JP4552538B2 - 放射線画像変換パネルの製造方法 - Google Patents
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2.支持体上に、膜厚50μm以上の蛍光体層を気相堆積法により形成し、形成した蛍光体を加熱処理する放射線画像変換パネルの製造方法において、沸点が50℃以上、100℃以下であるフッ素含有有機化合物の存在下で前記加熱処理を行うことを特徴とする放射線画像変換パネルの製造方法。
3.フッ素含有有機化合物が、水素原子及びフッ素原子を含むエーテル化合物であることを特徴とする前記2に記載の放射線画像変換パネルの製造方法。
尚、以下(1)〜(13)は参考とされる構成である。
(1)支持体上に、膜厚50μm以上の蛍光体層を気相堆積法により形成し、次いで、形成した蛍光体を加熱処理する放射線画像変換パネルの製造方法において、加熱処理前後の蛍光体の発光波長における透過率T0およびTが0.80≦T/T0≦1.00であることを特徴とする放射線画像変換パネルの製造方法。
(2)フッ素含有有機化合物の存在下で前記加熱処理を行うことを特徴とする前記(1)に記載の放射線画像変換パネルの製造方法。
(3)支持体上に、膜厚50μm以上の蛍光体層を気相堆積法により形成し、形成した蛍光体を加熱処理する放射線画像変換パネルの製造方法において、沸点が50℃以上、100℃以下であるフッ素含有有機化合物の存在下で前記加熱処理を行うことを特徴とする放射線画像変換パネルの製造方法。
(4)フッ素含有有機化合物が、水素原子及びフッ素原子を含むエーテル化合物であることを特徴とする前記(3)に記載の放射線画像変換パネルの製造方法。
(5)支持体上に形成される蛍光体層が下記一般式(1)で表される蛍光体を含有し、かつ、前記(1)〜(4)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネルの製造方法によって製造されることを特徴とする放射線画像変換パネル。
一般式(1)
M1X・aM2X′2・bM3X″3:eA
(式中、M1はLi、Na、K、Rb及びCsからなる群から選ばれる少なくとも1種のアルカリ金属であり、M2はBe、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、Cd、Cu及びNiからなる群から選ばれる少なくとも1種の2価金属であり、M3はSc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Al、Ga及びInからなる群から選ばれる少なくとも1種の3価金属であり、X、X′及びX″はF、Cl、Br及びIからなる群から選ばれる少なくとも1種のハロゲンであり、Aは、Eu、Tb、In、Ga、Cs、Ce、Tm、Dy、Pr、Ho、Nd、Yb、ErGd、Lu、Sm、Y、Tl、Na、Ag、Cu及びMgからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属であり、また、a、b、eはそれぞれ0≦a<0.5、0≦b<0.5、0<e≦0.2の範囲の数値を表す。)
(6)一般式(1)におけるM1がK、Rb及びCsからなる群から選ばれる少なくとも1種のアルカリ金属であることを特徴とする前記(5)に記載の放射線画像変換パネル。
(7)一般式(1)におけるXがBr及びIからなる群から選ばれる少なくとも1種のハロゲンであることを特徴とする前記(5)または(6)に記載の放射線画像変換パネル。
(8)一般式(1)におけるM2がBe、Mg、Ca、Sr及びBaからなる群から選ばれる少なくとも1種の2価金属であることを特徴とする前記(5)〜(7)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネル。
(9)一般式(1)におけるM3がY、Ce、Sm、Eu、Al、La、Gd、Lu、Ga及びInからなる群から選ばれる少なくとも1種の3価金属であることを特徴とする前記(5)〜(8)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネル。
(10)一般式(1)におけるbが0≦b≦0.01であることを特徴とする前記(5)〜(9)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネル。
(11)一般式(1)におけるAがEu、Cs、Sm、Tl及びNaからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属であることを特徴とする前記(5)〜(10)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネル。
(12)蛍光体が柱状結晶を有することを特徴とする前記(5)〜(11)のいずれか1項に記載の放射線画像変換パネル。
(13)柱状結晶が主成分として下記一般式(2)で表される蛍光体を有することを特徴とする前記(12)に記載の放射線画像変換パネル。
一般式(2)
CsX;A
(式中、XはBrまたはIを表し、AはEu、In、GaまたはCeを表す。)
(2)エーテル結合されたセグメントがフッ素化されていないか(例えば、炭化水素基)、パーフルオロ化されているか(例えば、パーフルオロカーボンエーテル基)、または、部分フッ素化されている(例えば、フルオロカーボンまたはヒドロフルオロカーボン基)、ω−ヒドロフルオロアルキルエーテル。
式1において、xは1〜3の整数を表し、好ましくは1である。Rfは価数がxであるパーフルオロ化された直鎖、分岐または環式の炭化水素基を表し、その炭素数が6〜15であり、Rfは1個以上の鎖中に存在するヘテロ原子を含んでよい。各Rhは独立に1〜3個の炭素原子を有する直鎖、分岐のアルキル基を表し、好ましくは1または2個の炭素原子を有し、さらに好ましくはメチル基である。上記HFEのうち、Rfがヘテロ原子を含まないものが好ましい。
上記化合物中、Xはフッ素原子または水素原子であり、Rf′は1〜12個の炭素原子を有する二価のパーフルオロ化された有機基であり、Rf″は1〜6個の炭素原子を有する二価のパーフロオロ化された有機基であり、R″は1〜6個の炭素原子を有する二価の有機基で、好ましくはパーフルオロ化されており、yは0〜4の整数であり、Xがフッ素原子でかつyが0であるときには、R″は少なくとも1個のF原子を含み、ただし、フッ素化された炭素原子の総数は少なくとも6個である。
HC3F6OC3F6H
C5F11OC2F4H
C6F13OCF2H
C6F13OC2HF4
C6F11CF2OC2F4H
HCF2O(C2F4O)n(CF2O)CF2H
C3F7O{C(CF3)CF2O}pCFHCF3
C4F8OCF2C(CF3)2CF2H
HCF2CF2OCF2C(CF3)2CF2OC2F4H
C7F17OCFHCF3
C8F10OCF2O(CF2)5H
C8F10OC2F4OC2F4OCF2H
これらの化合物のうち特に有用な化合物は、Rf″′−OC2H5(Rf″′は直鎖または枝分かれの6〜15個の炭素原子を有するパーフルオロアルキル基である)であり、好ましくは、Rf″′は6〜8個の炭素原子を有する化合物である。
3−エトキシパーフルオロ(2−メチルヘキサン)(CF3CF(CF3)CF(OC2H5)C3F7)が好ましい。
xM3(PO4)2・NX2:yA
xM3(PO4)2:yA
で表される蛍光体、特開昭59−155487号に記載されている下記いずれかの一般式
nReX3・mAX′2:xEu
nReX3・mAX′2:xEu,ySm
で表される蛍光体等、また、特開昭61−228400号に記載されている一般式M(I)X:xBiで表されるビスマス賦活アルカリハライド蛍光体等が挙げられる。
M1X・aM2X′2・bM3X″3:eA
式中、M1はLi、Na、K、Rb及びCsから選ばれる少なくとも1種のアルカリ金属であり、M2はBe、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、Cd、Cu及びNiからなる群から選ばれる少なくとも1種の2価金属であり、M3はSc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Al、Ga及びInからなる群から選ばれる少なくとも1種の3価金属であり、X、X′及びX″はF、Cl、Br及びIからなる群から選ばれる少なくとも1種のハロゲンであり、AはEu、Tb、In、Ga、Cs、Ce、Tm、Dy、Pr、Ho、Nd、Yb、Er、Gd、Lu、Sm、Y、Tl、Na、Ag、Cu及びMgからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属であり、また、a、b及びcは、それぞれ0≦a<0.5、0≦b<0.5、0<e≦0.2の範囲の数値を表す。
CsX:A
式中、XはBrまたはIを表し、AはEu、In、GaまたはCeを表す。
CaF 1.23〜1.26
Na2AlF6 1.35
MgF2 1.38
SiO2 1.46
または、以下のような液体層を用いることもできる。
エチルアルコール 1.36
メチルアルコール 1.33
ジエチルアルコール 1.35
また、低屈折率層として、空気、窒素、アルゴン等の気体層や真空層等屈折率が実質的に1である層を用いると、鮮鋭性の低下を防止する効果が高く特に好ましい。低屈折率層の厚さは0.05μmから3mmまでが実用的である。
(放射線画像変換パネル1の作製)
1mm厚、面積410mm×410mmの結晶化ガラス(日本電気ガラス社製)支持体の表面に気相堆積装置を用いて輝尽性蛍光体(CsBr:Eu)を有する輝尽性蛍光体層を形成した。
放射線画像変換パネル1の作製において、3−エトキシパーフルオロ(2−メチルヘキサン)と加熱温度を表1のように変えた以外は同様にして放射線画像変換パネル2〜5を作製した。
放射線画像変換パネル1の作製において、密閉容器内を空気で置換し3−エトキシパーフルオロ(2−メチルヘキサン)を加えないで加熱温度を表1のように変えた以外は同様にして放射線画像変換パネル6、7を作製した。
管電圧80kVpのX線を放射線画像変換パネルの裏面側から照射した後、パネルをHe−Neレーザー光(633nm)で走査して励起し、蛍光体層から放射される輝尽発光を光電子増倍管(浜松ホトニクス製、光電子増倍管R1305)で受光して、電気信号に変換し、アナログ/デジタル変換して磁気テープに記録した。これをコンピュータ処理して輝尽発光強度を求め、放射線画像変換パネル1の輝度を100とする相対値で表した。
鮮鋭性については、放射線画像変換パネルに鉛製のMTFチャートを通して管電圧80kVpのX線を照射した後、放射線画像変換パネルを半導体レーザー光(690nm)で走査して励起し、蛍光体層から放射される輝尽発光を上記と同じ受光器で受光して電気信号に変換し、これをアナログ/デジタル変換してハードディスクに記録し、記録をコンピューターで分析してハードディスクに記録されているX線像の変調伝達関数(MTF)を調べた。空間周波数1サイクル/mmにおけるMTF値(%)を測定した。MTF値が高いほど良好な鮮鋭性が得られるので好ましい。また、放射線画像変換パネルとして実用するための鮮鋭性としては65%を越えることが好ましい。
(放射線画像変換パネル1の作製)
1mm厚、面積410mm×410mmの結晶化ガラス(日本電気ガラス社製)支持体の表面に気相堆積装置を用いて輝尽性蛍光体(CsBr:Eu)を有する輝尽性蛍光体層を形成した。
輝度の測定は、各放射線画像変換パネルについて、管電圧80kVpのX線を蛍光体シート支持体の裏面側から照射した後、パネルをHe−Neレーザ光(633nm)で操作して励起し、蛍光体層から放射される輝尽発光を受光器(分光感度S−5の光電子像倍管)で受光して、その強度を測定して、これを輝度と定義し、実施例1における放射線画像変換パネル1の輝度を100とした相対値で表示した。
22 被写体
23 放射線画像変換パネル
24 輝尽励起光源
25 光電変換装置
26 画像再生装置
27 画像表示装置
28 フィルタ
Claims (3)
- 支持体上に、膜厚50μm以上の蛍光体層を気相堆積法により形成し、次いで、形成した蛍光体を加熱処理する放射線画像変換パネルの製造方法において、前記加熱処理がフッ素含有有機化合物の存在下で行われ、かつ、加熱処理前後の蛍光体の発光波長における透過率T0およびTが0.80≦T/T0≦1.00であることを特徴とする放射線画像変換パネルの製造方法。
- 支持体上に、膜厚50μm以上の蛍光体層を気相堆積法により形成し、形成した蛍光体を加熱処理する放射線画像変換パネルの製造方法において、沸点が50℃以上、100℃以下であるフッ素含有有機化合物の存在下で前記加熱処理を行うことを特徴とする放射線画像変換パネルの製造方法。
- フッ素含有有機化合物が、水素原子及びフッ素原子を含むエーテル化合物であることを特徴とする請求項2に記載の放射線画像変換パネルの製造方法。
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