JP4675747B2 - 有機el表示装置 - Google Patents

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Description

本発明は、有機EL(エレクトロルミネッセンス)表示装置に関する。
有機EL素子は、水分や酸素などと接触すると、容易に劣化する。したがって、有機EL表示装置では、有機EL素子を封止して、有機EL素子と水分や酸素などとの接触を防止している。
有機EL素子の封止方法としては、中空封止と薄膜封止とがある。中空封止では、例えば、ガラス等の封止基板を、アレイ基板の有機EL素子が形成された面と向き合うように及びアレイ基板から離間するように配置する。そして、それら基板の対向面周縁部同士を接着剤で貼り合わせて、中空体を形成する。この中空体の内部空間は、例えば、不活性ガスで満たすか又は真空とする。この場合、典型的には、有機EL表示装置に下面発光型を採用すると共に、先の内部空間に乾燥剤をさらに配置する。
このように、中空封止を行う場合には、有機EL表示装置に下面発光型を採用するのが一般的である。本発明者らは、これに反し、上面発光型の有機EL表示装置で封止基板を用いた封止を行った。その結果、本発明者らは、上面発光型の有機EL表示装置では、封止基板を用いた封止を行うと、表示画像に縞状の表示ムラが生じる可能性があることを見出した。
本発明の目的は、上面発光型の有機EL表示装置で封止基板を用いた封止を行った場合に、視認され得る縞状の表示ムラが表示画像中に生じるのを防止することにある。
本発明の第1側面によると、絶縁基板と、前記絶縁基板の一主面上に配置されると共に複数の開口が設けられた絶縁パターン層と、前記絶縁基板の前記主面上であって前記開口に対応した位置に配置された第1電極と前記絶縁パターン層を被覆すると共に前記第1電極と向き合った第2電極と前記第1及び第2電極間に介在した有機物層とを各々が含んだ複数の有機EL素子とを備えたアレイ基板と、前記絶縁パターン層を挟んで前記アレイ基板と向き合った封止基板と、前記アレイ基板と前記封止基板との間に介在すると共に前記絶縁パターン層を取り囲んだシール層とを具備し、前記絶縁パターン層は、前記複数の有機EL素子が配置された領域である表示領域内に位置した隔壁部と、前記表示領域を取り囲む周辺領域内に位置したスペーサ部とを含み、前記隔壁部及び前記スペーサ部の前記封止基板との各対向面は、前記第2電極を含む層を介して前記封止基板と接触しているか、又は、前記封止基板と直に接触しており、前記アレイ基板と前記封止基板とを互いから離間させた状態において、前記スペーサ部は、前記隔壁部と比較して、前記絶縁基板の前記主面に対する高さがより低く、前記封止基板は、前記シール層の位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離が、前記表示領域の中央に対応した位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離と比較してより短くなるように撓んでいることを特徴とする上面発光型有機EL表示装置が提供される。
本発明の第2側面によると、絶縁基板と、前記絶縁基板の一主面上に配置されると共に複数の開口が設けられた絶縁パターン層と、前記絶縁基板の前記主面上であって前記開口に対応した位置に配置された第1電極と前記絶縁パターン層を被覆すると共に前記第1電極と向き合った第2電極と前記第1及び第2電極間に介在した有機物層とを各々が含んだ複数の有機EL素子とを備えたアレイ基板と、前記絶縁パターン層を挟んで前記アレイ基板と向き合った封止基板と、前記アレイ基板と前記封止基板との間に介在すると共に前記絶縁パターン層を取り囲んだシール層とを具備し、前記絶縁パターン層は、前記複数の有機EL素子が配置された領域である表示領域内に位置した隔壁部と、前記表示領域を取り囲む周辺領域内に位置したスペーサ部とを含み、前記隔壁部及び前記スペーサ部の前記封止基板との各対向面は、前記第2電極を含む層を介して前記封止基板と接触しているか、又は、前記封止基板と直に接触しており、前記スペーサ部と前記絶縁基板との間の距離は、前記隔壁部と前記絶縁基板との間の距離と比較してより短く、前記アレイ基板と前記封止基板とを互いから離間させた状態において、前記スペーサ部は、前記隔壁部と比較して、前記絶縁基板の前記主面に対する高さがより低く、前記封止基板は、前記シール層の位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離が、前記表示領域の中央に対応した位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離と比較してより短くなるように撓んでいることを特徴とする上面発光型有機EL表示装置が提供される。
本発明によると、上面発光型の有機EL表示装置で封止基板を用いた封止を行った場合に、視認され得る縞状の表示ムラが表示画像中に生じるのを防止可能となる。
以下、本発明の態様について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、同様又は類似した機能を発揮する構成要素には同一の参照符号を付し、重複する説明は省略する。
図1は、一参考例に係る有機EL表示装置を概略的に示す平面図である。図2は、図1に示す有機EL表示装置のII−II線に沿った断面図である。図3は、図2に示す有機EL表示装置の一部を拡大して示す断面図である。図4は、図2に示す有機EL表示装置の他の一部を拡大して示す断面図である。図5は、図1に示す有機EL表示装置の等価回路図である。
なお、図2乃至図4では、有機EL表示装置を、その表示面,すなわち前面又は光出射面,が上方を向き、背面が下方を向くように描いている。また、後述するように、図3には絶縁パターン層PIの表示領域における構造を描き、図4には絶縁パターン層PIの周辺領域における構造を描いている。
この有機EL表示装置は、アクティブマトリクス型駆動方式を採用した上面発光型の有機EL表示装置である。この有機EL表示装置は、図1及び図2に示すように、アレイ基板ASと封止基板CSとを含んでいる。アレイ基板ASと封止基板CSとは、互いに向き合うように配置されており、それらの対向面中央部同士を接触させている。アレイ基板ASと封止基板CSとの対向面周縁部間には、枠形状のシール層SSが介在している。
アレイ基板ASは、例えば、ガラス基板などの絶縁基板SUBを含んでいる。
基板SUB上には、図3及び図4に示すように、アンダーコート層UCとして、例えば、SiNx層とSiOx層とが順次積層されている。アンダーコート層UC上には、例えばチャネル及びソース・ドレインが形成されたポリシリコン層である半導体層SC、例えばTEOS(TetraEthyl OrthoSilicate)などを用いて形成され得るゲート絶縁膜GI、及び例えばMoWなどからなるゲート電極Gが順次積層されており、それらはトップゲート型のTFTを構成している。この例では、これらTFTは、pチャネルTFTであり、図5の画素PXが含む駆動制御素子DR及びスイッチSW1乃至SW3として利用している。
ゲート絶縁膜GI上には、ゲート電極Gと同一の工程で形成可能な走査信号線SL1及びSL2がさらに配置されている。走査信号線SL1及びSL2は、図5に示すように、各々が画素PXの行方向(X方向)に延びており、画素PXの列方向(Y方向)に交互に配列している。これら走査信号線SL1及びSL2は、走査信号線ドライバYDRに接続されている。
図3及び図4に示すように、ゲート絶縁膜GI、ゲート電極G、走査信号線SL1及びSL2は、例えばプラズマCVD法などにより成膜されたSiOxなどからなる層間絶縁膜IIで被覆されている。層間絶縁膜II上にはソース電極SE及びドレイン電極DEが配置されており、それらは、例えばSiNxなどからなるパッシベーション膜PSで埋め込まれている。ソース電極SE及びドレイン電極DEは、例えば、Mo/Al/Moの三層構造を有しており、層間絶縁膜IIに設けられたコンタクトホールを介してTFTのソース及びドレインに電気的に接続されている。
層間絶縁膜II上には、ソース電極SE及びドレイン電極DEと同一の工程で形成可能な映像信号線DLがさらに配置されている。映像信号線DLは、図5に示すように、各々がY方向に延びており、X方向に配列している。これら映像信号線DLは、映像信号線ドライバXDRに接続されている。なお、典型的には、走査信号線SL1及びSL2が配置された層間か、又は、映像信号線DLが配置された層間に、図5の電源線PSLを敷設する。
パッシベーション膜PS上には、図3及び図4に示すように、平坦化層FLが形成されている。平坦化層FL上には、反射層RFが配置されている。平坦化層FLの材料としては、例えば、硬質樹脂を使用することができる。反射層RFの材料としては、例えば、Alなどの金属材料を使用することができる。
平坦化層FL及び反射層RFは、光取り出し層OCで被覆されている。この光取り出し層OCは必ずしも設けなくてもよいが、光取り出し層OCを設けると、後述する有機EL素子OLEDの内部で反射を繰り返しながら膜面方向に伝播する光の進行方向を変えることができる。こうすると、有機EL素子OLEDの発光層が放出する光を有機EL素子OLEDの外部へと高い効率で取り出すことを可能とする。光取り出し層OLEDとしては、例えば、光散乱層や回折格子などを使用することができる。
光取り出し層OLED上には、背面電極として、光透過性の第1電極PEが互いから離間して並置されている。各第1電極PEは、画素電極であり、反射層RFと向き合うように配置されている。また、各第1電極PEは、パッシベーション膜PSと平坦化層FLと光取り出し層OCとに設けた貫通孔を介して、ドレイン電極DEに接続されている。
第1電極PEは、この例では陽極である。第1電極PEの材料としては、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)のような透明導電性酸化物を使用することができる。
光取り出し層OC上には、さらに、絶縁パターン層PIが配置されている。絶縁パターン層PIのうち、図1に示す一点鎖線Lで囲まれた表示領域内に位置した部分は隔壁部であり、表示領域を取り囲む周辺領域内に位置した部分はスペーサ部である。図3には絶縁パターン層PIの隔壁部を描いており、図4には絶縁パターン層PIのスペーサ部を描いている。
絶縁パターン層PIの隔壁部には、第1電極PEに対応した位置に貫通孔が設けられているか、或いは、第1電極PEが形成する列又は行に対応した位置にスリットが設けられている。ここでは、一例として、絶縁パターン層PIの隔壁部には、第1電極PEに対応した位置に貫通孔が設けられていることとする。
また、絶縁パターン層PIのスペーサ部は、複数箇所で開口した1つの層からなるか、又は、互いから離間した複数の島状部分で構成されている。基板SUBの主面に対して垂直な方向から見た場合に、周辺領域のうちシール層SSと表示領域との間に位置した部分に対するスペーサ部の面積比は、表示領域に対する隔壁部の面積比と比較してより小さい。すなわち、スペーサ部は、隔壁部と比較して、基板SUBの主面に対して垂直な方向から見た面密度がより小さい。
絶縁パターン層PIは、例えば、有機絶縁層である。絶縁パターン層PIは、例えば、フォトリソグラフィ技術を用いて形成することができる。
第1電極PE上には、発光層を含んだ有機物層ORGが配置されている。発光層は、例えば、発光色が赤色、緑色、または青色のルミネセンス性有機化合物を含んだ薄膜である。この有機物層ORGは、発光層以外の層をさらに含むことができる。例えば、有機物層ORGは、第1電極PEから発光層への正孔の注入を媒介する役割を果たすバッファ層をさらに含むことができる。また、有機物層ORGは、正孔輸送層、正孔ブロッキング層、電子輸送層、電子注入層などもさらに含むことができる。
絶縁パターン層PI及び有機物層ORGは、前面電極である光透過性の第2電極CEで被覆されている。第2電極CEは、この例では、各画素共通に連続して設けられた陰極である。第2電極CEは、例えば、パッシベーション膜PSと平坦化層FLと光取り出し層OCと絶縁パターン層PIとに設けられたコンタクトホールを介して、映像信号線DLと同一の層上に形成された電極配線(図示せず)に電気的に接続されている。各々の有機EL素子OLEDは、第1電極PE、有機物層ORG及び第2電極CEで構成されている。
各画素PXは、有機EL素子OLEDと画素回路とを含んでいる。この例では、画素回路は、図5に示すように、駆動制御素子DRと、出力制御スイッチSW1と、映像信号供給制御スイッチSW2と、ダイオード接続スイッチSW3と、キャパシタCとを含んでいる。上記の通り、この例では、駆動制御素子DR及びスイッチSW1乃至SW3はpチャネルTFTである。
駆動制御素子DRと出力制御スイッチSW1と有機EL素子OLEDとは、第1電源端子ND1と第2電源端子ND2との間で、この順に直列に接続されている。この例では、第1電源端子ND1は高電位電源端子であり、第2電源端子ND2は低電位電源端子である。
出力制御スイッチSW1のゲートは、走査信号線SL1に接続されている。映像信号供給制御スイッチSW2は映像信号線DLと駆動制御素子DRのドレインとの間に接続されており、そのゲートは走査信号線SL2に接続されている。ダイオード接続スイッチSW3は駆動制御素子DRのドレインとゲートとの間に接続されており、そのゲートは走査信号線SL2に接続されている。キャパシタCは、駆動制御素子DRのゲートと定電位端子ND1’との間に接続されている。
封止基板CSは、例えば、ガラス基板などのように光透過性を有する絶縁基板である。封止基板CSは、典型的には平板状である。封止基板CSは、この例では、第2電極CEを介して、絶縁パターン層PIの隔壁部及びスペーサ部と接触している。なお、絶縁パターン層PIのスペーサ部上に第2電極CEを配置せず、封止基板CSとスペーサ部とを直に接触させてもよい。
シール層SSは、図2に示すようにアレイ基板ASと封止基板CSとの間に介在している。シール層SSは、図1に示すように枠形状を有しており、絶縁パターン層PIを取り囲んでいる。シール層SSの材料としては、例えば、接着剤やフリットガラスなどを使用することができる。
シール層SSは、封止基板CSをアレイ基板ASに結合させる役割を果たすのに加え、封止基板CSと共に有機EL素子OLEDを密閉する役割を果たしている。アレイ基板ASと封止基板CSとシール層SSとに囲まれた空間は、真空とするか又は不活性ガスなどを充填する。
この有機EL表示装置では、例えば、走査信号線SL1及びSL2の各々を線順次駆動する。そして、或る画素PXに映像信号を書き込む書込期間では、まず、走査信号線ドライバYDRから、先の画素PXが接続された走査信号線SL1にスイッチSW1を開く走査信号を電圧信号として出力し、続いて、先の画素PXが接続された走査信号線SL2にスイッチSW2及びSW3を閉じる走査信号を電圧信号として出力する。この状態で、映像信号線ドライバXDRから、先の画素PXが接続された映像信号線に映像信号を電流信号として出力し、駆動制御素子DRのゲート−ソース間電圧を、先の映像信号に対応した大きさに設定する。その後、走査信号線ドライバYDRから、先の画素PXが接続された走査信号線SL2にスイッチSW2及びSW3を開く走査信号を電圧信号として出力し、続いて、先の画素PXが接続された走査信号線SL1にスイッチSW1を閉じる走査信号を電圧信号として出力する。
スイッチSW1を閉じている有効表示期間では、有機EL素子OLEDには、駆動制御素子DRのゲート−ソース間電圧に対応した大きさの駆動電流が流れる。有機EL素子OLEDは、駆動電流の大きさに対応した輝度で発光する。
ところで、この有機EL表示装置の製造においては、アレイ基板ASと封止基板CSとを貼り合わせる際に、高い密着性を実現すべく、シール層SSの位置で、封止基板CSをアレイ基板ASに対して強い力で押圧する。そのため、この有機EL表示装置では、シール層SSの位置における絶縁基板SUBと封止基板CSとの間の距離は、表示領域の中央に対応した位置における絶縁基板SUBと封止基板CSとの間の距離と比較してより短い。すなわち、この有機EL表示装置では、封止基板CSは、その外面が凸面となるように僅かに撓んでいる。
本発明者らは、この凸面の表示領域に対応した位置における曲率が大きいと、表示画像に縞状の表示ムラが生じる可能性があることを見い出した。そして、周辺領域のシール層SSと表示領域とに挟まれた部分に上記のスペーサ部を配置することにより、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性を損ねることなく、封止基板CSの大きく撓んでいる部分を周辺領域に対応した位置のみに制限することができることを見い出した。
すなわち、スペーサ部は、周辺領域に対応した位置において、絶縁基板SUBと封止基板CSとの間の距離を十分に広げる役割を果たす。そのため、シール層SSに起因した封止基板CSの変形が表示領域に対応した部分に及ぶのを防止することができる。
また、スペーサ部の面密度は隔壁部の面密度よりも小さいため、スペーサ部は隔壁部よりも変形し易い。それゆえ、封止基板CSは、シール層SSと表示領域とに挟まれた部分に対応した位置で適度に変形することができる。このため、例えば、封止基板CSとシール層SSとの間などに作用する張力が過度に大きくなることがない。すなわち、上記構造を採用しても、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性が損ねられることはない。
したがって、本参考例によると、表示画像に縞状の表示ムラが生じるのを防止することができる。
基板SUBの主面に対して垂直な方向から見た場合における、周辺領域のうちシール層SSと表示領域との間に位置した部分に対するスペーサ部の幅W1は、例えば、1mm乃至5mmの範囲内とする。スペーサ部の幅W1が小さい場合、シール層SSに起因した封止基板CSの変形が表示領域に対応した部分に及ぶ可能性がある。また、スペーサ部の幅W1が大きい場合、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性が不十分となる可能性がある。
表示領域からシール層SSまでの距離Lは、例えば、0.75mm以上とする。距離Lが短い場合、封止基板CSとシール層SSとの間などに大きな張力が作用し、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性が不十分となる可能性がある。なお、距離Lに上限はないが、通常は1.5mm以下とする。
シール層SSの内周位置における絶縁基板SUBと封止基板CSとの間の距離D1と、表示領域と周辺領域との境界の位置における絶縁基板SUBと封止基板CSとの間の距離D2との差D2−D1は、典型的には、0.5μm乃至10μmの範囲内とする。差D2−D1がこの範囲内にある場合、十分な密着性を実現できる。
次に、本発明の一態様について説明する。
本態様は、アレイ基板ASに以下の構造を採用したこと以外は、上記参考例と同様である。すなわち、本態様では、アレイ基板ASと封止基板CSとを互いから離間させた状態において、絶縁基板SUBの主面に対するスペーサ部の高さH1を、絶縁基板SUBの主面に対する隔壁部の高さH2と比較してより低くする。そして、高さH1は、距離D1と比較してより高くする。
こうすると、上記参考例と同様、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性を損ねることなく、封止基板CSの大きく撓んでいる部分を周辺領域に対応した位置のみに制限することができる。すなわち、本態様でも、表示画像に縞状の表示ムラが生じるのを防止することができる。
スペーサ部の高さH1を隔壁部の高さH2よりも低くするために、例えば、以下の構造を採用してもよい。
図6は、本発明の一態様に係る有機EL表示装置で採用可能な構造の一例を概略的に示す断面図である。図6に描いた部分は、有機EL表示装置のうち、図4に描いた部分に相当している。
図6の構造では、図4の構造と比較して、絶縁パターン層PIのスペーサ部と絶縁基板SUBとの間の距離をより短くしている。ここでは、一例として、平坦化層FL及び光取り出し層OCは、表示領域に対応した位置にのみ配置し、周辺領域に対応した位置では省略している。このような構造を採用すると、スペーサ部の厚さと隔壁部の厚さとが等しい場合であっても、スペーサ部の高さH1を隔壁部の高さH2よりも低くすることができる。
高さH2と高さH1との差と距離D1との比(H2−H1)/D1は、例えば、250乃至1000の範囲内とする。比(H2−H1)/D1が大きい場合、シール層SSに起因した封止基板CSの変形が表示領域に対応した部分に及ぶ可能性がある。比(H2−H1)/D1が小さい場合、アレイ基板ASと封止基板CSとの密着性が不十分となる可能性がある。
距離Lは、例えば、上記参考例と同様に設定する。また、距離D1と距離D2との比D1/D2も、例えば、上記参考例と同様に設定する。
一参考例に係る有機EL表示装置を概略的に示す平面図。 図1に示す有機EL表示装置のII−II線に沿った断面図。 図2に示す有機EL表示装置の一部を拡大して示す断面図。 図2に示す有機EL表示装置の他の一部を拡大して示す断面図。 図1に示す有機EL表示装置の等価回路図。 本発明の一態様に係る有機EL表示装置で採用可能な構造の一例を概略的に示す断面図。
符号の説明
AS…アレイ基板、CE…第2電極、CS…封止基板、DE…ドレイン電極、DL…映像信号線、DR…駆動制御素子、FL…平坦化層、G…ゲート電極、GI…ゲート絶縁膜、II…層間絶縁膜、L…表示領域と周辺領域との境界、ND1…第1電源端子、ND1’…定電位端子、ND2…第2電源端子、OC…光取り出し層、OLED…有機EL素子、
ORG…有機物層、PE…第1電極、PI…絶縁パターン層、PS…パッシベーション膜、PSL…電源線、PX…画素、RF…反射層、SC…半導体層、SE…ソース電極、SL1…走査信号線、SL2…走査信号線、SS…シール層、SUB…絶縁基板、SW1…出力制御スイッチ、SW2…映像信号供給制御スイッチ、SW3…ダイオード接続スイッチ、UC…アンダーコート層、XDR…映像信号線ドライバ、YDR…走査信号線ドライバ。

Claims (4)

  1. 絶縁基板と、前記絶縁基板の一主面上に配置されると共に複数の開口が設けられた絶縁パターン層と、前記絶縁基板の前記主面上であって前記開口に対応した位置に配置された第1電極と前記絶縁パターン層を被覆すると共に前記第1電極と向き合った第2電極と前記第1及び第2電極間に介在した有機物層とを各々が含んだ複数の有機EL素子とを備えたアレイ基板と、
    前記絶縁パターン層を挟んで前記アレイ基板と向き合った封止基板と、
    前記アレイ基板と前記封止基板との間に介在すると共に前記絶縁パターン層を取り囲んだシール層とを具備し、
    前記絶縁パターン層は、前記複数の有機EL素子が配置された領域である表示領域内に位置した隔壁部と、前記表示領域を取り囲む周辺領域内に位置したスペーサ部とを含み、
    前記隔壁部及び前記スペーサ部の前記封止基板との各対向面は、前記第2電極を含む層を介して前記封止基板と接触しているか、又は、前記封止基板と直に接触しており、
    前記アレイ基板と前記封止基板とを互いから離間させた状態において、前記スペーサ部は、前記隔壁部と比較して、前記絶縁基板の前記主面に対する高さがより低く、
    前記封止基板は、前記シール層の位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離が、前記表示領域の中央に対応した位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離と比較してより短くなるように撓んでいることを特徴とする上面発光型有機EL表示装置。
  2. 前記アレイ基板は、前記絶縁基板と前記絶縁パターン層との間であって、前記表示領域に対応した位置に配置された層を更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の有機EL表示装置。
  3. 絶縁基板と、前記絶縁基板の一主面上に配置されると共に複数の開口が設けられた絶縁パターン層と、前記絶縁基板の前記主面上であって前記開口に対応した位置に配置された第1電極と前記絶縁パターン層を被覆すると共に前記第1電極と向き合った第2電極と前記第1及び第2電極間に介在した有機物層とを各々が含んだ複数の有機EL素子とを備えたアレイ基板と、
    前記絶縁パターン層を挟んで前記アレイ基板と向き合った封止基板と、
    前記アレイ基板と前記封止基板との間に介在すると共に前記絶縁パターン層を取り囲んだシール層とを具備し、
    前記絶縁パターン層は、前記複数の有機EL素子が配置された領域である表示領域内に位置した隔壁部と、前記表示領域を取り囲む周辺領域内に位置したスペーサ部とを含み、
    前記隔壁部及び前記スペーサ部の前記封止基板との各対向面は、前記第2電極を含む層を介して前記封止基板と接触しているか、又は、前記封止基板と直に接触しており、
    前記スペーサ部と前記絶縁基板との間の距離は、前記隔壁部と前記絶縁基板との間の距離と比較してより短く、
    前記アレイ基板と前記封止基板とを互いから離間させた状態において、前記スペーサ部は、前記隔壁部と比較して、前記絶縁基板の前記主面に対する高さがより低く、
    前記封止基板は、前記シール層の位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離が、前記表示領域の中央に対応した位置における前記絶縁基板と前記封止基板との間の距離と比較してより短くなるように撓んでいることを特徴とする上面発光型有機EL表示装置。
  4. 前記隔壁部及び前記スペーサ部の前記封止基板との各対向面は、前記第2電極を含む層を介して前記封止基板と接触している請求項1乃至3の何れか1項に記載の有機EL表示装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101097307B1 (ko) * 2009-04-16 2011-12-21 삼성모바일디스플레이주식회사 실링 장치
KR101065402B1 (ko) * 2009-08-13 2011-09-16 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 표시 장치
WO2021240719A1 (ja) * 2020-05-28 2021-12-02 シャープ株式会社 表示装置および表示装置の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62232893A (ja) * 1986-04-02 1987-10-13 シャープ株式会社 薄膜elパネルの製造方法
JP2001319775A (ja) * 2000-05-10 2001-11-16 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 有機el表示装置の封止方法および封止構造
JP2002324662A (ja) * 2001-04-23 2002-11-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置及びその作製方法
JP2005166315A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 有機el表示装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62232893A (ja) * 1986-04-02 1987-10-13 シャープ株式会社 薄膜elパネルの製造方法
JP2001319775A (ja) * 2000-05-10 2001-11-16 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk 有機el表示装置の封止方法および封止構造
JP2002324662A (ja) * 2001-04-23 2002-11-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置及びその作製方法
JP2005166315A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 有機el表示装置

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