JP4588614B2 - バッテリのセルショート検出方法および装置 - Google Patents
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Description
23b 開放電圧収集手段(RAM)
23a−2 想定開回路電圧算出手段(CPU)
23a−3 判定手段(CPU)
Claims (4)
- バッテリのセルショートを検出するバッテリのセルショート検出方法であって、
充電が終了した後、バッテリの開放電圧を所定のサンプリング周期で所定期間の間測定する開放電圧測定ステップと、
開放電圧測定ステップで測定した開放電圧を収集する開放電圧収集ステップと、
開放電圧収集ステップで収集した開放電圧に対して時間の経過順に予め定めた複数の期間の各期間内の前記開放電圧に基づいて近似された、べき数が−0.5となるかまたは略−0.5となる累乗近似式が漸近する電圧値を各期間の想定開回路電圧として求める想定開回路電圧算出ステップと、
想定開回路電圧算出ステップで算出した各期間の想定開回路電圧が、時間の経過と共に減少しかつその減少割合が予め決められた基準レベルを超えていた場合、セルショートが発生していると判定する判定ステップと
を含むことを特徴とするバッテリのセルショート検出方法。 - バッテリのセルショートを検出するバッテリのセルショート検出装置であって、
充電が終了した後、バッテリの開放電圧を所定のサンプリング周期で所定期間の間測定する開放電圧測定手段と、
開放電圧測定手段で測定した開放電圧を収集する開放電圧収集手段と、
開放電圧収集手段で収集した開放電圧に対して時間の経過順に予め定めた複数の期間の各期間内の前記開放電圧に基づいて近似された、べき数が−0.5となるかまたは略−0.5となる累乗近似式が漸近する電圧値を各期間の想定開回路電圧として求める想定開回路電圧算出手段と、
想定開回路電圧算出手段で算出した各期間の想定開回路電圧が、時間の経過と共に減少しかつその減少度合いが予め決められた基準レベルを超えていた場合、セルショートが発生していると判定する判定手段と
を備えていることを特徴とするバッテリのセルショート検出装置。 - 請求項2記載のバッテリのセルショート検出装置において、
前記想定開回路電圧算出手段は、前記各期間の開放電圧と、想定した想定開回路電圧との差値により、べき数が負である予め定めた累乗近似式を決定し、該決定した累乗近似式のべき数が−0.5となるかまたは略−0.5となるまで、前記累乗近似式の決定を前記想定開回路電圧を更新しながら繰り返し実行することによって、前記累乗近似式が漸近する電圧値を求める
ことを特徴とするバッテリのセルショート検出装置。 - 請求項2または3記載のバッテリのセルショート検出装置において、
時間をt、未知の係数をα、未知の負のべき数をDとしたとき、前記累乗近似式がα・tD で表される
ことを特徴とするバッテリのセルショート検出装置。
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