JP2004191603A - Display device, and method for inspecting the same - Google Patents

Display device, and method for inspecting the same Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an active matrix type EL display device capable of confirming the operation of a TFT substrate before the film formation of an EL material, thereby improving the non-defectiveness of finished products and reducing its cost. <P>SOLUTION: A switch is provided on the tip of a pixel electrode connected to a driving TFT in a pixel part, and an inspecting wiring is connected the tip of the switch. In the inspection, the switch is turned ON, and the potential of the pixel electrode or a current value supplied to the pixel electrode is confirmed through the inspecting wiring, thereby confirming that the pixel is normally operating. Thus, it is possible to remove defective products before the EL film formation to reduce the manufacturing cost. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光素子を基板上に作りこんで形成された電子ディスプレイ(電気光学装置)に関する。特に半導体素子(半導体薄膜を用いた素子)を用いた表示装置に関する。また発光素子を用いた表示装置を表示部に用いた電子機器に関する。また、発光素子を用いた表示装置の検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、基板上に薄膜トランジスタ(以後、TFTと表記する)を形成する技術が大幅に進歩し、アクティブマトリクス型表示装置への応用開発が進められている。特に、ポリシリコン膜を用いたTFTは、従来のアモルファスシリコン膜を用いたTFTよりも電界効果移動度(モビリティともいう)が高いので、高速動作が可能である。そのため、従来、基板外の駆動回路で行っていた画素の制御を、同一の基板上に形成した駆動回路で行うことが可能となっている。
【0003】
このようなアクティブマトリクス型表示装置は、同一基板上にさまざまな回路や素子を作りこむことで製造のコストの低減、表示装置の小型化、歩留まりの上昇、スループットの低減など、様々な利点が得られる。
【0004】
そしてさらに、自発光型素子として、EL素子を有した、アクティブマトリクス型のEL表示装置を研究が活発化している。EL表示装置は有機ELディスプレイ(OELD:Organic EL Display)又は有機ライトエミッティングダイオード(OLED:Organic Light Emitting Diode)とも呼ばれている。
【0005】
一般に、EL素子に流す電流値とEL素子の輝度は比例関係にある。そのため電圧値で輝度を制御するLCDとはことなる画素構成が提案されている(特許文献1参照)。
【0006】
ところで、画素がマトリクス状に並んだ表示装置は、その製造工程で配線の断線や短絡など、何らかの不具合が発生することがある。そのため製造工程中で電気的な検査をすることが多い(特許文献2参照)。
【0007】
【特許文献1】
国際公開第01/06484号パンフレット
【特許文献2】
特許第2618042号明細書
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
従来のEL表示装置は、図4に示すように、画素部の駆動TFT400のソース・ドレイン端子のうち、一方を電源供給線401と接続し、他方の端子(画素電極)は発光素子402に接続されているのみであった。
【0009】
ここで、画素TFT(スイッチング用TFT及び、駆動TFT)や、駆動回路(ソース信号線駆動回路及びゲート信号線駆動回路)を構成するTFTが、絶縁表面を有する基板上に形成され、その後、EL材料を成膜して、駆動用TFTとEL素子とが電気的に接続される。
【0010】
よって、従来の表示装置においては、EL材料を成膜する前において、駆動用TFTのソース・ドレイン端子のうち、電源供給線とは接続されていない側の端子(画素電極)は回路上、オープン状態になっている。EL材料を成膜し、表示装置を完成させ、点灯検査を行うまでは、駆動TFTが正常に動作するか判断することは難しかった。そのため、駆動TFTや駆動TFTよりも先の発光素子が成膜される端子部で異常があり、正常に表示できないものがあったとしても、最終工程まで検出が出来ずに、工程の無駄を発生させていた。
【0011】
以上に述べたように、従来のEL表示装置では、EL材料成膜の前工程において、駆動TFTや駆動TFTよりも先の画素電極での異状が確認できず、不要な製造コストを発生させていた。
【0012】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、発光素子の成膜前に画素回路を含めた表示装置全体が正常に動作するかを検出出来るアクティブマトリクス型の表示装置を提供出来ることを課題とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、以上のような問題点を解決するため、EL材料を成膜する前に、画素回路を含めた表示装置が正常に動作するか検査し、問題があった基板が次のEL材料の成膜の工程に進まないようにして、製造費用を削減することを考えた。
【0014】
なお、本明細書中において、発光素子の例として、エレクトロルミネッセンス(EL)素子を例に説明していることがあるが、発光素子はEL素子とは限らず、電極に電圧を加える、あるいは電流を流すことで表示状況が変化する素子であればどのようなものでもよい。また、EL素子とは、一重項励起素子からの発光(蛍光)を利用するものと、三重項励起素子からの発光(燐光)を利用するものの両方を示すものとする。
【0015】
本発明によって、基板上に、画素をマトリクス状に配置したアクティブマトリクスEL表示装置において、各画素の駆動TFTのソース・ドレイン端子のうち、一方が電源供給線に電気的に接続され、他方にスイッチが接続され、前記スイッチを介して、検査用配線が前記基板の外部に引き出していることを特徴としているEL表示装置を提供する。
【0016】
前記スイッチは、全て同時に開閉がなされるように、前記スイッチを制御する端子が、全て同じ端子に接続されて、前記基板の外部から、信号が入力されることを特徴とするEL表示装置でもよい。
【0017】
前記スイッチを介して、駆動TFTと接続されている検査用配線は、画素内で利用している配線と共用でもよい
【0018】
前記スイッチを介して、駆動TFTと接続されている検査用配線は、表示装置がカラー表示であり、画素内の電源供給線が各色で異なり、複数存在する場合は、隣接する画素の電源供給線と共用でもよい。
【0019】
本発明によって、基板上に作製された前記アクティブマトリクス型EL表示装置において、発光素子を成膜する前に、一画素ずつ動作させたときに、スイッチを通過して流れる電流量、あるいは電圧値を検出することで、駆動TFTの特性異常などの不良や、発光素子が成膜される前の工程におけるパターニング不良や工程上で生じたゴミなどによる画素電極と電源供給線やソース信号線等とのショートなどによる不良の有無を全ての画素について検査する方法が提供される。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の表示装置の構造及びその検査方法について説明する。なお、本発明において表示装置に用いるトランジスタは、種類を限定しない。例えば、MOSトランジスタ、アモルファスシリコンTFT、ポリシリコンTFT、分子トランジスタ、有機トランジスタ、バイポーラトランジスタなどどれをもちいてもよい。また、TFTの場合、構造を限定する必要はなく、例えばプレーナ型や逆スタガ型といった構造のTFTを用いてもよい。また、トランジスタの極性は限定せず、N型トランジスタでもP型トランジスタでもどちらでもよい。
【0021】
また、本発明において表示装置に用いるスイッチは、二つの端子間に電流が流れる状態と流れない状態を持つ。本文では流れる状態をONすると呼び、流れない状態をOFFすると呼ぶ。二つの端子をそれぞれ第一の端子、第二の端子と呼ぶ。また、ONとOFFを制御する端子を制御端子と呼ぶ。ただし、制御端子は必ずしも図示しない。また、スイッチ素子の構造は特に限定しない。例えば、MOSトランジスタ、アモルファスシリコンTFT、ポリシリコンTFT、分子トランジスタ、有機トランジスタ、バイポーラトランジスタなどどれをもちいてもよい。
さらに、本発明で用いる駆動回路も公知なものを用いればよい。
【0022】
図1に本発明の実施形態を示す。図1は、本発明の表示装置の画素部の構成である。
【0023】
電源供給線101、発光素子の駆動に用いられる駆動用TFT100、発光素子102、検査時と通常駆動時との切り替えに用いられるスイッチ103、検査用配線104、対向電極105で構成される。なお、検査段階では発光素子102、および、対向電極105は無くてもよい。
【0024】
電源供給線101に駆動用TFT100のソース・ドレイン端子のうちの一方の端子が接続され、他方の端子に発光素子102の一方の電極(以下、画素電極と表記する)が接続され、発光素子の他方の電極に対向電極が接続され、画素電極と検査用配線の間にスイッチが接続される。スイッチを制御する端子には、図では何も接続されていないが、検査時と、通常の駆動時との切り替えが出来れば、どの様に接続されてもかまわない。また、駆動用TFTのゲートに接続される端子は、図では表記されていないが、特に限定せず、画素の構成によって異なる。
【0025】
なお、図1では電源供給線と駆動TFTを直接接続したが、二つが電気的に接続されていればよく、直接接続せずに間に電流制御用の素子などを挿入してもよい。
【0026】
次に、本実施形態の動作について図1を参照しながら説明する。
【0027】
まず、パネルが通常動作するときについて、このとき、スイッチ103はOFFし、スイッチを非導通にし、電流が流れないようにする。そして、駆動用TFT100のゲート端子に入力される信号により、発光素子に流れる電流が制御され、階調が表示される。ただし、このとき画素の駆動方式は問わない。例えば発光素子に一定の電流が流れるように制御される定電流駆動方式であってもよいし、発光素子に一定の電圧がかかるように制御される定電圧駆動方式であってもよい。
【0028】
次に、パネルを検査するときの動作について説明する。パネルが検査されるときには、発光素子、および、対向電極は無くてもよいため、ここでは無いものとして考える。まず、スイッチ103をONにし、スイッチを導通させる。そして、画素が通常に動作するときと同様に該画素に信号を入力し、駆動TFT100を動作させる。このとき、発光素子および対向電極があり、スイッチ103がOFFならば発光素子にかかるはずの電圧値あるいは電流値が、スイッチ103が導通し、発光素子および対向電極が無いため、前記発光素子にかかるべき電圧値あるいは電流値が検査用配線を通して、検査することが出来る。なお、定電圧駆動方式の場合は電圧値を検査すればよいし、定電流駆動方式の場合は電流値を検査すればよい。
【0029】
画素がマトリクス状に配置されている場合において、検査用配線が他の画素と共用であるときは、検査用配線が共用である画素のうち検査対象となる一つの画素を除くすべての画素の駆動用TFTをOFFし電流が流れないようにして、検査対象となる一つ画素の駆動用TFTを駆動させて、検査することで、一つの画素ずつ検査することができ、全ての画素に異常がないか検査することが出来る。
【0030】
本実施形態の具体的な例を図2に示す。
【0031】
図2は、電源供給線201、画素に映像信号を入力するソース信号線206、発光素子の駆動に用いられる駆動用TFT200、発光素子202、検査時と通常駆動時との切り替えに用いられるスイッチ203、検査用配線204、対向電極205、書込用のゲート信号が入力される書込用ゲート信号線207、ビデオ信号で入力された電位を保持するための容量素子208、ビデオ信号の入力を制御する書込用TFT209によって構成されている。なお、検査する段階では、発光素子202、および対向電極205は無くてもよい。
【0032】
書込用TFT209のゲート端子に書込用ゲート信号線207が接続され、ソース・ドレイン端子のうち一方にソース信号線206が接続され、他方に駆動用TFT200のゲート端子が接続され、駆動用TFT200のソース・ドレイン端子のうち一方に電源供給線201が接続され、他方に発光素子202の一方の電極(以下、画素電極と表記する)が接続され、発光素子の他方の電極に対向電極205が接続され、駆動用TFT200のゲート端子と電源供給線201との間に容量素子208が接続され、上記画素電極にスイッチ203の一方の端子が接続され、他方に検査用配線204が接続される。
【0033】
なお、ここではスイッチ203を制御する信号線を図示していないが、スイッチ203を制御する信号線の入力方法は限定しない。例えば、ソース信号線と平行に入力してもよいし、ゲート信号線と平行に入力してもよい。
【0034】
書込用TFT209、駆動TFT200は共にシングルゲート構造で書かれているが、TFTを2つ以上直列につないだマルチゲート構造でもよいし、TFTを2つ以上並列につないだマルチチャネル構造でもよい。
【0035】
図2の画素構成のときの動作および、検査方法について説明する。図2の画素構成は、公知なものである図4の構成にスイッチ203と検査用配線204を追加したものである。通常に動作させるときには、スイッチ203をOFFさせて、画素電極と検査用配線204を非導通にする。このときの接続関係は図4と同じであり、駆動方法は公知なものを用いればよい。次に、検査方法を説明する。発光素子202および対向電極205は無いものとし、スイッチ203をONにして、画素電極と検査用配線204を導通させる。そして、検査用配線が共用である画素のうち、検査したい画素を除いた全ての画素の駆動用TFTに電流が流れないようなビデオ信号を入力し、検査したい画素に、発光素子および対向電極が作製されたあとであれば発光するようなビデオ信号を入力し、駆動TFTを駆動させて、その時画素電極からスイッチ203を介して検査用配線にかかる電圧値、あるいは検査用配線を流れる電流値を検査し、該画素が正常であるか検査をする。
【0036】
画素の構成は図3のように、電源供給線と駆動用TFTのゲート端子との間に消去用TFT311と消去用TFTを制御する消去用ゲート信号線310を加えた構成でもよい。
【0037】
表示装置がカラー表示で、電源供給線が複数の種類ある場合は、図5で示されるように、検査用配線と隣の画素の電源供給線とを共用にした構成でもよい。このように、電源供給線と検査用配線を共用にしたときにおいて、図5のように配列されていたとすると、3列あるうちの真ん中の緑色電源供給線gに接続されている画素の検査をするときには、該画素中のスイッチ503接続されている電源供給線rは検査用配線として利用し、電源は供給しない。
【0038】
また、図示していないが、カラー表示で電源供給線が複数の種類ある場合は、図3の画素の回路構成において、検査用配線と隣接する画素の電源供給線とを共用にしてもよい。
【0039】
【実施例】
以下に、本発明の実施例について記載する。
【0040】
[実施例1]
本実施例においては、実施形態で示した表示装置の構成のなかで、図5で示される画素構成のものについて説明する。図6に表示装置の構成例を示す。基板611上に、複数の画素613がm行n列のマトリクス状に配置された表示部612を有し、表示部612の周辺には、信号線駆動回路614、行選択線駆動回路615を有している。S1〜Snで表記されたソース信号線606は画素613と列に対応して接続しており、信号線駆動回路614と接続されている。またG1〜Gmで表記された書込用ゲート信号線607は画素613と行に対応して接続しており、行選択回路615と接続されている。信号線駆動回路614、行選択回路615、はFPCコンタクト部616と接続されている。3つの電源供給線601r、601g、601b、および、スイッチ駆動信号線617はFPCコンタクト部615から直接画素に接続されている。また、実際にはクロック信号線や電源線等が存在するが、ここでは省略する。
【0041】
上記半導体装置を表示装置として電子機器に搭載して使う場合、FPCコンタクト部616にフレキシブルケーブルなどを貼り付けし、電源や信号源と接続する。
【0042】
製造工程中での検査をする場合、FPCコンタクト部316に複数の針で構成されたコンタクトプローブ621を接触させ、検査装置622と電気的に接続する。検査装置622は外部駆動回路623と測定機器624を有する。外部駆動回路623は検査対象である半導体装置に電源や信号を供給する。また、測定機器624は検査用配線として利用されている電源供給線の電圧値あるいは、電流値を測定する。測定結果から、各画素が正常に動作しているかが調べられる。
【0043】
[実施例2]
本発明の表示装置を用いた電子機器として、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile Disc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうるディスプレイを備えた装置)などが挙げられる。特に、斜め方向から画面を見る機会が多い携帯情報端末は、視野角の広さが重要視されるため、自発光型の表示装置を用いることが望ましい。それら電子機器の具体例を図7に示す。なお、ここで示す電子装置はごく一例であり、これらの用途に限定するものではない。
【0044】
図7(A)はディスプレイであり、筐体2001、支持台2002、表示部2003、スピーカー部2004、ビデオ入力端子2005等を含む。本発明の表示装置は表示部2003に用いることが出来る。また本発明により、図7(A)に示すディスプレイが完成される。本発明の表示装置は自発光型であるためバックライトが必要なく、液晶ディスプレイよりも薄い表示部とすることが出来る。なお、ディスプレイは、パソコン用、TV放送受信用、広告表示用などの全ての情報表示用表示装置が含まれる。
【0045】
図7(B)はデジタルスチルカメラであり、本体2101、表示部2102、受像部2103、操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッター2106等を含む。本発明の表示装置は表示部2102に用いることが出来る。また本発明により、図7(B)に示すデジタルスチルカメラが完成される。
【0046】
図7(C)はノート型パーソナルコンピュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2203、キーボード2204、外部接続ポート2205、ポインティングマウス2206等を含む。本発明の表示装置は表示部2203に用いることが出来る。また本発明により、図7(C)に示すノート型パーソナルコンピュータが完成される。
【0047】
図7(D)はモバイルコンピュータであり、本体2301、表示部2302、スイッチ2303、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含む。本発明の表示装置は表示部2302に用いることが出来る。また本発明により、図7(D)に示すモバイルコンピュータが完成される。
【0048】
図7(E)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部2405、操作キー2406、スピーカー部2407等を含む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発明の表示装置はこれら表示部A、B2403、2404に用いることが出来る。なお、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器なども含まれる。また本発明により、図7(E)に示すDVD再生装置が完成される。
【0049】
図7(F)はゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプレイ)であり、本体2501、表示部2502、アーム部2503を含む。本発明の表示装置は表示部2502に用いることが出来る。また本発明により、図7(F)に示すゴーグル型ディスプレイが完成される。
【0050】
図7(G)はビデオカメラであり、本体2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポート2604、リモコン受信部2605、受像部2606、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キー2609等を含む。本発明の表示装置は表示部2602に用いることが出来る。また本発明により、図7(G)に示すビデオカメラが完成される。
【0051】
ここで図7(H)は携帯電話であり、本体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力部2704、音声出力部2705、操作キー2706、外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。本発明の表示装置は表示部2703に用いることが出来る。なお、表示部2703は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消費電流を抑えることが出来る。また本発明により、図7(H)に示す携帯電話が完成される。
【0052】
なお、将来的に発光材料の発光輝度が高くなれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用いることも可能となる。
【0053】
また、上記電子機器はインターネットやCATV(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情報を表示する機会が増してきている。発光材料の応答速度は非常に高いため、本発明の表示装置は動画表示に好ましい。
【0054】
また、本発明の表示装置は発光している部分が電力を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報を表示することが望ましい。従って、携帯情報端末、特に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とする表示部に表示装置を用いる場合には、非発光部分を背景として文字情報を発光部分で形成するように駆動することが望ましい。
【0055】
以上の様に、本発明の適用範囲は極めて広く、あらゆる分野の電子機器に用いることが可能である。また本実施例の電子機器は、実施例1に示した構成を用いることが出来る。
【発明の効果】
本発明によると、全ての画素回路が正常に動作するかを簡単に検査することが出来る。これにより、不良品を発光素子が成膜される前に除去可能であり、製造費用の削減を図ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図2】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図3】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図4】従来の画素部の回路構成を示す図。
【図5】本発明の画素部の回路構成を示す図。
【図6】本発明の実施例を示す図。
【図7】本発明が適用可能な電子機器の例を示す図。
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic display (electro-optical device) formed by forming a light emitting element on a substrate. In particular, the present invention relates to a display device using a semiconductor element (an element using a semiconductor thin film). Further, the present invention relates to an electronic device in which a display device using a light-emitting element is used for a display portion. Further, the present invention relates to a method for inspecting a display device using a light-emitting element.
[0002]
[Prior art]
In recent years, a technique for forming a thin film transistor (hereinafter, referred to as a TFT) on a substrate has been greatly advanced, and application development to an active matrix display device has been advanced. In particular, a TFT using a polysilicon film has higher field-effect mobility (also referred to as mobility) than a TFT using a conventional amorphous silicon film, and thus can operate at high speed. Therefore, the control of the pixels, which has been conventionally performed by the driving circuit outside the substrate, can be performed by the driving circuit formed on the same substrate.
[0003]
Such an active matrix type display device has various advantages such as manufacturing cost reduction, miniaturization of display device, increase in yield, and reduction in throughput by forming various circuits and elements on the same substrate. Can be
[0004]
Further, active matrix EL display devices having EL elements as self-luminous elements have been actively studied. An EL display device is also called an organic EL display (OELD: Organic EL Display) or an organic light emitting diode (OLED: Organic Light Emitting Diode).
[0005]
Generally, the current value flowing through the EL element and the luminance of the EL element are in a proportional relationship. For this reason, a pixel configuration different from an LCD that controls luminance by a voltage value has been proposed (see Patent Document 1).
[0006]
By the way, in a display device in which pixels are arranged in a matrix, some trouble such as disconnection or short circuit of wiring may occur in a manufacturing process. Therefore, electrical inspection is often performed during the manufacturing process (see Patent Document 2).
[0007]
[Patent Document 1]
International Publication No. 01/06484 pamphlet [Patent Document 2]
Patent No. 2618042 Specification [0008]
[Problems to be solved by the invention]
In a conventional EL display device, as shown in FIG. 4, one of a source / drain terminal of a driving TFT 400 in a pixel portion is connected to a power supply line 401, and the other terminal (pixel electrode) is connected to a light emitting element 402. Was only being done.
[0009]
Here, pixel TFTs (switching TFTs and driving TFTs) and TFTs forming driving circuits (a source signal line driving circuit and a gate signal line driving circuit) are formed over a substrate having an insulating surface. A material is formed into a film, and the driving TFT and the EL element are electrically connected.
[0010]
Therefore, in the conventional display device, before the EL material is formed, the terminal (pixel electrode) of the source / drain terminal of the driving TFT which is not connected to the power supply line is open on the circuit. It is in a state. Until an EL material is formed, a display device is completed, and a lighting test is performed, it is difficult to determine whether the driving TFT operates normally. Therefore, even if there is an abnormality in the driving TFT or a terminal portion on which the light emitting element before the driving TFT is formed and a display cannot be performed normally, it is not possible to detect until the final process, resulting in waste of the process. I was letting it.
[0011]
As described above, in the conventional EL display device, in the pre-process of forming the EL material, no abnormality can be confirmed in the driving TFT or the pixel electrode before the driving TFT, and unnecessary manufacturing cost is generated. Was.
[0012]
The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to provide an active matrix display device that can detect whether or not the entire display device including a pixel circuit operates normally before forming a light emitting element. As an issue.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problems, the inventor of the present invention inspects whether a display device including a pixel circuit operates normally before forming an EL material. It was conceived to reduce the manufacturing cost by not proceeding to the material film formation process.
[0014]
Note that in this specification, an electroluminescence (EL) element may be described as an example of a light-emitting element; however, a light-emitting element is not limited to an EL element, and a voltage may be applied to an electrode or a current may be applied. Any element may be used as long as the display state changes when the element flows. An EL element refers to both an element utilizing light emission (fluorescence) from a singlet excitation element and an element utilizing light emission (phosphorescence) from a triplet excitation element.
[0015]
According to the present invention, in an active matrix EL display device in which pixels are arranged in a matrix on a substrate, one of source and drain terminals of a driving TFT of each pixel is electrically connected to a power supply line, and the other is a switch. Is connected, and the inspection wiring is drawn out of the substrate via the switch.
[0016]
In the EL display device, all the switches may be simultaneously opened and closed, and terminals for controlling the switches are all connected to the same terminal, and a signal is input from outside the substrate. .
[0017]
The inspection wiring connected to the driving TFT via the switch may be shared with the wiring used in the pixel.
The inspection wiring connected to the driving TFT via the switch is such that the display device is a color display, and the power supply lines in the pixels are different for each color. And may be shared.
[0019]
According to the present invention, in the active matrix EL display device manufactured on the substrate, before operating the light emitting element, when operating one pixel at a time, the amount of current or voltage flowing through the switch is reduced. By detecting this, a defect such as a characteristic abnormality of the driving TFT, a patterning defect in a process before the light emitting element is formed, or a defect between the pixel electrode and the power supply line or the source signal line due to dust generated in the process. A method is provided for inspecting all pixels for the presence or absence of a defect such as a short circuit.
[0020]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the structure of the display device of the present invention and the inspection method thereof will be described. Note that the type of a transistor used for a display device in the present invention is not limited. For example, any of a MOS transistor, an amorphous silicon TFT, a polysilicon TFT, a molecular transistor, an organic transistor, and a bipolar transistor may be used. In the case of a TFT, the structure does not need to be limited. For example, a TFT of a planar type or an inverted stagger type may be used. The polarity of the transistor is not limited, and either an N-type transistor or a P-type transistor may be used.
[0021]
The switch used for the display device in the present invention has a state where current flows between two terminals and a state where current does not flow. In the text, a flowing state is called ON, and a non-flowing state is called OFF. The two terminals are called a first terminal and a second terminal, respectively. A terminal for controlling ON and OFF is called a control terminal. However, the control terminal is not necessarily shown. The structure of the switch element is not particularly limited. For example, any of a MOS transistor, an amorphous silicon TFT, a polysilicon TFT, a molecular transistor, an organic transistor, and a bipolar transistor may be used.
Further, a known driving circuit may be used for the present invention.
[0022]
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a configuration of a pixel portion of a display device of the present invention.
[0023]
It comprises a power supply line 101, a driving TFT 100 used for driving the light emitting element, a light emitting element 102, a switch 103 used for switching between inspection and normal driving, an inspection wiring 104, and a counter electrode 105. In the inspection stage, the light emitting element 102 and the counter electrode 105 may not be provided.
[0024]
One of the source / drain terminals of the driving TFT 100 is connected to the power supply line 101, one electrode (hereinafter, referred to as a pixel electrode) of the light emitting element 102 is connected to the other terminal, and A counter electrode is connected to the other electrode, and a switch is connected between the pixel electrode and the inspection wiring. Nothing is connected to the terminal for controlling the switch in the figure, but any connection can be made as long as it can be switched between the time of inspection and the time of normal driving. Further, a terminal connected to the gate of the driving TFT is not shown in the drawing, but is not particularly limited, and differs depending on the configuration of the pixel.
[0025]
In FIG. 1, the power supply line and the driving TFT are directly connected. However, the two may be electrically connected, and a current controlling element or the like may be inserted between the two without directly connecting.
[0026]
Next, the operation of the present embodiment will be described with reference to FIG.
[0027]
First, when the panel normally operates, at this time, the switch 103 is turned off, the switch is turned off, and current does not flow. Then, the current flowing through the light emitting element is controlled by a signal input to the gate terminal of the driving TFT 100, and a gray scale is displayed. However, at this time, the driving method of the pixel does not matter. For example, a constant current driving method in which a constant current is controlled to flow through the light emitting element or a constant voltage driving method in which a constant voltage is controlled to apply to the light emitting element may be used.
[0028]
Next, the operation when inspecting the panel will be described. When the panel is inspected, the light-emitting element and the counter electrode may not be provided, and therefore, it is considered that they are not provided here. First, the switch 103 is turned on to make the switch conductive. Then, a signal is input to the pixel in the same manner as when the pixel normally operates, and the driving TFT 100 is operated. At this time, there is a light emitting element and a counter electrode, and if the switch 103 is turned off, the voltage or current value that should be applied to the light emitting element is applied to the light emitting element because the switch 103 conducts and there is no light emitting element and the counter electrode. The required voltage value or current value can be inspected through the inspection wiring. In the case of the constant voltage driving method, the voltage value may be inspected. In the case of the constant current driving method, the current value may be inspected.
[0029]
When the pixels are arranged in a matrix and the inspection wiring is shared with other pixels, all pixels except the one pixel to be inspected among the pixels sharing the inspection wiring are driven. The test TFT is turned off so that no current flows, and the driving TFT of one pixel to be inspected is driven and inspected, so that it is possible to inspect one pixel at a time and all the pixels are abnormal. Can be checked for
[0030]
FIG. 2 shows a specific example of the present embodiment.
[0031]
FIG. 2 shows a power supply line 201, a source signal line 206 for inputting a video signal to a pixel, a driving TFT 200 used for driving a light emitting element, a light emitting element 202, and a switch 203 used for switching between inspection and normal driving. , An inspection wiring 204, a counter electrode 205, a write gate signal line 207 to which a write gate signal is input, a capacitor 208 for holding a potential input by a video signal, and control of input of a video signal And a writing TFT 209. At the stage of inspection, the light emitting element 202 and the counter electrode 205 may not be provided.
[0032]
A writing gate signal line 207 is connected to a gate terminal of the writing TFT 209, a source signal line 206 is connected to one of source / drain terminals, a gate terminal of the driving TFT 200 is connected to the other, and a driving TFT 200 is connected. The power supply line 201 is connected to one of the source / drain terminals, the other electrode of the light emitting element 202 (hereinafter, referred to as a pixel electrode) is connected to the other, and the counter electrode 205 is connected to the other electrode of the light emitting element. The capacitor 208 is connected between the gate terminal of the driving TFT 200 and the power supply line 201, one terminal of the switch 203 is connected to the pixel electrode, and the inspection wiring 204 is connected to the other.
[0033]
Although a signal line for controlling the switch 203 is not illustrated here, an input method of the signal line for controlling the switch 203 is not limited. For example, the signal may be input in parallel with the source signal line or in parallel with the gate signal line.
[0034]
Although both the writing TFT 209 and the driving TFT 200 are written in a single gate structure, they may have a multi-gate structure in which two or more TFTs are connected in series, or a multi-channel structure in which two or more TFTs are connected in parallel.
[0035]
An operation and an inspection method in the pixel configuration of FIG. 2 will be described. The pixel configuration in FIG. 2 is obtained by adding a switch 203 and an inspection wiring 204 to the known configuration in FIG. For normal operation, the switch 203 is turned off to make the pixel electrode and the inspection wiring 204 non-conductive. The connection at this time is the same as that in FIG. 4, and a known driving method may be used. Next, the inspection method will be described. The light emitting element 202 and the counter electrode 205 are not provided, and the switch 203 is turned on to conduct the pixel electrode and the inspection wiring 204. Then, among the pixels sharing the inspection wiring, a video signal is input so that no current flows to the driving TFTs of all the pixels except the pixel to be inspected, and the light-emitting element and the counter electrode are applied to the pixel to be inspected. A video signal that emits light after input is input, and the driving TFT is driven. At this time, a voltage value applied to the inspection wiring from the pixel electrode via the switch 203 or a current value flowing through the inspection wiring is determined. An inspection is performed to check whether the pixel is normal.
[0036]
As shown in FIG. 3, the pixel may have a configuration in which an erasing TFT 311 and an erasing gate signal line 310 for controlling the erasing TFT are added between the power supply line and the gate terminal of the driving TFT.
[0037]
When the display device is a color display and has a plurality of types of power supply lines, as shown in FIG. 5, a configuration may be adopted in which the inspection wiring and the power supply line of the adjacent pixel are shared. As described above, when the power supply line and the inspection line are shared, and if they are arranged as shown in FIG. 5, the inspection of the pixel connected to the middle green power supply line g in the three columns is performed. In this case, the power supply line r connected to the switch 503 in the pixel is used as a test wiring, and no power is supplied.
[0038]
Although not shown, when there are a plurality of types of power supply lines in color display, the inspection wiring and the power supply lines of adjacent pixels may be shared in the circuit configuration of the pixel in FIG.
[0039]
【Example】
Hereinafter, examples of the present invention will be described.
[0040]
[Example 1]
In this example, among the configurations of the display device described in the embodiment, a pixel configuration illustrated in FIG. 5 will be described. FIG. 6 illustrates a configuration example of a display device. A display portion 612 in which a plurality of pixels 613 are arranged in a matrix of m rows and n columns is provided over a substrate 611, and a signal line driver circuit 614 and a row selection line driver circuit 615 are provided around the display portion 612. are doing. The source signal lines 606 denoted by S1 to Sn are connected to the pixels 613 corresponding to the columns, and are connected to the signal line driver circuit 614. The write gate signal lines 607 denoted by G1 to Gm are connected to the pixels 613 corresponding to the rows, and are connected to the row selection circuit 615. The signal line driver circuit 614 and the row selection circuit 615 are connected to the FPC contact section 616. The three power supply lines 601r, 601g, 601b, and the switch drive signal line 617 are directly connected to the pixel from the FPC contact portion 615. Although a clock signal line and a power supply line actually exist, they are omitted here.
[0041]
When the semiconductor device is mounted on an electronic device as a display device and used, a flexible cable or the like is attached to the FPC contact portion 616 and connected to a power source or a signal source.
[0042]
When an inspection is performed during the manufacturing process, a contact probe 621 including a plurality of needles is brought into contact with the FPC contact portion 316, and is electrically connected to the inspection device 622. The inspection device 622 includes an external drive circuit 623 and a measurement device 624. The external drive circuit 623 supplies power and signals to the semiconductor device to be inspected. The measuring device 624 measures a voltage value or a current value of a power supply line used as a test wiring. From the measurement result, it is checked whether each pixel is operating normally.
[0043]
[Example 2]
As an electronic device using the display device of the present invention, a video camera, a digital camera, a goggle-type display (head-mounted display), a navigation system, a sound reproducing device (car audio, audio component, etc.), a notebook personal computer, a game device, A portable information terminal (mobile computer, mobile phone, portable game machine or electronic book, etc.), an image reproducing apparatus equipped with a recording medium (specifically, a recording medium such as a digital versatile disc (DVD) is reproduced, and the image is reproduced. Device equipped with a display capable of displaying). In particular, it is desirable to use a self-luminous display device for a portable information terminal in which a screen is often viewed from an oblique direction, since a wide viewing angle is important. FIG. 7 shows specific examples of these electronic devices. Note that the electronic device shown here is merely an example, and is not limited to these applications.
[0044]
FIG. 7A illustrates a display, which includes a housing 2001, a support base 2002, a display portion 2003, a speaker portion 2004, a video input terminal 2005, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 2003. According to the present invention, the display shown in FIG. 7A is completed. Since the display device of the present invention is a self-luminous type, it does not require a backlight and can be a display portion thinner than a liquid crystal display. The display includes all information display devices for personal computers, TV broadcast reception, advertisement display, and the like.
[0045]
FIG. 7B illustrates a digital still camera, which includes a main body 2101, a display portion 2102, an image receiving portion 2103, operation keys 2104, an external connection port 2105, a shutter 2106, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 2102. According to the present invention, a digital still camera shown in FIG. 7B is completed.
[0046]
FIG. 7C illustrates a laptop personal computer, which includes a main body 2201, a housing 2202, a display portion 2203, a keyboard 2204, an external connection port 2205, a pointing mouse 2206, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 2203. According to the present invention, a notebook personal computer shown in FIG. 7C is completed.
[0047]
FIG. 7D illustrates a mobile computer, which includes a main body 2301, a display portion 2302, a switch 2303, operation keys 2304, an infrared port 2305, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 2302. According to the present invention, the mobile computer shown in FIG. 7D is completed.
[0048]
FIG. 7E illustrates a portable image reproducing device (specifically, a DVD reproducing device) including a recording medium, which includes a main body 2401, a housing 2402, a display portion A 2403, a display portion B 2404, and a recording medium (such as a DVD). A reading unit 2405, operation keys 2406, a speaker unit 2407, and the like are included. The display portion A 2403 mainly displays image information, and the display portion B 2404 mainly displays character information. The display device of the present invention can be used for these display portions A, B 2403, and 2404. Note that the image reproducing device provided with the recording medium includes a home game machine and the like. According to the present invention, the DVD reproducing device shown in FIG. 7E is completed.
[0049]
FIG. 7F illustrates a goggle-type display (head-mounted display), which includes a main body 2501, a display portion 2502, and an arm portion 2503. The display device of the present invention can be used for the display portion 2502. Further, according to the present invention, the goggle type display shown in FIG. 7F is completed.
[0050]
FIG. 7G illustrates a video camera, which includes a main body 2601, a display portion 2602, a housing 2603, an external connection port 2604, a remote control receiving portion 2605, an image receiving portion 2606, a battery 2607, a voice input portion 2608, operation keys 2609, and the like. . The display device of the present invention can be used for the display portion 2602. According to the present invention, the video camera shown in FIG. 7G is completed.
[0051]
Here, FIG. 7H illustrates a mobile phone, which includes a main body 2701, a housing 2702, a display portion 2703, a sound input portion 2704, a sound output portion 2705, operation keys 2706, an external connection port 2707, an antenna 2708, and the like. The display device of the present invention can be used for the display portion 2703. Note that the display portion 2703 can display white characters on a black background to reduce current consumption of the mobile phone. According to the present invention, the mobile phone shown in FIG. 7H is completed.
[0052]
If the light emission luminance of the light emitting material increases in the future, the light including the output image information can be enlarged and projected by a lens or the like and used for a front-type or rear-type projector.
[0053]
In addition, the electronic devices often display information distributed through electronic communication lines such as the Internet and CATV (cable television), and in particular, opportunities to display moving image information are increasing. Since the response speed of the light-emitting material is extremely high, the display device of the present invention is preferable for displaying moving images.
[0054]
Further, in the display device of the present invention, since the light emitting portion consumes power, it is desirable to display information so that the light emitting portion is reduced as much as possible. Therefore, when a display device is used for a portable information terminal, particularly a display portion mainly for character information such as a mobile phone or a sound reproducing device, the display device is driven so that character information is formed by a light emitting portion with a non-light emitting portion as a background. It is desirable to do.
[0055]
As described above, the applicable range of the present invention is extremely wide, and the present invention can be used for electronic devices in all fields. Further, the electronic apparatus of the present embodiment can use the configuration shown in the first embodiment.
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to easily inspect whether all the pixel circuits operate normally. Thus, the defective product can be removed before the light emitting element is formed, and the manufacturing cost can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a pixel portion of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a circuit configuration of a pixel portion of the present invention.
FIG. 3 is a diagram showing a circuit configuration of a pixel portion of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing a circuit configuration of a conventional pixel portion.
FIG. 5 is a diagram showing a circuit configuration of a pixel portion of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing an embodiment of the present invention.
FIG. 7 illustrates an example of an electronic device to which the present invention can be applied.

Claims (9)

基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、トランジスタ、スイッチ、発光素子を有し、前記トランジスタの第一の端子に第一の配線を電気的に接続し、第二の端子に前記スイッチの第一の端子を接続し、前記スイッチの第一の端子と第二の配線を電気的に接続し、前記トランジスタの第二の端子に前記発光素子を接続することを特徴とする表示装置。In a display device in which a plurality of pixels are arranged in matrix on a substrate, each of the plurality of pixels includes a transistor, a switch, and a light-emitting element, and a first wiring is electrically connected to a first terminal of the transistor. Connected, a first terminal of the switch is connected to a second terminal, a first terminal of the switch is electrically connected to a second wiring, and the light emitting element is connected to a second terminal of the transistor. A display device, which is connected. 請求項1において、前記第一の配線が電源供給線であり、前記第二の配線が検査用配線であり基板端部の検査端子に接続されていることを特徴とする表示装置。2. The display device according to claim 1, wherein the first wiring is a power supply line, and the second wiring is an inspection wiring and is connected to an inspection terminal at an end of the substrate. 請求項1において、前記第一の配線が電源供給線であり、前記第二の配線が第一の配線とは異なる隣接する画素の電源供給線と共用とすることを特徴とする表示装置。The display device according to claim 1, wherein the first wiring is a power supply line, and the second wiring is shared with a power supply line of an adjacent pixel different from the first wiring. 基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、第一のトランジスタ、第二のトランジスタ、発光素子、容量素子、スイッチ、電源供給線、ソース信号線、検査用配線、ゲート信号線を有し、前記第一のトランジスタのゲート端子に前記ゲート信号線が接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記ソース信号線が接続され、他方に前記第二のトランジスタのゲート端子が接続され、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記電源供給線が接続され、他方が前記発光素子に接続され、前記第二のトランジスタのゲート端子と前記電源供給線との間に前記容量素子が形成され、また、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の内、前記電源供給線に接続されていない側の端子に、前記スイッチが接続され、前記スイッチの反対側の端子に、前記検査用配線が接続されることを特徴とする表示装置。In a display device in which a plurality of pixels are arranged in a matrix on a substrate, each of the plurality of pixels includes a first transistor, a second transistor, a light-emitting element, a capacitor, a switch, a power supply line, a source signal line, It has an inspection wiring and a gate signal line, the gate signal line is connected to a gate terminal of the first transistor, the source signal line is connected to one of a source / drain terminal of the first transistor, and the other Is connected to the gate terminal of the second transistor, one of the source and drain terminals of the second transistor is connected to the power supply line, the other is connected to the light emitting element, the gate of the second transistor The capacitor is formed between a terminal and the power supply line, and the power supply is selected from among source / drain terminals of the second transistor. To the side not connected to the feed line terminal, said switch being connected to the opposite terminal of the switch, the display device, wherein the inspection wire is connected. 基板上に複数の画素がマトリクス状に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、第一のトランジスタ、第二のトランジスタ、発光素子、容量素子、スイッチ、電源供給線、ソース信号線、検査用配線、第一のゲート信号線、第二のゲート信号線、第三のトランジスタを有し、前記第一のトランジスタのゲート端子に、前記第一のゲート信号線が接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方に前記ソース信号線が接続され、他方に前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方が接続され、第二のトランジスタのゲート端子には前記第二のゲート信号線が接続され、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子の内、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子のどちらとも接続されていない端子に前記電源供給線を接続され、前記第一のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記ソース信号線ソース信号線と接続されていない側の端子と、前記第二のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記電源供給線と接続されていない側の端子との接続部に前記第三のトランジスタのゲート端子を接続され、前記第三のトランジスタのソース・ドレイン端子の一方が前記電源供給線に接続され、他方が前記発光素子に接続され、前記第三のトランジスタのゲート端子と前記電源供給線との間に前記容量素子が形成され、前記第三のトランジスタのソース・ドレイン端子のうち、前記電源供給線に接続されていない側の端子に前記スイッチを接続し、前記スイッチの他方に前記検査用配線が接続されることを特徴とする表示装置。In a display device in which a plurality of pixels are arranged in a matrix on a substrate, each of the plurality of pixels includes a first transistor, a second transistor, a light-emitting element, a capacitor, a switch, a power supply line, a source signal line, Inspection wiring, a first gate signal line, a second gate signal line, a third transistor, the first gate signal line is connected to the gate terminal of the first transistor, the first The source signal line is connected to one of the source / drain terminals of the transistor, one of the source / drain terminals of the second transistor is connected to the other, and the second gate is connected to the gate terminal of the second transistor. A signal line is connected, and the source / drain terminal of the second transistor is connected to both the source / drain terminal of the first transistor. The power supply line is connected to a terminal that is not connected, and of the source and drain terminals of the first transistor, the terminal on the side not connected to the source signal line and the source and drain of the second transistor. Of the terminals, a gate terminal of the third transistor is connected to a connection portion with a terminal not connected to the power supply line, and one of a source / drain terminal of the third transistor is connected to the power supply line. And the other is connected to the light emitting element, the capacitor is formed between the gate terminal of the third transistor and the power supply line, and among the source and drain terminals of the third transistor, The switch is connected to a terminal not connected to the power supply line, and the inspection wiring is connected to the other of the switches. Display devices. 請求項4または請求項5において、前記検査用配線が隣接する画素の電源供給線と共用であることを特徴とする表示装置6. The display device according to claim 4, wherein the inspection wiring is shared with a power supply line of an adjacent pixel. 請求項1乃至請求項6において、前記トランジスタがポリシリコンTFTであることを特徴とする表示装置。7. The display device according to claim 1, wherein the transistor is a polysilicon TFT. 基板上に複数の画素がマトリクス上に配置された表示装置において、前記複数の画素はそれぞれ、トランジスタ、スイッチ、発光素子を有し、前記トランジスタの第一の端子に前記第一の配線を電気的に接続し、前記第二の端子に前記スイッチの第一の端子を接続し、前記スイッチの第一の端子と前記第二の配線を電気的に接続し、前記トランジスタの第二の端子に前記発光素子を接続することを特徴とする表示装置において、前記スイッチを閉じ導通させ、前記電源供給線に電圧を供給し、前記トランジスタに信号を入力したときに、前記第二の配線の電圧値、あるいは前記第二の配線に供給される電流値を読み取り、画素が正常に動作するか検査することを特徴とする表示装置の検査方法。In a display device in which a plurality of pixels are arranged in a matrix on a substrate, each of the plurality of pixels includes a transistor, a switch, and a light-emitting element, and the first wiring is electrically connected to a first terminal of the transistor. Connected to the first terminal of the switch to the second terminal, electrically connected the first terminal of the switch and the second wiring, the second terminal of the transistor In the display device, wherein a light-emitting element is connected, the switch is closed and turned on, a voltage is supplied to the power supply line, and a signal is input to the transistor, a voltage value of the second wiring, Alternatively, a method of inspecting a display device, comprising reading a current value supplied to the second wiring and inspecting whether a pixel operates normally. 請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の表示装置を用いたことを特徴とする電子機器。An electronic apparatus using the display device according to any one of claims 1 to 7.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005331744A (en) * 2004-05-20 2005-12-02 Seiko Epson Corp Electro-optic device, method for inspecting the same and electronic appliance
JP2006133119A (en) * 2004-11-08 2006-05-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Inspection device and method of tft
US7199602B2 (en) 2003-09-19 2007-04-03 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for display device and active matrix substrate used for display device
JP2007140315A (en) * 2005-11-22 2007-06-07 Sony Corp Light emitting device
JP2008052111A (en) * 2006-08-25 2008-03-06 Mitsubishi Electric Corp Tft array substrate, inspection method for same, and display device
JP2011102879A (en) * 2009-11-10 2011-05-26 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, display device, and inspection method
JP2012133381A (en) * 2005-08-12 2012-07-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device, display device, display module, and electronic appliance
CN104809970A (en) * 2015-05-14 2015-07-29 京东方科技集团股份有限公司 Method used for detecting display panel
US9443469B2 (en) 2013-11-22 2016-09-13 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61212776A (en) * 1985-03-18 1986-09-20 Hitachi Ltd Testing of semiconductor element
JPS63289589A (en) * 1987-05-22 1988-11-28 セイコーエプソン株式会社 Inspection of active matrix panel
JPH01161316A (en) * 1987-12-18 1989-06-26 Sharp Corp Liquid crystal display device
JPH02282288A (en) * 1988-12-29 1990-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Production of active matrix substrate with which detection and repair of spot defect are possible
JP2000347621A (en) * 1999-06-09 2000-12-15 Nec Corp Method and device for image display
JP2001343933A (en) * 1999-11-29 2001-12-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emission device
JP2002108243A (en) * 2000-06-05 2002-04-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display panel, inspecting method and manufacturing method for display panel

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61212776A (en) * 1985-03-18 1986-09-20 Hitachi Ltd Testing of semiconductor element
JPS63289589A (en) * 1987-05-22 1988-11-28 セイコーエプソン株式会社 Inspection of active matrix panel
JPH01161316A (en) * 1987-12-18 1989-06-26 Sharp Corp Liquid crystal display device
JPH02282288A (en) * 1988-12-29 1990-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Production of active matrix substrate with which detection and repair of spot defect are possible
JP2000347621A (en) * 1999-06-09 2000-12-15 Nec Corp Method and device for image display
JP2001343933A (en) * 1999-11-29 2001-12-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Light emission device
JP2002108243A (en) * 2000-06-05 2002-04-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display panel, inspecting method and manufacturing method for display panel

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7199602B2 (en) 2003-09-19 2007-04-03 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for display device and active matrix substrate used for display device
JP2005331744A (en) * 2004-05-20 2005-12-02 Seiko Epson Corp Electro-optic device, method for inspecting the same and electronic appliance
JP2006133119A (en) * 2004-11-08 2006-05-25 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Inspection device and method of tft
JP2013140407A (en) * 2005-08-12 2013-07-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
US8570456B2 (en) 2005-08-12 2013-10-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device and electronic device equipped with the semiconductor device
JP2012133381A (en) * 2005-08-12 2012-07-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device, display device, display module, and electronic appliance
JP2007140315A (en) * 2005-11-22 2007-06-07 Sony Corp Light emitting device
US7511310B2 (en) 2005-11-22 2009-03-31 Sony Corporation Light emitting device
JP2008052111A (en) * 2006-08-25 2008-03-06 Mitsubishi Electric Corp Tft array substrate, inspection method for same, and display device
JP2011102879A (en) * 2009-11-10 2011-05-26 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, display device, and inspection method
US8754882B2 (en) 2009-11-10 2014-06-17 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, display device, and inspection method
US9569991B2 (en) 2009-11-10 2017-02-14 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, display device, and inspection method
US9443469B2 (en) 2013-11-22 2016-09-13 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method
US9495910B2 (en) 2013-11-22 2016-11-15 Global Oled Technology Llc Pixel circuit, driving method, display device, and inspection method
CN104809970A (en) * 2015-05-14 2015-07-29 京东方科技集团股份有限公司 Method used for detecting display panel
CN104809970B (en) * 2015-05-14 2017-11-28 京东方科技集团股份有限公司 method for detecting display panel
US10373537B2 (en) 2015-05-14 2019-08-06 Boe Technology Group Co., Ltd. Method for detecting array substrate of display panel

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