JP2008086414A - 光断層画像化装置 - Google Patents
光断層画像化装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008086414A JP2008086414A JP2006268415A JP2006268415A JP2008086414A JP 2008086414 A JP2008086414 A JP 2008086414A JP 2006268415 A JP2006268415 A JP 2006268415A JP 2006268415 A JP2006268415 A JP 2006268415A JP 2008086414 A JP2008086414 A JP 2008086414A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- path length
- optical path
- optical
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 496
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 61
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 169
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 67
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 26
- 238000003325 tomography Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 69
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 12
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 9
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02062—Active error reduction, i.e. varying with time
- G01B9/02067—Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
- G01B9/02068—Auto-alignment of optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02002—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
- G01B9/02004—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using frequency scans
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02041—Interferometers characterised by particular imaging or detection techniques
- G01B9/02044—Imaging in the frequency domain, e.g. by using a spectrometer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
- G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
- Endoscopes (AREA)
Abstract
【解決手段】光プローブ230において、測定光L1を照射する位置を微少に移動する毎に、断層情報取得部250は、光路長調整用の断層情報を取得する。リアルタイム光路長調整部253は、光路長調整用の断層情報に基づいて、基準点である光プローブ230の窓入射点16aにおいて、測定光L1+反射光L3の光路長と参照光L2の光路長とが一致するように、光路長変更手段220の反射ミラー22を移動し、参照光Lの光路長を調整する。
【選択図】図1
Description
該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された前記測定光を、測定対象に、走査しながら照射する照射手段と、
前記測定対象で反射した反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する第1の干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の各走査位置における光断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、
前記干渉光を検出する第2の干渉光検出手段と、
該第2の干渉光検出手段の検出結果に基づいて、前記測定光、前記反射光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段を備えることを特徴とするものである。
3,63 光分割手段
4,64 合波手段
210,610 光源ユニット
220 光路長変更手段
230 光プローブ
240,340,440,640,740,840 干渉光検出手段
253,353 リアルタイム光路長調整部
La 低コヒーレンス光
Ls レーザ光
L1,Ls1 測定光
L2,Ls2 参照光
L3,Ls3 反射光
L4,Ls4 干渉光
S 測定対象
Claims (5)
- 光を射出する光源ユニットと、
該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された前記測定光を、測定対象に、走査しながら照射する照射手段と、
前記測定対象で反射した反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、
該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する第1の干渉光検出手段と、
該干渉光検出手段により検出された前記干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の各走査位置における光断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、
前記干渉光を検出する第2の干渉光検出手段と、
該第2の干渉光検出手段の検出結果に基づいて、前記測定光、前記反射光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段を備えることを特徴とする光断層画像化装置。 - 前記第2の干渉光検出手段が、前記干渉光を空間的または時間的に積算した積算値を出力するものであり、
前記光路長を変更する光路長変更手段を備え、
前記光路長調整手段が、前記光路長変更手段による前記光路長の変更前後に前記第2の干渉光検出手段により検出された前記積算値を比較し、該比較結果に基づいて前記光路長を調整するものであることを特徴とする前記請求項1記載の光断層画像化装置。 - 前記光路長調整手段が、前記測定対象の複数の走査位置から検出した複数の前記検出結果に基づいて、前記測定光、前記反射光または前記参照光の光路長を調整するものであることを特徴とする請求項1または2記載の光断層画像化装置。
- 前記第1の干渉光検出手段が、前記第2の干渉光検出手段を兼ねるものであることを特徴とする請求項1から3いずれか1項記載の光断層画像化装置。
- 前記干渉光を前記第1の干渉光検出手段へ入射する光と、前記第2の干渉光検出手段へ入射する光とへ分離する光分離手段を備えることを特徴とする請求項1から3いずれか1項記載の光断層画像化装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006268415A JP4895277B2 (ja) | 2006-09-29 | 2006-09-29 | 光断層画像化装置 |
US11/864,263 US7589842B2 (en) | 2006-09-29 | 2007-09-28 | Optical tomograph for automatically adjusting optical path length differences |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006268415A JP4895277B2 (ja) | 2006-09-29 | 2006-09-29 | 光断層画像化装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008086414A true JP2008086414A (ja) | 2008-04-17 |
JP2008086414A5 JP2008086414A5 (ja) | 2009-04-02 |
JP4895277B2 JP4895277B2 (ja) | 2012-03-14 |
Family
ID=39260797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006268415A Active JP4895277B2 (ja) | 2006-09-29 | 2006-09-29 | 光断層画像化装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7589842B2 (ja) |
JP (1) | JP4895277B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010151713A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Canon Inc | 光断層画像の撮像方法及びその装置 |
JP2013117621A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Olympus Corp | 測距機能付内視鏡 |
US8493567B2 (en) | 2008-09-25 | 2013-07-23 | Terumo Kabushiki Kaisha | Optical tomographic image acquisition apparatus and method of acquiring optical tomographic image which adjusts reference position that acquires optical tomographic image based on sheath interference signal |
JP2018109544A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 株式会社キーエンス | 光走査高さ測定装置 |
WO2022039128A1 (ja) * | 2020-08-19 | 2022-02-24 | デラウェーブ株式会社 | 光断層撮影装置の操作方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2198771A1 (en) * | 2008-12-02 | 2010-06-23 | Optopol Technology S.A. | Method and apparatus for eye movement tracking in spectral optical coherence tomography (SD-OCT) |
JP5259374B2 (ja) * | 2008-12-19 | 2013-08-07 | 富士フイルム株式会社 | 光構造観察装置及びその構造情報処理方法 |
WO2010104956A1 (en) * | 2009-03-10 | 2010-09-16 | Lockheed Martin Corporation | Optical leaky integrate-and-fire neuron |
WO2011052061A1 (ja) * | 2009-10-29 | 2011-05-05 | キヤノン株式会社 | 光音響装置 |
US8537341B2 (en) * | 2010-03-16 | 2013-09-17 | Azbil Corporation | Physical quantity sensor and physical quantity measuring method |
JP5631671B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2014-11-26 | オリンパス株式会社 | 光イメージング装置 |
US8456622B1 (en) * | 2010-09-28 | 2013-06-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Spatial and temporal coherence measurement system |
US8638443B2 (en) * | 2011-05-24 | 2014-01-28 | Honeywell International Inc. | Error compensation in a spectrometer |
FR2988476B1 (fr) * | 2012-03-20 | 2015-06-26 | Eads Europ Aeronautic Defence | Procede et dispositif de controle d'un materiau composite par ultrasons laser |
US8876292B2 (en) | 2012-07-03 | 2014-11-04 | Nidek Co., Ltd. | Fundus imaging apparatus |
CN105698674A (zh) * | 2016-02-25 | 2016-06-22 | 上海大学 | 一种集成化光纤干涉仪 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11148897A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Olympus Optical Co Ltd | 光イメージング装置 |
JP2003199701A (ja) * | 2001-10-31 | 2003-07-15 | Olympus Optical Co Ltd | 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置 |
JP2006313158A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Siemens Ag | 光コヒーレンス断層撮影による管腔の断層画像表示方法および光コヒーレンス断層撮影装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4411017C2 (de) | 1994-03-30 | 1995-06-08 | Alexander Dr Knuettel | Optische stationäre spektroskopische Bildgebung in stark streuenden Objekten durch spezielle Lichtfokussierung und Signal-Detektion von Licht unterschiedlicher Wellenlängen |
DE19814057B4 (de) | 1998-03-30 | 2009-01-02 | Carl Zeiss Meditec Ag | Anordnung zur optischen Kohärenztomographie und Kohärenztopographie |
JP3869257B2 (ja) | 2001-12-07 | 2007-01-17 | オリンパス株式会社 | 光イメージング装置 |
US7263394B2 (en) * | 2003-06-04 | 2007-08-28 | Tomophase Corporation | Coherence-gated optical glucose monitor |
JP4566685B2 (ja) * | 2004-10-13 | 2010-10-20 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置及び光画像計測方法 |
-
2006
- 2006-09-29 JP JP2006268415A patent/JP4895277B2/ja active Active
-
2007
- 2007-09-28 US US11/864,263 patent/US7589842B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11148897A (ja) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Olympus Optical Co Ltd | 光イメージング装置 |
JP2003199701A (ja) * | 2001-10-31 | 2003-07-15 | Olympus Optical Co Ltd | 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置 |
JP2006313158A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Siemens Ag | 光コヒーレンス断層撮影による管腔の断層画像表示方法および光コヒーレンス断層撮影装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8493567B2 (en) | 2008-09-25 | 2013-07-23 | Terumo Kabushiki Kaisha | Optical tomographic image acquisition apparatus and method of acquiring optical tomographic image which adjusts reference position that acquires optical tomographic image based on sheath interference signal |
US9207064B2 (en) | 2008-09-25 | 2015-12-08 | Terumo Kabushiki Kaisha | Optical tomographic image acquisition apparatus and method of acquiring optical tomographic image which adjusts reference position that acquires optical tomographic image based on sheath interference signal |
JP2010151713A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Canon Inc | 光断層画像の撮像方法及びその装置 |
JP2013117621A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Olympus Corp | 測距機能付内視鏡 |
JP2018109544A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | 株式会社キーエンス | 光走査高さ測定装置 |
WO2022039128A1 (ja) * | 2020-08-19 | 2022-02-24 | デラウェーブ株式会社 | 光断層撮影装置の操作方法 |
WO2022038697A1 (ja) * | 2020-08-19 | 2022-02-24 | デラウェーブ株式会社 | 光断層撮影装置及び断層画像を処理する方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4895277B2 (ja) | 2012-03-14 |
US7589842B2 (en) | 2009-09-15 |
US20080079949A1 (en) | 2008-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4895277B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
US10800831B2 (en) | Systems and methods for obtaining information associated with an anatomical sample using optical microscopy | |
JP4869895B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP4642681B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP5406427B2 (ja) | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム | |
US7751056B2 (en) | Optical coherence tomographic imaging apparatus | |
JP4640813B2 (ja) | 光プローブおよび光断層画像化装置 | |
JP2007101249A (ja) | 光断層画像化方法および装置 | |
JP2007101263A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP4907279B2 (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101268A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101262A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2008253492A (ja) | 断層画像処理方法および装置ならびにプログラム | |
JP2007101250A (ja) | 光断層画像化方法 | |
JP2009162639A (ja) | 光断層画像化システム | |
JP2007085931A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007275193A (ja) | 光プローブおよび光断層画像化装置 | |
JP2009072280A (ja) | 光断層画像化装置、接触領域検出方法及びそれを用いた画像処理方法 | |
JP2007267927A (ja) | 光断層画像化方法および装置 | |
JP2008089349A (ja) | 光断層画像化装置 | |
JP2007101267A (ja) | 光断層画像化装置 | |
US20070159637A1 (en) | Optical tomography system | |
US7970578B2 (en) | Compensation table generation method, apparatus and computer program product, and tomography image processing apparatus using the same | |
JP4874906B2 (ja) | 光断層画像取得方法及び光断層画像化装置 | |
JP2007101266A (ja) | 光断層画像化装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090217 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110620 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110829 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111213 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111216 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4895277 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150106 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |