JP4561565B2 - 光ディスク記録再生装置および光ディスク装置の記録方法 - Google Patents

光ディスク記録再生装置および光ディスク装置の記録方法 Download PDF

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本発明は、光ディスクメディアに対して記録を行う光ディスク記録再生装置に関し、特に、光ディスクのデータ記録面に対するレーザ光の入射角度を制御する機構を備えた光ディスク記録再生装置および光ディスク装置の記録方法に関する。
光学記録再生用媒体としては、ＣＤ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）、ＣＤ−Ｒ（書き込み可能なコンパクトディスク）、ＣＤ−ＲＷ（書き換え可能なコンパクトディスク）、記録型ＤＶＤ等の種々の光ディスクが開発されている。記録型の光ディスクは、光ディスクにデータを記録する記録速度が年々高速度化されており、特に記録型ＤＶＤは、複数の記録層化、高記録速度化が図られてきている。ＤＶＤは、映像を含んだ情報を記録するため、映像のコマ落ちなどが発生しないようにデータ転送を一定にするように決められている。
光ディスクに情報を記録する方法としては、データ転送を一定にするため光ディスクの内周部でも外周部でも一定の移動距離（以下、線速度と呼ぶ）になるＣＬＶ方式の記録方式が一般的である。ＣＬＶ記録方式では、回転している光ディスクの線速度が一定となるためには、ディスクの半径方向において、内周部と外周部では光ディスクの回転速度が異なり光ディスクの回転速度は最内周部分を最も高くする必要がある。しかし、薄型のノート型パーソナルコンピュータなどに搭載される光ディスクドライブでは、光ディスクを回転させるモータの小型化によりモータトルクに制限があり回転速度には限度があるため、記録方式も前記ＣＬＶ記録方式だけでなく、光ディスクの内周部でも外周部でも一定の角速度で記録するＣＡＶ方式、内周部から外周部へ段階的に線速度を可変するＺ−ＣＬＶ（ゾーンＣＬＶ）方式や段階的に角速度を可変するＺ−ＣＡＶ方式などが用いられる。
これらの光ディスクへ高速に記録する一例が（特許文献１）に述べられている。記録型ＤＶＤのドライブ装置では、対物レンズに対して光ディスクが半径方向に傾いている場合でも記録・再生特性を理想的な状態に維持するために、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を適正な状態に保つように学習制御する、レンズチルト学習制御が行われている。このレンズチルト学習制御は、光ディスクの全面に対して光ピックアップを半径方向に移動しながら、複数のポイントでチルト値を測定し、光ディスクの全面に亘るチルトの近似曲線を求める全面チルト学習技術や、その近似曲線をもとに、光ディスクの任意の半径方向位置にシークする際に、その位置に対応するチルト駆動値をチルトアクチュエータに印加するチルト制御技術が用いられていた。
従来のレンズチルト学習制御方法の一例として、光ディスク全面に亘ってチルト学習する技術が、（特許文献１）に記載されている。
従来の光ディスク記録装置の構成を、図８を用いて説明する。図８は従来の光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図である。図８に示すように、光ディスク記録再生装置は、ピックアップモジュール２、スピンドルモータ３、フォーカス駆動コイル４、対物レンズ５、チルトアクチュエータ６、フォーカス駆動手段７、フォーカス制御手段８、デジタルサーボコントローラ９、チルト値制御手段１０、チルト値演算手段１１、ＣＰＵ１５から構成されている。以上のように構成されたチルト制御手段における全面チルト学習について図８を用いて説明する。
光ディスク記録装置へ光ディスクを挿入すると、光ディスク記録再生装置は光ディスク１に対して、対物レンズより出射されるレーザが合焦点になるように、フォーカス制御手段８により、フォーカス駆動手段７へ信号が送られる。フォーカス駆動手段７は、その信号を受け、フォーカス駆動コイル４へ一定の電流を流すことで、対物レンズを上下移動させ、フォーカスサーボをかける。その後、スピンドルモータ３を回転させ、ディスクを所望の回転数へ上昇させた後、ディスク半径位置２３ｍｍ〜５６ｍｍまでを複数ポイントに等分割し、その複数ポイントを内周位置から、例えばＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈとした場合、各位置での、合焦点となった、フォーカス駆動値を取得する。この値を、それぞれ、Ａｆ、Ｂｆ、Ｃｆ、Ｄｆ、Ｅｆ、Ｆｆ、Ｇｆ、Ｈｆとする。まず、最初の２ポイント、Ａ及びＢのフォーカス駆動値Ａｆ、Ｂｆでは、２点間距離＝Ｂ−Ａで求められ、その間でのフォーカス駆動値差＝Ｂｆ−ＡｆよりＢ−Ａ間でのディスクの高低差が求められるため、Ａ、Ｂの２点間でのディスクの反り角度を求めることが可能である。同様にして、Ｂ、Ｃ間、Ｃ、Ｄ間、Ｄ、Ｅ間、Ｅ、Ｆ間、Ｆ、Ｇ間、Ｇ、Ｈ間でのディスク反り角度を求めることにより、光ディスク全面での反り角度が分かり、その結果に応じて、対物レンズのチルトをディスク盤面に対して垂直となるように、一連の記録動作を行う前に学習する。このように全面チルト学習とは、光ディスクの反りに対して、対物レンズのチルトをディスク盤面に対して垂直にする学習のことである。
特開２００３−２８１７６１号公報
光ディスクは、その形成過程の制限により、外周部にディスク半径方向に対する反りを持つ場合がある。最近ではインクジェットプリンターで、レーベル面が印刷可能なプリンタブルメディアと呼ばれるメディアが存在するが、プリンタブルメディアは、インクジェットプリンターでの印刷を可能にするための専用の素材がレーベル面に塗布されており、その素材が温度変化により、伸縮する特性を有し光ディスクのポリカーボネイト板を引き伸ばしする。従ってプリンタブルメディアは、温度変化により、ディスク半径方向に対して、反るという特性を有し易い。またプリンタブルに限らず雰囲気温度が高い場合には、記録および再生中に光ディスク記録装置が温度上昇し、光ディスク記録装置の温度上昇に伴い、光ディスクメディアが光ディスク装置からの熱を吸収し、光ディスクのポリカーボネイト板が熱変形し、光ディスク半径方向に対して、ディスクが反る場合がある。
複数の記録層、例えば２層から成るメディアにおいて、第１層にて光ディスクの内周部から外周部への方向へ記録を行う場合には、内周部ではメディアの反りが少ないため、対物レンズのチルトに起因する記録品質劣化は少なく、さらに第１層での記録時には、記録を一定周期で中断し、中断位置より少し内側で記録データの再生信号のジッタ値を、チルト値を変更しながら測定すれば、再生信号のジッタ値が最良点となるチルト値を決定することができるから、チルト要因の記録品質問題は発生しにくい。
しかし２層化された光ディスクメディアは製造時のばらつきで貼り合わせ精度が一定で無いため、同じ半径位置でも第１層と第２層のチルト値は異なっている場合が多い。
第１層から第２層にかけて連続に記録を行う場合、第２層の記録は外周から内周方向へ記録していくが、第２層の記録の開始時点では、第１層と第２層のチルトが異なると、第１層の外周部のチルト値を適用できなくなる。
よって、第２層の外周部でメディアに反りがあり、チルトが補正されないまま記録を行うと、外周部の記録品質劣化が生じ、読み出し時にエラーが発生することになる。
また、上記のような第１層から第２層にかけて連続に記録を行う場合だけで無く、光ディスクへの第１層、あるいは第２層の外周部への追記時にも同様な問題がある。
反りを有する光ディスクに対してのチルト値を求める手段として、前述の光ディスク全面に亘ってチルト学習する技術（特許文献１）があるが、外周部でのチルト値を精度良く求めようとすれば外周での測定ポイントを増やすとともに密にしておく必要がある。しかし測定ポイントが密になるとフォーカス駆動信号の取得値に差が現れにくくなり、それぞれの測定ポイントでのディスクの高低差が小さくなることでチルト値の精度が悪くなり、さらにフォーカス駆動信号取得値の誤差の発生によってもチルト値の精度が悪くなる。また他の何らかの理由で全面チルト学習により求めたチルト値が正しく無かった場合でも、記録が開始されてしまうので、記録品質の劣化が発生する。
本発明は、記録品質の劣化を抑えるため、記録する直前にデータ記録領域以外での外周位置にて実際に記録を行った記録済みの領域を用いるか、あるいは既に存在する記録済みの外周領域を用い記録品質を確認しながら、その領域で適正なチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルト駆動値をチルト駆動手段に印加することのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
かかる問題を解決するため、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりブロックエラー値を測定するブロックエラー測定手段と、ブロックエラー値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、ブロックエラー値の閾値およびチルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にブロックエラー測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、光ディスクにおいて、ブロックエラー値を基に対物レンズの適正なチルト値を決定し、記録・再生品質を向上させることができる。
また、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりジッタ値を測定するジッタ測定手段と、ジッタ値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、ジッタ値の閾値およびチルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にジッタ測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、光ディスクにおいて、ジッタ値を基に対物レンズの適正なチルト値を決定し、記録・再生品質を向上させることができる。
また、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりＲＦ信号の振幅値を測定するＲＦ信号振幅測定手段と、ＲＦ信号の振幅値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、チルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にＲＦ信号測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、光ディスクにおいて、ＲＦ信号の振幅値を基に対物レンズの適正なチルト値を決定し、記録・再生品質を向上させることができる。
本発明の光ディスク装置は、光ディスクの第１層、および第２層においてメディアに反りによりチルトが大きくなった場合においても、適正なチルト値を求め、求められたチルト値を基に、チルト駆動値をチルト駆動手段に印加することで、第１層、および第２層の外周部における記録品質の劣化を防ぐことができる。
請求項１記載の発明は、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりブロックエラー値を測定するブロックエラー測定手段と、ブロックエラー値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、ブロックエラー値の閾値およびチルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にブロックエラー測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を適正にすることで、記録・再生品質を向上させることができる。また、奇数層の記録終了後に偶数層に移動するときの移動量が、偶数層で内周部から外周部方向に記録を行う場合に比較して少なくて済む。さらに、ブロックエラー測定用領域にて求まる適正なチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に記録することができる。
請求項２記載の発明は、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりジッタ値を測定するジッタ測定手段と、ジッタ値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、ジッタ値の閾値およびチルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にジッタ測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を適正にすることで、記録・再生品質を向上させることができる。また、奇数層の記録終了後に偶数層に移動するときの移動量が、偶数層で内周部から外周部方向に記録を行う場合に比較して少なくて済む。さらに、ジッタ測定用領域にて求まる適正なチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に記録することができる。
請求項３記載の発明は、対物レンズと、光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、再生信号よりＲＦ信号の振幅値を測定するＲＦ信号振幅測定手段と、ＲＦ信号の振幅値に基づき対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、チルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にＲＦ信号測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置であり、かかる構成によれば、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を適正にすることで、記録・再生品質を向上させることができる。また、奇数層の記録終了後に偶数層に移動するときの移動量が、偶数層で内周部から外周部方向に記録を行う場合に比較して少なくて済む。さらに、ＲＦ信号測定用領域にて求まる適正なチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に記録することができる。
請求項４記載の発明は、複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にブロックエラー測定用領域を用意し、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながらブロックエラー測定用領域にて一定量記録と一定量記録された場所のブロックエラー値を測定し、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小で、ブロックエラー値の総数が最小値となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらブロックエラー値を測定し、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小で、ブロックエラー値の総数が最小値となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法であり、チルトを補正することでチルト計測用領域の記録・再生品質が向上し、記録・再生品質の良いチルト計測用領域を用いて偶数層の記録開始直前にチルトを補正するから、偶数層の記録開始部の記録・再生品質の向上を行うことができる。
請求項５記載の発明は、複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にジッタ測定用領域を用意し、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながらジッタ測定用領域にて一定量記録と一定量記録された場所のジッタ値を測定し、ジッタ値が最良点となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらジッタ値を測定し、ジッタ値が最良点となる場合におけるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法であり、チルトを補正することでチルト計測用領域の記録・再生品質が向上し、記録・再生品質の良いチルト計測用領域を用いて偶数層の記録開始直前にチルトを補正するから、偶数層の記録開始部の記録・再生品質の向上を行うことができる。
請求項６記載の発明は、複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にＲＦ信号測定用領域を用意し、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながらＲＦ信号測定用領域に一定量記録と一定量記録された場所のＲＦ信号の振幅値を測定し、ＲＦ信号の振幅値が最大となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正しチルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらＲＦ信号の振幅値を測定し、ＲＦ信号の振幅値が最大となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法であり、チルトを補正することでチルト計測用領域の記録・再生品質が向上し、記録・再生品質の良いチルト計測用領域を用いて偶数層の記録開始直前にチルトを補正するから、偶数層の記録開始部の記録・再生品質の向上を行うことができる。
（実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態に係わる光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図である。
図１に示すように、光ディスク記録再生装置は、ピックアップモジュール２、スピンドルモータ３、フォーカス駆動コイル４、対物レンズ５、チルトアクチュエータ６、フォーカス駆動手段７、フォーカス制御手段８、デジタルサーボコントローラ９、チルト値制御手段１０、チルト値演算手段１１、チルト値・ブロックエラー対応記憶手段１２、ブロックエラー測定手段１３、固有値記憶手段１４、ＣＰＵ１５、再生信号ジッタ測定手段１６、チルト値・再生信号ジッタ対応記憶手段１７、ＲＦ信号振幅測定手段１８、チルト値・ＲＦ信号振幅対応記憶手段１９から構成されている。
光ピックアップ手段であるピックアップモジュール２は、レーザ発光素子を有し、光ディスク１のデータの書き込み、読み出し時にレーザ光を照射し記録または再生を行う。ピックアップモジュール２はスピンドルモータ３を回転させ、同時に光ディスク１を回転させる。ＣＰＵ１５がチルト値演算手段１１により得られたチルト値をデジタルサーボコントローラ９を通じ、チルト値制御手段１０に設定すると、チルト駆動手段となるチルトアクチュエータ６がチルト駆動値を印加する。その結果、チルトアクチュエータ６は対物レンズを光ディスク１の半径方向に傾ける。ＣＰＵ１５はブロックエラー測定手段１３からブロックエラー値を測定し、チルト値・ブロックエラー対応記憶手段１２にチルト値とブロックエラー値を対応させて記憶する。また、ＣＰＵ１５は再生信号ジッタ測定手段１６から再生信号ジッタを取得し、チルト値・再生信号ジッタ対応記憶手段１７にチルト値と再生信号ジッタを対応させて記憶する。また、ＣＰＵ１５はＲＦ信号振幅測定手段１８からＲＦ信号の振幅を取得し、チルト値・ＲＦ信号振幅対応記憶手段１９にチルト値とＲＦ信号の振幅を対応させて記憶する。
図２は、本発明の実施の形態に係わるチルト角度とブロックエラー値または再生信号のジッタ値の関係を示した図である。チルト角度が０°の場合には、ブロックエラー値または再生ジッタ値は最小となり、そこから角度がずれていくとブロックエラー値または再生ジッタ値が増加する。また、図２は光ディスクの反りが大きいため、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定しても適正チルト値となるチルト角度０度とはチルト角度が大きくずれているので、チルト値をチルト基準値初期値から光ディスク半径方向に対して負方向に順次一定間隔で設定しても適正チルト値まで届かないが、チルト基準値をチルト基準値２に変更することで適正チルト値に届くようになることを示している。
図３は、本発明の実施の形態に係わるチルト角度とＲＦ信号の振幅値の関係を示した図である。チルト角度が０°の場合には、ＲＦ信号の振幅値は最大となり、そこから角度がずれていくとＲＦ信号の振幅値は小さくなる。また、図３は光ディスクの反りが大きいため、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定しても適正チルト値となるチルト角度０度とはチルト角度が大きくずれているので、チルト値をチルト基準値初期値から光ディスク半径方向に対して負方向に順次一定間隔で設定しても適正チルト値まで届かないが、チルト基準値をチルト基準値２に変更することで適正チルト値に届くようになることを示している。
図４は、本発明の実施の形態に係わる固有値定義テーブルを示した図であり、各判定用固有値を予め定義しておく。チルト値変更一定間隔値Ｄ１は、チルト基準値からチルト値を一定間隔変更するときに参照する値、ブロックエラー閾値Ｄ２は、ブロックエラー測定手段により測定されたブロックエラー値に適用する閾値、再生ジッタ閾値Ｄ３は再生信号ジッタ測定手段により測定された再生信号のジッタ値に適用する閾値、チルト取得エラー判定数Ｄ４は、ブロックエラー値が閾値を超える回数にてエラー判定するための判定数、一定記録量Ｄ５は、ブロックエラー測定用領域に記録し、再生を行うための一定記録量、測定領域確保最大数Ｄ６は、ブロックエラー測定用領域、またはジッタ測定用領域、またはＲＦ信号測定用領域の測定領域確保最大数、チルト基準値初期値Ｄ７は、チルト基準値の初期値、チルト値変更最大回数Ｄ８は、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を光ディスク半径方向に対して一定角度で変化させるために、チルト基準値を中心に、チルト値を光ディスク半径方向に対して正方向から負方向に順次一定間隔で設定する時のチルト変更最大回数である。
なお、ブロックエラー閾値Ｄ２は、１×１０-3から５×１０-3の間でメディアの実情に合わせて設定しておき、再生ジッタ閾値Ｄ３は１０％程度を目安に設定しておけばよい。
図５は、本発明の実施の形態に係わるチルト値とブロックエラー情報の対応テーブルを示した図である。
図５において、チルト基準値を中心に、チルト値を光ディスク半径方向に対して正方向から負方向に順次、図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、各々のチルト値にてブロックエラー測定用領域に図４のＤ５で示される値だけ一定量記録を行い、記録時に設定したチルト値を保持したままブロックエラー測定手段により一定量記録された個所のブロックエラー値を各々のチルト値に対し測定し、ブロックエラー値が図４のＤ２の値で示される閾値を超える回数、および閾値を超えない場合のブロックエラー値の総数をブロックエラー情報とし、チルト値とブロックエラー情報の対応テーブルとして保持しておくことを示している。
ここでチルト値Ｔ３はチルト基準値、チルト値Ｔ２はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ１はチルト値Ｔ２から光ディスク半径方向に対してさらに一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ４はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ５はチルト値Ｔ４から光ディスク半径方向に対してさらに一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値である。図５のＡ１はチルト値Ｔ１を設定後、ブロックエラー測定用領域に図４のＤ５で示された一定量記録を行い、記録時に設定したチルト値を保持したままでのブロックエラー測定手段により測定されたブロックエラー値の中で閾値を超える回数であり、図５のＢ１はブロックエラー測定手段により測定されたブロックエラー値の中で閾値を超えない場合のブロックエラー値の総数である。以下Ａ２からＡ５、Ｂ２からＢ５に対しても同様に処理が行われる。上記対応テーブルから、チルト値に対するブロックエラー値が閾値を超える数が最小である並びを取り出し、その中からブロックエラー値の総数が最小値となる条件を満たすチルト値を、適正なチルト値として求める。
対応テーブルに保持されたチルト値に対するブロックエラー値が閾値を超える回数が、図４のＤ４でチルト取得エラー判定数として示される一定個数以上の場合には、ブロックエラー測定用領域の新規確保および前記チルト基準値の変更を図４のＤ６で示される測定領域確保最大数の範囲内で、適正なチルト値が求まるまで繰り返し行う。
図６は、本発明の実施の形態に係わるチルト値とジッタ情報の対応テーブルを示した図である。図６においては、チルト基準値を中心に、チルト値を光ディスク半径方向に対して正方向から負方向へ順次、図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、チルト計測用領域にて再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値が閾値を超える場合と閾値を越えない場合の区別付け、および閾値を越えない場合の再生信号のジッタ値をジッタ情報とし、チルト値とジッタ情報の対応テーブルとして保持しておくことを示している。ここでチルト値Ｔ３はチルト基準値、チルト値Ｔ２はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ１はチルト値Ｔ２から光ディスク半径方向に対してさらに一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ４はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ５はチルト値Ｔ４から光ディスク半径方向に対してさらに一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値である。チルト値Ｔ１を設定後、チルト計測用領域から再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値を測定し、図４のＤ３で示される閾値を超える場合にはＣ１に１を設定し、超えない場合にはＣ１に０を設定する。またＥ１には閾値を超えない場合の再生信号のジッタ値を設定する。以下Ｃ２からＣ５、Ｅ２からＥ５に対しても同様に処理が行われる。
図６のテーブルから、チルト値に対する再生信号のジッタ値が閾値を超えない並びを取りだし、その中から再生信号のジッタ値が最良点（最小値）となる条件を満たすチルト値を、適正なチルト値として求める。なお対応テーブルに保持されたチルト値に対する再生信号のジッタ値が閾値を全て超える場合には、前記チルト基準値の変更を適正なチルト値が求まるまで一定回数内で繰り返し行う。
図７は、本発明の実施の形態に係わるチルト値とＲＦ信号情報の対応テーブルである。図７において、チルト基準値を中心に、チルト値を光ディスク半径方向に対して正方向から負方向へ順次、図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、ＲＦ信号振幅測定手段によりＲＦ信号の振幅値を測定し、ＲＦ信号振幅測定可とＲＦ信号振幅測定不可の場合の区別付け、およびＲＦ信号振幅測定可の場合のＲＦ信号振幅値をＲＦ信号情報とし、チルト値とＲＦ信号情報の対応テーブルとして保持しておくことを示している。ここでチルト値Ｔ３はチルト基準値、チルト値Ｔ２はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ１はチルト値Ｔ２から光ディスク半径方向に対してさらに一定角度分だけ正方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ４はチルト基準値Ｔ３から光ディスク半径方向に対して一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値、チルト値Ｔ５はチルト値Ｔ４から光ディスク半径方方向に対してさらに一定角度分だけ負方向になるように設定したチルト値であるチルト値Ｔ１を設定後、チルト計測用領域から再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値を測定し、ＲＦ信号の振幅が測定可能な場合はＦ１に１を設定し、ＲＦ信号の振幅が測定不可能な場合は０を設定する。またＧ１にはＲＦ信号の振幅が測定可能な場合の幅値を設定し、ＲＦ信号の振幅が測定不可能な場合は０を設定する。以下Ｆ２からＦ５、Ｇ２からＧ５に対して同様に処理が行われる。
図７のテーブルから、チルト値に対するＲＦ信号の振幅が測定可能な場合のＲＦ信号の
振幅を取り出し、その中からＲＦ信号の振幅が最大となるチルト値を求める図７のテーブルにてチルト値に対するＲＦ信号の振幅値が全て測定不可の場合、もしくはＲＦ信号の振幅値の増減傾向からチルト基準値の変更をすればさらにＲＦ信号の振幅値が大きくなると判断できる場合には、チルト基準値の変更を図７の所定の回数内で行い、ＲＦ信号の振幅値が最大となる適正なチルト値が求まるまで繰り返し行う。
図９は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの領域の構成を示す図である。本発明の形態においては、複数の記録層を持つ光ディスクの内で、２層の光ディスクについて説明をする。奇数層である第１層、と偶数層である第２層の例をとって説明する。
光ディスク１の第１層であるＬａｙｅｒ０の内周側から、内周でのＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）領域であるＩｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域２０１、リードイン領域であるＬｅａｄ−Ｉｎ Ｚｏｎｅ領域２０２、データ領域であるＤａｔａ Ｚｏｎｅ領域２０３、第１層の外周でのＯＰＣ領域とデータ領域を分離するためのＭｉｄｄｌｅ Ｚｏｎｅ ０領域２０４、第１層の外周でのＯＰＣ領域であるＯｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域２０５、第２の層であるＬａｙｅｒ １の内周側から内周でのＯＰＣ領域であるＩｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域２０６、リードアウト領域であるＬｅａｄ−Ｏｕｔ Ｚｏｎｅ領域２０７、データ領域であるＤａｔａ Ｚｏｎｅ領域２０８、第２層の外周でのＯＰＣ領域とデータ領域を分離するためのＭｉｄｄｌｅ Ｚｏｎｅ １領域２０９、第２層の外周でのＯＰＣ領域であるＯｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域２１０で構成している。
図９に示すように、Ｉｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域２０１は、ＯＰＣを実施するＩｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域２０１ａ、Ｉｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域２０６は、ＯＰＣを実施するＩｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域２０６ａと光ディスク記録再生装置の固有情報を格納するためのＩｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２０６ｂから、Ｏｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域２０５は、光ディスク記録再生装置の固有情報を格納するためのＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２０５ａとＯＰＣを実施するＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域２０５ｂから、Ｏｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域２１０は、光ディスク記録再生装置の固有情報を格納するためのＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａとＯＰＣを実施するＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域２１０ｂから構成されている。
図１０は、本発明の実施の形態に係わるＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａの詳細図である。Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａは第２層に存在するため、外周方向から内周方向に記録が行われ、１つ以上からなるブロックエラー測定用領域と、１つのチルト計測用領域から構成される。適正なチルト値を決定するために、まず始めにブロックエラー測定用領域１を使用し、チルト値をチルト基準値中心に、光ディスク半径方向に対して正方向から負方向へ順次図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、各々のチルト値で一定量記録を行い、記録時に設定したチルト値を保持したままブロックエラー測定手段１３により一定量記録された個所のブロックエラー値を各々のチルト値に対し測定し、ブロックエラー値が閾値を超える回数と、閾値を超えない場合のブロックエラー値の総数を各々のチルト値とブロックエラー値の対応テーブルとして図５の形式で保持しておき、図４のＤ２の値をブロックエラー閾値として取り出し、前記対応テーブルに保持されたチルト値に対するブロックエラー値が閾値を超える回数が、全てのチルト値に対し、図４のＤ４で示されたチルト取得エラー判定数以上の場合には、チルト基準値の変更後にチルトブロックエラー測定用領域２を使用し、再度各々のチルト値で同様な動作を繰り返し行う。しかし、それでも適正なチルト値が求まらない場合には、ブロックエラー測定用領域Ｎを最終に、適正なチルト値が求まるまで同様の動作を繰り返し行う。なお、個数Ｎは図４の測定領域確保最大数Ｄ６と同値である。前記の動作中に適正なチルト値が求まる場合には、求められたチルト値を基に適正なチルト駆動値をチルトアクチュエータ６に印加し、チルト計測用領域にランダムパターンを記録する。また、他の異なる光ディスク記録再生装置においてもＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａが使用可能にさせることを考慮の上、測定領域確保最大数Ｄ６とチルト計測用領域の最終アドレス位置は決定される。
図１１は、本発明の実施の形態に係わる別の構成のＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａの詳細図である。Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａは第２層に存在するため、外周方向から内周方向に記録が行われ、１つ以上からなるジッタ測定用領域と、１つのチルト計測用領域から構成される。まず始めにジッタ測定用領域１を使用し、チルト値をチルト基準値中心に、光ディスク半径方向に対して正方向から負方向へ順次図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、各々のチルト値で一定量記録を行い、記録時に設定したチルト値を保持したまま再生信号ジッタ測定手段により一定量記録された個所の再生信号のジッタ値を各々のチルト値に対し測定し、再生信号のジッタ値が閾値を超える場合と、閾値を超えない場合について各々のチルト値と再生信号のジッタ値の対応テーブルとして図６の形式で保持しておき、図４のＤ３の値を再生信号のジッタ閾値として取り出し、前記テーブルに保持された、チルト値に対する再生信号のジッタ値が閾値を超えない並びを取りだし、その中から再生信号のジッタ値が最良点（最小値）となる条件を満たすチルト値を、適正なチルト値として求める。なお対応テーブルに保持されたチルト値に対する再生信号のジッタ値が閾値を全て超える場合には、チルト基準値の変更後にジッタ測定用領域２を使用し、再度各々のチルト値で同様な動作を繰り返し行う。しかし、それでも適正なチルト値が求まらない場合には、ジッタ測定用領域Ｎを最終に、適正なチルト値が求まるまで同様の動作を繰り返し行う。なお、個数Ｎは図４の測定領域確保最大数Ｄ６と同値である。前記の動作中に適正なチルト値が求まる場合には、求められたチルト値を基に適正なチルト駆動値をチルト駆動手段に印加し、チルト計測用領域にランダムパターンを記録する。また、他の光ディスク記録再生装置においてもＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａが使用可能にさせることを考慮の上、測定領域確保最大数Ｄ６とチルト計測用領域の最終アドレス位置は決定される。
図１２は、本発明の実施の形態に係わる別の構成のＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａの詳細図である。Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａは第２層に存在するため、外周方向から内周方向に記録が行われ、１つ以上からなるＲＦ信号用測定用領域と、１つのチルト計測用領域から構成される。まず始めにＲＦ信号測定用領域１を使用し、チルト値をチルト基準値中心に、光ディスク半径方向に対して正方向から負方向へ順次図４のＤ１で示される一定間隔で設定しながら、各々のチルト値で一定量記録を行い、記録時に設定したチルト値を保持したままＲＦ信号振幅測定手段により一定量記録された個所のＲＦ信号の振幅値を各々のチルト値に対し測定し、ＲＦ信号の振幅値が測定可能な場合と、測定不可能な場合について各々のチルト値とＲＦ信号の振幅値の対応テーブルとして図７の形式で保持しておき、チルト値に対するＲＦ信号の振幅が測定可能な場合のみを取りだし、その中からＲＦ信号の振幅値が最大となるチルト値を、適正なチルト値として求める。なお対応テーブルに保持されたチルト値に対するＲＦ信号の振幅値が全て測定不可の場合、もしくはＲＦ信号の振幅値の増減傾向からチルト基準値の変更をすればさらにＲＦ信号の振幅値が大きくなると判断できる場合には、チルト基準値の変更後にＲＦ信号振幅用領域２を使用し、再度各々のチルト値で同様な動作を繰り返し行う。しかし、それでも適正なチルト値が求まらない場合、もしくはＲＦ信号の振幅値の増減傾向からチルト基準値の変更をすればさらにＲＦ信号の振幅値が大きくなると判断できる場合には、ＲＦ信号測定用領域Ｎを最終にＲＦ信号の振幅値が最大となる適正なチルト値が求まるまで同様の動作を繰り返し行う。なお、個数Ｎは図４の測定領域確保最大数Ｄ６と同値である。前記の動作中に適正なチルト値が求まる場合には、求められたチルト値を基に適正なチルト駆動値をチルト駆動手段に印加し、チルト計測用領域にランダムパターンを記録する。また、他の光ディスク記録再生装置においてもＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域２１０ａが使用可能にさせることを考慮の上、測定領域確保最大数Ｄ６とチルト計測用領域の最終アドレス位置は決定される。
なお、図１０から図１１までのチルト計測用領域に記録する記録長は、図４のＤ５の一定記録量でよいが、この場合にはチルト計測用領域の開始アドレスからブロックエラーを測定し、再生信号のジッタ値の測定、ＲＦ信号の振幅値測定のいずれかを行い、チルト値を変更しチルト計測用領域の開始アドレスに戻った後で前記測定が繰り返されることになる。このため、チルト計測用領域の開始アドレスへの移動が発生することでのサーボ外れや、スピンドルモータの安定を考慮する必要があるのでチルト計測用領域には、図４のＤ５の一定記録量が図４のチルト値変更最大回数の個数分確保した方が問題が発生しにくくなる。
図１３から図２８は、光ディスク記録再生装置のブロックエラー測定用領域における適正チルト値取得動作とチルト計測用領域の記録動作、チルト計測用領域からの適正チルト値取得動作を説明する図である。図に沿って、処理手順に関して説明をする。
図１３は本発明に係わるブロックエラー測定に関してのメイン処理手順を示す図であり、サブルーチンである固有値定義テーブル読み込み手順（Ｓ１）、ブロックエラー測定（Ｓ５）、適正チルト値取得１手順（Ｓ６）を含んでいる。
図１４は、本発明に係わる図１３の固有値定義テーブル読み込み手順（Ｓ１）を示す図、図１５は、本発明に係わるブロックエラー測定手順（Ｓ５）を示す図、図１６は、本発明に係わる適正チルト値取得１手順（Ｓ６）を示す図である。
図１３において固有値定義テーブル読み込み（Ｓ１）が実行されると、図１４の処理にて、図４で示される固有値定義テーブルからチルト値変更一定間隔値Ｄ１を取得（Ｓ２０）し、ブロックエラー閾値Ｄ２を取得（Ｓ２１）し、再生信号のジッタ閾値を取得（Ｓ２２）し、チルト取得エラー判定数Ｄ４を取得（Ｓ２３）し、一定記録量Ｄ５を取得（Ｓ２４）し，測定領域確保最大数Ｄ６を取得（Ｓ２５）し、チルト基準値初期値Ｄ７を取得（Ｓ２６）し、チルト値変更最大回数Ｄ８を取得（Ｓ２７）する。次に、チルト基準値にチルト基準値初期値Ｄ７を設定（Ｓ２）し、図１０で示されるブロックエラー測定用領域が無いと判断された場合（Ｓ３）には、処理を終了する。図１０で示されるブロックエラー測定用領域が有ると判断された場合（Ｓ３）には、特定のブロックエラー測定用領域の記録先頭アドレスを取得（Ｓ４）し、ブロックエラー測定（Ｓ５）が実行されると、図１５の処理にて、変数Ａに０を代入（Ｓ３０）し、変数ＢにＳ３１で示される式により値が代入される。チルト値に変数Ｂの値を設定（Ｓ３２）し、記録開始アドレスから記録を開始（Ｓ３３）する。そして一定記録量Ｄ５の長さ分だけ記録が終了する（Ｓ３４）と、ブロックエラー測定用領域での記録開始アドレスを取得（Ｓ３５）し、ブロックエラー測定用領域での記録開始アドレスから一定記録量Ｄ５の長さ分だけブロックエラー測定手段によりブロックエラー値を測定する（Ｓ３６）、ブロックエラー測定が終了した（Ｓ３７）場合には、図５のブロックエラーテーブルにチルト値に対応させてブロックエラー値が閾値を超える回数、あるいは閾値を超えない場合のブロックエラー値の総数をブロックエラー情報として保存する（Ｓ３８）。次に、変数Ａに１を加算（Ｓ３９）し、変数Ａの値とチルト値変更最大回数Ｄ８の比較（Ｓ４０）を行い、変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ４０）には処理を終了する。変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８未満（Ｓ４０）なら記録開始アドレスに一定記録量の長さを加算してＳ３１に戻り処理を繰り返す。
図１３の適正チルト値取得１（Ｓ６）が実行されると、図１６の処理にて、ブロックエラー値の総数を比較するためにブロックエラー最小値初期化（Ｓ５０）を行い、変数Ｃに０、および変数Ｄに０を代入（Ｓ５１）し、変数Ｄの値とチルト値変更最大回数Ｄ８と比較（Ｓ５２）を行い、変数Ｄの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ５２）は、ブロックエラー最小更新有りか（Ｓ６４）の確認を行い、ブロックエラー最小更新有り（Ｓ６４）の場合には、チルト値に適正チルト値を設定（Ｓ６５）し処理を終了する。ブロックエラー最小値更新が無い場合には何もせずに処理を終了する。
変数Ｄの値がチルト値変更最大回数Ｄ８未満の場合（Ｓ５２）は、変数ＥにＳ５３で示される式により値を代入し、チルト値に変数Ｅの値を設定（Ｓ５４）する。そして図５のブロックエラーテーブルからチルト値に対応するブロックエラー情報を取得（Ｓ５５）し、ブロックエラー値が閾値を超える回数を取り出し、ブロックエラー値が閾値を超える回数とチルト取得エラー判定数Ｄ４の比較（Ｓ５５）を行い、ブロックエラー値が閾値を超える回数がチルト取得エラー判定数Ｄ４以上の場合（Ｓ５６）は変数Ｄの値に１を加算（Ｓ６１）し、Ｓ５２に戻る。
変数Ｃと閾値を超えない数が同じかの確認（Ｓ５７）を行い、変数Ｃと閾値を超えない数が同じで無い（Ｓ５７）場合は変数Ｄに０を代入（Ｓ６２）し、変数Ｃに１を加算（Ｓ６３）した後、Ｓ５２に戻る。
ブロックエラー値が閾値を超える回数がチルト取得エラー判定数Ｄ４未満の場合（Ｓ５７）は、図５のブロックエラーテーブルからチルト値に対応する閾値を越えない場合のブロックエラー値の総数とブロックエラー最小値の比較（Ｓ５７）を行い、閾値を越えない場合のブロックエラー値の総数がブロックエラー最小値以上の場合（Ｓ５８）には変数Ｄの値に１を加算（Ｓ６０）し、Ｓ５２に戻る。
閾値を越えない場合のブロックエラー値の総数がブロックエラー最小値未満の場合（Ｓ５８）にはブロックエラー最小値をブロックエラー値の総数に更新（Ｓ５９）し、変数Ｄの値に１を加算し（Ｓ６０）、（Ｓ５２）に戻る。そして、図１３の適正チルト値が求まったかの確認（Ｓ７）において適正チルト値が求まっていない場合には、測定領域確保最大数Ｄ６を越えた（Ｓ８）かの確認を行い、測定領域確保最大数Ｄ６を越えていた場合（Ｓ８）には処理を終了する。測定領域確保最大数Ｄ６を越えていない場合（Ｓ８）にはチルト基準値を変更（Ｓ９）し、Ｓ３に戻る。
適正チルト値が求まっている場合（Ｓ７）には、チルト計測用領域の記録（Ｓ１０）を行い、処理を終了する。
図１７は、本発明に係わるジッタ測定に関してのメインとなる処理手順を示す図であり、サブルーチンである固有値定義テーブル読み込み手順（Ｓ１７０１）、ジッタ値測定手順（Ｓ１７０５）、適正チルト値取得２手順（Ｓ１７０６）を含んでいる。
図１８は、本発明に係わるジッタ値測定手順（Ｓ１７０５）を示す図、図１９は、本発明に係わる適正チルト値取得２手順（Ｓ１７０６）を示す図である。
図１７において固有値定義テーブル読み込み（Ｓ１７０１）が実行され初期値を読み出し、図１１で示されるジッタ測定用領域が無いと判断された場合（Ｓ１７０３）には、処理を終了する。図１１で示されるジッタ測定用領域が有ると判断された場合（Ｓ１７０３）には、特定のジッタ測定用領域の記録先頭アドレスを取得（Ｓ１７０４）し、ジッタ値測定（Ｓ１７０５）が実行されると、図１８の処理にて、変数Ａに０を代入（Ｓ９０）し、変数ＢにＳ９１で示される式により値が代入される。チルト値に変数Ｂの値を設定（Ｓ９２）し、記録開始アドレスから記録を開始（Ｓ９３）する。そして一定記録量Ｄ５の長さ分だけ記録が終了する（Ｓ９４）と、ジッタ測定用領域での記録開始アドレスを取得（Ｓ９５）し、ジッタ測定用領域での記録開始アドレスから一定記録量Ｄ５の長さ分だけ再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値を測定する（Ｓ９６）、ジッタ値の測定が終了した（Ｓ９７）場合には、図６のジッタテーブルにチルト値に対応させて閾値を超える場合と閾値を超えない場合の区別付け、および閾値を超えない場合の再生信号のジッタ値をジッタ情報として保存する（Ｓ９８）。次に、変数Ａに１を加算（Ｓ９９）し、変数Ａの値とチルト値変更最大回数Ｄ８の比較（Ｓ１００）を行い、変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ１００）には処理を終了する。変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８未満（Ｓ１００）なら記録開始アドレスに一定記録量の長さを加算してＳ９１に戻り処理を繰り返す。
図１７の適正チルト値取得２（Ｓ１７０６）が実行されると、図１９の処理にて、再生信号ジッタ最小値初期化（Ｓ８０）を行い、変数Ｇに０を代入し、変数Ｇの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ８２）は、再生信号ジッタ最小更新有りか（Ｓ８９）の確認を行い、再生信号ジッタ最小値更新有り（Ｓ８９）の場合には、チルト値に適正チルト値を設定（Ｓ９０）し処理を終了する。再生信号ジッタ最小値更新が無い場合には何もせずに処理を終了する。
変数Ｇの値がチルト値変更最大回数Ｄ８未満の場合（Ｓ８２）は、変数ＨにＳ８３で示される式により値を代入し、チルト値に変数Ｈの値を設定（Ｓ８４）する。次に、図５のブロックエラーテーブルからチルト値に対応するジッタ情報を取得（Ｓ８５）し、再生信号ジッタ値が閾値を超える回数を取り出し、再生信号ジッタ値が閾値を超える回数とチルト取得エラー判定数Ｄ４の比較（Ｓ８６）を行い、再生信号ジッタ値が閾値を超えない場合（Ｓ８６）には再生信号ジッタ最小値を更新（Ｓ８７）し、変数Ｇの値に１を加算（Ｓ８８）し、（Ｓ８２）に戻る。再生信号ジッタ値が閾値を超える場合（Ｓ８６）には、変数Ｇの値に１を加算（Ｓ８８）し、Ｓ８２に戻る。
（実施の形態３）
図２０は、本発明に係わるＲＦ信号の振幅測定に関してのメイン処理手順を示す図であり、サブルーチンである固有値定義テーブル読み込み手順（Ｓ２００１）、ＲＦ信号振幅測定手順（Ｓ２００５）、適正チルト値取得３手順（Ｓ２００６）を含んでいる。
図２１は、本発明に係わるＲＦ信号振幅測定手順を示す図、図２２は、本発明に係わる適正チルト値取得３手順を示す図である。
図２０において固有値定義テーブル読み込み（Ｓ２００１）が実行され初期値を読み出し、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定（Ｓ２００２）する。次に、図１２で示されるＲＦ信号測定用領域が無いと判断された場合（Ｓ２００３）には、処理を終了する。図１２で示されるＲＦ信号測定用領域が有ると判断された場合（Ｓ２００３）には、特定のＲＦ信号測定用領域の記録先頭アドレスを取得（Ｓ２００４）し、ＲＦ信号振幅測定（Ｓ２００５）が実行されると、図２１の処理にて、変数Ａに０を代入（Ｓ１１０）し、変数Ｂに（Ｓ１１１）で示される式により値が代入される。チルト値に変数Ｂの値を設定（Ｓ１１２）し、記録開始アドレスから記録を開始（Ｓ１１３）する。そして一定記録量Ｄ５の長さ分だけ記録が終了する（Ｓ１１４）と、ＲＦ信号測定用領域での記録開始アドレスを取得（Ｓ１１５）し、ＲＦ信号測定用領域での記録開始アドレスから一定記録量Ｄ５の長さ分だけＲＦ信号振幅測定手段によりＲＦ信号の振幅値を測定する（Ｓ１１６）、ＲＦ信号の振幅値の測定が終了した（Ｓ１１７）場合には、図７のＲＦ信号振幅テーブルに、チルト値に対応させＲＦ信号の振幅値が測定可能か測定不可の場合の区別付け、およびＲＦ信号測定可の場合のＲＦ信号振幅値をＲＦ信号情報として保存する（Ｓ１１８）。次に、変数Ａに１を加算（Ｓ１１９）し、変数Ａの値とチルト値変更最大回数Ｄ８の比較（Ｓ１２０）を行い、変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ１２０）には処理を終了する。変数Ａの値がチルト値変更最大回数Ｄ８未満（Ｓ１２０）の場合には記録開始アドレスに一定記録量の長さを加算してＳ１１１に戻り処理を繰り返す。
図２０の適正チルト値取得３（Ｓ２００６）が実行されると、図２２の処理にて、ＲＦ信号振幅値最大値初期化（Ｓ１３０）を行い、変数Ｇに０を代入し、変数Ｇの値がチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ１３２）は、ＲＦ信号振幅値最大値更新有りか（Ｓ１４０）の確認を行い、ＲＦ信号振幅値最大値更新有り（Ｓ１４０）の場合には、ＲＦ信号振幅値最大時の変数Ｇの値を取得し（Ｓ１４１）、変数Ｇの値が０の場合（Ｓ１４２）は、チルト基準値変更要求設定を行い（Ｓ１４４）、適正チルト値を設定する（Ｓ１４５）。変数Ｇの値が０以外の場合（Ｓ１４２）で変数Ｇがチルト値変更最大回数の場合（Ｓ１４３）にはチルト基準値変更要求設定を行い（Ｓ１４４）、適正チルト値を設定する（Ｓ１４５）。変数Ｇの値が０でも（Ｓ１４２）チルト値変更最大回数（Ｓ１４３）でも無い場合には、適正チルト値を設定する（Ｓ１４５）。
適正チルト値が決まったかどうか判定し（Ｓ２００７）、適正チルト値が決まるとチルト基準値変更要求設定有りかどうか判定し（Ｓ２０１０）、要求設定があればチルト基準を変更し（Ｓ２０１１）、（Ｓ２００３）へ戻る。チルト基準値変更要求設定がなければ（Ｓ２０１０）、チルト計測用領域の記録をし（Ｓ２０１０）、処理を終る。適正チルトが決まらなければ（Ｓ２００７）、測定領域確保最大数を越えたかどうか判定し（Ｓ２００８）、最大数を越えたら処理を終る。測定領域最大数を越えなければ、チルト基準を変更し（Ｓ２００９）、（Ｓ２００３）へ戻る。
図２３は、本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いてブロックエラー値の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図である。
図２３において、固有値定義テーブル（図１４）読み込みが実行され（Ｓ２３０１）初期値を読み出し、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定（Ｓ２３０２）する。次に、光ディスクメディアに対する初期起動時、あるいは光ディスクメディアへの最適記録パワーを決定するＯＰＣ開始時にドライブ固有情報格納領域からチルト計測用領域の開始アドレス取得を取得（Ｓ２３０３）する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来なかった場合（Ｓ２３０４）には処理を終了する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来た場合（Ｓ２３０４）には、チルト計測領域測定１（Ｓ２３０５）を実行し、適正チルト取得１（Ｓ２３０６）を実行する。適正チルト値が求まった場合（Ｓ２３０７）には、適正チルト値を設定（Ｓ２３０９）し、適正チルト値が求まっていない場合（Ｓ２３０７）には、チルト基準値を変更（Ｓ２３０８）し、（Ｓ２３０４）に戻る。
図２４は、本発明の実施の形態に係わるブロックエラー情報をブロックエラーテーブルに保存する処理手順であるチルト計測領域測定を示す図である。
図２４において、変数Ｈに０を代入（Ｓ１０）し、変数Ｉに（Ｓ１１）で示される式により値を代入し、チルト値に変数Ｉを設定する（Ｓ１２）。次に、ブロックエラー値を測定するための開始アドレスを取得（Ｓ１３）し、ブロックエラー値を図４の一定記録量Ｄ５で示される長さ分測定する（Ｓ１４）。ブロックエラー測定が終了（Ｓ１５）したら、ブロックエラー値が閾値を超える回数、または閾値を越えない場合のブロックエラー値の総数をブロクエラー情報としてブロックエラーテーブルに保存する（Ｓ１６）。変数Ｈに１を加算（Ｓ１８）し、変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ１８）には処理を終了する。変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８未満の場合（Ｓ１８）には（Ｓ１１）に戻る。
図２５は、本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いて再生信号のジッタ値の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図である。
図２５において、固有値定義テーブル（図１４）読み込みが実行され（Ｓ２５０１）、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定（Ｓ２５０２）する。次に、光ディスクメディアに対する初期起動時、あるいは光ディスクメディアへの最適記録パワーを決定するＯＰＣ開始時にドライブ固有情報格納領域からチルト計測用領域の開始アドレス取得を取得（Ｓ２５０３）する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来なかった場合（Ｓ２５０４）には処理を終了する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来た場合（Ｓ２５０４）には、チルト計測領域測定２（Ｓ２５０５）を実行し、適正チルト取得２（Ｓ２５０６）を実行する。適正チルト値が求まった場合（Ｓ２５０７）には、適正チルト値を設定（Ｓ２５０９）し、適正チルト値が求まっていない場合（Ｓ２５０７）には、チルト基準値を変更（Ｓ２５０８）し、（Ｓ２５０４）に戻る。
図２６は、本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いジッタ情報をジッタテーブルに保存する処理手順であるチルト計測領域測定２を示す図である。
図２６において、変数Ｈに０を代入（Ｓ２６１０）し、変数Ｉに（Ｓ２６１１）で示される式により値を代入し、チルト値に変数Ｉを設定する（Ｓ２６１２）。次に、再生信号のジッタ値を読み出すための開始アドレスを取得（Ｓ２６１３）し、再生信号のジッタ値を図４の一定記録量Ｄ５で示される長さ分測定する（Ｓ２６１４）。再生信号のジッタ値の測定が終了（Ｓ２６１５）したら、再生信号のジッタ値が閾値を超える場合と閾値を超えない場合の区別と閾値を越えない場合の再生信号のジッタ値をジッタ情報としてジッタテーブルに保存する（Ｓ２６１６）。変数Ｈに１を加算（Ｓ２６１７）し、変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ２６１８）には処理を終了する。変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８未満の場合（Ｓ２６１８）には（Ｓ２６１１）に戻る。
図２７は、本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いてＲＦ振幅の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図である。
図２７において、固有値定義テーブル（図１４）読み込みが実行され（Ｓ２７０１）、チルト基準値にチルト基準値初期値を設定（Ｓ２７０２）する。次に、光ディスクメディアに対する初期起動時、あるいは光ディスクメディアへの最適記録パワーを決定するＯＰＣ開始時にドライブ固有情報格納領域からチルト計測用領域の開始アドレス取得を取得（Ｓ２７０３）する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来なかった場合（Ｓ２７０４）には処理を終了する。チルト計測用領域の開始アドレスを取得出来た場合（Ｓ２７０４）には、チルト計測領域測定３（Ｓ２７０５）を実行し、適正チルト取得３（Ｓ２７０６）を実行する。適正チルト値が求まった場合（Ｓ２７０７）には、チルト基準値変更要求有りか（Ｓ２７１０）の確認を行い、チルト基準値変更要求有りの場合には、チルト基準値を変更（Ｓ２７０９）し、Ｓ２７０４に戻る。チルト基準値変更要求無しの場合には、適正チルト値を設定（Ｓ２７１１）し、処理を終了する。適正チルトが決まらない場合（Ｓ２７０７）には、チルト基準値を変更し（Ｓ２７０８）、（Ｓ２７０４）に戻る。
図２８は、本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いＲＦ信号情報をＲＦ信号振幅テーブルに保存する処理手順であるチルト計測領域測定３を示す図である。
図２８において、変数Ｈに０を代入（Ｓ２８１０）し、変数ＩにＳ２８１１で示される式により値を代入し、チルト値に変数Ｉを設定する（Ｓ２８１２）。次に、ＲＦ信号の振幅値を読み出すための開始アドレスを取得（Ｓ２８１３）し、ＲＦ信号の振幅値を図４の一定記録量Ｄ５で示される長さ分測定する（Ｓ２８１４）。ＲＦ信号の振幅値の測定が終了（Ｓ２８１５）したら、ＲＦ信号振幅値が測定可か測定不可であるかの区別と測定可の場合はＲＦ信号の振幅値、測定不可の場合は、測定不可を示す値の０をＲＦ信号情報としてＲＦ信号振幅テーブルに保存する（Ｓ２８１６）。変数Ｈに１を加算（Ｓ２８１７）し、変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８以上の場合（Ｓ２８１８）には処理を終了する。変数Ｈが図４のチルト値変更最大回数Ｄ８未満の場合（Ｓ２８１８）には（Ｓ２８１１）に戻る。
図２９は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図である。
図２９においては、光ディスクの偶数層の外周部にＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ５を追記する時において、記録を開始する位置の外側に、チルト計測用領域以外の十分な記録領域が存在しない場合を示している。
図２９において、チルト計測用領域を使用しブロックエラー測定手段１３によりブロックエラー値を測定するか、または再生信号ジッタ測定手段１６により再生信号のジッタ値を測定するか、またはＲＦ信号振幅測定手段１８にて振幅値を測定することで、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小でブロックエラー値の総数が最小値となる場合におけるチルト値、あるいは再生信号のジッタ値が閾値以下になる条件下でジッタ値が最良点となる場合におけるチルト値、あるいはＲＦ信号の振幅値が最大となる最適チルト値を取得することを示しており、図２９のチルト取得位置Ｌにて最適チルト値を取得したことを示している。
図３０は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図である。
図３０は、光ディスクの偶数層の外周部にＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ６を追記する時において、記録を開始する位置より外側にある記録済み領域に、十分な記録領域が存在する場合を示している。
図３０では、これから記録を開始するＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ６の記録開始位置より外周にあるＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ５の内周部の領域を使用しブロックエラー測定手段によりブロックエラー値を測定するか、または再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値を測定するか、またはＲＦ信号の振幅値を測定することで、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小でブロックエラー値の総数が最小値となる場合におけるチルト値、あるいは再生信号のジッタ値が閾値以下になる条件下でジッタ値が最良点となる場合におけるチルト値、あるいはＲＦ信号の振幅値が最大になる場合のチルト値を取得することを示しており、図３０のチルト取得位置Ｋにて最適チルト値を取得したことを示している。
図３１は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図である。
図３１は、光ディスクの奇数層の外周部にＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ３を追記する時において、記録を開始する位置より内側にある記録済み領域に、十分な記録領域が存在する場合を示している。
図３１において、記録を開始するＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ４の記録開始位置より内側にあるＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ３の外周部にてブロックエラー測定手段によりブロックエラー値を測定するか、または再生信号ジッタ測定手段により再生信号のジッタ値を測定するか、またはＲＦ信号の振幅値を測定することで、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小でブロックエラー値の総数が最小値となる場合におけるチルト値、あるいは再生信号のジッタ値が閾値以下になる条件下でジッタ値が最良点となる場合におけるチルト値、あるいはＲＦ信号の振幅値が最大となる場合のチルト値を取得することを示しており、図３１のチルト取得位置Ｍにて最適チルト値を取得したことを示している。
図３２は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図である。
図３２は、光ディスクの偶数層の外周部にＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １０を追記する時において、記録を開始する位置より内周にある記録済み領域に、十分な記録領域が存在する場合を示している。
図３２において、奇数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １に記録直後に、奇数層から偶数層に移動し偶数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ２の記録を行い、その後、奇数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ３に記録直後に、奇数層から偶数層に移動し偶数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ４の記録を行い、以下同様に、奇数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ５から偶数層のＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １０への記録を行うことを示している。
図３３は、本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図である。
図３３は、図３２に対し、Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅでのチルト取得位置Ｌと光ディスクの中心からチルト取得位置Ｌまでの半径Ｒ１、ＵＳＥＲ ＤＡＴＡ ８の外周部に位置するチルト取得位置Ｍと光ディスクの中心からのチルト取得位置Ｍまでの半径Ｒ２、光ディスクの中心からＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １０の記録開始位置までの半径Ｒ３を追加した図である。ＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １０でのチルト値を求める場合、ＵＳＥＲ ＤＡＴＡ １０での記録量が多ければ、半径Ｒ２と半径Ｒ３が大きく離れることになるが、この場合には記録開始位置のチルト値は、チルト取得位置Ｍで求めたチルト値とチルト取得位置Ｌにて求めたチルト値を用いて、関数近似することにより補間できるから適正なチルト値を取得することができる。
図３４は、本発明の実施の形態に係わる光ディスク半径位置と光ディスクの反り量を示した図である。
光ディスク曲面に対する半径位置が半径Ｒでのチルト角とその位置での接線と曲面との接点Ａを示した図である。
チルト角はθ１であるが、作図上θ２と等しい、
このためｔａｎ（θ２）＝β／α、つまりθ２＝ｔａｎ-1（β／α）が成り立つが、θ２が小さい時には、θ２≒β／αとなり、β／αは接点Ａでの微分係数となるから、チルト角は曲面を関数近似した場合の微分で表される。このため、曲面を下記１の２次関数で表現した場合には、チルト角は式２で表される。
ｙ＝ａｘ2＋ｂｘ＋ｃ（ｙは反り量） ・・・式１
チルト角＝２ａｘ＋ｂ（ｘは半径位置） ・・・式２
またチルト値を図１のデジタルサーボコントローラ９を通じ、チルト値制御手段１０に設定すると、チルトアクチュエータ６は対物レンズを光ディスク１の半径方向に傾けるため、チルト値とチルト角は同じと考えてよい。そして図３３において半径Ｒ２にてチルト取得位置Ｍで得られたチルト値をＴｉ２、半径Ｒ１にてチルト取得位置Ｌで得られたチルト値をＴｉ１とすれば、
Ｔｉ１＝２ａ×Ｒ１＋ｂ ・・・式３
Ｔｉ２＝２ａ×Ｒ２＋ｂ ・・・式４
が得られ、式３と式４より
ａ＝（Ｔｉ１−Ｔｉ２）／（２×（Ｒ１−Ｒ２））
ｂ＝（Ｔｉ２×Ｒ１−Ｔｉ１×Ｒ２）／（Ｒ１−Ｒ２）
となり、
図３３の半径Ｒ３のチルト値は、２×ａ×Ｒ３＋ｂ
で与えられる。
本発明は、複数の記録層、例えば２層の記録層を有する光ディスクに記録するのに、第１の記録層、および第２の記録層において光ディスクメディアの反りにより、対物レンズと光ディスクメディア間の相対角度を調整するチルト値が大きくなった場合においても、適正なチルト量を求めることができるため、第１層、および第２層の外周部における記録品質の劣化が少ない光ディスク記録装置として利用できる。
本発明の実施の形態に係わる光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図 本発明の実施の形態に係わるチルト角度とブロックエラー値または再生信号のジッタ値の関係を示した図 本発明の実施の形態に係わるチルト角度とＲＦ信号の振幅値の関係を示した図 本発明の実施の形態に係わる固有値定義テーブルを示した図 本発明の実施の形態に係わるチルト値とブロックエラー情報の対応テーブルを示した図 本発明の実施の形態に係わるチルト値とジッタ情報の対応テーブルを示した図 本発明の実施の形態に係わるチルト値とＲＦ信号情報の対応テーブルを示した図 従来の光ディスク記録再生装置の構成を示したブロック図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの領域の構成を示す図 本発明の実施の形態に係わるＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域の詳細図 本発明の実施の形態に係わる別の構成のＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域の詳細図 本発明の実施の形態に係わる別の構成のＯｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域の詳細図 本発明に係わるブロックエラー測定に関してのメイン処理手順を示す図 本発明に係わる図１３の固有値定義テーブル読み込み手順を示す図 本発明に係わるブロックエラー測定手順を示す図 本発明に係わる適正チルト値取得１手順を示す図 本発明に係わるジッタ測定に関してのメインとなる処理手順を示す図 本発明に係わるジッタ値測定手順を示す図 本発明に係わる適正チルト値取得２手順を示す図 本発明に係わるＲＦ信号の振幅測定に関してのメイン処理手順を示す図 本発明に係わるＲＦ信号振幅測定手順を示す図 本発明に係わる適正チルト値取得３手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いてブロックエラー値の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるブロックエラー情報をブロックエラーテーブルに保存する処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いて再生ジッタ値の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いてジッタ情報をジッタテーブルに保存する処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いてＲＦ振幅の測定を行い、適正チルト設定を行うメイン処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わるチルト計測用領域を用いＲＦ信号情報をＲＦ信号振幅テーブルに保存する処理手順を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスクの記録状態の一例を示す図 本発明の実施の形態に係わる光ディスク半径位置と光ディスクの反り量を示した図
符号の説明
１ 光ディスク
２ ピックアッップモジュール
３ スピンドルモータ
４ 対物レンズ
６ チルトアクチュエータ
７ フォーカス駆動手段
８ フォーカス制御手段
９ デジタルサーボコントローラ
１０ チルト値制御手段
１１ チルト値演算手段
１２ チルト値・ブロックエラー対応記憶手段
１３ ブロックエラー測定手段
１４ 固有値記憶手段
１５ ＣＰＵ
１６ 再生信号ジッタ測定手段
１７ チルト値・再生信号ジッタ対応記憶手段
１８ ＲＦ信号振幅測定手段
１９ チルト値・ＲＦ信号振幅対応記憶手段
２０１ Ｉｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域
２０２ Ｌｅａｄ−Ｉｎ Ｚｏｎｅ領域
２０３ Ｄａｔａ Ｚｏｎｅ領域
２０４ Ｍｉｄｄｌｅ Ｚｏｎｅ ０領域
２０５ Ｏｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ ０領域
２０６ Ｉｎｎｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域
２０７ Ｌｅａｄ−Ｏｕｔ Ｚｏｎｅ領域
２０８ Ｄａｔａ Ｚｏｎｅ領域
２０９ Ｍｉｄｄｌｅ Ｚｏｎｅ １領域
２１０ Ｏｕｔｅｒ Ｄｒｉｖｅ Ａｒｅａ １領域
２０１ａ Ｉｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域
２０５ａ Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域
２０５ｂ Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域
２０６ａ Ｉｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域
２０６ｂ Ｉｎｎｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域
２１０ａ Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ Ｚｏｎｅ領域
２１０ｂ Ｏｕｔｅｒ Ｄｉｓｃ Ｔｅｓｔ Ｚｏｎｅ領域

Claims (6)

  1. 対物レンズと、
    光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、
    前記再生信号よりブロックエラー値を測定するブロックエラー測定手段と、
    前記ブロックエラー値に基づき前記対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、
    前記ブロックエラー値の閾値および前記チルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、
    前記光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、
    前記複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にブロックエラー測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
  2. 対物レンズと、
    光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、
    前記再生信号よりジッタ値を測定するジッタ測定手段と、
    前記ジッタ値に基づき前記対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、
    前記ジッタ値の閾値および前記チルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、
    前記光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、
    前記複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にジッタ測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
  3. 対物レンズと、
    光ディスクからの再生信号を検出する再生信号検出手段と、
    前記再生信号よりＲＦ信号の振幅値を測定するＲＦ信号振幅測定手段と、
    前記ＲＦ信号の振幅値に基づき前記対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するチルト駆動手段と、
    前記チルト駆動用固有値を記憶する手段と、を備え、
    前記光ディスクにおいて、複数の記録層を有する光ディスクの記録は、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行い、
    前記複数の記録層を有する光ディスクに対し、偶数層の外周部にＲＦ信号測定用領域とチルト計測用領域を確保することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
  4. 複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、
    データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にブロックエラー測定用領域を用意し、
    対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながら前記ブロックエラー測定用領域にて一定量記録と一定量記録された場所のブロックエラー値を測定し、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小で、ブロックエラー値の総数が最小値となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらブロックエラー値を測定し、ブロックエラー値が閾値を超える数が最小で、ブロックエラー値の総数が最小値となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
  5. 複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、
    データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にジッタ測定用領域を用意し、
    対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながら前記ジッタ測定用領域にて一定量記録と一定量記録された場所のジッタ値を測定し、ジッタ値が最良点となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、チルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらジッタ値を測定し、ジッタ値が最良点となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
  6. 複数の記録層を有する光ディスクの記録において、奇数層では内周部から外周部方向に、偶数層では外周部から内周部方向に記録を行う光ディスク記録方法であって、
    データ記録領域とは別の偶数層の外周位置にＲＦ信号測定用領域を用意し、
    対物レンズと前記光ディスクの間の相対角度を調整するためのチルト値を変更しながら前記ＲＦ信号測定用領域に一定量記録と一定量記録された場所のＲＦ信号の振幅値を測定し、ＲＦ信号の振幅値が最大となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正しチルト計測用領域に一定量の記録を行い、奇数層のデータ記録が終了し偶数層に移動し、偶数層の記録開始直前にチルト計測用領域にてチルト値を変更しながらＲＦ信号の振幅値を測定し、ＲＦ信号の振幅値が最大となるチルト値を求め、求められたチルト値を基にチルトを補正し、偶数層の記録を開始することを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
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