JP4688955B2 - 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査 - Google Patents
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 56
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title description 33
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 116
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
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- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by using a combination of at least two measurements at least one being a transmission measurement and one a scatter measurement
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/203—Measuring back scattering
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
- G01V5/222—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays measuring scattered radiation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
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- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本発明は、透過性放射線によって物体を検査する方法およびシステムに関し、さらに詳細には、実質的に同時の透過および散乱プローブによる物体の検査に関する。
標準的なx線透過イメージングシステムが、何十年もの間、セキュリティ、医療、および検査の用途で使用されている。通常は、医療用透過x線イメージが、x線のコーンビーム(cone beam)を使用し、かつx線フィルムを検出媒体として利用して取得されている。より最近では、x線の扇形ビームが、線形セグメント型検出器アレイと共に使用され、x線供給源と検出器アレイとの間に、扇形ビームを通って伝送される物体の二次元のイメージを作成する。これは、例えば空港などでのセキュリティの用途で、小さなバッグまたはパッケージを調べるための標準的なアプローチでもある。取得される透過イメージは、単一のエンドポイント(end−point)エネルギーのx線管、および各アレイ素子が、ただ1つの検出器チャンネルから成る検出器アレイを使用した、単一エネルギーのイメージであり得る。
本発明の好ましい実施形態に従って、物体を検査するための方法およびシステムが提供される。システムは、透過性放射線の2つの供給源を有し、第1の供給源は扇形ビームを放出し、第2の供給源は透過性放射線の走査ビームを放出する。システムは、物体を介して透過された扇形ビームから透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント型アレイ、および物体によって走査ペンシルビームから散乱された透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器を有する。最後に、システムは、透過特徴および散乱特徴を示す少なくとも1つのイメージを形成するプロセッサを有し、該イメージはオペレータに表示され得る。
例えば、本発明は以下の項目を提供する。
(項目1)
物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源によって該物体を介して伝達された該透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント型アレイと、
c.透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームから散乱された透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは、該プロセッサに、
該散乱検出器からの測定された信号からバックグランド信号を差し引くことであって、該バックグランド信号は、該走査ペンシルビームが該物体を照明していないときに該散乱検出器によって測定され、それによって修正された測定された散乱信号を形成する、ことと、
該修正された測定された散乱信号、および該検出器素子のセグメント型アレイから測定された透過信号を、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することとを行なわせる命令を含む、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。
(項目2)
上記扇形ビームを放出する上記第1の放射線供給源、および上記走査ペンシルビームを放出する上記第2の放射線供給源は、同一の放射線供給源である、項目1に記載のシステム。
(項目3)
上記少なくとも1つの散乱検出器は、透過性放射線をコリメートする手段を含み、それによって上記走査ペンシルビームからの透過性放射線は優先的に検出される、項目1に記載のシステム。
(項目4)
上記少なくとも1つの散乱検出器は実質的に平坦な面を含み、該平坦な面は入射放射線に感応し、該平坦な面は、該面に対する法線によって特徴付けられ、該面に対する法線は、上記物体に対する走査ペンシルビームの入射点に実質的に向けられる、項目1に記載のシステム。
(項目5)
上記散乱検出器の、上記平坦な面以外の少なくとも1つの表面は、上記扇形ビームからの透過性放射線の検出を低減するためにシールドされる、項目4に記載のシステム。
(項目6)
上記扇形ビームと上記少なくとも1つの散乱検出器との間に配置されたバリアをさらに含み、これによって該扇形ビームに起因する該散乱検出器から測定された信号が低減される、項目1に記載のシステム。
(項目7)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されたカーテンである、項目6に記載のシステム。
(項目8)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されたスインギングシールドである、項目6に記載のシステム。
(項目9)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に垂直に配置されたシールドである、項目6に記載のシステム。
(項目10)
上記メモリは、上記プロセッサに、上記測定された透過信号および上記修正された測定された散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節することを行なわせる命令をさらに含み、それによって上記物体の該サイズおよび形状は、該測定された透過信号のディスプレイにおいて、および該修正された測定された散乱信号のディスプレイにおいて同様に現れる、項目1に記載のシステム。
(項目11)
上記検出器素子のセグメント型アレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含む、項目1に記載のシステム。
(項目12)
上記メモリは、上記プロセッサに、上記第1の組の素子からの測定値および上記第2の組の素子からの測定値を使用して、上記物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、該物体の少なくとも1つの部分のイメージを上記ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すこととを行なわせる命令をさらに含む、項目11に記載のシステム。
(項目13)
上記検出器素子のセグメント型アレイはコリメータを含み、該検出器のセグメント型アレイから散乱され、上記散乱検出器に入射する扇形ビーム透過性放射線を低減する、項目1に記載のシステム。
(項目14)
物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源から該物体を介して伝達された該透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント型アレイであって、該アレイはコリメータを含み、該アレイによって散乱された放射線を遮る、アレイと、
c.透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームから散乱された該透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器であって、該散乱検出器は、該扇形ビームから散乱された放射線を遮る手段をさらに含む、散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは、該プロセッサに、
該散乱検出器から測定された信号からバックグランド信号を差し引くことであって、該バックグランド信号は、該第2の放射線供給源が該物体を照明していないときに該散乱検出器によって測定され、それによって修正された測定された散乱信号を形成することと、
該修正された測定された散乱信号、および該検出器素子のセグメント型アレイから測定された透過信号を、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することとを行なわせる命令を含む、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。
(項目15)
上記扇形ビームを放出する上記第1の放射線供給源、および上記走査ペンシルビームを放出する上記第2の放射線供給源は、同一の放射線供給源である、項目14に記載のシステム。
(項目16)
上記検出器素子のセグメント型アレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含み、上記メモリは、上記プロセッサに、
上記測定された透過信号および上記修正された測定された散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節して、それによって上記物体の該サイズおよび形状は、該測定された透過信号のディスプレイにおいて、および該修正された測定された散乱信号のディスプレイにおいて同様に現れる、ことと、
該第1の組の素子からの測定値および該第2の組の素子からの測定値を使用して、該物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、
該物体の該少なくとも1つの部分のイメージを該ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すこととを行なわせる命令をさらに含む、項目14に記載のシステム。
例えば、本発明はさらに、以下の項目を提供する。
(項目1A)
物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源によって該物体を介して透過された該透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント型アレイと、
c.透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームから散乱された透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは、
該散乱検出器からの測定された信号からバックグランド信号を差し引くことであって、該バックグランド信号は、該走査ペンシルビームが該物体を照明していないときに該散乱検出器によって測定されることによって、修正された測定された散乱信号を形成する、ことと、
該修正された測定された散乱信号と、該検出器素子のセグメント型アレイから測定された透過信号とを、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することと
を、該プロセッサに行なわせる命令を含む、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。
(項目2A)
上記扇形ビームを放出する上記第1の放射線供給源、および上記走査ペンシルビームを放出する上記第2の放射線供給源は、同一の放射線供給源である、項目1Aに記載のシステム。
(項目3A)
上記少なくとも1つの散乱検出器は、上記走査ペンシルビームからの透過性放射線が優先的に検出されるように、透過性放射線をコリメートする手段を含む、項目1Aに記載のシステム。
(項目4A)
上記少なくとも1つの散乱検出器は実質的に平坦な面を含み、該平坦な面は入射放射線に感応し、該平坦な面は、該面に対する法線によって特徴付けられ、該面に対する法線は、上記物体に対する走査ペンシルビームの入射点に実質的に向けられる、項目1Aに記載のシステム。
(項目5A)
上記散乱検出器の、上記平坦な面以外の少なくとも1つの表面は、上記扇形ビームからの透過性放射線の検出を低減するためにシールドされる、項目4Aに記載のシステム。
(項目6A)
上記扇形ビームに起因する上記散乱検出器からの測定された信号が低減されるように、該扇形ビームと上記少なくとも1つの散乱検出器との間に配置されたバリアをさらに含む、項目1Aに記載のシステム。
(項目7A)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されたカーテンである、項目6Aに記載のシステム。
(項目8A)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されたスインギングシールドである、項目6Aに記載のシステム。
(項目9A)
上記バリアは、上記扇形ビームに対して実質的に垂直に配置されたシールドである、項目6Aに記載のシステム。
(項目10A)
上記メモリは、上記物体のサイズおよび形状が、上記測定された透過信号の表示において、および上記修正された測定された散乱信号の表示において同様に現れるように、該測定された透過信号および該修正された測定された散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節することを上記プロセッサに行なわせる命令をさらに含む、項目1Aに記載のシステム。
(項目11A)
上記検出器素子のセグメント型アレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含む、項目1Aに記載のシステム。
(項目12A)
上記メモリは、上記第1の組の素子からの測定値および上記第2の組の素子からの測定値を使用して、上記物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、該物体の少なくとも1つの部分のイメージを上記ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すこととを、上記プロセッサに行なわせる命令をさらに含む、項目11Aに記載のシステム。
(項目13A)
上記検出器素子のセグメント型アレイはコリメータを含み、該検出器のセグメント型アレイから散乱され、上記散乱検出器に入射する扇形ビーム透過性放射線を低減する、項目1Aに記載のシステム。
(項目14A)
物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源から該物体を介して透過された該透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント型アレイであって、該アレイはコリメータを含み、該アレイによって散乱された放射線を遮る、検出器素子のセグメント型アレイと、
c.透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームから散乱された該透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器であって、該散乱検出器は、該扇形ビームから散乱された放射線を遮る手段をさらに含む、散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは、
該散乱検出器からの測定された信号からバックグランド信号を差し引くことであって、該バックグランド信号は、該第2の放射線供給源が該物体を照明していないときに該散乱検出器によって測定されることによって、修正された測定された散乱信号を形成する、ことと、
該修正された測定された散乱信号と、該検出器素子のセグメント型アレイから測定された透過信号とを、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することと
を、該プロセッサに行なわせる命令を含む、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。
(項目15A)
上記扇形ビームを放出する上記第1の放射線供給源、および上記走査ペンシルビームを放出する上記第2の放射線供給源は、同一の放射線供給源である、項目14Aに記載のシステム。
(項目16A)
上記検出器素子のセグメント型アレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含み、上記メモリは、
上記物体のサイズおよび形状が、上記測定された透過信号の表示において、および上記修正された測定された散乱信号の表示において同様に現れるように、該測定された透過信号および該修正された測定された散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節することと、
該第1の組の素子からの測定値および該第2の組の素子からの測定値を使用して、該物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、
該物体の該少なくとも1つの部分のイメージを該ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すことと
を上記プロセッサに行なわせる命令をさらに含む、項目14Aに記載のシステム。
本発明の前記の特徴は、添付の図面と共に以下の詳細な説明を参照することによってより容易に理解される。
透過モダリティおよび散乱モダリティを1つの小型のイメージングシステムの中に組み込むことに対する大きな技術的難問題は、2つのイメージングシステム間のx線放射線の漏れを低減することである。スループットおよび費用という実際的な理由から、透過x線扇形ビームと後方散乱x線ペンシルビームとの両方には、同時に電気を通じる方が好ましい。このことは、物体20によって透過扇形ビーム25から(または検査システム自体の任意の表面から)散乱されたx線は、後方散乱検出器40で検出されることを意味する。同様に、物体20によってペンシルビーム35から散乱されたx線も、透過検出器アレイ30で検出される。後方散乱検出器は、透過検出器素子に対して大きいので、また透過サブシステムは、ペンシルビームよりもむしろ扇形ビームを使用するので、クロストーク(または漏れ)の問題は、大抵決まって一方向である。つまり、放射線は、透過扇形ビームから散乱されて後方散乱検出器の中に入る。このクロストークは、後方散乱イメージの中で、より明るく曇りのある領域として出現するか、またはそのより極端な出現においては、後方散乱イメージの中で垂直のバンディングとして出現する。
上述されたような、x線クロストークを低減するハードウエアの方法に加えて、透過イメージングシステムからの残留クロストークにより後方散乱検出器において誘発される信号は、後方散乱信号から除去するために差し引かれ得る。これは、後方散乱ペンシルビームが瞬間的にオフであるとき、後方散乱検出器からの信号を測定することによって達成される。例えば、走査ペンシルビームが、多くのアパーチャを含む回転チョッパホイールを使用して作成され得る。各アパーチャが、x線管によって照明されると、x線ペンシルビームがアパーチャから現れ、チョッパホイールが回転するにつれて、検査トンネルを全体にわたって掃引する。1つのアパーチャが照明された領域を去って、次のアパーチャが照明された領域に入る丁度その前の短い時間間隔では、ペンシルビームは本質的にオフである。この短い「ビームオフ(beam−off)」時間間隔では、後方散乱検出器からの信号は主に、いつも電気が通されている透過扇形ビームからのクロストークによるものである。この信号は、散乱されて走査線に対する散乱検出器の中に入る透過扇形ビームフラックスの瞬間強度を測定するために使用され、この瞬間強度は次に、クロストーク信号を除去するために、後方散乱イメージにおける走査線から差し引かれ得る。この差し引きは、データ獲得電子機器において、または後でイメージがオペレータに表示される前の処理においてのいずれかでなされ得る。差し引きは、プロセッサが前記の差し引きを含む動作を実行するように遂行するという命令を含む関連するメモリを備えたプロセッサを使用して実行され得る。本明細書において、および任意の添付された請求項において使用される場合、用語「メモリ」は限定なく、ソリッドステートメモリ、磁気媒体、例えばハードディスク、またはプロセッサによって遂行され得る命令を含む任意の他のデバイスを含む。
(a)後方散乱検出器140の能動表面は、角度をつけて点143の方に向け、点143から後方散乱信号が発散する。この幾何学的な形状は、後方散乱ビーム135からの後方散乱信号の検出を最大にし、一方、透過ビームからのクロストークの検出を最小とする。この幾何学的な形状はまた、左手の検出器のコリメータ羽根に対する必要性をなくする。後方散乱検出器のすべての他の表面175は、例えば鉛のようなシールド材料で裏打ちされ得、迷走したX線(stray X−ray)の検出を最小とする。
(b)単一の垂直羽根150は、右手の後方散乱検出器の能動面が、透過ビーム125から散乱された放射線を検出しないように、右手の後方散乱検出器の能動面を保護する。
(c)透過ビームの近くのコンベアベルト123の下の鉛のシールド170は、左手の後方散乱検出器140が、透過ビームから散乱された放射線を検出しないように、左手の後方散乱検出器140をシールドする。
(d)透過検出器の前のコリメータ180は、透過検出器の正面から出てくる透過ビームから散乱された放射線が、後方散乱検出器140に達することを防止する。
透過イメージおよび後方散乱イメージは、2つの異なる方法で取得されるので、イメージは一般的に異なるアスペクト比を有する。従って、同じ物体が、2つのイメージの各々において、非常に異なる形状およびサイズを有するように現れ得る。このことでオペレータが混乱することをより少なくするために、本発明は、透過イメージまたは後方散乱イメージのいずれか(もしくは両方)のアスペクト比を調節するソフトウエアの方法を含み、これによって透過イメージまたは後方散乱イメージは、オペレータに対して表示されたとき、同じサイズおよび形状を有するように現れる。通常は、(コンベアの方向に沿った)物体の幅は、透過イメージと後方散乱イメージとの両方において同様である。しかしながら、(コンベアの方向に対して垂直な)物体の高さはしばしば、2つのイメージでは異なっている。これを修正するために、公知のスケーリング係数が、イメージのうちの1つに適用され得、物体の高さが各イメージで同じであることを保証する。あるいは、各イメージにおける物体の高さを決定するソフトウエアのアルゴリズムが使用され得、イメージがこれに従ってスケーリングされ得る。
Claims (16)
- 物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを連続的に放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源によって該物体を介して透過された該透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント化されたアレイと、
c.第2の放射線供給源であって、多くのアパーチャを含む回転チョッパホイールの各アパーチャが、照射された領域内で該第2の放射線供給源からの放射線によって照明されるとき、透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する、第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームの外に散乱された透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは命令を格納し、該命令は該プロセッサによって実行され、該命令は該プロセッサに、
該散乱検出器からの測定信号からバックグランド信号を差し引いて、差し引かれた測定散乱信号を形成することであって、該バックグラウンド信号は、1つのアパーチャが照明された領域を去った後で、次のアパーチャが照明される領域に入る前の一定の時間間隔の間に、該散乱検出器からの信号を測定することによって決定される、ことと、
該差し引かれた測定散乱信号と、該検出器素子のセグメント化されたアレイからの測定透過信号とを、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することと
を行なわせる、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。 - 前記扇形ビームを放出する前記第1の放射線供給源と、前記走査ペンシルビームを放出する前記第2の放射線供給源とは、同一の放射線供給源である、請求項1に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つの散乱検出器は、前記走査ペンシルビームから散乱された透過性放射線が優先的に検出されるように、透過性放射線をコリメートする手段を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つの散乱検出器は実質的に平坦な面を含み、該平坦な面は入射放射線に感応し、該平坦な面は、該面に対する法線によって特徴付けられ、該面に対する法線は、前記物体に対する前記走査ペンシルビームの入射点に実質的に向けられる、請求項1に記載のシステム。
- 前記散乱検出器の、前記平坦な面以外の少なくとも1つの表面は、前記扇形ビームからの透過性放射線の検出を低減するためにシールドされる、請求項4に記載のシステム。
- 前記扇形ビームに起因する前記散乱検出器からの測定信号が低減されるように、該扇形ビームと前記少なくとも1つの散乱検出器との間に配置されたバリアをさらに含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記バリアは、前記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されたカーテンである、請求項6に記載のシステム。
- 前記バリアは、スイングするシールドであり、該シールドは前記扇形ビームに対して実質的に平行に配置されている、請求項6に記載のシステム。
- 前記バリアは、前記扇形ビームに対して実質的に垂直に配置されたシールドである、請求項6に記載のシステム。
- 前記メモリは、命令をさらに含み、該命令は、前記プロセッサによって実行され、該命令は該プロセッサに、前記物体のサイズおよび形状が、前記測定透過信号の表示において、そして、前記差し引かれた測定散乱信号の表示において同様に見えるように、該測定透過信号および該差し引かれた測定散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節することを行わせる、請求項1に記載のシステム。
- 前記検出器素子のセグメント化されたアレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記メモリは、命令をさらに含み、該命令は、前記プロセッサによって実行され、該命令は該プロセッサに、前記第1の組の素子からの測定値と、前記第2の組の素子からの測定値とを使用して、前記物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、該物体の少なくとも1つの部分のイメージを前記ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すこととを行わせる、請求項11に記載のシステム。
- 前記検出器素子のセグメント化されたアレイはコリメータを含み、該コリメータは、該検出器のセグメント化されたアレイから散乱され、前記散乱検出器に入射する扇形ビーム透過性放射線を低減する、請求項1に記載のシステム。
- 物体を検査するシステムであって、該システムは、
a.透過性放射線の扇形ビームを連続的に放出する第1の放射線供給源と、
b.該第1の放射線供給源から該物体を介して透過された透過性放射線の強度を測定する検出器素子のセグメント化されたアレイであって、該アレイはコリメータを含み、該アレイによって散乱された放射線を遮る、検出器素子のセグメント化されたアレイと、
c.第2の放射線供給源であって、多くのアパーチャを含む回転チョッパホイールの各アパーチャが、照射された領域内で該第2の放射線供給源からの放射線によって照明されるとき、透過性放射線の走査ペンシルビームを放出する、第2の放射線供給源と、
d.該物体によって該走査ペンシルビームの外に散乱された該透過性放射線を検出する少なくとも1つの散乱検出器であって、該散乱検出器は、該扇形ビームから散乱された放射線を遮る手段をさらに含む、散乱検出器と、
e.プロセッサ、メモリ、およびディスプレイであって、該メモリは命令を格納し、該命令は該プロセッサによって実行され、該命令は該プロセッサに、
該散乱検出器からの測定信号からバックグランド信号を差し引いて、差し引かれた測定散乱信号を形成することであって、該バックグラウンド信号は、1つのアパーチャが照明された領域を去った後で、次のアパーチャが照明される領域に入る前の一定の時間間隔の間に、該散乱検出器からの信号を測定することによって決定される、ことと、
該差し引かれた測定散乱信号と、該検出器素子のセグメント化されたアレイからの測定透過信号とを、該物体を検査する際に使用するために、該ディスプレイに表示することと
を行なわせる、プロセッサ、メモリ、およびディスプレイと
を備えている、システム。 - 前記扇形ビームを放出する前記第1の放射線供給源と、前記走査ペンシルビームを放出する前記第2の放射線供給源とは、同一の放射線供給源である、請求項14に記載のシステム。
- 前記検出器素子のセグメント化されたアレイは、第1のエネルギー範囲における放射線を測定する第1の組の素子と、第2のエネルギー範囲における放射線を測定する第2の組の素子とを含み、前記メモリは、命令をさらに含み、該命令は前記プロセッサによって実行され、該命令は該プロセッサに、
前記物体のサイズおよび形状が、前記測定透過信号の表示において、そして、前記差し引かれた測定散乱信号の表示において同様に見えるように、該測定透過信号および該差し引かれた測定散乱信号のアスペクト比ならびにサイズを調節することと、
該第1の組の素子からの測定値および該第2の組の素子からの測定値を使用して、該物体の少なくとも1つの部分の有効原子番号を決定することと、
該物体の該少なくとも1つの部分のイメージを該ディスプレイに表示して、該部分の該有効原子番号を示すことと
を行なわせる、請求項14に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US82216206P | 2006-08-11 | 2006-08-11 | |
US60/822,162 | 2006-08-11 | ||
PCT/US2007/075323 WO2008021807A2 (en) | 2006-08-11 | 2007-08-07 | X-ray inspection with contemporaneous and proximal transmission and backscatter imaging |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010123342A Division JP5303508B2 (ja) | 2006-08-11 | 2010-05-28 | 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010500576A JP2010500576A (ja) | 2010-01-07 |
JP2010500576A5 JP2010500576A5 (ja) | 2010-04-08 |
JP4688955B2 true JP4688955B2 (ja) | 2011-05-25 |
Family
ID=38920709
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009523942A Expired - Fee Related JP4688955B2 (ja) | 2006-08-11 | 2007-08-07 | 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査 |
JP2010123342A Expired - Fee Related JP5303508B2 (ja) | 2006-08-11 | 2010-05-28 | 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010123342A Expired - Fee Related JP5303508B2 (ja) | 2006-08-11 | 2010-05-28 | 同時かつ近位の透過イメージングおよび後方散乱イメージングによるx線検査 |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7555099B2 (ja) |
EP (1) | EP2049888B1 (ja) |
JP (2) | JP4688955B2 (ja) |
KR (2) | KR101034753B1 (ja) |
CN (1) | CN101501477B (ja) |
ES (1) | ES2474200T3 (ja) |
IL (2) | IL196967A (ja) |
MX (1) | MX2009001529A (ja) |
MY (2) | MY142674A (ja) |
PL (1) | PL2049888T3 (ja) |
RU (2) | RU2499251C2 (ja) |
SG (1) | SG165402A1 (ja) |
WO (1) | WO2008021807A2 (ja) |
Families Citing this family (102)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
US8503605B2 (en) | 2002-07-23 | 2013-08-06 | Rapiscan Systems, Inc. | Four sided imaging system and method for detection of contraband |
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US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
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US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
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EP2773929B1 (en) * | 2011-11-04 | 2023-12-13 | IMEC vzw | Spectral camera with mosaic of filters for each image pixel |
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US8983234B2 (en) | 2012-09-28 | 2015-03-17 | Varian Medical Systems, Inc. | Method and apparatus pertaining to using imaging information to identify a spectrum |
FR3000211B1 (fr) | 2012-12-20 | 2015-12-11 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif d'eclairage par balayage , dispositif d'imagerie le comportant et procede de mise en oeurvre |
MX349323B (es) | 2013-01-07 | 2017-07-21 | Rapiscan Systems Inc | Escaner de rayos x con conjuntos de detectores de discriminacion de energia parcial. |
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KR20160034385A (ko) | 2013-07-23 | 2016-03-29 | 라피스캔 시스템스, 인코포레이티드 | 대상물검색의 처리속도개선방법 |
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WO2016003547A1 (en) | 2014-06-30 | 2016-01-07 | American Science And Engineering, Inc. | Rapidly relocatable modular cargo container scanner |
WO2016026442A1 (zh) | 2014-08-19 | 2016-02-25 | 清华大学 | 对移动目标进行检查的设备及方法 |
CN105445808B (zh) * | 2014-08-19 | 2018-10-02 | 清华大学 | 对移动目标进行检查的设备及方法 |
CN105374654B (zh) | 2014-08-25 | 2018-11-06 | 同方威视技术股份有限公司 | 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备 |
CN105445290A (zh) * | 2014-09-02 | 2016-03-30 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线产品质量在线检测装置 |
CN105372269B (zh) | 2014-09-02 | 2019-01-15 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线产品质量自动检测装置 |
CN107209282B (zh) | 2014-11-20 | 2019-12-20 | 爱康公司 | X射线扫描系统和方法 |
US10134254B2 (en) | 2014-11-25 | 2018-11-20 | Rapiscan Systems, Inc. | Intelligent security management system |
CN104535594A (zh) * | 2015-01-08 | 2015-04-22 | 安徽中福光电科技有限公司 | 基于x射线+dr+cbs的箱包安检方法和智能化x光机 |
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US11536672B2 (en) | 2015-09-08 | 2022-12-27 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for using backscatter imaging in precision agriculture |
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US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
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- 2007-08-07 KR KR1020097002704A patent/KR101034753B1/ko active IP Right Grant
- 2007-08-07 RU RU2011148960/28A patent/RU2499251C2/ru active
- 2007-08-07 PL PL07840728T patent/PL2049888T3/pl unknown
- 2007-08-07 WO PCT/US2007/075323 patent/WO2008021807A2/en active Application Filing
- 2007-08-07 US US11/834,888 patent/US7555099B2/en active Active
- 2007-08-07 MX MX2009001529A patent/MX2009001529A/es active IP Right Grant
- 2007-08-07 MY MYPI20090212A patent/MY142674A/en unknown
- 2007-08-07 MY MYPI2010001073A patent/MY146301A/en unknown
- 2007-08-07 KR KR1020107004752A patent/KR101263067B1/ko active IP Right Grant
- 2007-08-07 RU RU2009108663/28A patent/RU2448342C2/ru active
- 2007-08-07 SG SG201006815-3A patent/SG165402A1/en unknown
- 2007-08-07 ES ES07840728.5T patent/ES2474200T3/es active Active
- 2007-08-07 JP JP2009523942A patent/JP4688955B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-08-07 CN CN200780029927.6A patent/CN101501477B/zh active Active
- 2007-08-07 EP EP07840728.5A patent/EP2049888B1/en active Active
-
2009
- 2009-02-09 IL IL196967A patent/IL196967A/en active IP Right Grant
- 2009-06-22 US US12/488,635 patent/US7995707B2/en active Active
-
2010
- 2010-05-28 JP JP2010123342A patent/JP5303508B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
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IL221892A (en) | 2015-04-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100217 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100217 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20100217 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20100309 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100311 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100528 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100816 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101102 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110124 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110215 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140225 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |