JP4587766B2 - クラスターイオンビーム装置 - Google Patents
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Description
クラスター生成装置228には、ガス導入系231が接続されており、ガス導入系231から導入されたクラスタ用ガスはクラスター生成装置228でクラスター化され、イオン化装置216内に導入される。
図5の符号242は加速電極227等に電圧を印加する電源装置、符号245、246は真空槽211の内部を真空排気する真空排気系を示している。
また、より長寿命にするためには、熱陰極を用いずにプラズマ生成室内にプラズマを生成させるとよい。
すなわち、空間電荷制限電流の領域では、クラスターのイオン化に寄与する電子ビーム電流が小さくなるという問題がある。
また、本発明は、前記貫通孔の合計面積よりも前記放出孔の合計面積の方が大きくされたクラスターイオンビーム装置である。
また、本発明は、前記プラズマ生成手段は、通電により電子を放出するフィラメントを有するクラスターイオンビーム装置である。
また、本発明は、前記プラズマ生成手段は、交流電圧が印加され、前記プラズマ生成室内にプラズマを発生させる誘導コイルを有するクラスターイオンビーム装置である。
本発明の放出孔は、板状の電子引出し電極に設けた貫通孔の他、網状の電子引出し電極の網目であってもよい。
このイオンビーム装置1は真空槽11を有しており、その内部にはノズル21が配置されている。
ノズル21の前面には、スキマー22が配置されており、ノズル21とスキマー22とでクラスター生成装置28が構成されている。
ノズル21とスキマー22の間と、後述する試料212の近傍には、真空排気系45、46がそれぞれ接続されており、真空排気系45によってノズル21とスキマー22の間を真空排気しながらノズル21からクラスタ用ガスを噴出すると、噴出されたクラスタ用ガスは断熱膨張によって凝集し、クラスタ用ガスのクラスターが生成される。
放出されたクラスターは、真空槽11の内部をノズル21とは反対方向に向けて飛行する。クラスターの進行方向にはイオン化室25が配置されており、クラスターはイオン化室25内部に進入する。
電子線発生装置20aは、プラズマ生成室15とプラズマ拡張室16とを有している。
プラズマ生成室15の内部には、プラズマの生成手段としてフィラメント33が配置されている。真空槽11の外部には、プラズマ生成用電源装置41が配置されており、フィラメント33やプラズマ生成室15及びプラズマ拡張室16はプラズマ生成用電源装置41から所定値の電圧が印加されるように構成されている。
また、プラズマ生成室15には、第二のガス導入系32が接続されている。
図3の符号2は、そのようなイオンビーム装置の一例であり、第一例のイオンビーム装置1と同じ部材には同じ符号を付して説明を省略する。
プラズマ拡張室16内部のプラズマから放出された電子は、多数の放出孔36からイオン化室25の内部に放射され、クラスターを電離してクラスターイオンを生成する。
プラズマ用ガスには、アルゴンやキセノンの他、窒素ガスを用いることができる。
11……真空槽
15……プラズマ生成室
16……プラズマ拡張室
17……通過孔
20a〜20c……電子線発生装置
28……クラスター生成装置
33、37……プラズマ生成手段
36……放出孔
47……差圧用真空排気系
53、54……プラズマ
Claims (4)
- 真空槽と、
前記真空槽に配置され、クラスターを生成するクラスター生成装置と、
前記クラスターに照射される電子線を発生する電子線発生装置と、
前記真空槽内に設置されるイオン化室と、
前記イオン化室の下流に設置される引出電極と加速電極と、を有し、
前記クラスター生成装置は、
前記真空槽内にクラスタ用ガスを放出してクラスターを生成するノズルと、
生成された前記クラスターが通過する孔を有するスキマーと、を有し、
前記スキマーを通過した前記クラスターは前記イオン化室に進入するように構成され、
前記電子線発生装置は、
プラズマ生成室と、
前記プラズマ生成室に設けられたプラズマ生成手段と、
前記プラズマ生成室と通過孔で接続され、前記イオン化室に面する壁面に複数の放出孔が設けられた電子引出し電極が配置されたプラズマ拡張室と、を有し、
前記プラズマ生成室に導入されたプラズマ用ガスは前記プラズマ生成手段によってプラズマ化され、前記通過孔を通って前記プラズマ拡張室内に進入し、
前記プラズマ拡張室内に存するプラズマから引き出された電子が前記放出孔を通って前記イオン化室内に放出されるように構成され、
前記イオン化室は、接地電位より高電位で、かつ、前記プラズマ拡張室より高電位であり、
前記イオン化室の内部を飛行するクラスターに、前記電子線発生装置から放出された電子線が照射され、クラスターイオンが生成され、前記クラスターイオンが前記引出電極と前記加速電極とでイオンビームにされて試料に照射されるように構成されたクラスターイオンビーム装置。 - 前記貫通孔の合計面積よりも前記放出孔の合計面積の方が大きくされた請求項1記載のクラスターイオンビーム装置。
- 前記プラズマ生成手段は、通電により電子を放出するフィラメントを有する請求項1記載のクラスターイオンビーム装置。
- 前記プラズマ生成手段は、交流電圧が印加され、前記プラズマ生成室内にプラズマを発生させる誘導コイルを有する請求項1記載のクラスターイオンビーム装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2004297749A JP4587766B2 (ja) | 2004-10-12 | 2004-10-12 | クラスターイオンビーム装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006114241A JP2006114241A (ja) | 2006-04-27 |
| JP4587766B2 true JP4587766B2 (ja) | 2010-11-24 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4587766B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106876232A (zh) * | 2017-03-31 | 2017-06-20 | 上海伟钊光学科技股份有限公司 | 具有预错位栅孔离子引出栅极板的离子源 |
| US10249477B2 (en) | 2017-03-29 | 2019-04-02 | Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co., Ltd. | Ion implanter and ion implantation method |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6441702B2 (ja) * | 2015-02-03 | 2018-12-19 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | イオン源、イオンビーム装置および試料の加工方法 |
| CN114536113B (zh) * | 2022-04-27 | 2022-07-29 | 四川欧瑞特光电科技有限公司 | 一种负压装置及离子束抛光机 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62260054A (ja) * | 1986-05-06 | 1987-11-12 | Mitsubishi Electric Corp | 化合物薄膜蒸着装置 |
| JPH06176724A (ja) * | 1992-01-23 | 1994-06-24 | Tokyo Electron Ltd | イオン源装置 |
| JP2871675B2 (ja) * | 1997-03-24 | 1999-03-17 | 川崎重工業株式会社 | 圧力勾配型電子ビーム励起プラズマ発生装置 |
| JP3606842B2 (ja) * | 2002-02-20 | 2005-01-05 | 株式会社シンクロン | 電子銃および電子ビーム照射処理装置 |
-
2004
- 2004-10-12 JP JP2004297749A patent/JP4587766B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US10249477B2 (en) | 2017-03-29 | 2019-04-02 | Sumitomo Heavy Industries Ion Technology Co., Ltd. | Ion implanter and ion implantation method |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2006114241A (ja) | 2006-04-27 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
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|
| A977 | Report on retrieval |
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|
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