JP4654954B2 - イオン化装置 - Google Patents
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Description
a) 熱電子を発生するフィラメントと、
b) 前記フィラメントから放射され、イオン化室内を通過した熱電子を捕集するトラップ電極と、
c) 前記トラップ電極に到達した熱電子により流れる電流を測定する第1電流測定手段と、
d) 前記フィラメントから放射され、前記イオン化室に衝突した熱電子により流れる電流を測定する第2電流測定手段と、
e) 前記第1電流測定手段によって測定された電流値及び前記第2電流測定手段によって測定された電流値に基づいて前記真空容器内に取り付けられているイオン化室の種類を判定するイオン化室判定手段と、
を有することを特徴としている。
Ionization:PCI)用のイオン化室と負化学イオン化(Negative
ion Chemical Ionization:NCI)用のイオン化室のいずれであってもよい。また、一般にPCI用とNCI用のイオン化室に設けられた電子入射口や出射口の開口面積は、ほぼ同一となっているが、両者に設けられた電子入射口及び/又は電子出射口の開口面積が異なっていれば、本発明のイオン化装置によりこれらのイオン化室を判別することも可能である。
12…フィラメント
13…トラップ電極
14…加熱電流源
15…制御部
16…第1電流計
17…第2電流計
18…動作指令部
19…イオン化室判定部
20…入力部
21…表示部
22…イオン化モード設定部
30a…EI用イオン化室
30b…CI用イオン化室
31…試料ガス導入口
32…反応ガス導入口
33…入射口
34…出射口
35…イオン通過口
Claims (3)
- 真空排気される真空容器内に取り付けられたイオン化室の内部で熱電子を直接的又は間接的に利用してイオン化対象である気体分子又は原子をイオン化するイオン化装置において、
a) 熱電子を発生するフィラメントと、
b) 前記フィラメントから放射され、イオン化室内を通過した熱電子を捕集するトラップ電極と、
c) 前記トラップ電極に到達した熱電子により流れる電流を測定する第1電流測定手段と、
d) 前記フィラメントから放射され、前記イオン化室に衝突した熱電子により流れる電流を測定する第2電流測定手段と、
e) 前記第1電流測定手段によって測定された電流値及び前記第2電流測定手段によって測定された電流値に基づいて前記真空容器内に取り付けられているイオン化室の種類を判定するイオン化室判定手段と、
を有することを特徴とするイオン化装置。 - 上記イオン化室判定手段が、上記真空容器内に取り付けられているイオン化室が電子衝撃イオン化用のイオン化室と化学イオン化用のイオン化室のいずれであるかを判定するものであることを特徴とする請求項1に記載のイオン化装置。
- 更に、上記イオン化室判定手段による判定結果に基づいて、イオン化モードの設定を自動的に行うイオン化モード設定手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載のイオン化装置。
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---|---|---|---|---|
JPS6062053A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-04-10 | Toshiba Corp | 医用質量分析計 |
JPH04274153A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ−質量分析計のイオン源 |
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JP2001236922A (ja) * | 2000-02-23 | 2001-08-31 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
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Patent Citations (5)
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