JP4647130B2 - Reference voltage generation circuit - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基準電圧発生回路に係わり、特に出力電圧に重畳される雑音電圧の低減と同時に、起動時の出力電圧の立ち上がり時間を短くする技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図4は従来の基準電圧発生回路を示す図であり、1は基準電圧源、2は増幅器、3は中間端子、4は出力端子、C1は容量、R1は抵抗、D1はダイオードである。増幅器2は基準電圧源1の電圧を入力ノード2aに入力して、出力ノード2cに現れる電圧を帰還ノード2bに帰還することにより、基準電圧源1の電圧を増幅した一定の基準電圧を中間端子3に出力する。容量C1と抵抗R1はローパスフィルタを構成し、出力端子4の電圧に重畳される、基準電圧源1や増幅器2を構成する抵抗素子で発生する熱雑音による雑音電圧の実効値を低減させている。またダイオードD1は、抵抗R1をバイパスするよう接続され、電源投入時に中間端子3の電圧Vaが0Vから次第に上昇していく際、抵抗R1をバイパスして容量C1を充電し、出力端子4の電圧Vbを素早く立ち上がらせる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ダイオードD1が電流を流すためには、それがONするための電圧をアノード・カソード間に印加する必要があり、シリコン半導体の場合、この電圧は約0.7V程度必要である。このため図4における出力端子4の電圧Vbの立ち上がりは、図5(b)に示すように、ある一定の電圧までは早いが、途中からはダイオードD1がOFFしてしまうため、その後は容量C1は抵抗R1を介して充電されることになり、電圧Vbの立ち上がりが遅くなる。
【0004】
抵抗R1の値を小さくすれば立ち上がりは早くなるが、R1とC1で構成されるローパスフィルタのカットオフ周波数が高くなるため、出力端子4における雑音電圧の実効値は増加してしまう。
【0005】
本発明は以上のような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、出力雑音電圧の実効値を減少させつつ、出力電圧の立ち上がりを素早くした基準電圧発生回路を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため請求項1の発明は、基準電圧源の電圧を増幅して出力する出力ノードの電圧を帰還ノードに帰還して前記出力ノードの電圧が一定になるよう制御する増幅器と、該増幅器の帰還ノードに接続された中間端子と出力端子との間に接続された第1の抵抗と、前記出力端子と接地との間に接続された容量とを具備する基準電圧発生回路において、前記増幅器の出力ノードにコレクタとベースが接続され前記増幅器の帰還ノードにエミッタが接続されたNPN型の第1のトランジスタと、前記増幅器の出力ノードにエミッタが接続されベースが前記出力端子に接続されたPNP型の第2のトランジスタと、該第2のトランジスタのコレクタと前記増幅器の帰還ノードとの間に接続された第2の抵抗とを設けたことを特徴とする基準電圧発生回路とした。
【0007】
請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記第2の抵抗を、アノードが前記第2のトランジスタのコレクタに、カソードが前記帰還ノードに接続されたダイオードに置き換えたことを特徴とする基準電圧発生回路とした。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の1つの実施形態の基準電圧発生回路の回路図、図2は図1の詳細な回路図である。図1において、1は基準電圧源、2は増幅器、3は中間端子、4は出力端子、C1は容量、R1,R2は抵抗、Q1はNPN型のトランジスタ(ダイオード接続)、Q2はPNP型のトランジスタである。抵抗R1と容量C1はローパスフィルタを構成している。
【0009】
基準電圧源1と増幅器2は、図2に示すように、PNP型のトランジスタQ3,Q4,Q5とNPN型のトランジスタQ6,Q7、および抵抗R3,R4からなるバンドギャップ型基準電圧発生部で構成されている。基準電圧はトランジスタQ6,Q7のエミッタ比と抵抗R3,R4の抵抗比により設定される。つまり、トランジスタQ7のベース・エミッタ間電圧Vbe7と抵抗R4に生ずる電圧の和がバンドギャップ電圧(1.205V)となるように設定される。トランジスタQ4,Q5はトランジスタQ6,Q7に同じ電流を供給するためのカレントミラー回路を構成する。トランジスタQ3は出力用である。
【0010】
さて、電源電圧Vccが投入され、回路が動作を開始すると、トランジスタQ3はトランジスタQ1,Q2を介して中間端子3に電流を供給し始める。この中間端子3の電圧Vaは帰還ノード2bからトランジスタQ6,Q7に負帰還され、その電圧Vaが一定となるように、全体が動作する。このようにして中間端子3の電圧VaはトランジスタQ3からの電流によりある一定の電圧V1まで上昇する。しかし、出力端子4の電圧Vbは抵抗R1を通して容量C1に電荷が蓄積されなければならないため、中間端子3に比べると電圧が所定値に上昇するまで時間がかかる。
【0011】
中間端子3の電圧Vaがある一定電圧V1に瞬時に達したとして、その後、抵抗R1を通して流れる電流により容量C1の電荷が蓄積されて、出力端子4の電圧Vbが上昇していく過程は、
Vb=Va[1−exp{−t/(C1・R1)}] (1)
により表される。この式より、中間端子3の電圧Vaがいかに早く立ち上がろうとも、R1とC1の値を大きくするほど、出力端子4の電圧Vbの立ち上がりは中間端子3に比べて遅くなることが分かる。
【0012】
ここで、電源投入の後、中間端子3の電圧Vaはある一定電圧e1まで立ちあがったが、出力端子4の電圧Vbは電圧Vaに比べ低い電圧e2までにしか上昇していない場合を考える。このときトランジスタQ2のベース・エミッタ間の電位差は、
Vbe2=e1+Vbe1−e2 (2)
となる。ここで、Vbe1はトランジスタQ1のベース・エミッタ間の電位差で、トランジスタQ1のコレクタ電流をIc1としたとき、
Vbe1=VT・ln(Ic1/Is) (3)
となる。但し、VT=K・T/q、Is:接合飽和電流、K:ボルツマン定数、T:周囲絶対温度、q:電子の電荷量である。
【0013】
この電位差Vbe1はコレクタ電流Ic1により変化するが、シリコン半導体の場合、常温で約0.7V程度になる。(3)式で表される電位差Vbe1により、トランジスタQ2は以下に示すようなコレクタ電流
Ic2=Is[exp Vbe2/VT] (4)
を流そうとする。
【0014】
しかしながら抵抗R2があることより、トランジスタQ2のエミッタ・コレクタ間の電位差Vec2は、
Vec2=Vbe1−R2・Ic2 (5)
のようになる。この(5)式よりコレクタ電流Ic2がある一定値に達するとトランジスタQ2のエミッタ・コレクタ間の電位差Vec2が十分取れなくなり、トランジスタQ2は動作は飽和領域になる。特に抵抗R2の値が大きい場合は、トランジスタQ2のコレクタ電流がわずかでも、トランジスタQ2の動作は飽和領域に入る。
【0015】
バイポーラトランジスタは飽和領域においては、電流増幅率は落ち、コレクタ電流は減少する。このためトランジスタQ2のエミッタより流れ込んだ電流の大部分はトランジスタQ2のベース電流となる。この電流は抵抗R1を介さずに、直接的に容量C1に流れ込むため、その容量C1の電荷は急速に蓄積され、出力端子4の電圧Vbは急速に上昇する。
【0016】
出力端子4の電位Vbが上昇し、中間端子3の電位Vaに近くなると、電位差Vbe2が減少し、コレクタ電流Ic2も減少する。このことにより電位差Vec2も増加するため、トランジスタQ2は飽和領域での動作を脱し、エミッタから流れ込む電流の大半はコレクタ電流Ic2となり、ベース電流は減少する。この状態になったときは容量C1への充電は抵抗R1を介して流れ込む電流だけとなり、出力端子4の電圧Vbの上昇は(1)式に従い、中間端子3の電圧Vaに近づく。
【0017】
この様子を図5,6に示す。図5(a)は図4の従来回路における中間端子3の電圧Vaの変化であり、この電圧Vaがある時刻t0において一定電圧値V1まで急激に立ち上がっている様子を示す。図5(b)は図4における出力端子4の電圧Vbの変化を示している。従来回路の場合、出力端子4の電圧Vbが0〜V2に上昇するまでは充電用のダイオードD1がONしているため、比較的早く立ち上がっているが、V2〜V1まではダイオードD1がOFFしてしまうため、容量C1は抵抗R1を介して充電されるため、(1)式に従い、その電圧値の上昇率は遅くなる。V2〜V1までの電位差はシリコンの半導体の場合、約0.7V程度ある。
【0018】
図6は本発明の実施形態(図1、図2)における中間端子3の電圧Va及び出力端子4の電圧Vbの上昇を示したものである。本実施形態においては出力端子4の電圧Vaは、トランジスタQ2のベース電流により容量C1が充電されるため、0〜V3(V3>V2)までは急激に立ち上がり、その後は電圧V1まで抵抗R1を介して容量C1に流れ込む電流により、次第に電圧V1に近づいて行く。しかしながら電圧V3の値は図5の電圧V2に比べると高く、図1のPNP型のトランジスタQ2が飽和状態を脱するまで続く。このため出力端子4の電圧VbがV1付近に達するまでの時間は非常に早くなる。
【0019】
また中間端子3の電圧Va、出力端子4の電圧Vbが一定値V1に達してしまうと、トランジスタQ2のベースから出力端子4へのベース電流Ib2は、トランジスタQ2の非飽和領域における電流増幅率をβとすると、
Ib2=Ic1/β (6)
となる。通常βは100程度あるため、ベース電流Ib2の値は非常に小さくなり、出力端子4の電圧Vbの変化にはほとんど影響を与えなくなる。
【0020】
図3は本発明の別の実施形態の基準電圧発生回路を示す図であり、図1、図2における抵抗R2をダイオードD2に置き換えたものである。図1、図2においては、抵抗R2とトランジスタQ2のコレクタ電流で中間端子3とトランジスタQ2のコレクタとの間に電位差を発生させていたが、これをダイオードD2のON電圧に置き換えたものであり、同様に動作する。
【0021】
なお、以上においては基準電圧をバンドギャップ型の回路により発生させていたが、これに限られるものではなく、他の方式で基準電圧発生する回路にも適用できることは勿論である。
【0022】
【発明の効果】
以上から本発明によれば、ノイズ低減用の抵抗の値を大きくして出力端子の電圧に現れるノイズを低減しつつ、起動時にはこの抵抗をバイパスして容量を急速充電できるため、出力端子の電圧を素早く立ち上がらせることができる。このことにより、低ノイズでありながら、素早く起動する基準電圧発生回路を実現することができる。このような特徴を備えることにより、本発明は待機時の消費電流を低減するために頻繁にON/OFFを繰り返しながらも、出力雑音電圧が低いことを求められるような用途に適している。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態の基準電圧発生回路の回路図である。
【図2】 図1の基準電圧発生回路のより詳しい回路図である。
【図3】 本発明の別の実施形態の基準電圧発生回路の回路図である。
【図4】 従来の基準電圧発生回路の回路図である。
【図5】 図4の基準電圧発生回路の電圧Va、Vbの特性図である。
【図6】 図1、図2の基準電圧発生回路の電圧Va、Vbの特性図である。
【符号の説明】
1:基準電圧源、2:増幅器、3:中間端子、4:出力端子[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a reference voltage generation circuit, and more particularly to a technique for shortening a rise time of an output voltage at start-up while reducing a noise voltage superimposed on an output voltage.
[0002]
[Prior art]
FIG. 4 is a diagram showing a conventional reference voltage generating circuit, where 1 is a reference voltage source, 2 is an amplifier, 3 is an intermediate terminal, 4 is an output terminal, C1 is a capacitor, R1 is a resistor, and D1 is a diode. The
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, in order for the diode D1 to pass a current, it is necessary to apply a voltage for turning it on between the anode and the cathode. In the case of a silicon semiconductor, this voltage is required to be about 0.7V. For this reason, as shown in FIG. 5B, the rise of the voltage Vb at the
[0004]
If the value of the resistor R1 is reduced, the rise will be quicker, but the cut-off frequency of the low-pass filter composed of R1 and C1 will be increased, and the effective value of the noise voltage at the
[0005]
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a reference voltage generation circuit that quickly rises the output voltage while reducing the effective value of the output noise voltage.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problem, the invention of
[0007]
The invention of
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a circuit diagram of a reference voltage generating circuit according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a detailed circuit diagram of FIG. In FIG. 1, 1 is a reference voltage source, 2 is an amplifier, 3 is an intermediate terminal, 4 is an output terminal, C1 is a capacitor, R1 and R2 are resistors, Q1 is an NPN transistor (diode connection), and Q2 is a PNP type. It is a transistor. The resistor R1 and the capacitor C1 constitute a low pass filter.
[0009]
As shown in FIG. 2, the
[0010]
When the power supply voltage Vcc is turned on and the circuit starts operating, the transistor Q3 starts to supply current to the
[0011]
Assuming that the voltage Va of the
Vb = Va [1-exp {-t / (C1 · R1)}] (1)
Is represented by From this equation, it can be seen that no matter how fast the voltage Va of the
[0012]
Here, after the power is turned on, the voltage Va at the
Vbe2 = e1 + Vbe1-e2 (2)
It becomes. Here, Vbe1 is a potential difference between the base and emitter of the transistor Q1, and when the collector current of the transistor Q1 is Ic1,
Vbe1 = V T · ln (Ic1 / Is) (3)
It becomes. Where V T = K · T / q, Is: junction saturation current, K: Boltzmann constant, T: absolute ambient temperature, q: charge amount of electrons.
[0013]
This potential difference Vbe1 varies with the collector current Ic1, but in the case of a silicon semiconductor, it is about 0.7 V at room temperature. Due to the potential difference Vbe1 expressed by the equation (3), the transistor Q2 has a collector current Ic2 = Is [exp Vbe2 / V T ] as shown below (4)
Try to flow.
[0014]
However, because of the resistance R2, the potential difference Vec2 between the emitter and collector of the transistor Q2 is
Vec2 = Vbe1−R2 ・ Ic2 (5)
become that way. From this equation (5), when the collector current Ic2 reaches a certain value, the potential difference Vec2 between the emitter and the collector of the transistor Q2 cannot be sufficiently obtained, and the operation of the transistor Q2 becomes a saturation region. In particular, when the value of the resistor R2 is large, the operation of the transistor Q2 enters the saturation region even if the collector current of the transistor Q2 is small.
[0015]
In the bipolar transistor, the current amplification factor decreases and the collector current decreases in the saturation region. For this reason, most of the current flowing from the emitter of the transistor Q2 becomes the base current of the transistor Q2. Since this current flows directly into the capacitor C1 without going through the resistor R1, the charge in the capacitor C1 is rapidly accumulated, and the voltage Vb at the
[0016]
When the potential Vb of the
[0017]
This is shown in FIGS. FIG. 5 (a) shows a change in the voltage Va at the
[0018]
FIG. 6 shows the rise of the voltage Va at the
[0019]
When the voltage Va at the
Ib2 = Ic1 / β (6)
It becomes. Since β is usually about 100, the value of the base current Ib2 becomes very small and hardly affects the change of the voltage Vb at the
[0020]
FIG. 3 is a diagram showing a reference voltage generating circuit according to another embodiment of the present invention, in which the resistor R2 in FIGS. 1 and 2 is replaced with a diode D2. In FIG. 1 and FIG. 2, the potential difference is generated between the
[0021]
In the above description, the reference voltage is generated by the band gap type circuit. However, the present invention is not limited to this, and it is needless to say that the reference voltage can be applied to a circuit that generates the reference voltage by other methods.
[0022]
【The invention's effect】
From the above, according to the present invention, the capacitance of the output terminal can be quickly charged by bypassing this resistor while starting up while reducing the noise appearing in the voltage of the output terminal by increasing the value of the noise reducing resistor. Can get up quickly. As a result, it is possible to realize a reference voltage generation circuit that starts up quickly with low noise. By providing such a feature, the present invention is suitable for an application that requires a low output noise voltage while repeating ON / OFF frequently in order to reduce current consumption during standby.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram of a reference voltage generation circuit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a more detailed circuit diagram of the reference voltage generation circuit of FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram of a reference voltage generation circuit according to another embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram of a conventional reference voltage generation circuit.
5 is a characteristic diagram of voltages Va and Vb of the reference voltage generation circuit of FIG. 4. FIG.
6 is a characteristic diagram of voltages Va and Vb of the reference voltage generation circuit of FIGS. 1 and 2. FIG.
[Explanation of symbols]
1: Reference voltage source, 2: Amplifier, 3: Intermediate terminal, 4: Output terminal
Claims (2)
前記第2の抵抗を、アノードが前記第2のトランジスタのコレクタに、カソードが前記帰還ノードに接続されたダイオードに置き換えたことを特徴とする基準電圧発生回路。In claim 1,
2. A reference voltage generating circuit according to claim 1, wherein the second resistor is replaced with a diode having an anode connected to the collector of the second transistor and a cathode connected to the feedback node.
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