JP4648179B2 - 高周波測定装置 - Google Patents
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Description
2 伝送線路
3 インピーダンス整合器
4 プラズマ処理装置
5 高周波測定装置
6 ダミーロード
7 電力計
8 校正係数測定装置
Claims (6)
- 予め設定された所定の周波数範囲の高周波電圧信号および高周波電流信号の測定が可能な高周波測定装置であって、
前記高周波電圧信号を検出する電圧検出手段と、
前記高周波電流信号を検出する電流検出手段と、
前記電圧検出手段で検出される、前記周波数範囲の下限周波数fminにおける高周波電圧信号の検出値Vminと上限周波数fmaxにおける高周波電圧信号の検出値Vmaxをそれぞれ真の測定値VSminと測定値VSmaxに校正するための電圧校正データCvmin,Cvmaxと、前記電流検出手段で検出される、前記下限周波数fminにおける高周波電流信号の検出値Iminと前記上限周波数fmaxにおける高周波電流信号の検出値Imaxをそれぞれ真の測定値ISminと測定値ISmaxに校正するための電流校正データCimin,Cimaxとが記憶された校正データ記憶手段と、
前記電圧検出手段で検出された前記高周波電圧信号または前記電流検出手段で検出された前記高周波電流信号の周波数fmを検出する周波数検出手段と、
前記周波数範囲の下限周波数fmin及び上限周波数fmaxと、前記周波数検出手段で検出された周波数fmと、前記校正データ記憶手段に記憶された電圧校正データCvmin,Cvmaxを用いて、前記周波数fmに対する電圧校正データCvmを演算するとともに、前記下限周波数fmin、前記上限周波数fmax及び前記周波数fmと、前記校正データ記憶手段に記憶された電流校正データCimin,Cimaxを用いて、前記周波数fmに対する電流校正データCimを演算する校正データ演算手段と、
前記校正データ演算手段で演算された電圧校正データCvmを用いて前記電圧検出手段で検出された高周波電圧信号の検出値Vmを真の電圧測定値VSmに校正するとともに、前記校正データ演算手段で演算された電流校正データCimを用いて前記電流検出手段で検出された高周波電流信号の検出値Imを真の電流測定値ISmに校正する測定値校正手段と、
を備えたことを特徴とする高周波測定装置。 - 前記校正データ演算手段は、下記演算式により電圧校正データCvmおよび電流校正データCimを演算する、請求項1に記載の高周波測定装置。
Cvm=Cvmin+(fm−fmin)・(Cvmax−Cvmin)/(fmax−fmin)
Cim=Cimin+(fm−fmin)・(Cimax−Cimin)/(fmax−fmin) - 前記電圧検出手段で検出された高周波電圧信号と前記電流検出手段で検出された高周波電流信号を用いて前記高周波信号の位相を検出する位相検出手段を更に備えるとともに、
前記校正データ記憶手段に、前記位相検出手段で検出される、前記下限周波数fminにおける位相θminと前記上限周波数fmaxにおける位相θmaxをそれぞれ真の位相θSminと真の位相θSmaxに校正するための位相校正データCdmin,Cdmaxとが更に記憶され、
前記校正データ演算手段は、更に前記周波数範囲の下限周波数fmin及び上限周波数fmaxと、前記周波数検出手段で検出された周波数fmと、前記校正データ記憶手段に記憶された位相校正データCdmin,Cdmaxを用いて、前記周波数fmに対する位相校正データCdmを演算し、
前記測定値校正手段は、更に前記校正データ演算手段で演算された位相校正データCdmを用いて前記位相検出手段で検出された位相θmを真の位相θSmに校正する、請求項1又は2に記載の高周波測定装置。 - 前記校正データ演算手段は、下記演算式により位相校正データCdmを演算する、請求項3に記載の高周波測定装置。
Cdm=Cdmin+(fm−fmin)・(Cdmax−Cdmin)/(fmax−fmin) - 前記電圧校正データCvmin,Cvmaxは、予め設定された所定の範囲で高周波信号の出力を変化させて得られる複数の電圧校正データの平均値であり、前記電流校正データCimin,Cimaxは、前記所定の範囲で前記高周波信号の出力を変化させて得られる複数の電流校正データの平均値であり、前記位相校正データCdmin,Cdmaxは、前記所定の範囲で高周波信号の出力を変化させて得られる複数の位相校正データの平均値である、請求項3又は4に記載の高周波測定装置。
- 相互に周波数範囲が重複しない2以上の離散的な周波数範囲の高周波電圧信号および高周波電流信号に対して測定が可能である、請求項1ないし5のいずれかに記載の高周波測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005360401A JP4648179B2 (ja) | 2005-12-14 | 2005-12-14 | 高周波測定装置 |
US11/636,389 US7489145B2 (en) | 2005-12-14 | 2006-12-08 | Plasma processing system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005360401A JP4648179B2 (ja) | 2005-12-14 | 2005-12-14 | 高周波測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007163308A JP2007163308A (ja) | 2007-06-28 |
JP2007163308A5 JP2007163308A5 (ja) | 2008-12-25 |
JP4648179B2 true JP4648179B2 (ja) | 2011-03-09 |
Family
ID=38246369
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005360401A Expired - Fee Related JP4648179B2 (ja) | 2005-12-14 | 2005-12-14 | 高周波測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4648179B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103513209A (zh) * | 2013-08-08 | 2014-01-15 | 国家电网公司 | 一种uhf传感器检测频带选择的方法 |
CN103760510A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-04-30 | 国家电网公司 | 频率偏差检测仪器的准确度检测方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5210659B2 (ja) * | 2008-02-28 | 2013-06-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置 |
CN101799488B (zh) * | 2010-02-23 | 2011-12-21 | 清华大学 | 一种标定电压的产生装置和方法 |
JP5357091B2 (ja) | 2010-03-23 | 2013-12-04 | 株式会社ダイヘン | 高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法 |
JP5461261B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2014-04-02 | 株式会社ダイヘン | 電力測定装置の信頼性の評価方法 |
JP5498217B2 (ja) | 2010-03-24 | 2014-05-21 | 株式会社ダイヘン | 高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法 |
JP5524796B2 (ja) | 2010-09-30 | 2014-06-18 | 株式会社ダイヘン | 高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法 |
JP5722681B2 (ja) | 2011-03-30 | 2015-05-27 | 株式会社ダイヘン | 模擬負荷装置 |
JP6113450B2 (ja) * | 2012-09-07 | 2017-04-12 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス調整装置 |
JP6084418B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2017-02-22 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス調整装置 |
JP6084419B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2017-02-22 | 株式会社ダイヘン | インピーダンス調整装置 |
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- 2005-12-14 JP JP2005360401A patent/JP4648179B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2007163308A (ja) | 2007-06-28 |
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