵抗可変回路を示している。
The sixth embodiment shows a specific circuit configuration of the switching
一般にIGBTの駆動回路では、指令部からの信号を受けて図7の606、607で示したようなトーテムポール構成のバイポーラトランジスタを駆動してIGBTのゲートを制御している。この際、スイッチングスピードを制御する要素として、601〜603に示すような抵抗が配置されているが、これらの抵抗値は固定であり、スイッチング動作中に変更することは出来ない。本実施例6ではバイポーラトランジスタ608を使いターンオフ時の抵抗値を変更している。
In general, an IGBT drive circuit receives a signal from a command unit and drives a bipolar transistor having a totem pole configuration as indicated by
図6の回路の動作を説明する。はじめにIGBTがオンしている状態を考える。IGBTがオンの状態では指令部100からの出力はハイレベルになっており、バイポーラトランジスタ606はオン、607はオフしている。このため、IGBTのゲートにはプラス電源ライン500の電位がそのまま印加されている。一方、IGBTには負荷に応じた電流が流れているが、この状態に発生する電流変化では103の出力は常にハイレベルになるよう設定されている。電流検出回路103がハイレベルを出力しているため、バイポーラトランジスタ608は飽和状態になっている。この回路では603の抵抗値が604の抵抗値より大きく設定されている。また、指令部100からの信号がオン指令になっているので、スイッチング検出回路102はハイレベルを出力している。
The operation of the circuit of FIG. 6 will be described. First, consider a state in which the IGBT is turned on. When the IGBT is on, the output from the
次に、指令部100からオフ指令が出るとバイポーラトランジスタ606はオフし、607がオンする。すると、IGBTのゲートからゲート抵抗602、バイポーラトランジスタ607、抵抗604、バイポーラトランジスタ608を通って電流が流れ、ゲート電圧が減少し始める。上述したように603の抵抗値は604の抵抗値より大きく設定されているために、ゲート電流は抵抗604を通って流れる。スイッチング検出回路102は指令部100からの信号を受信すると直ちに出力をローレベルに反転させ、バイポーラトランジスタのベース電位を引き下げる。この際、スイッチング検出回路102はバイポーラトランジスタ608がオフする電位まではゲート電位を引き下げず、バイポーラトランジスタ608が飽和領域から活性領域に遷移する直前の状態になるようベース電位を引き下げるよう設定する。次にIGBTのゲート電位が下がり続けるとコレクタ電圧が増加し始め、コレクタ電圧が電源電圧に到達するとコレクタ電流が減少し始める。すると、インダクタンス106に電圧が発生し、この電圧が所定の値を超えると電流検出回路103が動作して出力をローレベルに下げる。この際、既にスイッチング検出回路102によりバイポーラトランジスタ608はオフ直前の状態で動作しているので、電流検出回路103からの信号が入力されると直ちにオフし、ゲート電流が抵抗603を介して流れるようになる。抵抗603は抵抗604よりも大きく設定されているため、ターンオフ速度を遅くできる。
Next, when an off command is issued from the
本実施例6では、スイッチング検出手段としては実施例1乃至2に示した指令部100からの信号を使う手段を示したが、実施例3に示したゲート電流により検出する手段によっても同様の効果を実現できる。また、電流検出回路103を使う構成を説明したが、実施例2に示したコレクタ電圧を検出する手段を適用しても同様の効果を得られる。
In the sixth embodiment, as the switching detection means, the means using the signal from the
100 指令部
101 ゲート駆動回路
102 スイッチング検出回路
103 電流検出回路
104 IGBT
105 フリーホイールダイオード
106 インダクタンス
107 スイッチング速度制御回路
300 電圧検出回路
400 ゲート抵抗
401 ゲート電流検出回路
500 ゲート駆動回路のプラス電源ライン
501〜506 抵抗
507〜509 バイポーラトランジスタ
601〜605 抵抗
606〜608 バイポーラトランジスタ
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (14)
前記スイッチング速度制御回路がバイポーラトランジスタと抵抗から構成され、前記動作準備状態では、前記バイポーラトランジスタがオンする電位まではベース電位を引き下げず、オンする直前の状態のベース電位まで引き下げた状態に設定されることを特徴とする半導体素子の駆動回路。 The drive circuit for a semiconductor device according to claim 1,
The switching speed control circuit is composed of a bipolar transistor and a resistor. In the operation ready state, the base potential is not lowered to the potential at which the bipolar transistor is turned on, but is set to the state at which the base potential is lowered to the state immediately before being turned on. drive circuit of a semiconductor device characterized by that.
前記電流検出回路が、前記スイッチング素子の主電流経路内のインダクタンスに発生する電圧を検出することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 1 or 2,
A drive circuit for a semiconductor element, wherein the current detection circuit detects a voltage generated in an inductance in a main current path of the switching element .
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に入力される制御信号を監視し、この信号が反転した場合にスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 1 or 2,
The switching detection circuit monitors a control signal input to a control terminal of the switching element, determines that switching is started when the signal is inverted , and transmits a signal to the switching speed control circuit. A driving circuit for a semiconductor device.
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に流れる電流を監視し、電流値があらかじめ定められた所定の値を超えたときにスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 1 or 2,
The switching detection circuit monitors the current flowing through the control terminal of the switching element, determines that switching starts when the current value exceeds a predetermined value, and transmits a signal to the switching speed control circuit. A drive circuit for a semiconductor element, characterized in that:
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に流れる電流を積分し、積分値があらかじめ定められた所定の値を超えたときにスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 1 or 2 ,
Transmitting the switching detection circuit integrates the current flowing to the control terminal of the switching element, the integral value is determined to start switching when exceeds a predetermined value determined in advance, a signal to said switching speed control circuit A drive circuit for a semiconductor element, characterized in that:
前記スイッチング速度制御回路が、スイッチング素子の制御端子に接続された抵抗と、この抵抗を可変する回路から構成されており、前記電流検出回路からの信号によりスイッチング速度制御回路が動作状態になったときに可変抵抗の抵抗値を大きくすることを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor device according to any one of claims 1 to 6,
The switching speed control circuit is composed of a resistor connected to the control terminal of the switching element and a circuit that varies the resistance. When the switching speed control circuit is in an operating state by a signal from the current detection circuit. And a resistance value of the variable resistor is increased .
前記スイッチング速度制御回路がバイポーラトランジスタと抵抗から構成され、前記動作準備状態では、前記バイポーラトランジスタがオンする電位まではベース電位を引き下げず、オンする直前の状態のベース電位まで引き下げた状態に設定されることを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 8 ,
The switching speed control circuit is composed of a bipolar transistor and a resistor. In the operation ready state, the base potential is not lowered to the potential at which the bipolar transistor is turned on, but is set to the state at which the base potential is lowered to the state immediately before being turned on. drive circuit of a semiconductor device characterized by that.
前記電圧検出回路が、前記半導体素子の主端子対の一方の主端子に接続されたインダクタンスに発生する電圧を検出することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 8 or 9 ,
A drive circuit for a semiconductor element, wherein the voltage detection circuit detects a voltage generated in an inductance connected to one main terminal of the main terminal pair of the semiconductor element.
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に入力される制御信号を監視し、この信号が反転した場合にスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 8 or 9 ,
The switching detection circuit monitors a control signal input to a control terminal of the switching element, determines that switching is started when the signal is inverted , and transmits a signal to the switching speed control circuit. A driving circuit for a semiconductor device.
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に流れる電流を監視し、電流値があらかじめ定められた所定の値を超えたときにスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。 In the drive circuit of the semiconductor element according to claim 8 or 9 ,
Transmitting the switching detection circuit monitors the current flowing to the control terminal of the switching element, it is determined that the start of the switching when the current value exceeds a predetermined value determined in advance, a signal to said switching speed control circuit A drive circuit for a semiconductor element, characterized in that:
前記スイッチング検出回路が、前記スイッチング素子の制御端子に流れる電流を積分し、積分値があらかじめ定められた所定の値を超えたときにスイッチングの開始と判定し、前記スイッチング速度制御回路に信号を送信することを特徴とする半導体素子の駆動回路。The switching detection circuit integrates the current flowing through the control terminal of the switching element, determines that switching starts when the integral value exceeds a predetermined value, and transmits a signal to the switching speed control circuit. A drive circuit for a semiconductor element, characterized in that:
前記スイッチング速度制御回路が、スイッチング素子の制御端子に接続された抵抗と、この抵抗を可変する回路から構成されており、前記電圧検出回路からの信号によりスイッチング速度制御回路が動作状態になったときに可変抵抗の抵抗値を大きくすることを特徴とする半導体素子の駆動回路。The switching speed control circuit is composed of a resistor connected to the control terminal of the switching element and a circuit that varies the resistance. When the switching speed control circuit is in an operating state by a signal from the voltage detection circuit. And a resistance value of the variable resistor is increased.
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