JP4578050B2 - Wafer dicing tape substrate - Google Patents

Wafer dicing tape substrate Download PDF

Info

Publication number
JP4578050B2
JP4578050B2 JP2002235982A JP2002235982A JP4578050B2 JP 4578050 B2 JP4578050 B2 JP 4578050B2 JP 2002235982 A JP2002235982 A JP 2002235982A JP 2002235982 A JP2002235982 A JP 2002235982A JP 4578050 B2 JP4578050 B2 JP 4578050B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
weight
adhesive
dicing tape
copolymer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002235982A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2003158098A (en
Inventor
正之 横井
明 三田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gunze Ltd
Original Assignee
Gunze Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gunze Ltd filed Critical Gunze Ltd
Priority to JP2002235982A priority Critical patent/JP4578050B2/en
Publication of JP2003158098A publication Critical patent/JP2003158098A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4578050B2 publication Critical patent/JP4578050B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、紫外線照射後も基材と粘着剤層との接着力を充分に保持し、かつ均一拡張性に優れたウエハダイシングテープ用基材及びそれを用いたウエハダイシングテープに関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体ウエハのダイシング工程では、紫外線照射によりダイシング用粘着テープの粘着力を低下させ、チップのピックアップを容易にする技術が用いられている(特開昭62−54776号公報、特開昭62−153376号公報等)。これらの紫外線硬化型粘着剤を用いた初期の技術では、粘着剤とチップとの接着強度の低下が必ずしも充分ではなく、チップをピックアップする際に不具合を生じることがあった。
【0003】
近年になって、硬化後の粘着力低下が著しい粘着剤組成物が様々提案されており(特開平6−17008号公報、特開平8−27239号公報等)、粘着剤とチップとの接着強度を充分に低下させる試みは一定の成果を挙げている。しかしながら、それは同時に基材と粘着剤層との接着力低下をももたらし、基材から粘着剤層が剥離しやすくなったことによる、チップへの粘着剤の転写という新たな問題が浮上してきた。
【0004】
すなわち、これまでチップへの粘着剤の転写防止という課題に対して、充分な解決策は示されておらず、また、紫外線硬化型粘着剤に対する基材の最適な選定という面からの検討は、ほとんど行われていなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、紫外線照射後も紫外線硬化型アクリル系粘着剤との充分な接着力を保持する表面層(粘着剤塗布層)を有し、かつダイシングテープに用いるに好適な均一拡張性を併せ持つ、ウエハダイシングテープ用基材及びそれを用いたウェハダイシングテープを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、以下のウェハダイシングテープ用基材及びウェハダイシングテープに関する。
項1. 下記の粘着剤塗布層、中間層及びエキスパンドリング接触層をこの順に積層してなるウェハダイシングテープ用基材であって、基材全体の厚みに対して、粘着剤塗布層の厚みが1%〜65%、中間層の厚みが34〜98%、エキスパンドリング接触層の厚みが1%〜65%であるウェハダイシングテープ用基材
粘着剤塗布層
チルメタクリレート含量が5重量%以上のエチレンメチルメタクリレート共重合体(EMMA)、アクリル酸エチル含量が5重量%以上のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)、及メタクリル酸含量が5重量%以上のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)を金属イオンにより架橋したアイオノマー樹脂からなる群より選ばれた少なくとも1種を含む層
中間層
ロピレン成分及び/又はブテン−1成分の含有率が50重量%以上の非晶質のポリオレフィンを40〜60重量%と、結晶性ポリオレフィン60〜40重量%からなる樹脂組成物
キスパンドリング接触層:
低密度ポリエチレン(LDPE)、メタクリル酸含量が10重量%以下のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)、及びアクリル酸エチル含量が10重量%以下のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)からなる群より選ばれる少なくとも1種を含む層。
項2.粘着剤塗布層がアクリル酸エチル含量が5重量%以上のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)を含む層であり、且つエキスパンドリング接触層がアクリル酸エチル含量が10重量%以下のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)を含む層である項1に記載のウェハダイシングテープ用基材。
項3.更に粘着剤塗布層と中間層の間、及び中間層とエキスパンドリング接触層の間に接着層が設けられた項1又は2に記載のウェハダイシングテープ用基材。
. 項1〜3のいずれかに記載の粘着剤塗布層上に粘着剤層をさらに有するウェハダイシングテープ。
. 粘着剤が紫外線硬化型アクリル系粘着剤である項に記載のウハダイシングテープ。
【0007】
【発明の実施の形態】
本発明において粘着剤塗布層(以下、「A層」)は、極性を有し紫外線硬化型アクリル系粘着剤との相性が良いエチレン−アクリル系共重合体樹脂が好ましく、メタクリル酸含量が5重量%以上のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)、メチルメタクリレート含量が5重量%以上のエチレンメチルメタクリレート共重合体(EMMA)、アクリル酸含量が5重量%以上のアクリル酸エチレン共重合体(EAA)、アクリル酸エチル含量が5重量%以上のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)、アクリル酸メチル含量が5重量%以上のアクリル酸メチルエチレン共重合体(EMA)、これら共重合体を金属イオンにより架橋したアイオノマー樹脂が配合され、これらは単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
【0008】
EMAA中のメタクリル酸(MAA)含量は5重量%以上、好ましくは6重量%以上、より好ましくは10重量%以上、特に10〜20重量%である。
EMMA中のメチルメタクリレート(MMA)含量は5重量%以上、好ましくは6重量%以上、より好ましくは10重量%以上、特に10〜20重量%である。
【0009】
EAA中のアクリル酸(AA)含量は5重量%以上、好ましくは6重量%以上、より好ましくは10重量%以上、特に10〜20重量%である。
【0010】
EEA中のアクリル酸エチル(EA)含量は5重量%以上、好ましくは6重量%以上、より好ましくは10重量%以上、特に10〜20重量%である。
【0011】
EMA中のアクリル酸メチル(MA)含量は5重量%以上、好ましくは6重量%以上、より好ましくは10重量%以上、特に10〜20重量%である。
【0012】
MAA、MMA、EAA、EEA、EMA含量が5重量%未満であると、接着層との接着強度が低下する。
【0013】
上記以外の樹脂、例えばポリエチレンテレフタレートやメタクリル系樹脂等は極性を有しアクリル系粘着剤との相性は良いが、降伏点があり、均一拡張性を阻害するため好ましくない。逆にポリエチレン系樹脂は均一拡張性の面からは良好と言えるが、極性を有しないためアクリル系粘着剤との相性が悪く好ましくない。また、極性を有し均一拡張性の良好な樹脂として他にエチレン−酢酸ビニル重合体が挙げられるが、成形性に難点があることから本発明においては好ましい樹脂とは言えない。
【0014】
中間層(B層)は、
(i)プロピレン成分及び/又はブテン−1成分の含有率が50重量%以上の非晶質のポリオレフィンを30〜100重量%と、結晶性ポリオレフィン70〜0重量%とを含有してなる樹脂組成物層
又は
(ii)スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−イソプレン共重合体、エチレンプロピレンラバーからなる群より選ばれたいずれか1以上を30〜100重量%と、結晶性ポリオレフィン70〜0重量%とを含有してなる樹脂組成物層;又は
(iii)(i)及び(ii)の樹脂組成物の混合組成物層
又は
(iv)(i)層、(ii)層、(iii)層からなる群より選ばれた2以上の積層である。
【0015】
上記(iv)の積層には(i)層、(ii)層、(iii)層から選ばれた2層又は3層の積層、具体的には(i)層と(ii)層の積層、(i)層と(iii)層の積層、(ii)層と(iii)層の積層、(i)層と(ii)層と(iii)層の積層だけでなく(i)層、(ii)層、(iii)層のいずれかが2層以上あり合計4層以上になる場合を包含する。
【0016】
B層を構成する樹脂は均一拡張性を発現するためにゴム弾性を有する樹脂が好ましい。 非晶性ポリオレフィンとしては、プロピレン成分及び/又はブテン−1成分の含有率が50重量%以上のものを例示でき、(i)の樹脂組成物としては、該非晶質のポリオレフィン30〜100重量%、好ましくは40〜60重量%と結晶性ポリオレフィン70〜0重量%、好ましくは60〜40重量%とを含有してなる樹脂組成物が例示される。(ii)の樹脂組成物としては、スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−イソプレン共重合体、エチレンプロピレンラバーからなる群より選ばれた少なくとも1以上を30〜100重量%、好ましくは30〜60重量%と結晶性ポリオレフィン70〜0重量%、好ましくは70〜40重量%とを含有する樹脂組成物が例示できる。スチレン−ブタジエン共重合体及びスチレン−イソプレン共重合体は、水添型と非水添型があるが、耐熱劣化性により優れているため水添型が好ましい。
【0017】
前記非晶性ポリオレフィン、スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−イソプレン共重合体及びエチレンプロピレンラバーは、基材に良好な均一拡張性をもたらすが単独では製膜が難しい場合があり、必要に応じてこれらの樹脂と相溶性が良くかつ製膜性も良好な結晶性ポリオレフィンにブレンドして用いることもできる。その場合、非結晶性オレフィンまたはオレフィン系ラバーを少なくとも30重量%とすることが好ましい。30重量%未満では、良好な均一拡張性をもたらすことができず、好ましくない。
【0018】
B層は更に多層により形成されてもよい。例えば、(i)層、(ii)層、(iii)層から選ばれるB1層(A層側のカット刃の入る層)とB2層(C層側のカット刃の入らない、若しくは入る層)の2層構成にすることもできる。この場合、B2層のみに帯電防止剤を配合しダイシング時にカット刃を入らないようにすれば、切り屑に帯電防止剤が入らないため、チップが帯電防止剤に汚染されない。
【0019】
エキスパンドリング接触層(C層)は、エキスパンドリングとの適度な滑り性を有する樹脂であれば特に制限されないが、ポリエチレン系樹脂から構成され、具体的には、ポリエチレン(低密度ポリエチレン(LDPE)、線状低密度ポリエチレン(LLDPE))メタクリル酸含量が10重量%以下のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)、メチルメタクリレート含量が10重量%以下のエチレンメチルメタクリレート共重合体(EMMA)、アクリル酸含量が10重量%以下のアクリル酸エチレン共重合体(EAA)、アクリル酸エチル含量が10重量%以下のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)、アクリル酸メチル含量が10重量%以下のアクリル酸メチルエチレン共重合体(EMA)、これらを金属イオン(例えばZn, Na)により架橋したアイオノマー樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1種から構成される。好ましいポリエチレン系樹脂は、明確な降伏点がない低密度ポリエチレン樹脂(LDPE)である。
【0020】
粘着剤塗布層とエキスパンドリング接触層は同一の樹脂構成であっても良く、異なる樹脂構成であっても良い。また層間強度をより高めるために、各層間に接着層を設けることもできる。しかしながら、接着層の存在がダイシングブレードによる切削屑の発生を助長する場合もあるため、接着層は必要に応じて設けることが好ましい。
【0021】
C層には帯電防止剤を配合してもよい。帯電防止剤はB2層及びC層の両方に配合してもよく、C層のみに配合してもよい。
【0022】
帯電防止剤の配合量にとしては、テープ全体の3〜80重量%程度である。
【0023】
また、C層はエキスパンドリングとの滑り性が求められるので、適宜滑剤を添加する。
【0024】
各層の厚み構成においては、中間層の厚みは全体の34%以上とすることが好ましい。34%未満では、ダイシング用テープに用いるに好適な均一拡張性を発現できず好ましくない。また、粘着剤塗布層及びエキスパンド接触層の厚みは、多層フィルムとして安定的に製造するには、少なくとも全体の厚みの1%以上であることが好ましい。したがって、粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=1%〜65%/34%〜98%/1%〜65%として構成すれば、均一拡張性に優れた多層フィルムを安定して製造できる。
【0025】
より効率的な製造のためには表面層が一定以上の厚みを有する方が良いため、好ましい厚み構成比率としては、10%〜56%/34%〜80%/10%〜56%である。また、さらに均一拡張性を要求される場合(MD/TD比で1.10以下)には、中間層の厚みを50%以上とし、10%〜40%/50%〜80%/10%〜40%として構成することが好ましい。
【0026】
なお、ウェハダイシングテープ基材の全体の厚みは、40〜500μm、好ましくは50〜200μm、より好ましくは80〜100μmである。
【0027】
更に、A層/B層、および、B層/C層間の接着は接着層を介して行ってもよい。接着層を設ける場合、その厚みは基材の特性を損なわない範囲で適宜設定すればよい。接着層を構成する樹脂は、その目的に叶うものであれば特に制限されないが、例えば直鎖状低密度ポリエチレン(LLDPE)が好ましく例示できる。しかしながら、前述の如くダイシング時に切削屑の発生を助長する場合があることから、接着層を設けるかどうかについては、ダイシングテープの個々の要求特性に合わせ検討すべきものである。
【0028】
紫外線照射前の紫外線硬化型アクリル系粘着剤と粘着剤塗布層との剥離強度は、3N/10mm以上であることが好ましい。3N/10mm未満では接着力が弱過ぎ、ダイシングの際にチップが粘着剤ごと基材から剥離し、飛散する恐れがあり好ましくない。
【0029】
紫外線照射後の紫外線硬化型アクリル系粘着剤と粘着剤塗布層との剥離強度は、1N/10mm以上であることが好ましい。ピックアップを容易にするため、紫外線照射後の粘着剤とチップとの剥離強度は通常0.5N/10mm以下まで低下するように設定されるが、粘着剤と粘着剤塗布層との剥離強度が少なくとも1N/10mm以上を保持していないと、ピックアップの際に粘着剤が基材から剥離してチップに転写する可能性を否定できない。
【0030】
本発明において、各層の樹脂組成物の調整方法としては、特に制限はないが、慣用される方法、例えば、ニーダー、バンバリーミキサー、ロール等の混練機、リボンブレンダー、ヘンシェルミキサー等の混合機、1軸又は2軸押出機を用いて加熱溶融混練して行う方法などが例示できる。
【0031】
本発明に係るウエハダイシングテープ用基材は、共押出法、押出しラミネーション法、ドライラミネーション法など公知の多層フィルム製造方法が使用可能である。このなかでも、本発明による優れた均一拡張性を実現するには、共押出法により製膜することが望ましい。具体的には、積層数に見合う押出機を用いて溶融押出し、Tダイ法またはインフレーション法で溶融状態で積層した後、冷却ロール、水冷または空冷する方法を用いて多層シートにすることができる。更に、必要ならば、1軸或いは2軸に延伸してもよい。また、延伸後、熱固定してもよい。
【0032】
粘着剤層との接着強度をさらに強固にするために、コロナ放電処理、火炎処理、放射線処理等の表面処理を施すことも好ましく、特にコロナ放電処理を施すことが好ましい。
【0033】
粘着剤層は、ウェハダイシングテープ用基材の粘着剤塗布層上に、粘着剤を塗布すればよい。粘着剤としては、PVA系、アクリル系、ウレタン系、ポリエステル系、エポキシ系、ポリアミド系、塩素化ポリオレフィン系等からなる、エマルジョン型、水溶液型、溶剤型のものが例示できる。その中でも、アクリル系粘着剤が好ましく、更には紫外線硬化型アクリル系粘着剤、即ち紫外線照射後の半導体チップとの剥離強度が0.5N/10mm以下まで低下するものであることが望ましい。剥離強度が0.5N/10mm以下まで充分に低下していないと、ピックアップの際に不具合が生じる可能性があり好ましくない。紫外線照射条件の一例を挙げれば、後段の実施例に記載の中心波長約365nmの紫外線を80mW/cm2で5秒間照射である。
【0034】
基材の粘着剤塗布層へ粘着剤を塗布する方法は特に制限されず、ディップコート、ロールコート、カーテンコート、ダイコート、スリットコート等の公知のいかなる方法を用いても良い。塗布の厚みも特に制限されないが、ウエハダイシングテープとしては一般的に5〜100μm、好ましくは10〜50μmの範囲である。
【0035】
【実施例】
以下、本発明を実施例に基づきより詳細に説明する。
実施例1
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を3台の押出機を用いて溶融し、230℃のTダイでA層/B層/C層となるように共押出にて積層し、70℃の引き取りロール(ロール表面は6sの梨地状)で冷却、引き取りし、シートを得た。
・粘着剤塗布層:EMMA(住友化学工業(株)アクリフトWD301:MMA10重量%)
・中間層:非晶性ポリオレフィン(APAO)50重量%と結晶性ポリプロピレン(R−PP)50重量%との組成物(宇部興産(株)CAP)
・エキスパンドリング接触層:低密度ポリエチレン(LDPE)(宇部興産(株)F522N)60重量%と帯電防止剤40重量%(三井・デュポン・ポリケミカル(株)SD100)との組成物
粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=30μm/40μm/30μm=100μ
施例
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を、押出機4台を用いて接着層を設けた以外は実施例1と同様にして製造した。
・粘着剤塗布層:EEA(三井・デュポン・ポリケミカル(株)エバフレックスA−701)
・接着層:直鎖状低密度ポリエチレン(三井化学(株)エボリューSP2020)
・中間層:非晶性ポリオレフィン(APAO)50重量%と結晶性ポリプロピレン(R−PP)50重量%との組成物(宇部興産(株)CAP)
・接着層:直鎖状低密度ポリエチレン(三井化学(株)エボリューSP2020)
・エキスパンドリング接触層:EEA(三井・デュポン・ポリケミカル(株)エバフレックスA−701)60重量%と帯電防止剤40重量%(三井・デュポン・ポリケミカル(株)SD100)との組成物
粘着剤塗布層/接着層/中間層/接着層/エキスパンドリング接触層=10μm/5μm/70μm/5μm/10μm=100μm
実施例
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を実施例1と同様にして製造した。
・粘着剤塗布層:アイオノマー樹脂(三井・デュポン・ポリケミカル(株)ハイミラン1705)
・中間層:非晶性ポリオレフィン(APAO)50重量%と結晶性ポリプロピレン(R−PP)50重量%との組成物(宇部興産(株)CAP)
・エキスパンドリング接触層:EMAA(三井・デュポン・ポリケミカル(株)ニュクレル0908C)60重量%と帯電防止剤40重量%(三井・デュポン・ポリケミカル(株)SD100)との組成物
粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=10μm/50μm/40μm=100μm
参考例1
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を実施例1と同様にして製造した。
・粘着剤塗布層:EMAA(三井・デュポン・ポリケミカル(株) ニュクレル0908C:MAA9重量%)
・中間層:結晶性ポリプロピレン(R−PP)((株)グランドポリマーF327)60 重量%と水添スチレン−ブタジエン共重合体(SEBS)(JSR(株)ダイナロン1 320P)40重量%との組成物・エキスパンドリング接触層:低密度ポリエチレン(LDPE)(宇部興産(株)F522N)60重量%と帯電防止剤40重量%(三井・デュポン・ポリケミカル(株)SD100)との組成物
粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=30μm/40μm/30μm=100μm
比較例1
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を実施例1と同様にして製造した。
・粘着剤塗布層:低密度ポリエチレン(LDPE)(宇部興産(株)F522N)
・中間層:結晶性ポリプロピレン(R−PP)((株)グランドポリマーF327)
・エキスパンドリング接触層:低密度ポリエチレン(LDPE)(宇部興産(株)F52 2N)60重量%と帯電防止剤40重量%(三井・デュポン・ポリケミカル(株) S D100)との組成物
粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=30μm/40μm/30μm=100μm
比較例2
EMMA(住友化学工業(株)アクリフトWD206−1:MMA6重量%)の単層フィルム(厚み100μm)をウェハダイシングテープ用基材として用いた。
比較例3
EMAA(三井・デュポン・ポリケミカル(株)ニュクレル1207C:MAA12重量%)60重量%と帯電防止剤(三井・デュポン・ポリケミカル(株)SD100)40重量%との組成物よりなる単層フィルム(厚み100μm)をウェハダイシングテープ用基材として用いた。
比較例4
下記の層構成のウェハダイシングテープ用基材を実施例1と同様にして製造した。
・粘着剤塗布層:EEA(三井・デュポン・ポリケミカル(株)エバフレックスA−701:EA9重量%)
・中間層:非晶性ポリオレフィン(APAO)50重量%と結晶性ポリプロピレン(R−PP)50重量%との組成物(宇部興産(株)CAP)
・エキスパンドリング接触層:低密度ポリエチレン(LDPE)(宇部興産(株)F522N)
粘着剤塗布層/中間層/エキスパンドリング接触層=45μm/10μm/45μm=100μm
試験例1
実施例1〜、比較例1〜4、参考例1の各ウェハダイシングテープ用基材について、整列性、復元性、研削性、粘着剤接着性、帯電防止性、滑性の各項目について試験を行った。結果を表1に示す。
【0036】
なお、整列性、復元性、研削性、粘着剤接着性、帯電防止性、帯電防止剤汚染性、滑性は、以下の評価基準により評価した。
・整列性:島津製作所製引張試験機(AGS100A)にて、サンプル幅10mm、標線間距離40mm、引張速度200mm/minで測定し、25%伸長時にかかる荷重を、MD/TDの比で評価し、1.2以下を「◎」、1.2〜1.3を「○」、1.3を越えると「×」とした。
・復元性:前記同様の測定法で、100%伸長させた後、荷重をはずし、その際の残留伸度で評価した。残留伸度が20%以下を「◎」、20〜30%を「○」、30%を越えると「×」とした。
・研削性:粘着剤塗布層の表面から30μmの深さまでダイシングし、0.5mm以上の切りくずが発生しない場合を「○」、発生した場合を「×」とした。
粘着剤接着性:紫外線硬化型アクリル系粘着剤を10μm塗布し、新東科学(株)製剥離試験器(HEIDON−17)で、粘着剤の剥離強度を測定した。3N/10mm以上を「○」、3N/10mm未満を「×」とした。また、中心波長約365nmの紫外線を80mW/cm2で照射後、新東科学(株)製剥離試験器(HEIDON−17)で、粘着剤の基材からの剥離強度を測定した。1N/10mm以上を「○」、1N/10mm未満を「×」とした。
・帯電防止性:三菱化学(株)製抵抗測定器(Hiresta−IP)で、表面抵抗(印加電圧100V)が1.0×1012Ω/□未満、または体積抵抗(印加電圧500V)が1.0×1015Ω・cm未満を「○」、それぞれ1.0×1012以上および1.0×1015以上を「×」とした。
・帯電防止剤汚染性:ダイシング時にチップが帯電防止剤の汚染される場合を「×」、汚染されない場合を「○」とした。
・滑性:新東科学(株)製滑性試験器(HEIDON TYPE:14DR)で、ステンレス板との静摩擦係数及び動摩擦係数が0.70以下を「○」、0.70を越えると「×」とした。
【0037】
【表1】

Figure 0004578050
【0038】
【発明の効果】
A層をEMMA、EMAA、EAA、EEA、EMA及びこれらの共重合体を金属イオンにより架橋したアイオノマー樹脂のいずれかとすることで、切り屑が発生しにくく、粘着剤との良好な接着性が得られる。
【0039】
B層として低結晶性ポリオレフィンを使用することで、エキスパンド時の均一拡張性(整列性)及び復元性に優れたテープが得られる。
【0040】
帯電防止剤がカット部分に入っていない(B2層又はC層に配合される)ため、切り屑中の帯電防止剤によるICチップの汚染が防止できる。
【0041】
更に、A層に紫外線硬化型アクリル系粘着剤を塗布した場合は、紫外線照射後もA層と粘着剤とは充分な接着力を有し、かつダイシングテープに用いるに好適な均一拡張性を併せ持つ、ウエハダイシングテープ用基材及びそれを用いたウェハダイシングテープを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のテープを示す概念図である。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate for a wafer dicing tape that has sufficient adhesive strength between a substrate and a pressure-sensitive adhesive layer even after irradiation with ultraviolet rays and is excellent in uniform expandability, and a wafer dicing tape using the same.
[0002]
[Prior art]
In the dicing process of a semiconductor wafer, a technique for reducing the adhesive force of a dicing adhesive tape by ultraviolet irradiation and facilitating chip pickup is used (Japanese Patent Laid-Open Nos. 62-54776 and 62-153376). Issue gazette). In the initial technology using these ultraviolet curable pressure-sensitive adhesives, the adhesive strength between the pressure-sensitive adhesive and the chip is not always sufficiently lowered, and a problem may occur when picking up the chip.
[0003]
In recent years, various pressure-sensitive adhesive compositions having a remarkable decrease in adhesive strength after curing have been proposed (JP-A-6-17008, JP-A-8-27239, etc.), and the adhesive strength between the adhesive and the chip. Attempts to sufficiently reduce the results have achieved certain results. However, this also leads to a decrease in the adhesive strength between the base material and the pressure-sensitive adhesive layer, and a new problem of transfer of the pressure-sensitive adhesive to the chip due to the easy peeling of the pressure-sensitive adhesive layer from the base material has emerged.
[0004]
In other words, no sufficient solution has been shown for the problem of preventing the transfer of the adhesive to the chip so far, and the study from the viewpoint of the optimal selection of the substrate for the UV curable adhesive is It was hardly done.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
The present invention has a surface layer (adhesive coating layer) that retains sufficient adhesive force with an ultraviolet curable acrylic pressure-sensitive adhesive even after irradiation with ultraviolet light, and also has a uniform expandability suitable for use in a dicing tape. An object of the present invention is to provide a substrate for wafer dicing tape and a wafer dicing tape using the same.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The present invention relates to the following wafer dicing tape substrate and wafer dicing tape.
Item 1. A substrate for a wafer dicing tape in which the following pressure-sensitive adhesive coating layer, intermediate layer and expanding ring contact layer are laminated in this order, and the thickness of the pressure-sensitive adhesive coating layer is 1% to the thickness of the entire substrate. A substrate for a wafer dicing tape having a thickness of 65%, an intermediate layer thickness of 34 to 98%, and an expanding ring contact layer thickness of 1% to 65% :
Adhesive layer :
Methylation methacrylate content of 5 wt% or more of ethylene methyl methacrylate copolymer (EMMA), A ethyl acrylic acid content of 5 wt% or more of ethyl acrylate ethylene copolymer (EEA), Beauty methacrylic acid content of 5 wt Layer intermediate layer containing at least one selected from the group consisting of ionomer resins obtained by cross-linking ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA) by at least % by metal ions :
Flops propylene component and / or butene-1 component content of the 40 to 60% by weight of 50% or more by weight of amorphous polyolefin, a crystalline polyolefin 60-40 consists wt% the resin composition layer
D kiss Pando ring contact layer:
Low density polyethylene (LDP E), methacrylic acid content of 10 wt% or less of ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA), and ethyl acrylic acid content 10% by weight of ethyl acrylate ethylene copolymer (EEA) or al A layer containing at least one selected from the group consisting of:
Item 2. The pressure-sensitive adhesive coating layer is a layer containing ethyl acrylate copolymer (EEA) having an ethyl acrylate content of 5% by weight or more, and the expanding ring contact layer is an ethyl acrylate having an ethyl acrylate content of 10% by weight or less. Item 2. The substrate for wafer dicing tape according to Item 1, which is a layer containing an ethylene copolymer (EEA).
Item 3. Item 3. The wafer dicing tape substrate according to Item 1 or 2, wherein an adhesive layer is provided between the pressure-sensitive adhesive coating layer and the intermediate layer and between the intermediate layer and the expanded ring contact layer.
Item 4 . The wafer dicing tape which further has an adhesive layer on the adhesive application layer in any one of claim | item 1-3.
Item 5 . C E c dicing tape according to claim 4 adhesive is an ultraviolet-curable acrylic pressure-sensitive adhesive.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
In the present invention, the pressure-sensitive adhesive coating layer (hereinafter “A layer”) is preferably an ethylene-acrylic copolymer resin having polarity and good compatibility with the ultraviolet curable acrylic pressure-sensitive adhesive, and having a methacrylic acid content of 5 wt. % Ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA), methyl methacrylate content 5% by weight ethylene methyl methacrylate copolymer (EMMA), acrylic acid content 5% by weight ethylene acrylate copolymer (EAA) , Ethyl acrylate copolymer (EEA) having an ethyl acrylate content of 5% by weight or more, methyl ethylene acrylate copolymer (EMA) having a methyl acrylate content of 5% by weight or more, and these copolymers as metal ions The ionomer resin crosslinked by the above is blended, and these may be used alone or in admixture of two or more.
[0008]
The methacrylic acid (MAA) content in EMAA is 5% by weight or more, preferably 6% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and particularly 10 to 20% by weight.
The methyl methacrylate (MMA) content in EMMA is 5% by weight or more, preferably 6% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and particularly 10 to 20% by weight.
[0009]
The acrylic acid (AA) content in EAA is 5% by weight or more, preferably 6% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and particularly 10 to 20% by weight.
[0010]
The ethyl acrylate (EA) content in the EEA is 5% by weight or more, preferably 6% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and particularly 10 to 20% by weight.
[0011]
The content of methyl acrylate (MA) in EMA is 5% by weight or more, preferably 6% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and particularly 10 to 20% by weight.
[0012]
When the MAA, MMA, EAA, EEA, and EMA content is less than 5% by weight, the adhesive strength with the adhesive layer is lowered.
[0013]
Resins other than those described above, such as polyethylene terephthalate and methacrylic resins, are polar and have good compatibility with acrylic pressure-sensitive adhesives, but are not preferred because they have a yield point and hinder uniform extensibility. On the contrary, polyethylene resin is good from the viewpoint of uniform expandability, but it is not preferred because it does not have polarity and is poor in compatibility with acrylic adhesive. In addition, an ethylene-vinyl acetate polymer is another example of a resin having polarity and good uniform extensibility, but it is not a preferable resin in the present invention because of its difficulty in moldability.
[0014]
The intermediate layer (B layer)
(I) A resin composition comprising 30 to 100% by weight of an amorphous polyolefin having a propylene component and / or butene-1 component content of 50% by weight or more and 70 to 0% by weight of a crystalline polyolefin. Physical layer or (ii) 30-100% by weight of one or more selected from the group consisting of styrene-butadiene copolymer, styrene-isoprene copolymer, ethylene propylene rubber, and 70-0% by weight of crystalline polyolefin Or (iii) a mixed composition layer of the resin composition of (i) and (ii) or (iv) (i) layer, (ii) layer, (iii) layer Two or more layers selected from the group consisting of:
[0015]
In the stacking of (iv) above, a stack of two or three layers selected from (i) layer, (ii) layer, and (iii) layer, specifically, a stack of (i) layer and (ii) layer, (I) layer and (iii) layer stack, (ii) layer and (iii) layer stack, (i) layer, (ii) layer and (iii) layer stack as well as (i) layer, (ii) ) Layer or (iii) layer includes two or more layers and a total of four or more layers.
[0016]
The resin constituting the B layer is preferably a resin having rubber elasticity in order to exhibit uniform expandability. Examples of the amorphous polyolefin include those having a propylene component and / or butene-1 component content of 50% by weight or more, and the resin composition (i) includes 30 to 100% by weight of the amorphous polyolefin. A resin composition comprising 40 to 60% by weight and preferably 70 to 0% by weight, preferably 60 to 40% by weight of a crystalline polyolefin is exemplified. As the resin composition of (ii), at least one selected from the group consisting of a styrene-butadiene copolymer, a styrene-isoprene copolymer, and an ethylene propylene rubber is 30 to 100% by weight, preferably 30 to 60% by weight. % And 70 to 0% by weight, preferably 70 to 40% by weight of a crystalline polyolefin. The styrene-butadiene copolymer and the styrene-isoprene copolymer are classified into a hydrogenated type and a non-hydrogenated type, but the hydrogenated type is preferable because of superior heat resistance.
[0017]
The amorphous polyolefin, styrene-butadiene copolymer, styrene-isoprene copolymer, and ethylene propylene rubber provide good uniform expandability to the base material, but it may be difficult to form a film by itself. It can also be used by blending with a crystalline polyolefin having good compatibility with these resins and good film forming properties. In that case, it is preferable that the amorphous olefin or the olefin rubber is at least 30% by weight. If it is less than 30% by weight, good uniform expandability cannot be obtained, which is not preferable.
[0018]
The B layer may be formed of a multilayer. For example, the B1 layer selected from the (i) layer, (ii) layer, and (iii) layer (the layer containing the cutting blade on the A layer side) and the B2 layer (the layer containing no cutting blade on the C layer side) A two-layer structure can also be used. In this case, if the antistatic agent is blended only in the B2 layer so that the cutting blade does not enter during dicing, the antistatic agent does not enter the chips, so that the chip is not contaminated by the antistatic agent.
[0019]
The expand ring contact layer (C layer) is not particularly limited as long as it is a resin having moderate slipperiness with the expand ring, but is composed of a polyethylene-based resin, specifically, polyethylene (low density polyethylene (LDPE), Linear low density polyethylene (LLDPE)) Ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA) having a methacrylic acid content of 10% by weight or less, Ethylene methyl methacrylate copolymer (EMMA) having a methyl methacrylate content of 10% by weight or less, Acrylic acid content Is an ethylene acrylate copolymer (EAA) having an ethyl acrylate content of 10 wt% or less, an ethyl acrylate copolymer (EEA) having an ethyl acrylate content of 10 wt% or less, and a methyl acrylate having a methyl acrylate content of 10 wt% or less. Ethylene copolymers (EMA), which are converted to metal ions (eg Z n, Na) and at least one selected from the group consisting of ionomer resins crosslinked. A preferred polyethylene-based resin is a low density polyethylene resin (LDPE) without a clear yield point.
[0020]
The pressure-sensitive adhesive coating layer and the expanding ring contact layer may have the same resin configuration or different resin configurations. In order to further increase the interlayer strength, an adhesive layer can be provided between the respective layers. However, since the presence of the adhesive layer may promote the generation of cutting waste by the dicing blade, the adhesive layer is preferably provided as necessary.
[0021]
You may mix | blend an antistatic agent with C layer. The antistatic agent may be blended in both the B2 layer and the C layer, or may be blended only in the C layer.
[0022]
As a compounding quantity of an antistatic agent, it is about 3 to 80 weight% of the whole tape.
[0023]
Further, since the C layer is required to be slippery with the expanding ring, a lubricant is appropriately added.
[0024]
In the thickness configuration of each layer, the thickness of the intermediate layer is preferably 34% or more of the total. If it is less than 34%, uniform expandability suitable for use in a dicing tape cannot be exhibited, which is not preferable. In addition, the thickness of the pressure-sensitive adhesive coating layer and the expanded contact layer is preferably at least 1% of the total thickness in order to stably produce a multilayer film. Therefore, if it is constituted as adhesive coating layer / intermediate layer / expanding ring contact layer = 1% to 65% / 34% to 98% / 1% to 65%, a multilayer film excellent in uniform expandability can be stably produced. it can.
[0025]
Since it is better for the surface layer to have a certain thickness or more for more efficient production, the preferred thickness component ratio is 10% to 56% / 34% to 80% / 10% to 56%. Further, when further uniform expandability is required (MD / TD ratio is 1.10 or less), the thickness of the intermediate layer is set to 50% or more, and 10% to 40% / 50% to 80% / 10% to It is preferable to configure as 40%.
[0026]
In addition, the whole thickness of a wafer dicing tape base material is 40-500 micrometers, Preferably it is 50-200 micrometers, More preferably, it is 80-100 micrometers.
[0027]
Further, the adhesion between the A layer / B layer and the B layer / C layer may be performed through an adhesive layer. When the adhesive layer is provided, the thickness thereof may be set as appropriate as long as the characteristics of the substrate are not impaired. The resin constituting the adhesive layer is not particularly limited as long as it fulfills the purpose, but for example, linear low density polyethylene (LLDPE) can be preferably exemplified. However, since generation of cutting waste may be promoted during dicing as described above, whether or not to provide an adhesive layer should be examined in accordance with the individual required characteristics of the dicing tape.
[0028]
The peel strength between the ultraviolet curable acrylic pressure-sensitive adhesive and the pressure-sensitive adhesive coating layer before ultraviolet irradiation is preferably 3N / 10 mm or more. If it is less than 3 N / 10 mm, the adhesive force is too weak, and the chip may peel off from the substrate together with the adhesive during dicing, which is not preferable.
[0029]
The peel strength between the ultraviolet curable acrylic pressure-sensitive adhesive and the pressure-sensitive adhesive coating layer after UV irradiation is preferably 1 N / 10 mm or more. In order to facilitate pick-up, the peel strength between the pressure-sensitive adhesive and the chip after UV irradiation is usually set to be reduced to 0.5 N / 10 mm or less, but the peel strength between the pressure-sensitive adhesive and the pressure-sensitive adhesive coating layer is at least If 1 N / 10 mm or more is not held, the possibility that the adhesive is peeled off from the substrate and transferred to the chip during pickup cannot be denied.
[0030]
In the present invention, the method for adjusting the resin composition of each layer is not particularly limited, but a commonly used method, for example, a kneader such as a kneader, a Banbury mixer, or a roll, a mixer such as a ribbon blender or a Henschel mixer, Examples thereof include a method of heating and kneading using a screw or twin screw extruder.
[0031]
For the substrate for wafer dicing tape according to the present invention, a known multilayer film production method such as a co-extrusion method, an extrusion lamination method, or a dry lamination method can be used. Among these, in order to realize the excellent uniform expandability according to the present invention, it is desirable to form a film by a coextrusion method. Specifically, it can be formed into a multilayer sheet using a method of melt extrusion using an extruder suitable for the number of layers, laminating in a molten state by a T-die method or an inflation method, and then using a cooling roll, water cooling, or air cooling. Further, if necessary, it may be stretched uniaxially or biaxially. Moreover, you may heat-fix after extending | stretching.
[0032]
In order to further strengthen the adhesive strength with the pressure-sensitive adhesive layer, surface treatment such as corona discharge treatment, flame treatment, and radiation treatment is preferably performed, and corona discharge treatment is particularly preferable.
[0033]
What is necessary is just to apply | coat an adhesive to the adhesive layer on the adhesive application layer of the base material for wafer dicing tapes. Examples of the pressure-sensitive adhesive include emulsion type, aqueous solution type, and solvent type, such as PVA type, acrylic type, urethane type, polyester type, epoxy type, polyamide type, and chlorinated polyolefin type. Among them, an acrylic adhesive is preferable, and further, an ultraviolet curable acrylic adhesive, that is, a peel strength with respect to a semiconductor chip after ultraviolet irradiation is desirably reduced to 0.5 N / 10 mm or less. If the peel strength is not sufficiently reduced to 0.5 N / 10 mm or less, there is a possibility that problems may occur during pick-up, which is not preferable. If an example of ultraviolet irradiation conditions is given, it will irradiate for 5 seconds with 80 mW / cm < 2 > of the ultraviolet-ray with the center wavelength of about 365 nm as described in the Example of a back | latter stage.
[0034]
The method for applying the adhesive to the adhesive coating layer of the substrate is not particularly limited, and any known method such as dip coating, roll coating, curtain coating, die coating, slit coating, etc. may be used. The thickness of the coating is not particularly limited, but the wafer dicing tape is generally in the range of 5 to 100 μm, preferably 10 to 50 μm.
[0035]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples.
Example 1
The substrate for wafer dicing tape having the following layer structure is melted by using three extruders, and is laminated by coextrusion so as to be A layer / B layer / C layer with a T die of 230 ° C., and 70 ° C. The sheet was cooled with a take-up roll (the surface of the roll was a 6s satin finish) and taken up to obtain a sheet.
-Adhesive layer: EMMA (Sumitomo Chemical Co., Ltd. ACRlift WD301: MMA 10% by weight)
Intermediate layer: A composition comprising 50% by weight of amorphous polyolefin (APAO) and 50% by weight of crystalline polypropylene (R-PP) (Ube Industries, Ltd. CAP)
Expanding contact layer: Composition of 60% by weight of low density polyethylene (LDPE) (Ube Industries, Ltd. F522N) and 40% by weight of antistatic agent (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100) Adhesive coating layer / intermediate layer / expand ring contact layer = 30μm / 40μm / 30μm = 100μ m
Real施例2
A substrate for a wafer dicing tape having the following layer structure was produced in the same manner as in Example 1 except that an adhesive layer was provided using four extruders.
-Adhesive coating layer: EEA (Mitsui / DuPont / Polychemical Co., Ltd. Everflex A-701)
-Adhesive layer: linear low-density polyethylene (Mitsui Chemicals, Inc. Evolue SP2020)
Intermediate layer: A composition comprising 50% by weight of amorphous polyolefin (APAO) and 50% by weight of crystalline polypropylene (R-PP) (Ube Industries, Ltd. CAP)
-Adhesive layer: linear low-density polyethylene (Mitsui Chemicals, Inc. Evolue SP2020)
Expanding contact layer: Composition of 60% by weight of EEA (Mitsui DuPont Polychemical Co., Ltd. Everflex A-701) and 40% by weight of antistatic agent (Mitsui DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100) Coating layer / adhesive layer / intermediate layer / adhesive layer / expanding ring contact layer = 10 μm / 5 μm / 70 μm / 5 μm / 10 μm = 100 μm
Example 3
A substrate for wafer dicing tape having the following layer structure was produced in the same manner as in Example 1.
-Adhesive layer: Ionomer resin (Mitsui / DuPont / Polychemical Co., Ltd. High Milan 1705)
Intermediate layer: A composition comprising 50% by weight of amorphous polyolefin (APAO) and 50% by weight of crystalline polypropylene (R-PP) (Ube Industries, Ltd. CAP)
Expanding contact layer: Composition of 60% by weight of EMAA (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. Nucrel 0908C) and 40% by weight of an antistatic agent (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100) Adhesive coating layer / Intermediate layer / expanding ring contact layer = 10 μm / 50 μm / 40 μm = 100 μm
Reference example 1
A substrate for wafer dicing tape having the following layer structure was produced in the same manner as in Example 1.
-Adhesive layer: EMAA (Mitsui / DuPont / Polychemical Co., Ltd. Nucrel 0908C: MAA 9% by weight)
Intermediate layer: Composition of 60% by weight of crystalline polypropylene (R-PP) (Grand Polymer F327) and 40% by weight of hydrogenated styrene-butadiene copolymer (SEBS) (JSR Corporation Dynalon 1 320P) Product / expanding ring contact layer: Composition of 60% by weight of low density polyethylene (LDPE) (Ube Industries F522N) and 40% by weight of antistatic agent (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100)
Adhesive coating layer / intermediate layer / expanding ring contact layer = 30 μm / 40 μm / 30 μm = 100 μm
Comparative Example 1
A substrate for wafer dicing tape having the following layer structure was produced in the same manner as in Example 1.
-Adhesive coating layer: Low density polyethylene (LDPE) (Ube Industries, Ltd. F522N)
Intermediate layer: crystalline polypropylene (R-PP) (Grand Polymer F327)
Expanding contact layer: Composition adhesive of 60% by weight of low density polyethylene (LDPE) (Ube Industries F52 2N) and 40% by weight of antistatic agent (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100) Coating layer / intermediate layer / expanding ring contact layer = 30 μm / 40 μm / 30 μm = 100 μm
Comparative Example 2
A single-layer film (thickness: 100 μm) of EMMA (Sumitomo Chemical Co., Ltd. ACRlift WD206-1: MMA 6 wt%) was used as a substrate for wafer dicing tape.
Comparative Example 3
A monolayer film comprising a composition of 60% by weight of EMAA (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. Nuclel 1207C: MAA 12% by weight) and 40% by weight of an antistatic agent (Mitsui / DuPont Polychemical Co., Ltd. SD100) ( A thickness of 100 μm) was used as a substrate for wafer dicing tape.
Comparative Example 4
A substrate for wafer dicing tape having the following layer structure was produced in the same manner as in Example 1.
-Adhesive layer: EEA (Mitsui / DuPont / Polychemical Co., Ltd. Everflex A-701: EA 9% by weight)
Intermediate layer: A composition comprising 50% by weight of amorphous polyolefin (APAO) and 50% by weight of crystalline polypropylene (R-PP) (Ube Industries, Ltd. CAP)
Expanding contact layer: Low density polyethylene (LDPE) (Ube Industries, Ltd. F522N)
Adhesive coating layer / intermediate layer / expanding ring contact layer = 45 μm / 10 μm / 45 μm = 100 μm
Test example 1
Each of the wafer dicing tape substrates of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 4 and Reference Example 1 was tested for alignment, restoration, grinding, adhesive adhesion, antistatic properties, and lubricity. Went. The results are shown in Table 1.
[0036]
In addition, alignment property, restoration property, grindability, adhesive adhesive property, antistatic property, antistatic agent contamination property, and lubricity were evaluated according to the following evaluation criteria.
-Alignment: Measured with a tensile tester (AGS100A) manufactured by Shimadzu Corporation at a sample width of 10 mm, a distance between marked lines of 40 mm, and a tensile speed of 200 mm / min, and the load applied at 25% elongation is evaluated by the ratio of MD / TD. In addition, 1.2 or less is “◎”, 1.2 to 1.3 is “◯”, and 1.3 is exceeded “×”.
Restorability: After extending 100% by the same measurement method as described above, the load was removed, and the residual elongation at that time was evaluated. When the residual elongation was 20% or less, “◎”, 20-30% as “◯”, and over 30% as “x”.
Grindability: Dicing to a depth of 30 μm from the surface of the pressure-sensitive adhesive coating layer was defined as “◯” when no chips of 0.5 mm or more were generated, and “X” when generated.
Adhesive adhesiveness: UV-curable acrylic adhesive was applied at 10 μm, and the peel strength of the adhesive was measured with a peel tester (HEIDON-17) manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd. 3N / 10mm or more was set as "(circle)", and less than 3N / 10mm was set as "x". Moreover, after irradiating ultraviolet rays with a center wavelength of about 365 nm at 80 mW / cm 2 , the peel strength of the adhesive from the base material was measured with a peel tester (HEIDON-17) manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd. 1 N / 10 mm or more was designated as “◯”, and less than 1 N / 10 mm was designated as “x”.
Antistatic property: resistance meter (Hiresta-IP) manufactured by Mitsubishi Chemical Corp., surface resistance (applied voltage 100V) is less than 1.0 × 10 12 Ω / □, or volume resistance (applied voltage 500V) is 1. Less than 0.0 × 10 15 Ω · cm was designated as “◯”, and 1.0 × 10 12 or more and 1.0 × 10 15 or more were designated as “x”.
Antistatic agent contamination: “X” indicates that the chip is contaminated with antistatic agent during dicing, and “◯” indicates that the chip is not contaminated.
・ Lubricity: “○” when the coefficient of static friction and dynamic friction with the stainless steel plate is 0.70 or less with a lubricity tester (HEIDON TYPE: 14DR) manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd. "
[0037]
[Table 1]
Figure 0004578050
[0038]
【The invention's effect】
By making the A layer one of EMMA, EMAA, EAA, EEA, EMA and an ionomer resin obtained by cross-linking these copolymers with metal ions, it is difficult for chips to be generated and good adhesiveness with the pressure-sensitive adhesive is obtained. It is done.
[0039]
By using a low crystalline polyolefin as the B layer, a tape excellent in uniform expandability (alignment property) and restoration property at the time of expansion can be obtained.
[0040]
Since the antistatic agent is not contained in the cut portion (mixed in the B2 layer or the C layer), the contamination of the IC chip by the antistatic agent in the chips can be prevented.
[0041]
Further, when an ultraviolet curable acrylic pressure-sensitive adhesive is applied to the A layer, the A layer and the pressure-sensitive adhesive have sufficient adhesive strength even after irradiation with ultraviolet rays, and have a uniform expandability suitable for use in dicing tape. A substrate for wafer dicing tape and a wafer dicing tape using the same can be provided.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a tape of the present invention.

Claims (5)

下記の粘着剤塗布層、中間層及びエキスパンドリング接触層をこの順に積層してなるウェハダイシングテープ用基材であって、基材全体の厚みに対して、粘着剤塗布層の厚みが1%〜65%、中間層の厚みが34〜98%、エキスパンドリング接触層の厚みが1%〜65%であるウェハダイシングテープ用基材
粘着剤塗布層
チルメタクリレート含量が5重量%以上のエチレンメチルメタクリレート共重合体(EMMA)、アクリル酸エチル含量が5重量%以上のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)、及メタクリル酸含量が5重量%以上のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)を金属イオンにより架橋したアイオノマー樹脂からなる群より選ばれた少なくとも1種を含む層
中間層:
プロピレン成分及び/又はブテン−1成分の含有率が50重量%以上の非晶質のポリオレフィンを40〜60重量%と、結晶性ポリオレフィン60〜40重量%からなる樹脂組成物層
エキスパンドリング接触層:
低密度ポリエチレン(LDPE)、メタクリル酸含量が10重量%以下のエチレンメタクリル酸共重合体(EMAA)、及びアクリル酸エチル含量が10重量%以下のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)からなる群より選ばれる少なくとも1種を含む層。
A substrate for a wafer dicing tape in which the following pressure-sensitive adhesive coating layer, intermediate layer and expanding ring contact layer are laminated in this order, and the thickness of the pressure-sensitive adhesive coating layer is 1% to the thickness of the entire substrate. A substrate for a wafer dicing tape having a thickness of 65%, an intermediate layer thickness of 34 to 98%, and an expanding ring contact layer thickness of 1% to 65% :
Adhesive layer :
Methylation methacrylate content of 5 wt% or more of ethylene methyl methacrylate copolymer (EMMA), A ethyl acrylic acid content of 5 wt% or more of ethyl acrylate ethylene copolymer (EEA), Beauty methacrylic acid content of 5 wt Layer intermediate layer containing at least one selected from the group consisting of ionomer resins obtained by cross-linking ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA) by at least % by metal ions:
Propylene component and / or butene-1 component content of the 40 to 60% by weight of 50% or more by weight of amorphous polyolefin, a crystalline polyolefin 60-40 resin composition layer consisting wt% expand ring contact layer:
Low density polyethylene (LDP E), methacrylic acid content of 10 wt% or less of ethylene methacrylic acid copolymer (EMAA), and ethyl acrylic acid content 10% by weight of ethyl acrylate ethylene copolymer (EEA) or al A layer containing at least one selected from the group consisting of:
粘着剤塗布層がアクリル酸エチル含量が5重量%以上のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)を含む層であり、且つエキスパンドリング接触層がアクリル酸エチル含量が10重量%以下のアクリル酸エチルエチレン共重合体(EEA)を含む層である請求項1に記載のウェハダイシングテープ用基材。The pressure-sensitive adhesive coating layer is a layer containing an ethyl acrylate copolymer (EEA) having an ethyl acrylate content of 5% by weight or more, and the expanding ring contact layer is an ethyl acrylate having an ethyl acrylate content of 10% by weight or less. The substrate for a wafer dicing tape according to claim 1, wherein the substrate is a layer containing an ethylene copolymer (EEA). 更に粘着剤塗布層と中間層の間、及び中間層とエキスパンドリング接触層の間に接着層が設けられた請求項1又は2に記載のウェハダイシングテープ用基材。Furthermore, the base material for wafer dicing tapes of Claim 1 or 2 with which the contact bonding layer was provided between the adhesive application layer and the intermediate | middle layer, and between the intermediate | middle layer and the expanded ring contact layer. 請求項1〜3のいずれかに記載の粘着剤塗布層上に粘着剤層をさらに有するウェハダイシングテープ。The wafer dicing tape which further has an adhesive layer on the adhesive application layer in any one of Claims 1-3. 粘着剤が紫外線硬化型アクリル系粘着剤である請求項に記載のウハダイシングテープ。C E c dicing tape according to claim 4 adhesive is an ultraviolet-curable acrylic pressure-sensitive adhesive.
JP2002235982A 2001-09-04 2002-08-13 Wafer dicing tape substrate Expired - Fee Related JP4578050B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002235982A JP4578050B2 (en) 2001-09-04 2002-08-13 Wafer dicing tape substrate

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001267191 2001-09-04
JP2001-267191 2001-09-04
JP2002235982A JP4578050B2 (en) 2001-09-04 2002-08-13 Wafer dicing tape substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003158098A JP2003158098A (en) 2003-05-30
JP4578050B2 true JP4578050B2 (en) 2010-11-10

Family

ID=26621616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002235982A Expired - Fee Related JP4578050B2 (en) 2001-09-04 2002-08-13 Wafer dicing tape substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4578050B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150113878A (en) * 2014-03-31 2015-10-08 닛토덴코 가부시키가이샤 Dicing film, dicing·die bond film and manufacturing method for semiconductor device

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4643134B2 (en) * 2003-09-10 2011-03-02 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing sheet
JP4554908B2 (en) * 2003-10-24 2010-09-29 日東電工株式会社 Dicing adhesive sheet, dicing method and semiconductor element manufacturing method
JP4477346B2 (en) * 2003-12-05 2010-06-09 古河電気工業株式会社 Adhesive tape for semiconductor dicing
JP2005228856A (en) * 2004-02-12 2005-08-25 Gunze Ltd Substrate film for dicing
JP4367626B2 (en) * 2004-02-13 2009-11-18 グンゼ株式会社 Method for manufacturing substrate film for semiconductive dicing
JP2005272724A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Furukawa Electric Co Ltd:The Adhesive tape for semiconductor
JP4563711B2 (en) * 2004-03-30 2010-10-13 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing
JP4524497B2 (en) * 2005-05-24 2010-08-18 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing
JP4744196B2 (en) * 2005-05-31 2011-08-10 電気化学工業株式会社 Adhesive sheet
JP4651472B2 (en) * 2005-07-26 2011-03-16 アキレス株式会社 Base film for semiconductor manufacturing tape
JP4831602B2 (en) * 2005-10-04 2011-12-07 グンゼ株式会社 Base film for dicing sheet
JP4813863B2 (en) * 2005-10-04 2011-11-09 グンゼ株式会社 Base film for dicing sheet
JP4024263B2 (en) * 2005-10-06 2007-12-19 電気化学工業株式会社 Adhesive sheet and electronic component manufacturing method using the same.
JP4891603B2 (en) * 2005-12-07 2012-03-07 電気化学工業株式会社 Adhesive sheet and electronic component manufacturing method using the same.
JP4822988B2 (en) * 2006-09-07 2011-11-24 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing
JP4916290B2 (en) * 2006-12-08 2012-04-11 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing
JP5068070B2 (en) * 2006-12-21 2012-11-07 グンゼ株式会社 Substrate film for dicing
JP5207660B2 (en) * 2007-05-22 2013-06-12 グンゼ株式会社 Dicing substrate film and dicing film
JP5138281B2 (en) * 2007-06-21 2013-02-06 グンゼ株式会社 Dicing substrate film and dicing film
JP5053035B2 (en) * 2007-10-24 2012-10-17 グンゼ株式会社 Multilayer dicing substrate film and dicing film
JP5074881B2 (en) * 2007-10-24 2012-11-14 グンゼ株式会社 Multilayer dicing substrate film and dicing film
JP5175085B2 (en) * 2007-12-28 2013-04-03 グンゼ株式会社 Dicing substrate film and dicing film
JP5170880B2 (en) * 2008-03-24 2013-03-27 古河電気工業株式会社 Wafer processing tape
JP5613982B2 (en) * 2008-04-11 2014-10-29 日立化成株式会社 Semiconductor chip manufacturing method and dicing tape
JP5493460B2 (en) * 2008-08-20 2014-05-14 日立化成株式会社 Manufacturing method of semiconductor device and dicing tape integrated adhesive sheet
JP2010074136A (en) * 2008-08-20 2010-04-02 Hitachi Chem Co Ltd Method of manufacturing semiconductor device
JP5519189B2 (en) * 2009-05-27 2014-06-11 日東電工株式会社 Adhesive sheet for dicing electronic components
JP2011210887A (en) * 2010-03-29 2011-10-20 Furukawa Electric Co Ltd:The Adhesive tape for processing radiation curing wafer
JP5638998B2 (en) * 2011-03-30 2014-12-10 古河電気工業株式会社 Radiation curable adhesive tape for semiconductor processing
JP6073810B2 (en) * 2011-12-26 2017-02-01 三井・デュポンポリケミカル株式会社 Film substrate for laser dicing, film for laser dicing, and method for manufacturing electronic component
JP6211771B2 (en) * 2013-02-08 2017-10-11 日東電工株式会社 Adhesive tape
EP3159914B1 (en) * 2014-06-18 2019-07-24 LINTEC Corporation Dicing-sheet base film and dicing sheet
WO2018123804A1 (en) * 2016-12-27 2018-07-05 三井・デュポンポリケミカル株式会社 Dicing film base and dicing film
JP7009197B2 (en) * 2017-01-30 2022-01-25 グンゼ株式会社 Base film for dicing
JP6733804B1 (en) * 2019-03-12 2020-08-05 住友ベークライト株式会社 Adhesive tape and base material for adhesive tape
JP7245108B2 (en) * 2019-04-24 2023-03-23 グンゼ株式会社 Base film for dicing
JP6733803B1 (en) * 2019-05-10 2020-08-05 住友ベークライト株式会社 Adhesive tape for sticking substrates and base material for adhesive tape
JP2021095449A (en) * 2019-12-13 2021-06-24 日東電工株式会社 Adhesive sheet peeling method
JP6798631B1 (en) * 2020-02-17 2020-12-09 住友ベークライト株式会社 Adhesive tape for board attachment and base material for adhesive tape

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150113878A (en) * 2014-03-31 2015-10-08 닛토덴코 가부시키가이샤 Dicing film, dicing·die bond film and manufacturing method for semiconductor device
KR102386082B1 (en) * 2014-03-31 2022-04-14 닛토덴코 가부시키가이샤 Dicing film, dicing·die bond film and manufacturing method for semiconductor device
KR20220050110A (en) * 2014-03-31 2022-04-22 닛토덴코 가부시키가이샤 Dicing·die bond film and manufacturing method for semiconductor device
KR102493750B1 (en) * 2014-03-31 2023-02-06 닛토덴코 가부시키가이샤 Dicing·die bond film and manufacturing method for semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003158098A (en) 2003-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4578050B2 (en) Wafer dicing tape substrate
TW574341B (en) Wafer machining adhesive tape, and its manufacturing method and using method
JP2016104851A (en) Adhesive film for laser cutting
WO2005090505A1 (en) Adhesive material, pressure sensitive adhesive film and method of use thereof
JP2007253435A (en) Surface protective film
KR20120139575A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet
KR20120139576A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet
JP4737368B2 (en) Resin composition for release film and release film
CN106463375A (en) Dicing sheet
KR20120139577A (en) Pressure-sensitive adhesive sheet
JP5088543B2 (en) Surface protection film
JP6352760B2 (en) Adhesive tape and method for producing the same
JPH0699551A (en) Mold release sheet and manufacture thereof
JP4645201B2 (en) Laminated body
JP2003147295A (en) Adhesion member and method for producing the same
WO2005014701A1 (en) Thermoplastic resin film
JP6877456B2 (en) Films, winders and adhesive tapes
JP2010006927A (en) Surface protective film
JP5205857B2 (en) Release film and laminate using the same
JPH06155687A (en) Separation paper and manufacture thereof
JP2010006925A (en) Surface protective film
JP6106526B2 (en) Adhesive sheet for semiconductor wafer processing
JP4552661B2 (en) Manufacturing method of laminate
JP4701801B2 (en) Laminated body and tape and packaging body using the laminated body
JP2009184257A (en) Surface protective film

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080402

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080331

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080530

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080910

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081107

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20081222

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20090227

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100621

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20100622

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100824

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130903

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees