JP4686521B2 - 携帯端末用デバイス測定装置 - Google Patents
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Description
ベースバンドのデータ信号を生成するベースバンド信号発生部(21)と、
制御コマンドに対応した制御信号を生成する制御信号発生部(22)と、
前記データ信号と前記制御信号とを時分割多重化して携帯端末用の被測定デバイスに与える送信用信号生成部(23)と、
操作部(31)と、
前記操作部に対する操作に応じて、前記ベースバンド信号発生部、制御信号発生部および送信用信号生成部を制御する制御部(33)とを有する携帯端末用デバイス測定装置であって、
前記制御部には、
前記被測定デバイスを測定するために、ダミーコマンドが収納されるダミーコマンド領域を有するとともに当該ダミーコマンドを含めた一連の制御コマンドが繰り返し実行される制御シーケンスを作成するための制御シーケンス作成手段(100)と、
前記制御シーケンス作成手段によって作成された制御シーケンスのうち、前記操作部によって指定された制御シーケンスに対応した制御信号を前記制御信号発生部から出力させる制御シーケンス実行手段(101)と、
前記操作部によって指定された制御シーケンスが実行されている間に、前記操作部の操作により任意の制御コマンドが指定されたとき、該指定された制御コマンドを実行中の制御シーケンスの前記ダミーコマンド領域に挿入させ、前記被測定デバイスの動作条件を変更させる任意コマンド挿入手段(102)が設けられていることを特徴とする。
前記送信用信号を受けた被測定デバイスから出力される高周波信号に対する解析処理を行う高周波信号解析部(24)を有するとともに、
前記ダミーコマンド領域に挿入される制御コマンドにはトリガ発生信号が含まれており、
前記高周波信号解析部は、前記ダミーコマンド領域に挿入された前記制御コマンドに含まれるトリガ発生信号を前記被測定デバイスから受け、前記ダミーコマンド領域に挿入された制御コマンドによる被測定デバイスの動作条件の変更に関連づけて、該被測定デバイスの出力信号に対する解析処理を行うことを特徴としている。
図1は、本発明を適用した携帯端末用デバイス測定装置20(以下、単に測定装置20と記す)の構成を示している。
ここで、送信用信号Stxは、WCDMA方式の場合、図2に示すように、1フレーム当たり15スロットの構成となり、各スロット内にデータ信号D(k)が被測定デバイス1内のデータバッファが空にならない間隔で挿入され、制御信号C(m)がその間に挿入される。
予め被測定デバイス1を測定するための制御シーケンスを作成しておき、そのうちの一つを操作部31の操作により選択(S1)すると、ベースバンドのデータ信号とともに指定された制御シーケンス内の最初の制御コマンドが送信用信号生成部23に送出され(S2)、データ信号と制御コマンドに対応した制御信号とが多重化されて被測定デバイス1に出力され、その多重化された信号に含まれる制御コマンドにしたがってデバイス内のパラメータ(例えば周波数、ゲインなど)が設定された状態で、データ信号で変調された高周波信号が出力される。
Claims (2)
- ベースバンドのデータ信号を生成するベースバンド信号発生部(21)と、
制御コマンドに対応した制御信号を生成する制御信号発生部(22)と、
前記データ信号と前記制御信号とを時分割多重化して携帯端末用の被測定デバイスに与える送信用信号生成部(23)と、
操作部(31)と、
前記操作部に対する操作に応じて、前記ベースバンド信号発生部、制御信号発生部および送信用信号生成部を制御する制御部(33)とを有する携帯端末用デバイス測定装置であって、
前記制御部には、
前記被測定デバイスを測定するために、ダミーコマンドが収納されるダミーコマンド領域を有するとともに当該ダミーコマンドを含めた一連の制御コマンドが繰り返し実行される制御シーケンスを作成するための制御シーケンス作成手段(100)と、
前記制御シーケンス作成手段によって作成された制御シーケンスのうち、前記操作部によって指定された制御シーケンスに対応した制御信号を前記制御信号発生部から出力させる制御シーケンス実行手段(101)と、
前記操作部によって指定された制御シーケンスが実行されている間に、前記操作部の操作により任意の制御コマンドが指定されたとき、該指定された制御コマンドを実行中の制御シーケンスの前記ダミーコマンド領域に挿入させ、前記被測定デバイスの動作条件を変更させる任意コマンド挿入手段(102)が設けられていることを特徴とする携帯端末用デバイス測定装置。 - 前記送信用信号を受けた被測定デバイスから出力される高周波信号に対する解析処理を行う高周波信号解析部(24)を有するとともに、
前記ダミーコマンド領域に挿入される制御コマンドにはトリガ発生信号が含まれており、
前記高周波信号解析部は、前記ダミーコマンド領域に挿入された前記制御コマンドに含まれるトリガ発生信号を前記被測定デバイスから受け、前記ダミーコマンド領域に挿入された制御コマンドによる被測定デバイスの動作条件の変更に関連づけて、該被測定デバイスの出力信号に対する解析処理を行うことを特徴とする請求項1記載の携帯端末用デバイス測定装置。
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