JP4628665B2 - 針痕読取装置および針痕読取方法 - Google Patents
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前記電極パッドを照明する照明手段と、
前記照明手段により照明される前記電極パッドを撮像し、撮像により得られる画像を電気信号として出力する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像されるべき撮像位置を連続的に変更する撮像位置変更手段と、
前記撮像手段から前記電気信号を受け取り、当該電気信号から得られる前記画像を保存する保存手段と、
前記保存手段に保存された前記画像に基づき、前記画像に含まれる所定の針痕の良否を判定する針痕検査手段と
を備え、
前記針痕検査手段は、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該所定の電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出手段と、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定手段と
を含み、
前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ、前記撮像手段に対して撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする。
前記撮像位置変更手段は、前記撮像手段により連続して撮像する場合における1つの画像を取得するための撮影時間以上の時間間隔をあけて全ての電極パッドの画像を順に撮像することができるように、予め定められた移動速度で前記撮像位置を変更することを特徴とする。
前記照明手段は、閃光を発するフラッシュ手段であり、前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ前記閃光が発せられることにより、前記撮像手段に対して撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする。
前記複数の電極パッドの配置位置に関するデータである配列情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶される配列情報に基づき、前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき位置を算出し、前記撮像位置変更手段により前記電極パッドが撮像されるべき位置に前記撮像位置が合致した時点で前記撮像手段に撮像させるトリガ手段と
をさらに備えることを特徴とする。
前記針痕検査手段は、前記針痕良否判定手段により検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定手段をさらに含むことを特徴とする。
前記針痕検査手段は、前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定手段の判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を前記保存手段に保存する分類ヘッダ作成手段をさらに含むことを特徴とする。
前記初期ベクトル算出手段は、
前記保存手段に保存された前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出手段と、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出手段により検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出手段と
を含むことを特徴とする。
前記初期ベクトル算出手段は、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定手段は、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする。
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該電極パッドを撮像することにより得られる当該電極パッドの画像に含まれる針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出手段と、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定手段と
を備えることを特徴とする。
また第10の発明は、第9の発明において、
前記針痕良否判定手段により検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定手段をさらに含むことを特徴とする。
さらに第11の発明は、第9の発明において、
前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定手段の判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を前記保存手段に保存する分類ヘッダ作成手段をさらに含むことを特徴とする。
さらにまた第12の発明は、第9の発明において、
前記初期ベクトル算出手段は、
前記保存手段に保存された前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出手段と、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出手段により検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出手段と
を含むことを特徴とする。
また第13の発明は、第9の発明において、
前記初期ベクトル算出手段は、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定手段は、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする。
前記電極パッドを照明する照明ステップと、
前記照明ステップにおいて照明される前記電極パッドを撮像し、撮像により得られる画像を電気信号として出力する撮像ステップと、
前記撮像ステップにおいて撮像されるべき撮像位置を連続的に変更する撮像位置変更ステップと、
前記撮像ステップにおいて出力される前記電気信号を受け取り、当該電気信号から得られる前記画像を保存する保存ステップと、
前記保存ステップにおいて保存された前記画像に基づき、前記画像に含まれる所定の針痕の良否を判定する針痕検査ステップと
を含み、
前記針痕検査ステップは、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該所定の電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出ステップと、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定ステップと
を含み、
前記撮像ステップにおいて前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ、前記撮像ステップにおいて撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする。
前記撮像位置変更ステップは、前記撮像ステップにおいて連続して撮像する場合における1つの画像を取得するための撮影時間以上の時間間隔をあけて全ての電極パッドの画像を順に撮像することができるように、予め定められた移動速度で前記撮像位置を変更することを特徴とする。
前記照明ステップは、前記撮像ステップにおいて前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ閃光を発することにより、前記撮像ステップにおいて撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする。
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該電極パッドを撮像することにより得られる当該電極パッドの画像に含まれる針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出ステップと、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定ステップと
を含むことを特徴とする。
前記針痕良否判定ステップにより検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定ステップをさらに含むことを特徴とする。
前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定ステップにおける判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を所定の保存手段に保存する分類ヘッダ作成ステップをさらに含むことを特徴とする。
前記初期ベクトル算出ステップは、
前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出ステップと、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出ステップにおいて検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出ステップと
を含むことを特徴とする。
前記初期ベクトル算出ステップでは、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定ステップでは、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする。
<1.全体構成>
図1は、本発明の一実施形態に係る針痕読取装置の構成を示すブロック図である。この針痕読取装置は、半導体ウェハ90に含まれる半導体チップの電極パッドに形成された針痕を読み取る装置であって、この半導体ウェハ90を撮像するCCDカメラ20と、このCCDカメラ20が撮像すべき対象箇所の像を光学的に拡大する光学部21と、CCDカメラ20が撮像すべき対象箇所を照明する光源30と、半導体ウェハ90が載置される載置台を含みこの載置台をX方向およびY方向へ移動することによりCCDカメラ20が撮像すべき位置を変更するXYステージ40と、これらを制御するコンピュータ10とを備える。なお、ここでは上記光源30以外の光源は存在しないものとする。
このコンピュータ10は、例えばパーソナルコンピュータやワークステーションなどの一般的なコンピュータシステムである。図3は、このコンピュータ10の概略的構成を示すブロック図である。このコンピュータ10は、各種演算処理を行うCPU(Central Processing Unit)11と、外部のキーボードやマウスなどの入力装置およびLCDやCRTなどのディスプレイ装置と内部バス17とを接続するための入出力インタフェース12と、データやプログラムを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)13と、所定のプログラム等が予め記憶されるROM(Read Only Memory)14と、大容量の記憶装置であるハードディスク16と、このハードディスク16および内部バス17を接続するためのディスクインタフェース15とを備えている。
次に、コンピュータ10の針痕検査動作に関連する処理手順について、図を参照して説明する。ここで、この針痕検査動作には、モデルとなる針痕を含む電極パッドの撮像画像と、上記針痕検査動作の対象となるべき針痕を形成する電気的特性検査(以下「プローブテスト」という)を行う前の半導体チップ91に含まれる電極パッド92の撮像画像とが必要となる。そこで、上記針痕検査動作を含む全体的な処理の手順について説明する。
上記一実施形態によれば、本針痕読取装置は、XYステージ40によりその載置台上に載置される半導体ウェハ90をX方向に定速で移動させ、光源30の閃光により照明される電極パッドをCCDカメラ20により順に撮像する構成となっている。この構成により、本針痕読取装置は、利用者に全く手間がかかることなくかつ短時間に電極パッドの画像を取得して針痕を読み取ることができる。
上記実施形態では、電極パッド92(の撮像画像を含む画像51)の中心座標と撮像位置とが一致するため、画像データDiに含まれる電極パッド92は1つであるように構成されるが、一度に撮像されるべき電極パッド92の数は複数であってもよい。例えば、隣り合う電極パッドの中心位置を結ぶ直線の中点位置すなわち隣り合う電極パッドの中間位置と撮像位置とが一致する場合、画像データDiに含まれる電極パッド92は2つとなるように構成される。
11 …CPU
12 …入出力インタフェース
13 …RAM
14 …ROM
15 …ディスクインタフェース
16 …ハードディスク
17 …内部バス
20 …CCDカメラ
30 …光源
40 …XYステージ
90 …半導体ウェハ
91 …半導体チップ
92 …電極パッド
110…トリガ信号発生部
120…XYステージ制御部
130…画像読み込み部
140…一時保存部
150…画像トリミング部
160…大容量保存部
170…針痕検査部
Claims (21)
- 複数の電極パッドを含む所定の被検査体の電気的特性を検査する際に当該電極パッド上に形成される針痕を読み取るための針痕読取装置であって、
前記電極パッドを照明する照明手段と、
前記照明手段により照明される前記電極パッドを撮像し、撮像により得られる画像を電気信号として出力する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像されるべき撮像位置を連続的に変更する撮像位置変更手段と、
前記撮像手段から前記電気信号を受け取り、当該電気信号から得られる前記画像を保存する保存手段と、
前記保存手段に保存された前記画像に基づき、前記画像に含まれる所定の針痕の良否を判定する針痕検査手段と
を備え、
前記針痕検査手段は、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該所定の電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出手段と、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定手段と
を含み、
前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ、前記撮像手段に対して撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする、針痕読取装置。 - 前記撮像位置変更手段は、前記撮像手段により連続して撮像する場合における1つの画像を取得するための撮影時間以上の時間間隔をあけて全ての電極パッドの画像を順に撮像することができるように、予め定められた移動速度で前記撮像位置を変更することを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。
- 前記照明手段は、閃光を発するフラッシュ手段であり、前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ前記閃光が発せられることにより、前記撮像手段に対して撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。
- 前記複数の電極パッドの配置位置に関するデータである配列情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶される配列情報に基づき、前記撮像手段により前記電極パッドが撮像されるべき位置を算出し、前記撮像位置変更手段により前記電極パッドが撮像されるべき位置に前記撮像位置が合致した時点で前記撮像手段に撮像させるトリガ手段と
をさらに備えることを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。 - 前記針痕検査手段は、前記針痕良否判定手段により検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定手段をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。
- 前記針痕検査手段は、前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定手段の判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を前記保存手段に保存する分類ヘッダ作成手段をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。
- 前記初期ベクトル算出手段は、
前記保存手段に保存された前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出手段と、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出手段により検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出手段と
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。 - 前記初期ベクトル算出手段は、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定手段は、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする、請求項1に記載の針痕読取装置。 - 複数の電極パッドを含む所定の被検査体の電気的特性を検査する際に当該電極パッド上に形成される針痕を検査するための針痕検査装置であって、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該電極パッドを撮像することにより得られる当該電極パッドの画像に含まれる針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出手段と、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定手段と
を備えることを特徴とする針痕検査装置。 - 前記針痕良否判定手段により検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定手段をさらに含むことを特徴とする、請求項9に記載の針痕検査装置。
- 前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定手段の判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を前記保存手段に保存する分類ヘッダ作成手段をさらに含むことを特徴とする、請求項9に記載の針痕検査装置。
- 前記初期ベクトル算出手段は、
前記保存手段に保存された前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出手段と、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出手段により検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出手段と
を含むことを特徴とする、請求項9に記載の針痕検査装置。 - 前記初期ベクトル算出手段は、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定手段は、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする、請求項9に記載の針痕検査装置。 - 複数の電極パッドを含む所定の被検査体の電気的特性を検査する際に当該電極パッド上に形成される針痕を読み取るための針痕読取方法であって、
前記電極パッドを照明する照明ステップと、
前記照明ステップにおいて照明される前記電極パッドを撮像し、撮像により得られる画像を電気信号として出力する撮像ステップと、
前記撮像ステップにおいて撮像されるべき撮像位置を連続的に変更する撮像位置変更ステップと、
前記撮像ステップにおいて出力される前記電気信号を受け取り、当該電気信号から得られる前記画像を保存する保存ステップと、
前記保存ステップにおいて保存された前記画像に基づき、前記画像に含まれる所定の針痕の良否を判定する針痕検査ステップと
を含み、
前記針痕検査ステップは、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該所定の電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出ステップと、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定ステップと
を含み、
前記撮像ステップにおいて前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ、前記撮像ステップにおいて撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする、針痕読取方法。 - 前記撮像位置変更ステップは、前記撮像ステップにおいて連続して撮像する場合における1つの画像を取得するための撮影時間以上の時間間隔をあけて全ての電極パッドの画像を順に撮像することができるように、予め定められた移動速度で前記撮像位置を変更することを特徴とする、請求項14に記載の針痕読取方法。
- 前記照明ステップは、前記撮像ステップにおいて前記電極パッドが撮像されるべき時点近傍の所定時間だけ閃光を発することにより、前記撮像ステップにおいて撮像されるべき前記電極パッドの像が与えられることを特徴とする、請求項14に記載の針痕読取方法。
- 複数の電極パッドを含む所定の被検査体の電気的特性を検査する際に当該電極パッド上に形成される針痕を検査するための針痕検査方法であって、
前記複数の電極パッドから選ばれた所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該電極パッドを撮像することにより得られる当該電極パッドの画像に含まれる針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する初期ベクトル算出ステップと、
前記所定の電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該異なる電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定する針痕良否判定ステップと
を含むことを特徴とする針痕検査方法。 - 前記針痕良否判定ステップにより検出された針痕を含む電極パッドの周縁近傍に設定される所定の領域に当該針痕が重なっているか否かを判定する針痕位置判定ステップをさらに含むことを特徴とする、請求項17に記載の針痕検査方法。
- 前記被検査体に含まれる各電極パッドを識別する情報と前記針痕良否判定ステップにおける判定結果とを含む分類ヘッダ情報を生成し、対応する電極パッドの画像と関連づけて当該分類ヘッダ情報を所定の保存手段に保存する分類ヘッダ作成ステップをさらに含むことを特徴とする、請求項17に記載の針痕検査方法。
- 前記初期ベクトル算出ステップは、
前記画像から、前記電気的特性の検査前に予め撮像される前記所定の電極パッドの画像を差分演算することにより、前記電気的特性の検査により形成された針痕を検出する検出ステップと、
前記所定の電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、前記検出ステップにおいて検出される針痕の位置までのベクトルに相当する初期ベクトルを算出する算出ステップと
を含むことを特徴とする、請求項17に記載の針痕検査方法。 - 前記初期ベクトル算出ステップでは、前記被検査体の角部近傍に位置する4つの電極パッドの各電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から、当該各電極パッド上に形成される針痕の位置までのベクトルに基づき前記初期ベクトルを算出し、
前記針痕良否判定ステップでは、前記4つの電極パッドとは異なる電極パッドに関連して予め登録されたモデルとなる針痕の位置から前記初期ベクトルの方向および距離だけ離れた位置を含む所定の判定範囲内に、当該電極パッド上に形成されるべき針痕が検出されるか否かを判定することを特徴とする、請求項17に記載の針痕検査方法。
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