JP4590578B1 - 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法 - Google Patents

光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4590578B1
JP4590578B1 JP2010085070A JP2010085070A JP4590578B1 JP 4590578 B1 JP4590578 B1 JP 4590578B1 JP 2010085070 A JP2010085070 A JP 2010085070A JP 2010085070 A JP2010085070 A JP 2010085070A JP 4590578 B1 JP4590578 B1 JP 4590578B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
light
light source
laser
duv
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010085070A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011215472A (ja
Inventor
純 佐久間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lasertec Corp
Original Assignee
Lasertec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lasertec Corp filed Critical Lasertec Corp
Priority to JP2010085070A priority Critical patent/JP4590578B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4590578B1 publication Critical patent/JP4590578B1/ja
Priority to US13/075,797 priority patent/US8503068B2/en
Priority to EP11160798A priority patent/EP2372449A3/en
Publication of JP2011215472A publication Critical patent/JP2011215472A/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/37Non-linear optics for second-harmonic generation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/353Frequency conversion, i.e. wherein a light beam is generated with frequency components different from those of the incident light beams
    • G02F1/3534Three-wave interaction, e.g. sum-difference frequency generation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/353Frequency conversion, i.e. wherein a light beam is generated with frequency components different from those of the incident light beams
    • G02F1/354Third or higher harmonic generation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

【課題】効率よくDUV光を発生させる光源装置、検査装置、及びコヒーレント光発生方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる光源装置は、波長1060〜1080nm光を発生させる第1のレーザ光源11と、波長1750〜2100nm光を発生させる第2のレーザ光源16と、波長1080〜1120nm光を発生させる第3のレーザ光源17と、第4次高調波発生により波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させる第2高調波発生器12,13と、第1のDUV光と第2のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させる第1の和周波発生器14と、第2のDUV光と第3のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長192.5〜194.5nmの第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えたものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、非線形光学効果を用いた波長変換技術による深紫外域のコヒーレント光発生方法および深紫外光源装置、並びにそれを用いたマスク検査装置に関し、さらに詳細には、ArFエキシマレーザの発振波長に相当する深紫外光を波長変換技術により高効率で発生する深紫外(DUV:deep ultra−violet)コヒーレント光の発生方法および深紫外光源装置、並びにそれを用いたマスク検査装置に関する。
半導体集積回路の高性能化のために、その露光用フォトマスク原板に描かれる回路パターンはますます微細化・高集積化している。そのような半導体デバイスの製造においては、フォトマスクの原版ないし原版に形成された回路パターン内の微小な欠陥を測定する過程が必須である。露光光源としてArFエキシマレーザによる波長193.4nm近傍のDUV光が使われる最先端の半導体露光用マスクの検査には、連続ないし高繰返しパルス発振出力の深紫外(DUV)光を均一に照射してそのパターンをCCD(Charged Coupled Device)カメラ等に結像してデータ処理を行うDUV光検査装置が用いられている。
検査装置のDUV光波長は分解能向上の観点からは短いほど有利である。一方で製造工程における検査時間の短縮も重要であり、そのためには検査用DUV光源の高出力化とともに、CCDカメラ等との同期が不要となる超高繰返し、理想的には連続出力が求められている。また光出力としては100mW程度が必要である。このような高出力の連続出力DUV光源としては、非線形光学結晶を用いた波長変換により発生する方法が唯一の実用的アプローチとして追求されてきた。
ネオジウム(Nd)添加固体レーザないしファイバーレーザ(アンプ)の第4次高調波(波長266nm)や、アルゴンイオンレーザ第2高調波(257nm、244nm)等がその代表であるが、近年は200nm未満のDUV光が必要とされている。例えば、特許文献1に示される波長198.5nmの連続発振のDUV光源がある。この方式では非特許文献1に記されているが、発明者の知る限り波長200nm未満で100mW以上の発生が報告された現状唯一の連続出力DUV光源である。しかしながら、波長198.5nmよりもArFエキシマレーザの波長と等しい193.4nm近傍での連続出力光源がマスク検査装置用DUV光源として実用化されれば、露光波長に対する欠陥を正確に評価できる等、その有用性は遥かに高く、最先端の半導体製造に大きく貢献できる。
波長変換により波長193.4nmの紫外光を得るには、一つないし複数のレーザ光源を基本波として用い、それらの高調波発生ないし和周波混合の組合せにより発生させることが必要である。その重要性は極めて高いため193.4nm光の発生方式については過去に様々な提案が為されてきた。しかしながら実際に発生が報告された方式は、パルス発振だけであり、発明者の知る限り連続出力光源は報告されていない。その理由は様々であるが、端的に言って技術的に実現可能なレーザ光源と非線形光学結晶の組合せで実用的な連続出力の193.4nm光を得る方式が見出されていなかったということである。
一般に波長変換により高出力の紫外光を発生させるためには、(1)高調波発生や和周波混合をする光波長に対して複屈折性を利用した位相整合条件を満たす非線形光学結晶が存在すること、(2)その結晶の物理定数等により決まる変換係数が高いこと、(3)発生波長において結晶の吸収が少ないこと、等が求められる。波長193.4nmの光を発生させることが可能な結晶は、BBO(β−BaB)、LBO(LiB)、CLBO(CsLiB10)、KBBF(KBeBO)等が知られている。
このうち、KBBFは波長386.8nm光の第2高調波発生による193.4nm光発生過程について位相整合が報告された現状唯一の結晶であるが、毒性の物質を含む上に結晶の育成が難しく民生用として実用化できる見通しがない(非特許文献2)。それ以外の結晶を用いて193.4nm発生に対する位相整合を得るには、386.8nmより長波長(λ>386.8nm)と短波長(λ<386.8nm)の光の和周波混合に依らねばならない。λとλとしては、以下の(1)式を満足する必要がある。
1/λ+1/λ=1/193.4 ・・・(1)
また位相整合条件は高効率な波長変換に必要な通常のコリニア型の場合、以下の(2)式でと表される。
/λ+n/λ=n/193.4 ・・・(2)
、n、nはそれぞれ、波長λ、λ、193.4nmにおける結晶の屈折率である。
このような条件を満足する和周波混合波長の組合せに関して過去に提案された方式としては以下がある。
(1)λ=2.075μmとλ=213nmとの和周波混合による方式(図12:特許文献2)、
(2)λ=1.55μmとλ=221nmとの和周波混合による方式(図13:特許文献3、図14:特許文献4および特許文献5、図15:特許文献6および特許文献7)、
(3)λ=1.415μmとλ=224nmの和周波混合による方式(図16:特許文献5)、
(4)λ〜1105nmとλ〜234nmの和周波混合による方式(図17:特許文献6、図18:特許文献7)、
(5)λ〜1064nmとλ〜236nmの和周波混合による方式(図19:特許文献8、図20:特許文献9および特許文献10)、
(6)λ〜710nmとλ=266nmの和周波混合による方式(図21:特許文献11、特許文献12、特許文献13、特許文献14)
(7)λ=740〜790nmとλ=256〜262nmの和周波混合による方式(特許文献15)。
特開2002−258339号公報 米国特許明細書第5742626 特開2000―200747号公報 米国特許明細書第7593437 特開2007−86108号公報 特表2009−540538号公報 特開2004−086193号 特開平11−251666号公報 再表99/01463号公報 特開2000−162655号公報 特開平10−341054号公報 特開平11−258645号公報 特開2002−99007号公報 米国特許明細書第6373869 特開2010−50389号公報 米国特許明細書第7471705 特表2009−513995号公報
J.Sakuma, Y. Okada, T. Sumiyoshi, H. Sekita, M. Obara, "CW DUV light sources for inspection tools," 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology 3-7 Oct. 2005, paper 5992-139. H. Zhang他, "175 to 210 nm widely tunable deep-ultraviolet light generation based on KBBF crystal," Applied Physics B: Lasers and Optics, Volume 93, Numbers 2-3, pp. 323-326 (2008), Springer Berlin / Heidelberg V.G. Dmitriev, G.G. Gurzadyan and D.N. Nikogosyan, "Handbook of Nonlinear Optical Crystals," Springer-Verlag, New York, 1995. 吉村他、J. Plasma Fusion Res. Vol.85, No.5,243-246、2009 Y. K. Yap, T. Inoue, H. Sakai, Y. Kagebayashi, Y. Mori, T. Sasaki, K. Deki, and M. Horiguchi, "Long-term operation of CsLiB6O10 at elevated crystal temperature," Opt. Lett. 23, 34-36 (1998) Pan Feng, Wang Xiaoqing , Shen Guangqiu and Shen Dezhong, "Cracking Mechanism of CLBO crystals at room temperature," Journal of Crystal Growth, Vol. 241,pp. 129-134. 2002, Actinix社ホームページ Model3193 [平成22年3月29日検索]、インターネット<URL: http://www.actinix.com/model%203193.htm> J. Sakuma, Y. Asakawa, T. Sumiyoshi, and H. Sekita, "(Invited paper) High-power, CW, Deep-UV Coherent Light Sources Around 200-nm Based on External Resonant Sum-frequency Mixing," IEEE Selected Topics in Quantum Electronics, vol. 10, pp. 1244-1251 (2004). 株式会社ニコンホームページ 193nm固体レーザ [平成22年3月29日検索]、インターネット<URL:http://www.ave.nikon.co.jp/cp/products_sys4.html>
各和周波混合に対してLBO、CLBO、BBOの各結晶が位相整合するかどうか、また位相整合する場合の特性の計算方法については非特許文献3等に記載されている。それによると、BBO結晶は(1)〜(6)すべての和周波混合に対して位相整合するが、波長190nmが透過領域の短波長限界であり、発生波長193.4nmでの顕著な吸収があるために、高出力の193.4nm光を安定に発生させるには適しない。CLBOは吸収端が180nmであり波長193.4nmにおける吸収も小さいが、複屈折性がKBBF、BBOより小さいため位相整合条件を満足する和周波混合の波長の組合せが限られ、例えば上記(5)および(6)の和周波混合には使えない。
しかしながら、CLBO結晶を用いたDUV光発生の例としては、パルス発振であるが11の方式で出力500mWの発生が得られているとされる(非特許文献4)。また波長は198.5nmであるが、λ=1064nmとλ=244nmとの和周波混合により、連続出力で300mWの発生が報告されている(非特許文献1)。LBOはCLBOより非線形光学定数が小さく、たとえ位相整合が得られる場合でもCLBOより高出力の200nm未満のDUV光発生は難しい。このように現状では波長200nm以下で100mW以上のDUV光を発生させるためには、CLBO結晶を利用できる和周波混合が必要条件であると言って良い。
CLBO結晶による和周波混合に関しては、特許文献9において波長が1000〜1800nmのレーザ光源の高調波と、高調波により励起されるコヒーレント光源の和周波混合から、波長がほぼ193nmを発生させる装置が提案されており、例えば1064nmと235.8nmの和周波混合、ないし1047nmと236.6nmの和周波混合により193nmが発生されるとある。しかしながら、後に同じ発明者等により提案された特許文献10において、CLBO結晶による前述の和周波混合は実現不可能であり、結晶を−180℃まで冷却することによって屈折率を変化させると辛うじて236.3nmと1064nmとの非臨界位相整合型(NCPM:Non−critical Phase−matching)の和周波混合が可能になり、193.439nmが発生できるとされている。ところがCLBO結晶は吸湿性による劣化を防ぐために100℃以上に加熱して利用するのが通常である(例えば非特許文献5)。また、−180℃どころか室温で用いていてもクラックが発生して使えなくなることも数多く報告されている(例えば非特許文献6)。
したがって、CLBO結晶を−180℃に冷却するということは実用的な方法とは言えない。特許文献16には1000nm付近の光源の第4次高調波(〜250nm)と基本波とのCLBO結晶による和周波混合(すなわち第5次高調波発生)により200nm付近のDUV光を効率的に発生する方法が提案されている。この特許文献にはλ=1090nmと波長944nm光の第4次高調波発生によるλ=236nmとの和周波混合により波長194nmが効率的に発生できるとも記載されている。しかし波長944nmで発生するレーザ光源を構築する具体的手段が無い上に、理想的な193.4nmには達しないとも記載されている。
特許文献17にもほぼ同様の構成が提示され、波長998nmの第5次高調波発生で199.7nmのDUV光が効率的に発生されること、また波長1193.33nmのレーザ光の第4次高調波発生で得られるλ=238.666nmとλ=1064nmとの和周波混合により波長194.9nmが発生できると記載されているが、やはり193.4nmに達しない。
このように、CLBO結晶を用いて193.4nmが発生できる和周波混合の方式としてこれまでに提案されたのは、前述した各発生方式の内、(1)2.1μmと213nmの和周波混合、(2)1.55μmと221nmの和周波混合、(3)1.44μmと223nmの和周波混合、(4)1.105μmと234.4nmの和周波混合、の4種類である。
このうち2.1μmと213nmの和周波混合による方式(図12)ではパルス発振の193.4nm光源が市販されている(非特許文献7:だだし193nm発生にはBBO結晶使用)。また連続出力の213nm発生については非特許文献8に報告されているが、193.4nm発生は報告されていない。
また、(2)の方式としては、1.554μmのファイバーアンプを基本光源とした第8次高調波発生(図13)により、やはりパルス発振ではあるが波長193.0nmの光源が実用化されている(非特許文献9)。しかしながら、(3)および(4)の方式では発生は報告されておらず、特に連続出力の193.4nm光発生については、理論上可能な方式であっても一切報告されていない。この理由の一つは、193.4nm光の発生が理論上可能であるとはいえ、実用的な光源構築に必要な出力のレーザ光源がないことである。例えば上記(3)の1.44μmや(4)の1.105μmという波長のレーザ光源は、発振可能であっても利得が低い等の理由で高出力化が困難である。また、特に強度の低い連続出力で効率的な波長変換を実現するには通常外部共振器を利用する必要があるが、4〜5段階の波長変換過程を必要とする193.4nm光源は装置が複雑化し、実用に適した安定かつ高品質の光を発生させることが困難であったと考えられる。
この点を踏まえた連続出力の193.4nm光発生に関して特許文献14には具体的な構成例が提示されているが、上記(7)の方式によるものであり、193.4nm光発生にはBBO結晶しか使えない構成なので安定化が難しい。また過去に見出された発生方式はCLBO結晶で193.4nmが発生できる方式であっても、その変換効率が低いためにレーザ光源の出力が非常に大きくなり、サイズやコストの点でも実用に供しないと判断されてきたことが主な要因と考えられる。
また、特許文献6には、非臨界位相整合のCLBO結晶を用いた和周波混合によって、1104nm光と233.9nm光から193.0nm光を発生させる点が言及されている。同文献において233.9nm発生の方法としてはNdドープ増幅器による935.6nm出力の第4次高調波発生が挙げられているが、Ndドープ増幅器による935.6nmのレーザ動作は3準位系であるため、高出力の光を発生させることは非常に困難である。このように、従来技術では、193.4nm周辺のDUV光を効率よく発生させることができないという問題点がある。
本発明は、効率をよくDUV光を発生させることができる光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法を提供することを目的とする。
本発明の第1の態様に係る光源装置は、波長1060〜1080nmのレーザ光を発生させる第1のレーザ光源と、波長1750〜2100nmのレーザ光を発生させる第2のレーザ光源と、波長1080〜1120nmのレーザ光を発生させる第3のレーザ光源と、前記第1のレーザ光源の出力光の第4次高調波発生により波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させる第1の波長変換手段と、前記第1のDUV光と前記第2のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させる第2の波長変換手段と、前記第2のDUV光と前記第3のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長192.5〜194.5nmの第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えたものである。これにより、波長192.5〜194.5nmのDUV光を効率よく発生させることができる。
本発明の第2の態様に係る光源装置は、波長1060〜1080nmのレーザ光を発生させる第1のレーザ光源と、波長1750〜2100nmのレーザ光を発生させる第2のレーザ光源と、波長1080〜1120nmのレーザ光を発生させる第3のレーザ光源と、前記第1のレーザ光源の第4次高調波発生により波長266nm近傍の第1のDUV光を発生させる第1の波長変換手段と、前記第1のDUV光と第2のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長234.9nm近傍の第2のDUV光を発生させる第2の波長変換手段と、第2のDUV光と第3のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長が略193.4nmの第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えたものである。これにより、波長が略193.4nmのDUV光を効率よく発生させることができる。
本発明の第3の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第2の波長変換手段は、LBO(LiB)結晶を有していることを特徴とするり波長193.4nm近傍の第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えたものである。これにより、効率よく波長変換することができ、発生効率を向上することができる。
本発明の第4の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第3の波長変換手段は、CLBO(CsLiB10)結晶を有していることを特徴とするものである。これにより、効率よく波長変換することができ、発生効率を向上することができる。
本発明の第5の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第1のレーザ光源、第2のレーザ光源、及び第3のレーザ光源が連続出力であり、前記第2の波長変換手段、および第2の波長変換手段のそれぞれが、少なくとも3枚の光学鏡を有する外部共振器と、前記外部共振器の内部に設置された非線形光学結晶と、を備えているものである。これにより、連続出力のDUV光を効率よく発生させることができる。
本発明の第6の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第1のレーザ光源は、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ又はアンプ、あるいはネオジウム(Nd)添加固体レーザ、ネオジウム(Nd)添加固体レーザファイバーレーザ又はアンプであるものである。これにより、効率よく、第1のレーザ光を発生させることができる。
本発明の第7の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第2のレーザ光源はツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ又はアンプであるものである。これにより、効率よく、第2のレーザ光を発生させることができる。
本発明の第8の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第3のレーザ光源はイッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザであることを特徴とするものである。これにより、効率よく、第3のレーザ光を発生させることができる。
本発明の第9の態様に係る光源装置は、上記の光源装置であって、前記第1のDUV光の波長は266nm近傍であり、前記第2のレーザ光源の波長は1950〜2010nmであり、前記第2のDUV光波長は234.1〜234.9nmであり、前記第3のレーザ光源の波長は1096〜1111nmであり、前記第3のDUV光波長は193.4nm近傍であることを特徴とするものである。
本発明の第10の態様に係るマスク検査装置は、上記の光源装置を備え、前記光源装置からのDUV光を試料に照射して検査を行うものである。これにより、効率よく、DUV光を発生することができるため、検査を効率よく行うことができる。
本発明の第11の態様に係るコヒーレント光発生方法は、波長1060〜1080nmの光の第4高調波によって波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させるステップと、前記第1のDUV光と、波長1750〜2100nmの光の和周波混合によって、波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させるステップと、前記第2のDUV光と、波長1080〜1120nmの光との和周波混合によって、波長192.5〜194.5nmの第3のDUV光を発生させるステップと、を備えるものである。これにより、波長192.5〜194.5nmのDUV光を効率よく発生させることができる。
本発明の第12の態様に係るコヒーレント光発生方法は、波長1060〜1080nmの光の第4高調波によって波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させるステップと、前記第1のDUV光と、波長1750〜2100nmのレーザ光の和周波混合によって、波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させるステップと。前記第2のDUV光と、波長1080〜1120nmのレーザ光との和周波混合によって、ArFエキシマレーザの発振可能範囲の波長の第3のDUV光を発生させるステップと、を備えるコヒーレント光発生方法。これにより、ArFエキシマレーザの発振可能範囲の波長のDUV光を効率よく発生させることができる。
本発明によれば、効率をよくDUV光を発生させることができる光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法を提供することができる。
本発明に係る光源装置の構成を示す図である。 NCPM動作CLBO結晶での和周波混合により193.4nmを発生する場合の入射光波長と結晶温度の関係を示すグラフである。 193.4nm光発生における変換係数計算値を示す表である。 イッテリビウム(Yb)添加ファイバー吸収・発光スペクトルを示すグラフである。 ツリウム(Tm)添加ファイバー吸収・発光スペクトルを示すグラフである。 234.9nm光発生における変換係数計算値を示す表である。 NCPM動作LBO結晶により266nm光と和周波混合する場合の発生波長と結晶温度の関係を示すグラフである。 本発明にかかる光源装置に用いられる光共振器と非線形光学結晶の配置を示す図である。 100mWの連続出力193.4nm光出力発生に必要な各光源の出力計算例を示す図である。 100mWの連続出力193.4nm光出力発生に必要な各光源の出力計算例を示す図である。 ArFエキシマレーザの発振スペクトルを示すグラフである。 特許文献2に記載された構成を示す図である。 特許文献3に記載された構成を示す図である。 特許文献4、5に記載された構成を示す図である。 特許文献6、7に記載された構成を示す図である。 特許文献5に記載された構成を示す図である。 特許文献8に記載された構成を示す図である。 特許文献11に記載された構成を示す図である。 特許文献8に記載された構成を示す図である。 特許文献9,10に記載された構成を示す図である。 特許文献11,12,13,14に記載された構成を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。以下の説明は、本発明の好適な実施の形態を示すものであって、本発明の範囲が以下の実施の形態に限定されるものではない。以下の説明において、同一の符号が付されたものは実質的に同様の内容を示している。
図1に本実施の形態にかかる光源装置の構成を示す。光源装置は、第1のレーザ光源11と、第1の高調波発生器12、第2の高調波発生器13と、第1の和周波発生器14と、第2の和周波発生器15と、第2のレーザ光源16と、第3のレーザ光源17とを備えている。
第1のレーザ光源11は、波長1060〜1080nmのレーザ光を発生させる。第1のレーザ光源11から出射するレーザ光を第1のレーザ光とする。例えば、第1のレーザ光は、中心波長1064nmのレーザ光である。第1のレーザ光は、第1の高調波発生器12に入射する。第1の高調波発生器12は、入射光の第2高調波を発生する。これにより、第1のレーザ光の第2高調波が発生する。第2高調波の中心波長は、532nmとなる。波長532nmの第2高調波は、第2の第2高調波発生器13に入射する。第2高調波発生器13は、入射光の第2高調波を発生する。よって、第2高調波発生器13からは、第1のレーザ光の第4高調波が発生する。第4高調波は、波長265〜270nmである。この第4高調波を第1のDUV光とする。第1のDUV光は、例えば中心波長266nmである。第1のDUV光は第1の和周波発生器14に入射する。このように、第1の第2高調波発生器と、第2の第2高調波発生器とが第4高調波を発生させる波長変換手段となる。
また、第2のレーザ光源16は、波長1750〜2100nmのレーザ光を発生させる。第2のレーザ光源16から出射するレーザ光を第2のレーザ光とする。第2のレーザ光は、例えば、中心波長2009nmのレーザ光である。第2のレーザ光は、第1の和周波発生器14に入射する。第1の和周波発生器14は、波長変換手段であり、第1のDUV光と、第2のレーザ光の和周波を発生させる。すなわち、第1の和周波発生器14は、和周波混合によって、波長232〜237nmのDUV光を発生させる。第1の和周波発生器14は、例えば、LBO(LiB)結晶によって、和周波を発生させる。第1の和周波発生器14によって発生したDUV光を第2のDUV光とする。第2のDUV光は、中心波長234.9nmである。第2のDUV光は、第2の和周波発生器15に入射する。
また、第3のレーザ光源17は、波長1080〜1120nmのレーザ光を発生させる。第3のレーザ光源16から出射するレーザ光を第3のレーザ光とする。第3のレーザ光は、例えば、中心波長1096nmのレーザ光である。第3のレーザ光は、第2の和周波発生器15に入射する。第2の和周波発生器15は、波長変換手段であり、第2のDUV光と、第3のレーザ光の和周波を発生させる。すなわち、第2の和周波発生器15は、和周波混合によって、波長192.5〜194.5nmのDUV光を発生させる。第2の和周波発生器15は、CLBO(CsLiB10)結晶によって、和周波を発生させる。第2の和周波発生器15によって発生したDUV光を第3のDUV光とする。第3のDUV光は、例えば中心波長193.4nmのDUV光であり、ArFレーザの発振波長に対応している。このように、光源装置は、ArFレーザの発振可能範囲に含まれる波長のコヒーレント光を発生する。光源装置からのDUV光は、波長が、略193.4nmである。なお、光源装置からのDUV光の中心波長が少なくとも193nm〜194nmに含まれているようであれば、略193nmの波長ということができる。
第1のレーザ光源11、第2のレーザ光源16、及び第3のレーザ光源17は、連続出力のレーザ光源とすることができる。第1のレーザ光源11として、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(アンプ)又はネオジウム(Nd)添加固体レーザないしファイバーレーザ(アンプ)を用いることができる。第2のレーザ光源16として、ツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ(アンプ)を用いることができる。第3のレーザ光源17として、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(アンプ)を用いることができる。
第1のDUV光波長は266nm近傍、第2のDUV光波長は234.9nm近傍、第3のDUV光波長は193.4nm近傍とする。これにより、ArFレーザの発振波長と実質的に一致するDUV光を発生させることができる。本実施の形態にかかる光源装置は、DUVマスクの検査装置用の光源として好適である。すなわち、露光波長と検査波長を一致させることができるため、より正確にマスク検査を行うことができる。検査装置は、光源と、光源装置からのDUV光を試料であるマスク(マスクブランクスを含む)に照射する光学系とを備える。そして、光源装置からのDUV光を試料に照射して、検査を行う。上記の構成で、ArFレーザの発振可能範囲の波長のDUV光を効率よく発生させることができる。よって、効率よく、マスクを検査することができる。以下、光源装置の具体的構成例、及びその効果について詳細に説明する。
CLBO結晶は、高出力DUV光を発生するのに適した結晶ではあるが、非特許文献10(J. Sakuma, et al, "All−solid−state, 1W, 5kHz laser source below 200nm", OSA Trends in Optics and Photonics. 26, pp. 89−92 (1999).)において非臨界位相整合(NCPM)と呼ばれる条件を満足した場合、そのDUV光出力が特に大きくなることが報告されている。
前記した特許文献10では、CLBO結晶を−180℃まで冷却することによって屈折率を変化させると236.3nmと1064nmとのNCPM和周波混合が可能になり、193.439nmが発生可能になることが示されている。これらの報告以降、NCPM動作のCLBO結晶は高効率な波長変換に適することが更に示されており、例えば473nm光の第2高調波発生において−15℃の温度とする場合も報告されている(David C.Gerstenberger, Thomas M Trautmann, Mark Bowers, "Noncritically phase-matched second-harmonic generation in cesium lithium borate," Optics Letters, Vol. 28 Issue 14, pp.1242-1244 (2003))。
しかしながら、CLBO結晶は吸湿性による劣化を防ぐために水の沸点である100℃以上に加熱して利用することが望ましく、−180℃に冷却するのは実用的ではない。図2にNCPM動作CLBO結晶での和周波混合により193.4nmを発生する場合の入射光波長と結晶温度の関係(計算値)を示す。図2から判るように、CLBO結晶を実用に適した100℃以上200℃以下に加熱した状態でArFエキシマレーザの中心波長193.4nmを発生させるためには、混合する2つ光の波長(λ、λ)として、長波長側は1096nm≦λ≦1111nm、短波長側234.1nm≦λ≦234.9nm、とする必要があることを発明者は見出した。前述の特許文献(特許文献16、特許文献17)は、この条件を満たしていないので193.4nmの発生には適用できない。和周波混合による変換効率係数は非特許文献11(G. D. Boyd and D. A. Kleinman, "Parametric interaction of focused Gaussian light beams," J. Appl. Phys. 39, III597−3679 (1968).)に示された以下の式(3)で計算できる。
Figure 0004590578
上式におけるBは結晶のウォークオフ角と呼ばれる角度ρに比例するパラメータ、ζは集光条件を表すパラメータ、Deffは結晶の有効非線形定数、lは結晶長である。hの計算式は文献に記されているが、位相整合条件から決まるρすなわちBの値に対して、hを最大とするζが最適な集光条件となる。ρが小さいほどhは大きくなり、特にρ=0のNCPM動作ではB=0となり、B=0での最適集光条件ζ=2.84においてhの値は最大の1.068となる。NCPMでない場合はB>0となり、その場合の最適集光条件である1.392≦ζ<2.84に対してhの値は1.068より小さくなる。変換効率係数を用いて和周波混合光の出力PSFGは以下の式(4)で計算される。
SFG=γSFG ・P ・・・(4)
、Pはそれぞれ入射する波長λ、λの光の出力である。特に強度の低い連続出力のレーザ光で和周波混合を行うには、なるべくhを最大化、すなわち最適集光条件を実現することが重要となる。CLBOの結晶長として、高品質な結晶が容易に入手可能な20mmとして、前述の公知例を含めて最適集光条件における変換効率係数を計算したものを図3に表1として示す。
表1から判るように、λ=1096nm、λ=234.9nmの和周波混合による193.4nm発生は100℃付近に加熱したCLBO結晶によりNCPM動作となり、公知例に比して極端に大きくなる。例えばλ=1111nm、λ=234.1nmとしても、結晶温度を約200℃まで上昇させればNCPM動作となり同様の変換効率が得られる。
そこで、具体的に1096〜1111nmと234.1〜234.9nmという光を現実的に得る手段があるかどうかが問題となる。1096〜1111nmについては、近年良く用いられているイッテリビウム(Yb)添加のファイバーは、図4に発光スペクトルを示すように1030〜1120nmで利得があり、1100nm付近での発振、増幅が十分に可能である。とはいうものの、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザないしアンプは、ネオジウム(Nd)添加固体レーザないしファイバーレーザ(アンプ)の発振波長でもある1064nm付近での利得は高く、数10Wという高出力化も容易であるが、1100nm付近での利得は低いので高出力化は容易とは言えないことは実用上考慮が必要である。
一方234.1〜234.9nm(=λ)については、やはり、以下の(5)式に示す波長変換に依らなければならない。
1/λ+1/λ=1/λ ・・・(5)
式(5)で示さされる和周波混合を行うためのλ、λの組合せとしては、以下が考えられる。
(1) チタンサファイアレーザ等によるλ〜700nm光と、イッテリビウム(Yb)添加固体(ファイバー)レーザ(アンプ)の第3次高調波λ〜355nmとの和周波混合(非特許文献10)
(2) エルビウム(Er)添加ファイバーレーザ(アンプ)によるλ1〜1.55μm光とイッテリビウム(Yb)添加固体(ファイバー)レーザ(アンプ)の第4次高調波λ〜277nmとの和周波混合(特許文献7)
(3) ツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ(アンプ)等によるλ〜2.0μm光とイッテリビウム(Yb)添加固体(ファイバー)レーザ(アンプ)の第4次高調波λ〜266nmとの和周波混合
(4) プラセオジム(Pr)添加固体レーザ等により得られる470nm光の第2高調波発生。
このうち、(4)のプラセオジム(Pr)添加固体レーザは今後の実用化は十分に期待されるが、現状は研究段階である。また、(1)のチタンサファイアレーザは複雑な装置であり半導体製造のような高信頼性が要求される産業用途には適さない。(2)の方式として、特許文献7にてイッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(アンプ)による1105nm光の第4次高調波(〜276nm)とエルビウム(Er)添加ファイバーレーザ (アンプ)による1.55μm光のBBO結晶を用いた和周波混合により234.4nmを発生する方式が示されている。しかしながら、前述したように1105nmという波長は、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザで発振可能とはいえ、高出力化は難しい波長である。その第4次高調波となると更に高出力化が難しくなるという問題がある。
一方で(3)の方式の場合、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(アンプ)ないしネオジウム(Nd)添加固体レーザないしファイバーレーザ(アンプ)の第4次高調波として特に波長266nmの光源が広く実用化されている。
λ=266nmの場合、234.1〜234.9nm発生のための長波長側波長はλ=1950〜2010nmとなるが、図5に発振スペクトルを示すようにツリウム(Tm)添加ファイバーレーザないしアンプにより容易に出力が得られる波長となる。この和周波混合に位相整合する非線形光学結晶としては、LBO、CLBO、BBO結晶等がある。これらの各結晶を用いた場合の最適集光における(2)と(3)の各方式における変換係数の計算値を図6に表2として示す。
全ての結晶について、その長さは一般に容易に入手可能なサイズである20mmと仮定して計算している。ただしBBO結晶、LBO結晶は通常入出射端面の反射防止膜を施せるので直方体型と仮定し、損失は大きめに1%と見積もっている。一般に反射防止膜を施した垂直入射型の方が結晶内でレーザ光が広がらないので変換効率は高いが、CLBO結晶は反射防止膜の利用が困難なのでブリュースター型と仮定した。表2から判るように、λ=2009nmとλ=266nmとの和周波混合による234.9nm発生では、52℃付近のLBO結晶でNCPM動作となり、その変換効率係数は他に比して非常に高くなっている。λ=2009nmを1950nmに変更すると発生波長は234.1nmとなる。図7にλ=266nm固定としてλ=1950〜2010nmで変化させた場合の和周波混合による発生波長λと、この和周波混合に対してNCPM動作を得るためのLBO結晶の温度の関係を示す。なお、和周波混合による発生波長λは以下の式(6)で示される。
1/λ=1/λ+1/266 ・・・(6)
波長1950nmに対してもLBO結晶の温度1℃でNCPM動作が得られる。これでも動作は可能であるが、結露等の対策が必要となるので、実際は室温でNCPM動作となる波長1970nm以上とした方が望ましい。
一方で、特許文献17に示された276nmと1.55μm光との和周波混合ではLBO結晶を用いてもNCPM動作を得ることはできず、むしろBBO結晶の方が変換効率は高くなっている。しかし、NCPM動作のLBO結晶によるλ=1950〜2009nmとλ=266nmとの和周波混合により234.1〜234.9nmの光を発生させた方が、その6倍もの高効率の変換効率が得られるので圧倒的に有利である。
以上のように、発生波長1950〜2009nm付近のツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ(TDFL:Thulium doped fiber laser)またはアンプ(TDFA:Thulium doped fiber amplifier)の出力光と、発生波長1064nm付近のレーザ光の第4次高調波発生による波長266nmの紫外光とのLBO結晶を利用した和周波混合により発生する234.9nmの紫外光に、第2段階として発振波長1096〜1111nm付近のイッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(YDFL:Ytterbium doped fiber laser)ないしアンプ(YDFA:Ytterbium doped fiber amplifier)の出力光をCLBO結晶により和周波混合するという構成によって非常に高効率な193.4nm光源を実現できることを発明者は見出した。
266nm発生のための1064nm光源としては、YDFL、YDFA以外にネオジウム(Nd)添加のファイバーレーザ、ファイバーアンプ、ないし固体レーザも十分に実用的である。
従来の公知例は全て1ないし2台のレーザ光源により193.4nm近傍の深紫外光を発生させており一見小型化に適しているが、本発明の構成は遥かに変換効率が高いため装置はむしろ小型になる。その上連続出力の193.4nm深紫外光を発生させるために必要な外部共振器の構築が容易になるという特徴もある。和周波混合において連続出力の波長変換光を得るには、外部共振器により長波長側の光を増強した内部に非線形光学結晶を配し、その結晶に対して短波長側の光をシングルパスで通過させる方法がある(特許文献1等)。
このような単共振型和周波混合による連続出力の193.4nm光源の概略の構成例を図8に示す。図8は、第1及び第2の和周波発生器の構成を模式的に示す図である。図8において234.9nm発生および193.4nm発生の和周波混合は、各4枚の光学鏡からなる外部共振器として示してある。例えば、第1の和周波混合器14は、光学鏡21、光学鏡22、光学鏡23、光学鏡24、及びLBO結晶25を備えている。そして、第4高調波(中心波長266nm)と第2のレーザ光(中心波長2009nm)が第1の和周波混合器14の外部共振器に入射する。光学鏡23と光学鏡24の間に配置されたLBO結晶25によって、和周波が発生する。そして、第1の和周波発生器14で発生した和周波(中心波長234.9nm)が、第2の和周波発生器15に入射する。
同様に、第2の和周波混合器15は、光学鏡31、光学鏡32、光学鏡33、光学鏡34、及びCLBO結晶35を備えている。また、第3のレーザ光(中心波長1096nm)が、光学鏡36、37を介して、第2の和周波混合器15の外部共振器に入射する。光学鏡33と光学鏡34の間に配置されたCLBO結晶35によって、和周波が発生する。そして、第2の和周波発生器15で発生した中心波長193.4nmの和周波が光源装置から出力される。
234.9nm発生用のLBO結晶25は入出射面に反射防止膜が施された直方体型とし、2009nmの光を共振させて266nm光はシングルパスで結晶を通過させることを示している。LBO結晶はブリュースターカット型でもよく、また効率は下がるがBBO結晶等他の結晶でも構わない。
2009nm光を外部共振器で共振させるためには、DFB(Distribution FeedBack)レーザ等で狭帯域化された光をTDFAで増幅した出力光、ないしファイバーブラッググレーティング(FBG)を用いて狭帯域化されたTDFLを用いればよい。外部共振器は、PDH法(R. W. P. Drever, J. L. Hall, F. V. Kowalski, J. Hough, G. M. Ford, A. J. Munley, and H. Ward, "Laser phase and frequency stabilization using an optical resonator," Applied Physics B 31 (2), 97−105 (1983).)、またはHC法(T.W. Hansch and B. Couillaud, Opt. Commun. 35, 441 (1980))と呼ばれる制御法により共振器長を入射光波長の整数倍に保持すれば共振が保たれる。いずれも広く利用されている一般的な手法なので図においてそれぞれに必要な光学素子、電気回路は省略している。また、それぞれの共振器に用いられる光学鏡の数は3以上であればよい。
193.4nm発生用のCLBO結晶35はブリュースターカット型として1096nmの光を共振させ、234.9nmの光をシングルパスで通過させて193.4nmの光を発生させる構成としている。1096nmの光は2009nm光と同様にDFBレーザ光のイッテリビウム(Yb)ファイバーアンプ(YDFA)による増幅光、ないしFBGを用いて狭帯域化されたイッテリビウム(Yb)ファイバーレーザ(YDFL)等を用いる。CLBO結晶は端面に反射防止膜を施せた場合は直方体型としても構わない。このようにして発生する連続出力の193.4nm光は、半導体検査等に適した線幅MHz帯域の狭帯域光となる。
(発明の効果)
外部共振器による光強度の増強度は、共振器を構成する光学鏡の性能等に依存するが、一般には40〜100倍程度とすることができる。低めに40倍と仮定して、本発明の構成および公知例において100mWの193.4nmを発生させるために必要な各光出力を見積もると、例えば図9、図10のようになる。図9では、本実施の形態にかかる構成を最上段に示し、公知例による構成を2〜4段目に示している。また、図10は公知例による構成を示している。
これまでの公知例はすべて1ないし2台のレーザ光源を用いるとしているが、連続出力光源の構築は困難となるので全て3台用いるものとして計算している。それぞれの方式に用いられる266nm、257nm、278nmの各出力は、市販製品レベルである1Wで共通とした。各和周波混合用結晶としては、各変換に対して計算上最も効率の高くなる長さ20mmのLBOないしCLBOを仮定した。CLBO結晶の場合は反射防止膜を施すことが困難なためブリュースターカットと仮定し、出射端面でのフレネル反射による損失を考慮した。図9、10における菱形はCLBOを示している。
図9、10から判るように、本発明においては266nmから193.4nm発生までの効率が極めて高いために、第2、第3の光源としてはその合計出力として僅か2Wの1100nm付近のイッテリビウム(Yb)ファイバーレーザ(アンプ)、と2000nm付近のツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ(アンプ)があれば良い。一方で各公知例では第2、第3光源の出力の合計として9〜45Wという高出力光源が必要となる。このような高出力の光源を用いた場合、外部共振器内のパワーは1kW程度にも達するので、共振器を構成する光学鏡の損傷の懸念が高くなる。また、非線形光学結晶の光吸収、発熱による出力不安定性の問題も大きくなる。
波長1105nm光源を適用する方式(特許文献17)では、他の公知例に比べれば効率は高いものの、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ(アンプ)でも低利得の波長1105nmの第4次高調波278nmにおいて出力1W程度の高出力紫外光が必要であり、その実用化は容易ではない。
これらの公知例に対して高効率な本発明では、各光源の消費電力、サイズ、コストに関しても全て公知例よりも小さくなり、検査装置等に適用する際の優位性は極めて高い。しかも本発明に用いている266nmは最も高出力が得やすい波長であり、高出力化が容易という拡張性もある。また、本発明における234.1〜234.9nm光、193.4nm光の発生は、ともに発生効率が高いだけでなく、ウォークオフと呼ばれる現象がない非臨界位相整合(NCPM)か、それに近い動作であるため、サイドローブとよばれるビームの空間強度分布上の歪みが発生せず、応用においても使いやすいビームであるという特長もある。193.4nmのみならず、途中で発生する234.9nmの光は、光ディスクマスタリング、ファイバーグレーティング書き込み等、現状様々な産業分野で利用されている266nmおよびアルゴンイオンレーザ第2高調波発生による257nm、244nmよりも短波長であり、本発明に示した高効率な構成によってこれらの応用においても利用することが可能である。
以上の説明ではArFエキシマレーザの中心波長193.4nmの発生として各波長を示したが、各レーザ光源および途中段階の波長は多少違っていても結晶の温度調整や角度調整により位相整合が得られるので構わない。例えば234.9nmを発生させるのにはλ=1920nm、λ=267.5nmとし、LBO結晶で和周波混合しても得ることができる。この場合のLBO結晶はNCPM動作とはならないが、これまでの公知例よりは高い変換効率が得られる。また、イッテリビウム(Yb)ないしネオジウム(Nd)添加の固体レーザ、ファイバーレーザ(アンプ)の第4次高調波発生による266nmの光源を用いるとしたが、これらは1060〜1080nmにて高出力の第4次高調波が得られ、その場合の波長は265.25〜270nmとなり、それを用いてもよい。
また本発明は最終的に193.4nmだけを発生するために限ることものではなく、図11に示したようなArFエキシマレーザで発振可能な192.5〜194.5nmの範囲で発生させることに適用することが可能である。その場合も各レーザ光源および途中段階の波長は説明した波長とは多少異なる場合がある。以上の説明では、連続出力での193.4nm光発生を主眼に説明したが、パルスレーザを用いてパルス発振の193.4nm光を発生させる場合にも高効率な光源を得られることは同様である。以上の構成の説明において例として示したレーザは全てビーム品質方向安定性等に優れたファイバーレーザ(アンプ)であるので安定な波長変換出力が得られる上に、波長変換部と各レーザ光源をファイバーで結合できるので、193.4nm発生部を小型化でき、保守性にも優れている。ただし、必ずしもファイバーレーザ(アンプ)でなくても構わず、例えば通常の固体媒質にイッテリビウム(Yb)等を添加した固体レーザでも構わない。
なお、以上の発明の説明において、和周波混合に用いるLBO結晶およびCLBO結晶はいずれもNCPM動作であるとしたが、NCPMに近い動作であれば実用上は差し支えない。NCPM用の結晶は通常そのカット角が結晶軸に対して0度ないし90度であるが、多少ずれていても構わない。また、それにより入射光波長、発生光波長が以上の説明と多少異なっていたとしても、発明の本質から外れるものではない。また、結晶の不純物等によって若干位相整合するための波長や温度が説明と異なる場合もあるが、やはり発明の本質から外れるものではない。
本発明によれば、取扱い性の良いファイバーレーザ(アンプ)ないし固体レーザと、特殊ではない非線形光学結晶で構成され、高出力でかつ連続出力も可能な193.4nm近傍のDUV光源を提供することができる。
11 第1のレーザ光源
12 第1の第2高調波発生器
13 第2の第2高調波発生器
14 第1の和周波発生器
15 第2の和周波発生器
16 第2のレーザ光源
17 第3のレーザ光源
21〜24 光学鏡
25 BBO結晶
31〜34 光学鏡
35 CLBO結晶
36、37 光学鏡

Claims (11)

  1. 波長1060〜1080nmのレーザ光を発生させる第1のレーザ光源と、
    波長1750〜2100nmのレーザ光を発生させる第2のレーザ光源と、
    波長1080〜1120nmのレーザ光を発生させる第3のレーザ光源と、
    前記第1のレーザ光源の出力光の第4次高調波発生により波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させる第1の波長変換手段と、
    前記第1のDUV光と前記第2のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させる第2の波長変換手段と、
    CLBO(CsLiB 10 )結晶を有し、前記第2のDUV光と前記第3のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長192.5〜194.5nmの第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えた光源装置。
  2. 波長1060〜1080nmのレーザ光を発生させる第1のレーザ光源と、
    波長1750〜2100nmのレーザ光を発生させる第2のレーザ光源と、
    波長1080〜1120nmのレーザ光を発生させる第3のレーザ光源と、
    前記第1のレーザ光源の第4次高調波発生により波長266nm近傍の第1のDUV光を発生させる第1の波長変換手段と、
    前記第1のDUV光と第2のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長234.9nm近傍の第2のDUV光を発生させる第2の波長変換手段と、
    CLBO(CsLiB 10 )結晶を有し、第2のDUV光と第3のレーザ光源の出力光との和周波混合により波長が略193.4nmの第3のDUV光を発生させる第3の波長変換手段とを備えた光源装置。
  3. 前記第2の波長変換手段は、LBO(LiB)結晶を有していることを特徴とする請求項1、又は2に記載の光源装置
  4. 前記第1のレーザ光源、第2のレーザ光源、及び第3のレーザ光源が連続出力であり、
    前記第2の波長変換手段、および第の波長変換手段のそれぞれが、少なくとも3枚の光学鏡を有する外部共振器と、前記外部共振器の内部に設置された非線形光学結晶と、を備えている請求項1乃至のいずれか1項に記載の光源装置。
  5. 前記第1のレーザ光源は、イッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザ又はアンプ、あるいはネオジウム(Nd)添加固体レーザ、ネオジウム(Nd)添加固体レーザファイバーレーザ又はアンプである請求項1乃至のいずれか1項に記載の光源装置。
  6. 前記第2のレーザ光源はツリウム(Tm)添加ファイバーレーザ又はアンプであることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の光源装置。
  7. 前記第3のレーザ光源はイッテリビウム(Yb)添加ファイバーレーザであることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の光源装置。
  8. 前記第1のDUV光の波長は266nm近傍であり、
    前記第2のレーザ光源の波長は1950〜2010nmであり、
    前記第2のDUV光波長は234.1〜234.9nmであり、
    前記第3のレーザ光源の波長は1096〜1111nmであり、
    前記第3のDUV光波長は193.4nm近傍であることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の装置。
  9. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の光源装置を備え、
    前記光源装置からのDUV光を試料に照射して検査を行うマスク検査装置。
  10. 波長1060〜1080nmの光の第4高調波によって波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させるステップと、
    前記第1のDUV光と、波長1750〜2100nmの光の和周波混合によって、波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させるステップと。
    前記第2のDUV光と、波長1080〜1120nmの光との和周波混合によって、波長192.5〜194.5nmの第3のDUV光を発生させるステップと、を備え、
    前記第3のDUV光を発生させるステップでは、CLBO(CsLiB 10 )結晶を有する波長変換手段を用いているコヒーレント光発生方法。
  11. 波長1060〜1080nmの光の第4高調波によって波長265〜270nmの第1のDUV光を発生させるステップと、
    前記第1のDUV光と、波長1750〜2100nmのレーザ光の和周波混合によって、波長232〜237nmの第2のDUV光を発生させるステップと。
    前記第2のDUV光と、波長1080〜1120nmのレーザ光との和周波混合によって、ArFエキシマレーザの発振可能範囲の波長の第3のDUV光を発生させるステップと、を備え
    前記第3のDUV光を発生させるステップでは、CLBO(CsLiB 10 )結晶を有する波長変換手段を用いているコヒーレント光発生方法。
JP2010085070A 2010-04-01 2010-04-01 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法 Expired - Fee Related JP4590578B1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010085070A JP4590578B1 (ja) 2010-04-01 2010-04-01 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法
US13/075,797 US8503068B2 (en) 2010-04-01 2011-03-30 Radiation source apparatus and DUV beam generation method
EP11160798A EP2372449A3 (en) 2010-04-01 2011-04-01 Radiation source apparatus and DUV beam generation method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010085070A JP4590578B1 (ja) 2010-04-01 2010-04-01 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP4590578B1 true JP4590578B1 (ja) 2010-12-01
JP2011215472A JP2011215472A (ja) 2011-10-27

Family

ID=43425688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010085070A Expired - Fee Related JP4590578B1 (ja) 2010-04-01 2010-04-01 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8503068B2 (ja)
EP (1) EP2372449A3 (ja)
JP (1) JP4590578B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011158927A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 株式会社ニコン 紫外レーザ装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103348286B (zh) * 2011-03-24 2015-11-25 株式会社尼康 紫外线激光装置
US9793673B2 (en) 2011-06-13 2017-10-17 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology system using laser pulse multiplier
US8873596B2 (en) 2011-07-22 2014-10-28 Kla-Tencor Corporation Laser with high quality, stable output beam, and long life high conversion efficiency non-linear crystal
US20130077086A1 (en) * 2011-09-23 2013-03-28 Kla-Tencor Corporation Solid-State Laser And Inspection System Using 193nm Laser
KR20130073450A (ko) * 2011-12-23 2013-07-03 한국전자통신연구원 테라헤르츠파 생성기 및 테라헤르츠파 생성 방법
US9678350B2 (en) * 2012-03-20 2017-06-13 Kla-Tencor Corporation Laser with integrated multi line or scanning beam capability
US9450696B2 (en) * 2012-05-23 2016-09-20 Vadum, Inc. Photonic compressive sensing receiver
US9042006B2 (en) 2012-09-11 2015-05-26 Kla-Tencor Corporation Solid state illumination source and inspection system
US9151940B2 (en) 2012-12-05 2015-10-06 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology system using laser pulse multiplier
US8929406B2 (en) 2013-01-24 2015-01-06 Kla-Tencor Corporation 193NM laser and inspection system
US9529182B2 (en) 2013-02-13 2016-12-27 KLA—Tencor Corporation 193nm laser and inspection system
US9608399B2 (en) 2013-03-18 2017-03-28 Kla-Tencor Corporation 193 nm laser and an inspection system using a 193 nm laser
JP5825642B2 (ja) * 2013-04-30 2015-12-02 レーザーテック株式会社 光源装置、検査装置、及び波長変換方法
US9509112B2 (en) * 2013-06-11 2016-11-29 Kla-Tencor Corporation CW DUV laser with improved stability
US9804101B2 (en) * 2014-03-20 2017-10-31 Kla-Tencor Corporation System and method for reducing the bandwidth of a laser and an inspection system and method using a laser
US9429813B2 (en) * 2014-05-15 2016-08-30 Oxide Corporation Deep ultraviolet laser generation device and light source device
US9525265B2 (en) 2014-06-20 2016-12-20 Kla-Tencor Corporation Laser repetition rate multiplier and flat-top beam profile generators using mirrors and/or prisms
US9419407B2 (en) 2014-09-25 2016-08-16 Kla-Tencor Corporation Laser assembly and inspection system using monolithic bandwidth narrowing apparatus
US20160099536A1 (en) * 2014-10-02 2016-04-07 Toptica Photonics Ag Generation of continuous wave duv laser radiation
US9748729B2 (en) 2014-10-03 2017-08-29 Kla-Tencor Corporation 183NM laser and inspection system
US9696568B2 (en) 2015-05-13 2017-07-04 Lasertec Corporation Light source apparatus and inspection apparatus
US10175555B2 (en) 2017-01-03 2019-01-08 KLA—Tencor Corporation 183 nm CW laser and inspection system
CN109950779B (zh) * 2019-04-17 2024-05-10 温州大学 用于激光眼底光凝治疗的五波长激光光源
WO2023163918A1 (en) * 2022-02-22 2023-08-31 Board Of Trustees Of The University Of Arkansas Frequency conversion cavity for tunable continuous wave uv lasers

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073970A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Cyber Laser Kk Cw深紫外線光源

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742626A (en) 1996-08-14 1998-04-21 Aculight Corporation Ultraviolet solid state laser, method of using same and laser surgery apparatus
DE19709443C1 (de) 1997-03-07 1998-10-08 Clariant Gmbh Verfahren zur Herstellung von N-Carboxyalkyl-3-fluor-4-dialkylaminoanilinen und N-Carboxymethyl-3-fluor-4-morpholinoanilin und N-Carboxyisobutyl-3-fluor-4-morpholinoanilin
JP3514073B2 (ja) 1997-06-10 2004-03-31 株式会社ニコン 紫外レーザ装置及び半導体露光装置
EP1070982A4 (en) 1997-09-17 2003-05-21 Ushio Electric Inc LIGHT SOURCE
JPH11251666A (ja) 1998-03-04 1999-09-17 Sony Corp レーザ光発生方法及びその装置
JP4232130B2 (ja) 1998-03-11 2009-03-04 株式会社ニコン レーザ装置並びにこのレーザ装置を用いた光照射装置および露光方法
JP3997450B2 (ja) 1998-03-13 2007-10-24 ソニー株式会社 波長変換装置
US6373869B1 (en) 1998-07-30 2002-04-16 Actinix System and method for generating coherent radiation at ultraviolet wavelengths
JP4300608B2 (ja) 1998-11-30 2009-07-22 ウシオ電機株式会社 Clbo結晶による和周波光の発生方法
JP2002099007A (ja) 2000-09-21 2002-04-05 Sony Corp レーザ光発生装置およびそれを用いた光学装置
JP3939928B2 (ja) 2001-02-28 2007-07-04 サイバーレーザー株式会社 波長変換装置
JP2004086193A (ja) 2002-07-05 2004-03-18 Nikon Corp 光源装置及び光照射装置
EP1724633B1 (en) * 2004-03-08 2017-01-04 Nikon Corporation Laser light source device, exposure apparatus using this laser light source device, and mask examining device
US7627007B1 (en) 2004-08-25 2009-12-01 Kla-Tencor Technologies Corporation Non-critical phase matching in CLBO to generate sub-213nm wavelengths
JP2007086101A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Megaopto Co Ltd 深紫外レーザー装置
JP4925085B2 (ja) 2005-09-20 2012-04-25 株式会社メガオプト 深紫外レーザー光の発生方法および深紫外レーザー装置
US7471705B2 (en) 2005-11-09 2008-12-30 Lockheed Martin Corporation Ultraviolet laser system and method having wavelength in the 200-nm range
US7593437B2 (en) 2006-05-15 2009-09-22 Coherent, Inc. MOPA laser apparatus with two master oscillators for generating ultraviolet radiation
US20090185583A1 (en) 2006-06-02 2009-07-23 Corning Incorporated UV and Visible Laser Systems
KR20100046196A (ko) * 2007-08-01 2010-05-06 딥 포토닉스 코포레이션 펄스형 고조파 자외선 레이저 장치 및 펄스형 고조파 자외선 생성 방법
JP2010050389A (ja) 2008-08-25 2010-03-04 Sony Corp レーザ光発生装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006073970A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Cyber Laser Kk Cw深紫外線光源

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011158927A1 (ja) * 2010-06-17 2011-12-22 株式会社ニコン 紫外レーザ装置
JPWO2011158927A1 (ja) * 2010-06-17 2013-08-19 株式会社ニコン 紫外レーザ装置
US8780946B2 (en) 2010-06-17 2014-07-15 Nikon Corporation Ultraviolet laser device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011215472A (ja) 2011-10-27
EP2372449A3 (en) 2012-02-08
US8503068B2 (en) 2013-08-06
US20120026578A1 (en) 2012-02-02
EP2372449A2 (en) 2011-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4590578B1 (ja) 光源装置、マスク検査装置、及びコヒーレント光発生方法
Wilson et al. A 750-mW, continuous-wave, solid-state laser source at 313 nm for cooling and manipulating trapped 9 Be+ ions
Myers et al. Quasi-phase-matched optical parametric oscillators in bulk periodically poled LiNbO 3
JP3997450B2 (ja) 波長変換装置
US20050169326A1 (en) Laser architectures for coherent short-wavelength light generation
CN105210245B (zh) 具有圆形输出光束的高效单通型谐波发生器
JP6214070B2 (ja) 深紫外レーザ発生装置および光源装置
JP2007206452A (ja) 深紫外光源及び、その深紫外光源を用いたマスク検査装置及び露光装置
Loiko et al. In-band-pumped Ho: KLu (WO 4) 2 microchip laser with 84% slope efficiency
Zhao et al. High-power continuous-wave narrow-linewidth 253.7 nm deep-ultraviolet laser
JP2023530266A (ja) 積み重ねられた四ホウ酸ストロンチウム板を使用した周波数変換
Sakuma et al. True CW 193.4-nm light generation based on frequency conversion of fiber amplifiers
JP6020441B2 (ja) 紫外レーザ装置
Wang et al. Development and characterization of a 2.2 W narrow-linewidth 318.6 nm ultraviolet laser
Zou et al. Tunable, continuous-wave, deep-ultraviolet laser generation by intracavity frequency doubling of visible fiber lasers
Sakuma et al. High-power CW deep-UV coherent light sources around 200 nm based on external resonant sum-frequency mixing
KR100831140B1 (ko) 광 파장 변환을 수행하는 프로그램을 포함하는 컴퓨터판독가능한 매체
JP5213368B2 (ja) レーザ光第2高調波発生装置
JP5825642B2 (ja) 光源装置、検査装置、及び波長変換方法
Wang et al. Tunable deep ultraviolet single-longitudinal-mode laser generated with Ba 1-x B 2-yz O 4 Si x Al y Ga z crystal
Imai et al. CW 198.5-nm light generation in CLBO
JP2013044764A (ja) レーザ装置、疑似位相整合型の波長変換光学素子のフォトリフラクティブ効果抑制方法、露光装置及び検査装置
Matsubara et al. An all-solid-state tunable 214.5-nm continuous-wave light source by using two-stage frequency doubling of a diode laser.
JP2003262895A (ja) 和周波発生方法及びこれを利用した波長可変レーザ光の発生方法と差分吸収レーザレーダ計測法、和周波発生装置及びこれを利用した波長可変レーザ装置と差分吸収レーザレーダ
Kim et al. Compact, wavelength-selectable, energy-ratio variable Nd: YAG laser at mid-ultraviolet for chemical warfare agent detection

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100819

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130924

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4590578

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees