JP4595700B2 - 電気光学装置、駆動方法および電子機器 - Google Patents

電気光学装置、駆動方法および電子機器 Download PDF

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本発明は、画素毎にメモリ回路を有する構成の低消費電力化の技術に関する。
携帯可能な電子機器には、薄型化や軽量化などが要求されるので、電子機器の表示装置として用いる電気光学装置には、この要求に適した液晶素子や有機EL素子などの電気光学素子が用いられる。ここで、この種の電気光学装置は、表示内容に関係なく、1フレーム毎に各画素の状態を書き換える(リフレッシュする)ので、各画素を駆動する駆動回路やその制御回路などによって電力が消費されて、低消費電力化を阻害する要因があった。
そこで、画素毎に1ビットを記憶するスタティックメモリ回路を内蔵させるとともに、当該メモリ回路に記憶されたビットにしたがって画素をオンまたはオフさせる技術が提案された(特許文献1参照)。この技術では、メモリ回路のリフレッシュが不要となるので、静止画を表示するであれば、駆動回路等を動作させないで済み、その分、低消費電力化を図ることが可能となる。
特開平8−286170号公報
ところで、このような電気光学素子を用いた電気光学装置は、もともと低消費電力であるが、近年の電子機器には、連続使用時間の拡大や電池の小型化など様々な理由により、電気光学装置単体のさらなる低消費電力化も強く求められている。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、画素毎にメモリ回路を有する構成において、階調表示を可能とする電気光学装置、その駆動方法および電子機器を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明は、ワード線と、ビット線と、前記ビット線と対応する相補ビット線と、前記ワード線と前記ビット線の交差に対応して設けられた画素と、前記画素毎に、前記ワード線が選択されたとき、前記ビット線に供給された低振幅論理の第1ビットを高振幅論理にて保持し、前記第1ビットを論理反転して前記相補ビット線に供給された低振幅論理の第2ビットを高振幅論理にて保持するメモリ回路と、供給される信号にしたがった表示となり前記画素に対応した電気光学素子と、前記電気光学素子をオンにするオン信号と前記メモリ回路に保持された第1ビットが供給される第1トランスミッションゲートと、前記電気光学素子をオフにするオフ信号と前記メモリ回路に保持された第2ビットが供給される第2トランスミッションゲートとを有し、前記第1ビットの論理レベルが一方であり前記第2ビットの論理レベルが他方である場合、前記オン信号を前記第1トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給し、前記第2ビットの論理レベルが前記一方であり前記第1ビットの論理レベルが前記他方である場合、前記オフ信号を前記第2トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給する選択回路と、を備えることを特徴とする電気光学装置を備えることを特徴とする。本発明によれば、データビットの書き込み時では、ビット線が低振幅論理で駆動されるので、その分、電力消費を抑えることが可能となる。
本発明において、前記メモリ回路は、供給された前記第1ビットを論理反転するNOT回路と、供給された前記第2ビットを論理反転するNOT回路を有し、前記NOT回路の閾値電圧は、前記低振幅論理の高位側の論理レベルに相当する電圧よりも低く設定されている構成が好ましい。また、本発明において、前記複数のワード線のいずれかを選択するワード線駆動回路と、前記ワード線選択回路に選択されたワード線に対応する画素に、前記第1ビットを、前記ビット線を介して供給し、前記第2ビットを、前記相補ビット線を介して供給するビット線駆動回路と、をさらに備える構成としても良い。
さらに、本発明において、前記メモリ回路は、スタティック型である構成が望ましい。
なお、本発明は、電気光学装置のみならず、電気光学装置の駆動方法としても、さらには、当該電気光学装置を有する電子機器としても概念することが可能である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
実施形態に係る電気光学装置は、電気光学素子として液晶素子を有する液晶装置であって、各種トランジスタや画素電極が形成された素子基板と、共通電極が形成された対向基板とが互いに電極形成面が対向するように、一定の間隙を保って貼付され、この間隙にTN(twisted nematic)型の液晶が挟持された構成となっている。
図1は、この電気光学装置10の電気的な構成を示すブロック図である。
この図に示されるように、電気光学装置10の表示領域100では、320行のワード線311が、それぞれ行(X)方向に延在する一方、240対のビット線211および相補ビット線213が列(Y)方向に延在するように設けられている。画素110は、320行のワード線311と240列のビット線211(相補ビット線213)との交差に対応して設けられる。このため、本実施形態では、画素110は縦320行×横240列でマトリクス状に配列することになるが、本発明をこの配列に限定する趣旨ではない。
Yアドレスデコーダ350は、図示省略した上位制御回路から供給されるYアドレスAdyで指定された行のワード線311に対し、Hレベルの行選択信号を排他的に出力するものである。なお便宜的に、表示領域100において、上から数えて1、2、3、…、320行目のワード線311に供給される行選択信号を、W1、W2、W3、…、W320とそれぞれ表記している。また、画素110の配列行を特定しない場合には、1≦i≦320を満たす整数iを用いて、i行目のワード線に供給される行選択信号をWiとして表記する。
Xアドレスデコーダ240は、上位制御回路から供給されるXアドレスAdxで指定された列に対応するサンプリング信号S1、S2、S3、…、S240のいずれかを排他的にHレベルとして出力するものである。
サンプル・ホールド回路250は、Hレベルとなったサンプリング信号に対応する列のビット線211に対し、上位制御回路から供給されるデータビットDbをサンプリングして供給するとともに、当該データビットDbを論理反転して、対応する列の相補ビット線213に供給する一方、それ以外のビット線211および相補ビット線213については、ハイインピーダンス状態とするものである。
このときのデータビットDbは、YアドレスAdyで指定された行と、XアドレスAdxで指定された列との交差に対応する画素110の表示内容を指定する1ビットのデータである。
ここで便宜的に、表示領域100において、左から数えてj列目のビット線211に供給されるビットをXjと表記し、j列目の相補ビット線213に供給されるビットを/Xjと表記する。なお、jは、画素110の位置する列を一般的に示す場合の記号であって、1≦j≦240を満たす整数である。
一方、表示領域100には、上位制御回路から、液晶素子をオンさせる信号Von、オフさせる信号Voff、および、共通電極に供給される信号Lcomが、それぞれ各画素110に共通に供給される。
次に、画素110の詳細について説明する。各画素110は、構成的には互いに同一である。そこで、画素110については、i行j列に位置するもので代表させて説明する。図2(a)は、その構成を示す回路図である。
図2(a)に示されるように、画素110は、スタティック型のメモリ回路120、選択回路140および液晶素子150を有する。
このうち、メモリ回路120は、nチャネル型TFT(薄膜トランジスタ)122、124と、NOT回路126、128を備える。TFT122については、そのソースがビット線211に接続され、そのドレインがNOT回路126の入力端に接続され、そのゲートがワード線311に接続されている。NOT回路126の出力端は、NOT回路128の入力端に接続され、NOT回路128の出力端は、NOT回路126の入力端に帰還されている。
ここで、NOT回路126の入力端(NOT回路128の入力端)がメモリ回路120の正転出力端Q(i.j)であり、NOT回路128の入力端(NOT回路126の入力端)がメモリ回路120の反転出力端/Q(i.j)である。
これらのNOT回路126、128は、詳細には図2(b)に示されるように、それぞれ、pチャネル型およびnチャネル型TFTを有し、pチャネル型TFTのソースが電源電圧の高位側電位VddHの給電線に接続され、nチャネル型TFTのソースが電源電圧の低位側電位(接地電位)Gndの給電線に接続され、さらに、両TFTのゲートの共通接続部分が入力端であり、両TFTのドレイン共通接続部分が出力端とした構成となっている。
なお、メモリ回路120は相補型であるので、TFT124については、そのソースが相補ビット線213に接続され、そのドレインがNOT回路128の入力端に接続され、そのゲートがワード線311に接続されている。
このような構成のメモリ回路120は、ワード線311に供給された行選択信号WiがHレベルになると、TFT122、124が同時にオンして、ビット線211に供給されたビットXjを正転出力端Q(i,j)にて保持する一方、当該ビットXjを論理反転した/Xjを反転出力端/Q(i,j)にて、それぞれ保持する構成となっている。
選択回路140は、トランスミッションゲート143、145を有する。ここで、トランスミッションゲート143の入力端には信号Vonが供給される一方、トランスミッションゲート145の入力端には、上位信号Voffが供給されて、トランスミッションゲート143、145の出力端は、画素毎に個別に形成された画素電極118に共通接続されている。また、トランスミッションゲート143の正転制御ゲートおよびトランスミッションゲート145の反転制御ゲートは、メモリ回路120の正転出力端Q(i,j)に接続され、トランスミッションゲート143の反転制御ゲートおよびトランスミッションゲート145の正転制御ゲートは、メモリ回路120の反転出力端/Q(i,j)に接続されている。
ここで、トランスミッションゲート143、145は、正転制御ゲートがHレベル(反転制御レベルがLレベル)であるときに、入力端および出力端の間がオン(導通状態)となるものである。
したがって、メモリ回路120の正転出力端Q(i,j)がHレベルである場合、トランスミッションゲート143、145はそれぞれオン、オフとなり、信号Vonが画素電極118に印加される一方、正転出力端Q(i,j)がLレベルである場合、トランスミッションゲート143、145はそれぞれオフ、オンとなり、信号Voffが画素電極118に印加される構成となっている。
電気光学素子の一例である液晶素子150は、画素毎に個別の画素電極118と全画素にわたって共通の共通電極108との間に、TN型の液晶105が挟持された構成となっている。また、本実施形態において、共通電極108には、1フレーム毎(約16.7ミリ秒毎)に極性反転する信号Lcomが印加されている。
なお、特に図示はしないが、両基板の各対向面には、液晶分子の長軸方向が両基板間で例えば約90度連続的に捻れるようにラビング処理された配向膜がそれぞれ設けられる一方、両基板の各背面側には配向方向に応じた偏光子がそれぞれ設けられる。このため、画素電極118と共通電極108との間を通過する光は、両電極間の電圧実効値がゼロであれば、液晶分子の捻れに沿って約90度旋光する一方、当該電圧実効値が大きくなるにつれて、液晶分子が電界方向に傾く結果、その旋光性が消失する。このため、例えば透過型において、入射側と背面側とに、それぞれ偏光軸が配向方向に一致するように偏光子を配置させると、当該電圧実効値がゼロに近ければ、光の透過率が最大となる一方、電圧実効値が大きくなるにつれて透過する光量が減少して、ついには透過率が最小になる(ノーマリーホワイトモード)。
ここで、共通電極108に印加される信号Lcomが、図4に示されるように、1フレーム(1F)毎に極性反転する場合、液晶素子150をオンさせる信号Vonは、当該信号Lcomとは論理レベルを反転した関係となる一方、液晶素子150をオフさせる信号Voffは、当該信号Lcomとは論理レベルが同一の関係となる。
本実施形態において、電源電圧には(VddL、Gnd)と(VddH、Gnd)との2種類が存在する。ここで、Gndが電圧基準の接地電位であり、VddH>VddL(>Gnd=0)である。
Xアドレスデコーダ240、サンプル・ホールド回路250およびYアドレスデコーダ350は、(VddL、Gnd)を電源電圧とする。このため、本実施形態において行選択信号Wiや、ビットXj、/Xjでは、Hレベルが電位VddLであり、Lレベルが接地電位Gndとなる低振幅論理信号となる。
一方、上位制御回路から、表示領域100に供給される信号Von、Voff、Lcomは、いずれもHレベルが電位VddHであり、Lレベルが接地電位Gndとなる高振幅論理信号である。
また、本実施形態において、低振幅論理の電位VddLは、電圧(VddH、Gnd)を電源とするNOT回路126および128の閾値電圧よりも、高くなるように設定されている。
なお、本実施形態において、Xアドレスデコーダ240や、サンプル・ホールド回路250、Yアドレスデコーダ350および画素110における構成素子は、すべて低温ポリシリコンプロセスにより同時に形成することが可能である。
次に、本実施形態に係る電気光学装置の動作について説明する。
まず、電気光学装置10では、各画素110のメモリ回路120に、データビットが記憶された状態が前提となるので、このメモリ回路120へのデータビットの記憶動作について説明する。
本実施形態では、メモリ回路120に対するデータビットの記憶動作は、画素毎に実行される。ここで例えばi行j列の画素のデータビットを記憶させる場合、上位制御回路は、i行目を指定するYアドレスAdyとともに、j列目を指定するXアドレスAdxを出力し、さらに、記憶させるべきデータビットDbを出力する。
このXアドレスAdxによってXアドレスデコーダ240は、サンプリング信号SjをHレベルとする。これにより、サンプル・ホールド回路250は、記憶させるべきデータビットDbをサンプリングして、j列目のビット線211にビットXjとして供給する。なお、サンプル・ホールド回路250は、記憶させるべきデータビットDbを論理反転させて、j列目の相補ビット線213にビット/Xjとして供給する動作も併せて実行する。
一方、i行目を指定するYアドレスAdyによって、Yアドレスデコーダ350は、行選択信号WiだけをHレベルとする。
ここで、ビットXj、/Xjがそれぞれ、L、Hレベルとすると、図3に示されるように変化する。すなわち、行選択信号Wiが期間T1にてHレベルとなる前のタイミングt11にて、ビットXjは接地電位GndのLレベルに、ビット/Xjは低振幅論理の高位側電位VddLのHレベルに、それぞれ確定する。なお、タイミングt11より前においては、前の描き込み状態に依存するので、ビット線211および相補ビット線213の電位は不確定である。
一方、メモリ回路120において、データビットを書き換える前における正転出力端Q(i、j)および反転出力端/Q(i,j)の状態がそれぞれH、Lレベルであるとする。ここで、行選択信号WiがHレベルになると、i行目に位置する240個の画素110においては、それぞれTFT122、124がオンになる。このうち、j列目に位置する画素110においては、正転出力端Q(i、j)がビット線211に、反転出力端/Q(i、j)が相補ビット線213に、それぞれ電気的に接続された状態となる。ここで、j列目のビット線211には、低振幅論理でLレベルのビットXjが供給されるので、正転出力端Q(i、j)は、Hレベルに相当する電位VddHからLレベルに相当する接地電位Gndに低下する一方、j列目の相補ビット線213には、低振幅論理でHレベルのビットXjが供給されるので、反転出力端/Q(i、j)は、Lレベルに相当する接地電位Gndから低振幅論理のHレベルに相当する電位VddLにむかって上昇する。
この状態において、行選択信号WiがLレベルになると、それぞれTFT122、124がオフになって、正転出力端Q(i、j)はビット線211から、反転出力端/Q(i、j)は相補ビット線213から、それぞれ電気的に切り離される。ここで、NOT回路126の入力端、すなわち、メモリ回路120の正転出力端Q(i、j)は接地電位Gndであるので、NOT回路126の出力端たる反転出力端/Q(i,j)は、高振幅論理でHレベルの電位VddHまで上昇する。
反転出力端/Q(i、j)の電位がVddLからVddHに上昇しても、電位VddL、VddHの電位は、いずれもNOT回路128の閾値電圧を超えているので、正転出力端Q(i,j)の電位Gndに影響を与えることはない。
なお、ここでは、メモリ回路120において、データビットを書き換える前における正転出力端Q(i、j)および反転出力端/Q(i,j)の状態がそれぞれH、Lレベルである場合に、それぞれL、Hレベルのデータビットに書き換える動作について説明したが、正転出力端Q(i、j)および反転出力端/Q(i,j)の状態がそれぞれL、Hレベルである場合に、それぞれH、Lレベルのデータビットに書き換える動作についても互いの関係が逆転するだけの同様な動作となる。
このように、本実施形態において、ビット線211に供給されるビットXj、および、相補ビット線213に供給されるビット/Xjは、それぞれ(VddL、Gnd)の低振幅論理であるが、メモリ回路120の正転出力端Q(i,j)および反転出力端/Q(i、j)には、それぞれ(VddH、Gnd)の高振幅論理で保持される。
なお、i行目に位置する画素110のうち、j列目以外の画素のについては、ビット線211および相補ビット線213がそれぞれハイインピーダンス状態であるので、TFT122、124がオンするものの、メモリ回路120において記憶されたデータビットに影響を与えることはない。
また、行選択信号WiがLレベルとなっても、書き込まれたデータビットは、NOT回路126、128によって保持され続けることになる。
電源投入直後にあっては、このような書き込み動作が、縦320行×横240列の画素110のすべてに対して実行されて、すべての画素110のメモリ回路120において、HまたはLレベルのいずれかのデータビットが保持される。
また、表示内容が変更されるときにも、変更後の表示内容を規定するデータビットDbが、XアドレスAdxおよびYアドレスAdyとともに上位制御回路から供給されて、メモリ回路120に保持されたデータビットが書き換えられる。
次に、このように各画素110においてそれぞれデータビットが保持された場合に、液晶素子150がどうなるか、という観点で説明する。
まず、i行j列の画素110のメモリ回路120において、正転出力端Q(i,j)がLレベルに保持された場合(すなわち、反転出力端/Q(i,j)にHレベルが保持された場合)、トランスミッションゲート143、145はそれぞれオフ、オンするので、当該画素の画素電極118には、図4に示されるように、共通電極108と同一論理の関係にある信号Voffが印加される。このため、液晶素子150に印加される電圧VLC、ここでは、画素電極118の電位から共通電極108の電位を差し引いた電圧がゼロとなるので、ノーマリーホワイトモードであれば、当該画素は、対応する色において最も明るい状態(オフ状態)となる。
一方、i行j列の画素110のメモリ回路120において、正転出力端Q(i,j)がHレベルに保持された場合(すなわち、反転出力端/Q(i,j)にLレベルが保持された場合)、トランスミッションゲート143、145はそれぞれオン、オフするので、当該画素の画素電極118には、図4に示されるように、共通電極108と論理反転の関係にある信号Vonが印加される。このため、液晶素子150に印加される電圧VLCが2Vccとなるので、ノーマリーホワイトモードであれば、当該画素は、対応する色において最も暗い状態(オン状態)となる。
このようなオンまたはオフのいずれかの表示が、メモリ回路120の保持状態に応じて、各画素110において実行されて、所定の画像が表示されることとなる。
ビット線211や相補ビット線213には、多くの容量が寄生するので、ビットXj、/Xjを高振幅論理信号とした構成では、その分、多くの電力が消費されてしまう。一方、液晶素子150を駆動するには、比較的高い電圧(高振幅論理)が要求される。これに対して、本実施形態では、メモリ回路120までの経路を低振幅論理信号で駆動する一方、メモリ回路120から液晶素子150までを高振幅論理信号で駆動するので、ビット線の低電圧駆動による低電力消費電力化と、液晶素子150の駆動とを両立することが可能となる。
また一般に、電源の負荷が高いと、電源回路を構成するトランジスタサイズや、出力段のコンデンサが大きくなるので、ポリシリコンプロセスでは形成が困難となり、電気光学装置10内に形成することができず、電源回路を別体とする必要がある。本実施形態では、低消費電力化により、電源回路に高い負荷が要求されないので、低振幅論理用とともに高振幅論理用の電源回路を電気光学装置10にポリシリコンプロセスによって他の素子と一体形成することが可能となる。
なお、電源回路については、低振幅論理の電圧(VddL、Gnd)を昇圧して、高振幅論理の電圧(VddH、Gnd)を生成する構成が望ましい。
また、実施形態にあっては、信号Lcomを1フレームの周期でレベル反転することにより液晶素子150を交流駆動したが、本発明は、これに限られず、例えば、2フレーム以上の周期でレベル反転する構成としても良い。
さらに、液晶素子150はノーマリーホワイトモードとしたが、電圧無印加状態において最も暗い状態となるノーマリーブラックモードとしても良い。
また、実施形態では、オンオフの2値的な表示としたが、例えばRGBの3原色でカラー表示する構成としても良い。
くわえて、透過型に限られず、反射型や、両者の中間的な半透過半反射型であっても良い。さらに、TN型のほか、STN型など、分子の長軸方向と短軸方向とで可視光の吸収に異方性を有する染料(ゲスト)を一定の分子配列の液晶(ホスト)に溶解して、染料分子を液晶分子と平行に配列させたゲストホスト型などの液晶を用いても良い。くわえて、電圧無印加時には液晶分子が両基板に対して垂直方向に配列する一方、電圧印加時には液晶分子が両基板に対して水平方向に配列する、という垂直配向(ホメオトロピック配向)の構成や、いわゆるIPS(面内スイッチング方式、FSSを含む)方式としても良い。
さらに、電気光学素子としては、液晶素子のほかに、EL(エレクトロルミネッセンス)素子や、電気泳動素子、電子放出素子、デジタルミラー素子などや、プラズマディスプレイなどにも適用可能である。すなわち、本発明は、オンまたはオフを指示する2値的なデータビットをメモリ回路に記憶する電気光学装置のすべてに適用可能である。
<電子機器>
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置10を表示装置として有する電子機器について説明する。図5は、実施形態に係る電気光学装置10を用いた携帯電話1200の構成を示す斜視部である。
この図に示されるように、携帯電話1200は、複数の操作ボタン1202のほか、受話口1204、送話口1206とともに、上述した電気光学装置10の表示領域100を備えるものである。なお、電気光学装置10のうち、表示領域100以外の構成要素については外観としては現れない。
なお、電気光学装置10が適用される電子機器としては、図5に示される携帯電話の他にも、デジタルスチルカメラや、ノートパソコン、液晶テレビ、ビューファインダ型(またはモニタ直視型)のビデオレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示装置として、上述した電気光学装置10が適用可能であることは言うまでもない。そして、いずれの電子機器においても、電気光学装置10による低消費電力化の恩恵を受けることになる。
本発明の実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 同電気光学装置における画素の構成を示す図である。 同電気光学装置のメモリ回路に対する書込動作を示す図である。 同電気光学装置の液晶素子における動作を示す図である。 実施形態に係る電気光学装置を適用した携帯電話の構成を示す図である。
符号の説明
10…電気光学装置、105…液晶、108…共通電極、118…画素電極、120…メモリ回路、140…選択回路、150…液晶素子、211…ビット線、213…相補ビット線、311…ワード線、1200…携帯電話

Claims (5)

  1. ワード線と、
    ビット線と、
    前記ビット線と対応する相補ビット線と、
    前記ワード線と前記ビット線の交差に対応して設けられた画素と、
    前記画素毎に、前記ワード線が選択されたとき、前記ビット線に供給された低振幅論理の第1ビットを高振幅論理にて保持し、前記第1ビットを論理反転して前記相補ビット線に供給された低振幅論理の第2ビットを高振幅論理にて保持するメモリ回路と、
    供給される信号にしたがった表示となり前記画素に対応した電気光学素子と、
    前記電気光学素子をオンにするオン信号と前記メモリ回路に保持された第1ビットが供給される第1トランスミッションゲートと、前記電気光学素子をオフにするオフ信号と前記メモリ回路に保持された第2ビットが供給される第2トランスミッションゲートとを有し、前記第1ビットの論理レベルが一方であり前記第2ビットの論理レベルが他方である場合、前記オン信号を前記第1トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給し、前記第2ビットの論理レベルが前記一方であり前記第1ビットの論理レベルが前記他方である場合、前記オフ信号を前記第2トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給する選択回路と、
    を備えることを特徴とする電気光学装置。
  2. 前記メモリ回路は、
    供給された前記第1ビットを論理反転するNOT回路と、供給された前記第2ビットを論理反転するNOT回路を有し、
    前記NOT回路の閾値電圧は、前記低振幅論理の高位側の論理レベルに相当する電圧よりも低く設定されている
    ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  3. 前記複数のワード線のいずれかを選択するワード線駆動回路と、
    前記ワード線選択回路に選択されたワード線に対応する画素に、前記第1ビットを、前記ビット線を介して供給し、前記第2ビットを、前記相補ビット線を介して供給するビット線駆動回路と、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  4. ワード線とビット線との交差に対応して設けられた画素と、供給される信号にしたがった表示となり前記画素に対応した電気光学素子とを有する電気光学装置の駆動方法であって、
    前記画素毎に、
    前記ワード線が選択されたとき、前記ビット線に供給された低振幅論理の第1ビットを高振幅論理にて保持し、前記第1ビットを論理反転して相補ビット線に供給された低振幅論理の第2ビットを高振幅論理にて保持し、
    前記電気光学素子をオンにするオン信号と前記保持された第1ビットとを第1トランスミッションゲートへ供給し、
    前記電気光学素子をオフにするオフ信号と前記保持された第2ビットとを第2トランスミッションゲートへ供給し、
    前記第1ビットの論理レベルが一方であり前記第2ビットの論理レベルが他方である場合、前記オン信号を前記第1トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給し、前記第2ビットの論理レベルが前記一方であり前記第1ビットの論理レベルが前記他方である場合、前記オフ信号を前記第2トランスミッションゲートから前記電気光学素子へ供給する
    ことを特徴とする電気光学装置の駆動方法。
  5. 請求項1乃至のいずれかに記載の電気光学装置を備える
    ことを特徴とする電子機器。
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