JP4540421B2 - Dicing method - Google Patents

Dicing method Download PDF

Info

Publication number
JP4540421B2
JP4540421B2 JP2004220437A JP2004220437A JP4540421B2 JP 4540421 B2 JP4540421 B2 JP 4540421B2 JP 2004220437 A JP2004220437 A JP 2004220437A JP 2004220437 A JP2004220437 A JP 2004220437A JP 4540421 B2 JP4540421 B2 JP 4540421B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting
cutting blade
film
workpiece
cut
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004220437A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2006041261A (en
Inventor
良子 成田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2004220437A priority Critical patent/JP4540421B2/en
Publication of JP2006041261A publication Critical patent/JP2006041261A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4540421B2 publication Critical patent/JP4540421B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Dicing (AREA)

Description

本発明は,切削装置により被加工物を切削することによって生じたバリを除去するダイシング方法に関する。
The present invention relates to a dicing method for removing burrs generated by cutting a workpiece with a cutting device.

ダイシング装置等の切削装置は,一般的に,半導体ウェハ等の被加工物を保持するチャックテーブルと,環状の切削ブレードが装着された切削ユニットとを備えている。この切削装置は,高速回転させた切削ブレードを被加工物に切り込ませながら双方を相対移動させることによって,被加工物を切削加工して複数のチップに分割することができる。例えば,被加工物が略円盤状の半導体ウェハである場合,半導体ウェハの表面に格子状に配列されたストリート(切削ライン)に沿って切削加工することにより,半導体ウェハを複数の半導体チップに分割することができる。   A cutting device such as a dicing device generally includes a chuck table that holds a workpiece such as a semiconductor wafer and a cutting unit on which an annular cutting blade is mounted. In this cutting apparatus, a workpiece can be cut and divided into a plurality of chips by moving a cutting blade rotated at a high speed while relatively cutting the cutting blade into the workpiece. For example, when the workpiece is a substantially disk-shaped semiconductor wafer, the semiconductor wafer is divided into a plurality of semiconductor chips by cutting along the streets (cutting lines) arranged in a lattice pattern on the surface of the semiconductor wafer. can do.

ところで,被加工物が,銅や金,銀等の金属箔を積層した半導体ウェハである場合,ダイシング装置によって切削すると,切削溝の両側にひげ状の複数のバリ(長さ100〜200μm程度)が発生する。このバリは,積層間およびボンディング間を短絡させたり,傷つけたりするだけでなく,脱落して隣接する回路を損傷する等の不具合発生の原因となる。なお,かかるバリは,上記銅等が軟質で粘性が強く変形し易い性質を有するために発生するものと考えられる。   By the way, when the workpiece is a semiconductor wafer in which metal foils such as copper, gold, and silver are laminated, when cut by a dicing machine, a plurality of whisker-like burrs (length of about 100 to 200 μm) are formed on both sides of the cutting groove. Will occur. This burr not only short-circuits or damages between layers and bonding, but also causes problems such as dropping and damaging adjacent circuits. Such burrs are considered to occur due to the property that the copper and the like are soft, highly viscous, and easily deformed.

かかるバリに対処するために,特許文献1には,切削ブレードと被加工物が対向する位置において切削ブレードの回転方向と順方向に被加工物を相対的に移動せしめて被加工物を切削する切削工程と,切削ブレードと被加工物が対向する位置において切削ブレードの回転方向と逆方向に被加工物を相対的に移動せしめて,上記切削工程で形成された切削溝をなぞるバリ取り工程とを行うことが記載されている。   In order to cope with such burrs, Patent Document 1 discloses that a workpiece is cut by relatively moving the workpiece in a rotation direction and a forward direction of the cutting blade at a position where the cutting blade and the workpiece are opposed to each other. A deburring step of tracing the cutting groove formed in the cutting step by moving the workpiece in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade at a position where the cutting blade and the workpiece are opposed to each other; It is described to do.

特開2001−77055号公報JP 2001-77055 A

ところで,近年,携帯電話やPDAなどの携帯端末が普及し,半導体チップの小型/薄型化が求められている。このため,半導体チップの収容率を高めるために,フィルム上に複数のベアチップがパッケージ化された基板の開発が進められており,フィルムを折り曲げて装着可能な基板なども登場している。   In recent years, portable terminals such as mobile phones and PDAs have become widespread, and there has been a demand for smaller / thinner semiconductor chips. For this reason, in order to increase the accommodation rate of semiconductor chips, development of a substrate in which a plurality of bare chips are packaged on a film is in progress, and a substrate that can be mounted by folding a film has appeared.

かかるパッケージ基板の例としては,例えば,フィルム上にベアチップや周辺回路部品を搭載して樹脂封止したSOF(System On Film)基板がある。また,フィルム裏面側にハンダボールが配設されたエリアアレイ端子構造を有するCSP(Chip Size Package)基板にも,フィルム上にベアチップを搭載するフィルムCSPと呼ばれるパッケージ基板が存在する。   An example of such a package substrate is an SOF (System On Film) substrate in which a bare chip or peripheral circuit component is mounted on a film and sealed with a resin. Further, a CSP (Chip Size Package) substrate having an area array terminal structure in which solder balls are disposed on the back side of the film also includes a package substrate called a film CSP in which a bare chip is mounted on the film.

これらのパッケージ基板のフィルム部分を上記切削ブレードで切断した場合にも,バリが発生し,このバリはチップの品質面やその後の生産工程で悪影響を及ぼす。例えば,フィルムCSPの場合には,分割したチップをコレットでピックアップする時に,チップ周辺にバリがあるため,チップがコレットに納まらず,ピックアップすることができない。   Even when the film portion of these package substrates is cut with the cutting blade, burrs are generated, and the burrs adversely affect the quality of the chip and the subsequent production process. For example, in the case of a film CSP, when a divided chip is picked up by a collet, since there is a burr around the chip, the chip does not fit in the collet and cannot be picked up.

そこで,このようなパッケージ基板のフィルム部分を切削した時に生じたバリを,上記特許文献1に記載の手法で除去しようとすると,分割されたチップのコーナー部分に生じたバリを除去できないことが判明した。これは,バリの発生元であるフィルムの材質的な特性が,上記銅,金,および銀などとは異なることが原因であると推測される。   Therefore, it was found that if the burrs generated when the film portion of the package substrate was cut by the technique described in Patent Document 1, the burrs generated at the corner portions of the divided chips could not be removed. did. This is presumed to be due to the fact that the material properties of the film, which is the source of burrs, are different from those of copper, gold, silver and the like.

ただし,すべてのコーナー部分でバリの除去ができないわけではなく,矩形状のチップの4つのコーナー部分のうち,2チャンネル切断時における切削ブレードの進行方向後方側の2つのコーナー部分に大きなバリが発生し,かかる2つのバリを好適に除去することができないことを見出した。   However, it is not impossible to remove burrs at all corners. Of the four corners of a rectangular chip, large burrs are generated at the two corners on the rear side of the cutting blade in the direction of cutting when cutting 2 channels. And it discovered that these two burrs could not be removed suitably.

そこで,本発明は,上記問題に鑑みてなされたものであり,本発明の目的とするところは,フィルム上に複数のベアチップがパッケージ化された被加工物を格子状に切削して複数のチップに分割したときに,各チップのコーナー部分に生じたバリを好適に除去することが可能な,新規かつ改良されたダイシング方法を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to cut a workpiece in which a plurality of bare chips are packaged on a film into a lattice shape to cut a plurality of chips. It is an object of the present invention to provide a new and improved dicing method capable of suitably removing a burr generated at a corner portion of each chip when divided into two.

また,上記課題を解決するために,本発明の別の観点によれば,フィルム上に複数のベアチップがパッケージ化された被加工物を,高速回転する切削ブレードによってフィルム側の面から切削加工して,複数のチップに分割するダイシング方法が提供される。このダイシング方法は,(1)切削ブレードと被加工物との対向位置で切削ブレードの回転方向と順方向に被加工物を切削ブレードに対して相対移動させて,被加工物を第1の方向に所定間隔で切断して,第1の切削溝を形成する第1の工程と;(2)切削ブレードと被加工物との対向位置で切削ブレードの回転方向と順方向に被加工物を切削ブレードに対して相対移動させて,被加工物を,第1の方向に対して直交する第2の方向に所定間隔で切断して,第2の切削溝を形成し,被加工物を複数のチップに分割する第2の工程と;(3)切削ブレードと被加工物との対向位置で切削ブレードの回転方向と逆方向に被加工物を切削ブレードに対して相対移動させて,切削ブレードによって第1の切削溝をなぞることにより,各チップの第2の工程の切削方向後方側の2つのコーナー部分に生じたバリのうちいずれか一方のバリを,第2の切削溝に逃がさないように,切削ブレードと各チップとの間に挟み込んで除去する第3の工程と;(4)切削ブレードと被加工物との対向位置で切削ブレードの回転方向と逆方向に被加工物を切削ブレードに対して相対移動させて,切削ブレードを第2の切削溝に沿って相対移動させることにより,2つのコーナー部分のうち他方に生じたバリを,第1の切削溝に逃がさないように,切削ブレードと各チップとの間に挟み込んで除去する第4の工程と;を含むことを特徴とする。   In order to solve the above problems, according to another aspect of the present invention, a workpiece in which a plurality of bare chips are packaged on a film is cut from the film side surface by a cutting blade that rotates at high speed. Thus, a dicing method for dividing into a plurality of chips is provided. In this dicing method, (1) the workpiece is moved relative to the cutting blade in the rotation direction and forward direction of the cutting blade at a position facing the cutting blade and the workpiece, and the workpiece is moved in the first direction. Cutting at a predetermined interval to form a first cutting groove; and (2) cutting the workpiece in the rotation direction and forward direction of the cutting blade at a position where the cutting blade and the workpiece are opposed to each other. The workpiece is moved relative to the blade, and the workpiece is cut at a predetermined interval in a second direction orthogonal to the first direction to form a second cutting groove. A second step of dividing into chips; (3) by moving the workpiece relative to the cutting blade in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade at a position opposite to the cutting blade and the workpiece; By tracing the first cutting groove, the second of each tip A third burr that is sandwiched between the cutting blade and each tip is removed so that one of the burrs generated at the two corners on the rear side in the cutting direction is not released into the second cutting groove. (4) The workpiece is moved relative to the cutting blade in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade at a position where the cutting blade and the workpiece are opposed to each other, and the cutting blade is moved into the second cutting groove. A fourth step of removing the burrs generated at the other of the two corner portions by being sandwiched between the cutting blade and each chip so as not to escape into the first cutting groove by being relatively moved along It is characterized by including;

かかる構成により,切削工程である第1及び第2工程で,被加工物をフルカットで切断してチップに分割した後に,バリ除去工程である第3及び第4の工程を行うことで,チップの4つのコーナーのうち,第2の工程における切削方向後方側の2つのコーナー部分に生じたバリを,直交する切削溝に逃がすことなく,1つずつ好適に除去することができる。   With this configuration, in the first and second steps that are cutting steps, the work piece is cut into full chips and divided into chips, and then the third and fourth steps that are deburring steps are performed. Of these four corners, burrs generated at two corners on the rear side in the cutting direction in the second step can be suitably removed one by one without escaping to the orthogonal cutting grooves.

なお,上記切断方法では,第4の工程での切削ブレードの移動方向は,第2の工程での切削ブレードの移動方向と同一方向であることが好ましい。これにより,第3の工程で除去できなかったバリを,第4工程において,直交する切削溝に逃がすことなく,切削ブレードとチップとの間に挟み込んで好適に除去できる。   In the cutting method, it is preferable that the moving direction of the cutting blade in the fourth step is the same as the moving direction of the cutting blade in the second step. As a result, burrs that could not be removed in the third step can be suitably removed by being sandwiched between the cutting blade and the tip in the fourth step without being released into the orthogonal cutting grooves.

以上説明したように本発明によれば,被加工物の少なくともフィルム部分を格子状に切削した各チップのコーナー部分に生じたバリを,直交する切削溝に逃げないようにして好適に除去できる。このため,チップの品質を向上できるとともに,その後のピックアップ工程を支障なく実行できるなど,チップの生産工程を好適に実行することができる。   As described above, according to the present invention, burrs generated at the corner portions of each chip obtained by cutting at least a film portion of a workpiece into a lattice shape can be suitably removed without escaping to orthogonal cutting grooves. For this reason, the quality of the chip can be improved and the subsequent pick-up process can be executed without any trouble, so that the chip production process can be suitably executed.

以下に添付図面を参照しながら,本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお,本明細書及び図面において,実質的に同一の機能構成を有する構成要素については,同一の符号を付することにより重複説明を省略する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the present specification and drawings, components having substantially the same functional configuration are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

(第1の実施の形態)
まず,図1に基づいて,本発明の第1の実施形態にかかる切削装置の一例として構成されたダイシング装置10の全体構成について説明する。なお,図1は,本実施形態にかかるダイシング装置10を示す全体斜視図である。
(First embodiment)
First, based on FIG. 1, the whole structure of the dicing apparatus 10 comprised as an example of the cutting device concerning the 1st Embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 1 is an overall perspective view showing a dicing apparatus 10 according to the present embodiment.

図1に示すように,ダイシング装置10は,例えば,被加工物を切削加工する切削ユニット20と,上記被加工物を保持するチャックテーブル30と,切削ユニット20とチャックテーブル30とを相対移動させる移動機構(図示せず。)と,を主に備える。   As shown in FIG. 1, the dicing apparatus 10 moves, for example, a cutting unit 20 that cuts a workpiece, a chuck table 30 that holds the workpiece, and the cutting unit 20 and the chuck table 30 relative to each other. A moving mechanism (not shown).

切削ユニット20は,切削ブレード,スピンドル等を備えており,切削ブレードを高速回転させながら被加工物に切り込ませることで,被加工物を切削加工する。この切削ユニット20の詳細な構成については後述する。   The cutting unit 20 includes a cutting blade, a spindle, and the like, and cuts the workpiece by cutting the workpiece into the workpiece while rotating the cutting blade at a high speed. The detailed configuration of the cutting unit 20 will be described later.

チャックテーブル30は,被加工物を保持・固定する。このチャックテーブル30は,例えば,その上面に真空チャック機構を具備しており,被加工物を真空吸着して保持することができる。   The chuck table 30 holds and fixes a workpiece. The chuck table 30 has, for example, a vacuum chuck mechanism on the upper surface thereof, and can hold the workpiece by vacuum suction.

また,移動機構は,例えば,切削ユニット移動機構とチャックテーブル移動機構とからなる(いずれも図示せず。)。このうち,切削ユニット移動機構は,切削ユニット20を切削方向(X軸方向)に対して直交する水平方向(Y軸方向;スピンドルの軸方向)に移動させ,切削ブレードの刃先を被加工物の各切削ライン(ストリート)に位置合わせすることができる。また,この切削ユニット移動機構は,切削ユニット20を垂直方向(Z軸方向)に移動させ,被加工物に対する切削ブレードの切り込み深さを調整することもできる。一方,チャックテーブル移動機構は,チャックテーブル30およびこれに保持された被加工物を切削方向(X軸方向)に移動させることができる。   Further, the moving mechanism includes, for example, a cutting unit moving mechanism and a chuck table moving mechanism (both not shown). Among them, the cutting unit moving mechanism moves the cutting unit 20 in a horizontal direction (Y-axis direction; spindle axial direction) orthogonal to the cutting direction (X-axis direction), and moves the cutting edge of the cutting blade to the workpiece. Each cutting line (street) can be aligned. The cutting unit moving mechanism can also adjust the cutting depth of the cutting blade with respect to the workpiece by moving the cutting unit 20 in the vertical direction (Z-axis direction). On the other hand, the chuck table moving mechanism can move the chuck table 30 and the workpiece held by the chuck table 30 in the cutting direction (X-axis direction).

ここで,図2に基づいて,本実施形態にかかる被加工物の一例であるフィルムCSP基板50について説明する。図2に示すように,フィルムCSP基板50は,例えば,矩形状を有するパッケージ基板である。このフィルムCSP基板50は,基材となるフィルム54と,このフィルム54上に形成されたパッケージ層55とからなる。   Here, based on FIG. 2, the film CSP board | substrate 50 which is an example of the to-be-processed object concerning this embodiment is demonstrated. As shown in FIG. 2, the film CSP substrate 50 is a package substrate having a rectangular shape, for example. The film CSP substrate 50 includes a film 54 as a base material and a package layer 55 formed on the film 54.

フィルム54は,例えばプラスチック等の合成樹脂製の基材である。パッケージ層55は,フィルム54の一面(図2では下面)上に縦横に規則的に配設された複数のベアチップ(図示せず。)を合成樹脂でパッケージ化した部分である。このベアチップは,例えば,ワイヤ,銅配線(図示せず。)などを介して,フィルム54の他面側に突設されたハンダボール端子(図示せず。)と接続されている。このようにフィルム54上に設置された複数のベアチップ全体が,合成樹脂でモールドされて,パッケージ化される。このようにパッケージ化されたフィルムCSP基板50を分割することによって,CSP(Chip Size Package)が形成される。なお,1つのCSP内に複数のベアチップを積層化したスタックドCSP(高密度パッケージ)とすることもできる。   The film 54 is a base material made of a synthetic resin such as plastic. The package layer 55 is a portion obtained by packaging a plurality of bare chips (not shown) regularly arranged vertically and horizontally on one surface of the film 54 (the lower surface in FIG. 2) with a synthetic resin. This bare chip is connected to a solder ball terminal (not shown) protruding on the other surface side of the film 54 via, for example, a wire, a copper wiring (not shown) or the like. In this way, the entire plurality of bare chips placed on the film 54 are molded with a synthetic resin and packaged. A CSP (Chip Size Package) is formed by dividing the packaged film CSP substrate 50 in this way. Note that a stacked CSP (high density package) in which a plurality of bare chips are stacked in one CSP may be used.

かかるフィルムCSP基板を分割して個々のCSPチップに分割するために,フィルムCSP基板50には,切削ラインであるストリート51が格子状に配列されている。このストリート51は,第1の方向に延びる複数の第1ストリート51aと,この第1の方向に対して垂直な第2の方向に延びる複数の第2ストリート51bとからなる。かかる格子状のストリート51によって,複数の矩形領域52が区画されており,この矩形領域52の各々に上記CSPが形成されている。また,フィルムCSP基板50の端部にはCSPが形成されていない周縁部56が存在する。   In order to divide the film CSP substrate into individual CSP chips, streets 51 serving as cutting lines are arranged in a lattice pattern on the film CSP substrate 50. The street 51 includes a plurality of first streets 51a extending in the first direction and a plurality of second streets 51b extending in a second direction perpendicular to the first direction. A plurality of rectangular areas 52 are partitioned by the lattice-shaped streets 51, and the CSP is formed in each of the rectangular areas 52. Moreover, the peripheral part 56 in which CSP is not formed exists in the edge part of the film CSP board | substrate 50. FIG.

また,このようなフィルムCSP基板50は,図2に示すような装着治具60に載置された上で,ダイシング装置10のチャックテーブル30に装着される。装着治具60は,例えば金属板からなり,フィルムCSP基板50より幾分大きい矩形状を有する。この装着治具60の上面の中央部には,切削ブレード逃げ用の溝61が格子状に配列されており,これらの溝61によって複数の矩形領域62が区画されている。矩形領域62は,フィルムCSP基板50の矩形領域52に各々対応しており,平面図における矩形領域62の寸法は,矩形領域52の寸法と略同一となっている。   Further, such a film CSP substrate 50 is mounted on the chuck table 30 of the dicing apparatus 10 after being placed on a mounting jig 60 as shown in FIG. The mounting jig 60 is made of, for example, a metal plate and has a rectangular shape that is somewhat larger than the film CSP substrate 50. At the center of the upper surface of the mounting jig 60, cutting blade escape grooves 61 are arranged in a lattice pattern, and a plurality of rectangular regions 62 are defined by these grooves 61. The rectangular area 62 corresponds to each of the rectangular areas 52 of the film CSP substrate 50, and the dimensions of the rectangular area 62 in the plan view are substantially the same as the dimensions of the rectangular area 52.

また,矩形領域62の各々には,貫通した吸引孔63が形成されており,装着治具60の裏面には全ての吸引孔63と連通している吸引溝(図示せず。)が形成されている。フィルムCSP基板50は,装着治具60に各矩形領域52,53を整合するように載置される。このとき,図2に示すように,フィルムCSP基板50は,裏面(フィルム54側の面)を上向きにして,装着治具60上に載置される。これは,フィルム54側の面には上記ハンダボール端子が突出しているため,フィルム54側の面を下向きにして装着治具60上に載置すると,平坦に載置できないとともに,フィルムCSP基板50を好適に真空吸着できないからである。   In addition, a suction hole 63 that penetrates is formed in each of the rectangular regions 62, and suction grooves (not shown) that communicate with all the suction holes 63 are formed on the back surface of the mounting jig 60. ing. The film CSP substrate 50 is placed on the mounting jig 60 so that the rectangular regions 52 and 53 are aligned. At this time, as shown in FIG. 2, the film CSP substrate 50 is placed on the mounting jig 60 with the back surface (the surface on the film 54 side) facing upward. This is because the solder ball terminal protrudes from the surface on the film 54 side, and when placed on the mounting jig 60 with the surface on the film 54 facing downward, the film CSP substrate 50 cannot be placed flat. This is because the vacuum adsorption cannot be suitably performed.

このようにしてフィルムCSP基板50が載置された装着治具60は,図1に示したチャックテーブル30上に載置される。チャックテーブル30は,装着治具60より大きな矩形の吸引盤31を有しており,吸引盤31の中央部に形成された吸引管の開口32から真空吸引して,フィルムCSP基板50が載置された装着治具60を真空吸着する。この結果,フィルムCSP基板50は,装着治具60を介して,チャックテーブル30に真空吸着して保持される。   The mounting jig 60 on which the film CSP substrate 50 is thus placed is placed on the chuck table 30 shown in FIG. The chuck table 30 has a rectangular suction disk 31 larger than the mounting jig 60, and vacuum suction is performed from an opening 32 of a suction tube formed at the center of the suction disk 31, so that the film CSP substrate 50 is placed. The attached mounting jig 60 is vacuum-sucked. As a result, the film CSP substrate 50 is held by vacuum suction on the chuck table 30 via the mounting jig 60.

このようにしてフィルムCSP基板50が真空吸着されると,フィルムCSP基板50をアライメントするため,チャックテーブル30は,X軸方向に移動し,フィルムCSP基板50を撮像手段40の下方に位置づける。この撮像手段40によってフィルムCSP基板50の表面を撮像して,撮像画像を解析することにより,フィルムCSP基板50の配置状態やストリート51の位置を確認でき,チャックテーブル30のX方向の位置や回転角度,傾斜等を位置調整する。撮像手段40の画像はモニタ42にも表示され,オペレータによって確認される。   When the film CSP substrate 50 is vacuum-sucked in this manner, the chuck table 30 moves in the X-axis direction to position the film CSP substrate 50 below the imaging means 40 in order to align the film CSP substrate 50. By imaging the surface of the film CSP substrate 50 by the imaging means 40 and analyzing the captured image, the arrangement state of the film CSP substrate 50 and the position of the street 51 can be confirmed, and the position and rotation of the chuck table 30 in the X direction. Adjust the position of angle, inclination, etc. The image of the imaging means 40 is also displayed on the monitor 42 and confirmed by the operator.

このようなアライメントの完了後,チャックテーブル30がX軸方向に移動して,フィルムCSP基板50は切削ユニット20の下方に位置づけられる。次いで,切削ユニット20の切削ブレードを高速回転させてフィルムCSP基板50に切り込ませながら,切削ユニット20とチャックテーブル30とを切削方向(X軸方向)相対移動させることにより,フィルムCSP基板50の第1チャンネル(即ち,第1の方向の全てのストリート51a)が切削加工される。この切削加工は,例えば,切削ユニット20を固定して,チャックテーブル30をX軸方向に往復動させることによって行われる。しかし,かかる例に限定されず,チャックテーブル30を固定して,切削ユニット20をX軸方向に往復動させて切削することもできる。   After completion of such alignment, the chuck table 30 moves in the X-axis direction, and the film CSP substrate 50 is positioned below the cutting unit 20. Next, the cutting unit 20 and the chuck table 30 are moved relative to each other in the cutting direction (X-axis direction) while the cutting blade of the cutting unit 20 is rotated at a high speed and cut into the film CSP substrate 50. The first channel (that is, all streets 51a in the first direction) is cut. This cutting is performed, for example, by fixing the cutting unit 20 and reciprocating the chuck table 30 in the X-axis direction. However, the present invention is not limited to this example, and the chuck table 30 can be fixed and the cutting unit 20 can be reciprocated in the X-axis direction for cutting.

第1チャンネルの切削が終わると,チャックテーブル30を90度回転させた後,上記と同様に,フィルムCSP基板50の第2チャンネル(即ち,第2の方向の全てのストリート51b)が切削加工される。これにより,フィルムCSP基板50が格子状に切削され,複数のCSPチップに分割される。   When the cutting of the first channel is finished, the chuck table 30 is rotated 90 degrees, and then the second channel of the film CSP substrate 50 (that is, all the streets 51b in the second direction) is cut as described above. The Thereby, the film CSP substrate 50 is cut into a lattice shape and divided into a plurality of CSP chips.

なお,上記のような第1及び第2チャンネルの切削加工は,フルカットであっても,ハーフカットであってもよい。フルカットは,切削ブレードの切り込み深さを被加工物の厚さ以上に設定して,被加工物を1度の切削で完全に切断してしまう切削方式である。一方,ハーフカットは,切削ブレードの切り込み深さを被加工物の厚さ未満に設定して,被加工物の同一箇所を複数回(例えば2回)の切削で段階的に切断する切削方式である。   The first and second channel cutting processes as described above may be full cut or half cut. Full cutting is a cutting method in which the cutting depth of the cutting blade is set to be equal to or greater than the thickness of the workpiece, and the workpiece is completely cut in one cut. On the other hand, half cut is a cutting method in which the cutting depth of the cutting blade is set to be less than the thickness of the workpiece, and the same portion of the workpiece is cut stepwise by multiple times (for example, twice). is there.

次に,図3に基づいて,本実施形態にかかる切削ユニット20の構成について説明する。なお,図3は,本実施形態にかかる切削ユニット20を示す斜視図である。   Next, based on FIG. 3, the structure of the cutting unit 20 concerning this embodiment is demonstrated. FIG. 3 is a perspective view showing the cutting unit 20 according to the present embodiment.

図3に示すように,切削ユニット20は,例えば,フランジ21と,切削ブレード22と,スピンドル24と,スピンドルハウジング26と,切削水供給ノズル28と,ホイルカバー29と,を主に備える。   As shown in FIG. 3, the cutting unit 20 mainly includes, for example, a flange 21, a cutting blade 22, a spindle 24, a spindle housing 26, a cutting water supply nozzle 28, and a foil cover 29.

切削ブレード22は,例えば,リング形状を有する極薄の切削砥石(所謂,ワッシャーブレード)であり,ダイヤモンド砥粒等を電鋳して形成される。かかる切削ブレード22は,例えば,フランジ21により両側より挟持された状態で,スピンドル24に軸着される。また,スピンドル24は,例えば,電動モータ(図示せず。)などの回転駆動力を切削ブレード22に伝達するための回転軸であり,装着された切削ブレード22を例えば30,000rpmで高速回転させる。また,スピンドルハウジング26は,このスピンドル24を覆うようにして設けられ,内部に備えたエアベアリング機構などにより,当該スピンドル24を高速回転可能に支持する。また,切削水供給ノズル28は,加工点付近に切削水を供給する切削水供給手段として構成されている。この切削水供給ノズル28は,例えば,切削ブレード22の下部側の両側に着脱可能に設けられ,切削ブレード22および加工点に向けて切削水を噴射して冷却する。また,ホイルカバー29は,切削ブレード22の外周を覆うにして設けられ,切削水や切り屑などの飛散を防止する。   The cutting blade 22 is, for example, a very thin cutting grindstone (so-called washer blade) having a ring shape, and is formed by electroforming diamond abrasive grains. The cutting blade 22 is pivotally attached to the spindle 24 while being sandwiched from both sides by the flange 21, for example. The spindle 24 is a rotating shaft for transmitting a rotational driving force such as an electric motor (not shown) to the cutting blade 22 and rotates the mounted cutting blade 22 at a high speed of, for example, 30,000 rpm. . The spindle housing 26 is provided so as to cover the spindle 24, and supports the spindle 24 so as to be rotatable at high speed by an air bearing mechanism provided therein. Further, the cutting water supply nozzle 28 is configured as cutting water supply means for supplying cutting water near the processing point. The cutting water supply nozzle 28 is detachably provided on both sides of the lower side of the cutting blade 22, for example, and cools by cutting the cutting water toward the cutting blade 22 and the processing point. Further, the foil cover 29 is provided so as to cover the outer periphery of the cutting blade 22, and prevents scattering of cutting water, chips, and the like.

かかる構成の切削ユニット20は,スピンドル24の回転駆動力により切削ブレード22を高速回転させ,かかる切削ブレード22をフィルムCSP基板50のフィルム54側の面に切り込ませて切削できる。これにより,フィルムCSP基板50の切削ライン(ストリート51)に沿って極薄の切削溝(カーフ)を形成することができる。   The cutting unit 20 having such a configuration can perform cutting by rotating the cutting blade 22 at a high speed by the rotational driving force of the spindle 24 and cutting the cutting blade 22 into the film 54 side surface of the film CSP substrate 50. Thereby, an extremely thin cutting groove (kerf) can be formed along the cutting line (street 51) of the film CSP substrate 50.

次に,図4および図5A〜Dに基づいて,上記構成のダイシング装置10を用いた本実施形態にかかるダイシング方法について説明する。なお,図4は,本実施形態にかかるダイシング方法を示すフローチャートである。図5A〜Dは,本実施形態にかかるダイシング方法の各工程におけるフィルムCSP基板50の切削状態を示す平面図である。なお,図5A〜D中の矢印は,フィルムCSP基板50に対する切削ブレード22の進行方向を示す。   Next, a dicing method according to the present embodiment using the dicing apparatus 10 having the above configuration will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a flowchart showing the dicing method according to the present embodiment. 5A to 5D are plan views showing cutting states of the film CSP substrate 50 in each step of the dicing method according to the present embodiment. 5A to 5D indicate the traveling direction of the cutting blade 22 relative to the film CSP substrate 50.

上述したように,フィルムCSP基板50は,フィルム54側の面(裏面)にハンダボールが突設されているため,フィルム54側の面を上向きにしてチャックテーブル30に載置され,パッケージ層55側の面(表面)を吸着保持される。このため,切削加工時には,切削ブレード22を上方から当該フィルム54側の面に切り込ませて切削を行うことになる。   As described above, the film CSP substrate 50 is placed on the chuck table 30 with the surface on the film 54 side facing upward, since the solder balls protrude from the surface (back surface) on the film 54 side, and the package layer 55 The side surface (surface) is adsorbed and held. For this reason, at the time of cutting, cutting is performed by cutting the cutting blade 22 from above into the surface on the film 54 side.

図4に示すように,本実施形態にかかるダイシング方法は,第1〜第4の工程からなる。このダイシング方法は,ハーフカット方式を採用しており,例えば2段階の切削加工によってフィルムCSP基板50を段階的に切削して,チップ状に分割する。   As shown in FIG. 4, the dicing method according to this embodiment includes first to fourth steps. This dicing method employs a half-cut method. For example, the film CSP substrate 50 is cut stepwise by two steps of cutting and divided into chips.

第1および第2の工程は,ハーフカットの1段階目の切削工程である。この第1および第2の工程では,フィルムCSP基板50を,フィルム54側の面から所定の切り込み深さで第1および第2の方向に格子状に切削し,少なくともフィルム54部分を賽の目状にダイシングする。かかる第1および第2の工程は,ダウンカットで行われる。   The first and second processes are the first cutting process of the half cut. In the first and second steps, the film CSP substrate 50 is cut into a lattice shape in the first and second directions from the surface on the film 54 side at a predetermined depth of cut, and at least the film 54 portion is formed in a grid shape. Dicing. The first and second steps are performed by down-cutting.

このダウンカットは,図6(a)に示すように,切削ブレード22とフィルムCSP基板50とが対向する位置で,切削ブレード22の回転方向と順方向にフィルムCSP基板50を移動させて,フィルムCSP基板50を切削する方式である。第1および第2の工程で,このダウンカットを採用するのは,次のような理由による。つまり,この第1および第2の工程で,切削ブレード22を逆方向に回転させるアップカットにすると,バリがフィルム54の上面に向かって発生するため,バリが大きくなってしまう傾向があり,さらに,フィルム54とベアチップとを剥離するような方向に力が働いてしまう。このため,ハーフカットの1段階目の切削工程である第1および第2の工程では,アップカットは適当でなく,ダウンカットが好適である。   As shown in FIG. 6A, the downcut is performed by moving the film CSP substrate 50 in the rotational direction and the forward direction of the cutting blade 22 at a position where the cutting blade 22 and the film CSP substrate 50 face each other. In this method, the CSP substrate 50 is cut. The reason why this down cut is adopted in the first and second steps is as follows. In other words, in the first and second steps, if the cutting blade 22 is turned up in the reverse direction, burrs are generated toward the upper surface of the film 54, so that the burrs tend to increase. , Force acts in such a direction as to peel off the film 54 and the bare chip. For this reason, in the 1st and 2nd process which is the cutting process of the 1st step of a half cut, an up cut is not suitable and a down cut is suitable.

一方,第3および第4の工程は,上記第1および第2の工程によるフィルムCSP基板50の切り残し部分を切断するハーフカットの2段階目の切削工程と,上記第1および第2の工程で生じたバリを除去するバリ取り工程と,を兼ねた工程である。この第3および第4の工程は,アップカットで行われる。   On the other hand, the third and fourth steps include a half-cut second cutting step of cutting the uncut portion of the film CSP substrate 50 in the first and second steps, and the first and second steps. This process also serves as a deburring process for removing the burrs generated in step 1. The third and fourth steps are performed by up-cutting.

このアップカットは,図6(b)に示すように,切削ブレード22とフィルムCSP基板50とが対向する位置で,切削ブレード22の回転方向と逆方向にフィルムCSP基板50を移動させて,フィルムCSP基板50を切削する方式である。第3および第4の工程で,このアップカットを採用する理由は,上記ダウンカットによる第1および第2の工程で生じたバリに対して,上記とは反対方向に回転する切削ブレード22によって反対側から大きな力を与えることで,当該バリを好適に除去できるからである。このアップカットによるバリ除去性能が高いことは,過去の実験データによっても裏付けられている。   As shown in FIG. 6B, the upcut is performed by moving the film CSP substrate 50 in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade 22 at a position where the cutting blade 22 and the film CSP substrate 50 face each other. In this method, the CSP substrate 50 is cut. The reason why this upcut is adopted in the third and fourth steps is that the cutting blade 22 rotating in the opposite direction to the burr generated in the first and second steps due to the downcut is opposite. This is because the burr can be suitably removed by applying a large force from the side. This high burr removal performance is supported by past experimental data.

以下に,このような第1〜第4工程について個々に詳細に説明する。   Hereinafter, each of the first to fourth steps will be described in detail.

まず,第1の工程であるステップS11では,図5Aに示すように,上記ダウンカットにより,フィルムCSP基板50が第1の方向に所定間隔で平行にハーフカットされ,複数の第1の切削溝71が形成される(ステップS11:第1の工程)。   First, in step S11, which is the first step, as shown in FIG. 5A, the film CSP substrate 50 is half-cut parallel to the first direction at a predetermined interval by the down-cut, and a plurality of first cutting grooves are formed. 71 is formed (step S11: first step).

具体的には,本ステップS11では,ダウンカット回転する切削ブレード22によって,フィルムCSP基板50の第1の方向に延びる複数の第1ストリート51a(第1チャンネル)が,一方向(図5Aでは左から右方向)に切削される。なお,第1の工程での切削方向は,必ずしも一方向でなくてもよく,ストリート51aごとに任意の方向であってよい。また,切削ブレード22の切り込み深さは,図6(a)に示したように,フィルムCSP基板50の少なくともフィルム54部分を切断し,フィルムCSP基板50全体を切断しないような所定の深さである。このような切削加工により,フィルムCSP基板50のフィルム54側の面には,第1の方向に平行な複数の第1の切削溝71が形成される。   Specifically, in this step S11, the plurality of first streets 51a (first channels) extending in the first direction of the film CSP substrate 50 are moved in one direction (left in FIG. 5A) by the cutting blade 22 that rotates down-cut. To the right). Note that the cutting direction in the first step is not necessarily one direction, and may be an arbitrary direction for each street 51a. Further, as shown in FIG. 6A, the cutting depth of the cutting blade 22 is a predetermined depth that cuts at least the film 54 portion of the film CSP substrate 50 and does not cut the entire film CSP substrate 50. is there. By such cutting, a plurality of first cutting grooves 71 parallel to the first direction are formed on the surface of the film CSP substrate 50 on the film 54 side.

次いで,第2の工程であるステップS12では,図5Bに示すように,上記ダウンカットにより,フィルムCSP基板50が,上記第1の方向に対して垂直な第2の方向に,所定間隔で平行にハーフカットされ,複数の第2の切削溝72が形成される(ステップS12:第2の工程)。   Next, in step S12, which is the second step, as shown in FIG. 5B, the film CSP substrate 50 is parallel to the second direction perpendicular to the first direction at a predetermined interval by the downcut. And a plurality of second cutting grooves 72 are formed (step S12: second step).

具体的には,本ステップS12では,まず,チャックテーブル30を90度回転させて,フィルムCSP基板50の第1ストリート51bの延長方向(第2の方向)を,切削方向(X軸方向)に位置合わせする。次いで,ダウンカット回転する切削ブレード22によって,この第2の方向に延びる複数の第2ストリート51b(第2チャンネル)が,一方向(図5Bでは下から上方向)に切削される。なお,各第2ストリート51bの切削方向は,同一方向であれば,逆方向(図5Bの上から下方向)であってもよい。また,切削ブレード22の切り込み深さは,図6(a)に示したように,フィルムCSP基板50の少なくともフィルム54部分を切断し,フィルムCSP基板50全体を切断しないような所定の深さであり,上記第1工程と略同一の深さである。このような切削加工により,フィルムCSP基板50のフィルム54側の面には,平行な複数の第2の切削溝72が形成される。   Specifically, in step S12, first, the chuck table 30 is rotated by 90 degrees, and the extending direction (second direction) of the first street 51b of the film CSP substrate 50 is changed to the cutting direction (X-axis direction). Align. Next, the plurality of second streets 51b (second channel) extending in the second direction are cut in one direction (from bottom to top in FIG. 5B) by the cutting blade 22 that rotates down-cut. The cutting direction of each second street 51b may be the reverse direction (from the top to the bottom in FIG. 5B) as long as it is the same direction. Further, as shown in FIG. 6A, the cutting depth of the cutting blade 22 is a predetermined depth that cuts at least the film 54 portion of the film CSP substrate 50 and does not cut the entire film CSP substrate 50. Yes, substantially the same depth as the first step. By such a cutting process, a plurality of parallel second cutting grooves 72 are formed on the surface of the film CSP substrate 50 on the film 54 side.

以上のような第1および第2工程によって,フィルムCSP基板50の第1チャンネル及び第2チャンネルが切削される。これにより,少なくともフィルム54部分が格子状にダイシングされて,複数のチップ53に分割されるが,双方の切削溝71,72に沿って切り残し部分があるため,フィルムCSP基板50全体が複数のチップに分割されるわけではない。   Through the first and second steps as described above, the first channel and the second channel of the film CSP substrate 50 are cut. As a result, at least the film 54 is diced into a lattice shape and divided into a plurality of chips 53. However, since there are uncut portions along both the cutting grooves 71 and 72, the entire film CSP substrate 50 has a plurality of pieces. It is not divided into chips.

このような第1および第2工程での切削加工が終了すると,図5Bに示すように,フィルム部分54が分割された略矩形状の各チップ53の4辺のうち,第2の工程における切削方向後方側に位置する一辺(図5Bでは下辺53a)の両端のコーナーに,特に大きなバリ81,82が発生してしまう。このコーナー部分のバリ81,82は,図7(a)に示すように,フィルム54の切断部分が複数の糸状となって相互に絡まり合ったものであり,チップ53の各辺に発生したバリと比べて非常に長くて太い。このバリ81,82は,第2の工程の終了後には,ダウンカットによる切削ブレード22の回転方向に従い,第2の工程での切削方向と反対方向(図7(a)では下向き)に延びている。   When the cutting process in the first and second steps is completed, as shown in FIG. 5B, among the four sides of each of the substantially rectangular chips 53 into which the film portion 54 is divided, the cutting in the second step is performed. Particularly large burrs 81 and 82 are generated at the corners at both ends of one side (the lower side 53a in FIG. 5B) located on the rear side in the direction. As shown in FIG. 7A, the burrs 81 and 82 at the corner portions are formed by tangling the cut portions of the film 54 into a plurality of threads, and are generated on each side of the chip 53. Very long and thick compared to. The burrs 81 and 82 extend in the direction opposite to the cutting direction in the second step (downward in FIG. 7A) according to the rotation direction of the cutting blade 22 by the down cut after the second step. Yes.

このような,各チップ53の下辺53aのコーナー部分に生じた大きなバリ81,82は,後工程であるピックアップ工程において,チップ53を好適にピックアップできない原因となるので,除去することが求められる。なお,本願発明者による実験結果によれば,図7(a)に示すように,各チップ53の第2の工程における切削方向前方に位置する一辺(上辺)のコーナーには,大きなバリが発生しないことがわかっている。従って,各チップ53のコーナー部分のバリの除去に関しては,上述した下辺53aの両コーナーに発生したバリ81,82のみについて考えれば良い。   Such large burrs 81 and 82 generated at the corner portion of the lower side 53a of each chip 53 cause the chip 53 to not be properly picked up in a pickup process, which is a subsequent process, and thus are required to be removed. According to the experiment result by the inventor of the present application, as shown in FIG. 7A, a large burr is generated at the corner of one side (upper side) located in front of the cutting direction in the second step of each chip 53. I know I won't. Therefore, regarding the removal of burrs at the corners of each chip 53, only the burrs 81 and 82 generated at both corners of the lower side 53a described above may be considered.

ところで,このように各チップ53のコーナーに発生したバリ81,82の除去は困難である。この原因は,切削溝71または72を切削ブレード22でなぞってバリ81,82を除去しようとしても,バリ81,82が,直交する方向の切削溝72または71に,逃げてしまうことにある。例えば,第1の切削溝71を切削ブレード22によってなぞってバリ81,82を除去しようとすると,第1の切削溝71と直交する第2の切削溝72に,バリ81,82のいずれか一方が逃げてしまう。従って,コーナーのバリ81,82を確実に除去するためには,バリ81,82が直交する方向の切削溝71または72に逃げないようにしなければならない。そこで,以下に示す第3および第4の工程では,上記各チップ53の下辺53aの両コーナーに生じたバリ81,82を,直交する切削溝に逃げないように1つずつ追い込んで,確実に除去する手法を採用している。   By the way, it is difficult to remove the burrs 81 and 82 generated at the corners of the chips 53 as described above. This is because, even if the burrs 81 and 82 are removed by tracing the cutting groove 71 or 72 with the cutting blade 22, the burrs 81 and 82 escape to the cutting grooves 72 or 71 in the orthogonal direction. For example, when the first cutting groove 71 is traced by the cutting blade 22 to remove the burrs 81 and 82, either one of the burrs 81 and 82 is formed in the second cutting groove 72 orthogonal to the first cutting groove 71. Will run away. Therefore, in order to reliably remove the corner burrs 81 and 82, it is necessary to prevent the burrs 81 and 82 from escaping into the cutting grooves 71 or 72 in the direction orthogonal to each other. Therefore, in the following third and fourth steps, the burrs 81 and 82 generated at both corners of the lower side 53a of each chip 53 are driven one by one so as not to escape into the orthogonal cutting grooves, and surely. The removal method is adopted.

次いで,第3の工程であるステップS13では,図5Cに示すように,上記第1の工程で生じた第1の切削溝71に沿って,切削ブレード22によってアップカットすることにより,フィルムCSP基板50を第1の方向に切断するとともに,上記各チップ53のコーナーに生じたバリ81,82のいずれか一方を除去する(ステップS13:第3の工程)。   Next, in step S13, which is the third step, as shown in FIG. 5C, the film CSP substrate is cut up by the cutting blade 22 along the first cutting groove 71 generated in the first step. 50 is cut in the first direction, and one of the burrs 81 and 82 generated at the corner of each chip 53 is removed (step S13: third step).

具体的には,図6(b)に示すようにアップカット回転させた切削ブレード22によって,フィルムCSP基板50を貫通するような切り込み深さで,図5Cに示すように各第1の切削溝71を一方向(図5Cでは右から左方向)になぞる。これにより,第1の工程でハーフカットしたフィルム54部分以外の切り残し部分(第1の切削溝71の下側部分)を完全に切断すると同時に,チップ53の下辺53aの両コーナーのバリ81,82のうち,切削ブレード22の移動方向後方に位置する一方のバリ(図5Cでは右端コーナーのバリ81)が除去される。   Specifically, each cutting groove 22 as shown in FIG. 5C has a cutting depth that penetrates the film CSP substrate 50 by the cutting blade 22 rotated up-cut as shown in FIG. 6B. 71 is traced in one direction (from right to left in FIG. 5C). This completely cuts the uncut portion (the lower portion of the first cutting groove 71) other than the film 54 half-cut in the first step, and at the same time, burrs 81 at both corners of the lower side 53 a of the chip 53, One burr 82 located on the rear side in the moving direction of the cutting blade 22 (the burr 81 at the right end corner in FIG. 5C) is removed.

この一方のコーナーのバリ81の除去について詳細に説明する。図7(b)に示すように,切削ブレード22によって第1の切削溝71を右から左方向になぞることによって,チップ53の下辺53aの右端コーナーにある大きなバリ81は,第1の切削溝71と直交する第2の切削溝72に逃げることができず,切削ブレード22の側面22aと,チップ53の下辺53aとの間に挟み込まれて除去される。また,これと同時に,第1の切削溝71の両側(チップ53の下辺53aおよび上辺53b)のコーナー以外の箇所に生じている小さなバリも,切削ブレード22と接触して除去される。一方,チップ53の下辺53aの左端コーナーにある大きなバリ82は,切削ブレード22が作用しても,第2の切削溝72に逃げることができるので,除去されずに残存してしまう。しかし,このバリ82は,第3の工程で切削ブレード22と接触して,第1の切削溝71内から第2の切削溝72内に押し出されるので,次の第4の工程で除去可能となる。   The removal of the burr 81 at one corner will be described in detail. As shown in FIG. 7 (b), by tracing the first cutting groove 71 from the right to the left with the cutting blade 22, the large burr 81 at the right end corner of the lower side 53a of the chip 53 becomes the first cutting groove. The second cutting groove 72 perpendicular to 71 cannot escape and is sandwiched between the side surface 22 a of the cutting blade 22 and the lower side 53 a of the chip 53 and removed. At the same time, small burrs generated at locations other than the corners on both sides of the first cutting groove 71 (the lower side 53a and the upper side 53b of the chip 53) are also removed in contact with the cutting blade 22. On the other hand, the large burr 82 at the left end corner of the lower side 53a of the chip 53 can escape to the second cutting groove 72 even if the cutting blade 22 acts, and remains without being removed. However, since this burr 82 comes into contact with the cutting blade 22 in the third step and is pushed out from the first cutting groove 71 into the second cutting groove 72, it can be removed in the next fourth step. Become.

なお,この第3の工程での切削ブレード22の移動方向は,上記のような全ての第1の切削溝71について右から左へ一方向でなくてもよく,例えば,全ての第1の切削溝71について左から右に一方向に移動させてもよい。この場合には,チップ53の下辺53aの左端コーナーに生じたバリ82を除去できるが,右端コーナーに生じたバリ81が残存することになる。また,第3の工程での切削ブレード22の移動方向は,必ずしも全ての第1の切削溝71について一方向でなくてもよく,第1の切削溝71ごとに任意の方向(右から左,若しくは左から右)であってもよい。この場合には,第1の切削溝71ごとに切削ブレード22の移動方向の後方に位置するいずれかのバリ81または82が残存することになる。   Note that the moving direction of the cutting blade 22 in this third step does not have to be one direction from right to left for all the first cutting grooves 71 as described above. For example, all the first cutting grooves 71 The groove 71 may be moved in one direction from left to right. In this case, the burr 82 generated at the left end corner of the lower side 53a of the chip 53 can be removed, but the burr 81 generated at the right end corner remains. Further, the moving direction of the cutting blade 22 in the third step does not necessarily have to be one direction for all the first cutting grooves 71, and any direction (right to left, Or from left to right). In this case, any burr 81 or 82 located behind the cutting blade 22 in the moving direction remains for each first cutting groove 71.

その後,第4の工程であるステップS14では,図5Dに示すように,上記第2の工程で生じた第2の切削溝72に沿って,第2の工程の切削方向と同一方向に,切削ブレード22によってアップカットする。これにより,フィルムCSP基板50を第2の方向に切断して,フィルムCSP基板50全体を矩形状のチップ53に完全に分割するとともに,上記各チップ53のコーナーに生じたバリ81,82のうち,第3の工程で除去されなかった方のバリを除去する(ステップS14:第4の工程)。   Thereafter, in step S14 as the fourth step, as shown in FIG. 5D, the cutting is performed along the second cutting groove 72 generated in the second step in the same direction as the cutting direction in the second step. Upcut by the blade 22. As a result, the film CSP substrate 50 is cut in the second direction to completely divide the entire film CSP substrate 50 into rectangular chips 53, and among the burrs 81 and 82 generated at the corners of the chips 53. The burrs that have not been removed in the third step are removed (step S14: fourth step).

具体的には,図6(b)に示すようにアップカット回転させた切削ブレード22によって,フィルムCSP基板50を貫通するような切り込み深さで,図5Dに示すように各第2の切削溝72を一方向(図5Dでは下から上方向)になぞる。これにより,第2の工程でハーフカットしたフィルム54部分以外の切り残し部分(第2の切削溝72の下側部分)を完全に切断すると同時に,チップ53の下辺53aの両コーナー部分のバリ81,82のうち,上記第3の工程で除去されなかった他方のバリ(図5Dでは左端コーナーのバリ82)が除去される。   Specifically, each cutting groove 22 has a cutting depth that penetrates the film CSP substrate 50 by the cutting blade 22 rotated up-cut as shown in FIG. 6B, as shown in FIG. 5D. 72 is traced in one direction (from bottom to top in FIG. 5D). This completely cuts the uncut portion (lower portion of the second cutting groove 72) other than the film 54 half-cut in the second step, and at the same time, burrs 81 at both corner portions of the lower side 53a of the chip 53. , 82, the other burr that was not removed in the third step (the burr 82 at the left end corner in FIG. 5D) is removed.

この他方のコーナーのバリ82の除去について詳細に説明する。図7(c)に示すように,切削ブレード22によって第2の切削溝72を下から上方向になぞることによって,チップ53の下辺53aの左端コーナーにある大きなバリ82は,第2の切削溝72と直交する第1の切削溝71に逃げることができず,切削ブレード22の側面22aと,チップ53の左辺53cとの間に挟み込まれて除去される。また,これと同時に,第2の切削溝72の両側(チップ53の左辺53cおよび右片53d)のコーナー以外の箇所に生じている小さなバリも,切削ブレード22と接触して除去される。   The removal of the burr 82 at the other corner will be described in detail. As shown in FIG. 7 (c), by tracing the second cutting groove 72 from below with the cutting blade 22, the large burr 82 at the left end corner of the lower side 53a of the chip 53 becomes the second cutting groove. The first cutting groove 71 orthogonal to 72 cannot escape and is sandwiched and removed between the side surface 22 a of the cutting blade 22 and the left side 53 c of the tip 53. At the same time, small burrs generated at locations other than the corners on both sides of the second cutting groove 72 (the left side 53c and the right piece 53d of the chip 53) are also removed in contact with the cutting blade 22.

このように,第4の工程では,第3の工程で第2の切削溝72に逃げて残存しているバリ82が,切削ブレード22の移動方向と直交する第1の切削溝71に再び逃げないように,バリ82が残存しているコーナーが切削ブレード22の進行方向後方に位置するように,切削ブレード22の進行方向が設定される。このように設定される切削ブレード22の進行方向は,第2の工程における切削方向と同一の方向であり,図5の例では下から上に向かう方向である。   As described above, in the fourth step, the burr 82 that has escaped and remained in the second cutting groove 72 in the third step escapes again to the first cutting groove 71 perpendicular to the moving direction of the cutting blade 22. The traveling direction of the cutting blade 22 is set so that the corner where the burr 82 remains is positioned behind the traveling direction of the cutting blade 22. The traveling direction of the cutting blade 22 set in this way is the same direction as the cutting direction in the second step, and is the direction from the bottom to the top in the example of FIG.

つまり,残存しているコーナーのバリ82を第1の切削溝71に逃がさないようにして挟み込んで除去するためには,切削ブレード22の進行方向の手前側に,各チップ53の除去すべきバリ82が存在するコーナーが位置するようにフィルムCSP基板50を配置して,アップカットすれば良いことになる。   That is, in order to sandwich and remove the remaining corner burr 82 in the first cutting groove 71 so as not to escape, the burr to be removed of each chip 53 on the front side in the traveling direction of the cutting blade 22 is removed. The film CSP substrate 50 may be arranged so that the corner where the 82 exists is positioned, and up-cut.

上記のように,第3の工程では,切削ブレード22の進行方向は右から左,或いは左から右のいずれの方向であってもよいが,いずれの場合であっても,除去されずに残存したバリ81または82は第2の切削溝72内に押し出されている。このため,第4の工程において,切削ブレード22が第2の工程と同一方向で第2の切削溝72をなぞることによって,残存したバリ81または82を挟み込んで除去することができる。   As described above, in the third step, the traveling direction of the cutting blade 22 may be any direction from right to left or from left to right, but in any case, it remains without being removed. The burr 81 or 82 is pushed into the second cutting groove 72. Therefore, in the fourth step, the remaining burrs 81 or 82 can be sandwiched and removed by the cutting blade 22 tracing the second cutting groove 72 in the same direction as the second step.

以上のように,第1の実施形態にかかるダイシング方法では,フィルムCSP基板50をハーフカット(1段階目)することによって,チップ53の2つのコーナー部分に生じたバリ81,82を,ハーフカットの2段階目の切削加工を兼ねたアップカットにより,確実に除去することができる。   As described above, in the dicing method according to the first embodiment, the burrs 81 and 82 generated in the two corner portions of the chip 53 are half-cut by half-cutting the film CSP substrate 50 (first stage). It can be removed reliably by up-cutting that also serves as the second stage of cutting.

(第2の実施形態)
次に,本発明の第2の実施形態にかかるダイシング方法について説明する。第2の実施形態にかかるダイシング方法は,上記第1の実施形態にかかるダイシング方法と比べて,(1)ハーフカットではなくフルカットによってフィルムCSP基板50をダイシングする点と,(2)第3および第4の工程がバリ除去専用の工程である点で,相違するのみであり,その他の機能構成は,上記第1の実施形態にかかるダイシング方法と略同一であるので,それらの詳細説明は省略する。
(Second Embodiment)
Next, a dicing method according to the second embodiment of the present invention will be described. Compared with the dicing method according to the first embodiment, the dicing method according to the second embodiment is (1) the point that the film CSP substrate 50 is diced by full cut instead of half cut, and (2) third. And the fourth step is only a deburring process, and the other functional configuration is substantially the same as the dicing method according to the first embodiment. Omitted.

ここで,図8に基づいて,上記構成のダイシング装置10を用いた第2の実施形態にかかるダイシング方法について説明する。なお,図8は,第2の実施形態にかかるダイシング方法を示すフローチャートである。   Here, a dicing method according to the second embodiment using the dicing apparatus 10 having the above-described configuration will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a flowchart showing the dicing method according to the second embodiment.

図8に示すように,まず,第1の切削工程であるステップS21では,上記ダウンカットにより,フィルムCSP基板50が第1の方向に所定間隔で平行にフルカットされ,複数の第1の切削溝71が形成される(ステップS21:第1の工程)。   As shown in FIG. 8, first, in step S21 as the first cutting process, the film CSP substrate 50 is fully cut in parallel in the first direction at a predetermined interval by the above-described downcut, and a plurality of first cuts are performed. A groove 71 is formed (step S21: first step).

次いで,第2の切削工程であるステップS22では,上記ダウンカットにより,フィルムCSP基板50が第2の方向に所定間隔で平行にフルカットされ,複数の第2の切削溝72が形成される(ステップS22:第2の工程)。   Next, in step S22, which is the second cutting process, the film CSP substrate 50 is fully cut in parallel in the second direction at a predetermined interval by the downcut, and a plurality of second cutting grooves 72 are formed ( Step S22: Second step).

このような第1及び第2の工程では,切削ブレード22の切り込み深さが,フィルムCSP基板50を1回の切削加工で完全に切断できる深さである。このため,第1の切削溝71および第2の切削溝72は,フィルムCSP基板50を貫通するよう形成される。従って,かかる第1及び第2の工程によって,フィルムCSP基板50全体が,複数のチップ53に完全に分割される。この場合であっても,フィルムCSP基板50のフィルム54部分をダウンカットすることによって,各チップ53の第2の工程の切削方向後方側の2つのコーナーに上記のような大きなバリ81,82がそれぞれ発生する。   In such first and second processes, the cutting depth of the cutting blade 22 is a depth at which the film CSP substrate 50 can be completely cut by one cutting process. Therefore, the first cutting groove 71 and the second cutting groove 72 are formed so as to penetrate the film CSP substrate 50. Therefore, the entire film CSP substrate 50 is completely divided into a plurality of chips 53 by the first and second steps. Even in this case, the above-described large burrs 81 and 82 are formed at the two corners on the rear side in the cutting direction of the second step of each chip 53 by down-cutting the film 54 portion of the film CSP substrate 50. Each occurs.

さらに,第1のバリ除去工程であるステップS23では,上記第1の工程で生じた第1の切削溝71に沿って,切削ブレード22によってアップカットすることにより,上記各チップ53のコーナーに生じたバリ81,82のいずれか一方を除去する(ステップS23:第3の工程)。   Further, in step S23, which is the first deburring process, the cutting blade 22 up-cuts along the first cutting groove 71 generated in the first process, so that it is generated at the corner of each chip 53. Any one of the burrs 81 and 82 is removed (step S23: third step).

具体的には,アップカット回転させた切削ブレード22によって,各第1の切削溝71を例えば一方向になぞる。これにより,各チップ53の上記2つコーナーのバリ81,82のうち,切削ブレード22の進行方向後方側にある一方のバリが,直交する第2の切削溝72に逃げることができないため,切削ブレード22とチップ53との間に挟み込まれて除去される。一方,他方のバリは,第2の切削溝72に逃げて残存する。   Specifically, the first cutting grooves 71 are traced in one direction, for example, by the cutting blade 22 rotated up-cut. As a result, one of the burrs 81 and 82 at the two corners of each chip 53 on the rear side in the direction of travel of the cutting blade 22 cannot escape into the second cutting groove 72 orthogonal to the cutting blade. It is sandwiched between the blade 22 and the chip 53 and removed. On the other hand, the other burr escapes into the second cutting groove 72 and remains.

その後,第2のバリ除去工程であるステップS24では,上記第2の工程で生じた第2の切削溝72に沿って,第2の工程の切削方向と同一方向に,切削ブレード22によってアップカットすることにより,上記各チップ53のコーナーに生じたバリ81,82のうち,第3の工程で除去されなかった方のバリを除去する(ステップS24:第4の工程)。   Thereafter, in step S24 which is a second deburring process, the cutting blade 22 up-cuts along the second cutting groove 72 generated in the second process in the same direction as the cutting direction of the second process. As a result, the burrs that have not been removed in the third step among the burrs 81 and 82 generated at the corners of the chips 53 are removed (step S24: fourth step).

具体的には,アップカット回転させた切削ブレード22によって,各第2の切削溝72を一方向になぞる。これにより,各チップ53の上記2つコーナーのバリ81,82のうち,上記第3の工程で除去されなかった他方のバリが,直交する第1の切削溝71に逃げることができないため,切削ブレード22とチップ53との間に挟み込まれて除去される。   Specifically, each of the second cutting grooves 72 is traced in one direction by the cutting blade 22 rotated up-cut. Accordingly, the other burr that has not been removed in the third step among the burrs 81 and 82 at the two corners of each chip 53 cannot escape into the first cutting groove 71 that is orthogonal, so that cutting is performed. It is sandwiched between the blade 22 and the chip 53 and removed.

このように,第2の実施形態にかかるダイシング方法では,フィルムCSP基板50をフルカットすることによって,チップ53のコーナー部分に生じたバリ81,82を,フルカット後に,バリ取り用のアップカットを行うことで,確実に除去することができる。   As described above, in the dicing method according to the second embodiment, the film CSP substrate 50 is fully cut, so that the burrs 81 and 82 generated at the corners of the chip 53 are removed after the full cut. It is possible to remove it surely.

以上,第1および第2の実施形態にかかるダイシング方法について説明した。かかるダイシング方法によれば,第1および第2の工程で,フィルムCSP基板50のフィルム54部分を格子状にダイシングして複数のチップ53に分割したときの,当該チップ53の2つのコーナーに生じた大きなバリ81,82を,第3及び第4の工程で,切削ブレード22の進行方向と直交する切削溝71または72に逃げないよう,切削ブレード22とチップ53との間に挟むようにして,一つずつ確実に除去することができる。   The dicing method according to the first and second embodiments has been described above. According to such a dicing method, the film 54 portion of the film CSP substrate 50 is diced into a plurality of chips 53 and divided into a plurality of chips 53 in the first and second steps. The large burrs 81 and 82 are sandwiched between the cutting blade 22 and the tip 53 so as not to escape into the cutting groove 71 or 72 perpendicular to the traveling direction of the cutting blade 22 in the third and fourth steps. It can be reliably removed one by one.

このため,後続のピックアップ工程では,大きなバリの存在によって,コレットによるチップ53のピックアップが妨害されることがないので,円滑にチップ53をピックアップできる。また,バリを除去することで,チップ53の品質を向上させることもできる。   For this reason, in the subsequent pick-up process, the pick-up of the chip 53 by the collet is not hindered by the presence of a large burr, so that the chip 53 can be picked up smoothly. Further, the quality of the chip 53 can be improved by removing the burrs.

さらに,第1の実施形態では,第3及び第4の工程は,バリ除去工程のみならず,ハーフカットの2段階目の切断工程を兼ねているので,ダイシング工程を効率化することができる。   Furthermore, in the first embodiment, the third and fourth steps serve not only as a burr removal step but also as a second half cutting step, so that the dicing step can be made more efficient.

以上,添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが,本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば,特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり,それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described referring an accompanying drawing, this invention is not limited to this example. It will be obvious to those skilled in the art that various changes or modifications can be conceived within the scope of the technical idea described in the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. It is understood that it belongs.

例えば,上記実施形態では,被加工物としてフィルムCSP基板50の例を挙げて説明したが,かかる例に限定されない。被加工物は,フィルム上に複数のベアチップがパッケージ化された基板であれば,例えば,SOF(System On Film)基板,TCP(Tape Carrier Package)基板などであってもよい。   For example, in the said embodiment, although the example of the film CSP board | substrate 50 was mentioned and demonstrated as a to-be-processed object, it is not limited to this example. The workpiece may be, for example, a SOF (System On Film) substrate, a TCP (Tape Carrier Package) substrate, or the like as long as it is a substrate in which a plurality of bare chips are packaged on a film.

また,上記実施形態では,第2の工程で切削ブレード22を下から上に向けて移動させて第2の切削溝72を形成したが,本発明はかかる例に限定されない。例えば,第2の工程では,切削ブレード22を上から下に向けて移動させて第2の切削溝72を形成してもよい。この場合には,チップ53の上辺53bの両端のコーナーに大きなバリが発生することになる。このため,第3の工程での切削ブレード22の進行方向は左右どちらの方向でもよいが,第4の工程で切削ブレード22の進行方向を,第2の工程と同一の上から下方向にすることで,当該バリを除去することができる。   In the above embodiment, the cutting blade 22 is moved from the bottom to the top in the second step to form the second cutting groove 72, but the present invention is not limited to this example. For example, in the second step, the second cutting groove 72 may be formed by moving the cutting blade 22 from top to bottom. In this case, large burrs are generated at the corners at both ends of the upper side 53b of the chip 53. For this reason, the moving direction of the cutting blade 22 in the third step may be either the left or right direction, but in the fourth step, the moving direction of the cutting blade 22 is changed from the same top to the bottom as in the second step. Thus, the burr can be removed.

なお,理論的には,切削ブレード22の回転方向を変えれば,上記各工程における切削ブレード22に進行方向の組み合わせはさらに増える。例えば,バリ除去のための第3及び第4の工程を上記のようなアップカットではなく,ダウンカットにする手法が考えられる。しかし,実験結果では,ダウンカットでバリを除去しようとしても,全く効果がないというデータが得られているので,不適である。   Theoretically, if the rotation direction of the cutting blade 22 is changed, the combinations of the traveling directions of the cutting blade 22 in each of the above processes further increase. For example, a method is conceivable in which the third and fourth steps for removing burrs are down-cut instead of the above-mentioned up-cut. However, the experimental results show that there is no data at all when trying to remove burrs by downcutting, which is inappropriate.

また,上記実施形態では,フィルムCSP基板50のフィルム54部分を分割したチップ53の下辺53aの両端のコーナーに生じたバリ81,82を除去する例について説明したが,本発明はかかる例に限定されない。本発明のバリ除去方法は,例えば,上記各種のフィルムを有する基板を,矩形状のチップ状に切断した場合における,当該チップの任意のコーナーに生じたバリを除去する場合に適用できる。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the example which remove | eliminates the burr | flash 81 and 82 which arose at the both ends corner of the chip | tip 53 which divided | segmented the film 54 part of the film CSP board | substrate 50, this invention is limited to this example. Not. The burr removing method of the present invention can be applied, for example, when removing a burr generated at an arbitrary corner of the chip when the substrate having the various films is cut into a rectangular chip.

本発明は,切削装置を用いたダイシング方法に適用可能であり,特に,パッケージ基板のフィルム部分を切削したときに生じるバリを好適に除去可能なダイシング方法に適用可能である。   The present invention can be applied to a dicing method using a cutting device, and in particular, can be applied to a dicing method capable of suitably removing burrs generated when a film portion of a package substrate is cut.

本発明の第1の実施形態にかかるダイシング装置を示す全体斜視図である。1 is an overall perspective view showing a dicing apparatus according to a first embodiment of the present invention. 同実施形態にかかる被加工物の一例であるフィルムCSP基板と,装着治具を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the film CSP board | substrate which is an example of the to-be-processed object concerning the embodiment, and a mounting jig. 同実施形態にかかる切削ユニットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the cutting unit concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダイシング方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the dicing method concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダイシング方法の第1の工程におけるフィルムCSP基板の切削状態を示す平面図である。It is a top view which shows the cutting state of the film CSP board | substrate in the 1st process of the dicing method concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダイシング方法の第2の工程におけるフィルムCSP基板の切削状態を示す平面図である。It is a top view which shows the cutting state of the film CSP board | substrate in the 2nd process of the dicing method concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダイシング方法の第3の工程におけるフィルムCSP基板の切削状態を示す平面図である。It is a top view which shows the cutting state of the film CSP board | substrate in the 3rd process of the dicing method concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダイシング方法の第4の工程におけるフィルムCSP基板の切削状態を示す平面図である。It is a top view which shows the cutting state of the film CSP board | substrate in the 4th process of the dicing method concerning the embodiment. 同実施形態にかかるダウンカットとアップカットを説明するための切削ブレードとフィルムCSP基板との位置関係を示す側面図である。It is a side view which shows the positional relationship of the cutting blade and film CSP board | substrate for demonstrating the downcut concerning the same embodiment, and an upcut. 同実施形態にかかるダイシング方法の各工程におけるフィルムCSP基板の切削状態を示す拡大平面図である。It is an enlarged plan view which shows the cutting state of the film CSP board | substrate in each process of the dicing method concerning the embodiment. 本発明の第2の実施形態にかかるダイシング方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the dicing method concerning the 2nd Embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 : ダイシング装置
20 : 切削ユニット
22 : 切削ブレード
24 : スピンドル
30 : チャックテーブル
50 : フィルムCSP基板
53 : チップ
54 : フィルム
60 : 装着治具
71 : 第1の切削溝
72 : 第2の切削溝
81,82 : バリ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10: Dicing apparatus 20: Cutting unit 22: Cutting blade 24: Spindle 30: Chuck table 50: Film CSP board | substrate 53: Tip 54: Film 60: Mounting jig 71: 1st cutting groove 72: 2nd cutting groove 81 , 82: Bali

Claims (1)

フィルム上に複数のベアチップがパッケージ化された被加工物を,高速回転する切削ブレードによって前記フィルム側の面から切削加工して,複数のチップに分割するダイシング方法であって:
前記切削ブレードと前記被加工物との対向位置で前記切削ブレードの回転方向と順方向に前記被加工物を前記切削ブレードに対して相対移動させて,前記被加工物を第1の方向に所定間隔で切断して,第1の切削溝を形成する第1の工程と;
前記切削ブレードと前記被加工物との対向位置で前記切削ブレードの回転方向と順方向に前記被加工物を前記切削ブレードに対して相対移動させて,前記被加工物を,前記第1の方向に対して直交する第2の方向に所定間隔で切断して,第2の切削溝を形成し,前記被加工物を複数のチップに分割する第2の工程と;
前記切削ブレードと前記被加工物との対向位置で前記切削ブレードの回転方向と逆方向に前記被加工物を前記切削ブレードに対して相対移動させて,前記切削ブレードによって前記第1の切削溝をなぞることにより,前記各チップの前記第2の工程の切削方向後方側の2つのコーナー部分に生じたバリのうちいずれか一方のバリを,前記第2の切削溝に逃がさないように,前記切削ブレードと前記各チップとの間に挟み込んで除去する第3の工程と;
前記切削ブレードと前記被加工物との対向位置で前記切削ブレードの回転方向と逆方向に前記被加工物を前記切削ブレードに対して相対移動させて,前記切削ブレードを前記第2の切削溝に沿って相対移動させることにより,前記2つのコーナー部分のうち他方に生じたバリを,前記第1の切削溝に逃がさないように,前記切削ブレードと前記各チップとの間に挟み込んで除去する第4の工程と;
を含むことを特徴とする,ダイシング方法。
A dicing method in which a workpiece in which a plurality of bare chips are packaged on a film is cut from the surface on the film side by a high-speed rotating cutting blade and divided into a plurality of chips:
The workpiece is moved relative to the cutting blade in a rotation direction and a forward direction of the cutting blade at a position facing the cutting blade and the workpiece, and the workpiece is set in a first direction. A first step of cutting at intervals to form a first cutting groove;
The workpiece is moved relative to the cutting blade in a rotational direction and a forward direction of the cutting blade at a facing position between the cutting blade and the workpiece, and the workpiece is moved in the first direction. A second step of cutting at a predetermined interval in a second direction perpendicular to the surface to form a second cutting groove and dividing the workpiece into a plurality of chips;
The workpiece is moved relative to the cutting blade in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade at a position facing the cutting blade and the workpiece, and the first cutting groove is formed by the cutting blade. By tracing, one of the burrs generated at the two corners on the rear side in the cutting direction of the second step of each chip is not cut into the second cutting groove. A third step of sandwiching and removing between the blade and each chip;
The workpiece is moved relative to the cutting blade in a direction opposite to the rotation direction of the cutting blade at a position facing the cutting blade and the workpiece, and the cutting blade is moved into the second cutting groove. The burr generated on the other of the two corner portions is removed by being sandwiched between the cutting blade and each of the chips so as not to escape into the first cutting groove. 4 steps;
A dicing method comprising:
JP2004220437A 2004-07-28 2004-07-28 Dicing method Expired - Lifetime JP4540421B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004220437A JP4540421B2 (en) 2004-07-28 2004-07-28 Dicing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004220437A JP4540421B2 (en) 2004-07-28 2004-07-28 Dicing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006041261A JP2006041261A (en) 2006-02-09
JP4540421B2 true JP4540421B2 (en) 2010-09-08

Family

ID=35905922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004220437A Expired - Lifetime JP4540421B2 (en) 2004-07-28 2004-07-28 Dicing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4540421B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160102888A (en) 2015-02-23 2016-08-31 가부시기가이샤 디스코 Cutting apparatus
KR20180131389A (en) * 2017-05-31 2018-12-10 가부시기가이샤 디스코 Wafer processing method

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8210901B2 (en) 2006-10-27 2012-07-03 Hitachi Metals, Ltd. Method for producing ceramic-honeycomb-structure-molding die and method for producing ceramic honeycomb structure
JP2008130929A (en) * 2006-11-22 2008-06-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and manufacturing method of same
JP2008140981A (en) * 2006-12-01 2008-06-19 Disco Abrasive Syst Ltd Processing apparatus
KR101043491B1 (en) * 2009-05-28 2011-06-23 삼성전기주식회사 Method for cutting printed circuit board
JP5911714B2 (en) * 2011-12-07 2016-04-27 株式会社ディスコ Split method
JP6949421B2 (en) * 2017-05-09 2021-10-13 株式会社ディスコ Processing method
KR102592506B1 (en) * 2023-06-27 2023-10-23 주식회사 별랑 The protection vinyl end tip trim method of workpiece

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01237102A (en) * 1988-03-18 1989-09-21 Fujitsu Ltd Wafer dicing method
JPH01310906A (en) * 1988-06-10 1989-12-15 Fujitsu Ltd Manufacture of semiconductor device
JP2001077055A (en) * 1999-09-08 2001-03-23 Disco Abrasive Syst Ltd Cutting method
JP2004158871A (en) * 2004-01-16 2004-06-03 Renesas Technology Corp Semiconductor device and its manufacturing method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01237102A (en) * 1988-03-18 1989-09-21 Fujitsu Ltd Wafer dicing method
JPH01310906A (en) * 1988-06-10 1989-12-15 Fujitsu Ltd Manufacture of semiconductor device
JP2001077055A (en) * 1999-09-08 2001-03-23 Disco Abrasive Syst Ltd Cutting method
JP2004158871A (en) * 2004-01-16 2004-06-03 Renesas Technology Corp Semiconductor device and its manufacturing method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160102888A (en) 2015-02-23 2016-08-31 가부시기가이샤 디스코 Cutting apparatus
KR20180131389A (en) * 2017-05-31 2018-12-10 가부시기가이샤 디스코 Wafer processing method
KR102436342B1 (en) 2017-05-31 2022-08-24 가부시기가이샤 디스코 Wafer processing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006041261A (en) 2006-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9490171B2 (en) Wafer processing method
JP4927484B2 (en) Method for manufacturing device for lamination
US8016643B2 (en) Wafer grinding method
JP5138325B2 (en) Wafer processing method
JP5960532B2 (en) Processing method of package substrate
JP2000357672A (en) Dicing saw laminated blade
JP4540421B2 (en) Dicing method
KR20020086253A (en) Cutting blade
JP5885396B2 (en) Device chip manufacturing method
JP4476866B2 (en) Wafer holding method
JP2005039088A (en) Cutting method, cutter and process for manufacturing semiconductor device
JP2005109155A (en) Processing method of semiconductor wafer
JP2009176957A (en) Lamination type semiconductor device and method of manufacturing same
JP2006339373A (en) Groove forming method
JP5623798B2 (en) Processing method of sapphire substrate
JP7547009B2 (en) Substrate processing method
JP2007229831A (en) Cutting method by dicing blade
JP2015126022A (en) Processing method
JP3486154B2 (en) Cutting device and cutting method
JP7286233B2 (en) Chip manufacturing method
JP7378890B2 (en) How to sharpen sharpening boards and cutting blades
US11488866B2 (en) Package substrate dividing method
JP7282450B2 (en) Package substrate processing method
JP5635807B2 (en) Cutting device
JP2009124036A (en) Dicing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070620

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091217

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100615

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100622

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4540421

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term