JP4642653B2 - 光断層画像化装置 - Google Patents
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前記波長可変手段が、レーザ媒質から射出された光を偏向する光偏向手段と、前記共振器の端部に配置された分散手段と、前記光偏向手段により偏向された光を前記分散手段へ入射させる光学系とを備えてなり、
前記光偏向手段および光学系が、それぞれ回転型の光偏向手段およびテレセントリック光学系から構成されて、前記分散手段へ入射する光の入射位置を変更するものであり、
前記分散手段が、前記光の入射位置に応じて、前記光の入射方向へ戻る戻り光の波長が異なるものであることを特徴とするものである。
該光源から射出された前記レーザ光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光の周波数および強度に基づいて、前記測定対象の各深さ位置における前記反射光の強度を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記各深さ位置における前記干渉光の強度を用いて測定対象の断層画像を取得する画像取得手段とを有する光断層画像化装置において、
前記光源が、レーザ媒質および該レーザ媒質の発振波長を変更する波長可変手段を備えた共振器が配置されている波長可変レーザ装置であって、
前記波長可変手段が、レーザ媒質から射出された光を連続的に偏向する光偏向手段と、前記共振器の端部に配置された分散手段と、前記光偏向手段により偏向された光を前記分散手段へ入射させる光学系とを備えてなり、
前記光偏向手段および光学系が、それぞれ回転型の光偏向手段およびテレセントリック光学系から構成されて、前記分散手段へ入射する光の入射位置を変更するものであり、
前記分散手段が、前記光の入射位置に応じて、前記光の入射方向へ戻る戻り光の波長が異なるものであることを特徴とするものである。
したがって、回折格子215 への入射光の入射角度θが連続的に変化した場合には、発振波長も連続的に変化することとなる。
I(k)=∫0 ∞S(l)[1+cos(kl)]dl
で表される。ここで、kは波数、lは光路長差である。上式は波数k=ω/cを変数とする光周波数領域のインターフェログラムとして与えられていると考えることができる。このため、画像取得手段250において、干渉光検出手段240が検出したスペクトル干渉縞をフーリエ変換を行い、干渉光L4の光強度S(l)を決定することにより、測定対象Sbの測定開始位置からの距離情報と反射強度情報とを取得し、断層画像を生成することができる。
4 合波手段
210,310,410 光源ユニット
211,311 半導体レーザ媒質
212 コリメートレンズ
213,313 ポリゴンミラー
214a,214b リレーレンズ
215 回折格子
220 光路長調整手段
230 光プローブ
240 干渉光検出手段
250 画像取得手段
260 表示装置
315 ねじれ型回折格子
415 放射型回折格子
416 放射型回折格子セット
Claims (5)
- レーザ媒質および該レーザ媒質の発振波長を変更する波長可変手段を具備する共振器が配置されている波長可変レーザ装置において、
前記波長可変手段が、レーザ媒質から射出された光を偏向する光偏向手段と、前記共振器の端部に配置された分散手段と、前記光偏向手段により偏向された光を前記分散手段へ入射させる光学系とを備えてなり、
前記光偏向手段および光学系が、それぞれ回転型の光偏向手段およびテレセントリック光学系から構成されて、前記分散手段へ入射する光の入射位置を変更するものであり、
前記分散手段が、前記光の入射位置に応じて、前記光の入射方向へ戻る戻り光の波長が異なるものであることを特徴とする波長可変レーザ装置。 - 前記分散手段が、溝の延びる方向を軸として、格子面が連続的にねじれている回折格子であることを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザ装置。
- 前記分散手段が、溝が放射状に形成されている回折格子であることを特徴とする請求項1記載の波長可変レーザ装置。
- 前記回折格子が複数個設けられ、該回折格子の溝の延びる方向に列設されていることを特徴とする請求項2または3記載の波長可変レーザ装置。
- 波長を一定の周期で掃引させながらレーザ光を射出する光源と、
該光源から射出された前記レーザ光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光の周波数および強度に基づいて、前記測定対象の各深さ位置における前記反射光の強度を検出する干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記各深さ位置における前記干渉光の強度を用いて測定対象の断層画像を取得する画像取得手段とを有する光断層画像化装置において、
前記光源が、レーザ媒質および該レーザ媒質の発振波長を変更する波長可変手段を備えた共振器が配置されている波長可変レーザ装置であって、
前記波長可変手段が、レーザ媒質から射出された光を連続的に偏向する光偏向手段と、前記共振器の端部に配置された分散手段と、前記光偏向手段により偏向された光を前記分散手段へ入射させる光学系とを備えてなり、
前記光偏向手段および光学系が、それぞれ回転型の光偏向手段およびテレセントリック光学系から構成されて、前記分散手段へ入射する光の入射位置を変更するものであり、
前記分散手段が、前記光の入射位置に応じて、前記光の入射方向へ戻る戻り光の波長が異なるものであることを特徴とする光断層画像化装置。
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