JP4621170B2 - 金属組織画像観察装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の金属組織画像観察装置の正面図、図2はその側面図である。これらの図中、1はベース、2は金属試料Wを載せるテーブルである。平板状の金属試料Wはこのテーブル2の中央部分に載せられ、水平面内を移動することができる。このテーブル2の三方には照明手段が配置されている。この実施形態では、テーブル2の左右両側に線状光源3、3が対向配置され、またテーブル2の背後(後側)に面状光源4が垂直に配置されている。
2 テーブル
3 線状光源
4 面状光源
5 アーム
6 光拡散板
7 カメラ
9 表示・記憶装置
10 モニタ
11 プリンタ
12 反射板
Claims (4)
- 金属試料を載せるテーブルと、このテーブルを囲む左右両側及び後側の三方に配置され、テーブル上の金属試料を斜め上方から照射する照明手段と、このテーブルの上方に配置され金属試料表面の金属組織を2〜20倍の低倍率で撮像するカメラと、このカメラの周囲を覆う反射板と、撮像された画像の表示・記憶装置とを備え、前記照明手段が、テーブルの後側に垂直に配置された面状光源と、テーブルの左右両側に対向配置された線状光源とを含むものであることを特徴とする金属組織画像観察装置。
- カメラが2〜20倍の低倍率CCDカメラであり、画像の表示・記憶装置が金属試料表面の異なる部分の金属組織の画像を合成する機能を有するコンピュータであることを特徴とする請求項1記載の金属組織画像観察装置。
- テーブルの後側に垂直に配置された面状光源が、金属試料表面の撮像部分に対してテーブル面から少なくとも5〜20°の範囲を含む角度で光線を照射するものであることを特徴とする請求項1記載の金属組織画像観察装置。
- テーブルの左右両側に対向配置された線状光源が、金属試料表面の撮像部分に対して45°以上の斜め上方から光線を照射するものであることを特徴とする請求項1記載の金属組織画像観察装置。
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JP2006155676A JP4621170B2 (ja) | 2006-06-05 | 2006-06-05 | 金属組織画像観察装置 |
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JP2006155676A JP4621170B2 (ja) | 2006-06-05 | 2006-06-05 | 金属組織画像観察装置 |
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JP2007322346A JP2007322346A (ja) | 2007-12-13 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH03115162U (ja) * | 1989-05-02 | 1991-11-27 | ||
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-
2006
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Patent Citations (5)
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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