JP4610886B2 - Image display device, electronic equipment - Google Patents

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本発明は、画素がマトリクス状に配置された画像表示装置及び画像表示装置の検査方法に関する。 The present invention relates to an image display device in which pixels are arranged in a matrix and an inspection method for the image display device.

液晶ディスプレイ(LCD)や、エレクトロルミネッセンス(EL)ディスプレイ等の画像表示装置においては、近年高精細化が進み、素子の集積度も大きく向上してきている。   In image display devices such as a liquid crystal display (LCD) and an electroluminescence (EL) display, in recent years, high definition has been advanced and the integration degree of elements has been greatly improved.

画像表示装置の製造ラインにおいては、完成品としてのパネル出荷に際し、基板上に実装した回路が正常動作しているかの検査が不可欠であるが、前述した高精細化に伴い、検査工程自体も複雑化してきている。   In the production line of image display devices, it is indispensable to inspect whether the circuit mounted on the board is operating normally when the panel is shipped as a finished product, but the inspection process itself is complicated due to the above-mentioned high definition. It is becoming.

図3は、従来の画像表示装置における、検査回路を実装した基板の構成を示している(例えば、特許文献1参照)。この画像表示装置は、基板301、ソース駆動回路302、ゲート駆動回路303、画素304、データ信号線305、走査線306、検査回路311、スイッチ駆動回路312、アナログスイッチ313、検査線314、検査端子315a、315bを有する。基板301は検査回路311を実装し、マトリクス状に配置された画素304を有し、データ信号線(ソースバスライン)305と走査線(ゲートバスライン)306がお互いに直交するよう配置され、各走査線306はゲート駆動回路303に接続、各データ信号線305はソース駆動回路302に接続されている。   FIG. 3 shows a configuration of a substrate on which an inspection circuit is mounted in a conventional image display device (see, for example, Patent Document 1). This image display device includes a substrate 301, a source driving circuit 302, a gate driving circuit 303, a pixel 304, a data signal line 305, a scanning line 306, an inspection circuit 311, a switch driving circuit 312, an analog switch 313, an inspection line 314, and an inspection terminal. 315a and 315b. The substrate 301 has an inspection circuit 311 and has pixels 304 arranged in a matrix. Data signal lines (source bus lines) 305 and scanning lines (gate bus lines) 306 are arranged so as to be orthogonal to each other. The scanning line 306 is connected to the gate driving circuit 303, and each data signal line 305 is connected to the source driving circuit 302.

画素部は、表示領域に設けられ、表示に寄与する第一の画素と、表示領域の外縁部(以後、非表示領域と記載する)に設けられ、表示には寄与しない第二の画素を有する。図7(A)に概略を示す。ただし、ここでは簡単のため、非表示領域は704bで示す領域に設けられているが、通常、表示領域の外縁を囲うように非表示領域が設けられることが多い。   The pixel portion includes a first pixel that is provided in the display region and contributes to display, and a second pixel that is provided in an outer edge portion of the display region (hereinafter referred to as a non-display region) and does not contribute to display. . An outline is shown in FIG. However, for the sake of simplicity, the non-display area is provided in the area indicated by 704b. However, the non-display area is usually provided so as to surround the outer edge of the display area.

上記表示装置は、各走査線306によって、これらの走査線306に接続されている各画素を制御し、映像信号はソース駆動回路302に順次取り込まれ、ラッチ信号が入力されると同時に各データ信号線305に出力され、各画素に入力される。   The display device controls each pixel connected to each scanning line 306 by each scanning line 306, and the video signal is sequentially taken into the source driving circuit 302, and each data signal is simultaneously input with the latch signal. The signal is output to the line 305 and input to each pixel.

上記表示装置の有する画素は、図7(B)により詳しく説明する。それぞれの画素は、データ信号線711、走査線712、電流供給線717、スイッチング用薄膜トランジスタ(以下、薄膜トランジスタをTFTと省略する)713、駆動用TFT714、容量手段715、発光素子716、電源線718を有している。   The pixel included in the display device will be described in detail with reference to FIG. Each pixel includes a data signal line 711, a scanning line 712, a current supply line 717, a switching thin film transistor (hereinafter referred to as a thin film transistor) 713, a driving TFT 714, a capacitor means 715, a light emitting element 716, and a power supply line 718. Have.

駆動用TFT714のゲート電極とデータ信号線711の間にスイッチング用TFT713が接続され、スイッチング用TFT713のゲート電極に走査線712が接続されている。このため、スイッチング用TFT713ON状態の時は、データ信号線711に出力されている信号により駆動用TFT714を制御することができる。また、容量手段715は、駆動用TFT714のゲート電極と電流供給線717の間にあり、駆動用TFT714のゲート・ソース間電圧を保持する。   A switching TFT 713 is connected between the gate electrode of the driving TFT 714 and the data signal line 711, and a scanning line 712 is connected to the gate electrode of the switching TFT 713. Therefore, when the switching TFT 713 is ON, the driving TFT 714 can be controlled by a signal output to the data signal line 711. The capacitor means 715 is located between the gate electrode of the driving TFT 714 and the current supply line 717 and holds the gate-source voltage of the driving TFT 714.

第一及び第二の画素の違いを以下に述べる。第一の画素において発光素子716は駆動用TFT714と電源線718に接続されており、駆動用TFT714が電流供給線717から発光素子716に電流を供給することで発光する。発光は、ソース信号線から映像信号を駆動用TFTのゲート電極に送り、入力された映像信号の電位に従って行われる。第二の画素は発光素子と駆動用TFTは接続されないため非発光であり、ダミー画素となっている。   The difference between the first and second pixels will be described below. In the first pixel, the light emitting element 716 is connected to the driving TFT 714 and the power supply line 718, and the driving TFT 714 emits light by supplying current from the current supply line 717 to the light emitting element 716. Light emission is performed according to the potential of the input video signal by sending a video signal from the source signal line to the gate electrode of the driving TFT. The second pixel does not emit light because the light emitting element and the driving TFT are not connected, and is a dummy pixel.

このようにダミー画素を有する非表示領域を表示領域の周辺に設置する理由の一つは、LCDや発光素子を用いたディスプレイ等のフラットパネルディスプレイにおいては、液晶素子や発光素子を画素部に形成する工程があるが、その際、画素部の中心部に比べて周辺部が不均質になり易いことがあげられる(例えば、特許文献2参照)。   One of the reasons for installing a non-display area having dummy pixels in the periphery of the display area in this way is to form a liquid crystal element or a light emitting element in a pixel portion in a flat panel display such as a display using an LCD or a light emitting element. In this case, the peripheral portion is likely to be inhomogeneous compared to the central portion of the pixel portion (for example, see Patent Document 2).

上記表示装置の配線間の短絡や配線の断線の検出は、走査線306の端に設けられた検査端子315aにプローブピンを接触させて出力を調べる方法、検査回路311を使用する方法がある。検査回路311は、スイッチ制御回路312を順次駆動しながら、各データ信号線の電位レベルを順次検査線314に送り、検査端子315bにプローブピンを接触させ調べる。   Detection of a short circuit between wirings of the display device or disconnection of the wirings includes a method in which a probe pin is brought into contact with an inspection terminal 315 a provided at the end of the scanning line 306 to check an output, and a method in which an inspection circuit 311 is used. The inspection circuit 311 sequentially drives the switch control circuit 312 and sequentially sends the potential level of each data signal line to the inspection line 314, and contacts the inspection terminal 315b with the probe pin for inspection.

検査端子315aにプローブピンを接触させる方法を用いると、各検査線と同数の検査端子に対して検査するため、膨大な時間がかかる。あるいは、時間を短縮させるためプローブピンの数を増やすと、高価な検査機が必要となる。そこで検査回路311を基板上に形成することが考えられるが、スイッチ駆動回路312を必要とするため画像表示とは無関係な回路であるにもかかわらず、膨大な面積を占有する。   When the method of bringing the probe pins into contact with the inspection terminals 315a is used, inspection is performed on the same number of inspection terminals as each inspection line, which requires enormous time. Alternatively, if the number of probe pins is increased in order to shorten the time, an expensive inspection machine is required. Therefore, it is conceivable to form the inspection circuit 311 on the substrate. However, since the switch driving circuit 312 is required, it occupies a huge area even though the circuit is irrelevant to the image display.

これに対して、スイッチ駆動回路を設置しない検査回路を有する画像表示装置が提案されている(例えば、特許文献3参照)。図4は、上記画像表示装置の構成図であり、基板401、ソース駆動回路402、ゲート駆動回路403、画素404、データ信号線405、走査線406、映像信号線407、アナログスイッチ408および412、検査回路411、検査線413、検査端子414a、414bを有する。各データ信号線405はアナログスイッチ412のゲートに接続されている。   On the other hand, an image display apparatus having an inspection circuit in which no switch drive circuit is installed has been proposed (see, for example, Patent Document 3). FIG. 4 is a configuration diagram of the image display device. The substrate 401, the source driving circuit 402, the gate driving circuit 403, the pixel 404, the data signal line 405, the scanning line 406, the video signal line 407, the analog switches 408 and 412, An inspection circuit 411, an inspection line 413, and inspection terminals 414a and 414b are provided. Each data signal line 405 is connected to the gate of the analog switch 412.

データ信号線405を検査する場合には、映像信号線407に検査用パルスを入力し、アナログスイッチ412からの出力波形を検査端子414bの出力により観察し、断線等の不良を発見することができる。   When inspecting the data signal line 405, an inspection pulse is input to the video signal line 407, and the output waveform from the analog switch 412 is observed by the output of the inspection terminal 414b, so that a defect such as disconnection can be found. .

特開平14−116423号公報JP-A-14-116423 特開平5−241153号公報Japanese Patent Laid-Open No. 5-241153 特許第2618042号公報Japanese Patent No. 2618042

ところが、上記検査法では、ゲート駆動回路403やソース駆動回路402の動作及び走査線406やデータ信号線405の良否を検査するだけである。しかし、画素404内部の薄膜トランジスタが十分制御されているかが検査できないと、十分な検査であるとはいえない。   However, in the above inspection method, only the operation of the gate driving circuit 403 and the source driving circuit 402 and the quality of the scanning line 406 and the data signal line 405 are inspected. However, if the thin film transistor in the pixel 404 is sufficiently controlled, it cannot be said that the inspection is sufficient.

本発明の目的は、検査機が多くのプローブピンを用いずに、検査回路の面積を最小に抑えたままで、簡単かつ短時間で検査が可能であり、さらに、駆動回路や走査線、データ信号線のみならず画素内部のTFTの特性も含めて検査可能な画像表示装置と、画像表示装置の検査方法を提供することである。   The object of the present invention is that the inspection machine can perform inspection easily and in a short time while keeping the area of the inspection circuit to a minimum without using many probe pins. An object is to provide an image display device capable of inspecting not only the lines but also the characteristics of TFTs inside the pixel, and an inspection method for the image display device.

本発明は、検査回路によって占められる部分を最小限に抑えつつ、画素中の回路や画素制御の検査を簡単且つ確実に行うことができるようにするために、画素回路の一部を検査回路またはダミー回路とする表示装置である。   In order to enable the inspection of the circuit in the pixel and the pixel control to be performed easily and reliably while minimizing the portion occupied by the inspection circuit, the present invention provides a part of the pixel circuit as an inspection circuit or The display device is a dummy circuit.

本発明の画像表示装置は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第1の画素回路と、第2の画素回路とを有し、
前記第1の画素回路および前記第2の画素回路はそれぞれ、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記第1の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第2の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、前記電流供給線と検査出力端子との間に設けられたことを特徴とする。
The image display device of the present invention includes:
A pixel portion provided with a display area and an inspection area;
Each of the display area and the inspection area includes a first pixel circuit and a second pixel circuit,
Each of the first pixel circuit and the second pixel circuit includes a data signal line, a scanning line, a switching transistor, and a driving transistor,
The switching transistor is provided between the data signal line and the gate electrode of the driving transistor with a gate electrode electrically connected to the scanning line,
In the first pixel circuit, the driving transistor is provided between a current supply line and a light emitting element,
In the second pixel circuit, the driving transistor is provided between the current supply line and a test output terminal.

本発明の画像表示装置は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第1の画素回路と、第2の画素回路とを有し、
前記第1の画素回路は、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記第2の画素回路は、前記データ信号線と、前記走査線と、前記スイッチング用トランジスタとを有し、
前記第1の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第2の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、前記データ信号線と検査出力端子との間に設けられたことを特徴とする。
The image display device of the present invention includes:
A pixel portion provided with a display area and an inspection area;
Each of the display area and the inspection area includes a first pixel circuit and a second pixel circuit,
The first pixel circuit includes a data signal line, a scanning line, a switching transistor, and a driving transistor,
The second pixel circuit includes the data signal line, the scanning line, and the switching transistor,
In the first pixel circuit, the switching transistor is provided between the data signal line and the gate electrode of the driving transistor with a gate electrode electrically connected to the scanning line, and the driving transistor Is provided between the current supply line and the light emitting element,
In the second pixel circuit, the switching transistor is provided between the data signal line and a test output terminal.

本発明の画像表示装置において、
前記検査領域は、前記表示領域部の外縁部に設けられたダミー画素領域に設けられたことを特徴とする。
In the image display device of the present invention,
The inspection area is provided in a dummy pixel area provided in an outer edge portion of the display area portion.

本発明の画像表示装置の検査方法は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第1の画素回路と、第2の画素回路とを有し、
前記第1の画素回路および前記第2の画素回路はそれぞれ、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、
前記第1の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第2の画素回路において、前記駆動用トランジスタは、前記電流供給線と検査端子との間に設けられ、
前記走査線を選択状態として前記第2の画素回路における前記スイッチング用トランジスタを導通し、前記データ信号線に出力された信号にしたがって、前記駆動用トランジスタのドレイン電流を前記検査端子に出力することを特徴とする。
The inspection method of the image display device of the present invention includes:
A pixel portion provided with a display area and an inspection area;
Each of the display area and the inspection area includes a first pixel circuit and a second pixel circuit,
Each of the first pixel circuit and the second pixel circuit includes a data signal line, a scanning line, a switching transistor, and a driving transistor,
The switching transistor is provided between the data signal line and the gate electrode of the driving transistor with a gate electrode electrically connected to the scanning line,
In the first pixel circuit, the driving transistor is provided between a current supply line and a light emitting element,
In the second pixel circuit, the driving transistor is provided between the current supply line and an inspection terminal,
With the scanning line selected, the switching transistor in the second pixel circuit is turned on, and the drain current of the driving transistor is output to the inspection terminal in accordance with the signal output to the data signal line. Features.

本発明の画像表示装置の検査方法において、
前記データ信号線に出力された信号は、映像信号であることを特徴とする。
In the inspection method of the image display device of the present invention,
The signal output to the data signal line is a video signal.

本発明の画像表示装置の検査方法において、
前記データ信号線に出力された信号は、検査用パルスであることを特徴とする。
In the inspection method of the image display device of the present invention,
The signal output to the data signal line is an inspection pulse.

本発明の画像表示装置の検査方法は、
表示領域と検査領域とが設けられた画素部を有し、
前記表示領域および前記検査領域はそれぞれ、第1の画素回路と、第2の画素回路とを有し、
前記第1の画素回路は、データ信号線と、走査線と、スイッチング用トランジスタと、駆動用トランジスタとを有し、
前記第2の画素回路は、前記データ信号線と、前記走査線と、前記スイッチング用トランジスタとを有し、
前記第1の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、ゲート電極が前記走査線と電気的に接続されて前記データ信号線と前記駆動用トランジスタのゲート電極との間に設けられ、前記駆動用トランジスタは、電流供給線と発光素子との間に設けられ、
前記第2の画素回路において、前記スイッチング用トランジスタは、前記データ信号線と検査出力端子との間に設けられ、
前記走査線を選択状態として第2の画素回路における前記スイッチング用トランジスタを導通し、前記データ信号線に出力された信号を前記検査出力端子に出力することを特徴とする。
The inspection method of the image display device of the present invention includes:
A pixel portion provided with a display area and an inspection area;
Each of the display area and the inspection area includes a first pixel circuit and a second pixel circuit,
The first pixel circuit includes a data signal line, a scanning line, a switching transistor, and a driving transistor,
The second pixel circuit includes the data signal line, the scanning line, and the switching transistor,
In the first pixel circuit, the switching transistor is provided between the data signal line and the gate electrode of the driving transistor with a gate electrode electrically connected to the scanning line, and the driving transistor Is provided between the current supply line and the light emitting element,
In the second pixel circuit, the switching transistor is provided between the data signal line and a test output terminal,
The scanning line is selected, the switching transistor in the second pixel circuit is turned on, and the signal output to the data signal line is output to the inspection output terminal.

本発明の画像表示装置及びその検査方法は、画素回路の一部を変更し検査回路にすることあるいはダミー画素を使用することによって、検査回路による占有面積を最小に抑えつつ、データ信号線および走査線の断線等の検査や画素制御の検査を簡単かつ確実に行い、もし異常があればその位置まで知ることができるものである。 According to the image display device and the inspection method of the present invention, by changing a part of the pixel circuit to form an inspection circuit or using a dummy pixel, the data signal line and the scanning are suppressed while minimizing the area occupied by the inspection circuit. Inspections such as wire breaks and pixel control inspections can be performed easily and reliably, and if there is an abnormality, the position can be known.

本発明を以下の実施の形態により詳細に説明する。   The present invention will be described in detail by the following embodiments.

[実施の形態1]
図1(A)は、本発明の第1の実施形態による検査回路を示す。この検査回路はデータ信号線101、走査線102、スイッチング用TFT103、駆動用TFT104、容量手段105、電流供給線106、検査セル107、検査線108を有する。この回路はデータ信号線の検査を目的に作成したものである。上記検査回路は、画素回路(図1(B))をもとに作成され、図1(A)における検査セル107が画素回路に相当する。なお、画素回路図1(B)は、データ信号線111、走査線112、スイッチング用TFT103、駆動用TFT104、容量手段105、EL素子116、電流供給線117、電源線118を有する。
[Embodiment 1]
FIG. 1A shows an inspection circuit according to the first embodiment of the present invention. The inspection circuit includes a data signal line 101, a scanning line 102, a switching TFT 103, a driving TFT 104, a capacitor means 105, a current supply line 106, an inspection cell 107, and an inspection line 108. This circuit is created for the purpose of inspecting data signal lines. The inspection circuit is created based on the pixel circuit (FIG. 1B), and the inspection cell 107 in FIG. 1A corresponds to the pixel circuit. 1B includes a data signal line 111, a scanning line 112, a switching TFT 103, a driving TFT 104, a capacitor 105, an EL element 116, a current supply line 117, and a power supply line 118.

画素回路は、駆動用TFT104がEL素子116に電流を供給することで発光する。駆動用TFT104のゲートに対してスイッチング用TFT103によりソース信号線111から映像信号が送られ、入力された映像信号の電位に従って発光が行われる。 The pixel circuit emits light when the driving TFT 104 supplies current to the EL element 116. A video signal is sent from the source signal line 111 to the gate of the driving TFT 104 by the switching TFT 103, and light emission is performed according to the potential of the input video signal.

検査セル107の構成を画素回路(図1(B))と比較して説明する。まず、駆動用TFT104が電流を供給するEL素子116を画素回路から取り除く。さらに、EL素子に繋がる電源線118と切り離し、その代わりに駆動用TFT104を検査線108に接続する。検査線108は検査端子に繋がっている。画素回路が共有する走査線112をゲート駆動回路から切り離し、検査回路スイッチ信号線102として独立させる。このようにして検査セル107が構成される。駆動用TFT104は、スイッチ信号線102が入力され、スイッチング用TFT103がONの状態の時、映像信号により制御されるアナログスイッチとしての役割を担う。   The configuration of the inspection cell 107 will be described in comparison with a pixel circuit (FIG. 1B). First, the EL element 116 to which the driving TFT 104 supplies current is removed from the pixel circuit. Further, it is disconnected from the power supply line 118 connected to the EL element, and instead, the driving TFT 104 is connected to the inspection line 108. The inspection line 108 is connected to the inspection terminal. The scanning line 112 shared by the pixel circuits is separated from the gate drive circuit and is made independent as the inspection circuit switch signal line 102. In this way, the inspection cell 107 is configured. The driving TFT 104 plays a role as an analog switch controlled by a video signal when the switch signal line 102 is input and the switching TFT 103 is ON.

データ信号線の検査について述べる。図1(A)に示すような検査回路を基板上に形成する。検査回路は、画素部と接続しているn本のデータ信号線とS1, S2, ・・・, Snを一対一で接続する。映像信号が有する電位が各データ信号線へ出力され、この時スイッチ信号が入力される。スイッチング用TFT103がONの時、駆動用TFT104のスイッチ制御は映像信号によって行われ、映像信号と測定した出力値OUTとを比較することで検査することができる。映像信号に検査用パルスを入力することで、異常のある場所の特定が簡易となる。   The data signal line inspection will be described. An inspection circuit as shown in FIG. 1A is formed on the substrate. The inspection circuit connects n data signal lines connected to the pixel portion and S1, S2,..., Sn on a one-to-one basis. The potential of the video signal is output to each data signal line, and at this time, a switch signal is input. When the switching TFT 103 is ON, the switch control of the driving TFT 104 is performed by a video signal, which can be inspected by comparing the video signal with the measured output value OUT. By inputting the inspection pulse to the video signal, it becomes easy to identify the place where there is an abnormality.

図5(B)に、検査時のタイミングチャートを示す。図5(A)に示された基板501は、シフトレジスタにより順次映像信号を第1のラッチ回路に取り込み、ラッチ信号がhighの時に各データ信号線に同時に第2のラッチ回路より出力される構造である。このため、図5(C)にあるようにn本のデータ信号線S1、S2、 ・・・、 Snを一本ずつ選択して、映像信号入力期間Vをn回設けている。この時の出力信号は、ラッチ信号が選択されるとある一つの検査セル中の駆動用TFTがON状態であるため、同時にHigh出力となる。   FIG. 5B shows a timing chart at the time of inspection. The substrate 501 shown in FIG. 5A has a structure in which video signals are sequentially taken into the first latch circuit by the shift register and are simultaneously output from the second latch circuit to each data signal line when the latch signal is high. It is. For this reason, as shown in FIG. 5C, n data signal lines S1, S2,..., Sn are selected one by one, and the video signal input period V is provided n times. When the latch signal is selected, the output signal at this time is a High output at the same time because the driving TFT in one inspection cell is in the ON state.

[実施の形態2]
図2は、本発明の第2の実施形態による検査回路を示す。この回路は走査線の検査を目的に作成したものである。実施形態1同様、図1(B)の画素回路をもとに作成され、図2(A)における検査セル205が画素回路に相当する。
[Embodiment 2]
FIG. 2 shows an inspection circuit according to a second embodiment of the present invention. This circuit is created for the purpose of scanning line inspection. Like the first embodiment, the pixel circuit is created based on the pixel circuit in FIG. 1B, and the inspection cell 205 in FIG. 2A corresponds to the pixel circuit.

図2(A)の検査回路は、走査線201、スイッチング用TFT202、容量手段203、電流供給線204、検査セル205、検査線206を有する。   The inspection circuit in FIG. 2A includes a scanning line 201, a switching TFT 202, a capacitor 203, a current supply line 204, an inspection cell 205, and an inspection line 206.

検査セル205の構成を画素回路と比較して説明する。画素回路からEL素子及び駆動用TFTを除く。さらに、EL素子に繋がる電源線118と画素内のTFT104とを切り離し、検査線206に繋げる。また、画素回路が共有するデータ信号線111をソース駆動回路から切り離し、電源電圧に接続したのが検査セル205である。スイッチング用TFTは、ゲート駆動回路により制御されるアナログスイッチとしての役割を担う。   The configuration of the inspection cell 205 will be described in comparison with a pixel circuit. The EL element and the driving TFT are removed from the pixel circuit. Further, the power supply line 118 connected to the EL element and the TFT 104 in the pixel are separated and connected to the inspection line 206. In addition, the test cell 205 is the data signal line 111 shared by the pixel circuit is disconnected from the source driving circuit and connected to the power supply voltage. The switching TFT plays a role as an analog switch controlled by a gate drive circuit.

ダミー画素を表示領域周辺部に有し、ELの膜厚を表示領域で均質にするため画素が同じ構造である必要があり、駆動用TFTを削除できない場合は、削除しなくてもよい。接続はスイッチング用TFT、駆動用TFTと容量手段との接点を検査線に共通接続し、検査端子に繋げる。   In the case where dummy pixels are provided in the periphery of the display region and the pixels have the same structure in order to make the film thickness of the EL uniform in the display region, if the driving TFT cannot be deleted, it may not be deleted. For the connection, the contact between the switching TFT, the driving TFT and the capacitor means is commonly connected to the inspection line and connected to the inspection terminal.

走査線の検査について述べる。図2(A)に示すような検査回路を基板上に形成し、画素部と接続しているn本の走査線とG1, G2, ・・・, Gnを一対一で接続する。信号がゲート駆動回路より順次各走査線201へ出力され、このためスイッチング用TFT202は順次ON状態となり、この時の出力値OUTを測定することで検査することができる。   The scanning line inspection will be described. An inspection circuit as shown in FIG. 2A is formed on the substrate, and the n scanning lines connected to the pixel portion and G1, G2,..., Gn are connected on a one-to-one basis. Signals are sequentially output from the gate drive circuit to the respective scanning lines 201, so that the switching TFTs 202 are sequentially turned on and can be inspected by measuring the output value OUT at this time.

走査線はデータ信号線と異なり、検査用パルスの入力ができないため、出力部に工夫が必要である。図2(A)は出力をOUT1及びOUT2と2つ有し、走査線を交互にOUT1とOUT2に接続することで、シフトレジスタが順次にスイッチング用TFT202を選択すると方形波が検出でき、検査での判別が明確となる。図6(B)にタイミングチャートを示す。各走査線G1, G2, ・・・, Gnが順次ON状態になり、出力は交互にHigh出力となっている。こうした方形波を出力させる利点は、その個数を数えることで異常のある場所を特定できることにある。   Unlike the data signal line, the scanning line cannot be input with the inspection pulse, so that the output unit needs to be devised. 2A has two outputs, OUT1 and OUT2, and by connecting the scanning lines alternately to OUT1 and OUT2, when the shift register sequentially selects the switching TFT 202, a square wave can be detected. The distinction becomes clear. FIG. 6B shows a timing chart. Each of the scanning lines G1, G2,..., Gn is sequentially turned on, and the output is alternately a High output. The advantage of outputting such a square wave is that an abnormal location can be identified by counting the number of the square waves.

検査用パルスの入力不可に対する対策として、あるいは、図2(B)のように、遅延用Buffer211及びNAND212を追加することで、Bufferが遅延を作り、その出力とNAND演算をすることで方形波を検出させる方法がある。 As a countermeasure against the inability to input the inspection pulse, or as shown in FIG. 2B, by adding a delay buffer 211 and a NAND 212, the buffer creates a delay and performs a NAND operation on the output to generate a square wave. There is a method to detect.

本発明の実施例について以下に述べる。   Examples of the present invention will be described below.

図5(A)は、本発明の第1の実施例を示す。ここで示す表示装置は、基板501、ソース駆動回路502、ゲート駆動回路503、画素504、データ信号線505、走査線506を有する。マトリクス状に配置された画素504のうち、データ信号線に垂直方向にある一行の画素として、ソース駆動回路502の対向の最終段を選ぶ。もし、ダミー画素が周辺に配置されているなら、ダミー画素を選択してもよい。選択した画素に以下の変更を行う。画素からEL素子を除き、さらにEL素子に繋がる電源線と画素内のTFTとを切り離し、替わりに検査端子に繋げる。もちろん、検査上の理由より検査端子を複数にしても良いが、図5(A)の実施例では共通接続することで、検査端子数を1つにしている。次に、画素が共有する走査線506をゲート駆動回路503から切り離し、スイッチ信号線として独立させる。本実施例では、検査を単純にするためスイッチ信号線を独立させたが、ゲート駆動回路によりスイッチ信号線を制御するのであれば独立させず、接続したままでも良い。データ信号線の検査方法は、図5(B)に示すように、スイッチ信号線を入力した状態で検査用パルスS1, S2, ・・・, Snを入力し、ラッチ信号を入力時の出力信号を観察することで判定する。   FIG. 5A shows a first embodiment of the present invention. The display device shown here includes a substrate 501, a source driver circuit 502, a gate driver circuit 503, a pixel 504, a data signal line 505, and a scanning line 506. Of the pixels 504 arranged in a matrix, the last stage opposite to the source driver circuit 502 is selected as a row of pixels perpendicular to the data signal line. If dummy pixels are arranged in the periphery, the dummy pixels may be selected. The following changes are made to the selected pixel. The EL element is removed from the pixel, and the power supply line connected to the EL element and the TFT in the pixel are separated and connected to the inspection terminal instead. Of course, a plurality of inspection terminals may be provided for inspection reasons, but in the embodiment of FIG. 5A, the number of inspection terminals is reduced to one by connecting them in common. Next, the scanning line 506 shared by the pixels is disconnected from the gate driving circuit 503 and is made independent as a switch signal line. In this embodiment, the switch signal lines are made independent in order to simplify the inspection. However, if the switch signal lines are controlled by the gate drive circuit, they are not made independent and may remain connected. As shown in FIG. 5B, the data signal line is inspected by inputting inspection pulses S1, S2,..., Sn while the switch signal line is input, and outputting the latch signal as an output signal. Determine by observing.

本実施例では、画素内のTFTをそのまま使用したが、画素内部TFTの駆動確認のために、感度を上げる目的で、相似的にTFTサイズを変更しても良い。   In this embodiment, the TFT in the pixel is used as it is, but the TFT size may be similarly changed for the purpose of increasing the sensitivity in order to confirm driving of the TFT inside the pixel.

図6(A)は、本発明の第2の実施例を示す。ここで示す表示装置は、基板601、ソース駆動回路602、ゲート駆動回路603、画素604、データ信号線605、走査線606を有する。マトリクス状に配置された画素604のうち走査線に垂直方向にある一列の画素として、ゲート駆動回路603の対向の最終段を選ぶ。もし、ダミー画素が周辺に配置されているなら、ダミー画素を選択してもよい。選択した画素に以下の変更を行う。画素からEL素子及び駆動用TFTを除き、さらにEL素子に繋がる電源線と画素内のTFTとを切り離し、替わりに検査線に繋げる。図6(A)の実施例では2出力で、走査線606を交互に接続している。次に、画素が共有するデータ信号線605をソース駆動回路602から切り離し電源電圧に接続する。本実施例では、検査を単純にするため電源電圧に接続したが、ソース駆動回路602により検出可能な電位レベルを与えることができるならば、接続したままでも良い。走査線の検査方法は、図6(B)に示すように、ゲート駆動回路を動かし出力信号を観察することで判定する。  FIG. 6A shows a second embodiment of the present invention. The display device shown here includes a substrate 601, a source driver circuit 602, a gate driver circuit 603, a pixel 604, a data signal line 605, and a scanning line 606. Of the pixels 604 arranged in a matrix, the last stage facing the gate drive circuit 603 is selected as a row of pixels perpendicular to the scanning line. If dummy pixels are arranged in the periphery, the dummy pixels may be selected. The following changes are made to the selected pixel. The EL element and the driving TFT are removed from the pixel, and the power supply line connected to the EL element and the TFT in the pixel are separated and connected to the inspection line instead. In the embodiment of FIG. 6A, the scanning lines 606 are alternately connected with two outputs. Next, the data signal line 605 shared by the pixels is disconnected from the source driver circuit 602 and connected to the power supply voltage. In this embodiment, the power source voltage is connected to simplify the inspection. However, if the potential level detectable by the source driver circuit 602 can be given, the power source voltage may be left connected. As shown in FIG. 6B, the scanning line inspection method is determined by moving the gate driving circuit and observing the output signal.

本実施例では、画素内のTFTをそのまま使用したが、画素内部TFTの駆動確認のために、感度を上げる目的で、相似的にTFTサイズを変更してもよい。 In this embodiment, the TFT in the pixel is used as it is, but the TFT size may be similarly changed for the purpose of increasing the sensitivity in order to confirm driving of the TFT inside the pixel.

本実施例では、本発明の表示装置を有する様々な電気機器について説明する。本発明の表示装置は、画素と配線が形成された段階で、簡単かつ短時間に、駆動回路、走査線、データ信号線及び画素内部のTFT特性の検査を行うことができる。このため、製品の組み立て前に不良品を取り除くことが可能となり、結果的に製品を効率よく安価に製造することが可能になる。   In this embodiment, various electric appliances having the display device of the present invention will be described. The display device of the present invention can inspect the driving circuit, the scanning line, the data signal line, and the TFT characteristics inside the pixel easily and in a short time after the pixel and the wiring are formed. For this reason, it is possible to remove defective products before assembling the product, and as a result, the product can be manufactured efficiently and inexpensively.

本発明の表示装置を用いて作成された電気機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、情報端末形態(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍)、記憶媒体を備えた画像再生装置(具体的にはデジタルビデオディスク(DVD)を表示することができる表示装置を備えた装置)等が挙げられる。これらの電気機器の具体例を図8に示す。   As an electric device created using the display device of the present invention, a video camera, a digital camera, a goggle type display (head mounted display), a navigation system, a notebook type personal computer, a game device, an information terminal form (mobile computer, mobile phone) , A portable game machine or an electronic book), an image playback device including a storage medium (specifically, a device including a display device capable of displaying a digital video disc (DVD)), and the like. Specific examples of these electric devices are shown in FIGS.

図8(A)は表示装置であり、筐体801、支持台802、表示部803、スピーカー部804、ビデオ入力端子805等を含む。本発明の表示装置はその表示部803に用いることができる。なお、表示装置は、パーソナルコンピュータ用、テレビ放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用装置が含まれる。   FIG. 8A illustrates a display device, which includes a housing 801, a support base 802, a display portion 803, a speaker portion 804, a video input terminal 805, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 803. The display device includes all information display devices such as a personal computer, a TV broadcast reception, and an advertisement display.

図8(B)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体811、筐体812、表示部813、キーボード814、外部接続ポート815、ポインティングマウス816などを含む。本発明の表示装置をその表示部813に用いることができる。   FIG. 8B illustrates a laptop personal computer, which includes a main body 811, a housing 812, a display portion 813, a keyboard 814, an external connection port 815, a pointing mouse 816, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 813.

図8(C)はモバイルコンピュータであり、本体821、表示部822、スイッチ823、操作キー824、赤外線ポート825、スタイラス826などを含む。本発明の表示装置は、その表示部822に用いることができる。   FIG. 8C illustrates a mobile computer, which includes a main body 821, a display portion 822, a switch 823, operation keys 824, an infrared port 825, a stylus 826, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 822.

図8(D)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体831、筐体832、表示部A833、表示部B834、記録媒体(DVDなど)読み込み部835、操作キー836、スピーカー部837などを含む。表示部A833は主に画像情報を表示し、表示部B834は主に文字情報や操作のための情報を表示する。本発明の表示装置を表示部A、Bの833、834に用いることができる。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には、家庭用ゲーム機器なども含まれる。   FIG. 8D illustrates a portable image reproducing device (specifically, a DVD reproducing device) provided with a recording medium, which includes a main body 831, a housing 832, a display portion A 833, a display portion B 834, and a recording medium (DVD or the like). A reading unit 835, operation keys 836, a speaker unit 837, and the like are included. The display portion A833 mainly displays image information, and the display portion B834 mainly displays character information and information for operation. The display device of the present invention can be used for the display portions A and B 833 and 834. Note that the image reproducing device provided with the recording medium includes a home game machine and the like.

図8(E)はゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウント型ディスプレイ)であり、本体841、表示部842、アーム部843などを含む。本発明の表示装置をその表示部842に用いることができる。   FIG. 8E illustrates a goggle type display (head mounted display), which includes a main body 841, a display portion 842, an arm portion 843, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 842.

図8(E)はビデオカメラであり、本体851、表示部852、筐体853、外部接続ポート854、リモコン受信部855、受像部856、バッテリー857、音声入力部858、操作キー859、接眼部860等を含む。本発明の表示装置をその表示部852に用いることにより作成される。   FIG. 8E illustrates a video camera, which includes a main body 851, a display portion 852, a housing 853, an external connection port 854, a remote control receiving portion 855, an image receiving portion 856, a battery 857, an audio input portion 858, operation keys 859, and an eyepiece. Part 860 and the like. It is created by using the display device of the present invention for the display portion 852.

図8(F)は携帯電話であり、本体861、筐体862、表示部863、音声入力部864、音声出力部865、操作キー866、外部接続ポート867、アンテナ868などを含む。本発明の表示装置をその表示部863に用いることができる。   FIG. 8F illustrates a mobile phone, which includes a main body 861, a housing 862, a display portion 863, an audio input portion 864, an audio output portion 865, operation keys 866, an external connection port 867, an antenna 868, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 863.

本発明の実施形態を示す図。The figure which shows embodiment of this invention. 本発明の実施形態を示す図。The figure which shows embodiment of this invention. 従来の画像表示装置における検査回路を実装した基板の構成を示す図。The figure which shows the structure of the board | substrate which mounted the test | inspection circuit in the conventional image display apparatus. 従来の検査回路を有する画像表示装置の構成を示す図。The figure which shows the structure of the image display apparatus which has the conventional test | inspection circuit. 本発明の実施例を示す図。The figure which shows the Example of this invention. 本発明の実施例を示す図。The figure which shows the Example of this invention. 従来の画像表示装置の構成の例を示す図。The figure which shows the example of a structure of the conventional image display apparatus. 本発明の画像表示装置を利用した電子機器の例を示す図。FIG. 14 is a diagram showing an example of an electronic apparatus using the image display device of the present invention.

Claims (6)

表示領域と検査領域を有し、
前記表示領域は、第1の画素回路を有し、
前記検査領域は、第2の画素回路を有し、
前記第1の画素回路は、第1のスイッチング用トランジスタ、第1の駆動用トランジスタ及び発光素子を有し、
前記第2の画素回路は、第2のスイッチング用トランジスタ、第2の駆動用トランジスタを有し、
前記第1のスイッチング用トランジスタのゲートは、第1の走査線に電気的に接続され、
前記第1のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、データ信号線に電気的に接続され、
前記第1のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第1の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのゲートは、第2の走査線に電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第2の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第1の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、電流供給線に電気的に接続され、
前記第1の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記発光素子に電気的に接続され、
前記第2の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記電流供給線に電気的に接続され、
前記第2の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、検査出力端子に電気的に接続され
前記データ信号線に映像信号が供給され、前記第2の走査線にスイッチ信号が入力され、前記映像信号と前記検査出力端子から出力される信号を比較することにより、前記データ信号線を検査することを特徴とする画像表示装置。
It has a display area and an inspection area,
The display area includes a first pixel circuit,
The inspection area includes a second pixel circuit,
The first pixel circuit includes a first switching transistor, a first driving transistor, and a light emitting element,
The second pixel circuit includes a second switching transistor capacitor, the second driving transistor,
A gate of the first switching transistor is electrically connected to the first scanning line;
One of the source and the drain of the first switching transistor is electrically connected to the data signal line,
The other of the source and the drain of the first switching transistor is electrically connected to the gate of the first driving transistor,
A gate of the second switching transistor is electrically connected to a second scanning line;
One of the source and the drain of the second switching transistor is electrically connected to the data signal line,
The other of the source and the drain of the second switching transistor is electrically connected to the gate of the second driving transistor,
One of the source and the drain of the first driving transistor is electrically connected to a current supply line,
The other of the source and the drain of the first driving transistor is electrically connected to the light emitting element,
One of the source and the drain of the second driving transistor is electrically connected to the current supply line,
The other of the source and the drain of the second driving transistor is electrically connected to the inspection output terminal ,
A video signal is supplied to the data signal line, a switch signal is input to the second scanning line, and the data signal line is inspected by comparing the video signal with a signal output from the inspection output terminal. An image display device characterized by that.
表示領域、検査領域及びソース駆動回路を有し、
前記表示領域は、第1の画素回路を有し、
前記検査領域は、第2の画素回路を有し、
前記第1の画素回路は、第1のスイッチング用トランジスタ、第1の駆動用トランジスタ及び発光素子を有し、
前記第2の画素回路は、第2のスイッチング用トランジスタ、第2の駆動用トランジスタを有し、
前記第1のスイッチング用トランジスタのゲートは、第1の走査線に電気的に接続され、
前記第1のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、データ信号線に電気的に接続され、
前記第1のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第1の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのゲートは、第2の走査線に電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記第2のスイッチング用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記第2の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第1の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、電流供給線に電気的に接続され、
前記第1の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、前記発光素子に電気的に接続され、
前記第2の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方は、前記電流供給線に電気的に接続され、
前記第2の駆動用トランジスタのソース又はドレインの他方は、検査出力端子に電気的に接続され、
前記ソース駆動回路は、前記データ信号線に電気的に接続され、
前記ソース駆動回路から前記データ信号線に映像信号が供給され、前記第2の走査線にスイッチ信号が入力され、前記映像信号と前記検査出力端子から出力される信号を比較することにより、前記データ信号線を検査することを特徴とする画像表示装置。
A display area, an inspection area, and a source drive circuit;
The display area includes a first pixel circuit,
The inspection area includes a second pixel circuit,
The first pixel circuit includes a first switching transistor, a first driving transistor, and a light emitting element,
The second pixel circuit includes a second switching transistor capacitor, the second driving transistor,
A gate of the first switching transistor is electrically connected to the first scanning line;
One of the source and the drain of the first switching transistor is electrically connected to the data signal line,
The other of the source and the drain of the first switching transistor is electrically connected to the gate of the first driving transistor,
A gate of the second switching transistor is electrically connected to a second scanning line;
One of the source and the drain of the second switching transistor is electrically connected to the data signal line,
The other of the source and the drain of the second switching transistor is electrically connected to the gate of the second driving transistor,
One of the source and the drain of the first driving transistor is electrically connected to a current supply line,
The other of the source and the drain of the first driving transistor is electrically connected to the light emitting element,
One of the source and the drain of the second driving transistor is electrically connected to the current supply line,
The other of the source and the drain of the second driving transistor is electrically connected to the inspection output terminal,
The source driving circuit is electrically connected to the data signal line;
A video signal is supplied from the source driving circuit to the data signal line, a switch signal is input to the second scanning line, and the data is compared by comparing the video signal with a signal output from the inspection output terminal. An image display device characterized by inspecting a signal line.
請求項1または請求項2において、
前記第1のスイッチング用トランジスタ、前記第1の駆動用トランジスタ、前記第2のスイッチング用トランジスタ及び前記第2の駆動用トランジスタは、それぞれ、薄膜トランジスタであることを特徴とする画像表示装置。
In claim 1 or claim 2,
The image display device, wherein each of the first switching transistor, the first driving transistor, the second switching transistor, and the second driving transistor is a thin film transistor.
請求項1乃至請求項のいずれか一項において、
前記第1の画素回路は、第1の容量素子を有し、
前記第2の画素回路は、第2の容量素子を有し、
前記第1の容量素子の第1の電極は、前記第1の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第1の容量素子の第2の電極は、前記第1の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続され、
前記第2の容量素子の第1の電極は、前記第2の駆動用トランジスタのゲートに電気的に接続され、
前記第2の容量素子の第2の電極は、前記第2の駆動用トランジスタのソース又はドレインの一方に電気的に接続されていることを特徴とする画像表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 3 ,
The first pixel circuit includes a first capacitor element,
The second pixel circuit includes a second capacitor element,
A first electrode of the first capacitor is electrically connected to a gate of the first driving transistor;
A second electrode of the first capacitor is electrically connected to one of a source and a drain of the first driving transistor;
A first electrode of the second capacitor element is electrically connected to a gate of the second driving transistor;
The image display device, wherein the second electrode of the second capacitor element is electrically connected to one of a source and a drain of the second driving transistor.
請求項1乃至請求項のいずれか一項において、
前記検査領域は、前記表示領域の外縁部に設けられていることを特徴とする画像表示装置。
In any one of Claims 1 thru | or 4 ,
The image display device, wherein the inspection area is provided at an outer edge of the display area.
請求項1乃至請求項のいずれか一項に記載の前記画像表示装置を用いた電子機器。 An electronic apparatus using the image display device according to any one of claims 1 to 5 .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100698689B1 (en) * 2004-08-30 2007-03-23 삼성에스디아이 주식회사 Light emitting display and fabrication method thereof
JP4848628B2 (en) * 2004-09-29 2011-12-28 セイコーエプソン株式会社 Organic electroluminescence equipment, electronic equipment
KR100711883B1 (en) 2005-04-28 2007-04-25 삼성에스디아이 주식회사 Light emitting display and fabricating method
US9318053B2 (en) * 2005-07-04 2016-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and driving method thereof
KR100708715B1 (en) 2005-09-30 2007-04-17 삼성에스디아이 주식회사 Organic light emitting display apparatus
KR101337459B1 (en) 2006-02-03 2013-12-06 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Display device and electronic apparatus having the display device
JP5127244B2 (en) * 2006-02-03 2013-01-23 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device and electronic apparatus including the display device
JP4860699B2 (en) * 2006-08-31 2012-01-25 シャープ株式会社 Display panel and display device having the same
JP2008083529A (en) * 2006-09-28 2008-04-10 Seiko Epson Corp Active matrix substrate, inspection method of active matrix substrate, and electro-optical device
KR101450796B1 (en) * 2008-02-15 2014-10-14 삼성디스플레이 주식회사 Display substrate and display panel having the same
JP5243938B2 (en) * 2008-12-15 2013-07-24 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション Display device and display method
JP2012073498A (en) * 2010-09-29 2012-04-12 Casio Comput Co Ltd Light emitting device and driving control method thereof, and electronic equipment
JP6653593B2 (en) * 2016-02-29 2020-02-26 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 Display device and display device inspection method

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999060558A1 (en) * 1998-05-20 1999-11-25 Seiko Epson Corporation Electrooptic device, electronic device, and driver circuit for electrooptic device
JP2000269507A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Seiko Epson Corp Inspection method of semiconductor device and the semiconductor device
JP2002116423A (en) * 2000-10-10 2002-04-19 Sharp Corp Liquid crystal display device and its inspecting method
JP2002174655A (en) * 2000-12-07 2002-06-21 Seiko Epson Corp Method and circuit for inspecting electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment
JP2003114658A (en) * 2001-10-04 2003-04-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device and its inspection method
JP2004145224A (en) * 2002-10-28 2004-05-20 Seiko Epson Corp Electro-optic device, method of driving the same and electronic equipment

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2618042B2 (en) * 1989-06-15 1997-06-11 松下電子工業株式会社 Inspection method for image display device
JPH04225317A (en) * 1990-12-27 1992-08-14 Casio Comput Co Ltd Active matrix liquid crystal display element
JPH10339887A (en) * 1997-06-09 1998-12-22 Hitachi Ltd Active matrix type liquid crystal display device
JPH11167123A (en) * 1997-09-30 1999-06-22 Sanyo Electric Co Ltd Display device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999060558A1 (en) * 1998-05-20 1999-11-25 Seiko Epson Corporation Electrooptic device, electronic device, and driver circuit for electrooptic device
JP2000269507A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Seiko Epson Corp Inspection method of semiconductor device and the semiconductor device
JP2002116423A (en) * 2000-10-10 2002-04-19 Sharp Corp Liquid crystal display device and its inspecting method
JP2002174655A (en) * 2000-12-07 2002-06-21 Seiko Epson Corp Method and circuit for inspecting electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment
JP2003114658A (en) * 2001-10-04 2003-04-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device and its inspection method
JP2004145224A (en) * 2002-10-28 2004-05-20 Seiko Epson Corp Electro-optic device, method of driving the same and electronic equipment

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